KR20140048658A - 캘리브레이션 장치 및 방법 - Google Patents

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
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    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation

Abstract

하나 이상의 촬영 물체를 촬영한 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기를 설정하고, 하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 캘리브레이션 장치 및 방법을 제공한다.

Description

캘리브레이션 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATION}
광자 계수 X선 검출기(Photon counting x-ray detector)의 캘리브레이션(calibration) 방법에 관한 것이다.
광자 계수 X선 검출기는 검출기로 인가되는 X선을 광자 에너지(photon energy) 대역 별로 분리할 수 있는 검출기이다.
기존의 융합(integration) 방식의 검출기는 검출기로 인가되는 X 선 광자에 의해 발생하는 전기적 신호를 광자 에너지와 무관하게 모두 더하기 때문에 광자 에너지의 분리가 불가능하다.
광자 계수 검출기의 에너지 캘리브레이션(energy calibration)을 위해 사용되는 기존의 방법은 광자 계수 X 선 검출기로 측정하는 X 선의 스펙트럼(spectrum)을 이용하였다.
기존의 방법은 임계 에너지(Threshold energy) 값을 동일 간격으로 변화시키면서 영상을 얻고, 임계 에너지를 변화시켰을 때 발생한 신호 차이를 계산하는 방식으로 X선 스펙트럼을 구할 수 있다.
예를 들어, X선의 스펙트럼을 이용한 에너지 캘리브레이션 방법은 X 선 튜브를 특정 가속전압(kVp)으로 세팅하고 X 선을 조사하면서 광자 계수 X선 검출기로 X 선 스펙트럼을 측정한 후, 스펙트럼 값이 0이 되는 위치를 세팅한 가속전압으로 매핑(mapping) 할 수 있다.
다만, 상기 방법은 스펙트럼 값의 0이 되는 위치를 정확하게 측정하기 어렵기 때문에 매핑 정확도가 떨어질 수 있다.
다른 예로, 에너지 캘리브레이션 방법은 사용하는 X 선 에너지 영역에 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물질을 촬영한 후, 얻어진 스펙트럼에서 측정된 흡수단 위치와 실제 물질의 흡수 엣지의 에너지를 매핑하는 방법이 있다.
다만, 상기 방법은 흡수단의 위치 측정 정확도의 한계에 의해 광자 계수 X 선 검출기로 측정된 값의 균일도가 떨어질 수 있다.
또 다른 예로, 에너지 캘리브레이션 방법은 방사성 동위원소에서 발생하는 X 선을 측정하면서 스펙트럼을 얻은 후, 스펙트럼의 피크(peak) 위치에 동위 원소의 특성 에너지를 매핑하는 방법이 있다.
다만, 상기 방법은 높은 방사능(activity)의 동위원소를 다루기 위한 추가적인 기구가 필요하다.
캘리브레이션 장치의 일실시예는 하나 이상의 촬영 물체를 촬영하는 촬영부, 상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정하는 설정부 및 하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 보정부를 포함한다.
일측에 따르면, 상기 하나 이상의 물체는 물질의 구성이 등질적(homogeneous)이며, 기하학적 배열(geometry)이 정해진 물체이다.
일측에 따르면, 상기 하나 이상의 보정 물체는 측정 가능한 X선 광자 에너지의 범위 내에 상기 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물질로 이루어진 물체이다.
일측에 따르면, 상기 하나 이상의 물체가 없는 경우의 촬영 결과와 상기 하나 이상의 물체가 있는 경우의 촬영 결과의 비율은 상기 하나 이상의 물체의 특성을 반영할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 하나 이상의 물체에 대한 영상의 표준 강도(normalized intensity)는 상기 하나 이상의 물체의 기하학적 배열 정보를 반영할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 설정부는 X선 광자에 의해 하나 이상의 픽셀(pixel)에서 발생하는 상기 전기적 펄스의 크기의 임계값을 설정할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 설정부는 상기 하나 이상의 픽셀 중 어느 하나의 픽셀의 표준 강도 값을 이동시켜 다른 픽셀의 표준 강도 값과 일치시킬 수 있다.
일측에 따르면, 상기 설정부는 상기 모든 픽셀이 기설정된 임계 에너지 값에서 동일한 표준 강도를 측정하도록 설정할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 보정부는 상기 하나 이상의 물체가 없는 경우의 X선 스펙트럼과 상기 하나 이상의 물체가 있는 경우의 X선 스펙트럼의 비율을 계산하여 X선의 감쇠가 증가하는 위치를 추출할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 각각의 보정 물체의 흡수 엣지는 상기 X선의 감쇠가 증가하는 위치에서 상기 각각의 보정 물체를 구성하는 물질에 대한 흡수 엣지일 수 있다.
캘리브레이션 방법의 일실시예는 하나 이상의 물체를 촬영하는 단계, 상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정하는 단계 및 하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 단계를 포함한다.
도 1은 광자 계수 X선 검출기로 인가되는 X선 광자의 에너지와 상기 광자 에너지에 의해 발생한 전기적 펄스 크기의 관계를 도시한 도면이다.
도 2는 캘리브레이션 장치의 일실시예의 구성을 도시한 블록도이다.
도 3은 캘리브레이션 방법의 일실시예를 도시한 흐름도이다.
도 4는 촬영부를 통하여 물체를 촬영하는 예를 도시한 도면이다.
도 5는 캘리브레이션 장치의 임계 에너지 변화에 따른 측정된 표준 강도의 예를 도시한 도면이다.
이하 첨부 도면들 및 첨부 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 실시예를 상세하게 설명하지만, 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
실시예에서 사용되는 용어(terminology)들은 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 해당 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 용어들에 대한 정의는 실시예 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
캘리브레이션 장치 및 방법을 설명하기에 본 발명의 이해를 돕고자, 광자 계수 X선 검출기에 관하여 설명하도록 한다.
광자 계수 X 선 검출기는 임계 에너지(threshold energy)라고 하는 특정 광자 에너지(photon energy) 이상의 X선을 검출하는 것이 가능하며, X 선 이미징(X-ray imaging)으로 검사하고자 하는 물체의 스펙트럼 특성을 이용하면, 광자 계수 X선 검출기로 얻어진 영상으로부터 검사 물체의 물질 분리가 가능하다.
또한, 광자 계수 X 선 검출기는 의학 X 선(medical x-ray) 영상 분야에서 진단 정확도, 비파괴 검사 및 보안(security) 검사 분야에서 영상의 질을 높일 수 있다.
광자 계수 X선 검출기는 검출기에 인가되는 X선 광자(X-ray photon) 중 임계 에너지(threshold energy)라고 하는 특정 광자 에너지 이상의 X선 광자의 개수를 측정한다.
X 선 광자가 검출기의 광자 컨덕터(photo-conductor)에 들어오면 전자-정공 페어(electron-hole pair)가 생성되며, 이에 의해 전기적 펄스(electric pulse)가 발생한다.
상기 전기적 펄스의 크기(단위: mV)는 X 선 광자의 에너지(단위: keV)와 관련이 있다.
광자 계수 X선 검출기는 임계 에너지 이상의 X 선 광자의 개수를 측정하기 위해, 임계 에너지를 전기적 펄스 크기(mV)로 변환하고, 광자 계수 X선 검출기의 회로는 상기 발생된 전기적 펄스 중 특정 크기보다 큰 펄스의 개수를 측정할 수 있다.
광자 계수 X선 검출기는 검출기로 인가되는 X 선 광자를 에너지 대역 별로 분리함으로써 검사 물체의 특성을 분석할 수 있으므로, 검출기의 모든 픽셀이 동일한 에너지 분리 특성을 갖는 것이 중요하다.
광자 계수 X선 검출기의 각 픽셀에서 발생하는 전기적 펄스의 크기는 X선 광자 에너지뿐만 아니라 상기 픽셀에 적기적 펄스를 발생시키는 포토 컨덕터 부분의 특성, 회로적 특성 등에 모두 영향을 받을 수 있다.
광자 계수 X선 검출기는 동일한 에너지의 X선 광자에 대해서 픽셀마다 발생하는 전기적 펄스의 크기가 다를 수 있으며, 픽셀마다 다른 광자 에너지 분리 특성을 가질 수 있다.
도 1은 광자 계수 X선 검출기로 인가되는 X선 광자의 에너지와 상기 광자 에너지에 의해 발생한 전기적 펄스 크기의 관계를 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 광자 계수 X선 검출기에 의하여 검출된 픽셀(pixel) a와 픽셀(pixel) b의 전기적 펄스의 keV-mV curve는 일치하지 않을 수 있다.
광자 계수 X선 검출기는 모든 픽셀에서 원하는 임계 에너지 이상의 광자 개수를 정확하게 측정하기 위해서 픽셀마다 임계 에너지에 대응하는 전기적 펄스 값을 설정하는 에너지 캘리브레이션을 수행한다.
예를 들어, 픽셀 a는 mV_a 이상의 전기적 펄스 개수를, 픽셀 b는 mV_b 이상의 전기적 펄스 개수를 측정하도록 영상 획득 이전에 설정하는 것이 바람직하다.
광자 계수 X선 검출기는 모든 임계 에너지에서 정확하게 캘리브레이션 하기 위해서 모든 광자 에너지에 대한 전기적 펄스 값을 측정하여야 하나, 영상을 획득하는 경우 임계 에너지 값을 고정하여 사용한다.
따라서, 광자 계수 X선 검출기는 모든 광자 에너지에서 정확하게 캘리브레이션 되지 않았더라도, 필요한 광자 에너지에서의 전기적 펄스 값만 정확하게 설정하는 경우 광자 계수 X선 검출기의 에너지 분리 특성이 캘리브레이션 되었다고 할 수 있다.
이는 발생한 전기적 펄스의 크기가 기설정된 값을 넘었는지 넘지 않았는지만 정확하게 판단할 수 있으면 되기 때문이다.
이러한, 광자 계수 X선 검출기는 검출기로 인가되는 광자 에너지와 그에 의해 발생하는 전기적 펄스의 관계를 픽셀마다 구하고, 모든 픽셀이 동일한 광자 에너지 분리 특성을 갖도록 보정이 필요하다.
광자 계수 X선 검출기는 모든 픽셀이 동일한 광자 에너지 이상의 광자 개수를 셀 수 있도록 에너지 캘리브레이션 하는 것이 바람직하다.
아래에서는 본 발명의 일실시예에 따른 캘리브레이션 장치를 이용하여 캘리브레이션 하는 방법을 설명하도록 하며, 하기 도면 부재 번호는 설명의 이해를 돕고자 다른 도면의 부재 번호를 인용할 수도 있다.
도 2는 캘리브레이션 장치의 일실시예의 구성을 도시한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 캘리브레이션 장치는 하나 이상의 물체를 촬영하는 촬영부(210), 상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정하는 설정부(220) 및 하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 보정부(230)로 구성된다.
도 3은 캘리브레이션 방법의 일실시예를 도시한 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 캘리브레이션 장치는 하나 이상의 물체를 촬영한다(310).
예를 들어, 상기 하나 이상의 물체는 물질의 구성이 등질적(homogeneous)이며, 기하학적 배열(geometry)이 정해진 물체이다. 상기 하나 이상의 보정 물체는 측정 가능한 X선 광자 에너지의 범위 내에 상기 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물질로 이루어진 물체이다.
도 4는 촬영부를 통하여 물체를 촬영하는 예를 도시한 도면이다.
예를 들어, 촬영부(210)는 도 3에 도시된 바와 같이 광자 계수 X선 검출기를 이용하여 물질의 구성이 등질적이고 정확한 기하학적 배열을 알고 있는 물체를 촬영할 수 있다.
또한, 캘리브레이션 장치는 물질의 구성, 물성, 기하학적 배열을 알고 있는 물체를 이용하여 광자 계수 X선 검출기의 에너지 캘리브레이션 하는 방법을 제공할 수 있다.
상기 하나 이상의 물체가 없는 경우의 촬영 결과(I0)와 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 촬영 결과(I)의 비율인 표준 강도(I0/I, normalized intensity)는 상기 하나 이상의 촬영 물체의 특성을 반영할 수 있다.
상기 하나 이상의 물체의 표준 강도(normalized intensity)는 상기 하나 이상의 촬영 물체의 기하학적 배열 정보를 반영할 수 있다.
물질의 모든 부분이 동일한 특성을 갖기 때문에 표준 강도는 촬영 물체의 기하학적 배열 정보만을 정확히 반영할 수 있다.
예를 들어, 캘리브레이션 장치는 도 2에 도시된 바와 같이 두께가 일정하고 물질의 구성이 등질적인 물체를 촬영하면, 광자 계수 X선 검출기로 구한 표준 강도의 값은 모두 같을 수 있다.
캘리브레이션 장치는 광자 계수 X선 검출기의 에너지 분리 특성이 캘리브레이션 되지 않으면, 두께가 일정하고 물질의 구성이 등질적인 물체를 촬영하여도 픽셀마다 얻어진 표준 강도의 값이 다를 수도 있다.
도 5는 캘리브레이션 장치의 임계 에너지 변화에 따른 측정된 표준 강도의 예를 도시한 도면이다.
캘리브레이션 장치는 광자 계수 X선 검출기의 에너지 캘리브레이션이 E에서 정확하다면 픽셀(pixel) a와 픽셀(pixel) b의 표준 강도 값은 같을 수 있다.
도 5를 참조하면, 상기 표준 강도는 픽셀들의 E에서의 에너지 캘리브레이션이 정확하지 않을 수 있기 때문에 서로 차이가 발생할 수 있으며, 캘리브레이션 장치는 표준 강도를 설정하는 과정을 수행할 수 있다.
캘리브레이션 장치는 상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정한다(320).
설정부(220)는 X선 광자에 의해 하나 이상의 픽셀(pixel)에서 발생하는 상기 전기적 펄스의 크기의 임계값을 설정할 수 있다.
설정부(220)는 상기 하나 이상의 픽셀 중 어느 하나의 픽셀의 표준 강도 값을 이동시켜 다른 픽셀의 표준 강도 값과 일치시킬 수 있다.
설정부(220)는 상기 모든 픽셀이 기설정된 임계 에너지 값에서 동일한 표준 강도를 측정하도록 설정할 수 있다.
예를 들어, 캘리브레이션 장치는 광자 에너지가 E인 X선 광자에 의해 각각의 픽셀에서 발생하는 전기적 펄스의 크기를 정확하게 설정하는 경우, 도 5에 도시된 바와 같이 픽셀 b의 커브(curve)를 좌우로 쉬프트(shift)시킴으로써, 픽셀 a와 픽셀 b의 E에서의 표준 강도 값을 일치시킬 수 있다.
캘리브레이션 장치는 상기와 같은 과정을 통하여 광자 계수 X선 검출기의 전체 픽셀이 E라는 특정 임계 에너지에서 같은 표준 강도를 측정하도록 할 수 있다.
캘리브레이션 장치는 상기 표준 강도 값의 정확도를 보정하기 위해서 다음과 같은 보정 과정을 수행할 수 있다.
캘리브레이션 장치는 하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정한다(330).
보정부(230)는 상기 하나 이상의 물체가 없는 경우의 X선 스펙트럼과 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 X선 스펙트럼의 비율을 계산하여 X선의 감쇠가 증가하는 위치를 추출할 수 있다.
각각의 보정 물체의 흡수 엣지는 상기 X선의 감쇠가 증가하는 위치에서 상기 각각의 보정 물체를 구성하는 물질에 대한 흡수 엣지일 수 있다.
예를 들어, 캘리브레이션 장치는 측정 광자 에너지 내에 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물체를 촬영하고, 물체가 없을 때 측정된 X선 스펙트럼과 물체가 있을 때 측정된 스펙트럼의 비율을 계산하면 X선의 감쇠가 급격히 증가하는 위치를 찾을 수 있다.
캘리브레이션 장치는 상기 위치에 물체를 구성하는 물질의 흡수 엣지에 해당하는 광자 에너지를 매핑함으로써 에너지 캘리블레이션의 정확도를 보정할 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.　
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.　
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.
210: 촬영부
220: 설정부
230: 보정부

Claims (21)

  1. 하나 이상의 촬영 물체를 촬영하는 촬영부;
    상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정하는 설정부; 및
    하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 보정부
    를 포함하는 캘리브레이션 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체는,
    물질의 구성이 등질적(homogeneous)이며, 기하학적 배열(geometry)이 정해진 물체인 캘리브레이션 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 보정 물체는,
    측정 가능한 X선 광자 에너지의 범위 내에 상기 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물질로 이루어진 물체인 캘리브레이션 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체가 없는 경우의 촬영 결과와 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 촬영 결과의 비율은 상기 하나 이상의 촬영 물체의 특성을 반영하는 캘리브레이션 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체에 대한 영상의 표준 강도(normalized intensity)는,
    상기 하나 이상의 촬영 물체의 기하학적 배열 정보를 반영하는 캘리브레이션 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 설정부는,
    X선 광자에 의해 하나 이상의 픽셀(pixel)에서 발생하는 상기 전기적 펄스의 크기의 임계값을 설정하는 캘리브레이션 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 설정부는,
    상기 하나 이상의 픽셀 중 어느 하나의 픽셀의 표준 강도 값을 이동시켜 다른 픽셀의 표준 강도 값과 일치시키는 캘리브레이션 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 설정부는,
    상기 모든 픽셀이 기설정된 임계 에너지 값에서 동일한 표준 강도를 측정하도록 설정하는 캘리브레이션 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 보정부는,
    상기 하나 이상의 촬영 물체가 없는 경우의 X선 스펙트럼과 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 X선 스펙트럼의 비율을 계산하여 X선의 감쇠가 증가하는 위치를 추출하는 캘리브레이션 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 각각의 보정 물체의 흡수 엣지는,
    상기 X선의 감쇠가 증가하는 위치에서 상기 각각의 보정 물체를 구성하는 물질에 대한 흡수 엣지인 캘리브레이션 장치.
  11. 하나 이상의 촬영 물체를 촬영하는 단계;
    상기 각각의 촬영 결과에 대한 전기적 펄스(electric pulse)의 크기의 임계값을 설정하는 단계; 및
    하나 이상의 보정 물체의 흡수 엣지(absorption edge)에 대응하는 광자 에너지(photon energy)를 매핑하여 보정하는 단계
    를 포함하는 캘리브레이션 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체는,
    물질의 구성이 등질적(homogeneous)이며, 기하학적 배열(geometry)이 정해진 물체인 캘리브레이션 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 하나 이상의 보정 물체는,
    측정 가능한 X선 광자 에너지의 범위 내에 상기 흡수 엣지(absorption edge)가 있는 물질로 이루어진 물체인 캘리브레이션 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체가 없는 경우의 촬영 결과와 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 촬영 결과의 비율은 상기 하나 이상의 촬영 물체의 특성을 반영하는 캘리브레이션 방법.
  15. 제11항에 있어서,
    상기 하나 이상의 촬영 물체에 대한 영상의 표준 강도(normalized intensity)는,
    상기 하나 이상의 촬영 물체의 기하학적 배열 정보를 반영하는 캘리브레이션 방법.
  16. 제11항에 있어서,
    상기 설정하는 단계는,
    X선 광자에 의해 하나 이상의 픽셀(pixel)에서 발생하는 상기 전기적 펄스의 크기의 임계값을 설정하는 단계
    를 포함하는 캘리브레이션 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 설정하는 단계는,
    상기 하나 이상의 픽셀 중 어느 하나의 픽셀의 표준 강도 값을 이동시켜 다른 픽셀의 표준 강도 값과 일치시키는 단계
    를 더 포함하는 캘리브레이션 방법.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 설정하는 단계는,
    상기 모든 픽셀이 기설정된 임계 에너지 값에서 동일한 표준 강도를 측정하도록 설정하는 단계
    를 더 포함하는 캘리브레이션 방법.
  19. 제11항에 있어서,
    상기 보정하는 단계는,
    상기 하나 이상의 촬영 물체가 없는 경우의 X선 스펙트럼과 상기 하나 이상의 촬영 물체가 있는 경우의 X선 스펙트럼의 비율을 계산하여 X선의 감쇠가 증가하는 위치를 추출하는 단계
    를 포함하는 캘리브레이션 방법.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 각각의 보정 물체의 흡수 엣지는,
    상기 X선의 감쇠가 증가하는 위치에서 상기 각각의 보정 물체를 구성하는 물질에 대한 흡수 엣지인 캘리브레이션 방법.
  21. 제11항 내지 제20항 중 어느 한 항의 방법을 수행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능 기록 매체.
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