JP2015023099A - Method of manufacturing semiconductor light-emitting device, method of manufacturing molded body, electron beam curable resin composition, resin frame for reflector, and reflector - Google Patents

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俊之 坂井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a semiconductor light-emitting device, in a case of a semiconductor light-emitting device having, on a substrate, a reflector obtained by an injection molding step of an electron beam curable resin composition containing titanium oxide and an electron beam irradiation step and an optical semiconductor element, alternatively, in a case of a molded body, that can exhibit an excellent light resistance, and that can suppress change in reflective index even when being left under a high temperature, and to provide a method of manufacturing the molded body, the electron beam curable resin composition, a resin frame for the reflector, and the reflector.SOLUTION: In a method of manufacturing a semiconductor light-emitting device, a reflector is obtained by: an injection molding step of performing injection molding of an electron beam curable resin composition containing polymethylpentene, and titanium oxide subjected to surface treatment by an aluminum compound, surface treatment by a silicon compound, and a surface treatment by a siloxane compound or a polyol compound; and an electron beam irradiation step of performing electron beam irradiation before or/and after the injection molding step.

Description

本発明は、半導体発光装置の製造方法、成形体の製造方法、電子線硬化性樹脂組成物、リフレクター用樹脂フレーム、およびリフレクターに関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor light emitting device, a method for manufacturing a molded body, an electron beam curable resin composition, a reflector resin frame, and a reflector.

半導体発光装置の一つであるLED素子は、小型で長寿命であり、省電力性に優れることから、表示灯等の光源として広く利用されている。そして近年では、より輝度の高いLED素子が比較的安価に製造されるようになったことから、蛍光ランプ及び白熱電球に替わる光源としての利用が検討されている。このような光源に適用する場合、大きな照度を得るために、表面実装型LEDパッケージ、即ち、アルミニウム等の金属製の基板(LED実装用基板)上に複数のLED素子を配置し、各LED素子の周りに光を所定方向に反射させるリフレクター(反射体)を配設する方式が多用されている。   An LED element, which is one of semiconductor light emitting devices, is widely used as a light source for an indicator lamp or the like because it is small and has a long lifetime and is excellent in power saving. In recent years, LED elements with higher brightness have been manufactured at a relatively low cost, and therefore, use as a light source to replace fluorescent lamps and incandescent bulbs has been studied. When applying to such a light source, in order to obtain a large illuminance, a plurality of LED elements are arranged on a surface-mounted LED package, that is, a metal substrate (LED mounting substrate) such as aluminum, and each LED element. A system is often used in which a reflector (reflector) that reflects light in a predetermined direction is disposed around the.

しかし、LED素子は発光時に発熱を伴うため、このような方式のLED照明装置では、LED素子の発光時の温度上昇やLED素子からの直接の光によりリフレクターが劣化してその反射率が低下することで輝度が低下し、LED素子の短寿命化等を招くこととなる。従って、リフレクターには耐熱性・耐光性が要求されることとなる。   However, since the LED element generates heat during light emission, in such a type of LED lighting device, the reflector deteriorates due to the temperature rise during light emission of the LED element or direct light from the LED element, and the reflectance decreases. As a result, the luminance is lowered, and the life of the LED element is shortened. Therefore, the reflector is required to have heat resistance and light resistance.

上記耐熱性・耐光性の要求に応えるべく、特許文献1では、発光ダイオードのリフレクターに用いるポリマー組成物を提案し、具体的には、ポリフタルアミド、カーボンブラック、二酸化チタン、ガラス繊維、及び酸化防止剤を含むポリマー組成物を開示している。そして、当該組成物について熱老化後の反射率を測定し、カーボンブラックを含有しないポリマー組成物に比べて、当該組成物では良好な反射率が得られ、黄変も少ないことを示している。
また特許文献2では、トリアジン誘導体エポキシ樹脂、アルミナ、球状シリカ粒子を含むポリマー組成物を開示している。良好な反射率が得られ、黄変も少ないことを示している。
In order to meet the above requirements for heat resistance and light resistance, Patent Document 1 proposes a polymer composition used for a reflector of a light emitting diode, specifically, polyphthalamide, carbon black, titanium dioxide, glass fiber, and oxidation. Disclosed is a polymer composition comprising an inhibitor. And the reflectance after heat aging is measured about the said composition, Compared with the polymer composition which does not contain carbon black, the favorable reflectance is obtained with the said composition, and it has shown that there is also little yellowing.
Patent Document 2 discloses a polymer composition containing a triazine derivative epoxy resin, alumina, and spherical silica particles. It shows that good reflectance is obtained and yellowing is small.

特表2006−503160号公報JP-T-2006-503160 特開2009−149845号公報JP 2009-149845 A WO2010/084845号公報WO2010 / 084845

しかし、特許文献1に記載のポリマー組成物の熱老化試験は170℃で3時間という短時間での評価であり、より長時間の実用的な条件での反射率変化で良好な結果が得られるかどうかは不明である。
特許文献2に記載のポリマー組成物の熱老化試験は150℃で500時間というより実用的な条件で検証しているが、硬化成形時間90秒、ポストキュア150℃2時間と長く、またプロセス時にバリが発生するなど量産化に問題があった。
特許文献3に記載のポリマー組成物は、熱可塑性樹脂と充填材と溶融粘度低下剤の樹脂組成物および成形体が提案されており、この技術によれば加工性に優れ、可塑剤のブリードアウト防止した成形物を提供することができる。可塑剤の硬化による作用は溶融粘度低下剤のブリードアウト防止を目的としたものであり、光の反射率や熱による反射率の低下、耐光性に対しては言及されておらず、特に光の反射率に与える無機成分の効果は示されていない。
また上記の特許文献のいずれの樹脂組成物も、LED素子からの直接の光、あるいは外部からの光の照射による耐光性についての検討がなされていない。
However, the heat aging test of the polymer composition described in Patent Document 1 is an evaluation in 170 hours at a short time of 3 hours, and a good result can be obtained by changing the reflectance under a longer practical condition. Whether it is unknown.
The heat aging test of the polymer composition described in Patent Document 2 has been verified under a more practical condition of 150 hours at 150 ° C., but has a long curing molding time of 90 seconds and a post-cure 150 ° C. of 2 hours. There was a problem in mass production such as burrs.
As the polymer composition described in Patent Document 3, a resin composition and a molded body of a thermoplastic resin, a filler, and a melt viscosity reducing agent have been proposed. According to this technique, the processability is excellent and the plasticizer bleed out. It is possible to provide a molded product that is prevented. The effect of curing the plasticizer is to prevent bleeding out of the melt viscosity reducing agent, and there is no mention of light reflectivity, decrease in heat reflectivity, and light resistance. The effect of inorganic components on reflectivity is not shown.
Moreover, neither resin composition of said patent document is examined about the light resistance by irradiation of the direct light from an LED element, or the light from the outside.

以上から、本発明は、チタン酸化物を含む電子線硬化性樹脂組成物の射出成形工程と、電子線照射工程で得られるリフレクターと、光半導体素子とを基板上に有する半導体発光装置、あるいは成形体とした場合において、優れた耐光性を発揮し得るもので、かつ高温下などに放置しても反射率の変化を抑制し得る半導体発光装置の製造方法、成形体の製造方法、電子線硬化性樹脂組成物、リフレクター用樹脂フレーム、およびリフレクターを提供することを目的とする。   As described above, the present invention provides a semiconductor light emitting device or molding having an electron beam curable resin composition containing a titanium oxide, a reflector obtained in the electron beam irradiation step, and an optical semiconductor element on a substrate. In the case of a body, a method of manufacturing a semiconductor light emitting device that can exhibit excellent light resistance and can suppress a change in reflectance even when left at high temperature, a method of manufacturing a molded body, electron beam curing An object of the present invention is to provide a conductive resin composition, a reflector resin frame, and a reflector.

本発明者は、上記目的を達成するために鋭意研究を重ねた結果、下記の発明により当該目的を達成できることを見出した。すなわち、本発明は下記の通りである。   As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has found that the object can be achieved by the following invention. That is, the present invention is as follows.

[1] 光半導体素子と、前記光半導体素子の周りに設けられ、前記光半導体素子からの光を所定方向に反射させるリフレクターとを基板上に有する半導体発光装置の製造方法であって、
前記リフレクターを、以下の方法によって得る半導体発光装置の製造方法。
ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、
射出成形する射出成形工程と、
前記射出成形工程の前または/および後に電子線照射する電子線照射工程と、
によってリフレクターを得る。
[1] A method of manufacturing a semiconductor light emitting device, comprising: an optical semiconductor element; and a reflector provided around the optical semiconductor element and reflecting light from the optical semiconductor element in a predetermined direction on a substrate,
A method for manufacturing a semiconductor light emitting device, wherein the reflector is obtained by the following method.
Using an electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound,
An injection molding process for injection molding;
An electron beam irradiation step of irradiating an electron beam before or after the injection molding step;
By getting a reflector.

[2] ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、
射出成形する射出成形工程と、
前記射出成形工程の前または/および後に、電子線照射処理を施す電子線照射工程と、
を含む成形体の製造方法。
[2] An electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide that has been surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound,
An injection molding process for injection molding;
An electron beam irradiation step for performing an electron beam irradiation treatment before or after the injection molding step;
The manufacturing method of the molded object containing this.

[3] ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物。
[3] An electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide that has been surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound.

[4] 前記チタン酸化物以外で、ガラス繊維を含む[3]に記載の電子線硬化性樹脂組成物。
[5] 分散剤が配合されてなる[3]または[4]に記載の電子線硬化性樹脂組成物。
[4] The electron beam curable resin composition according to [3], which contains glass fibers other than the titanium oxide.
[5] The electron beam curable resin composition according to [3] or [4], wherein a dispersant is blended.

[6] [3]〜[5]のいずれかに記載の電子線硬化性樹脂組成物の硬化物が用いられたリフレクター用樹脂フレーム。
[7] 厚さが0.1〜3.0mmである[6]に記載のリフレクター用樹脂フレーム。
[6] A reflector resin frame using a cured product of the electron beam curable resin composition according to any one of [3] to [5].
[7] The resin frame for reflectors according to [6], wherein the thickness is 0.1 to 3.0 mm.

[8] [3]〜[5]のいずれかに記載の電子線硬化性樹脂組成物の硬化物が用いられたリフレクター。 [8] A reflector using a cured product of the electron beam curable resin composition according to any one of [3] to [5].

本発明によれば、特定した表面処理がなされたチタン酸化物を含む電子線硬化性樹脂組成物の射出成形工程と、電子線照射工程で得られるリフレクターと、光半導体素子とを基板上に有する半導体発光装置、あるいは成形体とした場合において、優れた耐光性を発揮し得るもので、かつ高温下などに放置しても反射率の変化を抑制し得る。   According to the present invention, the substrate has the injection molding step of the electron beam curable resin composition containing the specified surface-treated titanium oxide, the reflector obtained in the electron beam irradiation step, and the optical semiconductor element. In the case of a semiconductor light emitting device or a molded body, it can exhibit excellent light resistance and can suppress a change in reflectance even when left at high temperatures.

本発明の半導体発光装置の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the semiconductor light-emitting device of this invention. 本発明の半導体発光装置の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the semiconductor light-emitting device of this invention.

[1.半導体発光装置の製造方法]
本発明の半導体発光装置の製造方法を、図1に例示した半導体発光装置を参照して説明する。光半導体素子10と、前記光半導体素子10の周りに設けられ、前記光半導体素子10からの光を所定方向に反射させるリフレクター12とを基板14上に有する半導体発光装置の製造方法である。
[1. Manufacturing method of semiconductor light emitting device]
A method for manufacturing a semiconductor light emitting device of the present invention will be described with reference to the semiconductor light emitting device illustrated in FIG. This is a method for manufacturing a semiconductor light-emitting device having an optical semiconductor element 10 and a reflector 12 provided around the optical semiconductor element 10 and reflecting light from the optical semiconductor element 10 in a predetermined direction on a substrate 14.

そのリフレクター12を、ポリメチルペンテン、ならびに
(1)アルミニウム化合物による表面処理、
(2)ケイ素化合物による表面処理、および
(3)シロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理
がなされたチタン酸化物を含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、射出成形する射出成形工程と、
その射出成形工程の前または/および後に電子線照射する電子線照射工程と、
によって得る製造方法である。
The reflector 12 is subjected to surface treatment with polymethylpentene and (1) an aluminum compound,
(2) an injection molding step of injection molding using an electron beam curable resin composition containing a titanium oxide subjected to a surface treatment with a silicon compound, and (3) a surface treatment with a siloxane compound or a polyol compound;
An electron beam irradiation step of irradiating an electron beam before or / and after the injection molding step;
It is a manufacturing method obtained by.

上記の(1)の表面処理の方法は、例えばチタン酸化物である二酸化チタンと、アルミニウムの酸化物ないし水酸化物と混合し、500〜2000℃で焼結する方法が挙げられる。また例えば、アルミナ水和物を含む表面処理剤と溶剤との混合物に、二酸化チタンを加え、撹拌した後に脱溶媒を行い、更にその後100〜300℃で熱処理する湿式法が挙げられる。   Examples of the surface treatment method (1) include a method in which titanium dioxide, which is titanium oxide, and an oxide or hydroxide of aluminum are mixed and sintered at 500 to 2000 ° C. Moreover, for example, a wet method in which titanium dioxide is added to a mixture of a surface treatment agent containing alumina hydrate and a solvent, stirred, desolvated, and then heat treated at 100 to 300 ° C. can be mentioned.

さらに、例えば、アルミナ水和物を含む表面処理剤と酸化チタンとを、ミキサー等で混合する方法で、酸化チタンにその表面処理剤の有機溶液を噴霧して付着させ、100〜300℃で熱処理する乾式法が挙げられる。   Further, for example, a surface treatment agent containing alumina hydrate and titanium oxide are mixed by a mixer or the like, and an organic solution of the surface treatment agent is sprayed and adhered to titanium oxide, and heat treatment is performed at 100 to 300 ° C. And dry method.

上記の(2)の表面処理の方法は、上記の(1)の表面処理の後に行われるもので、上記のアルミニウム化合物による表面処理されたチタン酸化物に対し、例えばケイ素化合物である二酸化ケイ素(シリカ)の水和物を含む表面処理剤で、上記の湿式法、乾式法等で、ケイ素化合物による表面処理を行うことができる。   The surface treatment method (2) is performed after the surface treatment (1). For example, silicon dioxide (silicon dioxide), which is a silicon compound, is used for the surface-treated titanium oxide. A surface treatment agent containing a hydrate of silica) can be subjected to surface treatment with a silicon compound by the above-described wet method, dry method, or the like.

上記の(3)の表面処理の方法は、上記の(2)の表面処理の後に行われるもので、上記のアルミニウム化合物による表面処理、さらにケイ素化合物による表面処理が施されたチタン酸化物に対し、例えばシロキサン化合物であるポリオルガノシロキサンを含む表面処理剤で、上記の湿式法、乾式法等で、シロキサン化合物による表面処理を行うことができる。   The surface treatment method (3) described above is performed after the surface treatment (2) above, and is applied to the titanium oxide that has been subjected to the surface treatment with the aluminum compound and the surface treatment with the silicon compound. For example, a surface treatment agent containing a polyorganosiloxane that is a siloxane compound can be used to perform a surface treatment with a siloxane compound by the above-described wet method, dry method, or the like.

上記の(3)の表面処理の方法で、ポリオール化合物による表面処理は、上記のアルミニウム化合物による表面処理、さらにケイ素化合物による表面処理が施されたチタン酸化物に対し、例えばポリオール化合物を含む表面処理剤で、上記の湿式法、乾式法等で、ポリオール化合物による表面処理を行うことができる。
上記の(1)の表面処理、(2)の表面処理、(3)の表面処理を順次行ったチタン酸化物と、ポリメチルペンテンを含む電子線硬化性樹脂組成物を用意する。
In the surface treatment method of (3) above, the surface treatment with the polyol compound is a surface treatment containing, for example, a polyol compound with respect to the titanium oxide subjected to the surface treatment with the aluminum compound and the surface treatment with the silicon compound. With the agent, the surface treatment with the polyol compound can be performed by the above-described wet method, dry method, or the like.
An electron beam curable resin composition containing titanium oxide and polymethylpentene subjected to the surface treatment of (1), the surface treatment of (2), and the surface treatment of (3) is prepared.

ポリメチルペンテンとしては4−メチルペンテン−1の単独重合体が好ましいが、4−メチルペンテン−1と他のα−オレフィン、例えばエチレン、プロピレン、1−ブテン、1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、1−デセン、1−ドデセン、1−テトラデセン、1−オクタデセン、1−エイコセン、3−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ペンテン等の炭素数2ないし20のα−オレフィンとの共重合体で、4−メチル−1−ペンテンを90モル%以上含む4−メチルペンテン−1を主体とした共重合体でもよい。
4−メチルペンテン−1の単独重合体の分子量はゲルパーミッションクロマトグラフィーで測定したポリスチレン換算の重量平均分子量Mwが1,000以上、特に5,000以上が好ましい。
The polymethylpentene is preferably a homopolymer of 4-methylpentene-1, but 4-methylpentene-1 and other α-olefins such as ethylene, propylene, 1-butene, 1-pentene, 1-hexene, 1 An α-olefin having 2 to 20 carbon atoms such as octene, 1-decene, 1-dodecene, 1-tetradecene, 1-octadecene, 1-eicocene, 3-methyl-1-butene and 3-methyl-1-pentene; And a copolymer mainly composed of 4-methylpentene-1 containing 90 mol% or more of 4-methyl-1-pentene may be used.
As for the molecular weight of the homopolymer of 4-methylpentene-1, the polystyrene equivalent weight average molecular weight Mw measured by gel permeation chromatography is preferably 1,000 or more, particularly preferably 5,000 or more.

ポリメチルペンテンは屈折率が1.46であるが、電子線硬化性樹脂組成物に含むチタン酸化物を、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理することで、ポリメチルペンテンと上記のチタン酸化物の屈折率を非常に近くしたので、混合した際でも透過率や反射率等の光学特性の阻害を抑えることが可能である。かかる点を考慮すると、例えば、半導体発光装置のリフレクターとして使用するには好適である。尚、表面処理は公知の分析手法で測定することが可能である。例えば、XPS、RBS、SIMS、EPMAのような手法がある。   Polymethylpentene has a refractive index of 1.46, but the titanium oxide contained in the electron beam curable resin composition is subjected to a surface treatment with an aluminum compound, a surface treatment with a silicon compound, and a surface treatment with a siloxane compound or a polyol compound. Thus, since the refractive indexes of polymethylpentene and the above titanium oxide are made very close, even when they are mixed, it is possible to suppress inhibition of optical characteristics such as transmittance and reflectance. Considering this point, for example, it is suitable for use as a reflector of a semiconductor light emitting device. The surface treatment can be measured by a known analysis method. For example, there are techniques such as XPS, RBS, SIMS, and EPMA.

ポリメチルペンテンは融点が232℃と高く、加工温度の280℃程度でも分解せずに分解温度が300℃近辺という特性を有する。一方、このような特性を有する有機過酸化物や光重合開始剤は一般には存在しないので、有機過酸化物による架橋や紫外光による架橋は不可能である。
また、ポリメチルペンテンに対して電子線を照射(例えば、吸収線量:200kGy)しても架橋と同時に分子鎖の切断が進行するため、樹脂単体では有効な架橋は起こり難い。しかし、架橋処理剤を含有させることにより、電子線照射によって有効に架橋反応が起こるため、耐熱性を有するものになる。
Polymethylpentene has a high melting point of 232 ° C., and has a characteristic that the decomposition temperature is around 300 ° C. without being decomposed even at a processing temperature of about 280 ° C. On the other hand, since there is generally no organic peroxide or photopolymerization initiator having such characteristics, crosslinking with an organic peroxide or crosslinking with ultraviolet light is impossible.
Further, even when the polymethylpentene is irradiated with an electron beam (for example, absorbed dose: 200 kGy), since the molecular chain breaks simultaneously with the crosslinking, effective crosslinking hardly occurs with the resin alone. However, when a crosslinking agent is contained, a crosslinking reaction is effectively caused by electron beam irradiation, and thus heat resistance is obtained.

上記の(1)の表面処理、(2)の表面処理、(3)の表面処理を順次行ったチタン酸化物と、ポリメチルペンテンとを組み合わせた電子線硬化性樹脂組成物により、形成される成形品(例えばリフレクターなど)は、優れた耐光性を発揮でき、かつ高温下などに放置しても反射率の変化を抑制するものとなる。上記の3段階の表面処理を行わないチタン酸化物では、ポリメチルペンテンと組み合わせた電子線硬化性樹脂組成物で、チタン酸化物の分散性を高めて、反射率を向上させると、耐光性が低下しやすいことが発生する。また、上記の3段階の表面処理を行わないチタン酸化物では、その耐光性を高める種類を用いた場合、そのチタン酸化物の分散性が低く、反射率の低下を生じやすくなり好ましくない。   It is formed by an electron beam curable resin composition in which titanium oxide obtained by sequentially performing the surface treatment of (1), the surface treatment of (2), and the surface treatment of (3) and polymethylpentene are combined. Molded articles (eg, reflectors) can exhibit excellent light resistance and suppress changes in reflectance even when left at high temperatures. In the case of titanium oxide not subjected to the above three-step surface treatment, the electron beam curable resin composition combined with polymethylpentene increases the dispersibility of the titanium oxide and improves the reflectance. It happens that it tends to decrease. In addition, in the case of using a titanium oxide that does not perform the above-described three-step surface treatment, the dispersibility of the titanium oxide is low and the reflectance is likely to be lowered when the type that increases the light resistance is used.

光半導体素子10は、放射光(一般に、白色光LEDにおいてはUV又は青色光)を放出する、例えば、AlGaAs、AlGaInP、GaP又はGaNからなる活性層を、n型及びp型のクラッド層により挟んだダブルヘテロ構造を有する半導体チップ(発光体)であり、例えば、一辺の長さが0.5mm程度の六面体の形状をしている。そして、ワイヤーボンディング実装の形態の場合には、リード線16を介して不図示の電極(接続端子)に接続されている。   The optical semiconductor element 10 emits radiated light (generally UV or blue light in a white light LED), for example, an active layer made of AlGaAs, AlGaInP, GaP or GaN sandwiched between n-type and p-type cladding layers. It is a semiconductor chip (light emitter) having a double heterostructure, and has a hexahedral shape with a side length of about 0.5 mm, for example. In the case of wire bonding mounting, it is connected to an electrode (connection terminal) (not shown) via a lead wire 16.

リフレクター12の形状は、レンズ18の端部(接合部)の形状に準じており、通常、角形、円形、楕円形等の筒状又は輪状である。図1の概略断面図においては、リフレクター12は、筒状体(輪状体)であり、リフレクター12のすべての端面が基板14の表面に接触、固定されている。
なお、リフレクター12の内面は、光半導体素子10からの光の指向性を高めるために、テーパー状に上方に広げられていてもよい(図1参照)。
また、リフレクター12は、レンズ18側の端部を、当該レンズ18の形状に応じた形に加工された場合には、レンズホルダーとしても機能させることができる。
The shape of the reflector 12 conforms to the shape of the end portion (joint portion) of the lens 18 and is usually a cylindrical shape such as a square shape, a circular shape, or an oval shape, or an annular shape. In the schematic cross-sectional view of FIG. 1, the reflector 12 is a cylindrical body (annular body), and all the end faces of the reflector 12 are in contact with and fixed to the surface of the substrate 14.
In addition, in order to improve the directivity of the light from the optical semiconductor element 10, the inner surface of the reflector 12 may be expanded upward in a tapered shape (see FIG. 1).
The reflector 12 can also function as a lens holder when the end portion on the lens 18 side is processed into a shape corresponding to the shape of the lens 18.

リフレクター12は、図2に示すように、光反射面側だけを電子線硬化性樹脂組成物からなる光反射層12aとしてもよい。この場合、光反射層12aの厚さは、熱抵抗を低くする等の観点から、500μm以下とすることが好ましく、300μm以下とすることがより好ましい。光反射層12aが形成される部材12bは、公知の耐熱性樹脂で構成することができる。
既述のようにリフレクター12上にはレンズ18が設けられているが、これは通常樹脂製であり、目的、用途等により様々な構造が採用され、着色されることもある。
As shown in FIG. 2, the reflector 12 is good also considering the light reflection surface side as the light reflection layer 12a which consists of an electron beam curable resin composition. In this case, the thickness of the light reflection layer 12a is preferably 500 μm or less, and more preferably 300 μm or less, from the viewpoint of reducing the thermal resistance. The member 12b on which the light reflecting layer 12a is formed can be made of a known heat resistant resin.
As described above, the lens 18 is provided on the reflector 12, but this is usually made of a resin, and various structures may be adopted and colored depending on the purpose and application.

基板14とリフレクター12とレンズ18とで形成される空間部は、透明封止部であってよいし、必要により空隙部であってもよい。この空間部は、通常、透光性及び絶縁性を与える材料等が充填された透明封止部であり、ワイヤーボンディング実装において、リード線16に直接接触することにより加わる力、及び、間接的に加わる振動、衝撃等により、光半導体素子10との接続部、及び/又は、電極との接続部からリード線16が外れたり、切断したり、短絡したりすることによって生じる電気的な不具合を防止することができる。また、同時に、湿気、塵埃等から光半導体素子10を保護し、長期間に渡って信頼性を維持することができる。   The space formed by the substrate 14, the reflector 12, and the lens 18 may be a transparent sealing portion, or may be a gap if necessary. This space portion is usually a transparent sealing portion filled with a light-transmitting and insulating material, and the force applied by directly contacting the lead wire 16 in wire bonding mounting and indirectly. Prevents electrical defects caused by the lead wire 16 being disconnected, cut, or short-circuited from the connection portion with the optical semiconductor element 10 and / or the connection portion with the electrode due to applied vibration, impact, etc. can do. At the same time, the optical semiconductor element 10 can be protected from moisture, dust, etc., and the reliability can be maintained over a long period of time.

この透光性及び絶縁性を与える材料(透明封止剤組成物)としては、通常、シリコーン樹脂、エポキシシリコーン樹脂、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート樹脂等が挙げられる。これらのうち、耐熱性、耐候性、低収縮性及び耐変色性の観点から、シリコーン樹脂が好ましい。   Examples of the material (transparent encapsulant composition) that imparts light-transmitting properties and insulating properties usually include silicone resins, epoxy silicone resins, epoxy resins, acrylic resins, polyimide resins, polycarbonate resins, and the like. Of these, silicone resins are preferred from the viewpoints of heat resistance, weather resistance, low shrinkage, and discoloration resistance.

チタン酸化物を含む電子線硬化性樹脂組成物を射出成形する射出成形工程は、射出温度を200〜400℃、金型温度を20〜200℃として作製することが好ましい。この射出成形工程の前または/および後に、電子線照射処理を施す電子線照射工程を含む成形方法により、リフレクターを作製することができる。これは、成形性を損なわない限りは、電子線照射による架橋反応は成形後に限らずに、成形前に、さらに成形前と成形後の両方で行うことができる。   The injection molding step for injection molding the electron beam curable resin composition containing titanium oxide is preferably produced at an injection temperature of 200 to 400 ° C and a mold temperature of 20 to 200 ° C. A reflector can be produced by a molding method including an electron beam irradiation process in which an electron beam irradiation process is performed before and / or after the injection molding process. As long as the moldability is not impaired, the crosslinking reaction by electron beam irradiation is not limited to after molding, but can be performed before molding and further before and after molding.

電子線照射工程で、電子線の加速電圧については、用いる樹脂や層の厚みに応じて適宜選定し得る。例えば、厚みが1mm程度の成型物の場合は通常加速電圧250〜2000kV程度で未硬化樹脂層を硬化させることが好ましい。なお、電子線の照射においては、加速電圧が高いほど透過能力が増加するため、基板として電子線により劣化する基板を使用する場合には、電子線の透過深さと樹脂層の厚みが実質的に等しくなるように、加速電圧を選定することにより、基板への余分の電子線の照射を抑制することができ、過剰電子線による基板の劣化を最小限にとどめることができる。また、電子線を照射する際の吸収線量は樹脂組成物の組成により適宜設定されるが、樹脂層の架橋密度が飽和する量が好ましく、10〜400kGyであることが好ましく、50〜200kGyであることがより好ましい。さらに、電子線源としては、特に制限はなく、例えばコックロフトワルトン型、バンデグラフト型、共振変圧器型、絶縁コア変圧器型、あるいは直線型、ダイナミトロン型、高周波型などの各種電子線加速器を用いることができる。   In the electron beam irradiation step, the acceleration voltage of the electron beam can be appropriately selected according to the resin used and the thickness of the layer. For example, in the case of a molded product having a thickness of about 1 mm, it is usually preferable to cure the uncured resin layer at an acceleration voltage of about 250 to 2000 kV. In the electron beam irradiation, the transmission capability increases as the acceleration voltage increases. Therefore, when a substrate that deteriorates due to the electron beam is used as the substrate, the transmission depth of the electron beam and the thickness of the resin layer are substantially equal. By selecting an accelerating voltage so as to be equal, irradiation of an extra electron beam to the substrate can be suppressed, and deterioration of the substrate due to excess electron beam can be minimized. Further, the absorbed dose when irradiating the electron beam is appropriately set depending on the composition of the resin composition, but the amount in which the crosslink density of the resin layer is saturated is preferably 10 to 400 kGy, and preferably 50 to 200 kGy. It is more preferable. Further, the electron beam source is not particularly limited. For example, various electron beam accelerators such as a cockroft Walton type, a bandegraft type, a resonant transformer type, an insulated core transformer type, a linear type, a dynamitron type, and a high frequency type. Can be used.

以下に、図1に示す半導体発光装置の製造方法の一例について説明する。
まず、本発明の電子線硬化性樹脂組成物を、所定形状のキャビティ空間を備える金型を用いた射出成形により、所定形状のリフレクター12に成形する。その後、別途、準備した光半導体素子10、電極及びリード線16を、接着剤又は接合部材により基板14に固定し、さらにリフレクター12を基板14上に固定する。
リフレクター12を基板上に固定する方法は、溶融させた半田を用いておこなうことが好ましい。
Below, an example of the manufacturing method of the semiconductor light-emitting device shown in FIG. 1 is demonstrated.
First, the electron beam curable resin composition of the present invention is molded into a reflector 12 having a predetermined shape by injection molding using a mold having a cavity space having a predetermined shape. Thereafter, the separately prepared optical semiconductor element 10, electrodes and lead wires 16 are fixed to the substrate 14 with an adhesive or a bonding member, and the reflector 12 is further fixed onto the substrate 14.
The method of fixing the reflector 12 on the substrate is preferably performed using molten solder.

基板上にリフレクター及び光半導体素子を固定した後、基板14及びリフレクター12により形成された凹部に、シリコーン樹脂等を含む透明封止剤組成物を注入し、加熱、乾燥等により硬化させて透明封止部とする。その後、透明封止部上にレンズ18を配設して、図1に示す半導体発光装置が得られる。
なお、透明封止剤組成物が未硬化の状態でレンズ18を載置してから、組成物を硬化させてもよい。
After fixing the reflector and the optical semiconductor element on the substrate, a transparent sealant composition containing a silicone resin or the like is injected into the recess formed by the substrate 14 and the reflector 12 and cured by heating, drying, etc. Let it be a stop. Thereafter, the lens 18 is disposed on the transparent sealing portion to obtain the semiconductor light emitting device shown in FIG.
In addition, after mounting the lens 18 in a state where the transparent sealant composition is uncured, the composition may be cured.

[2.成形体の製造方法]
上記の表面処理されたチタン酸化物と、ポリメチルペンテンを含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、射出成形する射出成形工程と、前記射出成形工程の前または/および後に、電子線照射処理を施す電子線照射工程と、を含む成形体の製造方法である。この成形体の製造方法で用いる電子線硬化性樹脂組成物、また射出成形工程及び電子線照射工程は、上記の半導体発光装置の製造方法で説明した内容と同じであるため、ここでは省略する。上記の成形体の製造方法により、種々の成形体を成形して製造することができ、厚みの薄い成形体(例えば、リフレクター)を作製することもできる。
[2. Method for producing molded body]
An injection molding process for injection molding using the surface-treated titanium oxide and an electron beam curable resin composition containing polymethylpentene, and an electron beam irradiation treatment before or / and after the injection molding process. And an electron beam irradiation step for applying a molded article. The electron beam curable resin composition, the injection molding process, and the electron beam irradiation process used in this method for manufacturing a molded body are the same as those described in the above method for manufacturing a semiconductor light emitting device, and are therefore omitted here. By the method for producing a molded body, various molded bodies can be molded and manufactured, and a molded body having a small thickness (for example, a reflector) can also be manufactured.

[3.電子線硬化性樹脂組成物]
本発明の電子線硬化性樹脂組成物は、ポリメチルペンテン、ならびにアルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物を含むようにした。
上記材料のポリメチルペンテン、ならびにアルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物については、上記の半導体発光装置の製造方法で説明したとおりである。
[3. Electron beam curable resin composition]
The electron beam curable resin composition of the present invention includes polymethylpentene and titanium oxide that has been surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound.
The titanium oxide subjected to the surface treatment with polymethylpentene and the aluminum compound, the surface treatment with the silicon compound, and the surface treatment with the siloxane compound or the polyol compound of the above materials is as described in the method for manufacturing the semiconductor light emitting device. It is.

上記の電子線硬化性樹脂組成物に、架橋処理剤を添加して、電子線を照射させることで十分な耐熱性を発揮し得る樹脂組成物の成形体とすることができる。ポリメチルペンテンに対して電子線を照射(例えば、吸収線量:200kGy)しても架橋と同時に分子鎖の切断が進行するため、樹脂単体では有効な架橋は起こり難い。しかし、架橋処理剤を含有させることにより、電子線照射によって有効に架橋反応が起こり、十分な耐熱性と耐光性を有する成形体を形成できる。   A molded article of a resin composition that can exhibit sufficient heat resistance can be obtained by adding a crosslinking agent to the electron beam curable resin composition and irradiating it with an electron beam. Even when the polymethylpentene is irradiated with an electron beam (for example, absorbed dose: 200 kGy), the molecular chain breaks simultaneously with the crosslinking, so that effective crosslinking is unlikely to occur with the resin alone. However, by including a crosslinking treatment agent, a crosslinking reaction is effectively caused by electron beam irradiation, and a molded product having sufficient heat resistance and light resistance can be formed.

このような架橋処理剤は、飽和もしくは不飽和の環構造を有し、少なくとも1つの環を形成する原子のうち少なくとも1つの原子が、アリル基、メタリル基、連結基を介したアリル基、及び連結基を介したメタリル基のいずれかのアリル系置換基と結合してなる構造を有するものが好ましい。かかる構造を有する架橋処理剤を含有することで、良好な電子線硬化性を発揮し、優れた耐熱性を有する樹脂組成物とすることができる。
飽和もしくは不飽和の環構造としては、シクロ環、ヘテロ環、芳香環等が挙げられる。環構造を形成する原子の数は、3〜12であることが好ましく、5〜8であることがより好ましく、6員環であることがさらに好ましい。
Such a crosslinking agent has a saturated or unsaturated ring structure, and at least one of atoms forming at least one ring is an allyl group, a methallyl group, an allyl group via a linking group, and Those having a structure formed by bonding to any allylic substituent of a methallyl group via a linking group are preferred. By containing the crosslinking agent having such a structure, it is possible to obtain a resin composition that exhibits good electron beam curability and has excellent heat resistance.
Examples of the saturated or unsaturated ring structure include a cyclo ring, a hetero ring, and an aromatic ring. The number of atoms forming the ring structure is preferably 3 to 12, more preferably 5 to 8, and still more preferably a 6-membered ring.

また、架橋処理剤の分子量は、1000以下であることが好ましく、500以下であることがより好ましく、300以下であることがさらに好ましい。分子量が1000以下であることで、樹脂組成中の分散性が低くなることを防ぎ、電子線照射による有効な架橋反応を起こすことが可能となる。
また、環構造の数は1〜3であることが好ましく、1又は2であることがより好ましく、1であることがさらに好ましい。
Further, the molecular weight of the crosslinking agent is preferably 1000 or less, more preferably 500 or less, and even more preferably 300 or less. When the molecular weight is 1000 or less, it is possible to prevent the dispersibility in the resin composition from being lowered and to cause an effective crosslinking reaction by electron beam irradiation.
The number of ring structures is preferably 1 to 3, more preferably 1 or 2, and further preferably 1.

架橋処理剤の融点は、使用するポリメチルペンテンの融点(232℃)以下であることが好ましく、例えば200℃以下であることが好ましい。
上記のような架橋処理剤であれば、加工時に流動性に優れるため、熱可塑性樹脂の加工温度を低下させ熱負荷を軽減したり、加工時の摩擦を軽減したり、無機成分の充填量を増やすことができる。
The melting point of the crosslinking agent is preferably not higher than the melting point (232 ° C.) of the polymethylpentene to be used, for example, preferably not higher than 200 ° C.
Since the crosslinking agent as described above has excellent fluidity during processing, the processing temperature of the thermoplastic resin is lowered to reduce the thermal load, friction during processing is reduced, and the inorganic component filling amount is reduced. Can be increased.

架橋処理剤における連結基としては、エステル結合、エーテル結合、アルキレン基、(ヘテロ)アリーレン基等が挙げられる。環を形成する原子のうちアリル系置換基と結合しない原子は、水素、酸素、窒素等が結合した状態、又は種々の置換基が結合した状態となっている。   Examples of the linking group in the crosslinking agent include an ester bond, an ether bond, an alkylene group, and a (hetero) arylene group. Among the atoms forming the ring, atoms that are not bonded to the allylic substituent are in a state in which hydrogen, oxygen, nitrogen, or the like is bonded, or in a state in which various substituents are bonded.

架橋処理剤は、当該架橋処理剤の1つの環を形成する原子のうち少なくとも2つの原子が、それぞれ独立に、アリル系置換基と結合してなることが好ましい。また環構造が6員環である場合、当該環を形成する原子のうちの少なくとも2つの原子が、それぞれ独立に、アリル系置換基と結合してなり、1つのアリル系置換基が結合した原子に対して、他のアリル系置換基がメタ位の原子に結合していることが好ましい。
さらに架橋処理剤は、下記式(1)又は(2)で表されることが好ましい。
The crosslinking agent is preferably formed by bonding at least two atoms out of atoms forming one ring of the crosslinking agent independently to an allylic substituent. When the ring structure is a 6-membered ring, at least two of the atoms forming the ring are independently bonded to an allylic substituent, and one allylic substituent is bonded to the atom. On the other hand, it is preferable that another allylic substituent is bonded to the atom at the meta position.
Furthermore, the crosslinking agent is preferably represented by the following formula (1) or (2).

Figure 2015023099
(式(1)中、R1〜R3はそれぞれ独立に、アリル基、メタリル基、エステル結合を介したアリル基、及びエステル結合を介したメタリル基のいずれかのアリル系置換基である。)
Figure 2015023099
(In Formula (1), R < 1 > -R < 3 > is an allylic substituent in any one of an allyl group, a methallyl group, an allyl group via an ester bond, and a methallyl group via an ester bond, respectively. )

Figure 2015023099
(式(2)中、R1〜R3はそれぞれ独立に、アリル基、メタリル基、エステル結合を介したアリル基、及びエステル結合を介したメタリル基のいずれかのアリル系置換基である。)
Figure 2015023099
(In Formula (2), R < 1 > -R < 3 > is an allylic substituent in any one of an allyl group, a methallyl group, an allyl group via an ester bond, and a methallyl group via an ester bond, respectively. )

上記式(1)で表される架橋処理剤としてはトリアリルイソシアヌレート、メチルジアリルイソシアヌレート、ジアリルモノグリシジルイソシアヌル酸、モノアリルジグリシジルイソシアヌレート、トリメタリルイソシアヌレート等が挙げられる。
上記式(2)で表される架橋処理剤としてはオルトフタル酸のジアリルエステル、イソフタル酸のジアリルエステル等が挙げられる。
Examples of the crosslinking agent represented by the above formula (1) include triallyl isocyanurate, methyl diallyl isocyanurate, diallyl monoglycidyl isocyanuric acid, monoallyl diglycidyl isocyanurate, and trimethallyl isocyanurate.
Examples of the crosslinking agent represented by the above formula (2) include orthophthalic acid diallyl ester, isophthalic acid diallyl ester, and the like.

上記架橋処理剤は、ポリメチルペンテン100質量部に対して3質量部超で30質量部以下配合されており、4〜20質量部配合されてなることが好ましい。3質量部超で30質量部以下で配合されることで、ブリードアウトすることなく架橋を効果的に進行させることができる。   The crosslinking agent is blended in an amount of more than 3 parts by weight and not more than 30 parts by weight with respect to 100 parts by weight of polymethylpentene, and preferably 4 to 20 parts by weight. By blending in an amount of more than 3 parts by mass and not more than 30 parts by mass, crosslinking can be effectively advanced without bleeding out.

電子線硬化性樹脂組成物において、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物の含有量は、ポリメチルペンテン100質量部に対し、50〜500質量部とすることが好ましい。50質量部以上500質量部以下とすることで、製品性能(例、リフレクターの光反射率、耐光性など)が良好に維持することができる。また、無機成分が多く加工ができない、または加工できても成形状態が悪く、ボソボソで製品性能(例、リフレクターの光反射率)が低下してしまったりすることを防ぐことができる。   In the electron beam curable resin composition, the content of the titanium oxide subjected to the surface treatment with the aluminum compound, the surface treatment with the silicon compound, and the surface treatment with the siloxane compound or the polyol compound is 100 parts by mass of polymethylpentene. It is preferable to set it as 50-500 mass parts. Product performance (for example, light reflectance of a reflector, light resistance, etc.) can be maintained satisfactorily by setting it as 50 to 500 mass parts. Moreover, even if it can process with many inorganic components, a molding state is bad, and it can prevent that product performance (for example, the light reflectivity of a reflector) falls by a boss.

上記の表面処理されたチタン酸化物の平均粒径は成形性を考慮し、かつ高い反射率を得る観点から一次粒度分布において0.10〜0.50μmであることが好ましく、0.10〜0.40μmであることがより好ましく、0.21〜0.25μmであることがさらに好ましい。平均粒径は、レーザー光回折法による粒度分布測定における質量平均値D50として求めることができる。   The average particle size of the surface-treated titanium oxide is preferably 0.10 to 0.50 μm in the primary particle size distribution from the viewpoint of obtaining moldability and obtaining high reflectance, and is preferably 0.10 to 0. More preferably, the thickness is 40 μm, and more preferably 0.21 to 0.25 μm. An average particle diameter can be calculated | required as mass average value D50 in the particle size distribution measurement by a laser beam diffraction method.

また、上記チタン酸化物以外で、ガラス繊維を含むことが好ましい。このような電子線硬化性樹脂組成物は、特にリフレクター用に好適である。   Moreover, it is preferable that glass fiber is included other than the said titanium oxide. Such an electron beam curable resin composition is particularly suitable for a reflector.

ガラス繊維の含有量は、ポリメチルペンテン100質量部に対し、10〜300質量部であることが好ましく、30〜200質量部であることがより好ましく、50〜120質量部であることがさらに好ましい。   The content of the glass fiber is preferably 10 to 300 parts by mass, more preferably 30 to 200 parts by mass, and further preferably 50 to 120 parts by mass with respect to 100 parts by mass of polymethylpentene. .

本発明の電子線硬化性樹脂組成物は、ポリメチルペンテンと、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物と、さらに架橋処理剤と、必要に応じて、シガラス繊維などを所定比で混合して作製することができる。混合方法としては、2本ロールあるいは3本ロール、ホモジナイザー、プラネタリーミキサー等の撹拌機、ポリラボシステムやラボプラストミル等の溶融混練機等の公知の手段を適用することができる。これらは常温、冷却状態、加熱状態、常圧、減圧状態、加圧状態のいずれで行ってもよい。   The electron beam curable resin composition of the present invention includes polymethylpentene, titanium oxide that has been surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound, and a crosslinking agent. If necessary, glass fiber can be mixed at a predetermined ratio. As the mixing method, known means such as a two-roll or three-roll, a stirrer such as a homogenizer or a planetary mixer, or a melt kneader such as a polylab system or a lab plast mill can be applied. These may be performed at normal temperature, cooling state, heating state, normal pressure, reduced pressure state, or pressurized state.

なお、本発明の効果を損なわない限り、種々の添加剤を含有させることができる。例えば、樹脂組成物の性質を改善する目的で、種々のウィスカー、シリコーンパウダー、熱可塑性エラストマー、有機合成ゴム、脂肪酸エステル、グリセリン酸エステル、ステアリン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム等の内部離型剤や、ベンゾフェノン系、サリチル酸系、シアノアクリレート系、イソシアヌレート系、シュウ酸アニリド系、ベンゾエート系、ヒンダートアミン系、ベンゾトリアゾール系、フェノール系等の酸化防止剤や、ヒンダードアミン系、ベンゾエート系等の光安定剤といった添加剤を配合することができる。   Various additives can be added as long as the effects of the present invention are not impaired. For example, for the purpose of improving the properties of the resin composition, various kinds of whisker, silicone powder, thermoplastic elastomer, organic synthetic rubber, fatty acid ester, glycerate ester, zinc stearate, calcium stearate and other internal mold release agents, benzophenone , Salicylic acid-based, cyanoacrylate-based, isocyanurate-based, oxalic acid anilide-based, benzoate-based, hindered amine-based, benzotriazole-based, phenol-based antioxidants, hindered amine-based, benzoate-based light stabilizers, etc. Additives can be blended.

また、シランカップリング剤のような分散剤を配合することができる。
シランカップリング剤としては、例えば、ヘキサメチルジシラザン等のジシラザン;環状シラザン;トリメチルシラン、トリメチルクロルシラン、ジメチルジクロルシラン、メチルトリクロルシラン、アリルジメチルクロルシラン、トリメトキシシラン、ベンジルジメチルクロルシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、イソブチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、ヒドロキシプロピルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ヘキサデシルトリメトキシシラン、n−オクタデシルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、及びビニルトリアセトキシシラン等のアルキルシラン化合物;γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−(2−アミノエチル)アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン、及びN−β−(N−ビニルベンジルアミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン等のアミノシラン化合物;等が挙げられる。
Moreover, a dispersing agent like a silane coupling agent can be mix | blended.
Examples of the silane coupling agent include disilazane such as hexamethyldisilazane; cyclic silazane; trimethylsilane, trimethylchlorosilane, dimethyldichlorosilane, methyltrichlorosilane, allyldimethylchlorosilane, trimethoxysilane, benzyldimethylchlorosilane, Methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, isobutyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, trimethylmethoxysilane, hydroxypropyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, n-butyltrimethoxysilane, n-hexadecyl Trimethoxysilane, n-octadecyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, γ-methacryloxypropyl Alkylsilane compounds such as limethoxysilane and vinyltriacetoxysilane; γ-aminopropyltriethoxysilane, γ- (2-aminoethyl) aminopropyltrimethoxysilane, γ- (2-aminoethyl) aminopropylmethyldimethoxysilane N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) 3-aminopropyltrimethoxysilane, and N-β- (N-vinylbenzylaminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane And aminosilane compounds such as hexyltrimethoxysilane; and the like.

以上のような本発明の電子線硬化性樹脂組成物は、基材上に塗布し硬化させた複合材料や電子線硬化性樹脂組成物の硬化物として種々の用途に適用することができる。例えば、耐熱性絶縁膜、耐熱性離型シート、耐熱性透明基材、太陽電池の光反射シートやLEDを始めとした照明やテレビ用の光源のリフレクターとして適用することができる。   The electron beam curable resin composition of the present invention as described above can be applied to various uses as a composite material applied on a substrate and cured, or a cured product of an electron beam curable resin composition. For example, it can be applied as a heat-resistant insulating film, a heat-resistant release sheet, a heat-resistant transparent substrate, a light-reflecting sheet for solar cells, or a reflector for a light source for televisions, such as LEDs.

[4.リフレクター用樹脂フレーム]
本発明のリフレクター用樹脂フレームは既述の本発明の電子線硬化性樹脂組成物を成形した硬化物が用いられている。具体的には、本発明の電子線硬化性樹脂組成物をペレットとし、射出成形により所望の形状の樹脂フレームとすることで、本発明のリフレクター用樹脂フレームが製造される。リフレクター用樹脂フレームの厚さは0.1〜3.0mmであることが好ましく、0.1〜1.0mmであることがより好ましく、0.1〜0.8mmであることがさらに好ましい。
[4. Resin frame for reflectors]
The resin frame for a reflector of the present invention uses a cured product obtained by molding the above-described electron beam curable resin composition of the present invention. Specifically, the electron beam curable resin composition of the present invention is formed into pellets, and a resin frame having a desired shape is formed by injection molding, whereby the reflector resin frame of the present invention is manufactured. The thickness of the reflector resin frame is preferably 0.1 to 3.0 mm, more preferably 0.1 to 1.0 mm, and still more preferably 0.1 to 0.8 mm.

本発明の電子線硬化性樹脂組成物においては、例えばガラス繊維を用いて作製した樹脂フレームに比べてより厚みの小さい樹脂フレームを作製することができる。具体的には0.1〜3.0mmの厚みの樹脂フレームを作製することができる。また、このようにして成形してなる本発明のリフレクター用樹脂フレームは、厚みを小さくしても、ガラス繊維等のフィラーを含むことに起因する反りの発生がないため、形態安定性や取り扱い性にも優れる。   In the electron beam curable resin composition of the present invention, for example, a resin frame having a smaller thickness can be produced as compared with a resin frame produced using glass fibers. Specifically, a resin frame having a thickness of 0.1 to 3.0 mm can be produced. In addition, the resin frame for reflectors of the present invention formed in this way does not generate warp due to the inclusion of fillers such as glass fibers even when the thickness is reduced. Also excellent.

本発明のリフレクター用樹脂フレームは、これにLEDチップを載せてさらに公知の封止剤により封止を行い、ダイボンディングを行なって所望の形状にすることで、半導体発光装置とすることができる。なお、本発明のリフレクター用樹脂フレームは、リフレクターとして作用するが、半導体発光装置を支える枠としても機能している。   The resin frame for a reflector of the present invention can be made into a semiconductor light emitting device by placing an LED chip on this, further sealing with a known sealant, and performing die bonding to obtain a desired shape. In addition, although the resin frame for reflectors of this invention acts as a reflector, it is functioning also as a frame which supports a semiconductor light-emitting device.

[5.リフレクター]
本発明のリフレクターは、既述の本発明の電子線硬化性樹脂組成物を硬化した硬化物が用いられている。
当該リフレクターは、半導体発光装置と組み合わせて用いてよいし、他の材料からなる半導体発光装置(LED実装用基板)と組み合わせて用いてもよい。
本発明のリフレクターは、主として、半導体発光装置のLED素子からの光をレンズ(出光部)の方へ反射させる作用を有する。リフレクターの詳細については、前述した半導体発光装置の製造方法で説明したとおりである。
[5. Reflector]
For the reflector of the present invention, a cured product obtained by curing the electron beam curable resin composition of the present invention described above is used.
The reflector may be used in combination with a semiconductor light emitting device, or may be used in combination with a semiconductor light emitting device (LED mounting substrate) made of another material.
The reflector of the present invention mainly has an action of reflecting light from the LED element of the semiconductor light emitting device toward the lens (light emitting portion). The details of the reflector are as described in the method for manufacturing the semiconductor light emitting device described above.

次に、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定されるものではない。
なお、本実施例1〜6及び比較例1〜7において使用した材料は下記の通りである。
EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by these examples.
In addition, the material used in the present Examples 1-6 and Comparative Examples 1-7 is as follows.

(A)樹脂
・樹脂
ポリメチルペンテン樹脂 :TPX RT18(三井化学(株)製)
(A) Resin / resin Polymethylpentene resin: TPX RT18 (Mitsui Chemicals, Inc.)

(B)架橋処理剤
架橋処理剤については下記の通りである。
・架橋処理剤
TAIC(トリアリルイソシアヌレート) 日本化成社製
(B) Crosslinking agent The crosslinking agent is as follows.
・ Crosslinking agent TAIC (triallyl isocyanurate) manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd.

(C)白色顔料
・酸化チタン(1):PF−691(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.21μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(2):PF−690(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.21μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびポリオール化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(3):PF−711(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.25μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、ポリオール化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(4):CR−60(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.21μm、アルミニウム化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(5):CR−60−2(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.21μm、アルミニウム化合物による表面処理、ポリオール化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(6):PF−726(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.21μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(7):CR−80(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.25μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(8):CR−93(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.28μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(9):CR−95(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.28μm、アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、ポリオール化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
・酸化チタン(10):CR−97(石原産業(株)製 ルチル型構造 平均粒径0.25μm、アルミニウム化合物による表面処理、ジルコニア化合物による表面処理がされたチタン酸化物)
(C) White pigment / titanium oxide (1): PF-691 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.21 μm, surface treatment with aluminum compound, surface treatment with silicon compound, and surface treatment with siloxane compound Titanium oxide)
Titanium oxide (2): PF-690 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.21 μm, surface treatment with an aluminum compound, surface treatment with a silicon compound, and surface oxidation with a polyol compound) object)
Titanium oxide (3): PF-711 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.25 μm, surface treatment with aluminum compound, surface treatment with silicon compound, surface treatment with polyol compound, titanium oxide )
Titanium oxide (4): CR-60 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.21 μm, titanium oxide surface-treated with an aluminum compound)
Titanium oxide (5): CR-60-2 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.21 μm, surface treatment with an aluminum compound, surface treatment with a polyol compound)
Titanium oxide (6): PF-726 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.21 μm, surface treatment with an aluminum compound, surface treatment with a silicon compound)
Titanium oxide (7): CR-80 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.25 μm, surface treatment with aluminum compound, surface treatment with silicon compound, titanium oxide)
Titanium oxide (8): CR-93 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.28 μm, surface treatment with aluminum compound, surface treatment with silicon compound, titanium oxide)
Titanium oxide (9): CR-95 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.28 μm, surface treatment with aluminum compound, surface treatment with silicon compound, surface treatment with polyol compound, titanium oxide )
-Titanium oxide (10): CR-97 (Ishihara Sangyo Co., Ltd. Rutile structure average particle size 0.25 μm, surface treatment with an aluminum compound, surface treatment with a zirconia compound)

(D)無機材料
・ガラス繊維:PF70E−001(日東紡(株)製、繊維長70μm)
(D) Inorganic material / glass fiber: PF70E-001 (manufactured by Nittobo Co., Ltd., fiber length: 70 μm)

(E)添加剤
・シランカップリング剤:KBM−3063(信越化学(株)製)
・離型剤 :SZ−2000(堺化学(株)製)
・酸化防止剤(1) :IRGANOX1010(BASF・ジャパン(株)製)
・酸化防止剤(2) :IRGAFOS168(BASF・ジャパン(株)製)
(E) Additive / Silane coupling agent: KBM-3063 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Mold release agent: SZ-2000 (manufactured by Sakai Chemical Co., Ltd.)
Antioxidant (1): IRGANOX 1010 (BASF Japan Ltd.)
Antioxidant (2): IRGAFOS168 (manufactured by BASF Japan Ltd.)

[実施例1〜6、比較例1〜7]
下記表1、2に示すように各種材料を配合、混練し、樹脂組成物を得た。
なお、樹脂組成物は、各種材料を配合し、押出機(日本プラコン(株) MAX30:ダイス径3.0mm)とペレタイザー((株)東洋精機製作所 MPETC1)を用いて行い、樹脂組成物を得た。
これらの組成物につき、250℃、30秒、20MPaの条件で、19(±1)mm×5(±0.1)mm×厚さ0.55(±0.1)mmにプレス成形し、成形体を作製した。
成形体に、加速電圧を800kVで400kGyの吸収線量にて電子線を照射した。これらの下記諸特性を評価した。結果を下記表1、2に示す。
[Examples 1-6, Comparative Examples 1-7]
As shown in Tables 1 and 2 below, various materials were blended and kneaded to obtain a resin composition.
In addition, a resin composition mix | blends various materials and performs it using an extruder (Nippon Placon Co., Ltd. MAX30: Die diameter 3.0mm) and a pelletizer (Toyo Seiki Seisakusho MPETC1), and obtains a resin composition It was.
About these compositions, press molding to 19 (± 1) mm × 5 (± 0.1) mm × thickness 0.55 (± 0.1) mm under the conditions of 250 ° C., 30 seconds, and 20 MPa, A molded body was produced.
The compact was irradiated with an electron beam at an acceleration voltage of 800 kV and an absorbed dose of 400 kGy. The following characteristics were evaluated. The results are shown in Tables 1 and 2 below.

(評価1)
・分散性
成形体の顔料の分散性を目視で判断した。表1、2に結果を示す。「〇」は分散性が良好、「×」は顔料の凝集が見られたものである。
(Evaluation 1)
-Dispersibility The dispersibility of the pigment in the molded product was judged visually. Tables 1 and 2 show the results. “◯” indicates good dispersibility, and “×” indicates pigment aggregation.

(評価2)
・初期反射率
成形体の試料を、常温放置の下で、波長230〜780nmにおける光反射率を分光光度計UV−2550(島津製作所製)を使用して測定した。表1、2には、波長450nmの結果を示す。
(Evaluation 2)
-Initial reflectance The sample of the molded body was measured for light reflectance at a wavelength of 230 to 780 nm using a spectrophotometer UV-2550 (manufactured by Shimadzu Corporation) at room temperature. Tables 1 and 2 show the results at a wavelength of 450 nm.

(評価3)
・耐熱性
成形体の試料を、150℃で24時間放置した後で、波長230〜780nmにおける光反射率を分光光度計UV−2550(島津製作所製)を使用して測定した。表1、2には、波長450nmの結果を示す。
(Evaluation 3)
-Heat resistance After leaving the sample of a molded object to stand at 150 degreeC for 24 hours, the light reflectivity in wavelength 230-780nm was measured using the spectrophotometer UV-2550 (made by Shimadzu Corporation). Tables 1 and 2 show the results at a wavelength of 450 nm.

(評価3)
・耐光性
成形体の試料を、150℃下で、紫外線の照射条件で24時間放置した後で、波長230〜780nmにおける光反射率を分光光度計UV−2550(島津製作所製)を使用して測定した。波長450nmの測定した光反射率の上記初期反射率との比率をみて、また成形体の外観を見て、下記基準にて評価した。
(Evaluation 3)
-Light resistance After the sample of a molded object was left for 24 hours under ultraviolet irradiation conditions at 150 ° C, the light reflectance at a wavelength of 230 to 780 nm was measured using a spectrophotometer UV-2550 (manufactured by Shimadzu Corporation). It was measured. The ratio of the measured light reflectivity with a wavelength of 450 nm to the initial reflectivity was observed, and the appearance of the molded body was observed, and evaluated according to the following criteria.

〇;上記耐光性の試料の外観が良好である。黄変化、粉のブリードは認められない。
×;上記耐光性の試料の外観が不良である。黄変化、粉のブリードは認められる。
O: Appearance of the light-resistant sample is good. Yellowing and powder bleeding are not observed.
X: The appearance of the light-resistant sample is poor. Yellowing and powder bleeding are observed.

Figure 2015023099
Figure 2015023099

Figure 2015023099
Figure 2015023099

上記実施例の結果から明らかなとおり、実施例1〜6の樹脂組成物からなる成形体の試料の初期反射率は全て、93.6〜99%であった。150℃で24時間放置後と、また150℃下で、紫外線の照射条件で24時間放置した後で、放置前の初期における光反射率と比べ、ほとんど変化がなかった。(初期の反射率の2%以内の低下であった。)
以上から、本発明の成形体の製造方法によれば、有用なリフレクターや半導体発光装置用の反射材を製造することができるといえる。
As is clear from the results of the above Examples, the initial reflectances of the molded samples made of the resin compositions of Examples 1 to 6 were all 93.6 to 99%. After leaving at 150 ° C. for 24 hours and after leaving at 150 ° C. under ultraviolet irradiation conditions for 24 hours, there was almost no change compared to the light reflectance in the initial stage before leaving. (It was a decrease within 2% of the initial reflectivity.)
As mentioned above, according to the manufacturing method of the molded object of this invention, it can be said that a useful reflector and the reflecting material for semiconductor light-emitting devices can be manufactured.

10・・・光半導体素子
12・・・リフレクター
14・・・基板
16・・・リード線
18・・・レンズ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Optical semiconductor element 12 ... Reflector 14 ... Board | substrate 16 ... Lead wire 18 ... Lens

Claims (8)

光半導体素子と、前記光半導体素子の周りに設けられ、前記光半導体素子からの光を所定方向に反射させるリフレクターとを基板上に有する半導体発光装置の製造方法であって、
前記リフレクターを、以下の方法によって得る半導体発光装置の製造方法。
ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、
射出成形する射出成形工程と、
前記射出成形工程の前または/および後に電子線照射する電子線照射工程と、
によってリフレクターを得る。
A method of manufacturing a semiconductor light emitting device, comprising: an optical semiconductor element; and a reflector provided around the optical semiconductor element and reflecting light from the optical semiconductor element in a predetermined direction on a substrate,
A method for manufacturing a semiconductor light emitting device, wherein the reflector is obtained by the following method.
Using an electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound,
An injection molding process for injection molding;
An electron beam irradiation step of irradiating an electron beam before or after the injection molding step;
By getting a reflector.
ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物を用いて、
射出成形する射出成形工程と、
前記射出成形工程の前または/および後に、電子線照射処理を施す電子線照射工程と、
を含む成形体の製造方法。
Using an electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound,
An injection molding process for injection molding;
An electron beam irradiation step for performing an electron beam irradiation treatment before or after the injection molding step;
The manufacturing method of the molded object containing this.
ポリメチルペンテン、ならびに
アルミニウム化合物による表面処理、ケイ素化合物による表面処理、およびシロキサン化合物またはポリオール化合物による表面処理がなされたチタン酸化物
を含む電子線硬化性樹脂組成物。
An electron beam curable resin composition comprising polymethylpentene and titanium oxide that has been surface-treated with an aluminum compound, surface-treated with a silicon compound, and surface-treated with a siloxane compound or a polyol compound.
前記チタン酸化物以外で、ガラス繊維を含む請求項3に記載の電子線硬化性樹脂組成物。   The electron beam curable resin composition of Claim 3 containing glass fiber other than the said titanium oxide. 分散剤が配合されてなる請求項3または4に記載の電子線硬化性樹脂組成物。   The electron beam curable resin composition according to claim 3 or 4, wherein a dispersant is blended. 請求項3〜5のいずれか1項に記載の電子線硬化性樹脂組成物の硬化物が用いられたリフレクター用樹脂フレーム。   The resin frame for reflectors in which the hardened | cured material of the electron beam curable resin composition of any one of Claims 3-5 was used. 厚さが0.1〜3.0mmである請求項6に記載のリフレクター用樹脂フレーム。   The resin frame for a reflector according to claim 6, wherein the thickness is 0.1 to 3.0 mm. 請求項3〜5のいずれか1項に記載の電子線硬化性樹脂組成物の硬化物が用いられたリフレクター。   The reflector in which the hardened | cured material of the electron beam curable resin composition of any one of Claims 3-5 was used.
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