JP2015007775A - 個別領域回路基板画像投影システム及び方法 - Google Patents

Abstract

【課題】個別領域回路基板投影システムを提供する。
【解決手段】個別領域回路基板投影システム１０は、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラム１６を実行し、回路基板アセンブリの個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生するコントローラ１２と、このビデオ信号を受信し、回路基板アセンブリの個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を表示するプロジェクタ１８とを具え、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするディスプレイシステムである。
【選択図】図１

Description

本発明は、一般的に投影システムに関するものであり、特に個別領域回路基板画像投影システム及び方法に関するものである。

技術者による手動的な回路基板の組立（組合せ）は困難で面倒な処理である。例えば、回路カードアセンブリの組立を行う技術者は、部品番号や参照番号により部品を識別する部品リストにより、回路基板にはんだ付け又は接着すべき構成部品を識別する回路カードアセンブリの線図のコンピュータスクリーンか又は紙面上の写しの何れかを参照する。技術者は、組立図及び参照番号により部品位置を記憶し、部品を手に取り、回路カードアセンブリに目を移し、この部品を適切な位置及び向きで回路カードアセンブリ上に設置する必要がある。次に、この処理を次の部品に対して繰返し、この繰返しを回路基板アセンブリの組立が終了するまで行う。適切な動作の為の回路基板アセンブリの検査及び修理の双方又は何れか一方を行なう手動的な検査及び手動的な診断法の双方又は何れか一方に対しても上述したのと同様の技術が実行されている。

本発明の１つの構成例によれば、個別領域回路基板投影システムを提供する。このシステムは、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行し、回路基板アセンブリの個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生するコントローラと、このビデオ信号を受信し、回路基板アセンブリの個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を表示し、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするディスプレイシステムとを具える。

本発明の１つの構成例によれば、他の個別領域回路基板投影システムを提供するものであり、このシステムは、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行し、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生するコントローラを具える。このシステムは更に、これらのビデオ信号を受信し、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を表示し、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするディスプレイシステムと、ユーザが複数の個別領域の位置の各々に対する所定の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方を順次に表示するステップを行うようにするユーザインタフェースとを具える。

本発明の他の構成例によれば、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にする方法を提供する。この方法は、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生させるために、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行するステップと、ユーザが複数の個別領域の位置の各々に対する所定の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方を順次に表示するようにするユーザインタフェースを表示するステップと、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするユーザ命令に応答して、複数の個別領域の位置の各々に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を順次に表示するステップとを具える。

個別領域回路基板投影システムの一例を示す機能ブロック図である。 個別領域回路基板投影システムの他の例を示す機能ブロック図である。 図１又は図２のシステムを用いる一例の組立処理中の第１の状態の回路カードアセンブリを示す線図である。 図１又は図２のシステムを用いる一例の組立処理中の第２の状態の回路カードアセンブリを示す線図である。 図１又は図２のシステムを用いる一例の組立処理中の第３の状態の回路カードアセンブリを示す線図である。 図１又は図２のシステムを用いる一例の組立処理中の第４の状態の回路カードアセンブリを示す線図である。 ある手動的な検査を受けている回路基板アセンブリを示す線図である。 他の手動的な検査を受けている回路基板アセンブリを示す線図である。 診断修理処理を受けている回路基板アセンブリの一態様を示す線図である。 診断修理処理を受けている回路基板アセンブリの他の一態様を示す線図である。 ユーザインタフェースの一例を示す線図である。 例示的なコントローラシステムを示すブロック線図である。 本発明の一態様による、レゾネータに対する駆動信号制御方法を示す流れ図である。

図１は、個別領域回路基板投影システム１０の一例の機能ブロック図を示す。この個別領域回路基板投影システム１０は、構成部品及びピンの画像及び向きを回路基板アセンブリ２２上の個別領域の位置２４に投影し、組立と、検査と、診断修理との何れか又は任意の組合せを容易にするための助けとなるように構成されている。異なる個別領域の位置における複数の画像は、例えば、同様な部品を組立てる際に同時に表示させるか、又は異なる個別領域の位置における構成部品を組立てるか或いは検査する際に順次に表示させることができる。システム１０は、１つ以上の回路のレイアウト１４と、１つ以上の回路基板の個別領域のプログラム１６とを受信するコントローラ１２を有している。１つ以上の回路のレイアウト１４は、種々の異なる構成のものとしうる１つ以上の回路基板に対するピン及び構成部品のレイアウトを有しうる。回路のレイアウトは例えば、異なる部品を順次に表示するためのＰＤＦファイルに変換されるＣＡＤファイルとすることができる。或いはまた、回路のレイアウトは、回路基板のピン（例えば、コンタクトピン、テストピン、プローブピン、等）や、回路基板の構成部品（例えば、集積回路、キャパシタ、抵抗、インダクタ、ディップスイッチ、等）の画像を表示する如何なるファイル形式又は実行コード（例えば、アニメーション）におけるものともすることができる。

又、ユーザが種々の回路のレイアウト１４と、回路基板の個別領域のプログラム１６との双方又は何れか一方の中から選択するようにする随意のユーザインタフェース２０が設けられている。ユーザは例えば、回路基板の組立を容易にするアセンブリプログラムを選択するか、又は適切な動作のために回路基板アセンブリを検査するテストプログラムを選択するか、又は回路基板アセンブリの修理を容易にするための診断プログラムを選択するか、又は個別領域の位置で回路基板アセンブリ上に結像させるべき１つ以上の構成部品及びピンの双方又は何れか一方をユーザに選択させるプログラムを選択するようにしうる。コントローラ１２は、回路のレイアウトに基づいている回路基板の個別領域のプログラムの実行に応答してビデオ信号を発生するとともに、回路基板アセンブリの１つ又は複数の個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生する。これらのビデオ信号は、構成部品及びピンの双方又は何れか一方を回路基板アセンブリ２２上に直接投影するためにプロジェクタ１８の形態のディスプレイシステムに供給される。コントローラ１２はマイクロコントローラ、マイクロプロセッサ又はパーソナルコンピュータ（ＰＣ）とすることができる。ユーザは、ユーザインタフェース２０を介して画像を回路基板アセンブリ２２上の異なる個別領域の位置に順次に表示させるステップを行うことができ、又はコントローラ１２が画像を、選択された回路基板の個別領域のプログラムにより設定されたユーザ入力及びタイミングの双方又は何れか一方に自動的に基づくようにするステップを行うことができる。

図２は、個別領域回路基板投影システム４０の他の例の機能ブロック図を示す。この個別領域回路基板投影システム４０は、回路基板アセンブリ上の個別領域の位置における構成部品及びピンの画像及び向きをディスプレイシステム５４上の個別領域の位置５６に投影し、組立と、検査と、診断修理との何れか又は任意の組合せを容易にするための助けとなるように構成されている。システム４０は、１つ以上の回路のレイアウト４４と、１つ以上の回路基板の個別領域のプログラム４６とを受信するコントローラ４２を有している。１つ以上の回路のレイアウト４４は、種々の異なる構成のものとしうる１つ以上の回路基板に対するピン及び構成部品のレイアウトを有しうる。又、ユーザが種々の回路のレイアウト４４と、回路基板の個別領域のプログラム４６との双方又は何れか一方の中から選択するようにする随意のユーザインタフェース５０が設けられている。

コントローラ４２はカメラ４８に結合されており、このカメラ４８によりこのカメラ４８の視野領域内の、回路基板と、アセンブラ（組立者）の指と、アセンブリを回路基板アセンブリ５２上に保持させる任意の構成部品との画像を捕獲（取得）する。このコントローラ４２は、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラム４６の実行に応答してビデオ信号を発生させるとともに、回路基板アセンブリの個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生する。コントローラ４２は、カメラ４８の捕獲画像を生ぜしめるとともに、表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を、ディスプレイシステム５４に対する１個所以上の個別位置５６において回路基板アセンブリ５２の捕獲画像５５の上に重畳させる。ディスプレイシステム５４はコンピュータディスプレイシステムとするか、又は構成部品及びピンの双方又は何れか一方の投影画像とカメラの視野領域内の捕獲画像とを同時に表示するスクリーンディスプレイ及びプロジェクタとすることができる。従って、ユーザは、投影画像と回路基板アセンブリ５２を考慮した表示捕獲画像とをディスプレイシステム５４から見ながら回路基板アセンブリ５２上で手作業することができる。ユーザは、ユーザインタフェース５０を介して画像を回路基板アセンブリ５５上の異なる個別領域の位置に順次に表示させるステップを行うことができ、又はコントローラ４２が画像を、選択された回路基板の個別領域のプログラムにより設定されたユーザ入力及びタイミングの双方又は何れか一方に自動的に基づくようにするステップを行うことができる。

図３〜６は、図１又は図２のシステムを用いる一例の組立処理中の回路カードアセンブリを示す。図３は、回路基板アセンブリ６０上の第１の個別領域の位置６２内に、ラベルＣ１〜Ｃ３を付した複数の構成部品の画像が投影されているこの回路基板アセンブリ６０の頂面図を示している。図示するように、各構成部品の最初の参照ピン及び最後の参照ピンが参照番号及び構成部品の画像と一緒に、それぞれの構成部品に対する回路基板のコンタクトピン上に表示されている。構成部品の画像を表示することなしに、コンタクトピン及び参照ピンを表示しうることは勿論である。これに続いて、アセンブラは構成部品Ｃ１〜Ｃ３を、示された参照個所において回路基板アセンブリ６０上に設置することができる。

図４は、回路基板アセンブリ６０上の第２の個別領域の位置６４内に、ラベルＣ４〜Ｃ５を付した複数の構成部品の画像が投影されているこの回路基板アセンブリ６０の頂面図を示している。図示するように、各構成部品の最初の参照ピン及び最後の参照ピンが参照番号及び構成部品の画像と一緒に、それぞれの構成部品に対する回路基板アセンブリ６０のコンタクトピン上に表示されている。構成部品Ｃ４及びＣ５に対しては正極性及び負極性の指標（デジグネータ）が示され、アセンブラが構成部品Ｃ４及びＣ５をこれらの正しい極性位置に確実に設置されるようになっている。又、構成部品Ｃ１〜Ｃ３は第１の個別領域の位置６２内に設置されている。これに続いて、アセンブラは構成部品Ｃ４及びＣ５を、示された参照個所において回路基板アセンブリ上に設置することができる。

図５は、回路基板アセンブリ６０上の第３の個別領域の位置６６内に、ラベルＣ６〜Ｃ８を付した複数の構成部品の画像が投影されているこの回路基板アセンブリ６０の頂面図を示している。図示するように、各構成部品の最初の参照ピン及び最後の参照ピンが参照番号及び構成部品の画像と一緒に、それぞれの構成部品に対する回路基板アセンブリ６０のコンタクトピン上に表示されている。又、構成部品Ｃ４及びＣ５は第２の個別領域の位置６４内に設置されている。これに続いて、アセンブラは構成部品Ｃ６〜Ｃ８を、示された参照個所において回路基板アセンブリ６０上に設置することができる。

図６は、回路基板アセンブリ６０上の第４の個別領域の位置６８内に、ラベルＣ９〜Ｃ１１を付した複数の構成部品の画像が投影されているこの回路基板アセンブリ６０の頂面図を示している。この図６の例では、複数の構成部品の各々が互いに同じ個数のピンを有するとともに、個別領域の位置６６内の構成部品とほぼ同じであるが機能的に異なる状態を有している。図示するように、各構成部品の最初の参照ピン及び最後の参照ピンが参照番号及び構成部品の画像と一緒に、それぞれの構成部品に対する回路基板アセンブリ６０のコンタクトピン上に表示されている。従って、これに続いて、アセンブラは構成部品Ｃ９〜Ｃ１１を、示された参照個所において回路基板アセンブリ６０上に正しい向きで設置し、それぞれの構成部品に対する回路基板アセンブリ６０を完成させることができる。又、構成部品Ｃ６〜Ｃ８は第３の個別領域の位置６６内に設置されている。

図７及び図８は、手動的な検査処理を受けている回路基板アセンブリ６１を示している。図７は、回路基板アセンブリ６１上の第５の個別領域の位置７０内に第１の対のテストポイントＴＰ１及びＴＰ２の画像が投影されているとともに、第６の個別領域の位置７２上に第２の対のテストポイントＴＰ３及びＴＰ４の画像が投影されている回路基板アセンブリの頂面図を示している。ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ１及びＴＰ２間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。続いて、ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ３及びＴＰ４間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。

図８は、回路基板アセンブリ上の第７の個別領域の位置７４内に第３の対のテストポイントＴＰ５及びＴＰ６の画像が投影されているとともに、第８の個別領域の位置７６上に第４の対のテストポイントＴＰ７及びＴＰ８の画像が投影されている回路基板アセンブリ６１の頂面図を示している。ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ５及びＴＰ６間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。続いて、ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ７及びＴＰ８間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。ユーザのディスプレイは、各測定に対する検査結果を、或いは単一の“合格”又は“不合格”の指示を表示することができる。

図９及び図１０は、診断修理処理を受けている回路基板アセンブリ６１を示している。図９は、第９の個別領域の位置７８内に構成部品Ｃ１の第１のピンＰ１及び第２のピンＰ２の画像が投影されているとともに、第６の個別領域の位置７２内に第２の対のテストポイントＴＰ３及びＴＰ４の画像が投影されている回路基板アセンブリ６１の頂面図を示している。ユーザは、ユーザインタフェースを介して、第１のピンＰ１及び第２のピンＰ２間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。続いて、ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ３及びＴＰ４間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。

図１０は、回路基板アセンブリ６１上の第１０の個別領域の位置８２内に構成部品Ｃ７の第３のピンＰ３及び構成部品Ｃ８の第４のピンＰ４の画像が投影されているとともに、第８の個別領域の位置７６上に第４の対のテストポイントＴＰ７及びＴＰ８の画像が投影されている回路基板アセンブリ６１の頂面図を示している。ユーザは、ユーザインタフェースを介して、Ｐ３及びＰ４間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。続いて、ユーザは、ユーザインタフェースを介して、ＴＰ７及びＴＰ８間に電圧計又はオシロスコープを配置することを指示され、読取結果を確認するか又は入力させることができる。ユーザのディスプレイは、診断修理の結果と回路基板アセンブリ６０を修理する命令との双方を表示することができ、この表示には、修理中の個別領域の位置における種々の構成部品及びピンの更なる表示を含めることができる。

図１１は、ユーザが図１又は図２のシステムを動作させる異なる処理間の選択を行い得るユーザインタフェース９０の一例を示す。このユーザインタフェースは、ユーザが組立処理と、検査処理と、修理処理と、特定の構成部品／ピンとの何れかを選択するようにするものである。これらの処理の選択肢の１つを選択することにより、前述したように、１つ以上の回路基板の個別領域のプログラム及び１つ以上の回路のレイアウトを呼出すこの選択した処理に対する特定の表示インタフェースが得られる為、構成部品及びピンの双方又は何れか一方を、選択処理中に回路基板の１つ以上の個別領域の位置に表示させることができる。

図１２は、図１及び２に示すコントローラ、図３〜６に示す組立処理、図７及び８に示す検査処理、図９及び１０に示す診断修理処理及び図１１に示すＧＵＩのような、図１〜１１に開示した例を実行しうるハードウェア構成部品の例示的コントローラシステム１００を示すブロック線図である。システム１００には、種々のシステム及びサブシステムを含めることができる。このシステム１００には、パーソナルコンピュータや、ラップトップ型コンピュータや、ワークステーションや、コンピュータシステムや、アプライアンスや、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）や、サーバや、サーバブレードセンタや、サーバファームや、携帯機器、例えば、スマートフォン、パーソナルデジタルアシスタント、双方向テレビジョンセット、インターネットアプライアンス、プリンタ部分、等を含むことができる。

システム１００には、システムバス１０２と、処理ユニット１０４と、システムメモリ１０６と、メモリデバイス１０８及び１１０と、通信インタフェース１１２（例えば、ネットワークインタフェース）と、通信リンク１１４と、ディスプレイ１１６（例えば、ビデオスクリーン）と、入力デバイス１１８（例えば、キーボード及びマウスの双方又は何れか一方）とを含めることができる。システムバス１０２は、処理ユニット１０４及びシステムメモリ１０６と連通するようになっている。ハードディスクドライブ、サーバ、スタンドアローンデータベース又はその他の不揮発性メモリのような追加のメモリデバイス１０８及び１１０も、システムバス１０２と連通するようにしうる。システムバス１０２は、処理ユニット１０４、メモリデバイス１０６〜１１０、通信インタフェース１１２、ディスプレイ１１６及び入力デバイス１１８を動作可能状態に相互接続する。ある例では、システムバス１０２がユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）ポートのような追加のポート（図示せず）を動作可能状態に相互接続するようにもする。

処理ユニット１０４はコンピュータデバイスとすることができるとともに、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）を含むことができる。この処理ユニット１０４は、ここに開示する例の動作を実施する一組の命令を実行することができる。この処理ユニットにはプロセッサコアを含めることができる。追加のメモリデバイス１０６、１０８及び１１０は、データや、プログラムや、命令や、テキスト又はコンパイル形態のデータベースクエリや、コンピュータを動作させるのに必要としうるその他の如何なる情報をも記憶しうる。これらのメモリデバイス１０６、１０８及び１１０は、メモリカード、ディスクドライブ、コンパクトディスク（ＣＤ：登録商標）又はネットワークを介してアクセスしうるサーバとして提供しうる。ある例では、メモリデバイス１０６、１０８及び１１０がテキスト、画像、映像及び音声の何れか又は任意の組合せを有するようにしうる。

動作に当っては、例えば、回路のレイアウトに基づいた回路基板の個別領域のプログラムを実行して構成部品及びピンの双方又は何れか一方を個別領域の位置に表示するのにシステム１００を用いることができる。このシステムを使用するためのマシン（例えば、コンピュータ）実行可能論理を、ある実施例に応じてシステムメモリ１０６と、メモリデバイス１０８と、メモリデバイス１１０との何れか又は任意の組合せに存在させることができる。処理ユニット１０４は、システムメモリ１０６と、メモリデバイス１０８及び１１０とから生じるマシン実行可能命令を実行する。

図１３は、回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするための例示的方法を示す流れ図である。この方法は、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行して、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に表示させる構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生させるステップ１５２で開始する。ステップ１５４では、複数の個別領域の位置の各々に対する所定の個別領域の位置に順次に構成部品及びピンの双方又は何れか一方を表示するステップをユーザが行いうるようにするユーザインタフェースが表示される。ステップ１５６では、ユーザの指令に応答させて構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を、複数の個別領域の位置の各々に順次に表示して回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にする。

上述したことは本発明の例示である。本発明を説明する目的のために考えられる構成部品又は手法のあらゆる組合せを記載することができないが、当業者にとって認識しうるように、本発明の更なる多くの組合せ及び置換が可能であるものである。従って、本発明は、特許請求の範囲を含む本発明の範囲内となるあらゆる変形及び変更例を包含するものである。

Claims (20)

1. 回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行し、回路基板アセンブリの個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生するコントローラと、
   前記ビデオ信号を受信し、前記回路基板アセンブリの前記個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像を表示し、前記回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするディスプレイシステムと
   を具える個別領域回路基板投影システム。
2. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ディスプレイシステムは、構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像を前記回路基板アセンブリの前記個別領域の位置に直接投影するプロジェクタとした個別領域回路基板投影システム。
3. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ディスプレイシステムは、コンピュータモニタか又はプロジェクタ及びスクリーンとした個別領域回路基板投影システム。
4. 請求項３に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にカメラを具え、前記カメラが前記カメラの視野内の、回路基板アセンブリ並びに任意の構成部品及びユーザの指の画像を捕獲し、前記画像を、前記回路基板アセンブリの前記捕獲した画像の前記個別領域の位置に重畳させる構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と一緒に表示させるディスプレイシステムに供給する個別領域回路基板投影システム。
5. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ビデオ信号を、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に同時に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連させ、前記ディスプレイシステムが前記ビデオ信号を受信するとともに、前記回路基板アセンブリの前記複数の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像を同時に表示する個別領域回路基板投影システム。
6. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ビデオ信号を、回路基板アセンブリの複数の個別領域内に順次に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連させ、前記ディスプレイシステムが前記ビデオ信号を受信するとともに、前記回路基板アセンブリの前記複数の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像を順次に表示する個別領域回路基板投影システム。
7. 請求項６に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にユーザインタフェースを具え、前記ユーザインタフェースにより、ユーザが前記複数の個別領域の位置の各々に対する所定の前記個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方を順次に表示するステップを行う個別領域回路基板投影システム。
8. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にユーザインタフェースを具え、前記ユーザインタフェースにより、検査及び診断修理処理の双方又は何れか一方のうちの１つに際して１つ以上の個別領域の位置に表示する構成部品のピン及びその他のピンを計器又はオシロスコープにより測定することをユーザに指示する個別領域回路基板投影システム。
9. 請求項１に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にユーザインタフェースを具え、前記ユーザインタフェースにより、ユーザが組立処理と、検査処理と、診断検査処理と、個別の構成部品及びピンの双方又は何れか一方を回路基板アセンブリ上に表示させる処理との少なくとも１つを選択する個別領域回路基板投影システム。
10. 回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行し、回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生するコントローラと、
    前記ビデオ信号を受信し、前記回路基板アセンブリの前記複数の個別領域の位置に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を表示し、前記回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするディスプレイシステムと、
    ユーザが前記複数の個別領域の位置の各々に対する所定の個別領域の位置に前記構成部品及びピンの双方又は何れか一方を順次に表示するステップを行うようにするユーザインタフェースと
    を具える個別領域回路基板投影システム。
11. 請求項１０に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ディスプレイシステムは、構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像を前記回路基板アセンブリの個別領域の位置に直接投影するプロジェクタとした個別領域回路基板投影システム。
12. 請求項１０に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、前記ディスプレイシステムは、コンピュータモニタか又はプロジェクタ及びスクリーンとした個別領域回路基板投影システム。
13. 請求項１２に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にカメラを具え、前記カメラが前記カメラの視野内の、回路基板アセンブリ並びに任意の構成部品及びユーザの指の画像を捕獲し、前記画像を、前記回路基板アセンブリの前記捕獲した画像の前記個別領域の位置に重畳させる構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像と一緒に表示させる前記ディスプレイシステムに供給する個別領域回路基板投影システム。
14. 請求項１０に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にユーザインタフェースを具え、前記ユーザインタフェースにより、検査及び診断修理処理の双方又は何れか一方のうちの１つに際して１つ以上の個別領域の位置に表示する構成部品のピン及びその他のピンを計器又はオシロスコープにより測定することをユーザに指示する個別領域回路基板投影システム。
15. 請求項１０に記載の個別領域回路基板投影システムにおいて、更にユーザインタフェースを具え、前記ユーザインタフェースにより、ユーザが組立処理と、検査処理と、診断検査処理と、個別の構成部品及びピンの双方又は何れか一方を回路基板アセンブリ上に表示させる処理との少なくとも１つを選択する個別領域回路基板投影システム。
16. 回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にする方法において、
    回路基板アセンブリの複数の個別領域の位置に表示すべき構成部品及びピンの双方又は何れか一方の画像と関連するビデオ信号を発生させるために、回路のレイアウトに基づく回路基板の個別領域のプログラムを実行するステップと、
    ユーザが前記複数の個別領域の位置の各々に対する所定の個別領域の位置に前記構成部品及びピンの双方又は何れか一方を順次に表示するようにするユーザインタフェースを表示するステップと、
    前記回路基板アセンブリの組立、検査及び診断修理の少なくとも１つを容易にするユーザ命令に応答して、前記複数の個別領域の位置の各々に構成部品及びピンの双方又は何れか一方の前記画像を順次に表示させるステップと
    を具える方法。
17. 請求項１６に記載の方法において、前記画像を前記回路基板アセンブリ上に直接表示させる方法。
18. 請求項１６に記載の方法において、前記画像を、前記回路基板アセンブリと、ディスプレイ中の実際の回路基板アセンブリ上の任意の構成部品及びユーザの指との画像に重畳させる方法。
19. 請求項１６に記載の方法において、更に、検査及び診断修理処理の双方又は何れか一方のうちの１つに際して所定の個別領域の位置に表示する構成部品のピン及びその他のピンを計器又はオシロスコープにより測定することをユーザに指示するユーザインタフェースを表示するステップを具えている方法。
20. 請求項１６に記載の方法において、更に、組立処理と、検査処理と、診断検査処理と、個別の構成部品及びピンの双方又は何れか一方を回路基板アセンブリ上に表示させる処理との少なくとも１つをユーザに選択させるユーザインタフェースを表示するステップを具えている方法。