JP2014150084A - 微細空間内に導体を形成する方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】微細空間内に導体を形成するに当たり、熱エネルギーの消費が少なくて済み、しかも、電気伝導度の高い導体を形成し得る方法を提供する。
【解決手段】対象物1に設けられた微細空間3内に導体を形成するに当たり、微細空間3内に充填された導電性微粉末を加熱し、加圧しながら硬化させる工程の前に、導電性微粉末に含まれる金属酸化物微粉末を還元する。
【選択図】図1

Description

本発明は、微細空間内に導体を形成する方法に関する。
例えば、半導体デバイスにおいては、これまで、基板上に半導体チップを平面的に配置し、その間を配線で接続する方法がとられてきた。しかし、この方法では、実装面積が半導体チップの数とともに増加するとともに、配線長も増加してしまうので、半導体デバイスの小型大容量化、高性能化及び低消費電力化を実現することが困難である。微細化技術が極限まで進んだ現状では、半導体チップの微細化、小型化をとおして、大容量化、高性能化及び低消費電力化を実現することは、限界に来ている。
そこで、半導体チップを積層し、チップ間を貫通電極で接続するいわゆるTSV(Through Silicon Via)方式に係る三次元配置の半導体デバイスの開発が進められている。TSV技術を使えば、大量の機能を小さな占有面積の中に詰め込めるようになるし、また、素子同士の重要な電気経路が劇的に短く出来るために、処理の高速化が導かれる。
TSV方式に係る三次元配置の半導体デバイスを実現する代表的な技術は、めっき技術を適用して貫通電極を形成するめっき方法、及び、微細空間を持つシリコン基板を、真空圧に減圧した真空チャンバー内で溶融金属槽に挿入し、シリコン基板が溶融金属とほぼ同じ温度に達した後、真空チャンバー内を例えば大気圧以上に加圧して、溶融金属を微細空間に充填し、硬化させて、溶融凝固導体でなる貫通導体を形成する溶融金属充填方法である。
しかし、高アスペクト比を持つ微細空間内に、空隙や硬化後変形などを生じさせることなく、その底部まで充填材を充分に充填することは困難を極める。そのような技術的困難性を克服し得る先行技術として、特許文献1及び2に記載された充填方法及び装置が知られている。
特許文献1に記載された技術は、ウエハに存在する微細空間に溶融金属を充填し硬化させる方法であって、前記微細空間内の前記溶融金属に対し、大気圧を超える強制外力を印加したままで、前記溶融金属を冷却し硬化させる工程を含む。前記強制外力は、プレス圧、射出圧又は転圧から選択された少なくとも1種で与えられ、前記微細空間の他端側を閉じた状態で、前記微細空間の開口する開口面側から前記溶融金属に印加される。特許文献2は、特許文献1に記載された方法を実施するための装置を開示している。
上述した特許文献1,2に記載された技術によれば、空隙やボイドなどを生じることなく、微細空間を充填物によって満たし得ること、微細隙間で冷却された硬化金属の凹面化を回避し得ること、及び、工程の簡素化、歩留りの向上などに寄与し得ること、等の優れた作用効果を得ることができる。
特許文献1,2に開示された発明は、TSV(through silicon via)技術の実用化に極めて有用な技術であるが、用いる金属種によっては、その本来持っている固有の電気抵抗や、酸化により、TSVを構成する導体の電気抵抗が増大することがある。また、溶融金属を得るための熱エネルギーを必要とし、またその加熱装置も必要である。
特許第4278007号公報 特許第4505540号公報
本発明の課題は、微細空間内に導体を形成するに当たり、熱エネルギーの消費が少なくて済む方法を提供することである。
本発明のもう一つの課題は、電気伝導度の高い導体を形成する方法を提供することである。
上述した課題を達成するため、本発明は、対象物に設けられた微細空間内に導体を形成する方法であって、金属又は合金の微粉末(以下金属/合金微粉末と称する)を、前記微細空間内に充填し、次に、前記対象物を還元雰囲気内において前記金属/合金微粉末に含まれる金属酸化物微粒子を還元する。次に、前記金属/合金微粉末を加熱し加圧しながら硬化させる。
上述したように、本発明では、金属/合金微粉末を、対象物に設けられた微細空間内に充填し、次に、対象物を還元雰囲気内において、金属/合金微粉末に含まれる金属酸化物微粒子を還元するから、金属/合金微粉末を構成する金属微粒子が、仮に酸化されていても、還元され、金属化される。したがって、微細空間内に電気伝導度の高い導体を形成することができる。
しかも、本発明では、金属/合金微粉末を、前記微細空間内に充填し、次に、金属/合金微粉末に含まれる金属酸化物微粒子を還元し、次に、金属/合金微粉末を加熱し加圧しながら硬化させるから、溶融金属充填方法と異なって、熱エネルギーの消費が少なくて済む。還元工程及びその後の工程において、金属/合金微粉末を加熱する必要はあるが、この工程では、必ずしも、金属/合金微粉末を溶融させる必要はないから、従来の溶融金属充填法よりも、消費熱エネルギーが少なくて済む。
更に、金属/合金微粉末を加圧しながら硬化させる工程を含むから、冷却時の体積縮小によって微細空間と成形体との間に生じることのある隙間、空隙の発生を、加圧によって回避し、隙間や空隙のない高品質の導体を形成することができる。
更に、加圧しながら硬化させるから、導体の粒成長、結晶成長が抑制される。この結果、柱状結晶の成長が抑制され、等軸晶化が進展する・このため、応力が低下し、微細空間を有する対象物にマイクロクラックが発生する等の不具合を回避することができる。
前記還元雰囲気は、真空チャンバを用いて形成することができる。この還元雰囲気は、カルボン酸蒸気を含むことができる。カルボン酸の中でも、還元の高い蟻酸蒸気が有効である。
金属/合金微粉末を微細空間内に充填する方法として、金属/合金微粉末を、液状分散媒中に分散させた分散系機能性材料を、微細空間内に充填し、その後、前記液状分散媒を蒸発させる工程が有効である。この方法によれば、本来、充填の困難な金属/合金微粉末を、分散系機能性材料の流動性を利用して、微細空間内に確実に充填することができる。液状分散媒を蒸発させた後、還元処理が実行される。
金属/合金微粉末は、高融点金属微微粒子及び低融点金属微粒子を含有することができる。金属/合金微粉末及び分散系機能性材料を、微細空間内に充填する場合、真空チャンバ内の減圧雰囲気で処理することが好ましい。減圧処理の後、真空チャンバの内圧を増圧する差圧充填方式を採用してもよい。この差圧充填によれば、金属/合金微粉末及び分散系機能性材料を、微細空間の内部に確実に充填することができる。金属/合金微粉末及び分散系機能性材料を微細空間内に充填する際、例えば、対象物又は装置に超音波振動等を与えると、充填作業を円滑に行うことができる。
本明細書において、分散系とは、微細な固体粒子が液体の分散媒中に分散した懸濁液又はペーストを言い、同じ粒度の粒子がそろった単分散系,粒度が不ぞろいに変化する多分散系の両系を含む。また、粗粒の分散系のみならず、コロイダルな分散系をも含む。液状分散媒としては、水性分散媒又は揮発性有機分散媒を用いることができる。
更に、本明細書において、微細空間とは、対象物の内部及び/又は外面に開放空間または閉鎖空間として、三次元的に配置されたものをいい、代表的には孔、溝又はそれらの組合せが含まれる。
以上述べたように、本発明によれば、微細空間内に導体を形成するに当たり、熱エネルギーの消費が少なくて済み、しかも、電気伝導度の高い導体を形成することができる。したがって、本発明は、TSV技術への適用において、省エネルギーで、電気伝導度の高い高品質の貫通電極を形成することができる。
本発明に係る第1の方法を示すブロック図である。 本発明に係る第2の方法を示すブロック図である。 本発明に係る第3の方法を示すブロック図である。
まず、図1を参照して本発明に係る第1の方法を説明する。図1(a)にあるように、微細空間3を有する対象物1を準備する。対象物1には、ウエハ、回路基板、積層基板、半導体チップ、または、MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)等、微細空間を有するものが広く含まれる。具体的には、TSV(Through Silicon Via)で代表される貫通孔、非貫通孔(盲孔)の他、積層された基板間に生じる微細隙間等である。対象物1は、内部の雰囲気を制御・設定できるチャンバ7の内部に設置することが好ましい。対象物1に設けられた微細空間3は、この実施例では、貫通孔又は非貫通孔であり、開口部の孔径、深さを有している。孔径は、例えば25μm以下であり、深さは、孔径とのアスペクト比が、1以上、好ましくは5以上となる値である。対象物1が、例えばウエハである場合には、上述した微細空間3は、ウエハ面内に多数設けられる。
次に、図1(b)に示すように、対象物1の微細空間3に、金属/合金微粉末5を充填(流し込み)する。金属/合金微粉末5を、微細空間3内に充填する場合、チャンバ7の内圧を、大気圧よりも低い圧力に減圧し、減圧処理の後、チャンバ7の内圧を増圧する差圧充填方式を採用してもよい。この差圧充填によれば、金属/合金微粉末5を、微細空間3の内部に確実に充填することができる。金属/合金微粉末5は、粒径が不揃いであっても、統一されていてもよい。
金属/合金微粉末5は、低融点金属粉末と、高融点金属粉末とを含むことができる。低融点金属微粉末としては、Sn合金ベースの微粉末を用いることができる。Sn合金微粉末をベースとし、他の金属微粉末、例えばBi微粉末、Ga微粉末、In微粉末を含んでいてもよい。
高融点金属微粉末は、具体的には、Ag、Cu、Au、Pt、Ti、Zn、Al、Fe、Si又はNiの群から選択された少なくとも1種を含む材料によって構成することができる。これらの高融点金属微粉末は、nmサイズ(1μm以下)に属するナノ微粒子又はナノコンポジット構造を有する微粒子で構成されていることが好ましい。低融点金属微粉及び高融点金属微粉末は、粒径が不揃いであっても、統一されていてもよい。また、球状、鱗片状、扁平状等、任意の形状をとることができる。
高融点金属微粉末としては、Cuを用いることが好ましい。Cuは、電気抵抗が低く、Ag等と比較して安価であるからである。ただ、高融点金属微粉末として、Cuを用いた場合、空気中で容易に酸化され、CuOとなってしまう。CuOのままであると、Cuが本来持っている低電気抵抗の利点を生かすことができない。本発明によれば、この問題を解決することができる。その手段が、図1(c)に示す還元工程である。この還元工程は、CuOの場合のみならず、他の金属酸化物の還元においても、有効である。
還元工程は、図1(c)に示すように、チャンバ7の内部を、還元雰囲気とし、その還元雰囲気の中に、金属/合金微粉末5を充填した対象物1を設置し、金属/合金微粉末5に含まれる金属酸化物微粉末、例えばCuO微粉末を還元する。
還元雰囲気を形成するための還元剤としては、好ましくは、カルボン酸(R-COOH、Rは一価の官能基)の蒸気を用いることができる。カルボン酸としては、例えば蟻酸、酢酸、アクリル酸、プロピオン酸、プチリック酸、カプロン酸、蓚酸、コハク酸、サリチル酸、マロン酸、エナント酸、カプリル酸、ペラルゴン酸、乳酸、カプリン酸等があり、それらから1つ選択するか、或いは複数を選択して混合してもよい。これらのカルボン酸のうちでも、CuO微粉末の還元には、蟻酸が適している。
カルボン酸による還元作用は、一般的にはその沸点を超える温度、例えば200℃以上の温度において顕著になる。従って、還元工程は、上述した温度を得るための加熱ステップを含む。還元に寄与したカルボン酸は、フラックスを使用した場合のように残渣を生じさせないが、還元によって生じた還元ガスは、チャンバ7の外部にパージし、窒素ガス等の不活性ガスをチャンバ7内に導入することが好ましい。
上述したように、本発明では、金属/合金微粉末5を、対象物1に設けられた微細空間3内に充填し、次に、対象物1を還元雰囲気内において、金属/合金微粉末5に含まれる金属酸化物微粒子を還元するから、金属/合金微粉末5を構成する金属微粒子が、仮に酸化されていても、還元され、金属化される。したがって、微細空間3内に電気伝導度の高い導体を形成することができる。
また、金属/合金微粉末5を微細空間3の内部に充填するので、溶融金属を用いる従来技術と異なって、溶融プロセスが不要である。低温状態にある金属/合金微粉末5を、ガス圧、プレス圧、射出圧、又は転圧から選択された少なくとも1種の加圧力を与える手段によって、微細空間3の内部に充填することができる。また、微細空間3を有する対象物1が、既に、半導体回路等を形成したウエハ等である場合、半導体回路に対する熱的な悪影響を最小限に抑えることができる。更に、溶融のための熱エネルギーを必要としないから、消費エネルギーを低減し得る。
この後、微細空間3の内部にある金属/合金微粉末5を加熱し、更に加圧しながら冷却し、硬化させる。具体的には、図1(d)に示すように、金属/合金微粉末5を微細空間3の内部に充填し、加圧F1しながら冷却し、硬化させる。上述したプロセスにより、高融点金属及び低融点金属でなる導体50が得られることになる。成型に当たっては、低融点金属微粉末と高融点金属微粉末との間の拡散結合を利用することができ、他に結合材を必要としない。このため、高融点金属微粉末及び低融点金属微粉末の持つ特性をそのまま発揮させることができる。
また、高融点金属微粉末及び低融点金属微粉末の溶解物を加圧F1しながら冷却するので、冷却時の体積縮小によって微細空間3と成形体との間に生じることのある隙間、空隙の発生を、加圧F1によって回避し、隙間や空隙のない高品質の導体50を形成することができる。
更に、加圧しながら冷却し、成型するから、低融点金属及び高融点金属の粒成長、結晶成長が抑制される。この結果、低融点金属及び高融点金属が等軸晶化され、応力が低下し、微細空間3を有する対象物1にマイクロクラックが発生する等の不具合を回避することができる。
図2は、本発明に係る第2の方法を示す図である。図において、図1に現れた部分と同一の部分については、同一の参照符号を付し、重複説明を省略することがある。図1に示した実施の形態との対比において、特徴的な点は、分散系機能性材料を用いること、分散系機能性材料を微細空間に流し込んだ後に分散媒を蒸発させること、そして、その後に還元工程を実行することにある。
まず、図2(a),(b)に示すように、分散系機能性材料5を、前述した差圧充填法により、対象物1に設けられた微細空間3の内部に充填する。分散系機能性材料5は、例えば、低融点金属微粉末52及び高融点金属微粉末53を、液状分散媒51中に分散させたものである。
機能性微粒子を分散させる液状分散媒51としては、水性分散媒又は揮発性有機分散媒を用いることができる。特に、常温で揮発するような揮発性有機分散媒が好ましい。そのような液状分散媒としては、種々のものが知られているので、それらを選択使用すればよい。対象物1、微細空間3、低融点金属微粉末52及び高融点金属微粉末53等は、図1に示した実施の形態で述べたとおりである。
分散系機能性材料5を、微細空間3内に充填する場合、チャンバ7内の減圧雰囲気で処理することが好ましい。減圧処理の後、チャンバ7の内圧を増圧する差圧充填方式を採用してもよい。この差圧充填によれば、分散系機能性材料5を、微細空間3の内部に確実に充填することができる。
次に、液状分散媒51を蒸発させる(図2(c))。これにより、低融点金属微粉末52及び高融点金属微粉末53の微粒子の間に隙間G1が生じる。
次に、図2(d)に示すように、還元工程を実行する。還元工程は、チャンバ7の内部を、還元雰囲気とし、その還元雰囲気の中に、金属/合金微粉末5を充填した対象物1を設置し、金属/合金微粉末5に含まれる金属酸化物微粉末、例えば高融点金属微粉末53として選択されたCuO微粉末を還元する。還元によって生じた還元ガスは、チャンバ7の外部にパージし、代わりに、窒素ガス等の不活性ガスをチャンバ7内に導入することが好ましい。
この後、微細空間3の内部にある金属/合金微粉末5を加熱し、更に加圧しながら冷却し、硬化させる。具体的には、図2(e)に示すように、微細空間3の内部に充填された金属/合金微粉末5を加熱し、その後、加圧F1しながら冷却し、硬化させる。上述したプロセスにより、高融点金属及び低融点金属でなる導体50が得られることになる。成型に当たっては、低融点金属微粉末と高融点金属微粉末との間の拡散結合を利用することができ、他に結合材を必要としない。このため、高融点金属微粉末及び低融点金属微粉末の持つ特性をそのまま発揮させることができる。
図3は、本発明に係る第3の方法を示す図である。図において、図1に現れた部分と同一の部分については、同一の参照符号を付し、重複説明を省略することがある。図1に示した実施の形態との対比において、特徴的な点は、還元工程を経た後の金属/合金微粉末を、微細空間内に充填することである。
まず、図3(a)に示すように、還元工程を実行する。還元工程は、既に述べたように、チャンバ7の内部を、還元雰囲気とし、その還元雰囲気の中に、金属/合金微粉末5を置き、金属/合金微粉末5に含まれる金属酸化物微粉末、例えば高融点金属微粉末として選択されたCuO微粉末を還元する。還元によって生じた還元ガスは、図3(b)に示すように、チャンバ7の外部にパージし、代わりに、窒素ガス等の不活性ガスをチャンバ7内に導入することが好ましい。還元ガスの種類等についは、既に述べたとおりである。
この後、図3(c)に示すように、チャンバ7の不活性ガス雰囲気内で、還元された金属/合金微粉末5を、対象物1に設けられた微細空間3の内部に充填する。
この後、図3(d)に示すように、微細空間3の内部に充填された金属/合金微粉末5を加熱し、その後、加圧F1しながら冷却し、硬化させる。上述したプロセスにより、導体50が得られることになる。
図3に示した第3の方法によっても、第1の方法及び第2の方法と同様の作用効果を得ることができる。
以上、好ましい実施例を参照して本発明の内容を具体的に説明したが、本発明の基本的技術思想及び教示に基づいて、当業者であれば、種々の変形態様及び説明されない他の適用技術分野を想到しえることは自明である。
1 対象物
3 微細空間
5 分散系機能性材料
50 導体
51 分散媒
52,53 機能性微粉末

Claims (5)

  1. 対象物に設けられた微細空間内に導体を形成する方法であって、
    前記微細空間内に充填された導電性微粉末を加熱し、加圧しながら硬化させる工程を含み、
    前記工程前に、前記導電性微粉末に含まれる金属酸化物微粉末を還元する工程を含む、
    方法。
  2. 請求項1に記載された方法であって、前記対象物を、カルボン酸蒸気を含む還元雰囲気において還元する、方法。
  3. 請求項2に記載された方法であって、前記カルボン酸蒸気は、蟻酸蒸気である、方法。
  4. 請求項1乃至3の何れかに記載された方法であって、前記導電性微粉末を、液状分散媒中に分散させた分散系機能性材料を、微細空間内に充填し、その後、前記液状分散媒を蒸発させる工程を含む、方法。
  5. 請求項1乃至4の何れかに記載された方法であって、前記導電性微粉末は、高融点金属微微粒子及び低融点金属微粒子を含有する、方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132830A1 (ja) * 2015-02-19 2016-08-25 住友精密工業株式会社 充填方法および充填装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05167262A (ja) * 1991-12-13 1993-07-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック多層配線基板およびその製造方法
JP4936352B2 (ja) * 2005-09-02 2012-05-23 有限会社 ナプラ 多層回路基板又はウエハーに設けられた貫通孔又は非貫通孔に充填材を充填する方法
JP2007220882A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Fujitsu Ltd 埋込配線の形成方法
JP4914704B2 (ja) * 2006-12-08 2012-04-11 ハリマ化成株式会社 微細な銅系配線パターンの形成方法
JP4278007B1 (ja) * 2008-11-26 2009-06-10 有限会社ナプラ 微細空間への金属充填方法
JP4563506B1 (ja) * 2010-01-13 2010-10-13 有限会社ナプラ 電極材料
JP5400543B2 (ja) * 2009-09-24 2014-01-29 田中貴金属工業株式会社 回路基板の貫通電極の形成方法
JP5250582B2 (ja) * 2010-04-22 2013-07-31 有限会社 ナプラ 充填用基材及びそれを用いた充填方法
JP5124688B2 (ja) * 2011-03-16 2013-01-23 有限会社 ナプラ 照明装置、ディスプレイ、及び信号灯

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132830A1 (ja) * 2015-02-19 2016-08-25 住友精密工業株式会社 充填方法および充填装置
JPWO2016132830A1 (ja) * 2015-02-19 2017-12-07 住友精密工業株式会社 充填方法および充填装置

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