KR20110055870A - 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하는 방법 및 장치 - Google Patents

엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하는 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

디텍터의 구성 물질 또는 물리적 파라미터에 따라 결정되는 에너지 응답 특성을 추정하고, 추정한 에너지 응답 특성을 이용하여 멀티-에너지 영상 정보를 보정하는 구성을 개시한다. 이를 위해, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치는 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시키는 방사부, 상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 센싱부, 및 상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초하여, 에너지 응답 특성을 추정하는 추정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
엑스선, X-ray, 에너지 디텍터, polychromatic X-ray, 에너지 응답 특성, ERF

Description

엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하는 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENERGY RESPONSE FUNCTION OF ENERGY RESOLVING X-RAY DETECTOR}
에너지 응답 특성을 추정하고, 추정한 에너지 응답 특성을 이용하여 멀티-에너지 영상 정보를 보정하기 위해서, 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하는 방법 및 장치가 개시된다.
엑스선(X-ray)은 감마선과 자외선의 중간 파장에 해당하는 파장을 갖는 투과성이 강한 전자기파로서, 엑스선 영상은 엑스선을 객체(object)로 방사하는 경우, 객체를 이루는 물질과 객체의 두께에 따라 투과율이 달라지는 원리를 이용하여 생성된다. 엑스선 영상은 의료 분야, 보안 검색 분야 및 비파괴 검사 분야 등에서 사용되고 있다.
엑스선 디텍터를 이용하여 멀티-에너지의 엑스선 영상을 얻기 위해서는 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하고 추정된 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 이용한 보정이 필요하다. 이러한 보정 방법으로, monochromatic X-ray source를 이용하여 몇 개의 monochromatic response 값을 얻고 Medipix simulator 를 이용하여 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정하는 방법이 논문 등에 발표되고 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치는 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시키는 방사부, 상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 센싱부, 및 상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초하여, 에너지 응답 특성을 추정하는 추정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시키는 단계, 상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 단계, 상기 다색광 엑스선을 위한 엑스선 튜브의 관전압을 초기화 설정하고, 상기 초기화 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼을 산출하는 단계, 및 상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 상기 실제 엑스선 스펙트럼을 고려하여 상기 에너지 응답 특성을 추정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법은 일반적인 시스템에서 사용되는 다색광 엑스선 소스를 이용하여 별도의 엑스선 소스없이 간편하게, 또는 필요에 따라서는 반복하여 에너지 응답 특성을 효율적으로 추정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법은 디텍터 고유의 에너지 응답 특성을 추정하여, 획득한 엑스선 영상을 보정함으로써, 정밀한 측정이 가능하다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법은 고가의 장비를 사용하지 않고서도 정확하게 결과를 측정할 수 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 영상 획득 장치 및 그 방법을 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)를 설명하는 블록도이다.
엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)는 방사부(110), 센싱부(120), 및 추정부(130)를 포함할 수 있다.
엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)는 다색광 엑스선(polychromatic X-ray) Source를 이용하여 다양한 관전압 스펙트라 세트(kVp spectra set)에 대한 디텍터 측정(Detector Measurement)을 얻고, 동시에 동일 관전압 스펙트라 세트(kVp spectra set)에 대한 실제 스펙트라 측정(real spectra measurement)을 얻어서, 얻어진 측정 데이터(measurement data)를 동시에 이용하여 역추정(inverse estimation)을 적용함으로써, 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
또한, 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)는 추정된 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성을 이용하여 왜곡된 디텍터의 측정으로부터 실제 스펙트라 측정(real spectra measurement)을 복원할 수 있다.
먼저, 본 발명의 일실시예에 따른 방사부(110)는 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시킬 수 있다.
또한 본 발명의 일실시예에 따르면, 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)는 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선을 이용하여 엑스선 영상을 획득할 수 있다. 이 경우, 단색광 또는 협대역 엑스선을 이용하여 엑스선 영상을 획득하는 경우보다 엑스선 영상의 콘트라스트가 낮을 수 있으나, 신틸레이터 패널의 레이어 특성에 의해, 하나의 다색광 엑스선을 이용하는 엑스선 영상 장치보다 콘트라스타가 높은 엑스선 영상을 획득할 수 있다. 다색광 엑스선의 에너지 레벨 역시 다색광 엑스선의 평균 에너지를 의미한다.
본 발명의 일실시예에 다른 방사부(110)는 복수의 엑스선을 순차적으로 방사하고, 방사되는 엑스선은 콘빔(cone-beam) 또는 팬빔(fan-beam) 형태일 수 있다.
엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)는 이러한 방사부(110)를 통해 방사된 엑스선이 객체를 투과하도록 할 수 있다.
다음으로, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 엑스선 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출할 수 있다.
본 명세서에 개시되는 엑스선 디텍터라 함은, 픽셀을 2D로 배열하면 영상센서가 되며 픽셀 단위로 엑스선 광자(photon)의 에너지를 구분하여 신호를 검출하여 저장하는 에너지 리졸빙 엑스선 디텍터(Energy Resolving X-ray Detector, ERXD)로 해석될 수 있다.
구체적인 예로써, 본 명세서에 개시되는 엑스선 디텍터는 Medipix2와 같은 single photon counting x-ray detector (SPCXD)로 해석될 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 상기 다색광 엑스선을 위한 엑스선 튜브의 관전압(kVp)을 초기화 설정하고, 초기화 설정된 튜브의 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼을 산출할 수 있다.
이렇게 산출된 실제 엑스선 스펙트럼은 상기 측정된 엑스선 디텍터의 스펙트럼 측정값과 함께, 에너지 응답 특성의 추정에 이용될 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 초기화 설정된 튜브의 관전압부터 시작해서, 일정치 만큼 증가하여 여러 개의 실제 엑스선 스펙트럼들을 산출할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 상기 센싱부(120)는, 상기 방사되는 다색광 엑스선에 대해 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 수행하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
이를 위해서, 센싱부(120)에서는 상기 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 위해서, 엑스선 튜브에 설정된 관전압에 대해서 에너지 쓰레숄드를 순차적으로 변화시킬 수 있다.
또한, 센싱부(120)는 순차적으로 변화되는 에너지 쓰레숄드를 이용하여, 각각의 에너지 쓰레숄드에 상응하는 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는, 상기 쓰레숄드 스캔(threshold scan)으로써, 적어도 하나 이상의 에너지 쓰레숄드에서 멀티-에너지 엑스선 데이터를 획득할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는, 상기 획득한 멀티-에너지 엑스선 데이터를 이용하여 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수도 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는, 상기 획득한 멀티-에너지 엑스선 데이터로써 연속적인 에너지 스펙트럼을 재구성하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
구체적인 예로써, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 엑스선 튜브의 관전압을 초기화할 때, 관전압을 제외한 다른 주요 파라미터, 예를 들어 mA, 엑스선의 노출 시간 등은 적절한 값으로 설정할 수 있다.
이에, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 먼저 spectrometer 장비를 이용하여 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼(real X-ray spectrum)을 산출할 수 있다.
이와 함께, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 상기 산출한 실제 엑스선 스펙트럼(real X-ray spectrum)에 대응되는 디텍터의 스펙트럼 측정 값을 구하기 위해서, 쓰레숄드 스캔(Threshold scan)을 수행할 수 있다.
본 명세서에 개시된, 쓰레숄드 스캔(Threshold scan)이라 함은, 여러 개의 다른 에너지 쓰레숄드(energy threshold)에서 엑스선 멀티-에너지 데이터를 획득하는 과정으로서, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 이렇게 얻어진 데이터를 적절히 처리하여 연속적인 에너지의 스펙트럼을 재구성할 수 있다.
즉, Medipix2와 같은 대부분의 single photon counting x-ray detector (SPCXD)는 2~6개의 에너지 쓰레숄드(energy threshold) 값만을 가지므로, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)가 스펙트럼을 구하기 위해서는 같은 엑스선 튜브 설정에 대해 에너지 쓰레숄드를 순차적으로 변화시켜가면서 데이터를 얻는 쓰레숄드 스캔(threshold scan) 과정을 수행할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 주어진 튜브의 관전압에서의 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 위하여 먼저 디텍터 에너지 쓰레숄드(detector energy threshold)의 초기값 설정할 수 있다.
이 후, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 방사부(110)를 제어하여, 엑스선 노출 과정을 거친 후 디텍터의 카운터(counter)에 저장된 값을 읽고 메모리 에 저장하도록 제어할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 스펙트럼 구성에 필요한 모든 쓰레숄드 설정 값에 대해 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 반복 수행할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 센싱부(120)는 1회의 쓰레숄드 스캔(threshold scan)이 종료되는 경우, 최초 초기화된 관전압에서 일정치 만큼을 변경(증가)하여, 다음 단계의 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 수행할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 관전압의 상한(upper limit)은 일반적으로 영상획득에 사용되는 엑스선 에너지의 최대값으로 정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)는 센싱부(120)의 쓰레숄드 스캔(threshold scan)에 따라서, 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초하여, 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
다시 말해, 본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)는 상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 상기 실제 엑스선 스펙트럼을 고려하여 상기 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
구체적으로, 본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)는 상기 실제 엑스선 스펙트럼 및 상기 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초한 역추정(inverse estimation)으로써, 상기 에너지 응답 함수를 추정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)는 다수의 관전압별로 spectrometer에서의 실제 스펙트럼들과 센싱부(120)의 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 통해 구한 distorted 스펙트럼들을 이용하여 역추정(inverse estimation)을 적용하여 에 너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)는 상술한 일련의 에너지 응답 특성의 측정과정에 대해, 엑스선 디텍터를 이루는 각각의 픽셀에 대하여 반복해서 수행할 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일실시예에 따른 추정부(130)에서 역추정(inverse estimation)을 적용하여 에너지 응답 특성을 추정하는 구체적인 실시예에 대해서 설명한다.
구체적인 예로써, 센싱부(120)에서 낮은 에너지에 높은 에너지, 예를 들어 30~110 kVp로 이동하면서 1kVp 간격으로 관전압을 설정하여 실제 스펙트럼들을 산출할 수 있고, 이러한 실제 스펙트럼 들을 S라고 가정할 수 있다.
이 때, 쓰레숄드 스캔(threshold scan)으로 재구성된 스펙트럼들을 N 이라고 하면 S와 N 간의 관계는 [수학식 1]과 같다.
[수학식 1]
Figure 112009071331288-PAT00001
이때, Rn(Sn)은 에너지 응답 특성에 대한 matrix의 원소를 의미하고, S와 N 의 쌍(Pair)을 M개 측정했다고 하면 [수학식 2]의 관계를 얻을 수 있다.
[수학식 2]
Figure 112009071331288-PAT00002
따라서 위 수식에 근거하여 N과 S를 알고 있으므로 E를 최소화 하는 R을 구할 수 있으면 이는 일반적인 역추정(inverse estimation) 방법에 해당될 수 있다.
입사되는 엑스선의 스펙트럼을 정확히 알 수 있다면 촬영한 피사체의 구성 성분 고유의 attenuation 특성을 이용하여 특정 물질을 강조/검출하여 표현하거나 매우 선명한 영상을 얻을 수 있다. 예를 들어, 엑스선 영상 진단기에서는 환자의 정상/비정상 조직을 구별할 수 있는 능력이 크게 증가하고, 공항 엑스선 검색기라면 액체 폭발물 등의 위험물질을 구별할 수 있다.
그러나 에너지 응답 특성에 의해 디텍터 측정값이 왜곡되고 디텍터 자체의 제한된 에너지 discrimination 능력, 즉, photon counting 픽셀 마다 존재하는 제한된 개수의 에너지 discriminator와 제한된 개수의 counter 등으로 인해서, 한 번의 엑스선 노출을 통해 얻을 수 있는 측정 값은 몇 개의 값뿐이다.
그러나 디텍터의 에너지 응답 특성을 알고 있다고 가정하고 피사체의 attenuation basis function의 개수가 유한하다는 점에 기반하여, 이론적으로 basis 수만큼의 spectrum bin을 이용하여 입사 엑스선의 real spectrum을 정확히 예측할 수 있다.
예를 들어 인체 내의 구성성분의 경우, 물, 지방, 단백질, 뼈 등을 photoelectric absorption 과 Compton scattering 의 두 개의 basis로 감쇠함수를 표현할 수 있으므로 2개 이상의 에너지 분리 가능한 검출기를 이용하여 original spectra와 일치하는 continuous spectrum을 얻을 수 있다.
결국, 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)를 이용하면, 이상적인 단일광 소스(monochromatic source)을 만들기 매우 어려우며 비이상적(narrow polychromatic) spectra를 갖는 엑스선 소스에 의해 에너지 응답 특성 추정에 오류가 발생하는 문제를 해결할 수 있다.
일반적으로, monochromatic spectra에 근접한 tunable 엑스선 source를 이용하려면 고가의 별도 장비, 예를 들어 방사광 가속기 등을 이용한 엑스선 발생 장치가 필요하다.
이러한, 장비는 실제로 상당히 고가의 장비들인데다가, 함께 사용되어야 하는 시뮬레이터는 실제 현상을 완벽히 재현할 수 없어 정확한 결과를 기대하기 어렵다.
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치(100)를 이용하면, 여러 가지 다른 종류의 검출기, 예를 들어 이종 photoconductor 물질이나 해상도가 다른 검출기에 대응하지 못하는 문제를 해결할 수 있다.
뿐만 아니라, 이러한 일련의 어려움으로 반복적인 에너지 응답 특성 추정이 불가하여 의료영상진단 장비에 필요한 정도 관리를 편리하고 신속하게 처리할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법을 설명하는 흐름도이다.
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시킨다(단계 201).
다음으로, 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출할 수 있다(단계 202).
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 방사되는 다색광 엑스선에 대해 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 수행하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
구체적으로는, 상기 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하기 위해서, 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 엑스선 튜브에 설정된 관전압에 대해서 에너지 쓰레숄드를 순차적으로 변화시켜 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 다색광 엑스선을 위한 엑스선 튜브의 관전압을 초기화 설정하고, 상기 초기화 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼을 산출할 수 있다(단계 203).
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 상기 실제 엑스선 스펙트럼을 고려하여 상기 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다(단계 204).
본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 상기 응답 특성을 추정하기 위해서, 상기 실제 엑스선 스펙트럼 및 상기 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초한 역추정(inverse estimation)을 수행하여, 상기 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
이러한 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법에 대해서는 도 3을 통해서 구체적으로 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 쓰레숄드 스캔을 적용하여 에너지 응답 특성을 추정하는 방법을 구체적으로 설명하는 흐름도이다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 먼저, 엑스선 튜브의 관전압을 초기화한다(단계 301).
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 관전압을 변경하면서, 쓰레숄드 스캔(Threshold scan)을 수행한다. 초기화 시, 관전압을 제외한 다른 주요 파라미터, 예를 들어 mA, 엑스선의 노출 시간 등은 적절한 값으로 설정될 수 있다.
다음으로, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 spectrometer 장비를 이용하여 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼(real X-ray spectrum)을 측정한다(단계 302).
다음으로, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 디텍터의 에너지 쓰레숄드를 초기화하여 쓰레숄드 스캔을 위한 준비를 마친다(단계 303).
이어, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 초기화된 디텍터의 에너지 쓰레숄드에 대해서, 쓰레숄드 스캔을 위한 시스템 설정을 수행한다(304).
다음으로, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 쓰레숄드 스캔을 위해, 엑스선을 방사하고, 방사된 엑스선에 상응하여 상기 디텍터에서 감지된 엑스선을 저장한다(단계 305). 이후, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 현재의 쓰레숄드가 마지막 쓰레숄드 인지를 판단하고(단계 306), 판단 결과 마지막 쓰레숄드가 아닌 경우, 에너지 쓰레숄드 값을 증가하여(단계 307), 단계 304로 분기한 뒤 다음 번 쓰레숄드 스캔을 준비한다.
만약, 상기 단계 306에서의 판단결과, 마지막 쓰레숄드인 경우, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 마지막 관전압 인지를 더 판단한다(단계 308).
이 경우, 마지막 관전압이 아니라면, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 단계 309에서 관전압을 일정치 만큼 증가시키고, 단계 310에서 상기 증가된 관전압을 튜브 관전압으로 설정한 후 단계 302로 분기한다.
만약, 마지막 관전압이라면, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 메모리에 저장된 Raw 데이터를 이용하여 엑스선의 spectra를 재구성할 수 있다(단계 311). 엑스선의 spectra를 재구성되면, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 역추정(Inverse Estimation)을 이용하여 에너지 응답 특성을 추정할 수 있다.
이후, 에너지 응답 특성이 추정되면, 획득한 엑스선 영상의 보정에 이용할 수도 있다.
정리하면, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 디텍터의 스펙트럼 왜곡을 의미하는 에너지 응답 특성을 정밀하게 추정함으로써 엑스선 영상의 화질을 획기적으로 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 에너지 응답 특성의 추정을 통해 실제 엑스선 스펙트라의 추정이 가능해지며 다양한 멀티-에너지 어플리케이션(Multi-Energy Application)의 성능, 즉, 어플리케이션의 정확도를 향상시킬 수가 있다.
이에 더해, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 방법은 시스템에 이미 장착되어 있는 다색광 엑스선 소스를 이용함으로써, 왜곡 특성을 손쉽게 추정할 수 있으므로 저비용, 고속, 정밀 추정이 가능하다.
본 발명의 일측에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매 체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법은 일반적인 시스템에서 사용되는 다색광 엑스선 소스를 이용하여 별도의 엑스선 소스없이 간편하게, 또는 필요에 따라서는 반복하여 에너지 응답 특성을 효율적으로 추정할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법을 이용하면, 디텍터 고유의 에너지 응답 특성을 추정하여, 획득한 엑스선 영상을 보정함으로써, 정밀한 측정이 가능하다.
뿐만 아니라, 본 발명의 일실시예에 따른 에너지 응답 특성 추정 장치 및 방법을 이용하면 고가의 장비를 사용하지 않고서도 정확하게 결과를 측정할 수 있 다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 장치를 설명하는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 엑스선 디텍터의 에너지 응답 특성 추정 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 쓰레숄드 스캔을 적용하여 에너지 응답 특성을 추정하는 방법을 구체적으로 설명하는 흐름도이다.

Claims (14)

  1. 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시키는 방사부;
    상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 센싱부; 및
    상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초하여, 에너지 응답 특성을 추정하는 추정부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 센싱부는,
    상기 다색광 엑스선을 위한 엑스선 튜브의 관전압을 초기화 설정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 센싱부는,
    상기 초기화 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼을 산출하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 추정부는,
    상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 상기 실제 엑스선 스펙트럼을 고려하여 상기 에너지 응답 특성을 추정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 센싱부는,
    상기 방사되는 다색광 엑스선에 대해 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 수행하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 쓰레숄드 스캔(threshold scan)은,
    엑스선 튜브에 설정된 관전압에 대해서 에너지 쓰레숄드를 순차적으로 변화시켜 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 센싱부는,
    상기 쓰레숄드 스캔(threshold scan)으로써, 적어도 하나 이상의 에너지 쓰레숄드에서 멀티-에너지 엑스선 데이터를 획득하고, 상기 획득한 멀티-에너지 엑스선 데이터를 이용하여 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 센싱부는,
    상기 획득한 멀티-에너지 엑스선 데이터로써 연속적인 에너지 스펙트럼을 재구성하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  9. 제4항에 있어서,
    상기 추정부는,
    상기 실제 엑스선 스펙트럼 및 상기 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초한 역추정(inverse estimation)으로써, 상기 에너지 응답 특성을 추정하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 장치.
  10. 서로 다른 에너지 레벨을 갖는 복수의 다색광 엑스선(polychromatic X-ray)을 방사하여 객체(object)로 투과시키는 단계;
    상기 객체에 투과된 다색광 엑스선으로부터의 광자(photon)를 카운팅하여, 디 텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 단계;
    상기 다색광 엑스선을 위한 엑스선 튜브의 관전압을 초기화 설정하고, 상기 초기화 설정된 관전압에 대한 실제 엑스선 스펙트럼을 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 디텍터의 스펙트럼 측정값에 상기 실제 엑스선 스펙트럼을 고려하여 상기 에너지 응답 특성을 추정하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 단계는,
    상기 방사되는 다색광 엑스선에 대해 쓰레숄드 스캔(threshold scan)을 수행하여, 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 디텍터의 스펙트럼 측정값을 산출하는 단계는,
    상기 엑스선 튜브에 설정된 관전압에 대해서 에너지 쓰레숄드를 순차적으로 변화시켜 상기 디텍터의 스펙트럼을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 실제 엑스선 스펙트럼 및 상기 디텍터의 스펙트럼 측정값에 기초한 역추정(inverse estimation)으로써, 상기 에너지 응답 특성을 추정하는 단계
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에너지 응답 특성 추정 방법.
  14. 제10항 내지 제13항 중 어느 한 항의 방법을 수행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능 기록 매체.
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