JP2014215043A5 - - Google Patents
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Description
また非特許文献１に記載の統計解析では、異なる試料のピーク行列データを統合する際には、上述のＴＩＣに基づく強度値の規格化が行われる。上述したように、ＴＩＣ規格化によって、試料、前処理、測定日、測定条件などが異なることに起因する、試料毎のイオン強度値のばらつきやＭＡＬＤＩイオン源による測定点毎の生成イオン量のばらつき等に起因するばらつきの影響が軽減され、有効な統計解析を行うことができる。
上述のようにして測定中に圧縮した複数のイメージング質量分析データを比較した統計解析やイメージング画像の表示を行いたい場合には、処理対象のデータを読み込むのに先立って、比較したい複数の試料のイメージング質量分析データをあたかも一つのイメージング質量分析データとして取り扱うことができるように統合する処理を実行する。この場合、比較対象のデータの各測定点の圧縮マススペクトルを一旦伸張し、上述のイメージング質量分析データの統合処理を行う。
ＴＩＣの値は一つのマススペクトルに現れる全てのイオン強度値の和であるため、ＸＩＣと異なり値は一意に定まる。そのため、測定中のＣＰＵの余剰能力を利用して事前に計算しておいてもよい。その場合、測定中に、データ収集部２０で各測定点のマススペクトルデータを取得するたびに、所定の質量電荷比範囲に亘るマススペクトルに現れる全てのイオン強度値を加算してＴＩＣを算出し、その値を測定点の位置情報とともに、外部記憶装置４に格納しておく。
即ち、まず、全測定点においてＩi×ｐiの最大値を探索する。いま、ａ番目の測定点においてこの値が最大であったとする。このとき、Ｉa×ｐaがMax_long（Max_short）になるようにリスケーリングすればよいから、各測定点の強度値に、Max_long／（Ｉa×ｐa）又はMax_short／（Ｉa×ｐa）を乗じることでリスケーリングすればよい。上記のリスケーリングに加えて、各測定点の強度値にはｐiを乗じて規格化することになるから、結局、リスケーリングと規格化とを同時に行う場合、各測定点の強度値に（Max_long×Ｐa）／（Ｉa×Ｐi）又は（Max_short×Ｐa）／（Ｉa×Ｐi）を乗じればよい。
まず、上述した例えば図１１に示した処理により、メインメモリ２１の圧縮データ記憶領域２１１に格納されている圧縮データと規格化係数記憶領域２１３に格納されているＴＩＣ規格化係数又はＸＩＣ規格化係数とを用いて、全測定領域又は指定された関心領域における規格化された平均マススペクトル又は最大強度マススペクトルを算出する（ステップＳ５１）。次に、ピーク行列作成部２７はその平均マススペクトル又は最大強度マススペクトルに対しピーク検出を行い、検出されたピークの質量電荷比値を抽出したピークリストを作成する（ステップＳ５２）。データ伸張処理部２４は、その関心領域内の一つの測定点を選択する（ステップＳ５３）。規格化演算処理部３０はメインメモリ２１の規格化係数記憶領域２１３に格納されている該測定点に対応したＴＩＣ規格化係数又はＸＩＣ規格化係数を読み出す（ステップＳ５４）。
次に、規格化演算処理部３０はステップＳ５４で読み出したＴＩＣ規格化係数又はＸＩＣ規格化係数を、ステップＳ５７で復元された強度値に乗じることにより強度値を修正し、これを規格化されたピーク行列の要素として、メインメモリ２１のピーク行列記憶領域２１４に保存する（ステップＳ５８）。一つの測定点についてステップＳ５５〜Ｓ５８の処理を繰り返し、全ピークについての処理が終了したならば（ステップＳ５９でＹｅｓ）、関心領域の中で未処理の測定点があるか否かを判定し（ステップ６０）、関心領域の中で未処理の測定点がある場合にはステップＳ６０からＳ５３へと戻って、今度は関心領域内の別の測定点を選択してステップＳ５４〜Ｓ５９の処理を繰り返す。これによって、最終的に、規格化されたピーク行列を得ることができるから、これを統計解析に供すればよい。
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