JP2014146504A - 同軸ピンおよびこれを用いたソケット - Google Patents
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Abstract
【課題】 放熱特性および電気的接続特性の優れたインターフェース機能をもつ同軸ピンを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明に係る同軸ピン10は、導電性材料から構成され、軸方向の少なくとも一部に中空部分が形成された下部端子部材20と、導電性材料から構成され、少なくとも一部が前記中空部分内で軸方向に摺動可能に収容された上部端子部材30とを有する。上部端子部材30は、第1および第2の接触端子32、34を含み、第1および第2の接触端子32、34は、同軸であり、第1および第2の接触端子32、34は、それぞれ独立して第1および第2の弾性部材によって前記軸方向に弾性的に支持され、前記第1の接触端子32の表面には少なくとも1つの突起部32Dが形成される。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明に係る同軸ピン10は、導電性材料から構成され、軸方向の少なくとも一部に中空部分が形成された下部端子部材20と、導電性材料から構成され、少なくとも一部が前記中空部分内で軸方向に摺動可能に収容された上部端子部材30とを有する。上部端子部材30は、第1および第2の接触端子32、34を含み、第1および第2の接触端子32、34は、同軸であり、第1および第2の接触端子32、34は、それぞれ独立して第1および第2の弾性部材によって前記軸方向に弾性的に支持され、前記第1の接触端子32の表面には少なくとも1つの突起部32Dが形成される。
【選択図】 図1
Description
本発明は、放熱および電気的接触を考慮したインターフェース機能をもつ同軸ピンに関し、特に、電子部品等の導電性領域と熱的および電気的に結合される同軸ピンに関する。
ソケットは、半導体装置と回路基板等を電気的に接続するためのインターフェースとして広く用いられている。ソケットは、搭載する半導体装置のタイプに応じて、コンタクトの形状や配列等が適宜選択される。BGA等の表面実装用の半導体装置を装着するソケットは、ベース部材に複数のコンタクトが組み込まれ、各コンタクトが半導体装置の裏面のボール端子と弾性的に接触し、他方、半導体装置の表面がプレシャパッドのような押圧部材によって押圧され、半導体装置のボール端子とコンタクトとの確実な電気的接触を得ている(特許文献1)。
近年、デバイスの発熱を制御する需要が増えてきているとともに、電気的接続を必要とする要求がある。放熱を必要とするピンに関しては、熱源への接触範囲および熱伝導通路の断面積の確保が必要となる。また、電気的接続を必要とするピンには、接触端子の先端を鋭角にして、電気的な接触性を向上させる必要がある。従って、両方を網羅するためには、接触面積を持ちつつ、接触端子の先端を鋭角にしなければならないという矛盾が生じる。しかし、現状では、そのような要求に応えることができる、個々に放熱用に対応するピン、電気的接続用に対応するピンをそれぞれ用意している。
本発明は、このような従来の課題を解決するものであり、放熱特性および電気的接続特性の優れたインターフェース機能をもつ同軸ピンを提供することを目的とする。
さらに本発明は、小型化、低コスト化を図ることができる同軸ピンを提供することを目的とする。
さらに本発明は、小型化、低コスト化を図ることができる同軸ピンを提供することを目的とする。
本発明に係る同軸ピンは、電気的接続機能を有するものであって、導電性材料から構成され、軸方向の少なくとも一部に中空部分が形成された第1の端子部材と、導電性材料から構成され、前記中空部分内を前記軸方向に摺動可能な第2の端子部材とを有し、前記第2の端子部材は、第1および第2の接触端子を含み、第1および第2の接触端子は、同軸上にありかつ独立して前記軸方向に移動可能であり、第1および第2の接触端子は、第1および第2の弾性部材によってそれぞれ前記軸方向に弾性的に支持され、前記第1の接触端子の表面には少なくとも1つの突起部が形成される。
好ましくは前記第1の接触端子は、前記第2の接触端子の内側に位置し、前記第1の接触端子の少なくとも1つの突起部は、前記第2の接触端子の表面から突出している。好ましくは前記第2の接触端子の表面は、前記第1の接触端子の少なくとも1つの突起部よりも突出している。好ましくは前記第1の接触端子は、前記第2の接触端子の中心部分に位置する。好ましくは前記第1の接触端子が接触対象によって軸方向に移動した後、第2の接触端子が接触対象に接触する。好ましくは前記第2の接触端子が接触対象によって軸方向に移動した後、第1の接触端子が接触対象に接触する。好ましくは前記第1の接触端子は、前記中空部分の第1の領域で前記第1の端子部材に摺動可能に接続され、前記第2の接触端子は、前記中空部分の第2の領域で前記第1の端子部材に摺動可能に接続される。好ましくは同軸ピンはさらに、前記第1の接触端子が前記軸方向に移動されるとき、前記第1の接触端子を回転させる回転手段を含む。好ましくは前記回転手段はさらに、前記第2の端子部材が軸方向に移動されるとき、前記第2の端子部材を回転させる。好ましくは前記回転手段は、前記第1の端子部材の内面に形成された螺旋状の溝または突起と、前記第1の接触端子および第2の接触端子に形成された前記螺旋状の溝または突起と係合する突起または溝とを含む。好ましくは前記第1および第2の弾性部材は、それぞれ異なる弾性力を発生するコイルスプリングである。
本発明のソケットは、上記構成の同軸ピンと、前記同軸ピンを収容したベース部材とを含み、前記ベース部材上に半導体装置が搭載されたとき、前記半導体装置の端子領域が前記同軸ピンに電気的および熱的に結合する。好ましくは前記端子領域は、前記半導体装置の裏面に形成される。
本発明の同軸ピンは、第1の接触端子および第2の接触端子を同軸状に配置し、かつこれらを独立に移動できるようにしたので、第1の接触端子および第2の接触端子に熱伝導特性および電気的接続特性を分担させることが可能になり、1つの同軸ピンでありながら、熱伝導性特性および電気的接続性に要求される条件を同時に満足させることが可能になる。さらに、このような同軸ピンの構成により、低コスト化、小型化を図ることができる。
本発明の好ましい態様では、同軸ピンは、接触対象に対し熱的および電気的なインターフェースを提供する。同軸ピンは、少なくともその一部を構成する一方の接触端子と他方の接触端子が同軸上に配置され、一方の接触端子は、接触対象の熱を効率良く放熱する熱伝導特性を備え、他方の接触端子は、接触対象と良好な電気的接続をする電気的特性を備えるように構成される。好ましくは、一方の接触端子は、接触対象と比較的大きな面積で接触することができる表面領域を含み、他方の接触端子は、接触対象の表面に形成された酸化膜等の絶縁膜を突き破るように鋭角な突起を先端に備える。
さらに好ましい態様では、一方の接触端子と他方の接触端子は、接触対象に異なるタイミングで接触することができ、例えば、他方の接触端子を一方の接触端子よりも先に接触対象に接触させることで、他方の接触端子と接触対象間の電気的接続を確実にする。
さらに好ましい態様では、一方の接触端子と他方の接触端子は、それぞれ異なる弾性力で支持され、弾性力に抗して軸方向に独立して移動することができる。適切な弾性力をそれぞれ選択することで、一方の接触端子および他方の接触端子の接圧の最適化を図ることができる。
以下に説明する本発明の第1の実施例では、1つのシリンダの中に、同軸の放熱用と電気的接続用の2つのピンを挿入し、2つのピンをそれぞれ独立して熱源部に接触させ、放熱および電気的接続を可能にする。さらに放熱用のピンと電気的接続用のピンを同軸の中で独立して動作させることで、電気的接続用のピンが鋭角で、かつ熱源の着座性が不安定であっても、放熱用のピンで熱源周りを支えることができる。
本発明の他の実施例では、シリンダの内壁にらせん状に切り込みまたは突起を形成することで、各ピンが軸方向にストロークするときに、ピンが軸方向にして回転する構造を与える。これにより、接触対象に接触した際に、接触面に付着した不純物や絶縁膜などを取り除くことができるワイピング機能を得ることができる。
2つのピンを同軸に形成することにより、同軸でない複数のピンを使用するよりも、ピンの断面積を大きくとることができ、熱伝導性及び導電性が有利となる。また、同軸であれば、各ピンの間に電気及び熱が相互に通過または伝導するため、別々のピンが非同軸に形成されるよりも有利である。
次に、本発明の第1の実施例について説明する。図1(A)は、第1の実施例に係る同軸ピンの平面図、図1(B)は、そのA−A線断面図、図2は、下部端子部材、第1の接触端子および第2の接触端子の断面図、図3(A)は、同軸ピンの斜視図、図3(B)は、同軸ピンの分解斜視図である。
本実施例の同軸ピン10は、下部端子部材20と、下部端子部材20に対して摺動可能な上部端子部材30と、2つのコイルスプリング40、50とを含んで構成される。下部端子部材20は、導電性の金属材料から構成され、例えば、銅、鉄、ニッケルなどの適切な金属材料から構成される。下部端子部材20は、図2(A)に示すように、一方の端部22と、当該一方の端部に対向する他方の端部24とを有し、両端部22、24間には、比較的大きな径の第1のボディ部26と、当該第1のボディ部26よりも径が小さい第2のボディ部28とが形成される。第1のボディ部26には、一方の端部22から軸方向Zに向けて形成された円筒状の空間26Aが形成され、第2のボディ部28には、空間26Aよりも径の小さな円筒状の空間28Aが形成され、空間28Aは、空間28Bを介して空間26Aに接続される。空間28Aは、他方の端部24によって閉じられている。下部端子部材20は、こうして概して円筒形状を有している。
上部端子部材30は、下部端子部材20の空間28A、28B、26A内に軸方向Zに摺動可能に収容され、かつ下部端子部材20に電気的に接続される。上部端子部材30は、第1の接触端子32と、これと同軸上の第2の接触端子34とを有する。第1および第2の接触端子32、34は、導電性の金属材料から構成され、例えば、銅、鉄、ニッケルなどの適切な金属材料から構成される。
第1の接触端子32は、概して円柱形状を有し、軸方向Zに延在する。第1の接触端子32は、第2の接触端子34のほぼ中心部に位置し、第2の接触端子34とは独立に軸方向Zに移動可能である。第1の接触端子32は、その頂部に複数の鋭角状の突起32Dが形成された接点部32Aと、接点部32Aに接続され、当該接点部32Aよりも幾分だけ径が大きい係合部32Bと、係合部32Bに接続され、当該係合部32Bよりも幾分だけ径が小さくかつ軸方向Zに延在する延在部32Cとを有する。
延在部32Cの外径は、下部端子部材20の空間28Aとほぼ等しいかそれより若干小さく、延在部32Cの一部は、空間28A内を軸方向Zに摺動することができる。これにより、延在部32Cは、下部端子部材20との間に接触領域S2を形成し、両者が電気的に接続される。また、延在部32Cの周囲にコイルスプリング40が巻回され、コイルスプリング40の一方の端部42が係合部32Bに当接し、他方の端部44が空間28Aと空間28Bの境界である段差部に当接する。こうして、コイルスプリング40は、第1の接触端子32を軸方向Zに弾性的に支持する。コイルスプリング40は、所望の弾性力を発生するように、所望のバネ定数が選択される。
第2の接触端子34は、図2(C)に示すように、概して円筒形状を有し、相対的に径の小さい第1の径部分34Aと、第1の径部分34Aに接続され、相対的に径の大きい第2の径部分34Bとを有する。第1の径部分34Aには、相対的に内径が小さい第1の貫通孔部分34Dが形成され、第2の径部分34Bには、相対的に内径が大きい第2の貫通孔部分34Eが形成される。第1の径部分34Aと第2の径部分34Bとの境界には、肩部(段差部)34Cが形成され、それに対応して、第1の貫通孔部分34Dと第2の貫通孔部分34Eとの境界には、段差のある肩部34Gが形成される。第1の貫通孔部分34Dの内径は、第1の接触端子32の接点部32Aの外径とほぼ等しいかそれよりも若干大きく、第2の貫通孔部分34Eの内径は、係合部32Bの外径とほぼ等しいかそれよりも若干大きい関係にある。第1の接触端子32は、第2の接触端子34の貫通孔内に挿入され、第1の接触端子32が第2の接触端子34に同軸上に配置される。第1の接触端子32は、第2の接触端子34と相対的な移動または摺動が可能になり、係合部32Bの外周が第2の径部分34Aの内周と接触し、これにより図1(B)に示すように、両者の間に接触領域S3が形成される。
また、第1の接触端子32はコイルスプリング40によって支持され、係合部32Bが肩部34Gに当接されたとき、第1の接触端子32は、第2の接触端子34に対しその相対的な移動が制限される。このとき、第1の接触端子32の接点部32Aは、第2の接触端子34の表面領域34Fから一定の高さだけ突出する。
第2の接触端子34の第2の径部分34Bは、下部端子部材20の第1のボディ部26の空間26Aを軸方向Zに摺動可能である。第2の径部分34Bの径は、空間26Aの内径にほぼ等しいかそれよりも若干小さい。これにより、第2の径部分34Bは、図1(B)に示すように、下部端子部材20との間に接触領域S1が形成される。
第2の径部分34Bの底面と、段差部29との間にコイルスプリング50が配置され、コイルスプリング50は、第2の接触端子34を軸方向Zに弾性的に支持する。好ましくは、第1の径部分34Aが下部端子部材20から突出するようにコイルスプリング50の長さ、または第2の径部分34Bの長さが選択される。好ましい一つの態様として、第1の径部分34Aと第2の径部分34Bの間の肩部34Cは、図示しない部材と接触することで、第2の接触端子34の上方へのストロークが制限されるようにしてもよい。この場合、第2の接触端子34には、コイルスプリング50によって一定のプリロードが印加される。さらに他の態様として、下部端子部材20の一方の端部22には、第2の径部分34Bと係合するような係止部を設け、第2の径部分34Bを一方の端部22から突出させないように構成してもよい。この場合にも、第2の接触端子34には、コイルスプリング50によって一定のプリロードが印加されることが望ましい。
第2の接触端子34の第1の径部分34Aの表面は、環状の平坦な表面領域34Fが形成される。この平坦な表面領域34Fは、接触対象と接触されたとき、熱源に対し大きな接触面積を提供する。さらに表面領域34Fは、接触対象と接触することで、第1の接触端子32の突起32Dが安定的に接触対象に接触することを保証する。
このように構成された第1および第2の接触端子32、34が下部端子部材20内に摺動自在に収容される。第1の接触端子32は、延在部32Cが下部端子部材20の空間28Aを形成する内周との間に接触領域S2を形成し、第1の接触端子32と下部端子部材20とが電気的に接続される。また、第1の接触端子32は、接点部32Aおよび係合部32Bの外周面が第2の接触端子34の第1および第2の径部分34A、34Bとの間に接触領域S3を形成し、第1の接触端子32が第2の接触端子34に電気的に接続される。さらに第2の接触端子34は、第2の径部分34Bの外周面が下部端子部材20の第1のボディ部26の内壁との間で接触領域S1を形成し、第2の接触端子34が下部端子部材20に電気的に接続される。
次に、本実施例の同軸ピンが接触対象に接触するときの動作例について、図4を参照して説明する。先ず、図4(A)、(B)に示すように、同軸ピン10が接触対象70に対し離間された状態にあるとする。接触対象70は、導電性の材料から構成されたものであり、かつ熱源となり得るものである。例えば、接触対象70は、半導体パッケージに形成された一定の面積を有する端子領域等である。
図4(B)に示す状態は、下部端子部材20に対し上部端子部材30が静止した状態にある。第1の接触端子32は、コイルスプリング40よって弾性的に支持され、その係合部32Bが第2の接触端子34の内壁の肩部34Gに当接する。これにより、第2の接触端子34は、第1の径部分34Aが下部端子部材20の端部22から突出している。このとき、第2の接触端子の第2の径部分34Bは、下部端子部材20の第1のボディ部26の内周と摩擦接触した状態で静止しているか、図示しないストッパー等によって停止されている。
次に、接触対象70および/または同軸ピン10が軸方向Zに移動する。例えば、同軸ピン10がソケットに組み込まれた場合には、接触対象70が降下する。図4(C)に示すように、接触対象70の裏面は、最初に第1の接触端子32に接触する。つまり、第1の接触端子32の表面に形成された複数の鋭角の突起32Dが接触対象70に当接する。さらに接触対象70が降下するに伴い、第1の接触端子32が、コイルスプリング40の弾性力に抗するように降下する。こうして、第1の接触端子32と接触対象70との電気的接続が開始される。接触対象70の裏面に、例えば、ゴミ、異物、あるいは自然酸化膜やその他の絶縁膜等が形成されているとき、接触対象70と突起32Dとの間には、コイルスプリング40によって一定の接圧が与えられるため、突起32Dは、不所望の異物や絶縁膜等を突き破り、接触対象70と確実に電気的に接続することができる。
接触対象70がさらに降下するに伴い、第1の接触端子32は、コイルスプリング40の付勢に抗して、第2の接触端子34の貫通孔内を軸方向Zに降下する。第1の接触端子32の突起32Dの高さが、図4(D)に示すように、第2の接触端子34の表面34Fと一致すると、そこからは、第1の接触端子32および第2の接触端子34の双方が、コイルスプリング40、50の付勢に抗して、下部端子部材20内を軸方向Zに降下する。このとき、接触対象70と第2の接触端子34間の接圧は、コイルスプリング50によって与えられ、接触端子70と第1の接触端子32間の接圧は、コイルスプリング40によって与えられる。また、仮に不安定な状態にある接触対象70が第1の接触端子32の突起32Dによって接触された状態にあったとしても、突起32Dの周辺を取り囲む第2の接触端子34の表面領域34Fが接触対象70と接触するため、接触対象70との接触が安定する。
第2の接触端子34の表面34Fは、第1の接触端子32の突起32Dと比較して大きな面積を有しているため、接触対象70の熱は、表面34Fを通じて効果的に第2の接触端子34へ放熱され、さらに熱は、接触領域S1を介して下部端子部材20へ逃がされる。
このように本実施例の同軸ピン10は、下部端子部材20と、第1および第2の接触端子32、34を含む上部端子部材30とを含んで構成され、第1および第2の接触端子32、34は、コイルスプリング40、50によりそれぞれ独立の弾性力で支持される。また、第1の接触端子32は、第2の接触端子34の内部に同軸になるように設置され、第1および第2の接触端子32、34がそれぞれ下部端子部材20に対して接触する部分を有し、電流経路を提供する。さらに、第1の接触端子32の突起32Dの軸方向の位置を、第2の接触端子34の表面34Fよりも高くすることで、上方に位置する接触対象70と第1および第2の接触端子32、34との接触のタイミングをずらすことで、第1および第2の接触端子32、34がそれぞれ独立して接触対象70に接触する。
次に、本発明の第2の実施例について図5ないし図8を参照して説明する。但し、第1の実施例と同一構成については、同一参照番号を附し、その説明を省略する。図5は、第2の実施例に係る同軸ピン12の平面図と、そのB−B線断面図である。第2の実施例に係る同軸ピン12は、第1の実施例と異なる形状の上部端子部材100(第1および第2の接触端子110、120)を有し、それ以外の構成は、第1の実施例と同様である。
第1の接触端子110は、第1の実施例のときと異なり、薄板状の金属から構成される。例えば、スタンピングなどによって形成される。第1の接触端子110は、複数の鋭角状の突起112Aが先端部に形成された接点部112と、接点部112から軸方向に延在する延在部114とを有する。第1の実施例のときと同様に、延在部114の周囲には、コイルスプリング40が巻回され、第1の接触端子110が軸方向Zに降下するときコイルスプリング40によって反発される。第1の接触端子110は、第2の接触端子120の中心を通る径方向に形成されたスロット(溝)122を介して第2の接触端子120内に挿入される。第1の実施例のときと異なるのは、接触対象と接触されない状態にあるとき、第1の接触端子110の突起112Aが、第2の接触端子120の表面から突出することなく、スロット122内に位置している。
第2の接触端子120は、スロット122が形成された第1の径部分124と、第1の径部分124よりも幾分だけ径が大きい第2の径部分126とを含む円筒形状を有する。第1の径部分122は、円形状の表面124Aを有し、表面124Aの中心を通る領域にスロット122が形成される。スロット122は、第2の径部分126の一部にまで到達する深さを有する。
第2の径部分126の内部には、円形状の貫通孔126Aが形成され、貫通孔126Aは、スロット122に連通する。図7に示すように、第1の接触端子110は、その延在部114から第2の接触端子120のスロット122内に挿入される。そして、図5(B)に示すように、第1の接触端子110の延在部114は、下部端子部材20の第2のボディ部28の空間28A内に進入し、その内壁との間に接触領域S2を形成する。さらに、第1の接触端子110の接点部112の側壁112Bが、第2の接触端子120の第2の径部分124のスロット122内に収容され、下部端子部材20の第1のボディ部26との間に接触領域S1を形成する。同様に第2の接触端子120の第2の径部分126の外周が第1のボディ部26の内壁との間で接触領域S1を形成する。
次に、第2の実施例に係る同軸ピン12の動作について図8を参照して説明する。図8(B)に示すように、接触対象70が同軸ピン12から離れている状態では、第2の接触端子120の表面領域124Aが先端に位置し、第1の接触端子110は、スロット122内でその表面領域124Aから窪んだ位置にある。このとき、第1および第2の接触端子は、コイルスプリング40、50によって一定のプリロードが印加されるように、下部端子部材20と係合することで、それ以上、上方へ移動できないように規制されてもよいし、あるいは、コイルスプリング40、50によって全く付勢されていない状態であってもよい。
次に、例えば接触対象70が降下すると、接触対象70の裏面は、最初に第2の接触端子120の表面領域124Aに接触し、第1の接触端子110とは非接触である。表面領域124Aは、第1の接触端子110と比べて大きな面積を有しているため、接触対象70と良好な熱結合をすることができる。このとき、第2の接触端子120と接触対象70間の接圧は、コイルスプリング50の弾性力によってもたらされる。
次に、接触対象70がさらに降下すると、それとともに第2の接触端子120が軸方向Zに降下し、相対的に第1の接触端子110の突起112Aが第2の接触端子120の表面領域124Aに近づき、最終的に、突起112Aは、表面領域124Aと同一面において、接触対象70の裏面に接触される。このとき、第1の接触端子110と接触対象70との接圧は、コイルスプリング40の弾性力によってもたらされる。
第1の接触端子110が接触対象70に接触する前に、第2の接触端子120が接触対象70に接触することで接触対象70の姿勢を矯正しているため、第1の接触端子110の鋭角な突起112Aを接触対象70に容易にかつ効果的に接触させることができる。
次に、本発明の第3の実施例について説明する。図9は、第3の実施例に係る同軸ピンの各部の断面図であり、図2のときと同様に、A−A線で切り取られた断面である。下部端子部材20の第1のボディ部26の内面であって、第2の接触端子34と接触する接触領域S1には、螺旋状の溝200が形成される。図の例では、1条の溝200が形成されている。さらに、下部端子部材20の第2のボディ部28の内面であって、第1の接触端子32と接触する接触領域S2には、螺旋状の溝210が形成される。図の例では、1条の溝210が形成されている。
他方、第1の接触端子32の延在部32Cの外周には、螺旋状の溝210と噛み合う螺旋状の突起220が形成される。また、第2の接触端子34の第2の径部分34Bの外周には、螺旋状の溝200と噛み合う螺旋状の突起230が形成される。第1の接触端子32が軸方向Zに移動するとき、第1の接触端子32の突起220が溝210内を摺動することで、第1の接触端子32には、軸方向の直線運動に加えて回転運動(すなわち、ワイピング機能)が付加される。このため、接点部32Aの突起32Dが接触対象70に接触するとき、突起32Dが回転することで、接触対象70に形成された不要な異物や酸化膜等を効果的に引き剥がすことができる。同様に、第2の接触端子34が軸方向に移動するとき、突起230が溝200内を摺動することで、第2の接触端子34に回転運動が与えられる。これにより、第2の接触端子34の表面領域34Fを、接触対象に密着させ、熱伝導性の劣化を抑制することができる。このように第3の実施例では、第1および第2の接触端子32、34を軸方向に移動させるときに独立して回転させることができる。
なお、上記実施例では、下部端子部材20側に溝200、210を形成し、第1および第2の接触端子32、34側に突起220、230を形成したが、これとは反対に、下部端子部材20側に突起を形成し、第1および第2の接触端子側に、当該突起と係合する溝を形成するようにしてもよい。なお、溝または突起が傾斜する角度は、第1および第2の接触端子が軸方向に移動するときに、大きな摩擦抵抗とならないようにすることが望ましい。また、第3の実施例は、第2の実施例の同軸ピンにも適用可能であることは言うまでもない。
次に、本実施例の同軸ピンを適用したソケットについて説明する。図10は、QFPパッケージ用のソケットの斜視図と、その平面図を示している。ソケット300は、公知のように、ベース部材310と、ベース部材310に組み込まれた複数のコンタクト320と、ベース部材310に対して接近もしくは離間するように取付けられたカバー部材とを含んで構成される。カバー部材330の中央には、QFPパッケージを出し入れするための矩形状の開口332が形成されている。開口332によって露出されたベース部材310の所定の位置に、QFPパッケージを載置する載置部材が取付けられる。この載置部材は、コイルスプリング等によって上下方向に移動することが可能である。また、載置部材のほぼ中央には、本実施例の同軸ピン10が取付けられる。
図11は、カバー部材が下降(押圧)したときの平面図と、そのA−A線断面図であり、図12は、カバー部材が上昇(押圧解除)したときの平面図と、そのA−A線断面図である。ソケット300にQFPパッケージ350を装着するとき、カバー部材330が図示しないコイルスプリングの弾性力に抗してベース部材310に向けて移動される。カバー部材330の移動に連動して、コンタクト320の接点部分が退避位置へ退避され、ベース部材310の載置部材上に、QFPパッケージ350が搭載可能になる。
QFPパッケージ350は、矩形状の本体と、その4つの側面からガルウィング状に延びる外部リード端子352とを含み、外部リード端子352の各々は、コンタクト320にそれぞれ接触される。さらにQFPパッケージ350の裏面には、放熱用およびグランド端子用の金属製のランド領域(図示しない)が形成されている。QFPパッケージ350が載置部材上に載置されたとき、そのランド領域は、同軸ピン10の第1の接触端子32の突起32Dに接触する。このとき、同軸ピン10には、QFPパッケージ350の重力しか印加されないので、第1の接触端子32は、コイルスプリング40に抗して軸方向に降下せず、ほぼ静止したままである。
次に、図12に示すように、カバー部材330への操作力が解除されると、カバー部材330は、図示しないコイルスプリングの復帰力に従い上昇を開始する。カバー部材330の移動に連動してコンタクト320が退避位置から接触位置へ移動され、コンタクト320は、外部リート端子352をその上方から押圧する。この押圧力によって、載置部材が下降され、その結果、同軸ピン10が相対的に上方に移動することにある。これにより、同軸ピン10は、QFPパッケージ350の裏面に形成されたランド領域によって押圧され、同軸ピン10の第1および第2の接触端子32、34は、最終的、押圧力と釣り合う位置まで軸方向に降下する。
同軸ピン10の下部端子部材20の端部は、ベース部材310の裏面から突出しており、ソケットが搭載されたプリント回路基板等の導電領域に接続されている。こうして、QGPパッケージ350と接続された同軸ピン10は、QFPパッケージ350のランド領域と確実に電気的接続し、かつQFPパッケージ350の発熱を効果的に逃がすことができる。
なお、本例では、QFPパッケージをソケットに装着する例を示したが、本発明の同軸ピンは、BGA(Ball Grid Array)、CSP(Chip Sized Package)、LGA(Land Grid Array)、PLCCやLCC等の表面実装用のソケットにも適用することができる。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は、特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10、12:同軸ピン
20:下部端子部材
22、24:端部
26:第1のボディ部
28:第2のボディ部
30:上部端子部材
32:第1の接触端子
32A:接触部
32B:係合部
32C:延在部
32D:突起
34:第2の接触端子
40、50:コイルスプリング
70:接触対象
110:第1の接触端子
120:第2の接触端子
200、210:溝
220、230:突起
300:ソケット
310:ベース部材
320:コンタクト
330:カバー部材
350:QFPパッケージ
352:外部リード端子
20:下部端子部材
22、24:端部
26:第1のボディ部
28:第2のボディ部
30:上部端子部材
32:第1の接触端子
32A:接触部
32B:係合部
32C:延在部
32D:突起
34:第2の接触端子
40、50:コイルスプリング
70:接触対象
110:第1の接触端子
120:第2の接触端子
200、210:溝
220、230:突起
300:ソケット
310:ベース部材
320:コンタクト
330:カバー部材
350:QFPパッケージ
352:外部リード端子
Claims (13)
- 電気的接続機能を有する同軸ピンであって、
導電性材料から構成され、軸方向の少なくとも一部に中空部分が形成された第1の端子部材と、
導電性材料から構成され、前記中空部分内を前記軸方向に摺動可能な第2の端子部材とを有し、
前記第2の端子部材は、第1および第2の接触端子を含み、第1および第2の接触端子は、同軸上にありかつ独立して前記軸方向に移動可能であり、第1および第2の接触端子は、第1および第2の弾性部材によってそれぞれ前記軸方向に弾性的に支持され、前記第1の接触端子の表面には少なくとも1つの突起部が形成される、同軸ピン。 - 前記第1の接触端子は、前記第2の接触端子の内側に位置し、前記第1の接触端子の少なくとも1つの突起部は、前記第2の接触端子の表面から突出している、請求項1に記載の同軸ピン。
- 前記第2の接触端子の表面は、前記第1の接触端子の少なくとも1つの突起部よりも突出している、請求項1に記載の同軸ピン。
- 前記第1の接触端子は、前記第2の接触端子の中心部分に位置する、請求項2または3に記載の同軸ピン。
- 前記第1の接触端子が接触対象によって軸方向に移動した後、第2の接触端子が接触対象に接触する、請求項2に記載の同軸ピン。
- 前記第2の接触端子が接触対象によって軸方向に移動した後、第1の接触端子が接触対象に接触する、請求項3に記載の同軸ピン。
- 前記第1の接触端子は、前記中空部分の第1の領域で前記第1の端子部材に摺動可能に接続され、前記第2の接触端子は、前記中空部分の第2の領域で前記第1の端子部材に摺動可能に接続される、請求項1ないし6いずれか1つに記載の同軸ピン。
- 同軸ピンはさらに、前記第1の接触端子が前記軸方向に移動されるとき、前記第1の接触端子を回転させる回転手段を含む、請求項1ないし7いずれか1つに記載の同軸ピン。
- 前記回転手段はさらに、前記第2の端子部材が軸方向に移動されるとき、前記第2の端子部材を回転させる、請求項8に記載の同軸ピン。
- 前記回転手段は、前記第1の端子部材の内面に形成された螺旋状の溝または突起と、前記第1の接触端子および第2の接触端子に形成された前記螺旋状の溝または突起と係合する突起または溝とを含む、請求項8または9に記載の同軸ピン。
- 前記第1および第2の弾性部材は、それぞれ異なる弾性力を発生するコイルスプリングである、請求項1に記載の同軸ピン。
- 請求項1ないし11いずれか1つに記載の同軸ピンと、
前記同軸ピンを収容したベース部材とを含み、
前記ベース部材上に半導体装置が搭載されたとき、前記半導体装置の端子領域が前記同軸ピンに電気的および熱的に結合する、ソケット。 - 前記端子領域は、前記半導体装置の裏面に形成される、請求項12に記載のソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2014146504A true JP2014146504A (ja) | 2014-08-14 |
Family
ID=51426583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2013014352A Pending JP2014146504A (ja) | 2013-01-29 | 2013-01-29 | 同軸ピンおよびこれを用いたソケット |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2014146504A (ja) |
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