JP2015025717A - パルス処理装置及び放射線検出装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(実施の形態1)
図1は、放射線検出装置の機能構成を示すブロック図である。放射線検出装置は、放射線検出器1と、パルス処理装置2と、分析部3とを備えている。放射線検出器1は、放射線検出素子11と、プリアンプ12とを備えている。放射線検出素子11は、SDD(Silicon Drift Detector)等の半導体放射線検出素子であり、入射した放射線のエネルギーに応じた電荷を発生し、発生した電荷に応じたパルス電流を出力する。プリアンプ12は、放射線検出素子11が出力したパルス電流を電圧パルスに変換し、放射線検出時に一段のステップ状に信号値が上昇するパルスを生成する。放射線検出器1は、プリアンプ12が生成したパルスを出力する。
t1:T1=(P−L):P …(1)
T1=t1・P/(P−L) …(2)
TD=(T1+T2)+T1
=3t1・P/(P−L) …(3)
TD=(2+R)t1・P/(P−L) …(4)
実施の形態2では、三角波信号の信号値がピーク値から閾値以下になるまでの第1立下り時間を用いてデッドタイムを特定する形態を示す。放射線検出装置及びパルス処理装置2の構成は実施の形態1と同様である。
T2=t2・P/(P−L) …(5)
TD=3t2・P/(P−L) …(6)
TD=(1+2/R)t2・P/(P−L) …(7)
TD=(2t1+t2)・P/(P−L) …(8)
実施の形態3では、三角波信号の信号値が閾値を超えてから閾値以下になるまでの時間を用いてデッドタイムを特定する形態を示す。放射線検出装置及びパルス処理装置2の構成は実施の形態1と同様である。
T3=t3・P/(P−L) …(9)
TD=(3/2)t3・P/(P−L) …(10)
TD=(1+1/(1+R))t3 ・P/(P−L) …(11)
11 放射線検出素子
12 プリアンプ
2 パルス処理装置
21 A/D変換部
22 フィルタ部(変換部)
23 処理部
24 記憶部
25 MCA
3 分析部
Claims (5)
- パルスが入力され、入力されたパルスをノイズ低減のためのフィルタに通して前記パルスを所定波形の三角波信号へ変換する変換部と、該変換部が変換した三角波信号のピーク値を検出する検出手段とを備えるパルス処理装置において、
前記変換部が変換した三角波信号の信号値が所定の閾値を超えてからピーク値に達するまでの第1立ち上がり時間、前記三角波信号の信号値がピーク値から前記閾値以下になるまでの第1立下り時間、又は前記第1立ち上がり時間及び前記第1立下り時間を合計した第1合計時間を計測する計測手段と、
前記第1立ち上がり時間、前記第1立下り時間又は前記第1合計時間、並びに前記検出手段が検出したピーク値及び前記閾値に基づいて、デッドタイムを特定する特定手段と
を備えることを特徴とするパルス処理装置。 - 前記デッドタイムは、前記三角波信号の信号値が所定の信号基準から立ち上がってピーク値に達するまでの第2立ち上がり時間と、前記三角波信号の信号値がピーク値から前記信号基準に戻るまでの第2立下り時間とを合計した第2合計時間に、前記第2立ち上がり時間を加算した時間であること
を特徴とする請求項1に記載のパルス処理装置。 - 第1立ち上がり時間、第1立下り時間又は第1合計時間と三角波信号のピーク値との組み合わせに対応づけて、前記デッドタイムの値を記憶している記憶部を更に備え、
前記特定手段は、前記計測手段が計測した第1立ち上がり時間、第1立下り時間又は第1合計時間と前記検出手段が検出したピーク値との組み合わせに対応づけられた前記デッドタイムの値を前記記憶部から読み出すように構成してあること
を特徴とする請求項1又は2に記載のパルス処理装置。 - 前記特定手段は、前記計測手段が計測した第1立ち上がり時間t1 、前記検出手段が検出したピーク値P、前記閾値L、及び三角波信号の立ち上がり時間に対する立下り時間の比率Rを用いて、前記デッドタイムを(2+R)t1 ・P/(P−L)と計算するように構成してあること
を特徴とする請求項2に記載のパルス処理装置。 - 放射線検出時に放射線のエネルギーに応じたパルスを出力する放射線検出器と、
該放射線検出器が出力したパルスを入力され、入力されたパルスを変換した三角波信号のピーク値を検出し、ピーク値検出のデッドタイムを特定する請求項1乃至4の何れか一つに記載のパルス処理装置と、
該パルス処理装置が特定した前記デッドタイムを用いて、放射線検出時の経過時間を補正する手段と
を備えることを特徴とする放射線検出装置。
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