JP2014232420A - マイクロコントローラ及び誤り検出方法 - Google Patents
マイクロコントローラ及び誤り検出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014232420A JP2014232420A JP2013112789A JP2013112789A JP2014232420A JP 2014232420 A JP2014232420 A JP 2014232420A JP 2013112789 A JP2013112789 A JP 2013112789A JP 2013112789 A JP2013112789 A JP 2013112789A JP 2014232420 A JP2014232420 A JP 2014232420A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- storage unit
- set value
- unit
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 25
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims abstract description 48
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 8
- 230000010076 replication Effects 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 41
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
Description
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態のマイクロコントローラの一例を示す図である。
プロセッサ2は、マイクロコントローラ1の各部を制御する。プロセッサ2は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、MPU(Micro Processing Unit)、DSP(Digital Signal Processor)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、またはPLD(Programmable Logic Device)である。またプロセッサ2は、CPU、MPU、DSP、ASIC、PLDのうちの2以上の要素の組み合わせであってもよい。
図2は、誤り検出方法の一例を示すフローチャートである。
設定値aが、複製値aaと異なっている場合には、比較部6bはその旨をプロセッサ2に通知し、プロセッサ2は、設定値aを更新する。そして、履歴情報や優先順位も更新される。設定値aを更新した場合には、設定値aが最も新しいものとなるため、優先順位は最も低くなる。また、比較検証部6は、設定値aと複製値aaが同じである場合(誤りがない場合)は、比較した時間の情報を履歴情報に保存し、比較した時間が新しいものの優先順位を下げるようにしてもよい。
優先順位の最も高い設定値に対して、上記のような比較検証及び更新処理が行われると、比較部6bは、所定期間経過後に、次に優先順位の高い設定値に対して、上記と同様の比較検証を行う。
図3は、第2の実施の形態のマイクロコントローラの一例を示す図である。
マイクロコントローラ10は、CPU11、バスブリッジ12、周辺回路13−1,13−2,…,13−n、レジスタ14−1,14−2,…,14−n、ECC付RAM15、比較検証部16、クロック生成部17、バスB1,B2,B3,B4を有している。
周辺回路13−1〜13−nは、マイクロコントローラ10が制御する外部機器に対する接続用のインタフェース、タイマなどである。なお、周辺回路13−1〜13−nは、マイクロコントローラ1の外部に設けられていてもよい。
比較検証部16は、カウンタ20、優先順位判定部21、RAMアクセス部22、レジスタアクセス部23、比較部24を有している。
図5は、マイクロコントローラの動作開始時の処理の一例を示すフローチャートである。
図6は、ECC付RAMに格納されるデータの一例を示す図である。
ECC付RAM15には、CPU11から見たレジスタ14−1〜14−nのアドレスが割り当てられている。そして、各アドレスに対して、レジスタ14−1〜14−nの番号(No.1,No.2,…,No.n)、レジスタ14−1〜14−nに格納される設定値の複製値(設定値の初期値)が格納されている。さらに、複製値の書き込み時に生成されるエラーコードであるECC(ECC No.1,ECC No.2,…,ECC No.n)と、レジスタ14−1〜14−nにおいて、最後に書き込みが行われたときのカウンタ値(C1〜Cn)が格納されている。
ステップS20の処理では、優先順位判定部21は、レジスタアクセス部23を介して、レジスタ14−1〜14−nにアクセスして、周辺回路13−1〜13−nを有効または無効にするか指示する有効ビットが、有効を示すものであるか否かを判定する。
優先順位判定部21の記憶部21aは、たとえば、FIFO(First In First Out)で、判定した優先順位を、レジスタ番号No.1〜No.nで格納している。図8の例では、レジスタ番号No.1のレジスタ14−1の設定値が最も優先順位が高く、レジスタ番号No.2のレジスタ14−2の設定値、…、レジスタ番号No.nのレジスタ14−nの設定値の順に優先順位が低くなる。また、優先順位判定部の記憶部21aは、最も優先順位の高い設定値の履歴情報(カウンタ値)を保持するようにしてもよい。たとえば、レジスタ14−1の設定値が最も優先順位が高い場合、図6に示したカウンタ値C1が、記憶部21aに保持される。
最も優先順位が高いレジスタ14−1の設定値に対して、複製値との比較が行われたときのカウンタ値がCxであった場合、ECC付RAMに格納されるデータのうち、履歴情報を示すカウンタ値が、図9に示すように更新される。また、ステップS25の処理後には、ステップS21の処理に戻り、図8に示した優先順位判定部21の記憶部21aに格納されている優先順位が更新される。
図8の例では、レジスタ番号No.1のレジスタ14−1の設定値が最も優先順位が高かったが、比較検証の結果、複製値と一致している(誤りがない)と判定されたため、図10の例では、最も優先順位が低くなっている。代わりに、図8の例で、2番目に優先順位が高かったレジスタ番号No.2のレジスタ14−2の設定値が、図10の例では最も優先順位が高くなっている。また、優先順位の更新に伴い、記憶部21aは、最も優先順位が高い、レジスタ14−2の設定値に関する履歴情報(図6の例ではカウンタ値C2)を保持するようにしてもよい。
ステップS27の後は、ステップS21の処理に戻り、たとえば、図10に示したように、記憶部21aに格納される優先順位が更新される。
以上のように、本実施の形態のマイクロコントローラ10及び誤り検出方法によれば、比較検証部16が、書き込み時期または比較検証した時期が古い、誤りが発生している可能性の高い設定値に対して、優先的に誤り検出が行われる。これにより、CPU11の処理を中断せずに、設定値の誤りを容易に検出できる。
2 プロセッサ
3a,3b,3c 周辺回路
4,5 記憶部
4a,4b,4c レジスタ
6 比較検証部
6a 優先順位判定部
6b 比較部
Claims (5)
- 周辺回路の設定値を保持する第1の記憶部と、
前記設定値の複製値を保持し、読み出し時に前記複製値のエラー検出及び訂正を行う第2の記憶部と、
複数の前記設定値の前記第1の記憶部への書き込み時期に基づき、前記書き込み時期が古い前記設定値を優先的に前記第1の記憶部から読み出し、読み出した前記設定値に対応する前記複製値を前記第2の記憶部から読み出し、比較検証を行う比較検証部と、
を有することを特徴とするマイクロコントローラ。 - プロセッサを有し、
前記設定値と前記設定値に対応する前記複製値とが異なっている場合、前記比較検証部は、前記プロセッサに前記比較検証の結果を通知し、
前記プロセッサは、対応する前記複製値と異なっている前記設定値の更新を行うことを特徴とする請求項1に記載のマイクロコントローラ。 - 前記比較検証部は、前記設定値と前記設定値に対応する前記複製値とが異なっている場合、前記プロセッサに、前記設定値の更新履歴または前記比較検証を行った履歴を通知することを特徴とする請求項2に記載のマイクロコントローラ。
- 前記設定値と前記設定値に対応する前記複製値とが異なっている場合、前記比較検証部は、前記複製値を用いて、前記設定値を更新することを特徴とする請求項1に記載のマイクロコントローラ。
- 周辺回路の設定値を第1の記憶部に書き込み、
前記設定値の複製値を、読み出し時に前記複製値のエラー検出及び訂正を行う第2の記憶部に書き込み、
比較検証部が、複数の前記設定値の前記第1の記憶部への書き込み時期に基づき、前記書き込み時期が古い前記設定値を優先的に前記第1の記憶部から読み出し、読み出した前記設定値に対応する前記複製値を前記第2の記憶部から読み出し、比較検証を行う、
ことを特徴とする誤り検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013112789A JP6130735B2 (ja) | 2013-05-29 | 2013-05-29 | マイクロコントローラ及び誤り検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013112789A JP6130735B2 (ja) | 2013-05-29 | 2013-05-29 | マイクロコントローラ及び誤り検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014232420A true JP2014232420A (ja) | 2014-12-11 |
JP6130735B2 JP6130735B2 (ja) | 2017-05-17 |
Family
ID=52125765
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013112789A Expired - Fee Related JP6130735B2 (ja) | 2013-05-29 | 2013-05-29 | マイクロコントローラ及び誤り検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6130735B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022056987A (ja) * | 2020-09-30 | 2022-04-11 | 株式会社明電舎 | メモリエラー検出・訂正システム、メモリエラー検出・訂正方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03250347A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-08 | Sony Corp | メモリ装置 |
JP2004302792A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Nec Corp | 情報処理装置およびメモリチェック方法 |
JP2007148779A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Renesas Technology Corp | マイクロコントローラおよびram |
JP2008015618A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Nikon Corp | 記憶装置および電子機器 |
JP2008015965A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置、情報処理装置の動作方法およびプログラム |
-
2013
- 2013-05-29 JP JP2013112789A patent/JP6130735B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03250347A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-08 | Sony Corp | メモリ装置 |
JP2004302792A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Nec Corp | 情報処理装置およびメモリチェック方法 |
JP2007148779A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Renesas Technology Corp | マイクロコントローラおよびram |
JP2008015618A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Nikon Corp | 記憶装置および電子機器 |
JP2008015965A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置、情報処理装置の動作方法およびプログラム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022056987A (ja) * | 2020-09-30 | 2022-04-11 | 株式会社明電舎 | メモリエラー検出・訂正システム、メモリエラー検出・訂正方法 |
JP7447755B2 (ja) | 2020-09-30 | 2024-03-12 | 株式会社明電舎 | メモリエラー検出・訂正システム、メモリエラー検出・訂正方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6130735B2 (ja) | 2017-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4734003B2 (ja) | ソフトエラー訂正方法、メモリ制御装置及びメモリシステム | |
WO2016062084A1 (zh) | 掉电处理方法、装置及电子设备 | |
JP4834721B2 (ja) | メモリ制御装置およびメモリ制御方法 | |
JP2005242797A (ja) | エラー訂正回路 | |
JP2008046979A (ja) | メモリコントローラおよびメモリ制御方法 | |
JP2008009721A (ja) | 評価システム及びその評価方法 | |
WO2012172645A1 (ja) | メモリ制御装置および制御方法 | |
JP6130735B2 (ja) | マイクロコントローラ及び誤り検出方法 | |
JP4941954B2 (ja) | データエラー検出装置およびデータエラー検出方法 | |
JP2010181990A (ja) | データプロセッサ | |
JP5579257B2 (ja) | 主記憶装置における情報を復元するための装置及び方法 | |
JP2014016925A (ja) | 情報処理システム、データ切替方法およびプログラム | |
JP5843804B2 (ja) | 演算装置およびエラー処理方法 | |
JP2013156821A (ja) | データ処理装置、制御ユニット、メモリ制御方法 | |
JPWO2013132806A1 (ja) | 不揮発性論理集積回路と不揮発性レジスタの誤りビットの訂正方法 | |
JP3638729B2 (ja) | データ記憶制御方法及び装置 | |
JP6575194B2 (ja) | 演算処理装置および演算処理装置の制御方法 | |
JP2015001774A (ja) | 半導体集積回路及びその処理方法 | |
WO2013018202A1 (ja) | データ通信装置および制御方法 | |
WO2002001363A1 (fr) | Dispositif et procede de commande de memoire | |
JP4842036B2 (ja) | 半導体装置と、タイミング制御回路の異常検出方法 | |
JP6137944B2 (ja) | 半導体装置、試験回路及び試験方法 | |
JP5570252B2 (ja) | エラーチェック装置、エラーチェック方法およびエラーチェックプログラム | |
JP2013143733A (ja) | プログラマブルデバイス装置 | |
JP5564854B2 (ja) | 制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20160118 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160408 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170308 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170321 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170414 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6130735 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |