JP2015001434A - 配光測定装置および配光測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】面発光体の配光分布の測定を精度良く行うことを可能にしつつ、装置の大型化を回避可能にする配光測定装置とその方法を提供する。
【解決手段】面発光体１の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出部２０と、前記抽出部２０が取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光部３０と、前記受光部３０での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算部５１と、を備えて配光測定装置を構成する。
【選択図】図２

Description

本発明は、面発光体の配光分布を測定する配光測定装置および配光測定方法に関する。

近年、照明用光源として、有機ＥＬ（Electro Luminescence）や導光板などを利用した面発光ＬＥＤ（Light Emitting Diode）等の面発光体が注目されている。このような面発光体を照明用光源として用いるためには、その面発光体からの配光分布を正確に把握することが必要不可欠である。「配光分布」は、光源からの出射光の光度の出射角度に対する変化または分布のことをいい、照明設計には欠かせない重要なパラメータの一つである。そのため、近年は、面発光体についての配光分布を測定する配光測定のニーズが高まりつつある。
配光分布の測定は、配光測定装置を使用して行われる。配光測定装置としては、例えば図８に示すように、測定対象となる光源２０１が配置固定される光源取付部２０２、その光源２０１からの出射光を受光して電気量に変換する受光部２０３、光源２０１からの出射光の光路を変えて受光部へ案内する平面鏡２０４、配光測定に用いる軸を中心に光源２０１、平面鏡２０４または受光部２０３を回転させる回転機構部２０５等、を備えて構成されたものがある（例えば、非特許文献１参照）。

日本工業規格ＪＩＳ Ｃ８１０５−５、「５．配光測定装置の要求事項」、ｐ．５〜９，２８

ところで、日本工業規格ＪＩＳ Ｃ８１０５−５には、配光分布の測定にあたり、光源２０１と受光部２０３との間の測光距離を当該光源２０１の発光面の最大寸法の５倍以上とすることが推奨されている。これは、以下に述べる理由による。

配光測定装置は、配光分布の測定にあたり、光源２０１からの出射光の光度ではなく、その出射光による照度を受光部２０３で検出するように構成されている。そのため、光源２０１が点光源と見做し得る程度に光源２０１と受光部２０３との距離を大きく取らないと、照度を光度に換算することが正しく行えないおそれが生じてしまう。
例えば、光源２０１を点光源と見做せる場合であれば、その光源２０１からの出射光の光度の総量は、４πＩ（ただし、４πは全球上の立体角［単位：ｓｒ］、Ｉは光度［単位：ｌｍ／ｓｒ＝ｃｄ］）で表される。また、その光源２０１からの出射光による照度の総量は、４πｒ^２Ｅ（ただし、４πｒ^２は球の表面積［単位：ｍ^２］、Ｅは照度［単位：ｌｍ／ｍ^２＝ｌｘ］）で表される。そして、これらの各総量が一致するので４πＩ＝４πｒ^２Ｅの式が成り立ち、これによりＩ＝ｒ^２Ｅという換算式が得られる（ただし、ｒは光源から照度計までの測光距離）。つまり、照度Ｅから光度Ｉへの換算式は、光源２０１を点光源と見做せる場合を想定したものである。
このように、配光測定装置においては、配光分布の測定にあたり、照度Ｅを光度Ｉに換算する必要があるが、その換算に用いる換算式が点光源または点光源に近い光源を前提としたものであるため、光源２０１が点光源と見做し得る程度に光源２０１と受光部２０３との距離を大きく取らなければならない。したがって、光源２０１の発光面の最大寸法の５倍以上という測光距離が推奨されているのである。
なお、５倍以上の測光距離を確保すれば、測定対象となる光源２０１が点光源ではなく面光源である場合でも、点光源と面光源での光度のズレ量が０．５％以内に収まり、実用上問題が無いことが確認されている。換言すると、５倍以上の測光距離を確保すれば、配光分布の測定を精度良く行うことが可能である。

しかしながら、上述したように５倍以上の測光距離を確保しようとすると、配光測定装置は、大型化してしまうことになる。例えば、一般的な４０Ｗの直管蛍光灯を光源２０１とする場合であれば、発光面の最大寸法が１２００ｍｍ程度なので、その５倍となる６ｍ以上の測光距離を確保する必要がある。これと同程度またはこれ以上の最大寸法を有する光源は、有機ＥＬ等の面発光体においても今後増加することが予想される。これにより、配光測定装置の中には、あらゆるサイズの光源２０１への対応を想定して、例えば光軸方向に１０ｍ、光軸方向との直交方向に４ｍ、高さ方向に５ｍといった設置スペースを要するものもある（例えば図８参照）。
このような配光測定装置の大型化は、回避することが望ましい。なぜならば、配光測定装置の大型化は、当該装置を収容する暗室スペース等の大型化を招くことになり、大スペース確保ができない小規模の企業や研究所等への当該装置の導入を困難にしてしまうからである。

そこで、本発明は、配光分布の測定を精度良く行うことを可能にしつつ、その場合であっても当該測定を行う装置が大型化してしまうことがない配光測定装置および配光測定方法を提供することを目的とする。

本発明は、上記目的を達成するために案出されたものである。
本発明の第１の態様は、面発光体の配光分布を測定する配光測定装置であって、前記面発光体の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出部と、前記抽出部が取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光部と、前記受光部での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算部と、を備えることを特徴とする配光測定装置である。
本発明の第２の態様は、第１の態様に記載の発明において、前記抽出部は、前記部分領域を画定する形状および大きさの開口部が設けられ、当該部分領域以外の他部領域を覆うように前記面発光体の光出射面側に配される遮蔽板を有して構成されることを特徴とする。
本発明の第３の態様は、第２の態様に記載の発明において、前記遮蔽板における前記開口部と前記面発光体との相対位置を移動させるステージ部を備えることを特徴とする。
本発明の第４の態様は、第３の態様に記載の発明において、前記ステージ部による相対位置移動を利用して前記光出射面の全領域を構成する複数の前記部分領域のそれぞれからの出射光を前記受光部に受光させ、各部分領域についての受光結果を前記演算部に積算させて当該全領域からの出射光の配光分布を求めるように、前記ステージ部、前記受光部および前記演算部に対する動作指示を与える制御部を備えることを特徴とする。
本発明の第５の態様は、第２から第４のいずれか１態様に記載の発明において、前記演算部は、前記演算にあたり、前記光出射面と前記遮蔽板との間隙距離に基づく測定距離補正を行うことを特徴とする。
本発明の第６の態様は、第２から第５のいずれか１態様に記載の発明において、前記演算部は、前記演算にあたり、前記光出射面と前記遮蔽板との間隙距離に基づく測光面積補正を行うことを特徴とする。
本発明の第７の態様は、第１から第６のいずれか１態様に記載の発明において、前記受光部は、前記部分領域のサイズに対応して規定される距離を半径とする円弧上に並んで配置された複数の受光器を有して構成されることを特徴とする。
本発明の第８の態様は、第７の態様に記載の発明において、前記複数の受光器は、前記円弧上に均等ピッチで配置されていることを特徴とする。
本発明の第９の態様は、面発光体の配光分布を測定する配光測定方法であって、前記面発光体の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出工程と、前記抽出工程で取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光工程と、前記受光工程での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算工程と、を備えることを特徴とする配光測定方法である。
本発明の第１０の態様は、第９の態様に記載の発明において、前記光出射面の全領域を構成する複数の前記部分領域のそれぞれについて前記抽出工程および前記受光工程を順次行い、各部分領域についての受光結果を得たら当該受光結果を前記演算工程で積算して前記全領域からの出射光の配光分布を求めることを特徴とする。

本発明によれば、面発光体の配光分布を測定するにあたって、当該測定を精度良く行うことを可能にしつつ、その場合であっても当該測定を行う装置が大型化してしまうことがない。

配光測定の概要を示す説明図である。 本発明の一実施形態による配光測定装置の概略構成例を示す説明図である。 本発明の一実施形態による配光測定方法の手順を示すフローチャートである。 本発明の一実施形態における測定距離補正の概念を示す説明図である。 本発明の一実施形態における測光面積補正の概念を示す説明図である。 本発明の一実施形態による配光測定結果の一具体例を示す説明図である。 開口部サイズを変化させた場合の配光測定結果の一具体例を示す説明図である。 従来における配光測定装置の概略構成の一例を示す説明図である。

以下、本発明の実施形態を、図面に基づいて説明する。
ここでは、以下のような項分けをして説明を行う。
１．本発明の概要
２．本発明の一実施形態
２−１．配光測定装置の構成例
２−２．配光測定方法の手順
３．本実施形態の効果
４．本発明の他の実施形態

＜１．本発明の概要＞
先ず、本発明の概要を説明する。

本発明は、面発光体の配光分布を測定するために案出されたものである。
本明細書において、「面発光体」とは、平面状の光出射面を有し、その光出射面の全領域から光を出射するように構成された物体をいう。光出射面が平面状となり得るものであれば、可撓性を有していてもよい。このような面発光体の例としては、有機ＥＬや導光板などを利用した面発光ＬＥＤ等が挙げられる。ただし、ここで挙げた例に限定されることはなく、平面状の光出射面の全領域から光を出射するものであれば、本明細書における「面発光体」に該当し得る。
また、面発光体の「配光分布」とは、当該面発光体からの出射光の光度の出射角度に対する変化または分布のことをいう。この「配光分布」については、「配光特性」と呼ばれることもあるが（例えば、非特許文献１参照）、本明細書においては「配光分布」と称する。

図１は、配光測定の概要を示す説明図である。図１（ａ）は本発明に係る配光測定の概要を示しており、図１（ｂ）は従来における配光測定の概要を示している。

ここで、例えば図１（ｂ）に示すように、平面形状が矩形状の光出射面２を有した面発光体の配光分布を測定する場合について考える。従来、このような面発光体の配光分布を測定する場合には、既に説明したように、面発光体の光出射面２の最大寸法（具体的には対角サイズ）の５倍以上の測光距離を確保しつつ、光出射面２の全領域からの出射光３を受光部で受光して、その出射光３による照度を検出する。そして、検出した照度を光度に換算した後に、その換算結果に基づいて配光曲線を作成して、配光分布の測定結果とする。「配光曲線」は、ある特定断面の光度変化を表すものであり、その基本的な表し方として極座標表示と直角座標表示が知られている。図例は、周方向を鉛直角、半径方向を光度とする極座標表示による配光曲線の一具体例を示している。このような配光曲線によれば、特定の水平角における鉛直面の配光分布を把握することができる。

ところで、上述した従来における配光測定では、面発光体の光出射面２の最大寸法の５倍以上の測光距離を確保することから、光出射面２のサイズが大きな面発光体について配光分布を測定しようとすると、その測定に用いる配光測定装置の大型化が必要になってしまう。
仮に５倍以上の測光距離を確保しないで配光分布を測定すると、その場合には、配光分布の測定を正しく行えないおそれが生じてしまう。つまり、配光測定にあたっては、５倍以上の測光距離を確保することで、面発光体を点光源と見做せるようにして、受光部に対して垂直に入射する光の成分を増やし、これによりＩ＝ｒ^２Ｅという換算式を用い得るようにしているが、５倍以上の測光距離を確保しないと、光出射面２から受光部に対して斜め方向から入射する光の成分が増えてしまい、受光部による照度の検出結果が小さめに出てしまい、その結果として配光分布の測定が正しく行えないのである。

この点につき、本願発明者は、鋭意研究を重ねた結果、例えば図１（ａ）に示すように、面発光体の光出射面２を複数の部分領域４に細分化し、その部分領域４からの出射光を受光部で受光して照度を検出し、その検出結果から光出射面２の全領域についての配光分布を演算して求めれば、光出射面２の全領域の最大寸法に比べて部分領域４の最大寸法が小さくなるので、当該最大寸法の５倍以上の測光距離を確保しつつも、その測光距離が大きくなってしまうのを回避可能である、との着想を得るに至った。
本発明は、このような本願発明者が得た従来には無い着想、すなわち面発光体の光出射面２を細分化するという新規で独創的な発想に基づくものである。

具体的には、本発明に係る配光測定においては、測定対象となる面発光体について、その面発光体の光出射面２を複数の部分領域４に細分化した上で、ある部分領域４からの出射光のみを取り出し、取り出した出射光を受光部で受光する。このとき、受光部は、部分領域４のサイズに対応して規定される距離だけ、光出射面２から光出射方向に離れた位置で受光する。ここで、部分領域４のサイズに「対応して規定される距離」とは、当該部分領域４のサイズを点光源と見做し得る距離のことを言い、例えば当該部分領域４の最大寸法の５倍以上の距離がこれに相当する。このように、細分化後の部分領域４のサイズを基準とすれば、光出射面２の全領域のサイズに対応させる場合に比べると、受光部までの距離が小さくて済む。

その後は、受光部での受光結果に基づき、光出射面２の全領域からの出射光の配光分布を演算して求める。このときに行う演算としては、例えば、各部分領域４についての受光結果を全領域分積算するというものや、特定の部分領域４についての受光結果から全領域分を類推算出するというもの等が挙げられる。

このようにして光出射面２の全領域からの出射光の配光分布を求めたら、本発明に係る配光測定においても、その配光分布の測定結果を配光曲線等によって表すことになる。ここで、図１（ａ）に示す本発明に係る配光測定によって得られた配光曲線と、図１（ｂ）に示す従来における配光測定によって得られた配光曲線とを対比すると、それぞれの配光曲線は、大きく違わないことがわかる。つまり、上述のように面発光体の光出射面の細分化を経た場合であっても、その面発光体の配光分布の測定結果については、その光出射面の最大寸法の５倍以上の測光距離を確保した従来手法による場合と同様に、配光分布の測定が正しく行われていることになる。

＜２．本発明の一実施形態＞
次に、本発明に係る配光測定装置および配光測定方法について、具体的な実施の形態を説明する。

[２−１．配光測定装置の構成例]
先ず、本発明に係る配光測定装置の構成例について説明する。
図２は、本発明の一実施形態による配光測定装置の概略構成例を示す説明図である。
本実施形態の配光測定装置は、大別すると、光源取付部１０と、抽出部２０と、受光部３０と、ステージ部４０と、コンピュータ部５０と、を備えて構成されている。

（光源取付部）
光源取付部１０は、配光測定の対象となる面発光体１が配置固定されるものである。面発光体１は、主に鉛直方向上方側へ向けて光を出射するような状態で、光源取付部１０上に配置固定されることになる。なお、光源取付部１０上に配置固定される面発光体１は、光出射面の全領域から光を出射するものであれば特に限定されることはないが、その一例として８６５（Ｌ）×２１２（Ｗ）×４４（Ｈ）ｍｍのＬＥＤベースライトが挙げられる。また、面発光体１の配置固定のための機構は、特に限定されるものではなく、公知技術を利用して構成されたものであればよい。

（抽出部）
抽出部２０は、光源取付部１０上に配置固定された面発光体１が光を出射する際に、その面発光体１の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出すものである。ここで「部分領域」とは、面発光体１の光出射面の全領域を細分化して得られる部分的な各領域のことをいう。
このような部分領域からの出射光のみを取り出すために、抽出部２０は、面発光体１の光出射面側に配される遮蔽板２１を有している。遮蔽板２１には、部分領域を画定する形状および大きさの開口部２２が設けられている。そして、開口部２２が面発光体１からの光を透過させつつ、遮蔽板２１が部分領域以外の他部領域を覆うことで、ある部分領域からの出射光のみを取り出すように構成されている。
開口部２２の形状は、特に限定されるものではないが、例えば矩形状の光出射面を有する面発光体１についての配光測定を効率的に行うべく、開口部２２の形状についても矩形状にすることが考えられる。また、開口部２２の大きさについては、詳細を後述するように配光測定の効率を考慮して決定すればよく、具体的には例えば一辺が５０ｍｍの正方形状とすることが考えられる。なお、開口部２２は、例えばアタッチメント部品の交換により、その形状または大きさを可変させ得るように構成してもよく、具体的には例えば一辺が５０ｍｍの正方形状の開口部２２と一辺が８５ｍｍの正方形状の開口部２２とを選択し得るように構成しても構わない。

（受光部）
受光部３０は、抽出部２０が取り出す部分領域からの出射光を受光して電気量に変換することで、その出射光による照度を検出するものである。この受光部３０の光受光面と面発光体１の光出射面との間の距離である測光距離は、部分領域のサイズに対応して規定されている。具体的には、例えば開口部２２が矩形状の場合であれば、測光距離は、部分領域を画定する開口部２２の最大寸法である当該開口部２２の対角サイズの５倍以上の距離が確保される。したがって、例えば開口部２２が８５ｍｍ角である場合を想定すると、測光距離は、当該開口部２２の対角サイズの５倍以上に相当する６００ｍｍ以上が確保される。
このような測光距離を確保して配される受光部３０は、複数の受光器３１を有して構成されている。各受光器３１は、照度を検出可能であれば公知のものを用いることができ、またいずれも同一のものでよい。そして、各受光器３１は、円弧状に形成されたアーム部３２に均等ピッチで配置されている。アーム部３２は、部分領域を画定する開口部２２の遮蔽板底面側における中央部分を円弧中心としつつ、上述した測光距離を半径とする円弧状に形成されたものである。したがって、各受光器３１は、開口部２２の中央部分を向きつつ、測光距離を半径とする円弧上に均等ピッチで一列に並んで配置されることになる。なお、各受光器３１の配置態様は、特に限定されるものではないが、配光測定の分解能と検出結果に対する処理負荷等を比較衡量して、例えば鉛直方向を０°とした場合の±８５°の範囲に５°ピッチで配置することが考えられる。以下、各受光器３１が配置された角度のことを「測定角度」と称す。
また、受光部３０は、複数の受光器３１およびこれらを支持するアーム部３２に加えて、当該アーム部３２を回転させる回転駆動部３３を有している。回転駆動部３３は、電動モータ等の駆動源を利用しつつ、開口部２２の中央部分を通過する鉛直線を回転軸として、複数の受光器３１およびアーム部３２を一体で回転させるようになっている。このとき、回転駆動部３３は、受光器３１およびアーム部３２を、例えば１°ピッチで回転させて任意の位置にて停止させるようにする。これにより、各受光器３１は、光源取付部１０上に配置固定された面発光体１に対する並び方向が、任意に可変され得るようになる。以下、面発光体１に対する各受光器３１の並び方向の角度のことを「被測定方向水平角度」と称す。

（ステージ部）
ステージ部４０は、遮蔽板２１における開口部２２と光源取付部１０上に配置固定された面発光体１との相対位置を移動させるものである。移動方向は、少なくとも面発光体１の光出射面に沿った方向（すなわち面発光体１が鉛直方向に光を出射する場合であれば水平方向）である。そのために、ステージ部４０は、少なくとも、直交する水平２軸方向に移動可能な移動多軸ステージを有しており、その移動多軸ステージが光源取付部１０を移動させるように構成されている。このようなステージ部４０は、直交する水平２軸方向のそれぞれに対して、光源取付部１０を例えば０．１ｍｍピッチで移動させて任意の位置にて停止させ得るようになっている。これにより、光源取付部１０上の面発光体１は、遮蔽板２１における開口部２２および当該開口部２２を通して見える受光部３０の各受光器３１に対する水平方向の相対位置が、任意に可変され得るようになる。
なお、ステージ部４０は、直交する水平２軸方向に加えて、必要に応じて鉛直方向にも光源取付部１０を移動させるように構成されたものであってもよい。

（コンピュータ部）
コンピュータ部５０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard disk drive）、各種インタフェース等の組み合わせからなるものである。そして、コンピュータ部５０では、ＣＰＵがＲＯＭまたはＨＤＤに格納された所定プログラムを実行することにより、演算部５１および制御部５２として機能するように構成されている。なお、コンピュータ部５０を演算部５１または制御部５２として機能させる所定プログラムは、ＨＤＤ等への格納に先立ち、通信回線を通じてコンピュータ部５０へ提供されるものであってもよいし、あるいはコンピュータ部５０で読み取り可能な記憶媒体に格納されて提供されるものであってもよい。

（演算部）
演算部５１は、抽出部２０が取り出した部分領域からの出射光についての受光部３０の各受光器３１での受光結果に基づき、光源取付部１０上に配置固定された面発光体１の光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて、これを当該面発光体１についての配光分布の測定結果とするものである。なお、演算内容の詳細については後述する。
また、演算部５１は、配光分布を求める演算にあたり、各種補正演算を行う機能を有している。各種補正演算としては、詳細を後述するように、光源取付部１０上に配置固定された面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間隙距離に基づく測定距離補正や、当該間隙距離に基づく測光面積補正等が挙げられる。

（制御部）
制御部５２は、上述した各部（特に、受光部３０、ステージ部４０および演算部５１）における動作を制御するものである。さらに具体的には、制御部５２は、ステージ部４０による相対位置移動を利用して、光源取付部１０上に配置固定された面発光体１の光出射面の全領域を構成する複数の部分領域のそれぞれからの出射光を、受光部３０における各受光器３１に受光させ、各部分領域についての受光結果を演算部５１に積算させて当該全領域からの出射光の配光分布を求めるように、ステージ部４０、受光部３０および演算部５１に対する動作指示を与えるようになっている。

[２−２．配光測定方法の手順]
次に、上述した構成の配光測定装置における処理動作例の手順、すなわち本発明に係る配光測定方法の手順について説明する。
図３は、本発明の一実施形態による配光測定方法の手順を示すフローチャートである。

（面発光体のセット）
上述した構成の配光測定装置を用いて配光測定を行う場合には、先ず、配光測定装置のオペレータが、測定対象となる面発光体１を光源取付部１０上にセットする（ステップ１０１、以下ステップを「Ｓ」と略す。）。そして、セットした面発光体１に電圧を印加して、その面発光体１を発光させる（Ｓ１０２）。これにより、面発光体１は、例えば当該面発光体１がＬＥＤベースライトであれば、その光出射面の全領域から主に鉛直方向上方側へ向けて光を出射することになる。

（部分領域からの出射光取り出し）
その後、配光測定装置では、制御部５２がステージ部４０に動作指示を与え、遮蔽板２１の開口部２２が被測定領域となる一つの部分領域だけを露出するように、当該開口部２２に対する光源取付部１０上の面発光体１の位置を移動させ、その移動後にステージ部４０を停止させる（Ｓ１０３）。これにより、開口部２２により露出する部分領域以外の他部領域は遮蔽板２１によって覆われるので、面発光体１の光出射面の全領域から光を出射していても、受光部３０の側から見ると、露出する部分領域からの出射光のみが取り出されている状態となる。
なお、面発光体１の光出射面の全領域のうち、どの部分領域を被測定領域とするかは、予め設定されているステージ移動規則に基づくものであればよい。ステージ移動規則は、特に限定されるものではないが、その一例としては、先ず、矩形状の光出射面の一角に接する部分領域を被測定領域とし、次いで、これに隣接する部分領域を被測定領域とし、これを光出射面の全領域について終了するまで繰り返す、というものが挙げられる。

そして、ステージ部４０の位置移動を完了したら、続いて、配光測定装置では、制御部５２が受光部３０の回転駆動部３３に動作指示を与えて、受光部３０の各受光器３１およびアーム部３２を一体で回転させ、所定角度の位置にて停止させる（Ｓ１０４）。これにより、受光部３０の各受光器３１の並び方向は、光源取付部１０上の面発光体１に対する相対角度が、所望の被測定方向水平角度をなすことになる。
なお、所望の被測定方向水平角度は、予め設定されているものであればよい。具体的には、その一例として、開口部２２の構成辺に沿った直交２方向のそれぞれ（すなわち、０°方向とこれに直交する９０°方向）を被測定方向水平角度とする、というものが挙げられる。

（受光部での受光）
アーム部３２の停止状態で遮蔽板２１の開口部２２が一つの部分領域からの出射光を取り出すと、配光測定装置では、その出射光を受光部３０の各受光器３１で受光する（Ｓ１０５）。そして、各受光器３１は、受光した光量を電気量に変換することで、出射光による照度を検出し、その検出結果を演算部５１へ通知する。演算部５１への通知は、各受光器３１が配された位置情報（例えば、±８５°の範囲のどの角度位置に配された受光器３１であるかを特定する情報）と関連付けて行われるものとする。また、各受光器３１についての処理は、それぞれが並行して行われることになる。
なお、各受光器３１は、それぞれの検出結果にバラツキが生じないように、予め校正されたものを用いることが望ましい。

（部分領域の配光測定）
各受光器３１での検出結果を演算部５１が受け取ると、配光測定装置では、その演算部５１が、被測定領域となる一つの部分領域について、配光分布の測定を行う（Ｓ１０６）。配光分布の測定は、どの角度方向にどの程度の照度が得られたかが各受光器３１での検出結果からわかるので、その検出結果について照度を光度に換算した後に、例えば配光曲線を作成することによって行えばよい。このとき、照度から光度への換算は、上述したように開口部２２の対角サイズの５倍以上の測光距離を確保しているので、原則としてＩ＝ｒ^２Ｅという換算式を適用することが可能となる。

ただし、上述した構成の配光測定装置では、ステージ部４０が光源取付部１０上の面発光体１と遮蔽板２１との相対位置を移動させる必要があるため、その移動を考慮して両者の間に若干の隙間を確保することが望ましい。また、この点については、ステージ部４０の鉛直方向への移動を利用することで、水平方向への移動時の干渉を回避しつつ、測定時には面発光体１と遮蔽板２１との間に隙間が生じないようにすることも考えられる。ところが、その場合であっても、面発光体１の中にはその最上方の位置から下方側に奥まった位置に光出射面が配されたものがあり、このような面発光体１については当該面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間に隙間が生じてしまうことになる。
つまり、上述した構成の配光測定装置においては、面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間の隙間を考慮しつつ、配光分布の測定を行うべきである。このことから、当該配光測定装置における演算部５１は、部分領域についての配光分布の測定にあたり、以下に述べるように、測定距離補正および測光面積補正を行うようになっている。

（測定距離補正）
ここで、演算部５１が行う測定距離補正について説明する。
図４は、本発明の一実施形態における測定距離補正の概念を示す説明図である。

例えば、従来のように面発光体の光出射面を細分化せずに配光測定を行う場合であれば、図４（ｂ）に示すように、当該光出射面の中心位置に点光源があると仮定して測定を行うので、その中心位置から受光器３１までの距離Ｌを測光距離ｒとすることができ、Ｉ＝ｒ^２Ｅという換算式をそのまま用いることが可能となる。

ところが、上述した構成の配光測定装置では、図４（ａ）に示すように、遮蔽板２１の開口部２２を利用して面発光体１の光出射面を細分化するので、面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間に距離ｌの隙間が生じていると、各受光器３１が配置された測定鉛直角θ毎に測光距離ｒの大きさが変化してしまう。つまり、Ｉ＝ｒ^２Ｅという換算式をそのまま用いることが適切ではなくなってしまう。特に、光出射面を細分化する場合には、当該細分化を行わない場合に比べて、測光距離ｒを短く設定することが可能となるので（例えば、従来は６ｍ以上必要であったのに対して、細分化によって６００ｍｍ程度で済む。）、少しの測光距離ｒの変化が配光測定の結果に大きな影響を及ぼすことになる。

そこで、上述した構成の配光測定装置では、配光分布を求める演算にあたり、演算部５１が以下の（１）式に基づき測定距離補正を行うようになっている。
ｒ＝Ｌ＋ｌ／ｃｏｓθ・・・（１）
なお、上記（１）式において、ｒはある測定鉛直角θにて受光器３１が開口部２２を通して見ることができる面発光体１における部分領域（すなわち測定対象となる部分領域）とその測定鉛直角θにおける受光器３１の受光面との間の測光距離、Ｌは遮蔽板２１の底面側における開口部２２の中心位置と各受光器３１の受光面との間の距離、ｌは遮蔽板２１の底面と面発光体１の光出射面との間の距離、θは鉛直方向を０°とした場合の各受光器３１の測定角度（配置角度）を示している。したがって、上記（１）式は、例えばθ＝０°の場合には、ｒ＝Ｌ＋ｌとなる。

（測光面積補正）
続いて、演算部５１が行う測光面積補正について説明する。
図５は、本発明の一実施形態における測光面積補正の概念を示す説明図である。

上述した構成の配光測定装置では、遮蔽板２１の開口部２２を利用して面発光体１の光出射面を細分化するので、面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間に距離ｌの隙間が生じていると、各受光器３１の側から開口部２２を通して見える面発光体１の光出射面の面積が、各受光器３１が配置された測定鉛直角θ毎に変化してしまう。例えば、測定鉛直角θが広角になると（角度θの値が大きくなると）、面発光体１の光出射面の面積が大きく見えることになる。

このことは、図５（ａ）に示すように、細分化して得られる部分領域の大きさが、測定鉛直角θ次第で変化してしまうことを意味する。これを補正するためには、以下の（２）式のような補正係数を用いることが考えられる。
ｋ_ｘ＝Ｌｃｏｓθ／（Ｌｃｏｓθ＋ｌ）・・・（２）
なお、上記（２）式において、ｋ_ｘは各受光器３１の並び方向（すなわち、各受光器３１を支持するアーム部３２に沿った方向、以下この方向を「Ｘ方向」という。）の補正係数であり、Ｌ，ｌおよびθは上記（１）式の場合と同様である。

このような補正は、Ｘ方向のみならず、各受光器３１の並び方向と直交する方向（すなわち、各受光器３１を支持するアーム部３２と直交する方向、以下この方向を「Ｙ方向」という。）についても、同様に行う必要がある。つまり、図５（ｂ）に示すように、本来は図中内側の矩形部分２３の面積のみについて計測を行いたいのだが、受光器３１の側からは図中外側の矩形部分２４の面積が見えてしまうことになるので、Ｘ方向およびＹ方向の両方向について補正を行う必要がある。

Ｙ方向についても、Ｘ方向と同様に補正を行えばよい。ただし、Ｙ方向については、測定鉛直角θが変化せず、常にθ＝０となる。そのため、Ｙ方向については、以下の（３）式のような補正係数を用いることが考えられる。
ｋ_ｙ＝Ｌ／（Ｌ＋ｌ）・・・（３）
なお、上記（３）式において、ｋ_ｙはＹ方向の補正係数であり、Ｌおよびｌは上記（２）式の場合と同様である。

以上のようなＸ方向およびＹ方向の補正を反映させるべく、上述した構成の配光測定装置では、配光分布を求める演算にあたり、演算部５１が以下の（４）式に示す補正係数を用いた測光面積補正を行うようになっている。なお、下記（４）式において、ｋはＸ，Ｙ両方向についての補正係数である。

（換算式）
以上に説明した測定距離補正および測光面積補正の結果を反映させるために、演算部５１は、照度から光度への換算を、Ｉ＝ｒ^２Ｅという換算式に代わって、以下の（５）式を用いて行うようになっている。なお、下記（５）式は、上記（１）式および上記（４）式から導き出されるものである。

演算部５１は、このような（５）式を用いつつ、各受光器３１が検出した照度を光度に換算する。なお、（５）式を用いた演算に必要となるＬおよびｌの値は、配光測定装置の仕様や測定対象となる面発光体１の仕様等から特定可能であり、演算部５１がアクセスし得るコンピュータ部５０のＨＤＤ等における所定記憶領域内に予め格納されているものとする。また、θおよびＥの値については、各受光器３１からの通知内容によって特定されるものとする。

そして、（５）式を用いた演算の後、演算部５１は、その演算結果に基づき、例えば配光曲線を作成することで、被測定領域となる一つの部分領域についての配光分布の測定を行うのである。なお、配光曲線の作成手法については、公知技術を利用して行えばよいため、ここでは詳細な説明を省略する。
このようにして演算部５１が得た配光測定の結果（例えば配光曲線のデータ）については、少なくとも後述する全領域分についての演算処理が終了するまで、例えばコンピュータ部５０のＨＤＤ等における所定記憶領域内に記憶保持しておくものとする。

（他の被測定方向角度および他の部分領域についての処理）
以上のようにして、被測定領域となる一つの部分領域について、ある被測定方向水平角度での配光測定が終了すると、続いて、配光測定装置では、図３に示すように、予め設定されている他の被測定方向水平角度での配光測定が終了しているか否かを制御部５２が判断する（Ｓ１０７）。その結果、配光測定を行うべき他の被測定方向水平角度があれば、制御部５２は、受光部３０の回転駆動部３３に動作指示を与える（Ｓ１０４）。そして、その被測定方向水平角度について、再び配光測定のための一連の処理を行い（Ｓ１０４〜Ｓ１０７）、これを全ての被測定方向水平角度について終了するまで繰り返す。

全ての被測定方向水平角度について終了すると、次に、配光測定装置では、光源取付部１０上の面発光体１の光出射面を構成する他の部分領域について、配光測定が終了しているか否かを制御部５２が判断する（Ｓ１０８）。その結果、配光測定を行うべき他の部分領域があれば、制御部５２は、ステージ部４０に動作指示を与え、予め設定されているステージ移動規則に基づき、遮蔽板２１の開口部２２に対する面発光体１の光出射面の位置を移動させる（Ｓ１０３）。そして、ステージ部４０の移動後に開口部２２によって露出されることになる部分領域について、再び配光測定のための一連の処理を行い（Ｓ１０３〜Ｓ１０８）、これを全ての部分領域について終了するまで繰り返す。

例えば、８６５（Ｌ）×２１２（Ｗ）×４４（Ｈ）ｍｍのＬＥＤベースライトからなる面発光体１に対して、５０ｍｍ角の正方形状の開口部２２を利用しつつ、測光距離が６００ｍｍとなる位置に各受光器３１が配された条件にて配光測定を行った場合を考えると、配光測定装置は、８６５（Ｌ）×２１２（Ｗ）ｍｍの光出射面を５０ｍｍ角の開口部２２で細分化することになるので、８６５／５０＝１７．３≒１８、２１２／５０＝４．２４≒５より、１８×５＝９０箇所の部分領域について順に配光分布を測定することになる。

（全領域についての演算処理）
全ての部分領域について終了すると、その後、配光測定装置は、各部分領域についての測定結果を基に、面発光体１の光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求める（Ｓ１０９）。この演算は、各被測定方向水平角度別に、演算部５１によって行われる。例えば、演算部５１は、各部分領域についての配光測定結果のデータを所定記憶領域内から取り出し、その取り出したデータを積算することによって、光出射面の全領域についての最終的な配光測定結果を求める。さらに具体的には、各受光器３１が検出した照度の光度への換算結果を、各受光器３１別（すなわち各受光器３１が配置された測定鉛直角θ別）に全ての部分領域について積算することで、面発光体１の光出射面の全領域からの出射光の配光分布について配光曲線を形成可能とするデータを得るのである。例えば、上述したように９０箇所の部分領域について配光分布を測定した場合であれば、演算部５１は、これら９０箇所についての光度換算結果を測定鉛直角θ別に積算することで、面発光体１の光出射面の全領域についての最終的な配光測定結果を得ることになる。

このようにして演算部５１が面発光体１の光出射面の全領域についての配光測定結果を得たら、その後、配光測定装置では、その配光測定結果の出力を行う（Ｓ１１０）。この出力は、制御部５２によって行われる。例えば、制御部５２は、コンピュータ部５０に接続するディスプレイ装置やプリンタ装置等を用いて配光曲線の画像出力を行うことによって、配光測定結果の出力を行う。また、制御部５２は、コンピュータ部５０と通信回線を介して接続する他のコンピュータ装置に対して、配光曲線を構成するデータや当該配光曲線の形成に必要なデータ等を送信することによって、配光測定結果の出力を行うものであってもよい。

（従来手法との比較）
図６は、本発明の一実施形態による配光測定結果の一具体例を示す説明図である。
図６（ａ）および（ｂ）は、いずれも、８６５（Ｌ）×２１２（Ｗ）×４４（Ｈ）ｍｍのＬＥＤベースライトからなる面発光体１に対して、５０ｍｍ角の正方形状の開口部２２を利用した細分化を経つつ、測光距離が６００ｍｍとなる位置に各受光器３１が配された条件にて、配光測定を行った場合の最終的な（すなわち積算後の）測定結果を示している（図中における黒丸印のライン参照）。以下、これを「小型配光」による測定結果と称す。なお、図中には、比較のため、同一の面発光体１に対して、従来構成の配光測定装置を用いて従来手法で配光測定を行った場合（すなわち光出射面を細分化を経ない場合）の測定結果についても、併せて示している（図中における白丸印のライン参照）。以下、これを「大型配光」による測定結果と称す。
また、図６（ａ）は測定距離補正および測光面積補正を行わなかった場合の測定結果を示しており、図６（ｂ）は測定距離補正および測光面積補正を行った場合の小型配光の測定結果を示している。

図６（ａ）において、小型配光の測定結果と大型配光の測定結果とのズレに着目すると、測定鉛直角θが０°〜６０°の範囲ではズレ量が小さいが、それより広角の範囲ではズレ量が３０％を超える程度に大きくなっていることがわかる（図中における三角印のライン参照）。
これに対して、図６（ｂ）では、測定距離補正および測光面積補正を行った結果、測定鉛直角θが０°〜６０°の範囲ではズレ量が２％以内に収まっていることに加えて、それよりも広角の範囲についても±１０％程度に収まっていることがわかる。
つまり、測定距離補正および測光面積補正を行うことで、小型配光の測定結果（すなわち、本実施形態で得られる配光測定の測定結果）については、大型配光の測定結果（すなわち、光出射面の最大寸法の５倍以上の測光距離を確保した従来手法による配光測定の測定結果）と同様に、配光分布の測定が正しく行われていると言える。

（開口部のサイズ最適化）
ところで、配光測定装置では、上述したように、面発光体１の光出射面を細分化して得られる各部分領域について、配光測定のための一連の処理を繰り返し行う。そのため、面発光体１の光出射面を限りなく小さく細分化すると、測光距離を小さくすることが可能となる一方で、繰り返し回数の増加による処理時間の長時間化を招いてしまう。また、面発光体１の光出射面を限りなく小さく細分化すると、開口部２２の縁部分での迷光の影響が大きくなってしまうことが予想される。
このことから、開口部２２のサイズについては、以下のように設定することが考えられる。

図７は、開口部サイズを変化させた場合の配光測定結果の一具体例を示す説明図である。
図例は、光出射面が１．０×０．２ｍのランバーシアン配光の面発光体に対して、被測定方向水平角度を当該光出射面の長軸方向に沿った断面方向とし、測光距離を０．６ｍとした条件にて、正方形状の開口部２２の一辺のサイズを変化させつつ配光測定を行った場合の測定結果を示している。なお、図例では、当該測定結果を、当該面発光体の光出射面の全領域を点光源と見做せる条件にて配光測定を行った場合とのズレ量によって示している。
図例によれば、開口部サイズが８５ｍｍである場合には、点光源と見做せる条件での測定結果に対して、ズレ量が測定角度０°方向で０．５％程度であることがわかる。つまり、面発光体の光出射面を細分化したときの一辺の長さが８５ｍｍであれば、実用上問題が無く、当該細分化を経ても配光測定を精度良く行うことが実現可能と言える。これに対して、開口部サイズが１５０ｍｍまで大きくなると、点光源と見做せる条件での測定結果に対するズレ量は測定角度０°方向で１．５％程度となり、その影響が大きいことがわかる。
したがって、図例の場合には、開口部サイズが８５ｍｍであることが望ましい。開口部サイズが８５ｍｍであると、これによって画定される部分領域の対角線の長さは１２０ｍｍ程度となるので、測光距離が当該部分領域の最大寸法の５倍程に相当することになる。

つまり、開口部２２のサイズについては、配光測定装置に許容される最大の測光距離を考慮しつつ、その測光距離の１／５程度に設定することが、配光測定を精度良く行うことを実現可能としつつ、当該配光測定のための繰り返し処理を効率よく行う上では、非常に望ましいと言える。

＜３．本実施形態の効果＞
本実施形態で説明した配光測定装置および配光測定方法によれば、以下のような効果が得られる。

本実施形態においては、面発光体１の配光測定にあたり、その面発光体１の光出射面の全領域を複数の部分領域に細分化した上で、ある部分領域からの出射光のみを取り出して、取り出した出射光を受光部３０の各受光器３１が部分領域のサイズに対応して規定された測光距離の位置で受光する。そして、各受光器３１での受光結果に基づき、各部分領域についての受光結果を全領域分積算することで、面発光体１の光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求め、当該配光分布の測定結果とする。
したがって、本実施形態によれば、測光距離が細分化後の部分領域のサイズを基準として規定されるので、面発光体１の光出射面の全領域のサイズに対応させる場合に比べると、当該測光距離が小さくて済む。つまり、配光測定の対象となる面発光体１の光出射面が大型化する傾向にあっても、これに伴ってその配光測定に用いる配光測定装置が大型化してしまうのを回避することが可能となる。具体的には、配光測定装置の大きさが、従来は例えば１０（Ｌ）×４（Ｗ）×５（Ｈ）ｍであったのに対して、本実施形態においては例えば１．６（Ｌ）×１．６（Ｗ）×１．６（Ｈ）ｍに収めることが可能となる。これにより、従来に比べると配光測定装置を収容する暗室スペース等の小型化を実現することができ、大スペースの確保ができない小規模の企業や研究所等であっても当該配光測定装置を容易に導入できるようになる。
しかも、本実施形態によれば、配光測定装置の小型化を実現しつつも、部分領域への細分化によって当該部分領域の最大寸法の５倍以上の測光距離を確保し得るので、面発光体１に対する配光分布の測定を正しく行うことができる。つまり、部分領域を点光源と見做せるようにして、各受光器３１に対して垂直に入射する光の成分を増やし、斜め方向から入射する光の成分が増えてしまうのを抑制するので、面発光体１からの出射光による照度の検出を精度良く行いつつ、その検出結果を光度に正しく換算することが可能となり、その結果として配光測定を正しく行えるのである。
これらのことは、特に、配光測定の対象が面発光体１である場合に、非常に有効であると言える。なぜならば、近年、面発光体１についての配光測定のニーズが高まりつつある一方で、有機ＥＬや導光板などを利用した面発光ＬＥＤ等の面発光体１については光出射面の大面積化が進むことが予想されるが、その場合であっても本実施形態で説明した配光測定であれば、当該測定を精度良く行うことを可能にしつつ、当該測定を行う配光測定装置の大型化を回避し得るからである。

また、本実施形態においては、面発光体１の光出射面に対する細分化を、開口部２２を有した遮蔽板２１によって行う。つまり、遮蔽板２１に設けられた開口部２２を利用して、部分領域からの出射光のみを取り出すようになっている。
したがって、本実施形態によれば、光出射面の細分化による一部の部分領域のみからの出射光の取り出しを非常に簡素な構成によって行うことができ、複雑な構成を要する場合に比べると配光測定装置の小型化や低コスト化等の実現が容易化する。
また、本実施形態によれば、非常に簡素な構成によって細分化後の部分領域が画定されるので、その部分領域の形状または大きさの変更にも容易に対応し得るようになる。

また、本実施形態においては、ステージ部４０が遮蔽板２１における開口部２２と光源取付部１０上に配置固定された面発光体１との相対位置を移動させる。つまり、面発光体１は、開口部２２および当該開口部２２を通して見える各受光器３１に対する水平方向の相対位置が、任意に可変され得るようになる。
したがって、本実施形態によれば、面発光体１の光出射面上のどの位置についても、その位置を部分領域とすることができる。換言すると、面発光体１の光出射面の細分化にあたり、その細分化後の部分領域の光出射面上における位置を任意に設定し得るようになる。

また、本実施形態においては、ステージ部４０による相対位置移動を利用して、面発光体１の光出射面の全領域を構成する複数の部分領域のそれぞれからの出射光を順次各受光器３１に受光させ、各部分領域についての受光結果を演算部５１が積算することで、面発光体１の光出射面の全領域からの出射光の配光分布を求める。
したがって、本実施形態によれば、面発光体１の光出射面を細分化しても、当該光出射面の全領域について配光分布を測定することが可能になるので、例えば特定の部分領域についての受光結果から全領域分を類推算出する場合に比べると、最終的な配光測定結果の高精度化が図れる。
なお、このようにステージ部４０による相対位置移動を利用する場合には、遮蔽板２１における開口部２２の形状が矩形状であることが望ましい。矩形状であれば、面発光体１の光出射面の全領域を網羅するような相対位置移動を容易に行うことができ、そのためのステージ部４０に対する制御指示等の簡便化も可能となるからである。

また、本実施形態においては、演算部５１が測定距離補正および測光面積補正を行うので、面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間の隙間が生じてしまう場合であっても、その隙間を考慮しつつ配光測定を行うことになる。
したがって、本実施形態によれば、面発光体１の光出射面を細分化するために、面発光体１の光出射面と遮蔽板２１との間の隙間が生じてしまう場合であっても、細分化を経ない従来手法による配光測定の測定結果と同様に、配光分布の測定を正しく行うことが可能となり（例えば図６参照）、この点によっても最終的な配光測定結果の高精度化が図れる。
なお、本実施形態では、測定距離補正および測光面積補正の両方を行う場合を例に挙げているが、いずれか一方の補正だけを行うようにしてもよく、その場合であって当該補正を全く行わない場合に比べると、最終的な配光測定結果の高精度化が図れるようになる。

また、本実施形態においては、円弧状のアーム部３２上に並んで配置された複数の受光器３１が面発光体１からの出射光を受光する。
したがって、本実施形態によれば、各受光器３１が並行的に出射光を受光するので、その受光を効率的に行うことができ、配光測定に要する時間の短縮化が図れるようになる。なお、受光器３１は、その配置数が多ければ多いほど、配光測定の分解能が向上する。一方、その配置数が少なければ少ないほど、各受光器３１での受光結果に対する処理負荷が軽減されることになる。そのため、これらを比較衡量して、本実施形態で説明したように鉛直方向を０°とした場合の±８５°の範囲に５°ピッチで各受光器３１を配置することが考えられる。

また、本実施形態においては、複数の受光器３１が円弧状のアーム部３２上に均等ピッチで配置されている。
したがって、本実施形態によれば、各受光器３１での受光結果をそのまま極座標上にプロットすれば極座標表示の配光曲線を作成できるので、配光分布の測定結果を極座標表示の配光曲線で表すのに非常に好適なものとなる。

＜４．本発明の他の実施形態＞
以上に本発明の一実施形態を説明したが、上記の開示内容は、本発明の例示的な実施形態を示すものである。すなわち、本発明の技術的範囲は、上記の例示的な実施形態に限定されるものではない。

例えば、上記の実施形態においては、面発光体１の光出射面の全領域を構成する全ての部分領域について、それぞれからの出射光の受光結果を積算して最終的な配光測定結果を得る場合を例に挙げているが、本発明は、必ずしも全ての部分領域についての処理を要することはなく、一部の部分領域についての出射光の受光結果に基づき、面発光体１の光出射面の全領域についての配光分布を演算して求めるようにしてもよい。具体的には、ある特定の部分領域についての受光結果から、その部分領域と光出射面の全領域との面積比等を考慮しつつ、当該全領域分を類推算出することで、最終的な配光測定結果を得るようにすることが考えられる。その場合に、ある特定の部分領域は、光出射面の全領域を構成する各部分領域のうちの一つ（例えば光出射面の中央付近に位置する領域）であってもよいし、特徴的な複数（例えば、光出射面の中央付近に位置する領域と、光出射面の周縁付近に位置する領域との組み合わせ）であってもよい。

また、上記の実施形態においては、ステージ部４０が遮蔽板２１の開口部２２と面発光体１との相対位置を移動させる場合を例に挙げたが、上述したように一つの部分領域についての受光結果を基に全領域分の最終的な配光測定結果を得る場合であれば、両者の間の相対位置移動が必須ではなくなるので、その場合にはステージ部４０を備えなくとも構わない。
さらに、ステージ部４０による相対位置移動を行う場合についても、光源取付部１０および面発光体１の側を移動させるのではなく、遮蔽板２１の開口部２２および各受光器３１の側を移動させるようにすることも考えられる。

また、上記の実施形態においては、アーム部３２上に複数の受光器３１が均等ピッチで配置される場合を例に挙げたが、本発明は必ずしもこれに限定されるものではない。例えば、複数の受光器３１が不均等ピッチで配置されていてもよく、またアーム部３２に沿って移動可能であれば複数ではなく単数の受光器３１のみが配置されていてもよい。これらの場合であっても、受光器３１での受光結果を基に最終的な配光測定結果を得ることは実現可能である。

また、上記の実施形態においては、本発明の把握を容易化するために、面発光体１や開口部２２等のサイズ、測光距離の大きさ、各受光器３１の配置角度等について具体的な数値を挙げているが、これらの数値は単なる例示に過ぎず、本発明がこれらの数値に限定されないことは勿論である。

１…面発光体、２…光出射面、３…出射光、４…部分領域、１０…光源取付部、２０…抽出部、２１…遮蔽板、２２…開口部、３０…受光部、３１…受光器、３２…アーム部、３３…回転駆動部、４０…ステージ部、５０…コンピュータ部、５１…演算部、５２…制御部

Claims (10)

1. 面発光体の配光分布を測定する配光測定装置であって、
   前記面発光体の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出部と、
   前記抽出部が取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光部と、
   前記受光部での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算部と、
   を備えることを特徴とする配光測定装置。
2. 前記抽出部は、
   前記部分領域を画定する形状および大きさの開口部が設けられ、当該部分領域以外の他部領域を覆うように前記面発光体の光出射面側に配される遮蔽板
   を有して構成されることを特徴とする請求項１記載の配光測定装置。
3. 前記遮蔽板における前記開口部と前記面発光体との相対位置を移動させるステージ部
   を備えることを特徴とする請求項２記載の配光測定装置。
4. 前記ステージ部による相対位置移動を利用して前記光出射面の全領域を構成する複数の前記部分領域のそれぞれからの出射光を前記受光部に受光させ、各部分領域についての受光結果を前記演算部に積算させて当該全領域からの出射光の配光分布を求めるように、前記ステージ部、前記受光部および前記演算部に対する動作指示を与える制御部
   を備えることを特徴とする請求項３記載の配光測定装置。
5. 前記演算部は、前記演算にあたり、前記光出射面と前記遮蔽板との間隙距離に基づく測定距離補正を行う
   ことを特徴とする請求項２から４のいずれか１項に記載の配光測定装置。
6. 前記演算部は、前記演算にあたり、前記光出射面と前記遮蔽板との間隙距離に基づく測光面積補正を行う
   ことを特徴とする請求項２から５のいずれか１項に記載の配光測定装置。
7. 前記受光部は、
   前記部分領域のサイズに対応して規定される距離を半径とする円弧上に並んで配置された複数の受光器
   を有して構成されることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の配光測定装置。
8. 前記複数の受光器は、前記円弧上に均等ピッチで配置されている
   ことを特徴とする請求項７記載の配光測定装置。
9. 面発光体の配光分布を測定する配光測定方法であって、
   前記面発光体の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出工程と、
   前記抽出工程で取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光工程と、
   前記受光工程での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算工程と、
   を備えることを特徴とする配光測定方法。
10. 前記光出射面の全領域を構成する複数の前記部分領域のそれぞれについて前記抽出工程および前記受光工程を順次行い、
    各部分領域についての受光結果を得たら当該受光結果を前記演算工程で積算して前記全領域からの出射光の配光分布を求める
    ことを特徴とする請求項９記載の配光測定方法。