JP2014533893A - 電子デバイス構造を提供する方法および関連する電子デバイス構造 - Google Patents
電子デバイス構造を提供する方法および関連する電子デバイス構造 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014533893A JP2014533893A JP2014543621A JP2014543621A JP2014533893A JP 2014533893 A JP2014533893 A JP 2014533893A JP 2014543621 A JP2014543621 A JP 2014543621A JP 2014543621 A JP2014543621 A JP 2014543621A JP 2014533893 A JP2014533893 A JP 2014533893A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- adhesive
- flexible substrate
- durability
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/007—Manufacture or processing of a substrate for a printed circuit board supported by a temporary or sacrificial carrier
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/02—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by a sequence of laminating steps, e.g. by adding new layers at consecutive laminating stations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/12—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by using adhesives
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B2309/00—Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
- B32B2309/08—Dimensions, e.g. volume
- B32B2309/10—Dimensions, e.g. volume linear, e.g. length, distance, width
- B32B2309/105—Thickness
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B2457/00—Electrical equipment
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0393—Flexible materials
Abstract
いくつかの実施形態は、電子デバイス構造を提供する方法を含む。関連する方法および電子デバイス構造に対する他の実施形態も開示される。
Description
(連邦政府後援の研究または開発に関する声明)
本発明は、W911NF−04−2−0005の下で米陸軍研究局(Army Research Office)によって与えられた政府支援によりなされた。政府は、本発明において一定の権利を有する。
本発明は、W911NF−04−2−0005の下で米陸軍研究局(Army Research Office)によって与えられた政府支援によりなされた。政府は、本発明において一定の権利を有する。
(関連出願の相互参照)
本出願は、2011年11月29日出願の米国仮特許出願第61/564,535号明細書の利益を主張する。
本出願は、2011年11月29日出願の米国仮特許出願第61/564,535号明細書の利益を主張する。
さらに、本出願は、2011年5月27日出願の米国特許出願第13/118,225号明細書の一部継続出願である。米国非仮特許出願第13/118,225号明細書は、2009年12月1日出願の国際出願第PCT/米国特許出願公開第2009/066259号明細書の継続出願である。国際出願第PCT/米国特許出願公開第2009/066259号明細書は、(a)2009年7月30日出願の米国仮特許出願第61/230,051号明細書、(b)2009年5月29日に出願の米国仮特許出願第61/182,464号明細書、および(c)2008年12月2日出願の米国仮特許出願第61/119,217号明細書の利益を主張する。
米国仮特許出願第61/564,535号明細書、米国特許出願第13/118,225号明細書、国際出願第PCT/米国特許出願公開第2009/066259号明細書、米国仮特許出願第61/230,051号明細書、米国仮特許出願61/182,464号明細書、および米国仮特許出願61/119,217号明細書は、その全体が参照により本明細書に組込まれる。
本発明は、概して電子デバイス構造を提供する方法に関し、さらに詳細にはフレキシブル基板をリジッド基板から結合および分離をするための方法、および関連する方法、ならびに電子デバイス構造に関する。
フレキシブルな電子デバイスは、リジットな電子デバイスが用いられ得ない様々な方法において用いられ得るが、フレキシブルな電子デバイスを製造することは、困難なおよび/または費用のかかるものであり得る。しかしながら、リジットな電子デバイス製造のための従来の装置および/または技法を用いて電子デバイスがフレキシブル基板上に製造することができるように、フレキシブル基板をリジッド基板に結合することによって、フレキシブルな電子デバイスを製造する困難および/または費用を低減することができる。したがって、電子デバイスを製造した後にフレキシブル基板をリジッド基板から分離する方法に対しては、ならびに、それに関連する方法および電子デバイス構造に対しては必要性または利益になる可能性が存在する。
後続の実施形態の記述を容易にするために、以下の図面が提供される。
図解の簡潔性および明瞭性のために、図面は、構築の一般的な方法を示し、また、周知の特徴および技法の記述および詳細は、本発明を不必要にわかりにくくすることを避けるために省略することがある。加えて、図面中の要素は必ずしも一定の縮尺で描かれていない。例えば、本発明の実施例をよりよく理解できるように、図中のいくつかの要素の寸法は、他の要素に比べて誇張される場合がある。異なる図中の同一の参照番号は、同一の要素を表わす。
用語「第1の」、「第2の」、「第3の」、「第4の」および同種のものは、明細書および請求の範囲において、もしあれば、類似の要素を区別するために用いられ、必ずしも特定の連続的な順序または時間的な順序を記述するために用いられているのではない。そのように用いられた用語は、本明細書に記載された実施形態が例えば図示される、または他に本明細書において記述される順序以外の順序で実施可能であるような適切な状況の下で、交換可能であることが理解されるべきである。さらに、用語「含む」および「有する」ならびにそれらのいずれの変化形も、排他的でない包含を対象とするように意図されており、それは、要素のリストを含むプロセス、方法、システム、物品、デバイス、または装置が、必ずしもそれらの要素に限定されず、明示的にリストに記載されていない他の要素、またはそのようなプロセス、方法、システム、物品、デバイス、または装置に固有でない他の要素を含み得るような排他的でない包含である。
用語「左」「右」、「前」、「後」、「上部」、「底部」、「の上に」「の下に」および同種のものは、明細書および請求の範囲において、もしあれば、便宜的に用いられており、必ずしも不変の相対的な位置を記述するために用いられているわけではない。そのように用いられた用語は、本明細書に記載された実施形態が例えば図示される、または他に本明細書において記述される方向以外の方向で実施可能であるような適切な状況の下で交換可能であることが理解されるべきである。
用語「結合する」、「結合された」「結合」、「結合すること」および同種のものは、広く解釈されるべきであり、2つ以上の要素または信号を電気的に、機械的に、および/または、他の方法で接続することを意味する。2つ以上の電気的な要素が電気的に相互に結合されるが、機械的にまたは他の方法では相互に結合されない場合があり;2つ以上の機械的な要素が機械的に相互に結合されるが、電気的にまたは他の方法では相互に結合されない場合があり;2つ以上の電気的な要素が機械的に相互に結合されるが、電気的にまたは他の方法で相互に結合されない場合がある。結合は、時間が任意の期間であってもよく、例えば、永久的もしくは半永久的、またはほんの瞬間的であってもよい。
「電気的結合」および同種のものは、広く解釈されるべきであり、電力信号、データ信号、および/もしくは、他の種類、または電気的信号の組合せであろうと、あらゆる電気的信号を含む結合を含む。「機械的結合」および同種のものは、広く解釈されるべきであり、すべての種類の機械的結合を含む。
「結合された」という言葉および同種のものの近くに、「取外し可能に」、「取外し可能な」という言葉、および同種のものがないからといって、当該の結合などが、取外し可能である、または、可能でないということを意味するものではない。
本明細書で使用するとき用語「CTE合致材料」は、基準の材料の熱膨張率(coefficient of thermal expansion:CTE)から約20パーセント(%)未満で異なるCTEを有する材料を意味する。いくつかの実施形態において、CTEは、約10%、約5%、約3%または約1%未満で異なる。
いくつかの実施形態は、1つまたは複数の電子デバイスを提供する方法を含む。この方法は、キャリア基板を提供する工程と、第1の中間基板表面および第1の中間基板表面の反対側にある第2の中間基板表面を含む中間基板を提供する工程と、第1のフレキシブル基板表面および第1のフレキシブル基板表面の反対側にある第2のフレキシブル基板表面を含むフレキシブル基板を提供する工程と、第1の中間基板表面を、第1の接着剤を用いてキャリア基板に結合する工程と、第2の中間基板表面を、第2の接着剤を用いて第1のフレキシブル基板表面に結合する工程と、を含み得る。
様々な実施形態は、1つまたは複数の電子デバイスを提供する方法を含む。この方法は、キャリア基板を提供する工程と、フレキシブル基板を提供する工程と、フレキシブル基板をキャリア基板に結合するためにキャリア基板とフレキシブル基板との間に耐久性強化(ruggedization)薄膜を置く工程と、を含み得る。耐久性強化薄膜は、フレキシブル基板がキャリア基板から分離される場合、フレキシブル基板に形成された応力を実質的に取り除くように構成することができる。
さらなる実施形態は、電子デバイス構造を含む。電子デバイス構造は、中間基板を含む。基板は、第1の中間基板表面および第1の中間基板表面の反対側にある第2の中間基板表面を含む。一方、第1の中間基板表面は、第1の接着剤によってキャリア基板に結合されるように構成することができる。電子デバイス構造は、フレキシブル基板をさらに含む。フレキシブル基板は、第1のフレキシブル基板表面および第1のフレキシブル基板表面の反対側にある第2のフレキシブル基板表面を含む。第1のフレキシブル基板表面は、第2の接着剤によって第2の中間基板表面に結合されるように構成することができ、また、第1の中間基板表面がキャリア基板に結合される場合、さらに、第1のフレキシブル基板表面が第2の中間基板表面に結合される場合、第2のフレキシブル基板表面は、1つまたは複数の電子デバイスが第2のフレキシブル基板表面の上に形成されることができるように構成することができる。
図1は、1つまたは複数の電子デバイスを提供する方法100の一実施形態に対するフローチャートを示す。方法100は、単に例示的であり、本明細書において示される実施形態に限定されない。方法100は、本明細書に具体的に描写または記述されていない、多数の異なる実施形態または実施例において用いることができる。いくつかの実施形態において、方法100の手順、プロセス、および/または、作業は、示された順序で実行することができる。別の実施形態において、方法100の手順、プロセス、および/または、作業は、他のいかなる適切な順序でも実行することができる。さらに別の実施形態において、1つまたは複数の、方法100の手順、プロセス、および/または、作業は組み合わせるか省略することができる。
図1を参照して、方法100は、キャリア基板を提供する手順101を含む。キャリア基板は、ウエハーまたはパネルであり得る。したがって、キャリア基板は、第1のキャリア基板表面および第1のキャリア基板表面の反対側にある第2のキャリア基板表面を含む。キャリア基板は、あらゆる適切な形状(例えば円形、長方形、正方形、他のあらゆる適切な多角形など)を含むことができる。同様に、キャリア基板は、場合に応じてあらゆる適切な寸法(例えば、直径、厚さ、長さ、幅など)も含むことができる。例えば、キャリア基板が円形の場合には、キャリア基板は、およそ、25ミリメートル、51ミリメートル、76ミリメートル、130ミリメートル、150ミリメートル、200ミリメートル、300ミリメートル、450ミリメートルなどの直径を含むことができる、これらの実施例において、キャリア基板は、約0.3ミリメートル以上、かつ、約1.5ミリメートル以下の厚さを含むこともできる。一方、別の実施例において、キャリア基板が長方形の場合には、キャリア基板は、幅および長さとして、370ミリメートル×470ミリメートル、550ミリメートル×650ミリメートル、1500ミリメートル×1800ミリメートル、2160ミリメートル×2400ミリメートル、2880ミリメートル×3130ミリメートルなどを含むことができ、また、キャリア基板が正方形の場合には、キャリア基板は、幅および長さとして、150ミリメートル×150ミリメートル、200ミリメートル×200ミリメートル、300ミリメートル×300ミリメートルなどを含むことができる。これらの実施例において、キャリア基板は、約0.3ミリメートル以下、および約2.0ミリメートル以下の厚さを含むことができる。図2は、図1の実施形態に従って、キャリア基板を提供する例示的な手順101を示す。
図2を参照して、手順101は、フレキシブル基板にCTEを合致させたキャリア基板材料を用いてキャリア基板を提供するプロセス201を含むことができ、フレキシブル基板については方法100(図1)の手順103(図1)に関して後述する。例えば、キャリア基板材料は、アルミナ、シリコン、鋼、サファイア、バリウムホウケイ酸塩、ソーダ石灰ケイ酸塩、アルカリケイ酸塩、または任意の他のCTEが適切に合致する材料を含むことができる。様々なより具体的な実施例において、キャリア基板は、約0.7mmと約1.1mmとの間の厚さを有するサファイアを含むことができる。キャリア基板は、約0.7mmと約1.1mmとの間の厚さを有する96%アルミナを含むこともできる。異なる実施形態において、96%アルミナの厚さは約2.0mmである。他の実施例において、キャリア基板は、少なくとも約0.65mmの厚さを有する単結晶シリコンウエハーであり得る。さらなる実施形態において、キャリア基板は、少なくとも約0.5mmの厚さを有するステンレス鋼を含むことができる。これらの実施形態または別の実施形態において、キャリア基板は、任意の別の適切な厚さも含むことができる。
多くの実施形態において、手順101は、キャリア基板を処理するプロセス202を含むこともできる。多くの実施形態において、プロセス202は、手順106を実行する前に実行することができる。図3は、図1の実施形態に従って、キャリア基板を処理する例示的なプロセス202を示す。
いくつかの実施形態において、手順101の実行は、キャリア基板が第1の接着剤を例えば第1のキャリア基板表面などに含む場合のキャリア基板を提供するプロセスを含むこともできる。これらの実施形態において、プロセス202は、省略することができる(キャリア基板は、接着剤がそれに施される前に、処理しておくことが依然として可能であるが)。
図3を参照して、プロセス202は、キャリア基板を洗浄する作業301を含むことができる。作業301の実行は、音波浴(例えば、メガソニック浴、超音波浴など)の中でキャリア基板を洗浄する工程を含むことができる。同じ実施形態または別の実施形態において、作業301の実行は、界面活性剤溶液でキャリア基板を洗浄する工程を含むこともできる。例えば、界面活性剤は、Alconox of White Plains,New Yorkからの商標「Detergent 8(登録商標)」による市販の界面活性剤の5体積パーセントで構成された溶液であり得る。しかしながら、界面活性剤は、例えばDetergent 8(登録商標)ブランドに類似する特性を有する界面活性剤などの任意の他の適切な界面活性剤でもあってもよい。界面活性剤溶液でキャリア基板を洗浄した後、半導体デバイスは、脱イオン水ですすぎ、乾燥することができる。いくつかの実施例において、そのすすぎは高速ダンプ式すすぎ機において実行することができる。これらの実施例または別の実施例において、乾燥は、例えばキャリア基板が円形である場合などで、回転すすぎ乾燥機において実行することができる。さらに別の実施例において、乾燥は、キャリア基板のイソプロピルアルコール蒸気乾燥、および/または、空気乾燥で実行することができる。
一方、プロセス202は、例えば、酸素(O2)プラズマでキャリア基板を灰化することなどによってキャリア基板をエッチングする作業302を含むこともできる。したがって、いくつかの実施例において、作業302は、Tegal Corporation of Petaluma,Californiaによって製造されたTegal 965 asher、またはキャリア基板を灰化するための他の適切なデバイスの中でキャリア基板を灰化することによりキャリア基板をエッチングする工程を含むことができる。キャリア基板を灰化するためのデバイスは、約250ワット(または約200〜300ワット)の電力レベルで操作することができる。一方、作業302は、約0.16キロパスカル(または約0.1〜0.2キロパスカル)の圧力、および/または、約30分(または約15〜45分)の時間で実行することができる。
図面を参照して、図4は、図1の実施形態に従って、キャリア基板401を提供した後の、例示的な電子デバイス構造400の部分的な断面図を示す。したがって、キャリア基板401は、方法100(図1)の手順101に関して上述のキャリア基板に類似または同一であり得る。電子デバイス構造400は、キャリア基板400を含むことができる。
図1に戻って、方法100は、中間基板を提供する手順102を含むことができる。中間基板は、第1の中間基板表面、および第1の中間基板表面の反対側にある第2の中間基板表面を含む。第1の中間基板表面は、第1の接着剤によってキャリア基板に結合されるように構成することができる。いくつかの実施形態において、中間基板は、耐久性強化薄膜と呼ぶことができる。図5は、図1の実施形態に従って、中間基板を提供する例示的な手順102を示す。
図5を参照して、手順102は、中間基板材料を有する中間基板を提供するプロセス501を含むことができる。多くの実施形態において、中間基板材料は、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルサルフォン、ポリイミド、ポリカーボネート、環式オレフィン共重合体、液晶ポリマー、任意の他の適切な高分子材料、アルミ箔、マイラなどを含むことができる。別の実施形態において、中間基板材料は、テープ(例えば、両面テープ)を含むことができ、それは後述の通り中間基板材料が第1の接着剤および/または第2の接着剤を含む場合などである。
手順102は、例えば、Yamato Scientific America,Inc.of Santa Clara,Californiaによって製造された、Yamato oven、または中間基板をベーキングするための他の適切なデバイスなどにより、中間基板を損傷することなく中間基板をベーキングするプロセス502を含むこともできる。プロセス502は、予備ベーキング条件で実行することができる。予備ベーキング状況は、予備ベーキング温度、予備ベーキング圧力、および/または、予備ベーキング時間含むことができる。例えば、予備ベーキング温度は、約200℃であり得る。一方、予備ベーキング圧力は、約0.004キロパスカル(または約0〜0.010キロパスカル)であり得る。さらに、予備ベーキング時間は約1時間であり得る。様々な実施形態において、プロセス502の実行は、中間基板のベーキングに先立って、第1の中間基板表面および第2の中間基板表面をイオン含有送風機に約10秒間以上露出する作業を含み得る。いくつかの実施形態において、プロセス502は省略することができる。
手順102は、中間基板を切断するプロセス503をさらに含むことができる。多くの実施形態において、プロセス503の実行は、キャリア基板および/またはフレキシブル基板に基づいて中間基板をある大きさに形成することを含み得る。例えば、プロセス503の実行は、中間基板の周囲が、キャリア基板の周囲から約1.5ミリメートル以上または2ミリメートル以上など(または約1〜5ミリメートル)で、偏差があるように(例えば、少なくとも1つの横方向の寸法においてより小さいように)中間基板を切断すること(例えば、ある大きさに形成すること)を含み得る。同様に、プロセス503の実行は、中間基板の周囲で偏差がある(例えば、少なくとも1つの横方向の寸法においてフレキシブル基板の周囲より大きい)ように中間基板を切断する(例えば、ある大きさに形成すること)ことを含むこともできる。この方式でプロセス503を実行することは、手順112(図1)、および/または、方法100(図1)の後の手順113(図1)の実行に対して、手順112、および/または、手順113の実行により形成された応力を分散することによって助けになり得る。いくつかの実施形態において、プロセス503は、中間基板503があらかじめある大きさに形成されている場合などでは省略することができる。
いくつかの実施形態において、手順102は、第1の中間基板表面が第1の接着剤を含む場合(例えば、中間基板がテープを含む場合)の中間基板を提供するプロセスを含むこともできる。これらの実施形態において、プロセス502および/またはプロセス503は省略することができる。さらなる実施形態において、このプロセスは省略することができる。
一方、同一または別の実施形態において、手順102は、第2の中間基板表面が第2の接着剤を含む場合(例えば、中間基板が例えば両面テープなどのテープを含む場合)の中間基板を提供するプロセスを含むこともできる。これらの実施形態において、プロセス502および/またはプロセス503を省略することもできる。同様に多くの実施形態において、このプロセスは、手順101(図1)に関して記述されたように第1の中間基板表面が第1の接着剤を含む場合の中間基板を提供するプロセスと同様に省略することができる。
再び図1に戻り参照すると、方法100は、フレキシブル基板を提供する手順103を含むことができる。本明細書で使用するとき用語「フレキシブル基板」は、容易にその形状を適応させるフレキシブルな材料を含む、自立型の基板を意味する。いくつかの実施形態において、フレキシブル基板は、低い弾性係数を含み得る。例えば、低い弾性係数とは、約5ギガパスカル未満の弾性係数と考えることができる。
フレキシブル基板は、第1のフレキシブル基板表面および第1のフレキシブル基板表面の反対側にある第2のフレキシブル基板表面を含む。第1のフレキシブル基板表面は、第2の接着剤によって第2の中間基板表面に結合されるように構成することができる。一方、第2のフレキシブル基板表面は、例えば第1の中間基板表面がキャリア基板に結合される場合、および、第1のフレキシブル基板表面が第2の中間基板表面に結合される場合などに、電子デバイスが、第2のフレキシブル基板表面の上に形成されることができるように構成することができる。
いくつかの実施形態において、手順103の実行は、フレキシブル基板が、直接的にキャリア基板に結合され、またキャリア基板から分離される場合、フレキシブル基板が損傷されるのを防ぐための十分な機械的強さを欠くフレキシブル基板材料をフレキシブル基板が含む場合のフレキシブル基板を提供するプロセスを含み得る。
一方、手順101および/または手順102に関して上述と同様に、いくつかの実施形態において、手順103の実行は、第1のフレキシブル基板表面が第2の接着剤を含む場合のフレキシブル基板を提供するプロセスを含み得る。別の実施形態において、このプロセスは同様に省略することができる。
多くの実施形態において、手順103は、フレキシブル基板を処理するプロセスを含むことができる。そのプロセスは、キャリア基板のためのプロセス202(図2)を実行することに類似または同一であり得る。多くの実施例において、このプロセスとプロセス202(図2)は互いに対してほぼ同時に実行することができ、および/または、このプロセスは、プロセス202の一部分として実行することができる。
一方、方法100は、第1の接着剤を提供する手順104を含むことができる。様々な実施形態において、手順104を実行する工程は、第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面に第1の接着剤を施す工程、および/または、堆積させる工程を含み得る。一般に、手順104は、第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面が第1の接着剤を含まない場合、実行することができる。手順104を実行する工程は、第1の接着剤を施し、および/または、堆積させるのに任意の適切な技法(例えば、スピンコーティング、スプレーコーティング、押し出しコーティング、プレフォーム積層法、スロットダイコーティング、スクリーン積層法、およびスクリーン印刷など)に従って、第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面に第1の接着剤を施す工程、および/または堆積させる工程を含み得る。例えば、プロセス104を実行する工程は、第1の接着剤を第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面に、毎分約1000回転の回転速度で約25秒間、および/または、毎分約3500回転の回転速度で約20秒間スピンコーティングすることによって、第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面に第1の接着剤を施す工程、および/または、堆積させる工程を含み得る。いくつかの実施形態において、手順104は、第1のキャリア基板表面および/または第1の中間基板表面が第1の接着剤を既に含む場合などでは省略することができる。
図面を先に進むと、図6は、図1の実施形態に従って、キャリア基板401(図4)の第1のキャリア基板表面603に第1の接着剤602を施し、および/または、堆積させた後の電子デバイス構造400(図4)の部分的な断面図を示す。第1の接着剤602は、方法100(図1)の手順104(図1)に関して上述の第1の接着剤に類似または同一であり得る。一方、第1のキャリア基板表面603は、方法100(図1)の手順101(図1)に関して上述の第1のキャリア基板表面に類似または同一であり得る。電子デバイス構造400(図4)は、第1の接着剤602を含むことができ、また、キャリア基板401(図4)は第1のキャリア基板表面603を含むことができる。
図1に再び戻って、方法100は、第2の接着剤を提供する手順105を含むことができる。様々な実施形態において、手順105を実行する工程は、第1の接着剤に対して手順104を実行する方式と類似した方式において、第2の接着剤を第2の中間基板表面および/または第1のフレキシブル基板表面に施す工程、および/または、堆積させる工程を含み得る。
様々な実施形態において、手順104および/または手順105は、手順106の一部分として実行することができる。例えば、手順104は、プロセス701およびプロセス702の実行に先立って実行することができ、また、手順105は、プロセス701の後であるがプロセス702には先立って実行することができる。異なる実施例において、手順104は、プロセス701に先立って、かつプロセス702の後に実行することができ、一方、手順105は、プロセス701およびプロセス702の両方に先立って実行することができる。さらに別の実施例において、プロセス701およびプロセス702が互いに対してほぼ同時に実行される場合などに、手順104および手順105は、手順106の実行に先立って実行することができる。
いくつかの実施形態において、第1の接着剤および第2の接着剤は、同一の接着性の材料を含むことができ、また、別の実施形態において、第1の接着剤および第2の接着剤は、異なる接着性の材料を含むことができる。第1の接着剤および/または第2の接着剤は、任意の適切な接着性の材料(例えば、Henkel AG & Company、KGaA of Dusseldorf,Germanyによって製造されたHenkel NS122 adhesive;Henkel AG & Company、KGaA of Dusseldorf,Germanyによって製造されたEccoCoat 3613 adhesiveなど)を含むことができる。これらの実施形態または別の実施形態において、接着性の材料は、熱硬化接着剤、感圧接着剤、紫外線硬化接着剤などを含むことができる、多くの実施形態において、第1の接着剤は、キャリア基板および中間基板の材料特性に応じて選択することができる。同様に、第2の接着剤は、中間基板およびフレキシブル基板の材料特性に応じて選択することができる。例えば、第1の接着剤および/または第2の接着剤は、中間基板が、ポリエチレンナフタレートまたはポリエチレンテレフタレートを含む場合、Henkel NS122 adhesiveを含むことができる。一方、中間基板が、ポリイミドを含む場合には、第1の接着剤および/または第2の接着剤は、EccoCoat 3613 adhesiveを含むことができる。
一方、方法100は、フレキシブル基板をキャリア基板に結合するために、キャリア基板とフレキシブル基板との間に中間基板を置く手順106を含むことができる。いくつかの実施形態において、手順106および/またはプロセス702を実行する工程は、フレキシブル基板を補強するために中間基板をフレキシブル基板に結合する工程を含み得る。図7は、図1の実施形態に従って、フレキシブル基板をキャリア基板に結合するために、キャリア基板とフレキシブル基板との間に中間基板を置く例示的な手順106を示す。
図7を参照して、手順106は、第1の中間基板表面を、第1の接着剤を用いてキャリア基板(例えば、第1のキャリア基板表面)に結合するプロセス701を含むことができる。図8は例示的なプロセス701を示す。
図8を参照して、プロセス701は、第1の中間基板表面または第2の中間基板表面のうちの1つに保護層を提供する作業801を含むことができる。多くの実施形態において、保護層は、テープ(例えば、Semiconductor Equipment Corporation of Moorpark、Californiaによって製造されたBlue Low Tack Squares、製品番号18133−7.50)を含むことができる。多くの実施形態において、作業801を実行する工程は、場合に応じて、第1の中間基板表面または第2の中間基板表面の横方向の表面領域に対応するように保護層をある大きさに形成する工程を含み得る。
作業802を実行する場合、場合に応じて、作業801の実行は、第1の中間基板表面または第2の中間基板表面への損傷および/またはそれらの汚染を防ぐ場合がある。したがって、プロセス701がプロセス702に先立って実行される場合、作業801を実行する工程は、保護層を第2の中間基板表面に提供することを含み得る。別の選択肢として、プロセス701がプロセス702の後に実行される場合、作業801を実行する工程は、保護層を第1の中間基板表面に提供する工程を含み得る。いくつかの実施形態において、作業801は省略することができる。
一方、プロセス701は、任意の適切な貼合わせ装置(例えば、ロールプレス、ブラダープレスなど)を用いて、第1の中間基板表面を第1の接着剤を用いてキャリア基板に接合する作業802で継続することができる。多くの実施形態において、第1の中間基板表面をキャリア基板に対し接合することは、第1の条件で行われ得る。第1の状況は、第1の圧力、第1の温度、および/または、第1の送り速度を含み得る。例えば、第1の圧力は、約0キロパスカル(すなわち真空中)以上で、かつ、約69キロパスカル以下(例えば、中間基板がポリイミドを含む場合)、または別の実施形態において約150キロパスカル以下であってもよい。さらに、第1の送り速度は、分速約0.25メートル以上で、かつ、分速約0.5メートル以下(または分速約0.10〜1.0メートル)であってもよい。一方、第1の温度は、約20℃以上で、かつ、約100℃、160℃、220℃、350℃以下などであってもよい。例えば、第1の温度は、中間基板がポリエチレンナフタレートを含む場合には、約220℃以下(例えば、約100℃)であってもよく、また、中間基板がポリエチレンテレフタレートを含む場合には、約160℃以下(例えば、約100℃)であってもよい。一方、第1の温度は、中間基板がポリイミドを含む場合には、約350℃以下(例えば、約100℃)であってもよい。概して言えば、第1の圧力、および/または、第1の温度は、中間基板の材料特性および/または制約に依存し得る。
いくつかの実施形態において、プロセス701は、第1の中間基板表面または第2の中間基板表面のうちの1つから保護層を除去する作業803を含むこともできる。いくつかの実施形態において、作業803は、例えば作業801が省略される場合などに省略することができる。
図面に戻って、図1の実施形態に従って、図9は、第1の接着剤602(図6)を用いて中間基板905の第1の中間基板表面904をキャリア基板401の第1のキャリア基板表面603(図6)に結合した後の電子デバイス構造400(図4)の部分的な断面図を示す。第1の中間基板表面904および中間基板905は、方法100(図1)の手順102(図1)に関して、第1の中間基板表面および上述の中間基板にそれぞれ類似または同一になり得る。電子デバイス構造400(図4)は、中間基板905を含むことができ、中間基板905は、第1の中間基板表面904を含むことができる。
図7に戻って、手順106は、第2の中間基板表面を、第2の接着剤を用いて第1のフレキシブル基板表面に結合するプロセス702を含むこともできる。図10は例示的なプロセス702を示す。
図10を参照して、プロセス702は、第2のフレキシブル基板表面で保護層を提供する作業1001を含むことができる。保護層は、作業801(図8)に関して上述の保護層に類似または同一であり得る。
プロセス702は、任意の適切な貼合わせ装置(例えば、ロールプレス、ブラダープレスなど)を用いて、第2の中間基板表面を、第2の接着剤を用いて第1のフレキシブル基板表面に接合する作業1002で継続することができる。多くの実施形態において、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面に対し接合することは、第2の条件で行われ得る。第2の条件は、作業802(図8)に関して上述の第1の条件に類似または同一であり得る。したがって、いくつかの実施形態において、第1の条件および第2の条件は同一であり得る。一方、別の実施形態において、第1の条件および第2の条件は異なり得る。例えば、第2の条件は、第2の圧力を含み得て、第2の圧力は、約0キロパスカル(すなわち真空中)以上で、かつ、約128キロパスカル以下(または約150キロパスカル以下)であってもよい。より具体的な実施例において、中間基板がポリイミドを含む場合には、第2の圧力は、約69キロパスカル以下であってもよく、また、中間基板がポリエチレンナフタレートまたはポリエチレンテレフタレートを含む場合には、第2の圧力は、約128キロパスカル以下であってもよい)。
プロセス702は、第1の中間基板表面をキャリア基板に結合した後に、また、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面に結合した後に、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤をエッチングする作業1003をさらに含むことができる。いくつかの実施形態において、作業1003を実行する工程は、Tegal Corporation of Petaluma,Californiaによって製造されたTegal 901 asher、または、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を灰化するための他の適切なデバイスにより、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を灰化する工程を含み得る。作業1003は、約900秒以上の間実行することができる。多くの実施形態において、作業1003を実行することは、第1の接着剤、および/または、第2の接着剤の過剰を除去し得る。
いくつかの実施形態において、作業1003は、プロセス702(図7)の代わりにプロセス701(図7)の部分として実行することができる。例えば、作業1003は、プロセス701が、プロセス702(図7)の後に実行される場合、プロセス701(図7)の部分として実行することができる。さらに、多くの実施形態において、作業1003は、作業1001および作業1002の後に実行することができ、作業1004の前に実行することができる。一方、さらなる実施形態において、作業1003は、手順107(図1)の後に実行することができる。さらに別の実施形態において、中間基板がポリイミドを含む場合などに、作業1003は省略することができる。
いくつかの実施形態において、プロセス702は、第2のフレキシブル基板の保護層を除去する作業1004を含むこともできる。いくつかの実施形態において、プロセス701がプロセス702の後に実行される場合、作業1004は、プロセス701が実行された後に実行することができる。
図面に再び戻って、図11は、図1の実施形態に従って、中間基板905(図9)の第2の中間基板表面1107に第2の接着剤1106を施し、および/または、堆積させた後の、また、中間基板905の第1の中間基板表面904(図9)を、第1の接着剤602(図6)を用いてキャリア基板401の第1のキャリア基板表面603(図6)に結合した後の、電子デバイス構造400(図4)の部分的な断面図を示す。電子デバイス構造400(図4)は、第2の接着剤1106を含むことができ、また、中間基板905(図9)は、第2の中間基板表面1107を含むことができる。
一方、図12は、図1の実施形態に従って、第2の中間基板表面1107(図11)を、第2の接着剤1106(図11)を用いてフレキシブル基板1209の第1のフレキシブル基板表面1208に結合した後の、第2の接着剤1106を中間基板905(図9)の第2の中間基板表面1107に施し、および/または、堆積させた後の、また、中間基板905の第1の中間基板表面904(図9)を、第1の接着剤602(図6)を用いてキャリア基板401の第1のキャリア基板表面603(図6)に結合した後の電子デバイス構造400(図4)の断面図を示す。第1のフレキシブル基板表面1208およびフレキシブル基板1209は、方法100(図1)の手順103(図1)に関して、第1のフレキシブル基板表面および上述のフレキシブル基板にそれぞれ、類似または同一であり得る。電子デバイス構造400(図4)は、フレキシブル基板1209を含むことができ、フレキシブル基板1209は、第1のフレキシブル基板表面1208を含むことができる。
図6、9、11および12は、プロセス701(図7)をプロセス702(図7)に先立って実行するような方式において方法100を実行する工程を示すが、いくつかの実施形態において、その代りにプロセス701(図7)の実行の後にプロセス702(図7)を実行することができる。一方、別の実施形態において、プロセス701(図7)およびプロセス702(図7)は、ほぼ同時に実行することができる。
ここで図1に戻って、方法100は、第1の中間基板表面をキャリア基板に結合した後に、また、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面に結合した後に第1の接着剤および第2の接着剤を硬化させる手順107を含むことができる。手順107を実行する工程は、キャリア基板、中間基板またはフレキシブル基板を損傷することなく第1の接着剤および/または第2の接着剤を硬化させるのに適切な、任意の技法および/または技法の組合せ(例えば、紫外線硬化、熱硬化、圧力硬化など)に従って第1の接着剤および第2の接着剤を硬化させる工程を含むことができる。例えば、第1の接着剤および/または第2の接着剤が、 Henkel NS122 adhesiveを含む場合、手順107の実行は、例えばDymax Corporation of Torrington,Connecticutによって製造されたDymax ultraviolet cure system などの紫外線の硬化システムを用いて第1の接着剤および/または第2の接着剤を紫外線硬化することを含み得る。これらの実施形態において、手順107は、約20秒以上(または約10〜30秒)の間実行することができる。一方、第1の接着剤および/または第2の接着剤がEccoCoat 3613 adhesiveを含む場合、手順107の実行する工程は、第1の接着剤および/または第2の接着剤を、例えばYamato Scientific America,Inc.of Santa Clara,Californiaによって製造されたYamato Ovenなどのオーブンの中で熱硬化する工程を含み得る。これらの実施形態において、手順107は、約150℃(または約200℃)の温度で約30分以上(または約20〜40分)の間実行することができる。
方法100は、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を洗浄する手順108を含むことができる。手順108は、作業301(図3)に類似するものであり得る。多くの実施形態において、手順108は、手順106および/または手順107の後に実行することができる。別の実施形態において、手順108は、中間基板がポリイミドを含む場合などには、省略することができる。
方法100は、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤をベーキングする手順109を含むことができる。手順109は、プロセス502(図5)に類似するものであり得る。多くの実施形態において、手順109は、手順108の後に実行することができる。
方法100は、同じくキャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を洗浄する手順110を含むこともできる。手順110は、作業301(図3)に類似するものであり得る。多くの実施形態において、手順110は、手順109の後に実行することができる。
方法100は、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を乾燥する手順111を付加的に含むことができる。いくつかの実施形態において、手順111は、例えば、Yamato Scientific America,Inc.of Santa Clara,Californiaによって製造された、Yamato Oven、または中間基板をベーキングするための他の適切なデバイスを用いるなど、オーブンの中で、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を乾燥する工程を含むことができる。プロセス502は、乾燥ベーキング条件で実行することができる。乾燥ベーキング条件は、乾燥ベーキング温度(例えば、約80〜120℃、例えば約100℃)、および/または、乾燥ベーキング時間(例えば、約1時間以上、かつ約4時間以下、例えば約3時間)を含み得る。多くの実施形態において、手順111は、手順110の後に実行することができる。手順111は、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を、約30分以上の間、冷却する工程、および/または、冷却するに任せることを可能にする工程を含むこともできる。手順111の実行は、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤から水分を除去し、および/または、それらを脱ガスし得る。したがって、乾燥ベーキング時間の長さは、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および/または、第2の接着剤、のために用いられた材料に加えて、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤の、脱ガス速度および/または外方拡散速度に依存し得る。
方法100は、第2のフレキシブル基板表面の上に窒化物障壁層を堆積させる手順112をさらに含むことができる。手順112は、約0.3マイクロメートル(または約0.2〜0.5マイクロメートル)の窒化物障壁厚さまで窒化物障壁を堆積させる工程を含むことができる。多くの実施形態において、手順112は、手順111の後に実行することができる。
方法100は、例えばキャリア基板、中間基板、および/または、フレキシブル基板のいずれかが損傷されているか判定するためになどの、キャリア基板、中間基板、フレキシブル基板、第1の接着剤、および第2の接着剤を検査する手順113を含むこともできる。いくつかの実施形態において、手順113は省略することができる。手順113は、手順112の後に実行することができる。
方法100は、第2のフレキシブル基板表面の上に1つまたは複数の電子デバイスを形成する手順114を含むことができる。電子デバイスは、1つまたは複数の電子感知器、1つまたは複数の電子表示装置、1つまたは複数の電子トランジスター(例えば、薄膜トランジスター)、1つまたは複数の電子ダイオード、1つまたは複数のマイクロエレクトロメカニカルシステム、または任意の別の適切な電子デバイスを含むことができる。多くの実施形態において、手順114は、手順101〜113の実行後に実行することができる。
図13は、図1の実施形態に従って、中間基板905(図9)をキャリア基板401(図4)とフレキシブル基板1209との間に置いた後の、および電子デバイス1310を第2のフレキシブル基板表面1311の上に形成した後の電子デバイス構造400(図4)の断面図を示す。電子デバイス構造400(図4)は、電子デバイス1310を含むことができ、また、フレキシブル基板1209(図12)は、第2のフレキシブル基板表面1311を含むことができる。
図1に戻って、方法100は、第1の中間基板表面をキャリア基板(例えば、第1のキャリア基板表面)から分離する手順115をさらに含むことができる。中間基板は、フレキシブル基板がキャリア基板から分離されるとき、フレキシブル基板に形成された応力を実質的に取り除くように構成することができる。したがって、手順115を実行する工程は、フレキシブル基板がキャリア基板から分離されつつある間に、中間層に結合したフレキシブル基板に形成された応力を実質的に取り除く工程を含むことができる。フレキシブル基板に形成された応力を実質的に取り除くということは、手順115を実行する場合に、十分な応力を取り除き、フレキシブル基板および/または電子デバイスへの損傷を防ぐということを意味し得る。その結果、方法100は、1つまたは複数の電子デバイス(例えば、手順114に関して上述した電子デバイス)を、リジッド基板と共に使用するように構成された電子デバイス生産の装置および/または技法を用いることを可能にするために1つまたは複数のそれぞれの剛性キャリア基板(例えば、手順101に関して上述したキャリア基板)に結合されたフレキシブル基板(例えば、手順103に関して上述したフレキシブル基板)の上に製造することを可能にし、一方、フレキシブル基板をキャリア基板から分離する場合に、応力を吸収するために、リジットなキャリア基板とフレキシブル基板との間に1つまたは複数のそれぞれの中間基板を置くことにより、フレキシブル基板への損傷を避ける。
多くの実施形態において、手順115は、第1の中間基板表面をキャリア基板から機械的に分離することを含むことができる。例えばこれらの実施形態において、手順115は、第1の中間基板表面をキャリア基板から離すために、器具(例えば、刃先)を第1の中間基板表面(例えば、第1の接着剤と第1の中間基板表面との間に)に挿入する工程と、第1の中間基板表面に沿って、第1の中間基板表面に対して約0度以上かつ約45度以下の角度で器具を押し込む工程と、を含むことができる。
別の実施形態において、手順115は、第1の中間基板表面をキャリア基板から、第1の中間基板表面をキャリア基板から分離するための任意の他の適切な技法(例えば、化学薬品、レーザー、紫外線、熱的など)によって分離する工程を含むことができる。したがって、米国特許出願公開第20100297829号明細書、米国特許出願公開第20110023672号明細書、米国特許出願公開20110064953号明細書、米国特許出願公開20110228492号明細書、S.M.O’Rourke,et al.の専門的論文、「Direct Fabrication of a−Si:H Thin Film Transistor Arrays on Plastic and Metal Foils for Flexible Displays」,ADM002187,Proceedings of the Army Science Conference(26th)、pp.1〜4、2008年12月、およびSatoshi Inoue,et alの専門的論文、「Surfac−Free Technology by Laser Annealing(SUFTLA)and Its Application to Poly−Si TFT−LCDs on Plastic Film With Integrated Drivers」、IEEE Transactions on Electron Devices、Vol.49,No.8、pp.1353〜1360、2002年8月、に記載された任意の適切な剥離する技法は、それらのおのおのは引用によって本明細書に組込まれるが、手順115を実行するために用いることができる。
多くの実施形態において、第1の接着剤がキャリア基板に残留するように、手順115は実行することができる。しかしながら、いくつかの実施形態の中で、第1の中間基板表面における第1の接着剤のすべての残渣を除去するために、第1の中間基板表面を、作業302(図3)に類似するやり方でエッチングすることができる。
図14は、図1の実施形態に従って、第2のフレキシブル基板表面1208(図12)の上に電子デバイス1310(図13)を形成した後の、また、中間基板905(図9)の第1の中間基板表面904(図9)をキャリア基板401(図4)から分離した後の電子デバイス構造400(図4)の断面図を示す。
図1に再び戻って、手順115を実行した後、方法100は、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から分離する手順116を含むこともできる。中間基板は、電子デバイスを損傷せずに、キャリア基板およびフレキシブル基板から分離されるように構成することができる。一方いくつかの実施形態において、手順116は省略することができ、また、中間基板は、フレキシブル基板を補強するために、第2の接着剤によってフレキシブル基板に結合されたままであり得る。
中間基板をフレキシブル基板に結合しておくことが望ましい場合である、これらの実施形態にもかかわらず、手順116は、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から機械的に分離する工程を含むことができる。例えば、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から機械的に分離する工程は、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から離すために、中間基板を、フレキシブル基板から連続的な力で、かつ、フレキシブル基板に対して低角度(例えば、約5〜45度)で手動で引き離す工程を含む工程ができる。これらの実施例において、手順116を実行する間に第2のフレキシブル基板表面の上に形成されたすべての電子デバイスを保護するために、手順116は、第2のフレキシブル基板表面の上に保護層を提供する工程を含むことができる。
一方、手順116は、第1の中間基板表面をキャリア基板から分離するための、任意の他の適切な技法(例えば、化学薬品、レーザー、紫外線、熱的など)に従って、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から分離する工程を含むこともできる。したがって、手順116は、手順115に、類似または同一であり得る。
図15は、図1の実施形態に従って、電子デバイス1310(図13)を第2のフレキシブル基板表面1208(図12)の上に形成した後の、中間基板905(図9)の第1の中間基板表面904(図9)をキャリア基板401(図4)から分離した後の、また、第2の中間基板表面1107(図11)をフレキシブル基板1209(図12)の第1のフレキシブル基板表面1208(図12)から分離した後の電子デバイス構造400(図4)の断面図を示す。
いくつかの実施形態において、第1のフレキシブル基板表面で第2の接着剤のすべての残渣を除去するために、手順116は、作業302(図3)に類似するやり方でフレキシブル基板をエッチングすることをさらに含むことができる。したがって、フレキシブル基板をエッチングすることは、第2の中間基板表面を第1のフレキシブル基板表面から分離した後に実行できる。
多くの実施形態において、手順102から手順116までは、方法100の手順101のキャリア基板の両側に対して実行することができる。これらの実施形態において、手順102から手順116までの1つまたは複数は、キャリア基板の両側に対してほぼ同時に実行することができる。一方、これらの実施形態または他の実施形態において、手順102から手順116までの1つまたは複数は、キャリア基板の各側に対して別々に繰り返し、実行することができる。
本発明を、特定の実施形態に関して記述してきたが、本発明の精神または範囲から逸脱することなく様々な変更を施すことができることは当業者に理解されよう。したがって本発明の実施形態の開示は、本発明の範囲の例示となるように意図され、限定することを意図するものではない。本発明の範囲は、添付された請求項によって要求される範囲にのみ限定されるべきものと意図している。例えば、図1の手順101〜116、図2のプロセス201および202、図3の作業301および302、図5のプロセス501〜503、図7のプロセス701および702、図8の作業801〜803、および図10の作業1001〜1004が、多数の異なる手順、プロセスおよび作業で構成され得て、また、多数の異なるモジュールにより、多数の異なる順序で実行され得るということ、図1〜15の任意の要素が変更され得るということ、および、これらの実施形態の若干数についての前述の議論が、必ずしもあらゆる実施形態の完全な記述を意味するものではないということは、当業者には、容易に明白であろう。
任意の特定の請求項で請求された要素はすべて、その特定の請求項で請求された実施形態にとって必須のものである。したがって、1つまたは複数の請求された要素を置き換えることは再構成となり、訂正ではない。さらに、利益、他の利点および問題に対する解決策が特定の実施形態に関して記述されてきた。しかしながら、その利益、利点、問題に対する解決策、および、いずれかの利益、利点または解決策を生じさせるかまたはより明白にさせる1つまたは複数の要素は、そのような利益、利点、解決策、または要素がそのような請求項で明示的に述べられていない限り、請求項のいずれかまたはすべての、重大で、必要な、または、必須の特徴もしくは要素と解釈されるべきではない。
さらに、本明細書で開示される実施形態および限定は、その実施形態および/または限定が、(1)請求項で明示的に請求されていない場合、および、(2)均等論の下で請求項において明白な要素および/または限定の、均等物であるかまたは潜在的な均等物である場合、公有の原則(doctrine of dedication)の下で公共用として提供されることはない。
Claims (30)
- キャリア基板を提供する工程と、
第1の中間基板表面および前記第1の中間基板表面の反対側にある第2の中間基板表面を含む中間基板を提供する工程と、
第1のフレキシブル基板表面および前記第1のフレキシブル基板表面の反対側にある第2のフレキシブル基板表面を含むフレキシブル基板を提供する工程と、
前記第1の中間基板表面を第1の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程と、
前記第2の中間基板表面を第2の接着剤を用いて前記第1のフレキシブル基板表面に結合する工程と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記第1の中間基板表面を前記第1の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程は、前記第1の中間基板表面を接着性の材料を用いて前記キャリア基板に結合し、前記第1の接着剤は前記接着性の材料を含む工程を含み、
前記第2の中間基板表面を第2の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程は、前記第2の中間基板表面を前記接着性の材料を用いて前記キャリア基板に結合し、前記第2の接着剤は前記接着性の材料を含む、工程を含む、
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記第1の接着剤を提供する工程、および
前記第2の接着剤を提供する工程、
のうちの少なくとも1つをさらに含むことを特徴とする請求項1または2記載の方法。 - 前記第1の接着剤を提供する工程は、前記第1の接着剤を施す工程を含み、前記第1の接着剤を施す工程は、前記キャリア基板および前記第1の中間基板表面の片方または両方に、前記第1の接着剤を、スピンコーティング、スプレーコーティング、押し出しコーティング、プレフォーム積層法、スロットダイコーティング、スクリーン積層法、およびスクリーン印刷で処理する工程の少なくとも1つを含むこと、および
前記第2の接着剤を提供する工程は、前記第2の接着剤を施す工程を含み、前記第2の接着剤を施す工程は、前記第2の中間基板表面および前記第1のフレキシブル基板表面の片方または両方に、前記第2の接着剤を、スピンコーティング、スプレーコーティング、押し出しコーティング、プレフォーム積層法、スロットダイコーティング、スクリーン積層法、およびスクリーン印刷で処理する工程の少なくとも1つを含むこと、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項3記載の方法。 - 前記キャリア基板を提供する工程は、アルミナ、シリコン、鋼、サファイア、バリウムホウケイ酸塩、ソーダ石灰ケイ酸塩およびアルカリケイ酸塩の少なくとも1つを含むキャリア基板材料を含む前記キャリア基板を提供する工程を含むこと、
前記フレキシブル基板を提供する工程は、フレキシブルなガラス材料を含む前記フレキシブル基板を提供する工程を含むこと、および
前記中間基板を提供する工程は、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルサルフォン、ポリイミド、ポリカーボネート、環式オレフィン共重合体、および液晶ポリマーの少なくとも1つを含む中間基板材料を含む前記中間基板を提供する工程を含むこと、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の方法。 - 前記第1の中間基板表面を前記第1の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程は、ロールプレスおよびブラダープレスの少なくとも1つを使用して、前記第1の中間基板表面を第1の接着剤を用いて前記キャリア基板へ接合する工程を含むこと、および
前記第2の中間基板表面を前記第2の接着剤を用いて前記第1のフレキシブル基板表面に結合する工程は、前記ロールプレスおよび前記ブラダープレスの少なくとも1つを使用して、前記第2の中間基板表面を第2の接着剤を用いて前記第1のフレキシブル基板表面へ接合する工程を含むこと、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項記載の方法。 - 前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板へ接合する工程は、
約0キロパスカル以上、かつ、約69キロパスカル以下の第1の圧力、
約20℃以上、かつ、約100℃以下の第1の温度、および
分速約0.25メートル以上、かつ、分速約0.5メートル以下の第1の送り速度、
のうちの少なくとも1つを含む第1の条件で行われること、および
前記第2の中間基板表面を前記第1フレキシブル基板表面へ接合する工程は、
約0キロパスカル以上、かつ、約138キロパスカル以下の第2の圧力、
約20℃以上、かつ、約100℃以下の第2の温度、および
分速約0.25メートル以上、かつ、分速約0.5メートル以下の第2の送り速度、
のうちの少なくとも1つを含む第2の条件で行われること、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項6記載の方法。 - 前記キャリア基板を提供する工程は、前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合する前に前記キャリア基板を処理する工程を含み、
前記キャリア基板を処理する工程は、
前記キャリア基板を洗浄する工程、および
前記キャリア基板を灰化する工程、
のうちの少なくとも1つを含む、
ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項記載の方法。 - 前記中間基板を提供する工程は、
約200℃の予備ベーキング温度、
約0.004キロパスカルの予備ベーキング圧力、および
約1時間の予備ベーキング時間、
のうちの少なくとも1つを含む予備ベーキング条件で前記中間基板をベーキングする工程、および
前記中間基板を切断する工程は、前記キャリア基板および前記フレキシブル基板の少なくとも1つの寸法に基づいて前記中間基板をある大きさに形成する工程を含む、前記中間基板を切断する工程、
のうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項記載の方法。 - 前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合した後に、また、前記第2の中間基板表面を前記第1のフレキシブル基板表面に結合した後に、前記キャリア基板、前記中間基板、前記フレキシブル基板、前記第1の接着剤、および前記第2の接着剤をベーキングする工程をさらに含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項記載の方法。
- 前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合した後に、また、前記第2の中間基板表面を前記第1のフレキシブル基板表面に結合した後に、1つまたは複数の電子デバイスを前記第2のフレキシブル基板表面の上に形成する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項記載の方法。
- 前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合した後に、また、前記第2の中間基板表面を前記第1のフレキシブル基板表面に結合した後に、前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板から分離する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1〜11のいずれか一項記載の方法。
- 前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合した後に、また、前記第2の中間基板表面を前記第1のフレキシブル基板表面に結合した後に、前記第2の中間基板表面を前記第1の中間基板を前記キャリア基板から分離した後に前記第1のフレキシブル基板表面から分離する工程をさらに含むことを特徴とする請求項12記載の方法。
- 1つまたは複数の電子デバイスを提供する方法において、
キャリア基板を提供する工程と、
フレキシブル基板を提供する工程と、
前記フレキシブル基板を前記キャリア基板に結合するために、前記キャリア基板および前記フレキシブル基板の間に耐久性強化薄膜を置き、前記フレキシブル基板は前記キャリア基板から分離されるとき前記耐久性強化薄膜は、前記フレキシブル基板で形成された応力を実質的に取り除くように構成されている工程と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記耐久性強化薄膜を前記キャリア基板と前記フレキシブル基板との間に置く工程は、
前記耐久性強化薄膜の第1の耐久性強化表面を第1の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程であって、さらに、(a)前記キャリア基板および前記第1の耐久性強化薄膜表面の少なくとも1つは、第1の接着剤を含むこと、および、(b)前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板へ結合する工程は、前記第1の接着剤を前記キャリア基板に提供する段階、および前記第1の接着剤を前記第1の耐久性強化表面に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板に結合した後に、前記耐久性強化薄膜の第2の耐久性強化薄膜表面を第2の接着剤を用いて前記フレキシブル基板の第1のフレキシブル基板表面に結合する工程であって、前記第2の耐久性強化薄膜表面は、前記第1の耐久性強化薄膜表面の反対側にあり、さらに、(a)前記第2の耐久性強化薄膜表面および前記第1のフレキシブル基板表面の少なくとも1つは、前記第2の接着剤を含むこと、および、(b)前記第2の耐久性強化薄膜表面を前記第1のフレキシブル基板表面へ結合する工程は、前記第2の接着剤を前記第2の耐久性強化薄膜表面に提供する段階、および前記第2の接着剤を前記第1のフレキシブル基板表面に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
からなることを特徴とする請求項14記載の方法。 - 前記耐久性強化薄膜を前記キャリア基板と前記フレキシブル基板との間に置く工程は、
前記耐久性強化薄膜の第2の耐久性強化薄膜表面を第2の接着剤を用いて前記フレキシブル基板の第1のフレキシブル基板表面に結合する工程であって、さらに、(a)前記第2の耐久性強化薄膜表面および前記第1のフレキシブル基板表面の少なくとも1つは第2の接着剤を含むこと、および、(b)前記第2の耐久性強化薄膜表面を前記第1のフレキシブル基板表面へ結合する工程は、前記第2の接着剤を前記第2の耐久性強化薄膜表面に提供する段階、および前記第2の接着剤を前記第1のフレキシブル薄膜表面に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
前記第2の耐久性強化薄膜表面を前記第1のフレキシブル基板基板に結合した後に、前記耐久性強化薄膜の第1の耐久性強化薄膜表面を第2の接着剤を用いてキャリア基板に結合する工程であって、前記第1の耐久性強化薄膜表面は前記第2の耐久性強化薄膜表面の反対側にあり、さらに、(a)前記第1の耐久性強化薄膜表面および前記キャリア基板の少なくとも1つは、第2の接着剤を含むこと、および、b)前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板へ結合する工程は、前記第1の接着剤を前記第1の耐久性強化薄膜表面に提供する段階、および前記第1の接着剤を前記キャリア基板に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
からなることを特徴とする請求項14記載の方法。 - 前記耐久性強化薄膜を前記キャリア基板と前記フレキシブル基板との間に置く工程は、
前記耐久性強化薄膜の第1の耐久性強化表面を第1の接着剤を用いて前記キャリア基板に結合する工程であって、さらに(a)前記キャリア基板および前記第1の耐久性強化薄膜表面の少なくとも1つは、第1の接着剤を含むこと、および(b)前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板へ結合する工程は、前記第1の接着剤をキャリア基板に提供する段階、および前記第1の接着剤を前記第1の耐久性強化表面に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
前記耐久性強化薄膜の第2の耐久性強化薄膜表面を第2の接着剤を用いて前記フレキシブル基板の第1のフレキシブル基板表面に結合する工程であって、前記第2の耐久性強化薄膜表面は前記第1の耐久性強化薄膜表面の反対側にあり、さらに、(a)前記第2の耐久性強化薄膜表面および前記第1のフレキシブル基板表面の少なくとも1つは、第2の接着剤を含むこと、および(b)前記第2の耐久性強化薄膜表面を前記第1のフレキシブル基板表面へ結合する工程は、前記第2の接着剤を前記第2の耐久性強化薄膜表面に提供する段階、および前記第2の接着剤を第1のフレキシブル基板表面に提供する段階の少なくとも1つの段階を含む工程、のうちの1つを含む、工程と、
からなり、
前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板に結合する工程、および前記第2の耐久性強化薄膜表面を工程第1のフレキシブル基板表面に結合する工程は、互いに対してほぼ同時に行われる、
ことを特徴とする請求項14記載の方法。 - 1つまたは複数の電子デバイスを前記フレキシブル基板の第2のフレキシブル基板表面の上に形成し、前記第2のフレキシブル基板表面は、前記第1のフレキシブル基板表面の反対側にある工程をさらに含むことを特徴とする請求項15〜17のいずれか一項記載の方法。
- 前記耐久性強化薄膜を前記キャリア基板と前記フレキシブル基板との間に置く工程は、前記フレキシブル基板を補強するために前記耐久性強化薄膜を前記フレキシブル基板に結合する工程を含むことを特徴とする請求項14〜18のいずれか一項記載の方法。
- 前記耐久性強化薄膜を前記キャリア基板と前記フレキシブル基板との間に置く工程の後に、前記第1の耐久性強化薄膜表面を前記キャリア基板から分離する工程と、
前記フレキシブル基板は前記キャリア基板から分離されつつある間に前記耐久性強化薄膜を用いて前記フレキシブル基板に形成された応力を実質的に取り除く工程と、
をさらに含むことを特徴とする請求項14〜19のいずれか一項記載の方法。 - 電子デバイス構造において、
第1の中間基板表面および前記第1の中間基板表面の反対側にある第2の中間基板表面を含む中間基板であって、前記第1の中間基板表面は、第1の接着剤によってキャリア基板に結合されるように構成される中間基板と、
第1のフレキシブル基板表面および前記第1のフレキシブル基板表面反対側にある、第2のフレキシブル基板表面を含むフレキシブル基板であって、前記第1のフレキシブル基板表面は、第2の接着剤によって第2の中間基板表面に結合されるように構成され、および、前記第1の中間基板表面前記キャリア基板に結合される場合、および前記第1のフレキシブル基板表面が前記第2の中間基板表面に結合される場合、前記第2のフレキシブル基板表面は、1つまたは複数の電子デバイスを前記第2のフレキシブル基板表面の上に形成することができるように構成されるフレキシブル基板と、
を含むことを特徴とする電子デバイス構造。 - 前記キャリア基板をさらに含むことを特徴とする請求項21記載の電子デバイス構造。
- 前記第1の接着剤および前記第2の接着剤をさらに含み、前記第1の接着剤は前記第1の中間基板表面を前記キャリア基板に結合し、前記第2の接着剤は前記第2の中間基板表面を前記第1のフレキシブル基板表面に結合することを特徴とする請求項21または22記載の電子デバイス構造。
- 前記第1の接着剤は接着剤材料を含み、
前記第2の接着剤は前記接着剤材料を含む、
ことを特徴とする請求項21〜23のいずれか一項記載の電子デバイス構造。 - 前記第1の接着剤は、Henkel NS122 adhesive,EccoCoat 3613 adhesive、および感圧接着剤のうちの1つを含み、
前記第2の接着剤は、前記Henkel NS122 adhesive、前記EccoCoat 3613 adhesive、および前記感圧接着剤の1つを含む、
ことを特徴とする請求項21〜24のいずれか一項記載の電子デバイス構造。 - 前記キャリア基板は、アルミナ、シリコン、鋼、サファイア、バリウムホウケイ酸塩、ソーダ石灰ケイ酸塩、およびアルカリケイ酸塩のうちの少なくとも1つを含むこと、
前記フレキシブル基板は、フレキシブルなガラス材料を含むこと、および
前記中間基板は、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルサルフォン、ポリイミド、ポリカーボネート、環式オレフィン共重合体、および液晶ポリマーの少なくとも1つを含むこと、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項21〜25のいずれか一項記載の電子デバイス構造。 - 前記第2のフレキシブル基板表面と前記1つまたは複数の電子デバイスとの間の窒化物障壁層をさらに含むことを特徴とする請求項21〜26のいずれか一項記載の電子デバイス構造。
- 前記第2のフレキシブル基板表面の上の1つまたは複数の電子デバイスをさらに含むことを特徴とする請求項21〜27のいずれか一項記載の電子デバイス構造。
- 前記1つまたは複数の電子デバイスは、電子感知器、電子表示装置、電子トランジスター、電子ダイオードおよびマイクロエレクトロメカニカルシステムのうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項21〜28のいずれか一項記載の電子デバイス構造。
- 前記中間基板は、前記1つまたは複数の電子デバイスも前記フレキシブル基板も損傷することなく、前記キャリア基板および前記フレキシブル基板から分離されるように構成されることを特徴とする請求項21〜29のいずれか一項記載の電子デバイス構造。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161564535P | 2011-11-29 | 2011-11-29 | |
US61/564,535 | 2011-11-29 | ||
PCT/US2012/066833 WO2013082138A1 (en) | 2011-11-29 | 2012-11-28 | Method of providing an electronic device structure and related electronic device structures |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014533893A true JP2014533893A (ja) | 2014-12-15 |
Family
ID=48536005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014543621A Pending JP2014533893A (ja) | 2011-11-29 | 2012-11-28 | 電子デバイス構造を提供する方法および関連する電子デバイス構造 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP2786645A4 (ja) |
JP (1) | JP2014533893A (ja) |
KR (1) | KR20140123480A (ja) |
CN (1) | CN104041199A (ja) |
SG (1) | SG11201402622YA (ja) |
TW (1) | TW201345726A (ja) |
WO (1) | WO2013082138A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9991311B2 (en) | 2008-12-02 | 2018-06-05 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University | Dual active layer semiconductor device and method of manufacturing the same |
JP5832780B2 (ja) | 2011-05-24 | 2015-12-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の製造方法 |
WO2017034644A2 (en) | 2015-06-09 | 2017-03-02 | ARIZONA BOARD OF REGENTS a body corporate for THE STATE OF ARIZONA for and on behalf of ARIZONA STATE UNIVERSITY | Method of providing an electronic device and electronic device thereof |
WO2015156891A2 (en) | 2014-01-23 | 2015-10-15 | Arizona Board Of Regents, Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Method of providing a flexible semiconductor device and flexible semiconductor device thereof |
US10381224B2 (en) | 2014-01-23 | 2019-08-13 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University | Method of providing an electronic device and electronic device thereof |
SG11201606059WA (en) * | 2014-01-27 | 2016-08-30 | Corning Inc | Articles and methods for controlled bonding of polymer surfaces with carriers |
JP2017518638A (ja) | 2014-05-13 | 2017-07-06 | アリゾナ・ボード・オブ・リージェンツ・フォー・アンド・オン・ビハーフ・オブ・アリゾナ・ステイト・ユニバーシティArizona Board Of Regents For And On Behalf Of Arizona State University | 電子デバイスを提供する方法およびその電子デバイス |
US10446582B2 (en) | 2014-12-22 | 2019-10-15 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University | Method of providing an imaging system and imaging system thereof |
US9741742B2 (en) | 2014-12-22 | 2017-08-22 | Arizona Board Of Regents, A Body Corporate Of The State Of Arizona, Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Deformable electronic device and methods of providing and using deformable electronic device |
CN106527796B (zh) * | 2016-10-31 | 2019-06-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种面板制作方法、触控面板及显示设备 |
CN110065267B (zh) | 2019-04-26 | 2021-03-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 可形变材料、形变结构、Micro-LED显示装置、应变传感器 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4087300A (en) * | 1974-01-07 | 1978-05-02 | Edward Adler | Process for producing metal-plastic laminate |
JP3081122B2 (ja) * | 1994-07-18 | 2000-08-28 | シャープ株式会社 | 基板搬送用治具及びそれを用いた液晶表示素子の製造方法 |
US5837380A (en) * | 1995-12-26 | 1998-11-17 | Lucent Technologies, Inc. | Multilayer structures and process for fabricating the same |
US7223672B2 (en) * | 2002-04-24 | 2007-05-29 | E Ink Corporation | Processes for forming backplanes for electro-optic displays |
JP2004311912A (ja) * | 2002-12-06 | 2004-11-04 | Sony Corp | 回路基板モジュール及びその製造方法 |
US20090200543A1 (en) * | 2008-02-08 | 2009-08-13 | Roger Stanley Kerr | Method of forming an electronic device on a substrate supported by a carrier and resultant device |
JP4888736B2 (ja) * | 2008-08-29 | 2012-02-29 | Tdk株式会社 | 配線基板の製造方法 |
WO2010065542A1 (en) * | 2008-12-02 | 2010-06-10 | Arizona Board Of Regents, For And On Behalf Of Arizona State University | Method of preparing a flexible substrate assembly and flexible substrate assembly therefrom |
US9409383B2 (en) * | 2008-12-22 | 2016-08-09 | Apple Inc. | Layer-specific energy distribution delamination |
-
2012
- 2012-11-28 CN CN201280066404.XA patent/CN104041199A/zh active Pending
- 2012-11-28 KR KR1020147017870A patent/KR20140123480A/ko not_active Application Discontinuation
- 2012-11-28 EP EP12854351.9A patent/EP2786645A4/en not_active Withdrawn
- 2012-11-28 WO PCT/US2012/066833 patent/WO2013082138A1/en active Application Filing
- 2012-11-28 JP JP2014543621A patent/JP2014533893A/ja active Pending
- 2012-11-28 SG SG11201402622YA patent/SG11201402622YA/en unknown
- 2012-11-29 TW TW101144699A patent/TW201345726A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2786645A1 (en) | 2014-10-08 |
EP2786645A4 (en) | 2016-11-09 |
SG11201402622YA (en) | 2014-06-27 |
CN104041199A (zh) | 2014-09-10 |
TW201345726A (zh) | 2013-11-16 |
KR20140123480A (ko) | 2014-10-22 |
WO2013082138A1 (en) | 2013-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2014533893A (ja) | 電子デバイス構造を提供する方法および関連する電子デバイス構造 | |
US20140254113A1 (en) | Method of providing an electronic device structure and related electronic device structures | |
US9953951B2 (en) | Method of providing a flexible semiconductor device and flexible semiconductor device thereof | |
JP5521034B2 (ja) | フレキシブル半導体デバイスを高温で提供する方法およびそのフレキシブル半導体デバイス | |
US9673014B2 (en) | Method of manufacturing display panel | |
JP3974749B2 (ja) | 機能素子の転写方法 | |
US20130075739A1 (en) | Method of manufacturing electronic devices on both sides of a carrier substrate and electronic devices thereof | |
US9768107B2 (en) | Method of providing a flexible semiconductor device and flexible semiconductor device thereof | |
WO2012021196A2 (en) | Method for manufacturing electronic devices and electronic devices thereof | |
US10046548B2 (en) | Flexible device and fabrication method thereof, display apparatus | |
CN106935547B (zh) | 一种柔性显示装置的制作方法及柔性显示装置 | |
KR20100070730A (ko) | 플렉서블 표시장치의 제조 방법 | |
JP4416108B2 (ja) | 半導体ウェーハの製造方法 | |
TW201446502A (zh) | 玻璃結構以及製造與處理玻璃結構之方法 | |
TWI236058B (en) | Method of performing double side processes upon a wafer | |
US11096319B2 (en) | Method of manufacturing electronic device using large-scale transferring method | |
JP2009231533A (ja) | 剥離方法、剥離装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2019178018A (ja) | 薄型ガラス基板製造方法 | |
CN110791220A (zh) | 用于柔性显示器的透明聚酰亚胺复合膜及其制造方法 | |
US20240112944A1 (en) | Process for Wafer Bonding | |
JP2005243780A (ja) | ウエハ支持部材及びウエハの加工方法 | |
KR101317160B1 (ko) | 플라즈마 식각 장치, 이를 포함하는 플라즈마 식각 시스템및 이를 이용하는 기판의 식각 방법 | |
KR101991568B1 (ko) | 신축성 기판 구조체 제조장치 및 신축성 기판 구조체 제조방법 | |
KR101232541B1 (ko) | 가요성 기판의 제조 방법 | |
WO2014087742A1 (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140805 |