JP2014182754A5 - - Google Patents
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Description
本発明の学習装置は、対象物の局所領域を識別する識別器を学習する学習装置であって、前記識別器で用いる特徴量と当該特徴量を取得する複数の位置とを設定する特徴量設定手段と、前記特徴量設定手段によって設定された特徴量を取得する複数の位置のうち、前記対象物の領域に含まれる位置の割合に基づく所定の選択条件に基づいて前記対象物の局所領域を選択する選択手段と、前記特徴量設定手段によって設定された特徴量及び前記選択手段によって選択された局所領域を用いて前記識別器を学習する学習手段とを有することを特徴とする。
Claims (14)
- 対象物の局所領域を識別する識別器を学習する学習装置であって、
前記識別器で用いる特徴量と当該特徴量を取得する複数の位置とを設定する特徴量設定手段と、
前記特徴量設定手段によって設定された特徴量を取得する複数の位置のうち、前記対象物の領域に含まれる位置の割合に基づく所定の選択条件に基づいて前記対象物の局所領域を選択する選択手段と、
前記特徴量設定手段によって設定された特徴量及び前記選択手段によって選択された局所領域を用いて前記識別器を学習する学習手段とを有することを特徴とする学習装置。 - 前記所定の選択条件を設定する選択条件設定手段をさらに有することを特徴とする請求項１に記載の学習装置。
- 前記特徴量は、前記局所領域の中で所定の位置で取得される値と他の所定の位置で取得される値とを比較した２値判定の結果であることを特徴とする請求項１又は２に記載の学習装置。
- 前記特徴量設定手段は、前記局所領域の中で特徴量を取得する位置をランダムに設定することを特徴とする請求項１又は２に記載の学習装置。
- 前記特徴量設定手段は、前記局所領域の中で特徴量を取得する位置の１点を前記局所領域の中心に設定することを特徴とする請求項１又は２に記載の学習装置。
- 前記所定の選択条件は、前記特徴量設定手段によって設定された特徴量を取得する複数の位置の条件であることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の学習装置。
- 前記選択手段によって選択された局所領域に応じて、少なくとも前記特徴量もしくは前記所定の選択条件のいずれかを変更する条件再設定手段をさらに有し、
前記選択手段は、前記条件再設定手段によって再設定された条件に基づいて前記対象物の局所領域を再度選択し、
前記学習手段は、前記選択手段によって再度選択された局所領域を用いて前記識別器を学習することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の学習装置。 - 前記選択手段によって選択された局所領域に応じて、前記対象物のクラスが識別可能か否かを判別する判別手段をさらに有し、
前記学習手段は、前記判別手段によって識別が不可能と判別された局所領域を除いた局所領域を用いて前記識別器を学習することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の学習装置。 - 前記選択手段によって選択された局所領域に基づいて、各局所領域の識別時の重みを決定する重み決定手段をさらに有することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の学習装置。
- 前記対象物が撮像された画像を入力する画像入力手段と、
前記学習手段によって学習された識別器を用いて、前記画像入力手段によって入力された画像における前記対象物のクラスを識別する識別手段とをさらに有することを特徴とする請求項１乃至８の何れか１項に記載の学習装置。 - 前記対象物が撮像された画像を入力する画像入力手段と、
前記学習手段によって学習された識別器を用いて、前記重み決定手段によって決定された重みに応じて前記画像入力手段によって入力された画像における前記対象物のクラスを識別する識別手段とをさらに有することを特徴とする請求項９に記載の学習装置。 - 前記対象物が撮像された画像を入力する画像入力手段と、
前記学習手段によって学習された識別器を用いて、前記画像入力手段によって入力された画像における前記対象物のクラスを識別する識別手段と、
前記識別手段による識別結果に応じて、少なくとも前記特徴量もしくは前記所定の選択条件のいずれかを変更する条件再設定手段とをさらに有し、
前記選択手段は、前記条件再設定手段によって再設定された条件に基づいて前記対象物の局所領域を再度選択し、
前記学習手段は、前記選択手段によって再度選択された局所領域を用いて前記識別器を再学習することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の学習装置。 - 対象物の局所領域を識別する識別器を学習する学習方法であって、
前記識別器で用いる特徴量と当該特徴量を取得する複数の位置とを設定する特徴量設定工程と、
前記特徴量設定工程において設定された特徴量を取得する複数の位置のうち、前記対象物の領域に含まれる位置の割合に基づく所定の選択条件に基づいて前記対象物の局所領域を選択する選択工程と、
前記特徴量設定工程において設定された特徴量及び前記選択工程において選択された局所領域を用いて前記識別器を学習する学習工程とを有することを特徴とする学習方法。 - 対象物の局所領域を識別する識別器を学習する学習装置を制御するためのプログラムであって、
前記識別器で用いる特徴量と当該特徴量を取得する複数の位置とを設定する特徴量設定工程と、
前記特徴量設定工程において設定された特徴量を取得する複数の位置のうち、前記対象物の領域に含まれる位置の割合に基づく所定の選択条件に基づいて前記対象物の局所領域を選択する選択工程と、
前記特徴量設定工程において設定された特徴量及び前記選択工程において選択された局所領域を用いて前記識別器を学習する学習工程とをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013058567A JP6128910B2 (ja) | 2013-03-21 | 2013-03-21 | 学習装置、学習方法及びプログラム |
| US14/218,074 US9489593B2 (en) | 2013-03-21 | 2014-03-18 | Information processing apparatus and training method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013058567A JP6128910B2 (ja) | 2013-03-21 | 2013-03-21 | 学習装置、学習方法及びプログラム |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2014182754A JP2014182754A (ja) | 2014-09-29 |
| JP2014182754A5 true JP2014182754A5 (ja) | 2016-05-12 |
| JP6128910B2 JP6128910B2 (ja) | 2017-05-17 |
Family
ID=51569184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013058567A Active JP6128910B2 (ja) | 2013-03-21 | 2013-03-21 | 学習装置、学習方法及びプログラム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9489593B2 (ja) |
| JP (1) | JP6128910B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6128910B2 (ja) * | 2013-03-21 | 2017-05-17 | キヤノン株式会社 | 学習装置、学習方法及びプログラム |
| US20150103184A1 (en) * | 2013-10-15 | 2015-04-16 | Nvidia Corporation | Method and system for visual tracking of a subject for automatic metering using a mobile device |
| JP6203077B2 (ja) * | 2014-02-21 | 2017-09-27 | 株式会社東芝 | 学習装置、密度計測装置、学習方法、学習プログラム、及び密度計測システム |
| RU2634225C1 (ru) * | 2016-06-20 | 2017-10-24 | Общество с ограниченной ответственностью "САТЕЛЛИТ ИННОВАЦИЯ" (ООО "САТЕЛЛИТ") | Способы и системы поиска объекта в видеопотоке |
| JP7278088B2 (ja) * | 2019-01-31 | 2023-05-19 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
| US11961298B2 (en) * | 2019-02-22 | 2024-04-16 | Google Llc | Memory-guided video object detection |
| CN111127548B (zh) * | 2019-12-25 | 2023-11-24 | 深圳市商汤科技有限公司 | 抓取位置检测模型训练方法、抓取位置检测方法及装置 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4750444B2 (ja) * | 2005-03-24 | 2011-08-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 外観検査方法及びその装置 |
| JP5028014B2 (ja) * | 2006-02-08 | 2012-09-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | パターン検査方法及びその装置 |
| US8103087B2 (en) * | 2006-01-20 | 2012-01-24 | Hitachi High-Technologies Corporation | Fault inspection method |
| JP4988408B2 (ja) | 2007-04-09 | 2012-08-01 | 株式会社デンソー | 画像認識装置 |
| US8260063B2 (en) * | 2007-04-18 | 2012-09-04 | The University Of Tokyo | Feature quantity selection method, feature quantity selection apparatus, image classification method, image classification apparatus, computer program, and recording medium |
| JP4852086B2 (ja) | 2008-10-06 | 2012-01-11 | 株式会社東芝 | パターン認識装置 |
| JP5537282B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2014-07-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
| US9053393B2 (en) | 2010-03-19 | 2015-06-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Learning method and apparatus for pattern recognition |
| CN102542303A (zh) * | 2010-12-24 | 2012-07-04 | 富士通株式会社 | 生成用于检测图像中的特定对象的分类器的装置和方法 |
| US9600745B2 (en) * | 2011-03-17 | 2017-03-21 | Nec Corporation | Image recognition system, image recognition method, and non-transitory computer readable medium storing image recognition program |
| JP5755046B2 (ja) * | 2011-06-22 | 2015-07-29 | キヤノン株式会社 | 画像認識装置、画像認識方法及びプログラム |
| JP5891409B2 (ja) * | 2012-01-12 | 2016-03-23 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 特徴抽出装置、特徴抽出方法、および特徴抽出プログラム |
| JP5439543B2 (ja) * | 2012-06-14 | 2014-03-12 | 株式会社日立製作所 | 欠陥分類方法及びその装置 |
| JP5802175B2 (ja) * | 2012-08-02 | 2015-10-28 | 株式会社日立製作所 | 画像処理装置 |
| JP6128910B2 (ja) * | 2013-03-21 | 2017-05-17 | キヤノン株式会社 | 学習装置、学習方法及びプログラム |
| US9367766B2 (en) * | 2014-07-22 | 2016-06-14 | Adobe Systems Incorporated | Text line detection in images |
-
2013
- 2013-03-21 JP JP2013058567A patent/JP6128910B2/ja active Active
-
2014
- 2014-03-18 US US14/218,074 patent/US9489593B2/en active Active
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