JP2014219286A - 信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法 - Google Patents

Abstract

【課題】信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ光ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐ。
【解決手段】信号光取得構造１０は、接触位置Ｐ１で被測定ファイバ５０に曲げを付与する曲げ支柱１１と、第１の把持位置Ｐ２で被測定ファイバ５０を把持するとともに、被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向に移動可能であることにより曲げ支柱１１における被測定ファイバ５０の曲げ角度θ１を制御する第１の把持部１２と、第２の把持位置Ｐ３において被測定ファイバ５０を把持する第２の把持部１３と、被測定ファイバ５０の側面に対し空隙Ｇを隔てて対向する一端面１４ａを有し、曲げ支柱１１による被測定ファイバ５０の曲げにより被測定ファイバ５０の側面から漏洩して一端面１４ａに入射した漏洩光Ｌ２を伝搬する測定用ファイバ１４とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法に関するものである。

特許文献１には、複数の光ファイバの中から特定の光ファイバを識別する方法が開示されている。この方法では、光ファイバを伝搬する光信号に含まれるファイバ識別データ信号を検出することによって特定の光ファイバを識別する。そのために、この方法では、光ファイバを屈折させて該光ファイバの側面から光信号を取り出し、該光信号をフォトダイオードによって検出する。

特表２０１０−５２９４６６号公報

信号光を伝搬する光ファイバの側面から一部の信号光を漏洩させて取り出し、該一部の信号光を測定するための技術が研究されている。このような信号光の取り出しのために、特許文献１では、光ファイバを屈折させて曲げを付与し、その曲げ部分からの漏洩光を検出している。この方式では、或る程度の検出精度を得るために曲げ角度を大きくして必要な大きさの信号光を漏洩させなければならない一方、曲げ角度を大きくし過ぎると、光ファイバ内部における信号光の損失が増加して通信を妨げるおそれがあるという、トレードオフが存在する。しかしながら、信号光を伝搬する光ファイバの種類や製造ばらつき等によって信号光の漏洩光量及び曲げ損失にばらつきがあるので、このようなトレードオフを解決することは困難を伴う。

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、光ファイバの種類や製造ばらつき等に起因する、信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ光ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法を提供することを目的とする。

上述した課題を解決するために、本発明による信号光取得構造は、信号光を伝搬する被測定ファイバの側面から一部の信号光を漏洩させて取り出すための信号光取得構造であって、被測定ファイバの所定の接触位置において被測定ファイバと接触することにより被測定ファイバに曲げを付与する曲げ付与部材と、接触位置に対し信号光の伝搬方向後方に位置する第１の把持位置において被測定ファイバを把持するとともに、被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に移動可能であることにより曲げ付与部材における被測定ファイバの曲げ角度を制御する第１の把持部と、接触位置に対し信号光の伝搬方向前方に位置する第２の把持位置において被測定ファイバを把持する第２の把持部と、被測定ファイバの側面に対し空隙を隔てて対向する一端面を有し、曲げ付与部材による被測定ファイバの曲げにより被測定ファイバの側面から漏洩して一端面に入射した一部の信号光を伝搬する測定用ファイバとを備えることを特徴とする。

この信号光取得構造では、第１及び第２の把持部によって把持された被測定ファイバに曲げ付与部材が接触することにより、被測定ファイバに所定角度の曲げが付与される。そして、第１の把持部が被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に移動可能となっており、第１の把持部の位置を変更することによって被測定ファイバの曲げ角度を任意に変更することができる。したがって、例えば被測定ファイバの曲げ損失が比較的大きい（すなわち漏洩光量が大きい）場合には曲げ角度を小さくして曲げ損失の過度の増加を抑え、また、被測定ファイバの曲げ損失が比較的小さい（すなわち漏洩光量が小さい）場合には曲げ角度を大きくして必要な漏洩光強度を得ることができる。このように、上記の信号光取得構造によれば、被測定ファイバの種類や製造ばらつき等に起因する、信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ被測定ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる。

また、上記の信号光取得構造では、測定用ファイバの一端面が、被測定ファイバの側面に対し空隙を隔てて対向している。これに対し、例えば測定用ファイバと被測定ファイバとの間に屈折率整合剤（グリース）を塗布する方式も考えられるが、作業現場において屈折率整合剤を安定的に塗布及び管理するためには個々の作業員に高い技術が要求される。また、信号光を測定した後に屈折率整合剤を拭き取る作業が必要となるが、完全に拭き取ることは極めて困難である。上記の信号光取得構造のように測定用ファイバと被測定ファイバの側面とを空隙を隔てて対向させることにより、上記のような問題を回避することができる。また、例えば測定用ファイバを被測定ファイバの側面に当接させる方式も考えられるが、そのような方式では被測定ファイバを押圧し、光損失を増大させるおそれがある。上記の信号光取得構造のように測定用ファイバと被測定ファイバの側面とを空隙を隔てて対向させることにより、被測定ファイバにおける光損失を抑えつつ信号光を好適に取得することができる。

また、信号光取得構造は、第１の把持位置から接触位置までの間の被測定ファイバの第１の光軸方向に対して角度θ１（但しθ１＞０°）を成し、第２の把持位置から接触位置までの間の被測定ファイバの第２の光軸方向に対して角度θ２（但しθ２≧０°）を成す基準線と直交する方向に対し、測定用ファイバの光軸が第１の光軸方向側へ傾斜していることを特徴としてもよい。このように、測定用ファイバの光軸方向を被測定ファイバの第１の光軸方向に近づけることによって、被測定ファイバから漏洩した信号光のうち測定用ファイバに入射する光の割合を高めることができる。

また、信号光取得構造は、測定用ファイバの一端面側の端部に取り付けられたフェルールを更に備え、被測定ファイバの側面と対向するフェルールの一端面が基準線に沿っていることを特徴としてもよい。これにより、測定用ファイバの端部に取り付けられたフェルールによる被測定ファイバへの押圧を防ぎ、被測定ファイバの光損失の増加を抑えることができる。

また、信号光取得構造は、第２の光軸方向と基準線との成す角度θ２が０°より大きいことを特徴としてもよい。このように、被測定ファイバの第２の把持位置から接触位置までの部分をフェルールの一端面から離すことによって、当該部分がフェルールに向けて撓んだ場合であっても被測定ファイバとフェルールとの接触を回避し、被測定ファイバの光損失の増加を抑えることができる。

また、信号光取得構造は、被測定ファイバの側面と、フェルールの一端面との間隔が５０μｍ以上１００μｍ以下であることを特徴としてもよい。この間隔が５０μｍ以上であることにより、被測定ファイバの外径のばらつきに拘わらず被測定ファイバとフェルールとの接触を回避し、被測定ファイバの光損失の増加を抑えることができる。また、本発明者の知見によれば、この間隔が１００μｍ以下であることにより、測定用ファイバに必要な大きさの信号光を入射させることができる。

また、信号光取得構造は、曲げ付与部材が、被測定ファイバに曲げを付与するように移動可能に設けられていることを特徴としてもよい。これにより、曲げを付与しない状態で第１及び第２の把持部に被測定ファイバを把持させた後に曲げ付与部材を移動させて曲げを付与することができるので、被測定ファイバを設置する作業を容易にすることができる。

また、信号光取得構造は、曲げ付与部材並びに第１及び第２の把持部を支持するベース部材を更に備え、第１の把持部、または第１及び第２の把持部の双方が、被測定ファイバを把持するファイバクランプ部と、被測定ファイバの光軸方向および曲げ付与部材の移動方向と交差する所定軸回りに回動可能なようにベース部材に固定された固定部と、ファイバクランプ部と固定部との距離を可変としつつ、ファイバクランプ部と固定部とを相互に連結する連結部材とを有することを特徴としてもよい。これにより、曲げ付与部材を移動させた際の被測定ファイバの角度変化および長さの変化を、第１の把持部、または第１及び第２の把持部の双方において好適に吸収することができる。

また、信号光取得構造は、被測定ファイバの光軸方向および曲げ付与部材の移動方向を含む平面に沿って固定部の位置を調整するための機構を更に備えることを特徴としてもよい。これにより、ファイバクランプ部を移動可能として被測定ファイバの曲げ角度を好適に制御することができる。

また、信号光取得構造は、測定用ファイバを保持するファイバ保持部を更に備え、曲げ付与部材及びファイバ保持部のうち少なくとも一方に、被測定ファイバに曲げを付与するように曲げ付与部材が移動した状態における曲げ付与部材と測定用ファイバの一端面との間隔を調整するための機構が設けられていることを特徴としてもよい。これにより、被測定ファイバの側面と測定用ファイバの一端面との間隔を調整して、測定用ファイバへの漏洩光の入射効率を更に高めることができる。

また、信号光取得構造は、曲げ付与部材における被測定ファイバとの接触部分の断面形状が円弧または楕円弧であることを特徴としてもよい。これにより、被測定ファイバの曲げ角度の増加に対する曲げ損失の急激な増加を防ぎ、曲げ損失および漏洩光量の制御を容易にすることができる。

また、本発明による信号光測定装置は、上述したいずれかの信号光取得構造と、測定用ファイバの他端面と光学的に結合され、測定用ファイバを伝搬した一部の信号光の強度を測定する受光部とを備えることを特徴とする。この信号光測定装置によれば、上述したいずれかの信号光取得構造を備えることによって、被測定ファイバにおける信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ被測定ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる。

また、本発明による信号光取得方法は、信号光を伝搬する被測定ファイバの側面から一部の信号光を漏洩させて取り出すための信号光取得方法であって、被測定ファイバの所定の接触位置に対して信号光の伝搬方向後方及び伝搬方向前方にそれぞれ位置する第１及び第２の把持位置において被測定ファイバを把持するとともに、所定の接触位置において被測定ファイバに曲げ付与部材を接触させることにより被測定ファイバに曲げを付与する第１ステップと、一端面が被測定ファイバの側面に対し空隙を隔てて対向するように配置された測定用ファイバを用い、曲げ付与部材による被測定ファイバの曲げにより被測定ファイバの側面から漏洩した一部の信号光を一端面に入射させる第２ステップと、被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に第１の把持位置を移動させることにより被測定ファイバの曲げ角度を変更したのち、被測定ファイバの側面から漏洩した一部の信号光を再び一端面に入射させる第３ステップとを含むことを特徴とする。

この信号光取得方法では、第３ステップにおいて第１の把持位置を被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に移動させることにより、被測定ファイバの曲げ角度を任意に変更することができる。したがって、上述した信号光取得装置と同様に、被測定ファイバの種類や製造ばらつき等に起因する、信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ被測定ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる。

本発明による信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法によれば、光ファイバの種類や製造ばらつき等に起因する、信号光の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの信号光を漏洩させつつ光ファイバ内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる。

図１は、本発明の一実施形態に係る信号光測定装置の構成を概略的に示す図である。 図２は、測定用ファイバの光軸とフェルールの一端面との成す角度を示す図である。 図３は、信号光測定装置の動作を説明するための図である。 信号光取得構造の具体例を示す平面図であって、被測定ファイバに曲げを付与していない状態を示している。 信号光取得構造の具体例を示す平面図であって、被測定ファイバに曲げを付与している状態を示している。 図４に示されたVI−VI線に沿った曲げ支柱及びベース部材の断面図である。 図７は、被測定ファイバの一例を説明するための図であって、一般的な加入者系光線路の構成が示されている。 図８は、被測定ファイバの側面とフェルールの一端面との間隔と、漏洩光の受光率および被測定ファイバの透過率との関係を示すグラフである。

以下、添付図面を参照しながら本発明による信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。

図１は、本発明の一実施形態に係る信号光測定装置１Ａの構成を概略的に示す図である。同図に示されるように、本実施形態の信号光測定装置１Ａは、信号光取得構造１０を備えている。信号光取得構造１０は、信号光Ｌ１を伝搬する測定対象の光ファイバ心線（以下、被測定ファイバという）５０の側面から一部の信号光Ｌ１を漏洩させて取り出すための構造である。本実施形態の信号光取得構造１０は、曲げ支柱１１と、第１の把持部１２と、第２の把持部１３と、測定用ファイバ１４と、フェルール１５とを備えている。

曲げ支柱１１は、本実施形態における曲げ付与部材である。曲げ支柱１１は、被測定ファイバ５０の所定の接触位置Ｐ１において、被測定ファイバ５０と接触することにより被測定ファイバ５０に曲げを付与する。曲げ支柱１１における被測定ファイバ５０との接触部分の、被測定ファイバ５０の光軸を含む断面の形状は、円弧または楕円弧である。なお、図１には、該断面形状が円弧である場合を示している。このような曲げ支柱１１は、例えば被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向を中心軸方向とする円柱状部材（または楕円柱状部材）によって好適に実現される。なお、曲げ支柱１１の断面形状は被測定ファイバ５０との接触部分において円弧または楕円弧であればよく、それ以外の領域は例えば平坦形状等であっても良い。即ち曲げ支柱１１の断面形状は、例えばＤ形状であっても良い。

被測定ファイバ５０の一部は、このような円柱状部材の側面に沿って配設されることにより、円弧状（または楕円弧状）に変形する。なお、このとき被測定ファイバ５０の曲率は曲げ支柱１１の形状により決定され、例えば曲げ支柱１１の断面が円弧である場合には、被測定ファイバ５０の曲率は一定である。このような曲げ支柱１１による被測定ファイバ５０の曲げによって、信号光Ｌ１のうち一部の光Ｌ２が被測定ファイバ５０の側面から漏洩する。

第１の把持部１２は、接触位置Ｐ１に対し信号光Ｌ１の伝搬方向後方に位置する第１の把持位置Ｐ２において、被測定ファイバ５０を把持（クランプ）する。このような第１の把持部１２は、例えば互いに対向する面を有する一対の部材により被測定ファイバ５０の第１の把持位置Ｐ２を挟持することによって好適に実現される。また、第１の把持部１２は、被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向Ｂ１，Ｂ２（好ましくは、被測定ファイバ５０の光軸方向と直交し、且つ曲げ支柱１１の中心軸方向と直交する方向）に移動可能なように構成されている。第１の把持部１２を方向Ｂ１，Ｂ２に移動させることによって、曲げ支柱１１における被測定ファイバ５０の曲げ角度を制御することができる。

第２の把持部１３は、接触位置Ｐ１に対し信号光Ｌ１の伝搬方向前方に位置する第２の把持位置Ｐ３において、被測定ファイバ５０を把持（クランプ）する。このような第２の把持部１３は、例えば互いに対向する面を有する一対の部材により被測定ファイバ５０の第２の把持位置Ｐ３を挟持することによって好適に実現される。

ここで、基準線Ａを定義する。基準線Ａは、曲げ支柱１１を構成する円柱状部材（又は楕円柱状部材）の中心軸方向と直交する方向に延びる直線であり、被測定ファイバ５０のうち第１の把持位置Ｐ２から接触位置Ｐ１までの間の部分の光軸ａ１と、被測定ファイバ５０のうち第２の把持位置Ｐ３から接触位置Ｐ１までの間の部分の光軸ａ２との双方を含む面内に含まれる直線である。そして、基準線Ａは、光軸ａ１の光軸方向（第１の光軸方向）に対して角度θ１（但しθ１＞０°）を成す。すなわち、第１の把持部１２は、被測定ファイバ５０のうち第１の把持位置Ｐ２から接触位置Ｐ１までの間の部分が基準線Ａに対して角度θ１を成すように配置される。また、基準線Ａは、光軸ａ２の光軸方向（第２の光軸方向）に対して角度θ２（但しθ２≧０°）を成す。換言すれば、第２の把持部１３は、被測定ファイバ５０のうち第２の把持位置Ｐ３から接触位置Ｐ１までの部分が基準線Ａに対して角度θ２を成すように配置される。なお、角度θ２は、０°より大きいことが好ましい。一実施例では、角度θ２は１０°である。

測定用ファイバ１４は一端面１４ａおよび他端面１４ｂを有する光ファイバである。測定用ファイバ１４の一端面１４ａは、被測定ファイバ５０の側面に対し空隙Ｇを隔てて対向している。すなわち、一端面１４ａと被測定ファイバ５０の側面との間には、屈折率整合剤やレンズ等は一切設けられていない。一端面１４ａには、被測定ファイバ５０の曲げによって被測定ファイバ５０の側面から漏洩した光Ｌ２が入射する。測定用ファイバ１４は、こうして入射した漏洩光Ｌ２を伝搬する。本実施形態では、一端面１４ａへの漏洩光Ｌ２の入射率を高めるために、基準線Ａと直交する方向（図中の直線Ｎ）に対し、測定用ファイバ１４の光軸が光軸ａ１方向側へ傾斜している。また、漏洩光Ｌ２の入射率を高めるためには、測定用ファイバ１４は通常のシングルモードファイバよりもコア径の大きなマルチモードファイバ等であることが好ましく、ＧＩ（Graded Index）ファイバまたは、ＳＩ（Step Index）ファイバを用いることが好ましい。

フェルール１５は、測定用ファイバ１４の一端面１４ａ側の端部において、その中心軸線が測定用ファイバ１４の中心軸線と一致するように取り付けられた略円柱状の部材である。本実施形態では、被測定ファイバ５０の側面と対向するフェルール１５の一端面１５ａが基準線Ａに沿っており、より好適には一端面１５ａが基準線Ａと平行である。上述したように、測定用ファイバ１４の光軸が基準線Ａと直交する方向（直線Ｎ）に対して傾斜しているため、フェルール１５の一端面１５ａは、測定用ファイバ１４の光軸に対して傾斜することとなる。ここで、図２は、測定用ファイバ１４の光軸とフェルール１５の一端面１５ａとの成す角度θ３を示す図である。この角度θ３は、例えば測定用ファイバ１４の光軸と基準線Ａとの成す角度と等しい。好ましくは、角度θ３は３０°以下である。

また、後述する実施例から明らかなように、被測定ファイバ５０の側面と、フェルール１５の一端面１５ａとの間隔ｄは、５０μｍ以上であることが好ましく、また１００μｍ以下であることが好ましい。

本実施形態の信号光測定装置１Ａは、上述した信号光取得構造１０に加えて、集光レンズ２８と、受光素子２９とを更に備えている。受光素子２９は例えばフォトダイオード（ＰＤ）であり、アバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）であることが好ましい（以下では、ＡＰＤを例示して説明する）。集光レンズ２８は、測定用ファイバ１４の他端面１４ｂと光学的に結合されており、他端面１４ｂから出射された漏洩光（信号光Ｌ１の一部）Ｌ２をＡＰＤ２９に向けて集光する。ＡＰＤ２９は、本実施形態における受光部であって、集光レンズ２８を介して測定用ファイバ１４の他端面１４ｂと光学的に結合されている。ＡＰＤ２９は、測定用ファイバ１４を伝搬した漏洩光Ｌ２を受け、漏洩光Ｌ２の光強度に応じた電気信号を生成する。なお、ＡＰＤ２９は、漏洩光Ｌ２に含まれる信号成分（ＭＡＣアドレス信号など）を識別可能な程度に高速動作が可能なものであることが好ましい。また、前述のコア径の大きな光ファイバを測定用ファイバ１４として用い、集光レンズ２８等の集光光学系を介して受光部（ＡＰＤ２９）に漏洩光を結合させることで、十分に漏洩光Ｌ２を受光部に結合し、信号成分を識別可能となる。

図３は、信号光測定装置１Ａの動作を説明するための図である。図３を参照して、信号光測定装置１Ａの動作とともに本実施形態による信号光測定方法について説明する。なお、ここでは、被測定ファイバ５０として、曲げ損失特性が異なる２種類の光ファイバ、すなわちＲ１５ファイバおよびＲ３０ファイバを例に挙げて説明する。なお、Ｒ１５ファイバは許容曲げ半径が１５ｍｍである光ファイバであり、曲げに強く大きな曲げ損失が生じにくいが、曲げ部分からの漏洩光が小さいので、信号を識別するために必要な大きさの漏洩光を得ることが難しい。また、Ｒ３０ファイバは許容曲げ半径が３０ｍｍである光ファイバであり、曲げ部分からの漏洩光が大きいので信号を識別し易いが、曲げに弱く大きな曲げ損失が生じ易い。

まず、図３（ａ）に示されるように、第１の把持部１２及び第２の把持部１３によって被測定ファイバ５０の第１の把持位置Ｐ２及び第２の把持位置Ｐ３を把持固定しつつ、被測定ファイバ５０の接触位置Ｐ１を曲げ支柱１１の表面に沿うように接触させて被測定ファイバ５０に曲げを付与する（第１ステップ）。このとき、被測定ファイバ５０の曲げ角度はθ１＋θ２であり、θ１の調整によって曲げ角度を変更することが好ましく、本実施形態ではθ１＝θ１ａとなる。以下ではθ１によって曲げ角度を調整する形態を説明するため、曲げ角度をθ１と称して説明する。

次に、曲げ支柱１１による被測定ファイバ５０の曲げにより被測定ファイバ５０の側面から漏洩した光Ｌ２を、測定用ファイバ１４の一端面１４ａに入射させる（第２ステップ）。そして、漏洩光Ｌ２をＡＰＤ２９で検出し、漏洩光Ｌ２に含まれる信号を識別する。

例えば曲げ角度θ１ａを２０°としたとき、被測定ファイバ５０がＲ３０ファイバである場合には、望ましい透過率（例えば−２．０ｄＢ以上）を満足するので、曲げ損失が抑えられ、信号光Ｌ１の伝搬を妨げない。また、必要な光量（例えば−３０ｄＢ以上）の漏洩光Ｌ２を検出することが可能である。しかし、被測定ファイバ５０がＲ３０ファイバよりも曲げ損失が小さい（すなわち漏洩が少ない）Ｒ１５ファイバである場合には、必要な大きさの漏洩光Ｌ２が得られず、信号の識別ができない可能性がある。

すなわち、信号を識別できないということは、被測定ファイバ５０がＲ１５ファイバであることを意味する。そこで、図３（ｂ）に示されるように、第１の把持部１２を移動させて曲げ角度をθ１＝θ１ｂに変更したのち、この状態で被測定ファイバ５０の側面から漏洩する光Ｌ２を測定用ファイバ１４の一端面１４ａに入射させ、光Ｌ２をＡＰＤ２９で検出して再び信号の識別を行う（第３ステップ）。

例えば、曲げ角度θ１ｂを２５°としたとき、Ｒ１５ファイバは望ましい透過率（例えば−２．０ｄＢ以上）を満足するので、曲げ損失が抑えられ、信号光Ｌ１の伝搬を妨げない。また、必要な大きさ（例えば−３５ｄＢ以上）の漏洩光Ｌ２を検出することが可能である。なお、Ｒ１５ファイバは、曲げ角度θ１ｂが３０°であっても透過率及び受光率を満足することができる。

なお、上記の説明ではＲ１５ファイバおよびＲ３０ファイバを例示したが、同種の被測定ファイバであっても製造誤差等によって曲げ損失特性にばらつきがあることが多い。例えば、同じＲ１５ファイバであっても、曲げ許容半径が１５ｍｍから例えば１２ｍｍ程度までの範囲内でばらつく場合がある。したがって、同種の被測定ファイバであっても、漏洩光Ｌ２の強度に応じて曲げ角度θ１を異ならせてもよい。すなわち、被測定ファイバの種類に拘わらず、まず曲げ角度θ１ａで漏洩光Ｌ２の検出を行い、必要とする光強度が得られない場合には曲げ角度θ１ｂ（＞θ１ａ）で漏洩光Ｌ２の検出を行い、それでも必要とする光強度が得られない場合には更に曲げ角度を大きくするとよい。

また、上記の説明では望ましい透過率を−２．０ｄＢとし、望ましい受光率を−３５ｄＢ以上としたが、透過率及び受光率としては適宜、望ましい値が設定されるとよい。透過率に関しては、被測定ファイバ５０が現用線であることから、通信に支障が生じない範囲で適切な値が設定されるとよい。また、受光率に関しては、ＡＰＤ２９が反応し得る最低限の光量に基づいて設定されるとよい。例えば、１Ｇ伝送に対応しているＡＰＤの場合、最小受光感度は概ね−３５ｄＢｍである。したがって、被測定ファイバ５０を通過する信号光Ｌ１の光強度を０ｄＢｍとした場合、受光率は−３５ｄＢ以上であることが望ましい。

ここで、本実施形態の信号光取得構造１０の詳細な構成例について説明する。図４及び図５は、信号光取得構造１０の具体例を示す平面図である。なお、図４は被測定ファイバ５０に曲げを付与していない状態を示しており、図５は被測定ファイバ５０に曲げを付与している状態を示している。これらの図に示されるように、信号光取得構造１０は、上述した曲げ支柱１１と、第１の把持部１２及び第２の把持部１３と、測定用ファイバ１４と、フェルール１５とを備えている。更に、信号光取得構造１０は、曲げ支柱１１、第１の把持部１２、及び第２の把持部１３を支持する板状のベース部材２０を更に備えている。

曲げ支柱１１は、被測定ファイバ５０に曲げを付与するように移動可能に設けられている。本実施形態では、曲げ支柱１１は、被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向に移動可能なようにベース部材２０に取り付けられている。図６は、図４に示されたVI−VI線に沿った曲げ支柱１１及びベース部材２０の断面図である。図６に示されるように、ベース部材２０には厚さ方向にベース部材２０を貫通する開口２１が形成されており、この開口２１は、図４及び図５に示されるように被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向を長手方向として形成されている。そして、曲げ支柱１１は、ベース部材２０の厚さ方向に延びる軸部１１ａを有しており、この軸部１１ａが開口２１内に挿通されることによって、開口２１が曲げ支柱１１を案内する。このような構成により、曲げ支柱１１は、被測定ファイバ５０に曲げを付与していない状態（図４）から被測定ファイバ５０に曲げを付与する状態（図５）へ、被測定ファイバ５０の光軸方向と交差する方向に移動可能とされている。

また、第１の把持部１２は、ファイバクランプ部１２ａ、固定部１２ｂ、及び連結部材１２ｃを有している。同様に、第２の把持部１３は、ファイバクランプ部１３ａ、固定部１３ｂ、及び連結部材１３ｃを有している。ファイバクランプ部１２ａ及び１３ａは、図１に示された第１の把持位置Ｐ２及び第２の把持位置Ｐ３のそれぞれにおいて、被測定ファイバ５０を把持（クランプ）する部分である。固定部１２ｂ及び１３ｂは、被測定ファイバ５０の光軸方向および曲げ支柱１１の移動方向と交差する所定軸（例えば、図４及び図５の紙面に垂直な軸）回りに回動可能なように、それぞれ支軸１２ｄ及び１３ｄを介してベース部材２０に固定されている。連結部材１２ｃは、ファイバクランプ部１２ａと固定部１２ｂとの距離を可変としつつ、ファイバクランプ部１２ａと固定部１２ｂとを相互に連結する。同様に、連結部材１３ｃは、被測定ファイバ５０の光軸方向におけるファイバクランプ部１３ａと固定部１３ｂとの距離を可変としつつ、ファイバクランプ部１３ａと固定部１３ｂとを相互に連結する。本実施形態では、連結部材１２ｃ及び１３ｃはバネ等の弾性部材から成り、被測定ファイバ５０の光軸方向に伸縮することによって上記の構成を実現している。

また、信号光取得構造１０は、被測定ファイバ５０の光軸方向および曲げ支柱１１の移動方向を含む平面（例えば、ベース部材２０の板面）に沿って固定部１２ｂ及び１３ｂそれぞれの位置を調整するための位置調整機構２２及び２３を更に備えている。一例では、位置調整機構２２は、ベース部材２０に形成された溝２４にスライド可能に嵌入されたプレート状の部材２２ａと、該部材２２ａをベース部材２０に固定するボルト２２ｂとを含んで構成されている。そして、固定部１２ｂの支軸１２ｄが部材２２ａに回転可能に支持されることによって、固定部１２ｂの位置が溝２４の長手方向に調整可能とされている。これと同様に、位置調整機構２３は、ベース部材２０に形成された溝２５にスライド可能に嵌入されたプレート状の部材２３ａと、該部材２３ａをベース部材２０に固定するボルト２３ｂとを含んで構成されている。そして、固定部１３ｂの支軸１３ｄが部材２３ａに回転可能に支持されることによって、固定部１３ｂの位置が溝２５の長手方向に調整可能とされている。

また、信号光取得構造１０は、測定用ファイバ１４を保持するファイバ保持部２６を更に備えている。ファイバ保持部２６は、例えばフェルール１５を保持することによって測定用ファイバ１４を保持する。そして、曲げ支柱１１及びファイバ保持部２６のうち少なくとも一方には、被測定ファイバ５０に曲げを付与するように曲げ支柱１１が移動した状態（図５を参照）において曲げ支柱１１と測定用ファイバ１４の一端面１４ａとの間隔を調整するための機構が設けられていることが好ましい。本実施形態では、そのような機構として調整部２７が設けられている。調整部２７は、ベース部材２０に取り付けられ、曲げ支柱１１と測定用ファイバ１４の一端面１４ａとの間隔が可変となるようにファイバ保持部２６を支持している。

図４及び図５に示された信号光取得構造１０は、次のように操作される。まず、図４に示されるように、第１の把持部１２のファイバクランプ部１２ａおよび第２の把持部１３のファイバクランプ部１３ａにより、被測定ファイバ５０が把持される。このとき、曲げ支柱１１は開口２１の一端側（測定用ファイバ１４から離れた側）に位置しており、被測定ファイバ５０の配置を妨げない。次に、図５に示されるように、曲げ支柱１１が開口２１の他端側（測定用ファイバ１４に近接する側）に移動することによって、被測定ファイバ５０に曲げが付与される。このとき、基準線Ａ（図１を参照）に対する被測定ファイバ５０の光軸方向の角度が変化するが、その角度変化は、支軸１２ｄ，１３ｄ回りの固定部１２ｂ，１３ｂの回動動作によって吸収される。また、このとき、第１の把持部１２と第２の把持部１３との間の被測定ファイバ５０の長さも変化するが、その長さの変化は連結部材１２ｃ及び１３ｃが伸縮することによって吸収される。

その後、曲げ支柱１１による被測定ファイバ５０の曲げにより被測定ファイバ５０の側面から漏洩した光を、測定用ファイバ１４の一端面１４ａに入射させる。そして、漏洩光を検出し、漏洩光に含まれる信号を識別する。このとき、信号を識別できない場合には、位置調整機構２３により第１の把持部１２を移動させて曲げ角度を大きくし、この状態で被測定ファイバ５０の側面から漏洩する光を測定用ファイバ１４の一端面１４ａに入射させ、再び信号の識別を行う。

以上の構成を備える信号光測定装置１Ａ、信号光取得構造１０、および信号光取得方法によって得られる効果について説明する。本実施形態では、前述したように、第１の把持部１２が被測定ファイバ５０の光軸ａ１の方向と交差する方向Ｂ１，Ｂ２に移動可能となっており、第１の把持部１２の位置を変更することによって被測定ファイバ５０の曲げ角度θ１を任意に変更することができる。したがって、被測定ファイバ５０の曲げ損失が比較的大きい（すなわち漏洩光量が大きい）場合には曲げ角度θ１を小さくして曲げ損失の過度の増加を抑え、また、被測定ファイバ５０の曲げ損失が比較的小さい（すなわち漏洩光量が小さい）場合には曲げ角度θ１を大きくして必要とする漏洩光強度を得ることができる。このように、本実施形態によれば、被測定ファイバ５０の種類や製造ばらつき等に起因する、信号光Ｌ１の漏洩光量及び曲げ損失のばらつきによる影響を低減し、必要な大きさの漏洩光Ｌ２を取得しつつ被測定ファイバ５０内部における光損失の過度の増加を防ぐことができる。

特に、Ｒ１５ファイバとＲ３０ファイバとでは曲げ特性が大きく異なるので、漏洩光Ｌ２を取得する際の好適な曲げ角度θ１も互いに異なる。また、予め被測定ファイバの種類を特定することは手間がかかってしまう。更に、Ｒ３０ファイバを誤ってＲ１５ファイバに適した曲げ角度で曲げてしまうと、大きな曲げ損失が生じることにより通信を妨げてしまうおそれがある。本実施形態によれば、被測定ファイバ５０にＲ１５ファイバとＲ３０ファイバとが混在する場合であっても、各々に適した曲げ角度θ１でもって曲げを付与し、必要な大きさの漏洩光Ｌ２を容易に取得することができる。また、測定用ファイバ１４の光軸が、基準線Ａと直交する方向（図中の直線Ｎ）に対し、光軸ａ１方向側へ傾斜しているので、測定用ファイバ１４の一端面１４ａへの漏洩光Ｌ２の入射率を高めることができる。さらに、第１の把持部１２によって被測定ファイバ５０の曲げ角度を調整することで、漏洩光Ｌ２の入射率を悪化させることなく、好適な曲げ角度θ１を設定可能である。即ち、第２の把持部１３によって曲げ角度を調整すると、漏洩光Ｌ２のうち測定用ファイバ１４の光軸とは傾斜の傾きの符号が異なる漏洩光Ｌ２が増大するため、入射率を悪化させることが懸念されるが、第１の把持部１２によって被測定ファイバ５０の曲げ角度を調整すれば、測定用ファイバ１４の光軸と傾斜の傾きの符号が同じ漏洩光Ｌ２が増大するため、入射率の悪化が抑制される。

また、本実施形態の信号光取得構造１０では、測定用ファイバ１４の一端面１４ａが、被測定ファイバ５０の側面に対し空隙Ｇを隔てて対向している。測定用ファイバ１４と被測定ファイバ５０の側面との光結合効率を高めるため、例えば測定用ファイバ１４と被測定ファイバ５０との間に屈折率整合剤（グリース）を塗布する方式も考えられる。しかし、作業現場において屈折率整合剤を安定的に塗布及び管理するためには、個々の作業員に高い技術が要求される。また、信号光Ｌ１を測定した後に屈折率整合剤を拭き取る作業が必要となるが、完全に拭き取ることは極めて困難である。これに対し、本実施形態の信号光取得構造１０のように、測定用ファイバ１４と被測定ファイバ５０の側面とを空隙Ｇを隔てて対向させることにより、上記のような問題を回避することができる。また、例えば測定用ファイバ１４を被測定ファイバ５０の側面に当接させる方式も考えられるが、そのような方式では被測定ファイバ５０を押圧し、光損失を増大させるおそれがある。被測定ファイバ５０の外径のばらつきを考えると、被測定ファイバ５０を押圧しないように測定用ファイバ１４の一端面１４ａの位置を制御する方式も現実的ではない。これらの方式に対し、本実施形態の信号光取得構造１０のように、測定用ファイバ１４と被測定ファイバ５０の側面とを空隙Ｇを隔てて対向させることにより、被測定ファイバ５０における光損失を抑えつつ信号光Ｌ１を好適に取得することができる。

但し、空隙Ｇが過度に広いと漏洩光Ｌ２が拡散してしまい、漏洩光Ｌ２のうち測定用ファイバ１４に入射する光の割合（受光率）が低下してしまう。したがって、空隙Ｇの広さは適切に設定されることが望ましい。なお、後述する実施例より、被測定ファイバ５０の側面と、フェルール１５の一端面１５ａとの間隔ｄは１００μｍ以下であることが好ましい。間隔ｄが１００μｍ以下であれば、漏洩光Ｌ２の受光率を著しく低下させることなく、必要な大きさの漏洩光Ｌ２を得ることができる。

また、被測定ファイバ５０としては現在、外径が０．２５ｍｍの光ファイバと、外径が０．５ｍｍの光ファイバとがある。外径が０．２５ｍｍである光ファイバの外径公差は±０．０１５ｍｍと規定されており、外径が０．５ｍｍである光ファイバの外径公差は±０．０２５ｍｍと規定されている。これらのことから、測定用ファイバ１４が被測定ファイバ５０に接触しない為には、間隔ｄは５０μｍ以上であることが好ましい。

また、本実施形態のように、測定用ファイバ１４の光軸は、基準線Ａと直交する方向に対し被測定ファイバ５０の光軸ａ１方向側へ傾斜していることが好ましい。このように、測定用ファイバ１４の光軸方向を被測定ファイバ５０の光軸ａ１の方向に近づけることによって、被測定ファイバ５０から漏洩した光Ｌ２のうち測定用ファイバ１４に入射する光の割合を高めることができる。

また、本実施形態のように、被測定ファイバ５０の側面と対向するフェルール１５の一端面１５ａは、基準線Ａに沿っていることが好ましい。これにより、フェルール１５による被測定ファイバ５０への押圧を防ぎ、被測定ファイバ５０の光損失の増加を抑えることができる。

また、光軸ａ２の方向と基準線Ａとの成す角度θ２は、０°より大きいことが好ましい。被測定ファイバ５０の第２の把持位置Ｐ３から接触位置Ｐ１までの部分は、被測定ファイバ５０に加えられる張力の大きさによっては完全な直線とならず、フェルール１５に向けて撓む場合がある。上記のように、角度θ２を０°より大きくし、被測定ファイバ５０の第２の把持位置Ｐ３から接触位置Ｐ１までの部分をフェルール１５の一端面１５ａから離すことによって、当該部分がフェルール１５に向けて撓んだ場合であっても被測定ファイバ５０とフェルール１５との接触を回避し、被測定ファイバ５０の光損失の増加を抑えることができる。

また、図４及び図５に示されたように、曲げ支柱１１は、被測定ファイバ５０に曲げを付与するように移動可能に設けられていることが好ましい。これにより、曲げを付与しない状態で第１の把持部１２及び第２の把持部１３に被測定ファイバ５０を把持させた後に曲げ支柱１１を移動させて曲げを付与することができるので、被測定ファイバ５０を設置する作業を容易にすることができる。

また、曲げ支柱１１及びファイバ保持部２６のうち少なくとも一方に、被測定ファイバ５０に曲げを付与するように曲げ支柱１１が移動した状態における、曲げ支柱１１と測定用ファイバ１４の一端面１４ａとの間隔を調整するための機構（例えば調整部２７）が設けられていることが好ましい。これにより、被測定ファイバ５０の側面と測定用ファイバ１４の一端面１４ａとの間隔を調整して、測定用ファイバ１４への漏洩光の入射効率を更に高めることができる。なお、曲げ支柱１１と測定用ファイバ１４の一端面１４ａとの間隔は、曲げ支柱１１の可動範囲において調整されても良いが、曲げ支柱１１を開口２１の他端に当接させることにより位置決めした上で、ファイバ保持部２６の位置の微調整を調整部２７によって行うことがより好ましい。

また、本実施形態のように、曲げ支柱１１における被測定ファイバ５０との接触部分の断面形状は円弧または楕円弧であることが好ましい。これにより、被測定ファイバ５０の曲げ角度θ１の増加に対する曲げ損失の急激な増加を防ぎ、曲げ損失および漏洩光量の制御を容易にすることができる。

ここで、図７は、本実施形態の被測定ファイバ５０の一例を説明するための図であって、加入者系光線路４０の構成が示されている。この加入者系光線路４０は、基地局に設置されたＯＬＴ（Optical Line Terminal）４１と、加入者宅に設けられたＯＮＵ（Optical Network Unit）４２と、クロージャー４３とを備えている。クロージャー４３は、筐体４３ａと、筐体４３ａに収容されたスプリッタ４３ｂとを有する。スプリッタ４３ｂは、複数のＯＬＴ４１から配線された複数の光ファイバ４５と、一つのＯＮＵ４２から配線された光ファイバ４４とを相互に結合する。

このような加入者系光線路４０において、ＯＬＴ４１は所定のＯＮＵ４２に対し、ＯＬＴ４１への上り信号の送出を許可する信号を送出する。これに対し、ＯＮＵ４２は所定時間内にＯＬＴ４１へ上り信号を送出する。このように、加入者系光線路４０では、ＯＬＴ４１とＯＮＵ４２との間で双方向通信が行われる。ＯＮＵ４２から送出される回線の使用状態を把握する際には、個別のＭＡＣアドレス信号の識別が必要となる。このような信号識別のために用いられる従来の光キャプチャ装置では、基地局内に設けられる光カプラまたはファイバセレクタを介してＯＮＵ４２からの信号を受信し、その受信信号に含まれるＭＡＣアドレス信号を識別する。したがって、従来の光キャプチャ装置では、作業場所が基地局内に限定され、基地局と加入者宅との間の光線路において作業ができないという問題がある。

そのような問題に対し、本実施形態の信号光測定装置１Ａは、光ファイバの側面から信号光を取り出すことができるので、基地局内に限定されず、ＯＬＴ４１とＯＮＵ４２との間の光線路において信号を受信することが可能となる。例えば、図７に示されたクロージャー４３の筐体４３ａの内部（図中の部分Ｅ）において、ＯＮＵ４２とスプリッタ４３ｂとを接続する光ファイバ４５から信号光を取り出し、該信号光に含まれるＭＡＣアドレス信号を識別することができる。したがって、光アクセス網の切替工事の高速化や、確実性の向上を図ることができる。また、双方向通信を行う際の上り信号と下り信号の一方の漏れ光を取得でき、且つ、通過損を小さくして双方向通信を妨害しないので、双方向通信を維持しつつ、その通信光を解析出来る。

（実施例）
図８（ａ）は、上記実施形態の一実施例として、被測定ファイバ５０の側面とフェルール１５の一端面１５ａとの間隔ｄと、漏洩光Ｌ２の受光率との関係に関する評価結果を示すグラフである。また、図８（ｂ）は、間隔ｄと、被測定ファイバ５０の透過率との関係を示すグラフである。図８（ａ）及び図８（ｂ）において、グラフＧ１１及びＧ２１は被測定ファイバ５０がＲ３０ファイバである場合を示しており、グラフＧ１２及びＧ２２は被測定ファイバ５０がＲ１５ファイバである場合を示している。また、評価に用いた測定用ファイバ１４の開口数（ＮＡ）は０．２２であり、曲げ支柱１１の直径（曲げ径）は８ｍｍであった。

図８（ａ）から明らかなように、間隔ｄが１００μｍを超えると受光率が大きく低下するが、１００μｍ以下であれば数ｄＢ程度の低下で済む。また、図８（ｂ）から明らかなように、間隔ｄを５０μｍ以上とすると、空隙Ｇを設けない場合（ｄ＝０）と比較して、透過率が改善することがわかる。例えばＲ３０ファイバの場合（グラフＧ２１）、透過率は約０．５ｄＢ改善している。以上のことから、間隔ｄは５０μｍ以上１００μｍ以下であることが好ましい。

以上、本発明に係る信号光取得構造、信号光測定装置、および信号光取得方法の好適な実施形態について説明したが、本発明は必ずしも上記実施形態に限られず、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。

１Ａ…信号光測定装置、１０…信号光取得構造、１１…曲げ支柱、１２…第１の把持部、１３…第２の把持部、１４…測定用ファイバ、１５…フェルール、２８…集光レンズ、２９…ＡＰＤ、４０…加入者系光線路、４３…クロージャー、４４，４５…光ファイバ、５０…被測定ファイバ、Ａ…基準線、ａ１，ａ２…光軸、ｄ…間隔、Ｇ…空隙、Ｌ１…信号光、Ｌ２…漏洩光、Ｐ１…接触位置、Ｐ２…第１の把持位置、Ｐ３…第２の把持位置、θ１…曲げ角度。

Claims (12)

1. 信号光を伝搬する被測定ファイバの側面から一部の前記信号光を漏洩させて取り出すための信号光取得構造であって、
   前記被測定ファイバの所定の接触位置において前記被測定ファイバと接触することにより前記被測定ファイバに曲げを付与する曲げ付与部材と、
   前記接触位置に対し前記信号光の伝搬方向後方に位置する第１の把持位置において前記被測定ファイバを把持するとともに、前記被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に移動可能であることにより前記曲げ付与部材における前記被測定ファイバの曲げ角度を制御する第１の把持部と、
   前記接触位置に対し前記信号光の伝搬方向前方に位置する第２の把持位置において前記被測定ファイバを把持する第２の把持部と、
   前記被測定ファイバの側面に対し空隙を隔てて対向する一端面を有し、前記曲げ付与部材による前記被測定ファイバの曲げにより前記被測定ファイバの側面から漏洩して前記一端面に入射した前記一部の信号光を伝搬する測定用ファイバと
   を備えることを特徴とする、信号光取得構造。
2. 前記第１の把持位置から前記接触位置までの間の前記被測定ファイバの第１の光軸方向に対して角度θ１（但しθ１＞０°）を成し、前記第２の把持位置から前記接触位置までの間の前記被測定ファイバの第２の光軸方向に対して角度θ２（但しθ２≧０°）を成す基準線と直交する方向に対し、前記測定用ファイバの光軸が前記第１の光軸方向側へ傾斜していることを特徴とする、請求項１に記載の信号光取得構造。
3. 前記測定用ファイバの前記一端面側の端部に取り付けられたフェルールを更に備え、
   前記被測定ファイバの側面と対向する前記フェルールの一端面が前記基準線に沿っていることを特徴とする、請求項２に記載の信号光取得構造。
4. 前記第２の光軸方向と前記基準線との成す角度θ２が０°より大きいことを特徴とする、請求項３に記載の信号光取得構造。
5. 前記被測定ファイバの側面と、前記フェルールの前記一端面との間隔が５０μｍ以上１００μｍ以下であることを特徴とする、請求項３または４に記載の信号光取得構造。
6. 前記曲げ付与部材が、前記被測定ファイバに曲げを付与するように移動可能に設けられていることを特徴とする、請求項１〜５のいずれか一項に記載の信号光取得構造。
7. 前記曲げ付与部材並びに前記第１及び第２の把持部を支持するベース部材を更に備え、
   前記第１の把持部、または前記第１及び第２の把持部の双方が、
   前記被測定ファイバを把持するファイバクランプ部と、
   前記被測定ファイバの光軸方向および前記曲げ付与部材の移動方向と交差する所定軸回りに回動可能なように前記ベース部材に固定された固定部と、
   前記ファイバクランプ部と前記固定部との距離を可変としつつ、前記ファイバクランプ部と前記固定部とを相互に連結する連結部材と
   を有することを特徴とする、請求項６に記載の信号光取得構造。
8. 前記被測定ファイバの光軸方向および前記曲げ付与部材の移動方向を含む平面に沿って前記固定部の位置を調整するための機構を更に備えることを特徴とする、請求項７に記載の信号光取得構造。
9. 前記測定用ファイバを保持するファイバ保持部を更に備え、
   前記曲げ付与部材及び前記ファイバ保持部のうち少なくとも一方に、前記被測定ファイバに曲げを付与するように前記曲げ付与部材が移動した状態における前記曲げ付与部材と前記測定用ファイバの前記一端面との間隔を調整するための機構が設けられていることを特徴とする、請求項６〜８のいずれか一項に記載の信号光取得構造。
10. 前記曲げ付与部材における前記被測定ファイバとの接触部分の断面形状が円弧または楕円弧であることを特徴とする、請求項１〜９のいずれか一項に記載の信号光取得構造。
11. 請求項１〜１０のいずれか一項に記載された信号光取得構造と、
    前記測定用ファイバの他端面と光学的に結合され、前記測定用ファイバを伝搬した前記一部の信号光の強度を測定する受光部と
    を備えることを特徴とする、信号光測定装置。
12. 信号光を伝搬する被測定ファイバの側面から一部の前記信号光を漏洩させて取り出すための信号光取得方法であって、
    前記被測定ファイバの所定の接触位置に対して前記信号光の伝搬方向後方及び伝搬方向前方にそれぞれ位置する第１及び第２の把持位置において前記被測定ファイバを把持するとともに、前記所定の接触位置において前記被測定ファイバに曲げ付与部材を接触させることにより前記被測定ファイバに曲げを付与する第１ステップと、
    一端面が前記被測定ファイバの側面に対し空隙を隔てて対向するように配置された測定用ファイバを用い、前記曲げ付与部材による前記被測定ファイバの曲げにより前記被測定ファイバの側面から漏洩した前記一部の信号光を前記一端面に入射させる第２ステップと、
    前記被測定ファイバの光軸方向と交差する方向に前記第１の把持位置を移動させることにより前記被測定ファイバの曲げ角度を変更したのち、前記被測定ファイバの側面から漏洩した前記一部の信号光を再び前記一端面に入射させる第３ステップと
    を含むことを特徴とする、信号光取得方法。

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