JP2014135527A - Semiconductor power module and method for manufacturing the same - Google Patents
Semiconductor power module and method for manufacturing the same Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014135527A JP2014135527A JP2014094028A JP2014094028A JP2014135527A JP 2014135527 A JP2014135527 A JP 2014135527A JP 2014094028 A JP2014094028 A JP 2014094028A JP 2014094028 A JP2014094028 A JP 2014094028A JP 2014135527 A JP2014135527 A JP 2014135527A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor power
- terminal
- metal block
- power module
- top plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
本発明は、半導体パワーモジュールおよびその製造方法に関する。 The present invention relates to a semiconductor power module and a manufacturing method thereof.
半導体パワーモジュールは、複数の半導体パワーデバイスを搭載し、互いに電気的に接
続された半導体パワーデバイスから出力を得る装置である。このような半導体パワーモジ
ュールは、たとえば、電動モータを駆動するための駆動回路を構成するインバータ回路に
用いられる。電動モータは、たとえば、電気自動車(ハイブリッド車を含む)、電車、産
業用ロボット等の動力源として用いられる。半導体パワーモジュールは、また、太陽電池
、風力発電機その他の発電装置(とくに自家用発電装置)が発生する電力を商用電源の電
力と整合するように変換するインバータ回路にも適用される。
A semiconductor power module is an apparatus that mounts a plurality of semiconductor power devices and obtains output from the semiconductor power devices that are electrically connected to each other. Such a semiconductor power module is used, for example, in an inverter circuit constituting a drive circuit for driving an electric motor. The electric motor is used as a power source of, for example, an electric vehicle (including a hybrid vehicle), a train, an industrial robot, and the like. The semiconductor power module is also applied to an inverter circuit that converts electric power generated by a solar battery, a wind power generator, and other power generation devices (particularly, a private power generation device) so as to match the power of a commercial power source.
半導体パワーモジュールに搭載された半導体パワーデバイスは、ワイヤ配線を介してモ
ジュールの外部端子に接続されている。
たとえば、特許文献1の図1に開示された半導体パワーモジュールは、金属基板電極、
絶縁基板およびヒートシンクが一体化された構造を有する回路基板と、当該回路基板の金
属基板電極上に接続された複数のSiC半導体パワーデバイスと、ヒートシンクに固定さ
れ、SiC半導体パワーデバイスを収容するケースと、ケースに取り付けられた外部電極
とを備えている。SiC半導体パワーデバイスと外部電極との間は、Alワイヤによって
互いに接続されている。
A semiconductor power device mounted on the semiconductor power module is connected to an external terminal of the module via a wire wiring.
For example, the semiconductor power module disclosed in FIG. 1 of
A circuit board having a structure in which an insulating substrate and a heat sink are integrated; a plurality of SiC semiconductor power devices connected on metal substrate electrodes of the circuit board; and a case fixed to the heat sink and containing the SiC semiconductor power device; And an external electrode attached to the case. The SiC semiconductor power device and the external electrode are connected to each other by an Al wire.
半導体パワーデバイスに接続されるAlワイヤは、半導体パワーデバイスが扱う大電流
を流す必要があるので、通常、デバイス1チップに対して複数本ボンディングされる。
しかしながら、たとえ複数本のAlワイヤを接合しても、個々のAlワイヤと半導体パ
ワーデバイスとの接合面積が小さいため、Alワイヤとデバイスとの接合部に電流が集中
してしまう。この電流集中により、電流波形が乱れ、さらにはデバイスが局所的に発熱す
るという不具合がある。デバイスで発生した熱の一部は、Alワイヤを伝わって放散され
るが、細いワイヤでは、その放熱効果は十分ではない。
Since it is necessary to flow a large current handled by the semiconductor power device, a plurality of Al wires connected to the semiconductor power device are usually bonded to one chip of the device.
However, even if a plurality of Al wires are bonded, the current is concentrated at the bonding portion between the Al wires and the device because the bonding area between the individual Al wires and the semiconductor power device is small. Due to this current concentration, there is a problem that the current waveform is disturbed and further the device generates heat locally. Part of the heat generated in the device is dissipated through the Al wire, but the heat dissipation effect is not sufficient with a thin wire.
デバイス1チップ当たりに接続するAlワイヤの本数を増やし、それにより大きな接合
面積を確保すれば、十分な放熱効果を得ることができるかもしれない。しかし、デバイス
に接続されるAlワイヤのピッチに制限があるため、別の手法による放熱効果の向上が望
まれる。
そこで、本発明の主たる目的は、半導体パワーデバイスから流れる電流を平準化するこ
とができ、さらに、半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができ
る半導体パワーモジュールおよびその製造方法を提供することである。
If the number of Al wires connected per chip of the device is increased and thereby a large bonding area is secured, a sufficient heat dissipation effect may be obtained. However, since the pitch of the Al wires connected to the device is limited, it is desired to improve the heat dissipation effect by another method.
Accordingly, a main object of the present invention is to provide a semiconductor power module capable of leveling the current flowing from the semiconductor power device, and efficiently dissipating heat generated in the semiconductor power device, and a method for manufacturing the same. That is.
また、本発明の他の目的は、半導体パワーデバイスから流れる電流を平準化することが
でき、さらに、半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができる半
導体パワーモジュールを、簡単かつ品質よく製造することができる半導体パワーモジュー
ルの製造方法を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor power module that can level the current flowing from the semiconductor power device and can efficiently dissipate the heat generated by the semiconductor power device. It is providing the manufacturing method of the semiconductor power module which can be manufactured.
上記目的を達成するための請求項1記載の発明は、ベース部材と、表面および裏面を有
し、当該裏面が前記ベース部材に接合された半導体パワーデバイスと、表面および裏面を
有し、当該裏面が前記半導体パワーデバイスの前記表面に接合され、前記半導体パワーデ
バイスの前記表面から前記ベース部材から離れる方向に立ち上がり、前記半導体パワーデ
バイス用の配線部材として用いられる金属ブロックと、前記金属ブロックの前記表面に接
合され、前記金属ブロックを介して前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための外
部端子とを含む、半導体パワーモジュールである。
The invention according to
この構成によれば、半導体パワーデバイスとモジュールの外部端子とを接続する配線部
材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロックが用いられる。これにより、半導体パワ
ーデバイスに対して、配線を大きな面積で接合させることができる。そのため、配線(金
属ブロック)と半導体パワーデバイスとの間の接合部における電流集中の発生を抑制する
ことができる。その結果、電流を平準化することができる。さらに、半導体パワーデバイ
スで発生する熱を効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させることもで
きる。
According to this configuration, a metal block having a diameter larger than that of the wire is used as a wiring member that connects the semiconductor power device and the external terminal of the module. Thereby, wiring can be joined to a semiconductor power device with a large area. Therefore, the occurrence of current concentration at the junction between the wiring (metal block) and the semiconductor power device can be suppressed. As a result, the current can be leveled. Furthermore, since the heat generated in the semiconductor power device can be efficiently dissipated, the heat dissipation effect can be improved.
また、請求項2記載の発明は、前記半導体パワーデバイスが配置されるデバイス領域を
有するベース部と、当該ベース部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有す
るケースと、当該ケースの前記枠部に固定され、前記デバイス領域に対向する樹脂製の天
板とをさらに含み、前記外部端子が、前記天板に沿って設けられたプレート端子を含み、
前記天板は、平面視で前記プレート端子に重なり合い、前記プレート端子をその裏面側か
ら支持する支持部を有している、請求項1に記載の半導体パワーモジュールである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a case having a base portion having a device region in which the semiconductor power device is disposed, a frame portion fixed to the base portion and surrounding the device region, A resin-made top plate fixed to the frame part and facing the device region; and the external terminal includes a plate terminal provided along the top plate,
2. The semiconductor power module according to
外部端子がケースを閉塞する天板に沿って設けられたプレート端子である場合、当該プ
レート端子が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロックを介して半導体パワ
ーデバイスに伝わり、結果、デバイスが破壊するおそれがある。
そこで、請求項2記載の発明では、天板が、プレート端子を裏面側から支持する支持部
を有している。これにより、プレート端子が衝撃等を受けても、その衝撃を支持部で緩和
することができる。その結果、衝撃を半導体パワーデバイスに全く伝えないようにできる
か、または、半導体デバイスに伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃による
半導体パワーデバイスの破壊を防止することができる。
When the external terminal is a plate terminal provided along the top plate that closes the case, when the plate terminal receives an impact from the outside, the impact is transmitted to the semiconductor power device through the metal block, and as a result, The device may be destroyed.
Therefore, in the invention described in
また、請求項3記載の発明は、前記天板には、前記プレート端子と対向する領域に、前
記プレート端子の平面面積よりも小さい開口が形成されており、前記金属ブロックは、当
該開口を介して前記プレート端子に接合されており、前記天板の前記支持部は、前記天板
において当該開口の周縁部を含む、請求項2に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、金属ブロックを取り囲む開口の周縁部で構成された支持部により、
プレート端子から金属ブロックに伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the top plate, an opening smaller than a planar area of the plate terminal is formed in a region facing the plate terminal, and the metal block passes through the opening. The semiconductor power module according to
According to this structure, by the support part comprised by the peripheral part of the opening surrounding a metal block,
The impact transmitted from the plate terminal to the metal block can be effectively mitigated.
また、請求項4記載の発明は、前記天板が、前記枠部に対して分離可能に設けられた部
材である、請求項2または3に記載の半導体パワーモジュールである。
この構成によれば、天板が枠部に対して分離可能であるため、半導体パワーモジュール
の製造に際して、枠部と天板とを分離した状態で、まずデバイス領域に半導体パワーデバ
イスを配置し、当該半導体パワーデバイスに金属ブロックを接合させることができる。そ
のため、作業性がよい。
The invention according to
According to this configuration, since the top plate can be separated from the frame portion, when manufacturing the semiconductor power module, the semiconductor power device is first arranged in the device region in a state where the frame portion and the top plate are separated, A metal block can be joined to the semiconductor power device. Therefore, workability is good.
また、請求項5記載の発明は、前記天板は、前記プレート端子に対する一方側の位置に
開放端を有し、当該プレート端子に対して当該開放端の反対側の位置に閉塞端を有する平
面視U字状に形成されており、前記枠部によって、前記閉塞端が前記プレート端子から離
れる方向に沿うスライド方向にスライド可能に支持されており、前記金属ブロックは、前
記開放端と前記閉塞端との間において前記天板に取り囲まれる領域で前記プレート端子に
接合されており、前記天板の前記支持部は、前記天板における前記領域の縁部を含む、請
求項2に記載の半導体パワーモジュールである。
According to a fifth aspect of the present invention, the top plate has an open end at a position on one side with respect to the plate terminal, and has a closed end at a position opposite to the open end with respect to the plate terminal. The closed end is slidably supported by the frame portion in a sliding direction along a direction away from the plate terminal, and the metal block includes the open end and the closed end. 3. The semiconductor power according to
この構成によれば、天板が枠部に対してスライド可能に支持されていて、枠部から分離
可能である。そのため、半導体パワーモジュールの製造に際して、枠部と天板とを分離し
た状態で、まずデバイス領域に半導体パワーデバイスを配置し、当該半導体パワーデバイ
スに金属ブロックを接合させることができる。そのため、作業性がよい。その上、天板に
おいて、スライドにより引き抜かれる方向とは反対側の端部が開放端となっている。その
ため、天板を枠部に対して固定した後でも、金属ブロックとプレート端子との接合を外さ
ずに、天板を引き抜いてデバイス領域を露出させることができる。その結果、ケース内の
メンテナンスを容易に行うことができる。
According to this configuration, the top plate is supported so as to be slidable with respect to the frame portion, and can be separated from the frame portion. Therefore, when the semiconductor power module is manufactured, the semiconductor power device can be first disposed in the device region in a state where the frame portion and the top plate are separated, and the metal block can be bonded to the semiconductor power device. Therefore, workability is good. In addition, the end of the top plate opposite to the direction pulled out by the slide is an open end. Therefore, even after the top plate is fixed to the frame portion, the device region can be exposed by pulling out the top plate without removing the connection between the metal block and the plate terminal. As a result, maintenance inside the case can be easily performed.
また、金属ブロックが配置された領域を取り囲む縁部で構成された支持部により、プレ
ート端子から金属ブロックに伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
また、請求項6記載の発明は、前記プレート端子が、前記スライド方向に沿って延びる
一対の第1対辺および当該第1対辺に直交する一対の第2対辺を有する平面視四角状に形
成されており、前記天板は、前記第1対辺に沿う一対のアーム部と、当該一対のアーム部
の前記スライド方向一方側同士を連結する連結部とを有し、これらアーム部および連結部
によって前記プレート端子の周囲の三方を取り囲むように設けられており、一対の前記ア
ーム部は、それぞれ前記プレート端子の周縁部に対して、前記スライド方向に直交する横
方向外側から当接する第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート端子の前記裏面
に沿って張り出す第2部分と有しており、前記プレート端子の前記第1対辺に沿う前記周
縁部は、前記アーム部の前記第1部分と前記アーム部の前記第2部分とで区画された凹部
に嵌合している、請求項5に記載の半導体パワーモジュールである。
Moreover, the impact transmitted from the plate terminal to the metal block can be effectively mitigated by the support portion constituted by the edge portion surrounding the region where the metal block is disposed.
According to a sixth aspect of the present invention, the plate terminal is formed in a square shape in a plan view having a pair of first opposite sides extending along the sliding direction and a pair of second opposite sides orthogonal to the first opposite sides. The top plate has a pair of arm portions along the first opposite side and a connecting portion that connects the sliding direction one sides of the pair of arm portions, and the plate is formed by the arm portion and the connecting portion. A pair of the arm portions are provided so as to surround the three sides around the terminal, respectively, and a first portion that abuts from the laterally outer side perpendicular to the sliding direction with respect to the peripheral portion of the plate terminal, A second portion extending from the lower end of the first portion along the back surface of the plate terminal, and the peripheral portion along the first opposite side of the plate terminal is the first portion of the arm portion. Part and fitted in the partitioned recesses in said second portion of said arm portion, a semiconductor power module according to
この構成によれば、プレート端子の第1対辺に沿う周縁部が、アーム部の第1部分とア
ーム部の第2部分とで区画された凹部に嵌合している。そのため、天板を枠部に沿ってス
ライドさせるときに、プレート端子を、天板をガイドするためのガイド部材として利用す
ることができる。よって、天板の位置決めを容易に行うことができる。
また、請求項7記載の発明は、前記連結部は、前記プレート端子の周縁部に対して、前
記スライド方向外側から当接する第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート端子
の前記裏面に沿って張り出す第2部分と有しており、前記プレート端子の前記第2対辺に
沿う前記周縁部は、前記連結部の前記第1部分と前記連結部の前記第2部分とで区画され
た凹部に嵌合している、請求項6に記載の半導体パワーモジュールである。
According to this configuration, the peripheral edge portion along the first opposite side of the plate terminal is fitted into the recess defined by the first portion of the arm portion and the second portion of the arm portion. Therefore, when the top plate is slid along the frame portion, the plate terminal can be used as a guide member for guiding the top plate. Therefore, the top plate can be easily positioned.
According to a seventh aspect of the present invention, the connecting portion includes a first portion that comes into contact with the peripheral portion of the plate terminal from the outside in the sliding direction, and the back surface of the plate terminal from the lower end of the first portion. And the peripheral portion along the second opposite side of the plate terminal is partitioned by the first portion of the connecting portion and the second portion of the connecting portion. The semiconductor power module according to
この構成によれば、プレート端子の第2対辺(スライド方向に直交する対辺)に沿う周
縁部が、連結部の第1部分と連結部の第2部分とで区画された凹部に嵌合している。その
ため、天板を枠部に沿ってスライドさせるときに、プレート端子の当該周縁部を、天板の
連結部の第1部分に当接させることにより、天板のスライドを止めることができる。つま
り、プレート端子を、天板のスライドを止めるためのストッパ部材としても利用すること
ができる。よって、天板の位置決めを一層容易に行うことができる。
According to this configuration, the peripheral edge portion along the second opposite side (the opposite side perpendicular to the sliding direction) of the plate terminal is fitted into the recess defined by the first portion of the connecting portion and the second portion of the connecting portion. Yes. Therefore, when the top plate is slid along the frame portion, the top plate can be stopped from sliding by bringing the peripheral edge portion of the plate terminal into contact with the first portion of the connecting portion of the top plate. That is, the plate terminal can be used as a stopper member for stopping the sliding of the top plate. Therefore, the top plate can be positioned more easily.
また、請求項8記載の発明は、前記ベース部および前記枠部がいずれも金属製であり、
前記ベース部が、前記半導体パワーデバイスを支持する前記ベース部材を兼ねており、前
記枠部が、前記ベース部を介して前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための第2
の外部端子を兼ねている、請求項2〜7のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール
である。
Moreover, as for the invention of
The base part also serves as the base member that supports the semiconductor power device, and the frame part supplies second power to the semiconductor power device via the base part.
The semiconductor power module according to
この構成によれば、ベース部から立ち上がる枠部が第2の外部端子を兼ねているので、
半導体パワーデバイスの裏面に対する電気的なコンタクトを、半導体パワーモジュールの
表面側からとることができる。
また、請求項9記載の発明のように、前記半導体パワーデバイスは、SiC半導体を用
いたデバイスであってもよい。
According to this configuration, the frame portion rising from the base portion also serves as the second external terminal.
Electrical contact to the back surface of the semiconductor power device can be made from the front surface side of the semiconductor power module.
The semiconductor power device may be a device using a SiC semiconductor.
その場合、前記金属ブロックは、請求項10記載の発明のように、CuまたはCuを含
む合金材料からなることが好ましい。
この構成によれば、半導体パワーデバイスの配線部材としてAlワイヤを使用する場合
に比べて、SiCと配線部材との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、半
導体パワーデバイスと配線部材との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。そ
の結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高い半導体パワーモジ
ュールを達成することができる。Cuを含む合金材料としては、たとえば、CuMo合金
、CuW合金などが挙げられる。
In this case, the metal block is preferably made of Cu or an alloy material containing Cu as in the invention described in claim 10.
According to this configuration, the difference in coefficient of linear expansion between SiC and the wiring member can be reduced as compared with the case where an Al wire is used as the wiring member of the semiconductor power device. Therefore, it is possible to reduce the generation of thermal stress generated between the semiconductor power device and the wiring member. As a result, since thermal fatigue of the device can be reduced, a semiconductor power module having a long life and high reliability can be achieved. Examples of the alloy material containing Cu include a CuMo alloy and a CuW alloy.
また、たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、CuMo合金の線
膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Alの線膨張係数は約
23ppm/K(SiCの約5倍)である。
また、前記金属ブロックは、請求項11記載の発明のように、直方体形状を有していて
もよいし、請求項12記載の発明のように、その裏面から表面へ向かって断面積が広がる
テーパー形状を有していてもよい。
For example, the linear expansion coefficient of SiC is about 4.5 ppm / K, and the linear expansion coefficient of CuMo alloy is about 9.0 ppm / K (about twice that of SiC). On the other hand, the linear expansion coefficient of Al is about 23 ppm / K (about 5 times that of SiC).
The metal block may have a rectangular parallelepiped shape as in the invention described in claim 11, or a taper whose cross-sectional area is widened from the back surface to the surface as in the invention of
金属ブロックがテーパー形状の場合、その裏面の面積を半導体パワーデバイスの表面面
積に合わせて設計し、その表面の面積を外部端子の大きさに合わせて設計すれば、デバイ
スで発生する熱を、最適な放熱効率で放散することができる。
また、請求項13記載の発明のように、前記半導体パワーモジュールには、前記半導体
パワーデバイスが複数設けられており、前記外部端子は、各前記半導体パワーデバイスに
接合された金属ブロックに一括して接合されていてもよい。
If the metal block has a tapered shape, the area of the back surface is designed according to the surface area of the semiconductor power device, and the surface area is designed according to the size of the external terminal, the heat generated by the device is optimized. Can be dissipated with high heat dissipation efficiency.
According to a thirteenth aspect of the present invention, the semiconductor power module includes a plurality of the semiconductor power devices, and the external terminals are collectively connected to a metal block joined to each of the semiconductor power devices. It may be joined.
また、請求項14記載の発明は、前記天板には、平面視で前記プレート端子と重なる領
域外の領域において厚さ方向に貫通する貫通孔が形成されている、請求項1〜13のいず
れか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
この構成によれば、天板に形成された貫通孔からケース内へ樹脂を流し込むことにより
、ケース内の絶縁状態を簡単に維持することができる。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the top plate, a through-hole penetrating in the thickness direction is formed in a region outside the region overlapping the plate terminal in plan view. A semiconductor power module according to
According to this configuration, the insulating state in the case can be easily maintained by pouring the resin into the case from the through hole formed in the top plate.
また、請求項15記載の発明は、表面および裏面を有する半導体パワーデバイスの当該
裏面をベース部材に接合する工程と、前記ベース部材と前記半導体パワーデバイスの接合
後、表面および裏面を有し、前記半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられる金
属ブロックの当該裏面を、前記半導体デバイスの前記表面に接合する工程と、前記半導体
パワーデバイスに電力を供給するための外部端子に対して、予備はんだ付けを施す工程と
、前記外部端子における前記予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接させ、
前記外部端子を加熱することによって前記外部端子と前記金属ブロックとを接合する工程
とを含む、半導体パワーモジュールの製造方法である。
The invention according to
A method of manufacturing a semiconductor power module, comprising the step of joining the external terminal and the metal block by heating the external terminal.
本発明のように、放熱効果の高い金属ブロックを半導体パワーデバイスの配線材料とし
て利用する場合、金属ブロックと外部端子との間にはんだ材料を挟んで、外部端子側を単
に加熱するだけでは、その熱が放熱効果の高い金属ブロックを伝わって放散される場合が
ある。その結果、予め挟まれたはんだ材料が良好に溶けず、金属ブロックと外部端子との
接合不良を生じるおそれがある。
As in the present invention, when using a metal block with a high heat dissipation effect as a wiring material for a semiconductor power device, a solder material is sandwiched between the metal block and the external terminal, and the external terminal side is simply heated. Heat may be dissipated through a metal block with a high heat dissipation effect. As a result, the solder material sandwiched in advance does not melt well, and there is a risk of poor bonding between the metal block and the external terminal.
そこで、請求項15記載の発明では、外部端子に対して、予め予備はんだ付けを施し、
その予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接して接合する。これにより、金
属ブロックと外部端子とを良好に接合することができる。すなわち、本発明のような半導
体パワーデバイスを、簡単かつ品質よく製造することができる。
また、請求項16記載の発明は、前記外部端子が、平板状のプレート端子であり、前記
予備はんだ付けを施す工程は、当該プレート端子に所定量以上のはんだを盛る工程を含む
、請求項15に記載の半導体パワーモジュールの製造方法である。
Therefore, in the invention according to
The metal block is brought into contact with and joined to the portion where the preliminary solder is applied. Thereby, a metal block and an external terminal can be joined favorably. That is, the semiconductor power device as in the present invention can be manufactured easily and with high quality.
In the invention described in
この構成によれば、複数の金属ブロック間に高低差が生じている場合でも、所定量以上
のはんだにより、その高低差を補うことができる。
According to this configuration, even when a height difference occurs between the plurality of metal blocks, the height difference can be compensated for by a predetermined amount or more of solder.
以下では、本発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係るパワーモジュールの全体図である。
パワーモジュール1は、開放面を有するケース2と、当該ケースの開放面を閉塞する天
板3と、外部端子としてのソース端子4と、ソースセンス端子5と、ゲート端子6とを備
えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
<First Embodiment>
FIG. 1 is an overall view of a power module according to a first embodiment of the present invention.
The
説明の便宜上、以下では、図1に示したX方向、Y方向およびZ方向を用いることがあ
る。X方向は、平面視矩形のケース2の長辺に沿う方向である。Y方向は、平面視矩形の
ケース2の短辺に沿う方向である。Z方向は、ケース2の高さ方向に沿う方向である。ケ
ース2を水平面に置いたとき、X方向およびY方向は互いに直交する2つの水平な直線(
X軸およびY軸)に沿う2つの水平方向(第1水平方向および第2水平方向)となり、Z
方向は鉛直な直線(Z軸)に沿う鉛直方向(高さ方向)となる。
For convenience of explanation, the X direction, the Y direction, and the Z direction shown in FIG. The X direction is a direction along the long side of the
Two horizontal directions (first horizontal direction and second horizontal direction) along the X axis and the Y axis), and Z
The direction is a vertical direction (height direction) along a vertical straight line (Z axis).
ケース2は、平面視矩形の一様厚さのベース部8と、このベース部8の周縁部から立設
された平面視矩形の枠部9とを一体的に有している。パワーモジュール1では、ベース部
8における枠部9で包囲される領域(後述するデバイス領域16)に、後述するパワーデ
バイス18が配置される。
ベース部8および枠部9は、この実施形態では、金属材料で構成されている。とくに、
アルミニウム、銅等の放熱性の高い金属で構成されていることが好ましい。
The
In this embodiment, the
It is preferably made of a metal with high heat dissipation such as aluminum or copper.
枠部9には、樹脂材料で構成された台座12が取り付けられている。この台座12を貫
通して、細い円柱状のソースセンス端子5およびゲート端子6がケース2の内外に跨って
設けられている。樹脂製の台座12を介してソースセンス端子5およびゲート端子6を設
けることにより、ソースセンス端子5およびゲート端子6を互いに、かつ、金属製の枠部
9に対して絶縁することができる。
A
天板3は、ケース2に対して分離可能な平面視矩形の一様な厚さの板状体である。天板
3は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(ポリフェニレン
サルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー、セラミック材
などを用いてもよい。天板3は、たとえば、接着剤などを利用して枠部9に固定されてい
る。
The
ソース端子4は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体(プレート端子)
であり、天板3の上面に載置されている。
また、天板3において、ソース端子4と対向する領域には、ソース端子4の平面面積よ
りも小さい開口14(図1の二点鎖線)が複数形成されている。複数の開口14は、後述
するパワーデバイス18の数と同数形成されている。この実施形態では、3つの開口14
が、平面視で三角形状に配列されている。
The
It is placed on the top surface of the
In the
Are arranged in a triangular shape in plan view.
また、天板3において、ソース端子4と台座12との間の位置には、天板3を厚さ方向
に貫通する貫通孔15が形成されている。貫通孔15は、この実施形態では、Y方向に沿
って長い平面視楕円状に形成されている。
図2は、図1に示す半導体パワーモジュールの内部構成図である。図3は、図1に示す
半導体パワーモジュールの断面図であって、図1のA−A切断面における断面を表してい
る。
In the
FIG. 2 is an internal configuration diagram of the semiconductor power module shown in FIG. 3 is a cross-sectional view of the semiconductor power module shown in FIG. 1 and shows a cross section taken along the line AA of FIG.
ケース2内において、枠部9に包囲されるデバイス領域16には、絶縁基板17および
複数のパワーデバイス18が、Y方向に沿って台座12の側からこの順に配置されている
。
絶縁基板17は、たとえば、セラミック基板で構成されている。この絶縁基板17は、
Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体であり、その上には、プレート状のソ
ースセンス配線19およびゲート配線20が、互いに間隔を空けて形成されている。ソー
スセンス配線19には、ソースセンス端子5の一端が接続されている。また、ゲート配線
20には、ゲート端子6の一端が接続されている。
In the
The insulating
A plate-like body having a uniform rectangular shape in a plan view that is long along the Y direction, on which plate-like source sense wirings 19 and gate wirings 20 are formed with a space therebetween. One end of the
複数のパワーデバイス18は、複数のスイッチング素子Trおよび複数のダイオード素
子Diを含んでいる。この実施形態では、2つのスイッチング素子Trおよび1つのダイ
オード素子Diを含んでいる。パワーデバイス18は、この実施形態では、SiC半導体
を用いたデバイスである。これら複数のパワーデバイス18は、それぞれ天板3の開口1
4に1対1で対応するように配置されている。具体的には、1つのダイオード素子Diと
、2つのスイッチング素子Trとは、平面視で三角形状に配列されている。そして、複数
のパワーデバイス18は、その裏面182がケース2のベース部8に対して接合されるこ
とにより、ケース2に対して電気的に接続されている。
The plurality of
4 are arranged in a one-to-one correspondence. Specifically, one diode element Di and two switching elements Tr are arranged in a triangular shape in plan view. The plurality of
パワーデバイス18のうち、スイッチング素子Trは、それぞれゲート配線20および
ソースセンス配線19に対して、別々のAlワイヤ22,23を用いて、電気的に接続さ
れている。
各パワーデバイス18の表面181(ベース部8に接合された面の反対側の面)には、
パワーデバイス18に電力を供給する配線材料として用いられる金属ブロック24の裏面
242が1つずつ接合されている。金属ブロック24は、この実施形態では、パワーデバ
イス18の表面181からベース部8から離れる方向(ソース端子4に近づく方向)に立
ち上がる直方体形状を有している。
In the
On the
The back surfaces 242 of the metal blocks 24 used as wiring materials for supplying power to the
金属ブロック24は、CuまたはCuを含む合金材料(合金材料としては、たとえば、
CuMo合金、CuW合金などが挙げられる。)からなることが好ましい。これにより、
SiCパワーデバイス18の配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiC
と金属ブロック24との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、パワーデバ
イス18と金属ブロック24との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その
結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高いパワーモジュール1
を達成することができる。たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、
CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Al
の線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。そして、複数の金属ブロッ
ク24は、天板3の開口14を介してその表面241がソース端子4に接合されている。
The
CuMo alloy, CuW alloy, etc. are mentioned. ). This
Compared to the case where an Al wire is used as the wiring member of the
And the difference in linear expansion coefficient between the
Can be achieved. For example, the coefficient of linear expansion of SiC is about 4.5 ppm / K,
The coefficient of linear expansion of the CuMo alloy is about 9.0 ppm / K (about twice that of SiC). On the other hand, Al
The linear expansion coefficient is about 23 ppm / K (about 5 times that of SiC). The plurality of metal blocks 24 have their
また、天板3において、ソース端子4と対向する領域には、平面視でソース端子4の形
状に沿った輪郭を有する(平面視でソース端子4に重なる)凹部25が形成されており、
この凹部25内にソース端子4が嵌め込まれている。金属ブロック24とソース端子4と
の接続のための開口14は、この凹部25の底壁26を貫通するように形成されている。
支持部としての凹部25の底壁26における当該開口14を取り囲む部分は、ソース端子
4に裏面側から当接している。これにより、ソース端子4は、その一部が接合により金属
ブロック24によって支持されており、残りの大部分がその裏面側に入り込む天板3(凹
部25の底壁26)によって支持されている。
Further, in the
The
A portion surrounding the
図4A〜図4Eは、図1に示すパワーモジュールの製造工程を工程順に説明する図であ
る。
まず、図4Aに示すように、ケース2内のデバイス領域16に、プレート状の配線が形
成された絶縁基板17が取り付けられる。次いで、ソースセンス端子5およびゲート端子
6が挿入された台座12がケース2の枠部9に取り付けられる。続いて、ソースセンス端
子5およびゲート端子6それぞれと、プレート状配線19〜20との接合が行われる。次
いで、たとえば、板はんだ27を介して、ベース部8の上に各パワーデバイス18がセッ
トされる。そして、ケース2をヒータ28上に搬入し、たとえば、250〜400℃で加
熱する。この加熱により、金属製のケース2に伝わった熱が板はんだ27に伝わって板は
んだ27が溶融する。これにより、パワーデバイス18がケース2のベース部8に接合さ
れる。なお、図4B以下では、接合に使用された板はんだ27を省略している。
4A to 4E are diagrams for explaining the manufacturing steps of the power module shown in FIG. 1 in the order of steps.
First, as shown in FIG. 4A, an insulating
次いで、ケース2をヒータ28に置いたまま、図4Bに示すように、たとえば、板はん
だ29を介して、各パワーデバイス18の表面181に金属ブロック24がセットされる
。そして、たとえば、250〜400℃でケース2を加熱する。この加熱により、金属製
のケース2に伝わった熱が、パワーデバイス18を介して板はんだ29に伝わって、板は
んだ29が溶融する。これにより、金属ブロック24がパワーデバイス18に接合される
。なお、図4C以下では、接合に使用された板はんだ29を省略している。
Next, with the
次いで、図4Cに示すように、各金属ブロック24に対して天板3の開口14が一致す
るように天板3の位置決めをし、枠部9に対して天板3を固定する。
次いで、図4Dに示すように、ソース端子4が単独でヒータ28の上に置かれ、当該ソ
ース端子4の上に予備はんだ30が施される。次いで、ケース2を逆さまにした状態(天
板3が下側になった状態)で予備はんだ30に対して金属ブロック24の位置決めをし、
金属ブロック24と予備はんだ30とを接触させる。
Next, as shown in FIG. 4C, the
Next, as shown in FIG. 4D, the
The
そして、ヒータ28の加熱により、図4Eに示すように、金属ブロック24とソース端
子4とが接合される。
以上のように、パワーモジュール1によれば、パワーデバイス18とソース端子4とを
接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロック24が用いられる。これ
により、パワーデバイス18に対して、配線(金属ブロック24)を大きな面積で接合さ
せることができる。そのため、配線(金属ブロック24)とパワーデバイス18との間の
接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化するこ
とができる。さらに、パワーデバイス18で発生する熱を、金属ブロック24およびプレ
ート状ソース端子4により効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させる
こともできる。
Then, the
As described above, according to the
また、この実施形態のように、外部端子が天板3の上面に沿って設けられたプレート端
子である場合、当該ソース端子4が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロッ
ク24を介してパワーデバイス18に伝わり、結果、デバイス18が破壊するおそれがあ
る。
そこで、この実施形態では、天板3の凹部25の底壁26が、ソース端子4を裏面側か
ら支持している。これにより、ソース端子4が衝撃等を受けても、その衝撃を凹部25の
底壁26で緩和することができる。その結果、衝撃をパワーデバイス18に全く伝えない
ようにできるか、または、パワーデバイス18に伝わる衝撃を低減することができる。よ
って、衝撃によるパワーデバイス18の破壊を防止することができる。しかも、この実施
形態では、ソース端子4を支持する支持部が、各金属ブロック24を1対1で各金属ブロ
ックの平面輪郭に沿って取り囲む開口14の周縁部(凹部25の底壁26)で構成されて
いるため、ソース端子4から金属ブロック24に伝わる衝撃を効果的に緩和することがで
きる。
Further, when the external terminal is a plate terminal provided along the upper surface of the
Therefore, in this embodiment, the
また、天板3が枠部9に対して分離可能であるため、パワーモジュール1の製造に際し
て、枠部9と天板3とを分離した状態で、まずデバイス領域16にパワーデバイス18を
配置し、当該パワーデバイス18に金属ブロック24を接合させることができる。そのた
め、作業性がよい。
また、金属製のベース部8にパワーデバイス18の裏面182が直接接合されているた
め、パワーデバイス18の裏面182(ドレイン側)に対する電気的なコンタクトを、パ
ワーモジュール1のケース2を利用してとることができる。
Further, since the
Further, since the
また、天板3に貫通孔15が形成されているため、当該貫通孔15からケース2内へ樹
脂を流し込むことにより、ケース2内の絶縁状態を簡単に維持することができる。
また、この実施形態のように、放熱効果の高い金属ブロック24をパワーデバイス18
の配線材料として利用する場合、たとえば、図4Aや図4Bの工程のように、金属ブロッ
ク24とソース端子4との間に板はんだを挟んだ状態で、ソース端子4をヒータ28で加
熱するやり方では、その熱が放熱効果の高い金属ブロック24を伝わって放散される場合
がある。その結果、予め挟まれた板はんだが良好に溶けず、金属ブロック24とソース端
子4との接合不良を生じるおそれがある。
Moreover, since the through-
Further, as in this embodiment, the
4A and 4B, the
そこで、この実施形態では、図4Dに示すように、ソース端子4に対して、予め予備は
んだ30を施し、その予備はんだ30が施された箇所に金属ブロック24を当接して接合
する。これにより、金属ブロック24と外部端子とを良好に接合することができる。すな
わち、パワーモジュール1を、簡単かつ品質よく製造することができる。
そして、このような方法によれば、たとえば、複数の金属ブロック24間に、図5に示
すような高低差hが生じていても、所定量の予備はんだ30を施すことにより、その高低
差hを予備はんだ30で補うことができる。その結果、複数の金属ブロック24に対して
、プレート状のソース端子4を一括して確実に接合することができる。
<第2実施形態>
図6は、本発明の第2実施形態に係るパワーモジュールの全体図である。図7は、図6
に示すパワーモジュールの内部構成図である。図8は、図6に示すパワーモジュールの断
面図であって、図6のB−B切断面における断面を表している。図9は、図6に示すパワ
ーモジュールの断面図であって、図6のC−C切断面における断面を表している。
Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. 4D, the
According to such a method, for example, even if a height difference h as shown in FIG. 5 occurs between the plurality of metal blocks 24, the height difference h can be obtained by applying a predetermined amount of
<Second Embodiment>
FIG. 6 is an overall view of a power module according to the second embodiment of the present invention. 7 is similar to FIG.
It is an internal block diagram of the power module shown in FIG. 8 is a cross-sectional view of the power module shown in FIG. 6 and shows a cross section taken along the line BB of FIG. 9 is a cross-sectional view of the power module shown in FIG. 6 and shows a cross section taken along the line CC in FIG.
パワーモジュール51は、開放面を有するケース52と、当該ケース52の開放面を閉
塞する天板53と、外部端子としてのソース端子54と、ソースセンス端子55と、ゲー
ト端子56とを備えている。
説明の便宜上、以下では、図1に示したX方向、Y方向およびZ方向を用いることがあ
る。X方向は、平面視矩形のケース52の長辺に沿う方向である。Y方向は、平面視矩形
のケース52の短辺に沿う方向である。Z方向は、ケース52の高さ方向に沿う方向であ
る。ケース52を水平面に置いたとき、X方向およびY方向は互いに直交する2つの水平
な直線(X軸およびY軸)に沿う2つの水平方向(第1水平方向および第2水平方向)と
なり、Z方向は鉛直な直線(Z軸)に沿う鉛直方向(高さ方向)となる。
The
For convenience of explanation, the X direction, the Y direction, and the Z direction shown in FIG. The X direction is a direction along the long side of the
ケース52は、平面視矩形の一様厚さのベース部58と、このベース部58の周縁部か
ら立設された平面視矩形の枠部59とを有している。パワーモジュール51では、ベース
部58にお・BR>ッる枠部59で包囲される領域(デバイス領域61)に、後述するパワーデバイス74が配置される。
ベース部58は、この実施形態では、金属材料で構成されている。とくに、アルミニウ
ム、銅等の放熱性の高い金属で構成されていることが好ましい。
The
In this embodiment, the
一方、枠部59は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(
ポリフェニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー
、セラミック材などを用いてもよい。
枠部59には、その頂部よりも一段低い一定深さの低段部63が形成されている。この
低段部63は、平面視U字状に形成され、同じく平面視U字状の天板53をスライドさせ
るための部分である。低段部63の深さは、たとえば、天板53の厚さとほぼ同じ大きさ
であることが好ましい。これにより、天板53を固定したときに、枠部59および天板5
3により平坦面を有する直方体を形成することができる。
On the other hand, the
It is preferable to use a heat-resistant resin such as polyphenylene sulfide, but a liquid crystal polymer, a ceramic material, or the like may be used.
The
3 can form a rectangular parallelepiped having a flat surface.
枠部59には、樹脂材料で構成された台座64が取り付けられている。この台座64を
貫通して、細い棒状のソースセンス端子55およびゲート端子56がケース52の内外に
跨って設けられている。樹脂製の台座64を介してソースセンス端子55およびゲート端
子56を設けることにより、ソースセンス端子55およびゲート端子56を互いに、かつ
、金属製の枠部59に対して絶縁することができる。
A
天板53は、ケース52に対して分離可能な平面視矩形の一様な厚さの板状体である。
天板53は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(ポリフェ
ニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー、セラミ
ック材などを用いてもよい。
ソース端子54は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体(プレート端子
)であり、ベース部58のデバイス領域61に対向するように設けられている。
The
In this embodiment, the
The
天板53は、ソース端子54の第1対辺としての長辺に沿う一対のアーム部65と、当
該一対のアーム部65におけるソース端子54に対してソースセンス端子55側同士を連
結する連結部66とを有し、これらアーム部65および連結部66によってプレート端子
の周囲の三方を取り囲むように設けられており、X方向ソースセンス端子55側が連結部
66によって閉塞された閉塞端とされ、その反対側が開放端とされている。これにより、
天板53は、枠部59によって、連結端がソース端子54から離れる方向に沿うスライド
方向(X方向)にスライド可能に支持されている。
The
The
そして、図9に示すように、一対のアーム部65は、それぞれソース端子54の周縁部
に対して、スライド方向に直交する横方向(Y方向)外側から当接する第1部分67と、
当該第1部分67の下端からソース端子54の裏面に沿って張り出す第2部分68と有し
ている。これにより、ソース端子54の長辺に沿う周縁部は、アーム部65の第1部分6
7とアーム部65の第2部分68とで区画された凹部69に嵌合している。
Then, as shown in FIG. 9, the pair of
The
7 and the
また、図8に示すように、連結部66は、ソース端子54の周縁部に対して、スライド
方向(X方向)外側から当接する第1部分70と、当該第1部分70の下端からソース端
子54の裏面に沿って張り出す第2部分71と有している。これにより、ソース端子54
の第2対辺としての短辺に沿う周縁部は、連結部66の第1部分70と連結部66の第2
部分71とで区画された凹部72に嵌合している。
Further, as shown in FIG. 8, the connecting
The peripheral portion along the short side as the second opposite side of the
It fits into a
つまり、ソース端子54は、アーム部65および連結部66により、平面視U字状の位
置で支持されている。
ケース52内において、枠部59に包囲されるデバイス領域61には、絶縁基板73お
よび複数のパワーデバイス74が、Y方向に沿って台座64の側からこの順に配置されて
いる。
That is, the
In the
絶縁基板73は、たとえば、セラミック基板で構成されている。この絶縁基板73は、
Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体であり、その上には、プレート状のソ
ースセンス配線75およびゲート配線76が、互いに間隔を空けて形成されている。ソー
スセンス配線75には、ソースセンス端子55の一端が接続されている。また、ゲート配
線76には、ゲート端子56の一端が接続されている。
The insulating
A plate-like body having a uniform rectangular shape in a plan view that is long along the Y direction, on which plate-like source sense wirings 75 and gate wirings 76 are formed with a space therebetween. One end of a
複数のパワーデバイス74は、複数のスイッチング素子Trおよび複数のダイオード素
子Diを含んでいる。この実施形態では、2つのスイッチング素子Trおよび1つのダイ
オード素子Diを含んでいる。パワーデバイス74は、この実施形態では、SiC半導体
を用いたデバイスである。これら複数のパワーデバイス74は、2つのスイッチング素子
TrがY方向に沿って間隔を空けて配置され、これらのスイッチ素子Trに対してX方向
絶縁基板73の反対側に、1つのダイオード素子Diが配置されている。具体的には、1
つのダイオード素子Diと、2つのスイッチング素子Trとは、平面視で三角形状に配列
されている。そして、複数のパワーデバイス74は、その裏面742がケース52のベー
ス部58に対して接合されることにより、ケース52に対して電気的に接続されている。
The plurality of
The two diode elements Di and the two switching elements Tr are arranged in a triangular shape in plan view. The plurality of
パワーデバイス74のうち、スイッチング素子Trは、それぞれゲート配線76および
ソースセンス配線75に対して、別々のAlワイヤ81,82を用いて、電気的に接続さ
れている。
各パワーデバイス74の表面741(ベース部58に接合された面の反対側の面)には
、パワーデバイス74に電力を供給する配線材料として用いられる金属ブロック83の裏
面832が1つずつ接合されている。金属ブロック83は、この実施形態では、パワーデ
バイス74の表面741からベース部58から離れる方向(ソース端子54に近づく方向
)に立ち上がる直方体形状を有している。
In the
The
金属ブロック83は、CuまたはCuを含む合金材料(合金材料としては、たとえば、
CuMo合金、CuW合金などが挙げられる。)からなることが好ましい。これにより、
SiCパワーデバイス74の配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiC
と金属ブロック83との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、パワーデバ
イス74と金属ブロック83との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その
結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高いパワーモジュール5
1を達成することができる。たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり
、CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、A
lの線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。そして、複数の金属ブロ
ック83は、天板53におけるアーム部65および連結部66により取り囲まれる領域で
、その表面831がソース端子54に接合されている。
The
CuMo alloy, CuW alloy, etc. are mentioned. ). This
Compared to the case where an Al wire is used as the wiring member of the
And the difference in linear expansion coefficient between the
1 can be achieved. For example, the linear expansion coefficient of SiC is about 4.5 ppm / K, and the linear expansion coefficient of CuMo alloy is about 9.0 ppm / K (about twice that of SiC). On the other hand, A
The linear expansion coefficient of l is about 23 ppm / K (about 5 times that of SiC). The plurality of metal blocks 83 are regions surrounded by the
図10A〜図10Eは、図6に示すパワーモジュールの製造工程を工程順に説明する図
である。
まず、図10Aに示すように、ケース52内のデバイス領域61に、プレート状の配線
が形成された絶縁基板73が取り付けられる。次いで、ソースセンス端子55およびゲー
ト端子56が挿入された台座64がケース52の枠部59に取り付けられる。続いて、ソ
ースセンス端子55およびゲート端子56それぞれと、プレート状配線との接合が行われ
る。次いで、たとえば、板はんだ84を介して、ベース部58の上に各パワーデバイス7
4がセットされる。そして、ケース52をヒータ85上に搬入し、たとえば、250〜4
00℃で加熱する。この加熱により、金属製のベース部58に伝わった熱が板はんだ84
に伝わって板はんだ84が溶融する。これにより、パワーデバイス74がケース52のベ
ース部58に接合される。なお、図10B以下では、接合に使用された板はんだ84を省
略している。
10A to 10E are diagrams for explaining the manufacturing process of the power module shown in FIG. 6 in the order of steps.
First, as shown in FIG. 10A, an insulating
4 is set. And
Heat at 00 ° C. Due to this heating, the heat transmitted to the
And the
次いで、ケース52をヒータ85に置いたまま、図10Bに示すように、たとえば、板
はんだ86を介して、各パワーデバイス74の表面741に金属ブロック83がセットさ
れる。そいて、たとえば、250〜400℃でケース52を加熱する。この加熱により、
金属製のベース部58に伝わった熱が、パワーデバイス74を介して板はんだ86に伝わ
って、板はんだ86が溶融する。これにより、金属ブロック83がパワーデバイス74に
接合される。なお、図10C以下では、接合に使用された板はんだ86を省略している。
Next, with the
The heat transferred to the
次いで、図10Cに示すように、ソース端子54が単独でヒータ85の上に置かれ、当
該ソース端子54の上に予備はんだ87が施される。次いで、ケース52を逆さまにした
状態で予備はんだ87に対して金属ブロック83の位置決めをし、金属ブロック83と予
備はんだとを接触させる。
そして、ヒータ85の加熱により、図10Dに示すように、金属ブロック83とソース
端子54とが接合される。
Next, as shown in FIG. 10C, the
Then, the
次いで、図10Eに示すように、ソース端子54の周縁部に対して天板53の凹部が一
致するように天板53の位置決めをし、枠部59に対して、天板53の連結部66がソー
ス端子54に接触するまで天板53をスライドさせる。これにより、デバイス領域61が
閉塞される。
以上のように、パワーモジュール51によれば、パワーデバイス74とソース端子54
とを接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロック83が用いられる。
これにより、パワーデバイス74に対して、配線(金属ブロック83)を大きな面積で接
合させることができる。そのため、配線(金属ブロック83)とパワーデバイス74との
間の接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化す
ることができる。さらに、パワーデバイス74で発生する熱を、金属ブロック83および
プレート状ソース端子54により効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上
させることもできる。
Next, as shown in FIG. 10E, the
As described above, according to the
A
Thereby, the wiring (metal block 83) can be joined to the
また、この実施形態のように、外部端子が天板53の上面に沿って設けられたプレート
端子である場合、当該ソース端子54が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブ
ロック83を介してパワーデバイス74に伝わり、結果、デバイスが破壊するおそれがあ
る。
そこで、この実施形態では、天板53のアーム部65および連結部66のそれぞれ第2
部分68,71が、ソース端子54を裏面側から支持している。これにより、ソース端子
54が衝撃等を受けても、その衝撃をアーム部65および連結部66で緩和することがで
きる。その結果、衝撃をパワーデバイス74に全く伝えないようにできるか、または、パ
ワーデバイス74に伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃によるパワーデバ
イス74の破壊を防止することができる。
Further, when the external terminal is a plate terminal provided along the top surface of the
Therefore, in this embodiment, each of the
また、天板53が枠部59に対してスライド可能に支持されていて、枠部59から分離
可能である。そのため、パワーモジュール51の製造に際して、枠部59と天板53とを
分離した状態で、まずデバイス領域61にパワーデバイス74を配置し、当該パワーデバ
イス74に金属ブロック83を接合させることができる。そのため、作業性がよい。その
上、天板53において、スライドにより引き抜かれる方向とは反対側の端部が開放端とな
っている。そのため、天板53を枠部59に対して固定した後でも、金属ブロック83と
ソース端子54との接合を外さずに、天板53を引き抜いてデバイス領域61を露出させ
ることができる。その結果、ケース52内のメンテナンスを容易に行うことができる。
The
また、ソース端子54の長辺に沿う周縁部が、アーム部65の第1部分67とアーム部
65の第2部分68とで区画された凹部69に嵌合している。そのため、天板53を枠部
59に沿ってスライドさせるときに、ソース端子54を、天板53をガイドするためのガ
イド部材として利用することができる。よって、天板53の位置決めを容易に行うことが
できる。
Further, the peripheral edge portion along the long side of the
また、ソース端子54の短辺(スライド方向に直交する対辺)に沿う周縁部が、連結部
66の第1部分70と連結部66の第2部分71とで区画された凹部72に嵌合している
。そのため、天板53を枠部59に沿ってスライドさせるときに、ソース端子54の当該
周縁部を、天板53の連結部66の第1部分70に当接させることにより、天板53のス
ライドを止めることができる。つまり、プレート端子を、天板53のスライドを止めるた
めのストッパ部材としても利用することができる。よって、天板53の位置決めを一層容
易に行うことができる。
Further, the peripheral edge portion along the short side (the opposite side orthogonal to the sliding direction) of the
また、金属製のベース部58にパワーデバイス74の裏面742が直接接合されている
ため、パワーデバイス74の裏面742(ドレイン側)に対する電気的なコンタクトを、
パワーモジュール51のケース52を利用してとることができる。
また、この実施形態のように、放熱効果の高い金属ブロック83をパワーデバイス74
の配線材料として利用する場合、たとえば、図10Aや図10Bの工程のように、金属ブ
ロック83とソース端子54との間に板はんだを挟んだ状態で、ソース端子54をヒータ
85で加熱するやり方では、その熱が放熱効果の高い金属ブロック83を伝わって放散さ
れる場合がある。その結果、予め挟まれた板はんだが良好に溶けず、金属ブロック83と
ソース端子54との接合不良を生じるおそれがある。
Further, since the
It can be taken using the
Further, as in this embodiment, a
10A and 10B, for example, a method of heating the
そこで、この実施形態では、図10Cに示すように、ソース端子54に対して、予め予
備はんだ87を施し、その予備はんだ87が施された箇所に金属ブロック83を当接して
接合する。これにより、金属ブロック83とソース端子54とを良好に接合することがで
きる。すなわち、パワーモジュール51を、簡単かつ品質よく製造することができる。
そして、このような方法によれば、たとえば、前述の実施形態で説明したように、複数
の金属ブロック83間に、図5に示すような高低差hが生じていても、所定量の予備はん
だ87を施すことにより、その高低差hを予備はんだ87で補うことができる。その結果
、複数の金属ブロック83に対して、プレート状のソース端子54を一括して確実に接合
することができる。
Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. 10C,
According to such a method, for example, as described in the above-described embodiment, even if the height difference h as shown in FIG. By applying 87, the height difference h can be supplemented by the
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、他の形態で実施することもできる。
たとえば、金属ブロック24は、図11および図12に示すパワーモジュール101の
ように、その裏面242から表面241へ向かって断面積が広がるテーパー形状を有して
いてもよい。
また、金属ブロック24,83の材料は、Cu、Al、Feなどの金属材料であっても
よい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention can also be implemented with another form.
For example, like the
The material of the metal blocks 24 and 83 may be a metal material such as Cu, Al, or Fe.
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能で
ある。
In addition, various design changes can be made within the scope of matters described in the claims.
1 パワーモジュール
2 ケース
3 天板
4 ソース端子
8 ベース部
9 枠部
14 開口
15 貫通孔
16 デバイス領域
18 パワーデバイス
24 金属ブロック
25 凹部
26 底壁
51 パワーモジュール
52 ケース
53 天板
54 ソース端子
58 ベース部
59 枠部
61 デバイス領域
65 アーム部
66 連結部
67 (アーム部の)第1部分
68 (アーム部の)第2部分
69 (アーム部の)凹部
70 (連結部の)第1部分
71 (連結部の)第2部分
72 (連結部の)凹部
74 パワーデバイス
83 金属ブロック
101 パワーモジュール
181 (パワーデバイスの)表面
182 (パワーデバイスの)裏面
241 (金属ブロックの)表面
242 (金属ブロックの)裏面
741 (パワーデバイスの)表面
742 (パワーデバイスの)裏面
831 (金属ブロックの)表面
832 (金属ブロックの)裏面
Tr トランジスタ素子
Di ダイオード素子
DESCRIPTION OF
Claims (16)
表面および裏面を有し、当該裏面が前記ベース部材に接合された半導体パワーデバイス
と、
表面および裏面を有し、当該裏面が前記半導体パワーデバイスの前記表面に接合され、
前記半導体パワーデバイスの前記表面から前記ベース部材から離れる方向に立ち上がり、
前記半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられる金属ブロックと、
前記金属ブロックの前記表面に接合され、前記金属ブロックを介して前記半導体パワー
デバイスに電力を供給するための外部端子とを含む、半導体パワーモジュール。 A base member;
A semiconductor power device having a front surface and a back surface, the back surface being bonded to the base member;
Having a front surface and a back surface, the back surface is bonded to the surface of the semiconductor power device;
Rising from the surface of the semiconductor power device in a direction away from the base member;
A metal block used as a wiring member for the semiconductor power device;
A semiconductor power module comprising: an external terminal joined to the surface of the metal block and for supplying power to the semiconductor power device through the metal block.
部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有するケースと、
当該ケースの前記枠部に固定され、前記デバイス領域に対向する樹脂製の天板とをさら
に含み、
前記外部端子が、前記天板に沿って設けられたプレート端子を含み、
前記天板は、平面視で前記プレート端子に重なり合い、前記プレート端子をその裏面側
から支持する支持部を有している、請求項1に記載の半導体パワーモジュール。 A case having a base portion having a device region in which the semiconductor power device is disposed, and a frame portion fixed to the base portion and surrounding the device region;
A resin top plate fixed to the frame portion of the case and facing the device region;
The external terminal includes a plate terminal provided along the top plate,
The semiconductor power module according to claim 1, wherein the top plate includes a support portion that overlaps the plate terminal in a plan view and supports the plate terminal from the back surface side thereof.
も小さい開口が形成されており、
前記金属ブロックは、当該開口を介して前記プレート端子に接合されており、
前記天板の前記支持部は、前記天板において前記金属ブロックを取り囲む当該開口の周
縁部を含む、請求項2に記載の半導体パワーモジュール。 In the top plate, an opening smaller than the planar area of the plate terminal is formed in a region facing the plate terminal,
The metal block is joined to the plate terminal through the opening,
The semiconductor power module according to claim 2, wherein the support portion of the top plate includes a peripheral portion of the opening that surrounds the metal block in the top plate.
記載の半導体パワーモジュール。 The semiconductor power module according to claim 2, wherein the top plate is a member provided so as to be separable from the frame portion.
子に対して当該開放端の反対側の位置に閉塞端を有する平面視U字状に形成されており、
前記枠部によって、前記閉塞端が前記プレート端子から離れる方向に沿うスライド方向に
スライド可能に支持されており、
前記金属ブロックは、前記開放端と前記閉塞端との間において前記天板に取り囲まれる
領域で前記プレート端子に接合されており、
前記天板の前記支持部は、前記天板における前記領域の縁部を含む、請求項2に記載の
半導体パワーモジュール。 The top plate has an open end at a position on one side with respect to the plate terminal, and is formed in a U shape in a plan view having a closed end at a position opposite to the open end with respect to the plate terminal,
The closed end is supported by the frame portion so as to be slidable in a sliding direction along a direction away from the plate terminal,
The metal block is joined to the plate terminal in a region surrounded by the top plate between the open end and the closed end,
The semiconductor power module according to claim 2, wherein the support portion of the top plate includes an edge portion of the region of the top plate.
対辺に直交する一対の第2対辺を有する平面視四角状に形成されており、
前記天板は、前記第1対辺に沿う一対のアーム部と、当該一対のアーム部の前記スライ
ド方向一方側同士を連結する連結部とを有し、これらアーム部および連結部によって前記
プレート端子の周囲の三方を取り囲むように設けられており、
一対の前記アーム部は、それぞれ前記プレート端子の周縁部に対して、前記スライド方
向に直交する横方向外側から当接する第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート
端子の前記裏面に沿って張り出す第2部分と有しており、
前記プレート端子の前記第1対辺に沿う前記周縁部は、前記アーム部の前記第1部分と
前記アーム部の前記第2部分とで区画された凹部に嵌合している、請求項5に記載の半導
体パワーモジュール。 The plate terminal includes a pair of first opposite sides extending along the sliding direction and the first
It is formed in a square shape in plan view having a pair of second opposite sides orthogonal to the opposite sides,
The top plate includes a pair of arm portions along the first opposite side and a connecting portion that connects the sliding direction one sides of the pair of arm portions, and the arm portion and the connecting portion allow the plate terminal to It is provided to surround the three surroundings,
The pair of arm portions respectively contact a peripheral portion of the plate terminal from a lateral outer side perpendicular to the sliding direction, and a lower end of the first portion along the back surface of the plate terminal. And has a second part that overhangs,
The said peripheral part along the said 1st opposite side of the said plate terminal is fitted in the recessed part divided by the said 1st part of the said arm part, and the said 2nd part of the said arm part. Semiconductor power module.
る第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート端子の前記裏面に沿って張り出す第
2部分と有しており、
前記プレート端子の前記第2対辺に沿う前記周縁部は、前記連結部の前記第1部分と前
記連結部の前記第2部分とで区画された凹部に嵌合している、請求項6に記載の半導体パ
ワーモジュール。 The connecting portion has a first portion that comes into contact with the peripheral edge of the plate terminal from the outside in the sliding direction, and a second portion that projects from the lower end of the first portion along the back surface of the plate terminal. And
The said peripheral part along the said 2nd opposite side of the said plate terminal is fitted in the recessed part divided by the said 1st part of the said connection part, and the said 2nd part of the said connection part. Semiconductor power module.
前記ベース部が、前記半導体パワーデバイスを支持する前記ベース部材を兼ねており、
前記枠部が、前記ベース部を介して前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための
第2の外部端子を兼ねている、請求項2〜7のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュ
ール。 The base part and the frame part are both made of metal,
The base portion also serves as the base member that supports the semiconductor power device,
The semiconductor power module according to any one of claims 2 to 7, wherein the frame portion also serves as a second external terminal for supplying power to the semiconductor power device via the base portion.
いずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。 The semiconductor power module according to claim 1, wherein the semiconductor power device is a device using a SiC semiconductor.
体パワーモジュール。 The semiconductor power module according to claim 9, wherein the metal block is made of Cu or an alloy material containing Cu.
の半導体パワーモジュール。 The semiconductor power module according to claim 1, wherein the metal block has a rectangular parallelepiped shape.
ている、請求項1〜10のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。 The semiconductor power module according to any one of claims 1 to 10, wherein the metal block has a tapered shape in which a cross-sectional area increases from the back surface to the front surface.
前記外部端子は、各前記半導体パワーデバイスに接合された金属ブロックに一括して接
合されている、請求項1〜12のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。 A plurality of the semiconductor power devices are provided,
The semiconductor power module according to claim 1, wherein the external terminals are collectively bonded to a metal block bonded to each of the semiconductor power devices.
通する貫通孔が形成されている、請求項1〜13のいずれか一項に記載の半導体パワーモ
ジュール。 The semiconductor power module according to any one of claims 1 to 13, wherein the top plate is formed with a through hole penetrating in a thickness direction in a region outside the region overlapping the plate terminal in plan view.
と、
前記ベース部材と前記半導体パワーデバイスの接合後、表面および裏面を有し、前記半
導体パワーデバイス用の配線部材として用いられる金属ブロックの当該裏面を、前記半導
体デバイスの前記表面に接合する工程と、
前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための外部端子に対して、予備はんだ付け
を施す工程と、
前記外部端子における前記予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接させ、
前記外部端子を加熱することによって前記外部端子と前記金属ブロックとを接合する工程
とを含む、半導体パワーモジュールの製造方法。 Bonding the back surface of the semiconductor power device having a front surface and a back surface to the base member;
After joining the base member and the semiconductor power device, having a front surface and a back surface, and joining the back surface of the metal block used as a wiring member for the semiconductor power device to the surface of the semiconductor device;
A step of pre-soldering the external terminals for supplying power to the semiconductor power device;
The metal block is brought into contact with the portion where the preliminary solder is applied in the external terminal,
The manufacturing method of a semiconductor power module including the process of joining the said external terminal and the said metal block by heating the said external terminal.
前記予備はんだ付けを施す工程は、当該プレート端子に所定量以上のはんだを盛る工程
を含む、請求項15に記載の半導体パワーモジュールの製造方法。 The external terminal is a flat plate terminal,
The method of manufacturing a semiconductor power module according to claim 15, wherein the step of performing preliminary soldering includes a step of depositing a predetermined amount or more of solder on the plate terminal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014094028A JP2014135527A (en) | 2014-04-30 | 2014-04-30 | Semiconductor power module and method for manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014094028A JP2014135527A (en) | 2014-04-30 | 2014-04-30 | Semiconductor power module and method for manufacturing the same |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010219030A Division JP5709299B2 (en) | 2010-09-29 | 2010-09-29 | Semiconductor power module and manufacturing method thereof |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015196089A Division JP6160935B2 (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Semiconductor power module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014135527A true JP2014135527A (en) | 2014-07-24 |
Family
ID=51413543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014094028A Pending JP2014135527A (en) | 2014-04-30 | 2014-04-30 | Semiconductor power module and method for manufacturing the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014135527A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11955451B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11955413B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11961790B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-16 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0794673A (en) * | 1993-07-27 | 1995-04-07 | Fuji Electric Co Ltd | Press contact semiconductor device and assembling thereof |
JP2006186035A (en) * | 2004-12-27 | 2006-07-13 | Nissan Motor Co Ltd | Semiconductor device |
JP2007281274A (en) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Denso Corp | Semiconductor device |
JP2007305962A (en) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Honda Motor Co Ltd | Power semiconductor module |
JP2008042041A (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Semiconductor device |
JP2010140969A (en) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Toyota Motor Corp | Stacked module structure |
-
2014
- 2014-04-30 JP JP2014094028A patent/JP2014135527A/en active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0794673A (en) * | 1993-07-27 | 1995-04-07 | Fuji Electric Co Ltd | Press contact semiconductor device and assembling thereof |
JP2006186035A (en) * | 2004-12-27 | 2006-07-13 | Nissan Motor Co Ltd | Semiconductor device |
JP2007281274A (en) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Denso Corp | Semiconductor device |
JP2007305962A (en) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Honda Motor Co Ltd | Power semiconductor module |
JP2008042041A (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Semiconductor device |
JP2010140969A (en) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Toyota Motor Corp | Stacked module structure |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11955451B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11955413B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11955414B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11955452B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-09 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US11961790B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-04-16 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US12057426B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-08-06 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
US12068230B2 (en) | 2020-10-14 | 2024-08-20 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor module |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2775524A1 (en) | Semiconductor device | |
US20190326262A1 (en) | Semiconductor device and power conversion apparatus | |
JP2009141000A (en) | Semiconductor device | |
JP2014099547A (en) | Power semiconductor module and method of manufacturing the same | |
JP2010103222A (en) | Semiconductor device | |
TW201533857A (en) | Semiconductor device | |
JP6937845B2 (en) | Semiconductor device | |
US9922906B2 (en) | Electronic device and manufacturing method of electronic device | |
JP5935374B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor module | |
JP2015056638A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
JP2015099846A (en) | Semiconductor device, and method of manufacturing the same | |
JPWO2013171946A1 (en) | Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device | |
JP2015176871A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
US9666557B2 (en) | Small footprint semiconductor package | |
US11315850B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2014135527A (en) | Semiconductor power module and method for manufacturing the same | |
JPWO2020035931A1 (en) | Semiconductor module | |
JP5709299B2 (en) | Semiconductor power module and manufacturing method thereof | |
JP2012084686A (en) | Connection structure between wiring members | |
JP2015076511A (en) | Semiconductor device and manufacturing method of the same | |
JP2015023226A (en) | Wide gap semiconductor device | |
JP2017054878A (en) | Semiconductor module | |
JP2015119121A (en) | Power semiconductor device | |
JP6160935B2 (en) | Semiconductor power module | |
JP2013034022A (en) | Semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140528 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141204 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150202 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150716 |