JP2014126505A - 変位測定装置および材料試験機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 変位測定装置40は、小変位計60からの信号をカウントするカウンタ71と、カウンタ71の計数値が予め設定したしきい値より大きいか否かを判定する判定部72と、変位測定装置40から制御部23への出力を、小変位計60の出力から大変位計50の出力に切り替えるタイミングを調整するための調整信号を生成し出力する調整信号生成部73と、判定部72からの入力の後に入力された調整信号生成部73からの調整信号のタイミングで切替信号を生成して出力する切替信号発生部74と、切替信号発生部74からの出力を受けて、変位測定装置40の出力を、小変位計60の出力から大変位計50の出力に切り替える切替部77を備える。
【選択図】 図4
Description
11 ねじ棹
13 クロスヘッド
14 ロードセル
16 テーブル
19 支柱
21 上つかみ具
22 下つかみ具
23 制御部
30 負荷機構
40 変位測定装置
50 大変位計
51a、51b 支柱
52 ガイドレール
53a、53b プーリ
54a、54b ロータリエンコーダ
56 上アーム
57 下アーム
58a、58b ワイヤ
59a、59b バランスウェイト
60 小変位計
61 支持部
62 接触棒
71 カウンタ
72 判定部
73 調整信号生成部
74 切替信号発生部
75 変換部
76 変換部
77 切替部
81 変位カウンタ
82 演算部
Claims (6)
- 分解能が異なる複数の変位計を備え、被測定物の変位状態に応じて、変位測定値としての出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力へと切り替える変位測定装置であって、
前記複数の変位計のうち最も分解能が高い変位計から出力されるデジタル信号をカウントするカウンタと、
前記カウンタの値が予め設定したしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、
当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力に切り替えるタイミングを調整する調整信号を、前記複数の変位計のうち出力切替目標となる分解能が低い変位計から出力されたデジタル信号の1/2ディジット分の位置で生成し出力する調整信号生成部と、
前記判定部が前記カウンタの値が予め設定されたしきい値より大きいと判断された後に、前記カウンタの値が前記調整信号生成部より入力された調整信号のタイミングに到達したときに、当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力に切り替えるための信号を発生する切替信号発生部と、
を備えることを特徴とする変位測定装置。 - 請求項1に記載の変位測定装置において、
前記複数の変位計のうち分解能の低い変位計から出力されるデジタル信号を、前記複数の変位計のうち最も分解能が高い変位計から出力されるデジタル信号のディジットに変換する変換部を備える変位測定装置。 - 分解能が異なる第1の変位計と第2の変位計を備え、被測定物の変位状態に応じて、変位測定値としての出力を、分解能が高い第1の変位計の出力から、分解能が低い第2の変位計の出力へと切り替える変位測定装置であって、
前記第1の変位計から出力されるデジタル信号をカウントするカウンタと、
前記カウンタの値が予め設定したしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、
当該変位測定装置からの出力を、前記第1の変位計の出力から、前記第2の変位計の出力に切り替えるタイミングを、前記第2の変位計から出力されたデジタル信号の1/2ディジット分の位置で生成し出力する調整信号生成部と、
前記判定部が前記カウンタの値が予め設定されたしきい値より大きいと判断した後に、前記カウンタの値が前記調整信号生成部から入力された調整信号のタイミングに到達したときに、当該変位測定装置からの出力を、前記第1の変位計の出力から前記第2の変位計の出力に切り替えるための信号を発生する切替信号発生部と、
を備えることを特徴とする変位測定装置。 - 請求項3に記載の変位測定装置において、
前記第2の変位計から出力されるデジタル信号を、前記第1の変位計から出力されるデジタル信号のディジットに変換する変換部を備える変位測定装置。 - 分解能が異なる複数の変位計を備え、試験片の変位状態に応じて、変位測定値としての出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力へと切り替える変位測定装置を備え、前記試験片に対して負荷を与えることにより材料試験を実行する材料試験機において、
前記変位測定装置は、
前記複数の変位計のうち最も分解能が高い変位計から出力されるデジタル信号をカウントするカウンタと、
前記カウンタの値が予め設定したしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、
当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力に切り替えるタイミングを調整する調整信号を、前記複数の変位計のうち出力切替目標となる分解能が低い変位計から出力されたデジタル信号の1/2ディジット分の位置で生成し出力する調整信号生成部と、
前記判定部が前記カウンタの値が予め設定されたしきい値より大きいと判断された後に、前記カウンタの値が前記調整信号生成部より入力された調整信号のタイミングに到達したときに、当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、より分解能が低い変位計の出力に切り替えるための信号を発生する切替信号発生部と、
を備えたことを特徴とする材料試験機。 - 請求項5に記載の材料試験機において、
前記変位測定装置は、前記複数の変位計のうち分解能が低い変位計から出力されるデジタル信号を、前記複数の変位計のうち最も分解能が高い変位計から出力されるデジタル信号のディジットに変換する変換部を備え、
前記変位測定装置から出力されるデジタル信号をカウントする変位カウンタと、
前記変位カウンタが積算した値を変位量に換算する演算部と、
を有する制御部を備える材料試験機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012284727A JP6015434B2 (ja) | 2012-12-27 | 2012-12-27 | 変位測定装置および材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2012284727A JP6015434B2 (ja) | 2012-12-27 | 2012-12-27 | 変位測定装置および材料試験機 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2014126505A true JP2014126505A (ja) | 2014-07-07 |
JP6015434B2 JP6015434B2 (ja) | 2016-10-26 |
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ID=51406104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2012284727A Active JP6015434B2 (ja) | 2012-12-27 | 2012-12-27 | 変位測定装置および材料試験機 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP6015434B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62167409A (ja) * | 1985-12-14 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 測定値の記録方法 |
JPH10221025A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-21 | Shimadzu Corp | ビデオ式非接触伸び計 |
-
2012
- 2012-12-27 JP JP2012284727A patent/JP6015434B2/ja active Active
Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
JPS62167409A (ja) * | 1985-12-14 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 測定値の記録方法 |
JPH10221025A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-21 | Shimadzu Corp | ビデオ式非接触伸び計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6015434B2 (ja) | 2016-10-26 |
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