JP6523202B2 - ローカル光入出力光学系の調心方法およびローカル光入出力光学装置 - Google Patents
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Description
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバの他端に接続可能であり、前記プローブファイバのシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバと、
前記プローブファイバが受光した前記漏洩光を前記プローブファイバから直接あるいは前記専用シングルモードファイバを介して受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備える。
前記調心機構に対して前記プローブファイバの前記一端の位置を移動させ、前記専用シングルモードファイバを介さない前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第1変動曲線を取得し、
前記調心機構に対して前記第1変動曲線の半値全幅の中央となる第1位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させ、
前記調心機構に対して前記プローブファイバの前記一端の位置を前記第1位置の近傍で移動させ、前記専用シングルモードファイバを介した前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第2変動曲線を取得し、
前記調心機構に対して前記第2変動曲線のピークとなる第2位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる
ことを特徴とする。
前記プローブファイバの前記一端の位置を移動させ、前記専用シングルモードファイバを介さない前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第1変動曲線を取得し、前記第1変動曲線の半値全幅の中央となる第1位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる粗調心工程と、
前記プローブファイバの前記一端の位置を前記第1位置の近傍で移動させ、前記専用シングルモードファイバを介した前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第2変動曲線を取得し、前記調心機構に対して前記第2変動曲線のピークとなる第2位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる微調心工程と、
を行うことを特徴とする。
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光を専用ダブルクラッドファイバ又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記光スイッチに接続する前記専用ダブルクラッドファイバが伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するダブルクラッドファイバ用受光デバイスと、
前記光スイッチに接続する前記専用シングルモードファイバが伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するシングルモードファイバ用受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記ダブルクラッドファイバ用受光デバイス又は前記シングルモードファイバ用受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備える。
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバの他端に一端を接続可能であり、前記プローブファイバのシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバと、
前記プローブファイバの他端又は前記専用シングルモードファイバの他端を接続可能なコネクタと、
前記コネクタに結合された前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備える。
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記ダブルクラッドファイバの中継路又は前記専用シングルモードファイバで伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備える。
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記ダブルクラッドファイバの中継路で伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記専用シングルモードファイバで伝搬されてきた前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度又は前記受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備える。
図7から図10は、本実施形態の光ファイバ側方入出力装置301を説明する図である。光ファイバ側方入出力装置301は、曲げ部が形成された主光ファイバ1に対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバ11であり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバ31と、
プローブファイバ31の他端に接続可能であり、プローブファイバ31のシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバ19と、
プローブファイバ31が受光した前記漏洩光をプローブファイバ31から直接あるいは専用シングルモードファイバ19を介して受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイス15と、
プローブファイバ31の前記一端の位置を調整する調心機構12と、
受光デバイス15が測定した前記漏洩光の光強度に基づき調心機構12にプローブファイバ31の前記一端の位置を調整させる制御回路17と、
を備える。
光ファイバ側方入出力装置301は、さらにWDMカプラ34、duplex SFP光トランシーバ35、bi−directional SFP光トランシーバ36、SMF37、及びDCF38を有する中継アンプ33を備える。プローブファイバ31と調心機構12はローカル光入出力部32が備える。なお、受光デバイス15と制御回路17は中継アンプ33内にあってもよい。
調心機構12に対してプローブファイバ31の前記一端の位置を移動させ、専用シングルモードファイバ19を介さない前記漏洩光の光強度を測定して、プローブファイバ31の前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第1変動曲線を取得し、
調心機構12に対して前記第1変動曲線の半値全幅の中央となる第1位置にプローブファイバ31の前記一端を移動させ、
調心機構12に対してプローブファイバ31の前記一端の位置を前記第1位置の近傍で移動させ、専用シングルモードファイバ19を介した前記漏洩光の光強度を測定して、プローブファイバ31の前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第2変動曲線を取得し、
調心機構12に対して前記第2変動曲線のピークとなる第2位置にプローブファイバ31の前記一端を移動させる。
本実施形態では、実施形態1で説明した光ファイバ側方入出力装置301のプローブ位置調心方法の詳細を説明する。図11は、第1変動曲線と第2変動曲線を説明する図である。
本実施形態では、実施形態2で説明した光ファイバ側方入出力装置301のプローブ位置調心方法の他の方法を説明する。本実施形態では、制御回路17は、調心機構に12対して第2位置から所定長離れた第3位置にプローブファイバ31の前記一端をさらに移動させる。
図13から図15は、本実施形態の光ファイバ側方入出力装置302を説明する図である。光ファイバ側方入出力装置302は、曲げ部が形成された主光ファイバ1に対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバ11であり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバ31と、
プローブファイバ31が伝搬してきた前記漏洩光を専用ダブルクラッドファイバ20又は専用シングルモードファイバ19へ結合する光スイッチ21と、
光スイッチ21に接続する専用ダブルクラッドファイバ20が伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するダブルクラッドファイバ用受光デバイス15Aと、
光スイッチ21に接続する専用シングルモードファイバ19が伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するシングルモードファイバ用受光デバイス15Bと、
プローブファイバ31の前記一端の位置を調整する調心機構12と、
ダブルクラッドファイバ用受光デバイス15A又はシングルモードファイバ用受光デバイス15Bが測定した前記漏洩光の光強度に基づき調心機構12にプローブファイバ31の前記一端の位置を調整させる制御回路17と、
を備える。
光ファイバ側方入出力装置302は、さらにWDMカプラ34、duplex SFP光トランシーバ35、bi−directional SFP光トランシーバ36、SMF37、及びDCF38を有する中継アンプ33を備える。プローブファイバ31と調心機構12はローカル光入出力部32が備える。なお、光スイッチ21、受光デバイス(15A、15B)、及び制御回路17は中継アンプ33内にあってもよい。
(手順1:図13)光スイッチ21を操作してDCF11からの光を専用DCF20へ接続し、DCF用受光デバイス15Aで受光した光強度(第1変動曲線)を指標として、制御回路17と調心機構12で粗調心を行う。具体的には、制御回路17は、第1変動曲線からピーク中心を推定し、当該位置へプローブファイバ31を移動し、当該位置でプローブファイバ31を保持する。
図16から図19は、本実施形態の光ファイバ側方入出力装置303を説明する図である。光ファイバ側方入出力装置303は、曲げ部が形成された主光ファイバ1に対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバ11であり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバ31と、
プローブファイバ31の他端に一端を接続可能であり、プローブファイバ31のシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバ19と、
プローブファイバ31の他端又は専用シングルモードファイバ19の他端を接続可能なコネクタ22と、
コネクタ22に結合された前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバ35と、
プローブファイバ31の前記一端の位置を調整する調心機構12と、
duplex型光トランシーバ35が出力した前記漏洩光の光強度に基づき調心機構12にプローブファイバ31の前記一端の位置を調整させる制御回路17と、
を備える。
光ファイバ側方入出力装置303は、さらにWDMカプラ34、bi−directional SFP光トランシーバ36、SMF37、及びDCF38を有する中継アンプ33を備える。プローブファイバ31と調心機構12はローカル光入出力部32が備える。なお、制御回路17は中継アンプ33内にあってもよい。
(手順1:図16)DCF11をコネクタ22に接続し、DCF11からの光をWDMカプラ34及びDCF38の経路でduplexSFP光トランシーバ35へ接続する(全経路DCF)。duplexSFP光トランシーバ35のフォトダイオードで受光した光強度(第1変動曲線)を指標として、制御回路17と調心機構12で粗調心を行う。具体的には、制御回路17は、第1変動曲線からピーク中心を推定し、当該位置へプローブファイバ31を移動し、当該位置でプローブファイバ31を保持する。
図20から図22は、本実施形態の光ファイバ側方入出力装置304を説明する図である。光ファイバ側方入出力装置304は、曲げ部が形成された主光ファイバ1に対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバ11であり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバ31と、
プローブファイバ31が伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路25又は専用シングルモードファイバ19へ結合する光スイッチ23と、
ダブルクラッドファイバの中継路25又は専用シングルモードファイバ19で伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバ35と、
プローブファイバ31の前記一端の位置を調整する調心機構12と、
duplex型光トランシーバ35が出力した前記漏洩光の光強度に基づき調心機構12にプローブファイバ31の前記一端の位置を調整させる制御回路17と、
を備える。
光ファイバ側方入出力装置304は、さらにWDMカプラ34、光スイッチ24、bi−directional SFP光トランシーバ36、SMF37、及びDCF38を有する中継アンプ33を備える。光スイッチ24は、専用SMF19からの光とWDMカプラ34からの光のいずれかをDCF38に結合する。プローブファイバ31と調心機構12はローカル光入出力部32が備える。なお、光スイッチ23及び制御回路17は中継アンプ33内にあってもよい。
(手順1:図20)光スイッチ23を操作してDCF11からの光を中継路25、WDMカプラ34、光スイッチ24、DCF38の経路でduplex SFP光トランシーバ35に入射させる(全経路DCF)。duplexSFP光トランシーバ35のフォトダイオードで受光した光強度(第1変動曲線)を指標として、制御回路17と調心機構12で粗調心を行う。具体的には、制御回路17は、第1変動曲線からピーク中心を推定し、当該位置へプローブファイバ31を移動し、当該位置でプローブファイバ31を保持する。
図23から図25は、本実施形態の光ファイバ側方入出力装置305を説明する図である。光ファイバ側方入出力装置305は、曲げ部が形成された主光ファイバ1に対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバ11であり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバ31と、
プローブファイバ31が伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路25又は専用シングルモードファイバ19へ結合する光スイッチ26と、
ダブルクラッドファイバの中継路25で伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバ35と、
専用シングルモードファイバ19で伝搬されてきた前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイス15と、
プローブファイバ31の前記一端の位置を調整する調心機構12と、
duplex型光トランシーバ35が出力した前記漏洩光の光強度又は受光デバイス15が測定した前記漏洩光の光強度に基づき調心機構12にプローブファイバ31の前記一端の位置を調整させる制御回路17と、
を備える。
光ファイバ側方入出力装置305は、さらにWDMカプラ34、bi−directional SFP光トランシーバ36、SMF37、及びDCF38を有する中継アンプ33を備える。プローブファイバ31と調心機構12はローカル光入出力部32が備える。なお、光スイッチ26、中継路25、受光デバイス15、及び制御回路17は中継アンプ33内にあってもよい。
(手順1:図23)光スイッチ26を操作してDCF11からの光を中継路25、WDMカプラ、DCF38の経路でduplex SFP光トランシーバ35に接続する(全経路DCF)。duplexSFP光トランシーバ35のフォトダイオードで受光した光強度(第1変動曲線)を指標として、制御回路17と調心機構12で粗調心を行う。具体的には、制御回路17は、第1変動曲線からピーク中心を推定し、当該位置へプローブファイバ31を移動し、当該位置でプローブファイバ31を保持する。
なお、実施形態1〜7では簡単のために主光ファイバが1心である場合を説明したが、主光ファイバが複数であるテープファイバである場合(図4)は、心線数分の光ファイバ入出力装置を使用する。
11:DCF
12:調心機構
14:GRINレンズ
15:受光デバイス
15A:DCF用受光デバイス
15B:SMF用受光デバイス
17:制御回路
19:専用SMF
20:専用DCF
21、23、24、26:光スイッチ
22:コネクタ
25:中継路
31:プローブファイバ
32:ローカル光入出力部
33:中継アンプ
34:WDMカプラ
35:duplex SFP光トランシーバ
36:bi−directional SFP光トランシーバ
37:SMF(シングルモードファイバ)
38:DCF(ダブルクラッドファイバ)
300〜305:光ファイバ側方入出力装置
Claims (8)
- 曲げ部が形成された主光ファイバに対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバの他端に接続可能であり、前記プローブファイバのシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバと、
前記プローブファイバが受光した前記漏洩光を前記プローブファイバから直接あるいは前記専用シングルモードファイバを介して受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備えることを特徴とする光ファイバ側方入出力装置。 - 曲げ部が形成された主光ファイバに対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光を専用ダブルクラッドファイバ又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記光スイッチに接続する前記専用ダブルクラッドファイバが伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するダブルクラッドファイバ用受光デバイスと、
前記光スイッチに接続する前記専用シングルモードファイバが伝搬する前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定するシングルモードファイバ用受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記ダブルクラッドファイバ用受光デバイス又は前記シングルモードファイバ用受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備えることを特徴とする光ファイバ側方入出力装置。 - 曲げ部が形成された主光ファイバに対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバの他端に一端を接続可能であり、前記プローブファイバのシングルモードコアで伝搬されてきた前記漏洩光を伝搬する専用シングルモードファイバと、
前記プローブファイバの他端又は前記専用シングルモードファイバの他端を接続可能なコネクタと、
前記コネクタに結合された前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備えることを特徴とする光ファイバ側方入出力装置。 - 曲げ部が形成された主光ファイバに対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記ダブルクラッドファイバの中継路又は前記専用シングルモードファイバで伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備えることを特徴とする光ファイバ側方入出力装置。 - 曲げ部が形成された主光ファイバに対して前記曲げ部を介して光を入出力する光ファイバ側方入出力装置であって、
シングルモードコアとマルチモードコアを有するダブルクラッドファイバであり、一端が前記曲げ部に近接され、前記一端の断面のシングルモードコアから前記曲げ部に入射光を入射し、前記曲げ部から漏洩する漏洩光を前記一端の断面のシングルモードコアとマルチモードコアで受光するプローブファイバと、
前記プローブファイバが伝搬してきた前記漏洩光をダブルクラッドファイバの中継路又は専用シングルモードファイバへ結合する光スイッチと、
前記ダブルクラッドファイバの中継路で伝搬されてきた前記漏洩光をフォトダイオードで受光し、前記漏洩光の光強度を出力するduplex型光トランシーバと、
前記専用シングルモードファイバで伝搬されてきた前記漏洩光を受光し、前記漏洩光の光強度を測定する受光デバイスと、
前記プローブファイバの前記一端の位置を調整する調心機構と、
前記duplex型光トランシーバが出力した前記漏洩光の光強度又は前記受光デバイスが測定した前記漏洩光の光強度に基づき前記調心機構に前記プローブファイバの前記一端の位置を調整させる制御回路と、
を備えることを特徴とする光ファイバ側方入出力装置。 - 前記制御回路は、
前記調心機構に対して前記プローブファイバの前記一端の位置を移動させ、前記専用シングルモードファイバを介さない前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第1変動曲線を取得し、
前記調心機構に対して前記第1変動曲線の半値全幅の中央となる第1位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させ、
前記調心機構に対して前記プローブファイバの前記一端の位置を前記第1位置の近傍で移動させ、前記専用シングルモードファイバを介した前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第2変動曲線を取得し、
前記調心機構に対して前記第2変動曲線のピークとなる第2位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる
ことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の光ファイバ側方入出力装置。 - 前記制御回路は、
前記調心機構に対して前記第2位置から所定長離れた第3位置に前記プローブファイバの前記一端をさらに移動させる
ことを特徴とする請求項6に記載の光ファイバ側方入出力装置。 - 請求項1に記載の光ファイバ側方入出力装置のプローブ位置調心方法であって、
前記プローブファイバの前記一端の位置を移動させ、前記専用シングルモードファイバを介さない前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第1変動曲線を取得し、前記第1変動曲線の半値全幅の中央となる第1位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる粗調心工程と、
前記プローブファイバの前記一端の位置を前記第1位置の近傍で移動させ、前記専用シングルモードファイバを介した前記漏洩光の光強度を測定して、前記プローブファイバの前記一端の位置に対する前記漏洩光の光強度の第2変動曲線を取得し、前記調心機構に対して前記第2変動曲線のピークとなる第2位置に前記プローブファイバの前記一端を移動させる微調心工程と、
を行うことを特徴とするプローブ位置調心方法。
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