JP2014521945A5 - 主成分分析に基づく画像融合法およびx線用装置 - Google Patents
主成分分析に基づく画像融合法およびx線用装置 Download PDFInfo
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Claims (19)
- 吸収(AC absorption)信号、微分位相(DPC differential phase)信号および暗視野(DFI dark field)信号を合成する微分位相コントラストイメージングための、主成分分析(PCA Principal Component Analysis)に基づく画像融合法において、
該画像融合法は、
a) 一連の2D画像を収集するステップを有しており、ここで各画像には、吸収が優位なピクセル、および/または、微分位相が優位なピクセル、および/または、暗視野が優位な信号が含まれており、
前記画像融合法にはさらに、
b) 前記吸収が優位なピクセル、および、前記微分位相が優位なピクセル、および、前記暗視野が優位なピクセル毎に、ピクセル値を列毎に抽出することによってベクトル画像を得るステップと、
c) 主成分分析(PCA principal component analysis)融合画像を形成するため、主成分分析(PCA)により、前記吸収が優位なピクセル、および、前記暗視野が優位なピクセルの前記ベクトル画像を融合するステップと、
d) スパーシャルスペース法か、フーリエ空間法か、または別の適当な画像融合方式かのいずれかにより、前記微分位相が優位なピクセルの前記ベクトル画像を、対応するPCA融合画像に合成するステップとを有する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記微分データは、殊に硬x線であるx線用装置から得られたものであり、
1つのサンプルから量的なx線画像を得るために、
a) X線源(x線)と、
b) 少なくとも第1回折格子(G1)および重ね合わされた第2回折格子(G2)と、
c) 複数の個別ピクセルを有する空間変調検出感度を備えた位置感知検出器(PSD position-sensitive detector)と、
d) 前記検出器(PSD)の画像を記録する手段と、
e) 吸収が優位なピクセル、および/または、微分位相コントラストが優位なピクセル、および/または、x線散乱が優位なピクセルとしてのそれぞれの個別のピクセルに対し、前記対象体の特性を識別するために一連の画像においてピクセル毎に強度を評価する手段とを有しており、
f) 連続してまたはステップで、0からπまたは2πまで前記サンプルを回転するかまたは前記装置および前記線源を前記サンプルに対して回転するかのいずれかによって前記一連の画像を収集する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1または2に記載の方法において、
近接場方式またはTalbot方式のいずれかで動作する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から3までのいずれか1項に記載の方法において、
前記第1回折格子(G1)は、低吸収型回折格子ではあるが大きなx線位相シフトを形成する、位相型回折格子かまたは吸収型回折格子のいずれかとして設計されたライン型回折格子(G1)であり、前記x線位相シフトは有利にはπまたはπの奇数倍である、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から3までのいずれか1項に記載の方法において、
前記第2回折格子(G2)は、前記第1回折格子(G1)の自己画像の周期と周期が同じx線高吸収コントラストを有するライン型回折格子であり、
前記第2回折格子(G2)は有利には、そのラインが前記第1ライン型回折格子(G1)のラインに対して平行になるように前記検出器(PSD)の前面近くに配置されている、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から6までのいずれか1項に記載の方法において、
1つの回折格子(G0,G1またはG2)を、他の1つまたは複数の回折格子に対して機械式にシフトさせることによって位相ステッピングを行う、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から7までのいずれか1項に記載の方法において、
欧州特許明細書第10167569.2号の請求項に記載されている方法によるプレーナ技術によって前記回折構造を作製する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から8までのいずれか1項に記載の方法において、
欧州特許明細書第10167569.2号の請求項に記載されている方法にしたがって前記微分位相情報を得る、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から9までのいずれか1項に記載の方法において、
前記第1回折格子(G1)と前記第2回折格子(G2)と間の前記位相関係は、前記強度曲線を1次にテーラー展開した値に正確に相応し、
国際特許明細書WO 2010/089319 A1の請求項に記載されている方法にしたがって前記微分位相の情報を得る、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から10までのいずれか1項に記載の方法において、
前記PCA融合画像は、前記第1主成分と前記データ行列とを乗算することによって計算され、すなわち、
I_e1=e1 T・I=s1×IAC+s2×IDFI
であり、ただしe1=[s1, s2]Tである、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から11までのいずれか1項に記載の方法において、
前記吸収が優位なピクセルに対する前記ベクトル画像、前記微分位相が優位なピクセルに対する前記ベクトル画像、および前記暗視野が優位なピクセルに対する前記ベクトル画像にPCAを実行することによって前記PCA融合画像を形成する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から12までのいずれか1項に記載の方法において、
エッジエンハンスメント作用を得るため、スパーシャルスペース演算、フーリエ空間演算または別の画像融合方式により、前記微分位相が優位なピクセルを前記PCA融合画像に合成する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から13までのいずれか1項に記載の方法において、
前記微分位相が優位なピクセルを前記PCA融合画像に合成するための1つのスパーシャルスペースパスは、
Ifuse=I_e1+δ×|IDPC|
によって得られ、ただしスケール値δは、前記エッジエンハンスメント作用の強さを制御する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1および請求項11から14までのいずれか1項に記載の方法において、
回折格子とは異なる択一的な手法によって吸収信号、微分位相コントラスト信号および暗視野信号を提供する、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から15までのいずれか1項に記載の方法において、
収集した前記2D画像を3D再構成する前または後に、前記吸収が優位なピクセル、および、前記微分位相が優位なピクセル、および、前記暗視野が優位なピクセルを合成するために使用される、
ことを特徴とする方法。 - a) X線源(x線)と、
b) 少なくとも第1回折格子(G1)および重ね合わされた第2回折格子(G2)と、
c) 複数の個別ピクセルを有する空間変調検出感度を備えた位置感知検出器(PSD position-sensitive detector)と、
d) 前記検出器(PSD)の画像を記録する手段と、
e) 吸収が優位なピクセル、および/または、微分位相コントラストが優位なピクセル、および/または、x線散乱が優位なピクセルとしてのそれぞれの個別のピクセルに対し、前記対象体の特性を識別するために一連の画像においてピクセル毎に強度を評価する手段とを有するx線用装置であって、
前記x線用装置は、
a) 一連の2D画像を収集し、ここで各画像には、吸収が優位なピクセル、および/または、微分位相が優位なピクセル、および/または、暗視野が優位な信号が含まれており、
b) 前記吸収が優位なピクセル、および、前記微分位相が優位なピクセル、および、前記暗視野が優位なピクセル毎に、ピクセル値を列毎に抽出することによってベクトル画像を取得し、
c) 主成分分析(PCA principal component analysis)融合画像を形成するため、主成分分析(PCA)により、前記吸収が優位なピクセル、および、前記暗視野が優位なピクセルの前記ベクトル画像を融合し、
d) スパーシャルスペース法か、フーリエ空間法か、または別の適当な画像融合方式かのいずれかにより、前記微分位相が優位なピクセルの前記ベクトル画像を、対応するPCA融合画像に合成する、
ことを特徴とするx線用装置。 - 請求項17記載のx線用装置において、
前記第1回折格子(G1)は、低吸収型回折格子ではあるが大きなx線位相シフトを形成する、位相型回折格子かまたは吸収型回折格子のいずれかとして設計されたライン型回折格子(G1)であり、前記x線位相シフトはπまたはπの奇数倍である、
ことを特徴とするx線用装置。 - 請求項17または18記載のx線用装置において、
前記第2回折格子(G2)は、前記第1回折格子(G1)の自己画像の周期と周期が同じx線高吸収コントラストを有するライン型回折格子であり、
前記第2回折格子(G2)は、そのラインが前記第1ライン型回折格子(G1)のラインに対して平行になるように前記検出器(PSD)の前面近くに配置されている、
ことを特徴とするx線用装置。
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