JP2014521982A5 - - Google Patents

Claims (35)

1. 試料処理量を高めるためのシステムであって、
   試料内の分析物に曝露されたことに応答してデータ信号を生成するように構成されたセンサと、
   前記データ信号と関連付けられたデータポイントを記録し、
   動的領域時間範囲の一部に対応する一連のデータポイントを前記記録されたデータポイントから選択し、
   前記選択されたデータポイントを、動的領域時間範囲の一部に対応することから、対数時間スケールに対応するように変換し、
   前記変換されたデータポイントを評価し、
   前記評価され選択されたデータポイントにあてはまる曲線を決定し、
   前記曲線に対応する曲線あてはめ方程式を決定し、前記曲線あてはめ方程式が、ｓ（ｔ）＝ａ ^＊ （ｌｏｇ（ｔ））＾２＋ｂ ^＊ ｌｏｇ（ｔ）＋ｃという形であり、式中、ｔは時間を表し、ａ、ｂ及びｃは二次多項式のためのフィットパラメータであり、初期センサ応答に基づいて決定され、
   前記曲線あてはめ方程式を用いて前記センサのエンドポイント応答を外挿し、及び
   前記試料処理量を高めるために前記外挿されたエンドポイント応答を用いて前記分析物に対応する値を計算する
   ように構成されたプロセッサと
   を含む、システム。
2. 前記データポイントが、等間隔で記録される、請求項１に記載のシステム。
3. 前記動的領域時間範囲が、前記センサが前記分析物に最初に曝露される第１の時間から、前記センサにより生成された前記データ信号が前記センサの実際のエンドポイント応答と実質的に類似したものとなる第２の時間までにわたる、請求項１に記載のシステム。
4. 前記動的領域時間範囲の前記一部が、前記センサが前記分析物に曝露されてから約１５秒後に始まる、請求項３に記載のシステム。
5. 前記動的領域時間範囲の前記一部が、前記センサが前記分析物に曝露されてから約３０秒後に終わる、請求項３に記載のシステム。
6. 前記曲線あてはめ方程式を用いて前記センサのエンドポイント応答を外挿することが、その後前記センサにより生成される前記データ信号が前記センサの実際のエンドポイント応答と実質的に類似したものとなる時間について、前記曲線あてはめ方程式を解くことを含む、請求項１に記載のシステム。
7. 前記センサが、拡散制御応答を有するように構成されている、請求項１に記載のシステム。
8. 前記プロセッサが、さらに、
   前記計算されたエンドポイント応答を用いて前記分析物の濃度を決定し、
   前記決定された前記分析物の濃度を提示する
   ように構成されている、請求項１に記載のシステム。
9. 前記プロセッサが、さらに、前記計算された前記分析物に対応する値を検証するように構成されている、請求項１に記載のシステム。
10. 前記計算されたエンドポイント応答を検証することが、
    変動係数を決定すること、
    決定係数を決定すること、及び
    前記決定された変動係数及び決定係数が許容可能な限度の範囲内にあるか否かを判断すること
    を含む、請求項９に記載のシステム。
11. 前記プロセッサが、さらに、
    前記計算されたエンドポイント応答を用いて前記分析物の濃度を決定し、
    前記決定された変動係数及び決定係数が許容可能な限度内にあると判断した時には、前記決定された前記分析物の濃度をフラグなしで提示し、及び
    前記決定された変動係数及び決定係数の少なくとも一方が許容可能な限度内にないと判断した時には、前記決定された前記分析物の濃度をフラグ付きで提示する
    ように構成されている、請求項１０に記載のシステム。
12. 前記計算された前記分析物に対応する値を出力として提示すること
    をさらに含む、請求項１に記載のシステム。
13. 試料処理量を高めるための方法であって、
    試料内の分析物に曝露されたことに応答して生成されたデータ信号をセンサから受信する工程と、
    前記データ信号と関連付けられたデータポイントを記録する工程と、
    動的領域時間範囲の一部に対応する一連のデータポイントを前記記録されたデータポイントから選択する工程と、
    前記選択されたデータポイントを対数時間スケールに変換する工程と、
    前記選択されたデータポイントにあてはまる曲線を決定する工程と、
    前記曲線に対応する曲線あてはめ方程式を決定する工程であって、前記曲線あてはめ方程式が、ｓ（ｔ）＝ａ ^＊ （ｌｏｇ（ｔ））＾２＋ｂ ^＊ ｌｏｇ（ｔ）＋ｃという形のものであり、式中、ｔは時間を表し、ａ、ｂ及びｃは二次多項式のためのフィットパラメータであり、初期センサ応答に基づいて決定される、決定する工程と、
    前記曲線あてはめ方程式を用いて前記センサのエンドポイント応答を外挿する工程と、
    前記試料処理量を高めるために前記外挿されたエンドポイント応答を用いて前記分析物に対応する値を計算する工程と
    を含む、方法。
14. 動的領域時間範囲の一部に対応する一連のデータポイントを前記記録されたデータポイントから選択する工程が、前記センサが前記分析物に最初に曝露された時に始まり、前記センサによって生成される前記データ信号が前記センサの実際のエンドポイント応答と実質的に類似したものとなる時に終わる期間に対応するデータポイントを選択することを含む、請求項１３に記載の方法。
15. 動的領域時間範囲の一部に対応する一連のデータポイントを前記記録されたデータポイントから選択する工程が、前記センサが前記分析物に曝露されてから約１５秒後に始まり、前記センサが前記分析物に曝露されてから約３０秒後に終わる期間に対応するデータポイントを選択することを含む、請求項１３に記載の方法。
16. 前記曲線あてはめ方程式を用いて前記センサのエンドポイント応答を外挿する工程が、その後前記センサにより生成される前記データ信号が前記センサの実際のエンドポイント応答と実質的に類似したものとなる時間について、前記曲線あてはめ方程式を解くことを含む、請求項１３に記載の方法。
17. 前記計算されたエンドポイント応答を用いて前記分析物の濃度を決定する工程と、
    前記決定された前記分析物の濃度を提示する工程と
    をさらに含む、請求項１３に記載の方法。
18. 前記プロセッサが、さらに、前記計算された前記分析物に対応する値を、
    変動係数を決定すること、
    決定係数を決定すること、及び
    前記決定された変動係数及び決定係数が許容可能な限度の範囲内にあるか否かを判断すること
    によって検証するように構成されている、請求項１３に記載の方法。
19. コンピュータ実行可能命令を記憶したコンピュータ可読記憶媒体であって、前記コンピュータ実行可能命令は、コンピュータにより実行される際に、前記コンピュータに、
    センサから、試料内の分析物に曝露されたことに応答して生成されたデータ信号を受信させ、
    時間範囲に対応する前記データ信号と関連付けられた一連のデータポイントを選択させ、
    前記一連のデータポイントを対数時間スケールに変換させ、
    前記センサから受信された前記一連のデータポイントにあてはまる、二次方程式により定義される曲線を決定させ、前記曲線あてはめ方程式が、ｓ（ｔ）＝ａ ^＊ （ｌｏｇ（ｔ））＾２＋ｂ ^＊ ｌｏｇ（ｔ）＋ｃという形であり、式中、ｔは時間を表し、ａ、ｂ及びｃは二次多項式のためのフィットパラメータであり、初期センサ応答に基づいて決定され、
    前記曲線を用いて前記センサのエンドポイント応答を外挿させ、及び
    前記外挿されたエンドポイント応答を用いて前記分析物に対応する値を計算させる、コンピュータ可読記憶媒体。
20. さらなるコンピュータ実行可能命令を記憶しており、前記コンピュータにより実行される際に、前記コンピュータに、
    前記計算された前記分析物に対応する値を用いて前記分析物の濃度を決定させ、及び
    前記決定された前記分析物の濃度を提示させる、請求項１９に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
21. さらなるコンピュータ実行可能命令を記憶しており、前記コンピュータにより実行される際に、前記コンピュータに、
    変動係数を決定すること、
    決定係数を決定すること、及び
    前記決定された変動係数及び決定係数が許容可能な限度の範囲内にあるか否かを判断すること
    によって前記計算された前記分析物に対応する値を検証させる、請求項１９に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
22. 試料処理量を高めるために分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体であって、前記アプリケーションは、
    プロセッサに１個以上のセンサからデータ信号を受信させるセンサ通信モジュールと、
    前記プロセッサに前記データ信号からデータポイントを捕捉し記録させるデータポイント報告モジュールと、
    前記プロセッサに前記データポイントから予め規定されたデータポイントを選択させるデータポイント選択モジュールと、
    前記プロセッサに前記予め規定されたデータポイントに対応する時間の対数関数を取得させる曲線あてはめモジュールであって、前記時間の対数関数はｓ（ｔ）＝ａ ^＊ （ｌｏｇ（ｔ））＾２＋ｂ ^＊ ｌｏｇ（ｔ）＋ｃという形の曲線あてはめ方程式から取得されるものであり、式中、ｔは時間を表し、ｓ（ｔ）は時間ｔにおけるデータポイントを表し、ａ、ｂ及びｃは二次多項式のためのフィットパラメータであり、前記予め規定されたデータポイントに基づいて決定される、曲線あてはめモジュールと、
    前記プロセッサに前記１個以上のセンサからのセンサのエンドポイント応答を外挿させる外挿モジュールと、
    前記プロセッサに前記エンドポイント応答を検証させる検証モジュールと、
    試料処理量を高めるために、前記プロセッサに前記エンドポイント応答を用いて試料内の分析物の濃度を決定させる分析物濃度記録モジュールと、
    を含む、非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
23. 前記データポイント選択モジュールが、さらに、前記予め規定されたデータポイントが前記センサの前記応答の動的領域内にあるように前記予め規定されたデータポイントを選択するよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
24. 前記動的領域は、前記センサが分析物に最初に曝露される第１の時間から、前記センサによって生成された前記データ信号が前記センサのエンドポイント応答と実質的に類似したものとなる第２の時間までにわたる、請求項２３に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
25. 前記動的領域が、前記センサが分析物に曝露されてから約１５秒後に始まる、請求項２４に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
26. 前記動的領域が、前記センサが分析物に曝露されてから約３０秒後に終わる、請求項２４に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
27. 前記データポイント選択モジュールが、さらに、等しい時間間隔で前記データポイントを記録するよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
28. 前記曲線あてはめモジュールが、さらに、前記予め規定されたデータポイントをプロットするよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
29. 前記外挿モジュールが、さらに、前記曲線あてはめ方程式を用いて前記エンドポイント応答を外挿するよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
30. 前記外挿モジュールが、さらに、前記センサ応答曲線の平衡領域内にある時間において前記曲線あてはめ方程式を評価するよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
31. 前記検証モジュールが、さらに、変動係数および決定係数を決定するよう構成される、請求項２２に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
32. 前記変動係数（ＣＶ）は、
    ＣＶ＝（実測値の標準偏差）／（実測値の平均）
    により求められ、
    前記決定係数（Ｒ ^２ ）は、
    

    

    
    により求められるものであって、
    y _i はｉ番目の実測値（データ信号）であり、
    

    

    
    
    はyの平均（平準）値であり、
    f _i は前記曲線あてはめ方程式から計算されたｉ番目の値である、請求項３１に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
33. 前記検証モジュールが、さらに、前記変動係数および前記決定係数が予め規定された許容可能な限度の範囲内にあるか否かを決定するよう構成される、請求項３１に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
34. 前記分析物濃度報告モジュールが、さらに、前記変動係数および前記決定係数が前記予め規定された許容可能な限度の範囲内にないと決定された場合は、前記分析物の前記濃度と、前記変動係数および前記決定係数が前記予め規定された許容可能な限度の範囲内にないことを示すフラグとを報告するよう構成される、請求項３３に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
35. 前記分析物濃度報告モジュールが、さらに、前記変動係数および前記決定係数が前記予め規定された許容可能な限度の範囲内にあると決定された場合は、前記分析物の前記濃度を報告するよう構成される、請求項３３に記載の分析物濃度測定アプリケーションを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。