JP2014215843A - 電子機器、及びそのタッチパネル検査方法とプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
以下に、本出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[請求項1]
タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器において、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する確認手段と、
前記確認手段による確認結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果を出力する出力手段と
を備えたことを特徴とする電子機器。
[請求項2]
前記所定の操作状態は、タッチ状態が解除されることなくタッチされたままの状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチ状態が解除されることなくタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1記載の電子機器。
[請求項3]
前記所定の操作状態は、前記取得手段により取得された操作情報に異常がない状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチの異常がない状態でタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1又は2記載の電子機器。
[請求項4]
前記所定の操作状態は、前記検査用のタッチ操作経路を外れることなく、前記検査用のタッチ操作経路に沿ってタッチされている状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路を外れることなく、検査用のタッチ操作経路に沿って検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電子機器。
[請求項5]
前記検査用のタッチ操作経路を示すとともに前記タッチパネルの電極の配置に応じたガイドを前記表示部に表示させる表示制御手段を更に備えたことを特徴とする請求項1乃至4いずれか1項に記載の電子機器。
[請求項6]
前記確認手段は、前記ガイドの表示中に前記確認を行うとともに、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記ガイドの表示位置に該当するか否かを確認し、前記タッチ位置が前記ガイドの表示位置に該当する場合に、前記タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断することを特徴とする請求項5記載の電子機器。
[請求項7]
前記検査用のタッチ操作経路は、前記表示部の互いに垂直な2辺にそれぞれ設定する設定手段を更に備え、
前記表示制御手段は、前記設定手段により設定された前記検査用のタッチ操作経路を示す前記ガイドを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項6記載の電子機器。
[請求項8]
前記設定手段は、前記検査用のタッチ操作経路を前記2辺の一方側に設定した後、前記確認手段によって、タッチ状態が解除されることなくタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したと確認されたことを条件として、前記2辺の他方側に設定することを特徴とする請求項7記載の電子機器。
[請求項9]
前記ガイドは、前記検査用のタッチ操作経路における電極数と同数の複数の単位部分から構成され、
前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示位置に該当するか否かを確認し、前記タッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示位置に該当する場合に、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断する
ことを特徴とする請求項6乃至8のいずれか1項に記載の電子機器。
[請求項10]
前記表示制御手段は、前記表示部に表示させている前記ガイドを、前記複数の単位部分のうち、前記確認手段によって前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が該当することを確認された表示位置の単位部分を、他の単位部分と識別可能な状態に逐次変化させることを特徴とする請求項9記載の電子機器。
[請求項11]
前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示領域内であるか否かを確認し、前記タッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示領域内である場合に、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断することを特徴とする請求項9又は10記載の電子機器。
[請求項12]
前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ位置が該当することが確認された表示位置の前記単位部分の数が所定数に達したとき、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したと判断することを特徴とする請求項9乃至11いずれか1項に記載の電子機器。
[請求項13]
タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器において、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する工程と、
取得した操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する工程と、
前記確認の結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する工程と、
前記判定の結果を出力する工程と
を含むことを特徴とするタッチパネル検査方法。
[請求項14]
タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器が有するコンピュータに、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する処理と、
取得した操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する処理と、
前記確認の結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する処理と、
前記判定の結果を出力手段に出力させる処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 内蔵メモリ
15 入力部
16 表示部
161 LCD
162 駆動回路
163 タッチパネル
164 パネルIC
Claims (14)
- タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器において、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する確認手段と、
前記確認手段による確認結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果を出力する出力手段と
を備えたことを特徴とする電子機器。 - 前記所定の操作状態は、タッチ状態が解除されることなくタッチされたままの状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチ状態が解除されることなくタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1記載の電子機器。 - 前記所定の操作状態は、前記取得手段により取得された操作情報に異常がない状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチの異常がない状態でタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1又は2記載の電子機器。 - 前記所定の操作状態は、前記検査用のタッチ操作経路を外れることなく、前記検査用のタッチ操作経路に沿ってタッチされている状態であり、
前記確認手段は、前記取得手段により取得された操作情報に基づき、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路を外れることなく、検査用のタッチ操作経路に沿って検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電子機器。 - 前記検査用のタッチ操作経路を示すとともに前記タッチパネルの電極の配置に応じたガイドを前記表示部に表示させる表示制御手段を更に備えたことを特徴とする請求項1乃至4いずれか1項に記載の電子機器。
- 前記確認手段は、前記ガイドの表示中に前記確認を行うとともに、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記ガイドの表示位置に該当するか否かを確認し、前記タッチ位置が前記ガイドの表示位置に該当する場合に、前記タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断することを特徴とする請求項5記載の電子機器。
- 前記検査用のタッチ操作経路は、前記表示部の互いに垂直な2辺にそれぞれ設定する設定手段を更に備え、
前記表示制御手段は、前記設定手段により設定された前記検査用のタッチ操作経路を示す前記ガイドを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項6記載の電子機器。 - 前記設定手段は、前記検査用のタッチ操作経路を前記2辺の一方側に設定した後、前記確認手段によって、タッチ状態が解除されることなくタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したと確認されたことを条件として、前記2辺の他方側に設定することを特徴とする請求項7記載の電子機器。
- 前記ガイドは、前記検査用のタッチ操作経路における電極数と同数の複数の単位部分から構成され、
前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示位置に該当するか否かを確認し、前記タッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示位置に該当する場合に、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断する
ことを特徴とする請求項6乃至8のいずれか1項に記載の電子機器。 - 前記表示制御手段は、前記表示部に表示させている前記ガイドを、前記複数の単位部分のうち、前記確認手段によって前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が該当することを確認された表示位置の単位部分を、他の単位部分と識別可能な状態に逐次変化させることを特徴とする請求項9記載の電子機器。
- 前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ情報に含まれるタッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示領域内であるか否かを確認し、前記タッチ位置が前記複数の単位部分のいずれかの表示領域内である場合に、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路上であると判断することを特徴とする請求項9又は10記載の電子機器。
- 前記確認手段は、前記確認に際し、前記タッチ位置が該当することが確認された表示位置の前記単位部分の数が所定数に達したとき、タッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したと判断することを特徴とする請求項9乃至11いずれか1項に記載の電子機器。
- タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器において、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する工程と、
取得した操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する工程と、
前記確認の結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する工程と、
前記判定の結果を出力する工程と
を含むことを特徴とするタッチパネル検査方法。 - タッチパネルが設けられた表示部を備えた電子機器が有するコンピュータに、
前記タッチパネルの操作状態、及びタッチ位置を含む操作情報を取得する処理と、
取得した操作情報に基づき、所定の操作状態を維持したままでタッチ操作の位置が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したか否かを確認する処理と、
前記確認の結果に基づいて前記タッチパネルの異常の有無を判定する処理と、
前記判定の結果を出力手段に出力させる処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017059204A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | 現代自動車株式会社Hyundai Motor Company | タッチ入力装置およびその製造方法 |
US10591324B2 (en) | 2016-01-15 | 2020-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd | Electronic device and hardware diagnosis result-based process execution method thereof |
JP2020095609A (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | ファナック株式会社 | 表示装置、工作機械および異常判定方法 |
JP2020187414A (ja) * | 2019-05-10 | 2020-11-19 | ファナック株式会社 | 原因判定装置、原因判定サーバ及び原因判定方法 |
US10983640B2 (en) | 2018-02-22 | 2021-04-20 | Wacom Co., Ltd. | Position detection circuit and position detection method in which line electrode of capacitive touch sensor is determined to be anomalous or possibly anomalous |
WO2022172794A1 (ja) * | 2021-02-12 | 2022-08-18 | ファナック株式会社 | 診断装置および診断方法 |
US11467702B2 (en) | 2015-09-15 | 2022-10-11 | Hyundai Motor Company | Touch input device and method for manufacturing the same |
JP7182848B2 (ja) | 2015-11-19 | 2022-12-05 | 現代自動車株式会社 | タッチ入力装置、これを含む車両、およびその製造方法 |
CN115780323A (zh) * | 2022-10-21 | 2023-03-14 | 中国电器科学研究院股份有限公司 | 一种废旧液晶屏回收利用方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0850528A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Mitsubishi Electric Corp | ペンポイントデバイス診断方法 |
JPH08339257A (ja) * | 1995-06-09 | 1996-12-24 | Fujitsu General Ltd | ディジタイザ装置 |
JP2000311060A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル付きモニタ装置およびタッチパネル付きモニタ装置のタッチパネル検査方法 |
JP2011060021A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Aitesu:Kk | 静電容量式タッチパネルの検査装置、検査方法、及び検査シート |
JP2014092811A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-19 | Calsonic Kansei Corp | タッチパネル検査方法 |
-
2013
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0850528A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Mitsubishi Electric Corp | ペンポイントデバイス診断方法 |
JPH08339257A (ja) * | 1995-06-09 | 1996-12-24 | Fujitsu General Ltd | ディジタイザ装置 |
JP2000311060A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル付きモニタ装置およびタッチパネル付きモニタ装置のタッチパネル検査方法 |
JP2011060021A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Aitesu:Kk | 静電容量式タッチパネルの検査装置、検査方法、及び検査シート |
JP2014092811A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-19 | Calsonic Kansei Corp | タッチパネル検査方法 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017059204A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | 現代自動車株式会社Hyundai Motor Company | タッチ入力装置およびその製造方法 |
US11467702B2 (en) | 2015-09-15 | 2022-10-11 | Hyundai Motor Company | Touch input device and method for manufacturing the same |
JP7182848B2 (ja) | 2015-11-19 | 2022-12-05 | 現代自動車株式会社 | タッチ入力装置、これを含む車両、およびその製造方法 |
US10591324B2 (en) | 2016-01-15 | 2020-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd | Electronic device and hardware diagnosis result-based process execution method thereof |
US10914619B2 (en) | 2016-01-15 | 2021-02-09 | Samsung Electronics Co., Ltd | Electronic device and hardware diagnosis result-based process execution method thereof |
US10983640B2 (en) | 2018-02-22 | 2021-04-20 | Wacom Co., Ltd. | Position detection circuit and position detection method in which line electrode of capacitive touch sensor is determined to be anomalous or possibly anomalous |
JP2020095609A (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | ファナック株式会社 | 表示装置、工作機械および異常判定方法 |
JP2020187414A (ja) * | 2019-05-10 | 2020-11-19 | ファナック株式会社 | 原因判定装置、原因判定サーバ及び原因判定方法 |
JP7239390B2 (ja) | 2019-05-10 | 2023-03-14 | ファナック株式会社 | 原因判定装置、原因判定サーバ及び原因判定方法 |
WO2022172794A1 (ja) * | 2021-02-12 | 2022-08-18 | ファナック株式会社 | 診断装置および診断方法 |
CN115780323A (zh) * | 2022-10-21 | 2023-03-14 | 中国电器科学研究院股份有限公司 | 一种废旧液晶屏回收利用方法 |
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