JP6257373B2 - 障害抽出支援装置 - Google Patents

障害抽出支援装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6257373B2
JP6257373B2 JP2014032694A JP2014032694A JP6257373B2 JP 6257373 B2 JP6257373 B2 JP 6257373B2 JP 2014032694 A JP2014032694 A JP 2014032694A JP 2014032694 A JP2014032694 A JP 2014032694A JP 6257373 B2 JP6257373 B2 JP 6257373B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
module
test
reliability
information
configuration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014032694A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015158769A (ja
Inventor
広和 海江田
広和 海江田
亘 古志
亘 古志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2014032694A priority Critical patent/JP6257373B2/ja
Publication of JP2015158769A publication Critical patent/JP2015158769A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6257373B2 publication Critical patent/JP6257373B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Stored Programmes (AREA)

Description

本発明は、ソフトウェアシステムを構成する複数モジュールの障害抽出を支援する障害抽出支援装置に関する。
複数のソフトウェアモジュール(以下「モジュール」と記す)で構成されるソフトウェアシステムの開発時には、品質の確保のため、モジュール単体について合否を調べる単体試験や、複数のモジュールを組み合せてなるモジュール構成について合否を調べる構成試験などが、複数の試験項目について行われる。
構成試験の結果が不合格であった場合には、その構成試験に関連する全てのモジュールについて、不合格となった原因を特定するための調査を行う必要がある。場合によっては、この調査は各モジュールの開発者に依頼しなければならないこともある。しかし、関連するモジュールの数が多くなるにつれ、関連する開発者の数も多くなってきており、構成試験で不合格になる度に関連する全ての開発者に調査を依頼すると、コストが大きくなるという問題があった。
これに対して、例えば特許文献1には、複数のサービス(モジュール)からなる構成全体の構成試験において、エラーが発生したサービスに対する処理の実行順序関係を加味することにより、不合格の原因を特定可能な技術が開示されている。
特開2012−53760号公報
しかしながら、ソフトウェアの構成試験における不合格の原因としては、モジュール単体の動作に起因するエラーだけでなく、複数のモジュールの結合に起因するエラーもある。後者のエラーとしては、例えば、モジュール単体の動作が正常であっても、各モジュール間の直接または間接的な影響によって生じるエラーなどである。従来の技術では、構成試験についてモジュール単体の動作に起因するエラーを特定することができるが、モジュールの結合に起因するエラーを特定することができなかった。このため、モジュール構成やソフトウェアなどの構成試験においては、不合格となった原因を調査することが困難であるという問題があった。
そこで、本発明は、上記のような問題点を鑑みてなされたものであり、複数のモジュールの結合に起因するエラーに関して、確認すべきモジュールを抽出可能な技術を提供することを目的とする。
本発明に係る障害抽出支援装置は、情報取得部と、モジュール信頼度演算部とを備える。前記情報取得部は、複数のモジュールを組み合せてなるモジュール構成を示すモジュール構成情報と、前記モジュール構成の試験結果を示す試験情報とを取得する。前記モジュール信頼度演算部は、予め定められた前記モジュールを含む複数の前記モジュール構成のうち、前記試験情報にて予め定められた前記試験結果が示されたモジュール構成に基づいて、前記予め定められたモジュールと、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を演算する。
本発明によれば、複数のモジュールの結合に起因するエラーに関して、確認すべきモジュールを抽出することができる。
実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の構成を示すブロック図である。 モジュール構成情報の一例を示す図である。 試験情報の一例を示す図である。 モジュール情報の一例を示す図である。 表示情報の一例を示す図である。 実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の処理を示すフローチャートである。 実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の処理例を示す図である。 実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の処理例を示す図である。 実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の処理例を示す図である。 実施の形態2に係るソフトウェア試験支援装置の構成を示すブロック図である。 開発者情報の一例を示す図である。 実施の形態2に係るソフトウェア試験支援装置の処理を示すフローチャートである。
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1に係る障害抽出支援装置が適用されたソフトウェア試験支援装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置は、モジュール構成情報格納部1と、試験情報格納部2と、モジュール情報格納部3と、調査試験項目選択部4と、モジュール信頼度演算部5と、モジュール信頼度情報格納部6と、表示制御部(モジュール信頼度表示制御部)7と、入力部8と、表示部9とを備えている。
モジュール構成情報格納部(情報取得部)1は、モジュールを組み合せてなり、試験の対象となるモジュール構成を示すモジュール構成情報を取得し、当該モジュール構成情報を格納する。モジュール構成情報格納部1は、複数のモジュール構成情報を格納しており、各モジュール構成情報は、当該モジュール構成情報に含まれる一意のモジュール構成IDによって識別される。
図2は、モジュール構成情報の一例を示す図である。図2のモジュール構成情報は、モジュール構成IDと、モジュール構成を示すモジュール間接続情報とを含む。なお、図2の例では、A,B,C,D,Eのそれぞれが一つのモジュールであり、これらモジュールを試験時の処理順に繋げた構成が上記モジュール構成として規定されている。例えば、モジュール構成ID1のモジュール構成は、試験時にモジュールAが処理を行った後に、条件分岐に従ってモジュールB及びモジュールDのいずれか一つが処理を行うように規定されている。なお、モジュール構成は、図2のように図形で表されてもよく、他の方式で表されてもよい。また、図2のように処理の流れが付与されてもよいし、付与されなくてもよい。
図1の試験情報格納部(情報取得部)2は、モジュール構成の試験結果を示す試験情報を取得し、当該情報試験を格納する。試験情報格納部2は、複数の試験情報を格納しており、各試験情報は、当該試験情報に含まれる一意の試験項目IDによって識別される。
図3は、試験情報の一例を示す図である。図3の試験情報は、試験項目IDと、試験名称と、試験内容と、試験設計者と、モジュール構成IDと、試験結果とを含む。図3では、表中の一行が一つの試験情報を表わす。図3のモジュール構成IDは、試験されたモジュール構成を一意に識別するIDであり、図2のモジュール構成IDと同じIDが格納される。試験結果には、試験内容に示す内容で試験を実施した結果が格納されており、ここでは合格、不合格及び未実施のいずれか一つが格納される。図3では、例えば、図2のモジュール構成ID1のモジュール構成に、試験項目ID1及び試験項目ID5の試験が行われ、その結果としてそれぞれ不合格及び合格と判定されたことが示されている。
図1のモジュール情報格納部3は、各モジュールのモジュール情報を格納する。モジュール情報格納部3は、複数のモジュール情報を格納しており、各モジュール情報は、当該モジュール情報に含まれる一意のモジュールIDによって識別される。
図4は、モジュール情報の一例を示す図である。図4のモジュール情報は、モジュールIDと、モジュールの関連試験項目ID(群)と、モジュールの開発者と、開発者の連絡先情報とを含む。モジュールIDは、図2に示されるモジュール構成を構成するモジュールを一意に識別するIDであり、図2のモジュール構成のモジュールに付与されたID(A,B,C,D,…)と同じIDが格納されている。開発者には、モジュールの開発者を一意に識別できる開発者IDが格納される。
ここで、図2において、モジュールAは、モジュール構成ID1のモジュール構成に含まれていることが示されており、図3において、当該モジュール構成ID1のモジュール構成は、試験項目ID1,5の試験が行われたことが示されている。そこで、モジュールAの関連試験項目ID(群)として、モジュールAに実施された試験項目ID1及び試験項目ID5と同じIDが適用されている。このため、モジュールの関連試験項目ID(群)は、図2のモジュール構成情報と、図3の試験情報とから導出可能であるので、図4のモジュールの関連試験項目ID(群)は必須ではない。
調査試験項目選択部4は、例えば入力部8から入力されたデータを基に、試験結果が不合格である調査対象の試験項目を選択する。以下、調査試験項目選択部4により選択された調査対象の試験項目において、不合格と判定されたモジュール構成に含まれるモジュール(予め定めれたモジュール)を、「調査対象モジュール」と記す。
モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールと、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を算出(演算)する。より具体的には、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールを含む複数のモジュール構成のうち、試験情報にて合格(予め定められた試験結果)が示されたモジュール構成に基づいて信頼度を算出する。ここでは、モジュール信頼度演算部5が、モジュール構成情報(図2)、試験情報(図3)、及びモジュール情報(図4)に基づいて、上記信頼度を算出する構成について説明する。ただし、上述したように、モジュールの関連試験項目ID(群)は必須ではないことから、モジュール信頼度演算部5は、モジュール情報(図4)を用いずに、モジュール構成情報(図2)及び試験情報(図3)に基づいて、上記信頼度を算出してもよい。モジュール信頼度演算部5は、算出した信頼度をモジュール信頼度情報として、モジュールIDと紐付けてモジュール信頼度情報格納部6に格納する。
表示制御部7は、例えば入力部8に予め入力されたモジュール信頼度閾値及びは抽出モジュール数と、モジュール信頼度情報格納部6に格納されているモジュール信頼度情報と、モジュール情報格納部3に格納されているモジュール情報とに基づいて表示情報を生成する。例えば、表示制御部7は、モジュール信頼度がモジュール信頼度閾値以上のモジュール、または、モジュール信頼度が高い順に抽出モジュール数で抽出されたモジュールについて表示情報を生成する。そして、表示制御部7は、生成した表示情報を表示部9等に出力させる。なお、モジュール信頼度閾値及び抽出モジュール数は、実施の形態2で説明するパラメータ設定部などによって設定されてもよい。
図5は、表示部9等に表示される表示情報の一例を示す図である。図5の表示情報は、表形式の情報であり、モジュール信頼度情報の信頼度と、モジュール情報のモジュールID、開発者及び連絡先とを含んでいる。
図6は、図1のソフトウェア試験支援装置を実現するハードウェア構成を示すブロック図である。当該ハードウェア構成は、パーソナルコンピュータ10と、パーソナルコンピュータ10に接続された入力装置であるキーボード11及びマウス12と、パーソナルコンピュータ10に接続された表示装置であるディスプレイ13とを備えている。パーソナルコンピュータ10は、演算処理装置であるCPU(Central Processing Unit)10aと、記憶装置であるメモリ10b及びハードディスクドライブ10cとを備える。
図1のモジュール構成情報格納部1、試験情報格納部2、モジュール情報格納部3及びモジュール信頼度情報格納部6の機能は、図6のメモリ10bまたはハードディスクドライブ10cによって実現される。図1の調査試験項目選択部4、モジュール信頼度演算部5及び表示制御部7の機能は、図6のメモリ10bまたはハードディスクドライブ10cに格納されたプログラムを、CPU10aが実行することにより実現される。図1の入力部8の機能は、図6のキーボード11またはマウス12によって実現され、図1の表示部9の機能は、図6ディスプレイ13によって実現される。
<動作>
図7は、本実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置の処理を示すフローチャートである。以下、図7のフローチャートを用いて、当該処理について説明する。
まず、ステップS1にて、調査試験項目選択部4は、試験情報格納部2に格納されている試験情報(図3)の全試験項目IDのうち、試験結果が不合格である試験項目IDを調査対象として選択する。
ステップS2にて、モジュール信頼度演算部5は、調査対象の試験項目IDに対応付けられたモジュール構成IDを、試験情報格納部2の試験情報(図3)から取り出す。そして、モジュール信頼度演算部5は、取り出したモジュール構成IDのモジュール構成に含まれる複数のモジュールを、モジュール構成情報格納部1のモジュール構成情報(図2)から抽出する。なお、ここで抽出されたモジュールは、上述の調査対象モジュールである。
図8は、ステップS1及びS2の処理例を示す図である。この処理例では、ステップS1にて、不合格の試験項目ID1が調査対象として選択される。そして、ステップS2にて、調査対象の試験項目ID1に対応付けられたモジュール構成ID1が取得され、当該モジュール構成ID1のモジュール構成に含まれるモジュール群(モジュールA、モジュールB及びモジュールD)が、調査対象モジュールとして、モジュール間接続情報から抽出される。
図7のステップS3,S4及びS5にて、モジュール信頼度演算部5は、ステップS2で抽出した調査対象モジュールと、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を算出する。以下においては、一つの調査対象モジュールについて信頼度を算出する処理について説明するが、複数の調査対象モジュールのそれぞれについて以下の処理を行えば、複数の調査対象モジュールについて信頼度を算出することが可能である。
さて、ステップS3にて、モジュール信頼度演算部5は、一つの調査対象モジュールのモジュールIDに対応付けられた全ての関連試験項目IDを、モジュール情報格納部3のモジュール情報(図4)から取り出す。そして、モジュール信頼度演算部5は、取り出した全ての関連試験項目IDのうち、試験結果が合格である試験項目IDを、試験情報格納部2の試験情報(図3)から抽出する。
図9は、ステップS3の処理例を示す図である。この図9には、調査対象モジュールとしてモジュールBが抽出された場合の処理例が示されている。この場合には、ステップS3にて、モジュールBに対応付けられた全ての関連試験項目ID1,ID2,ID3,ID5の中から、試験結果が合格である試験項目ID2,ID5が抽出される。以下、ステップS3で抽出された、試験結果が合格である試験項目を、「合格試験項目」と記す。
図7のステップS4にて、モジュール信頼度演算部5は、合格試験項目IDに対応付けられたモジュール構成IDのモジュール構成に基づいて、当該合格試験項目IDあたりの上記信頼度(以下「試験別信頼度」と記す)を算出する。
ここで、試験別信頼度の算出例について説明する。前提として、ステップS3で抽出した合格試験項目xに対応付けられたモジュール構成に含まれる全モジュールの数をNとする。また、ステップS3で抽出した合格試験項目xに対応付けられたモジュール構成に含まれる調査対象モジュールk(k=A,B,C,D,E,…)の数をMとする。なお、調査対象モジュールkと、それと同じ開発者のモジュールとの合計の数をMとしてもよい。このとき、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールkと、それ以外のモジュールとの結合に関する合格試験項目xあたりの信頼度(試験別信頼度R(x))を、次式(1)で算出する。
Figure 0006257373
ステップS5にて、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールkの全ての合格試験項目xについて、調査対象モジュールkの試験別信頼度R(x)の和をとることにより、調査対象モジュールkの結合の信頼度を算出する。例えば、調査対象モジュールkの合格試験項目がx[1]〜x[i]である場合には、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールkの結合の信頼度sum_Rを、次式(2)で算出する。
Figure 0006257373
図10は、ステップS4及びS5の処理例を示す図である。この図10には、モジュールBの結合の信頼度sum_Rを算出する場合、つまりk=Bの場合が示されている。ここでもステップS3においては、図9で説明したように試験項目ID2,ID5が合格試験項目として抽出されているものとする。
試験項目ID2に対応付けられたモジュール構成ID2のモジュール構成のうち、全モジュールの数は2であり、モジュールAの数は1であることから、ステップS4にて試験別信頼度R(試験項目ID2)=1が算出される。また、試験項目ID5に対応付けられたモジュール構成ID1のモジュール構成のうち、全モジュールの数は3であり、モジュールAの数は1であることから、ステップS4にて試験別信頼度R(試験項目ID5)=2が算出される。この結果、ステップS5にてモジュールBの結合の信頼度sum_Rは3(=R(試験項目ID2)+R(試験項目ID5))が算出される。
以上のように信頼度が算出された場合には、信頼度の値が大きくなるほど、調査対象モジュールと、それ以外のモジュールとの結合にエラーが生じていない可能性が高くなる。
図7のステップS6にて、表示制御部7は、モジュール信頼度演算部5で算出された信頼度などに基づいて、図5に示したような表示情報を表示部9に表示させる。図5の例では、「信頼度」の列に、各調査対象モジュールの結合の信頼度が表示される。そして、図7に示す処理が終了する。
以上のような本実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置によれば、調査対象モジュール(予め定められたモジュール)と、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を算出する。これにより、複数のモジュールの結合に起因するエラーに関して、優先的に確認すべき疑わしいモジュールを抽出(推定)することができる。
なお、以上の説明では、ステップS3にて、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールに対応付けられた全ての関連試験項目IDのうち、試験結果が合格である試験項目IDを抽出した。しかしこれに限ったものではなく、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールに対応付けられた全ての関連試験項目IDのうち、試験結果が不合格である試験項目IDを抽出してもよい。
すなわち、モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールを含む複数のモジュール構成のうち、試験情報にて不合格(予め定められた試験結果)が示されたモジュール構成に基づいて、上記信頼度を算出してもよい。この場合において上述のステップS4及びS5と同様にして算出度が算出された場合には、信頼度の値が小さくなるほど、調査対象モジュールと、それ以外のモジュールとの結合にエラーが生じていない可能性が高くなる。
<試験別信頼度、信頼度の変形例>
調査対象モジュールの試験別信頼度の値は、式(1)の値、つまり合格試験項目に対応付けられたモジュール構成に含まれる全モジュールのうち、調査対象モジュールを除いた他のモジュールの総数に限ったものではない。例えば、以下に説明するように、調査対象モジュールの試験別信頼度の値は、合格試験項目に対応付けられたモジュール構成のうち、調査対象モジュールと他のモジュールと間の距離に応じた値であってもよい。具体的には、例えばモジュールp(p=A,B,C,D,E,…)とモジュールq(q=A,B,C,D,E,…)との間に存在するモジュールの数がLである場合に、モジュール信頼度演算部5は、モジュールpとモジュールqとの間の距離であるモジュール間距離D(p,q)を、次式で算出する。
Figure 0006257373
例えば、図2のモジュール構成ID3において、モジュールBとモジュールEとの間には一つのモジュールCが存在することから、L=1であり、モジュール間距離D(B,E)=2となる。なお、モジュールp、qの間を繋ぐ経路が複数存在する場合には、モジュール信頼度演算部5は、例えば最短の経路についてモジュール間距離を算出する。そして、合格試験項目xに対応付けられたモジュール構成に含まれる全モジュールのうち、調査対象モジュールk以外のモジュールがO[1]〜O[j]である場合には、モジュール信頼度演算部5は、試験別信頼度R(x)を、例えば次式(4)で算出する。
Figure 0006257373
なお、モジュール構成情報により処理の流れが取得できる場合には、調査対象モジュールと他方に分岐に存在するモジュール(調査対象モジュールの処理の上下流に存在しないモジュール)を考慮しないで、試験別信頼度R(x)を算出してもよい。例えば、図2のモジュール構成ID1においてモジュールBの試験別信頼度を算出する場合には、モジュールBと他方の分岐に存在するモジュールDを考慮しない。具体的には、当該モジュールDを、式(1)のNから除外したり、式(4)の和から除外したりする。ただし、モジュール構成ID1においてモジュールAの試験別信頼度を算出する場合には、モジュールB及びモジュールDはいずれもモジュールAの下流に存在するため、モジュールB及びモジュールDの両方を考慮する。
また、モジュール構成の一部が重複する場合には、当該一部を構成するモジュールを重複させずに信頼度を算出してもよい。例えば、図2のモジュール構成ID2及びモジュール構成ID3に基づいて、モジュールBの結合の信頼度を算出する場合には、どちらか一方のみのモジュールCを考慮する。
また、モジュール構成が、不合格の試験項目に一つでも関連する場合には、当該モジュール構成を考慮しないで信頼度を算出してもよい。例えば、図2のモジュールBを含むモジュール構成のモジュール構成ID1は、試験項目ID1にて試験結果が不合格であることから、モジュールBの結合の信頼度を算出する場合には、モジュール構成ID1のモジュール構成は考慮しない。
また、モジュール情報にモジュールのコード量を予め含めておき、調査対象モジュールのコード量(例えば実行ステップ数等)を、調査対象モジュールの試験別信頼度の算出に適用してもよい。例えば、モジュールpのコード量をC(p)とする。合格試験項目xに対応付けられたモジュール構成に含まれる全モジュールのうち、調査対象モジュールk以外のモジュールがO[1]〜O[j]である場合には、モジュール信頼度演算部5は、試験別信頼度R(x)を、例えば次式(5)で算出する。
Figure 0006257373
<実施の形態2>
実施の形態1では、モジュール構成情報、試験情報及びモジュール情報に基づいて、モジュールの結合の信頼度を算出した。ここで、モジュールを開発した開発者のスキルを示す開発者情報と、モジュールについての詳細な情報とをさらに考慮すれば、モジュールの結合の信頼度について精度を高めることができる。このことに鑑みて、本発明の実施の形態2では、開発者情報も考慮して信頼度を算出するように構成されている。
図11は、本実施の形態2に係る障害抽出支援装置が適用されたソフトウェア試験支援装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態2に係るソフトウェア試験支援装置の説明において、以上で説明した構成要素と同一または類似するものについては同じ参照符号を付し、異なる点を中心に以下説明する。
図11のソフトウェア試験支援装置は、モジュール構成情報格納部1と、試験情報格納部2と、モジュール情報格納部3と、調査試験項目選択部4と、モジュール信頼度演算部5と、モジュール信頼度情報格納部6と、表示制御部7と、入力部8と、表示部9と、開発者情報格納部17と、係数演算部(信頼度演算係数演算部)18と、パラメータ設定部19とを備えている。
開発者情報格納部(情報取得部)17は、モジュールを開発した開発者のスキルを示す開発者情報を取得し、当該開発者情報を格納する。開発者情報格納部17は、複数の開発者情報を格納しており、各開発者情報は、当該開発者情報に含まれる一意の開発者IDによって識別される。
図12は、開発者情報の一例を示す図である。図12の開発者情報は、開発者IDと、開発者が精通しているプログラム言語を示す精通言語と、試験対象のシステム開発における構成試験項目数及び障害件数と、開発コード量とを含む。障害件数は、開発者IDの開発者が開発したモジュールに起因するエラー、または、モジュール間の結合に起因するエラーの件数を表す。開発コード量は、開発したモジュールの総コード量(例えば実行ステップ数等)を表す。
係数演算部18は、開発者情報に基づいて、試験別信頼度、実質的には信頼度の算出に用いられる、開発者に関する係数α(以下「開発者係数α」と記す)を算出する。
パラメータ設定部19は、入力部8で入力されたデータに基づいて、モジュール信頼度演算部5でモジュール信頼度の算出に用いられる係数β及びγを設定する。
モジュール信頼度演算部5は、調査対象モジュールを含む複数のモジュール構成のうち、試験情報にて合格(予め定められた試験結果)が示されたモジュール構成を取得する。そして、モジュール信頼度演算部5は、取得したモジュール構成に含まれるモジュールの開発者係数αに基づいて、調査対象モジュールの結合の信頼度を算出(演算)する。
<動作>
図13は、本実施の形態2に係るソフトウェア試験支援装置の処理を示すフローチャートである。以下、図13のフローチャートを用いて、当該処理について説明する。
まず、ステップS11にて、パラメータ設定部19は、入力部8で入力されたデータに基づいて、パラメータ(係数β及びγ)を設定する。
ステップS12にて、係数演算部18は、開発者情報格納部17に格納されている開発情報に基づいて、開発者係数αを算出する。例えば、モジュールpの開発者Man(p)について、結合試験項目数がT,障害件数がE、開発コード量がCである場合に、係数演算部18は、開発者Man(p)に対する開発者係数α[Man(p)]を、例えば次式(6)で算出する。
Figure 0006257373
なお、開発者係数αの算出に用いられる結合試験項目数、障害件数、開発コード量には、試験対象のシステム開発におけるそれらの数そのものではなく、その直近で参加したシステム開発におけるそれらの数に重み付けした数を用いてもよい。
ステップS1,S2及びS3では、実施の形態1に係るステップS1,S2及びS3と同様の処理が行われる。
ステップS4にて、モジュール信頼度演算部5は、合格試験項目IDに対応付けられたモジュール構成IDのモジュール構成を取得する。そして、モジュール信頼度演算部5は、当該取得したモジュール構成に含まれるモジュールの開発者係数αに基づいて、試験別信頼度を算出する。合格試験項目xに対応付けられたモジュール構成に含まれる全モジュールのうち、調査対象モジュールk以外のモジュールがO[1]〜O[j]である場合には、モジュール信頼度演算部5は、試験別信頼度R(x)を、例えば次式(7)で算出する。
Figure 0006257373
その後、ステップS5では、実施の形態1に係るステップS5と同様の処理が行われる。
以上のような本実施の形態1に係るソフトウェア試験支援装置によれば、開発者のスキルを考慮して、調査対象モジュール(予め定められたモジュール)と、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を算出する。これにより、疑わしいモジュールの抽出(推定)の精度を高めることができる。
なお、本発明に係る障害抽出支援装置は、例えば、ソフトウェアシステムの新規開発時等の初期試験だけでなく、システム改修時や更新時の回帰試験等にも適用可能である。また、上述の「モジュール」は、「アプリケーション」、「ソフトウェア」、「ユニット」、「プログラム」、「関数」、「機能」、「サービス」であってもよい。
また、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態及び各変形例を自由に組み合わせたり、各実施の形態及び各変形例を適宜、変形、省略したりすることが可能である。
1 モジュール構成情報格納部、2 試験情報格納部、5 モジュール信頼度演算部、17 開発者情報格納部、18 係数演算部。

Claims (2)

  1. 複数のモジュールを組み合せてなるモジュール構成を示すモジュール構成情報と、前記モジュール構成の試験結果を示す試験情報とを取得する情報取得部と、
    予め定められた前記モジュールを含む複数の前記モジュール構成のうち、前記試験情報にて予め定められた前記試験結果が示されたモジュール構成に基づいて、前記予め定められたモジュールと、それ以外のモジュールとの結合に関する信頼度を演算するモジュール信頼度演算部と
    を備える、障害抽出支援装置。
  2. 請求項1に記載の障害抽出支援装置であって、
    前記情報取得部は、
    前記モジュールを開発した開発者のスキルを示す開発者情報をさらに取得し、
    前記開発者情報に基づいて、前記信頼度の演算に用いられる前記開発者に関する係数を演算する係数演算部をさらに備え、
    前記モジュール信頼度演算部は、
    前記予め定められた前記モジュールを含む複数の前記モジュール構成のうち、前記試験情報にて予め定められた前記試験結果が示されたモジュール構成に含まれる前記モジュールの前記開発者に関する前記係数に基づいて、前記信頼度を演算する、障害抽出支援装置。
JP2014032694A 2014-02-24 2014-02-24 障害抽出支援装置 Active JP6257373B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014032694A JP6257373B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 障害抽出支援装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014032694A JP6257373B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 障害抽出支援装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015158769A JP2015158769A (ja) 2015-09-03
JP6257373B2 true JP6257373B2 (ja) 2018-01-10

Family

ID=54182719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014032694A Active JP6257373B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 障害抽出支援装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6257373B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6660911B2 (ja) * 2017-03-30 2020-03-11 Kddi株式会社 信頼性判定装置、信頼性判定システムおよびソースコード共有システム
JP7115236B2 (ja) * 2018-11-08 2022-08-09 富士通株式会社 評価プログラムおよび評価方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06131214A (ja) * 1992-10-20 1994-05-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd テスト項目重要度評価装置
JP4481037B2 (ja) * 2004-02-27 2010-06-16 三菱電機株式会社 テスト支援装置
JP2010204877A (ja) * 2009-03-03 2010-09-16 Hitachi Ltd ソフトウェア開発支援装置およびソフトウェア開発支援方法
JP5325931B2 (ja) * 2011-05-26 2013-10-23 株式会社日立製作所 影響分析方法および影響分析プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015158769A (ja) 2015-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10459828B2 (en) Method and system for software application testing recommendations
US10346282B2 (en) Multi-data analysis based proactive defect detection and resolution
Molyneaux The art of application performance testing: from strategy to tools
US10452525B2 (en) Utilizing semantic clusters to predict software defects
US7937622B2 (en) Method and system for autonomic target testing
US9946629B2 (en) System, method and apparatus for deriving root cause for software test failure
JP6693903B2 (ja) ハードウェア試験装置及びハードウェア試験方法
US9921947B2 (en) Test selection method and test selection apparatus
US11347864B2 (en) Ace: assurance, composed and explained
JP2018060332A (ja) インシデント分析プログラム、インシデント分析方法、情報処理装置、サービス特定プログラム、サービス特定方法及びサービス特定装置
JP5774880B2 (ja) サブモジュールの故障を特定するベイズ法
JP6257373B2 (ja) 障害抽出支援装置
Chandrika Study on software reliability and reliability testing
US20190129781A1 (en) Event investigation assist method and event investigation assist device
CN109240928A (zh) 一种测试方法、装置、设备及存储介质
US20140281719A1 (en) Explaining excluding a test from a test suite
US9348733B1 (en) Method and system for coverage determination
JP6169302B2 (ja) 仕様構成装置および方法
JP2005332098A (ja) テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム
EP3131014A1 (en) Multi-data analysis based proactive defect detection and resolution
US20200371899A1 (en) Static analysis of code coverage metrics provided by functional user interface tests using tests written in metadata
US10296449B2 (en) Recording an application test
CN109726693B (zh) 用于评估设备环境噪声的方法、装置、介质及电子设备
JP2017151594A (ja) 支援装置、支援方法及びプログラム
JP6609216B2 (ja) ソースコードの静的解析結果の分析装置及び分析方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170929

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6257373

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250