JP2014103157A - 導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 所望形状の導電性バンプを良好に形成することができる導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置を提供する。
【解決手段】 基板上に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、その後その導電性ボールを溶融させることによって端子に接合させて、端子上に導電性バンプを形成するものであって、まず、端子上にフラックスを塗布し、その次に、フラックスが塗布された端子上に導電性ボールを搭載し、さらに、端子上に搭載された導電性ボール上にフラックスを塗布する。そして、この後、導電性ボールを加熱して溶融させて、端子上に導電性バンプを形成する。
【選択図】図5
【解決手段】 基板上に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、その後その導電性ボールを溶融させることによって端子に接合させて、端子上に導電性バンプを形成するものであって、まず、端子上にフラックスを塗布し、その次に、フラックスが塗布された端子上に導電性ボールを搭載し、さらに、端子上に搭載された導電性ボール上にフラックスを塗布する。そして、この後、導電性ボールを加熱して溶融させて、端子上に導電性バンプを形成する。
【選択図】図5
Description
本発明は、半導体チップ等の配線基板に、接続端子として機能する導電性バンプを形成するための導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置に関する。
半導体チップ等の配線基板においては、外部との電気的な接続を行なうために、配線基板の入出力用の接続端子にバンプと呼ばれる突起電極が形成されることがある。
このようなバンプの形成方法の一つとして、インクジェット方式の塗布装置を用いて配線基板の端子上にフラックスを塗布し、塗布したフラックス上に半田ボールを配置し、その後、半田ボールを加熱して溶融させることで端子上にバンプを形成するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、半田ボールの直径よりも小さな厚みのフラックスの上に半田ボールを配置するものであるため、半田ボールの上側にはフラックスが付着せず、半田ボールを加熱溶融するときに、フラックスが付着していない半田ボールの上側表面の酸化膜を除去することができない。そのため、形成された半田バンプの表面にしわ状の凹凸が生じたり、陥没が生じたりして、その結果、当該半田バンプに接続される外部端子との接続強度が不足し、接続信頼性が低下するということがあった。
本発明は、導電性バンプの接続信頼性を向上させることができる導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置を提供することを目的とする。
実施形態に係る導電性バンプ形成方法は、基板に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、前記導電性ボールを溶融させて前記端子上に導電性バンプを形成するものであって、前記端子上にフラックスを塗布する第1のフラックス塗布工程と、前記フラックスが塗布された前記端子上に前記導電性ボールを搭載する導電性ボール搭載工程と、前記端子上に搭載された前記導電性ボール上にフラックスを塗布する第2のフラックス塗布工程と、を有する。
実施形態に係る導電性バンプ形成装置は、基板に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、前記導電性ボールを溶融させて前記端子上に導電性バンプを形成するものであって、前記端子上にフラックスを塗布する第1のフラックス塗布装置と、前記フラックスが塗布された前記端子上に前記導電性ボールを搭載する導電性ボール搭載装置と、前記端子上に搭載された前記導電性ボール上にフラックスを塗布する第2のフラックス塗布装置と、を有する。
本発明によれば、導電性バンプの接続信頼性を向上させることができる。
本発明の第1の実施形態について図1〜図5を参照して説明する。
図1に示すように、本実施形態の導電性バンプ形成装置1は、基板10に設けられた端子11上に導電性バンプとしての半田バンプ12を形成するもので、第1のフラックス塗布装置2、半田ボール搭載装置3、第2のフラックス塗布装置4、加熱装置5、およびこれらを統括的に制御する制御装置6を備える。
第1、第2のフラックス塗布装置2、4は、同様の構成を備えてなる。
図2、3に示すように、フラックス塗布装置2、4は、概略直方体形状に形成された架台20と、基板10を載置するステージ21と、このステージ21に載置された基板10に対してフラックスとしてのフラックス溶液16(図5参照)の塗布を行なう塗布ヘッド22とを備える。
ここで、基板10は、ボールグリッドアレイ型やフリップチップ型等の矩形状の配線基板10aを複数個、この実施形態では2×3個の合計6個配列してなる多数個取りの基板である。また、個々の配線基板10aは、図5に示すように、基材13上に絶縁層14を複数層積層して構成されており、表層の絶縁層14には行列状の配列で形成された複数の凹所14a内にそれぞれ端子11が形成されている。なお、図においては、簡略化のために、絶縁層を1層のみで示している。
ステージ21は、平面視で矩形状を成し、載置される基板10よりも大きな支持面21aを有する。このステージ21は、架台20上にY軸方向(図示矢印Y方向)に沿って配置されたY軸移動装置23によってY軸方向に移動可能に支持される。また、ステージ21は、真空吸着や静電チャック等の吸着手段を備えており、載置された基板10を吸着保持する。
塗布ヘッド22は、架台20上に、Y軸方向に直交するX軸方向(図示矢印X方向)に沿う方向にY軸移動装置23を跨いで配置された門型支持フレーム24に、X軸移動装置25、Z軸移動装置26およびθ(回転)駆動装置27を介して支持される。すなわち、X軸移動装置25は、門型支持フレーム24におけるX軸方向に沿って延設された梁部24aの側壁面に取付けられる。このX軸移動装置25には、Z軸移動装置26が取り付けられ、これによってZ軸移動装置26はX軸方向に沿って移動自在となっている。Z軸移動装置26は、側面視において逆L字形状の支持部材28をZ軸方向に移動自在、つまり、昇降自在に支持する。支持部材28における水平部28aの上面にはθ駆動装置27が設けられ、θ駆動装置27の回転軸27aに塗布ヘッド22が固定される。このような構成により、塗布ヘッド22は、X軸方向、Z軸方向およびθ(回転)方向に移動可能とされる。
また、塗布ヘッド22は、公知のインクジェット方式の塗布ヘッドであり、平面視で長方形状を成しており、その下面には複数のノズル(不図示)が長手方向に沿って配列して設けられる。塗布ヘッド22内には、各ノズルに対応して、ノズルに連通する液室が個別に設けられ、各液室には液室内に容積変化を生じさせるための圧電素子が設けられる。また、各液室は、フラックス溶液(フラックス材を溶剤で溶かした液体)16が供給される共通給液流路にそれぞれ接続される。このような塗布ヘッド22は、各圧電素子を駆動電圧の印加によって作動させることにより、液室内に容積変化を生じさせることで、この容積変化に応じた量のフラックス溶液16を当該液室に連通するノズルから液滴16aとして吐出させる。
また、フラックス塗布装置2、4は、塗布ヘッド22と各移動装置(Y軸移動装置23、X軸移動装置25、Z軸移動装置26、θ駆動装置27)を制御する制御部29を備える。この制御部29は、塗布情報(吐出量、吐出間隔、塗布速度等の情報)が予め設定されて記憶されており、ステージ21上に基板10が載置されると、記憶された塗布情報に基づいて塗布ヘッド22および各移動装置を制御し、基板10が塗布ヘッド22の下を通過するタイミングに合わせて塗布ヘッド22のノズルからフラックス溶液16を吐出して、基板10上の各端子11に1滴または複数的のフラックス溶液16の液滴16aを塗布する。
半田ボール搭載装置3は、図4に示すように、基板10を載置する支持ステージ31と、吸着した半田ボール15を基板10に搭載する搭載ヘッド32とを備える。
支持ステージ31は、ステージ21と同様に、平面視で矩形状を成し、載置される基板10よりも大きな支持面31aを有し、載置された基板10を真空吸着や静電チャック等の吸着手段によって吸着保持する。
搭載ヘッド32は、半田ボール15を個別に吸着保持するための複数の吸着孔33を備える。複数の吸着孔33は、負圧発生装置34に接続される負圧室35にそれぞれ連通される。
また、搭載ヘッド32は、基板10に設けられた個々の配線基板10aと、平面視において略同じ大きさを成しており、各吸着孔33は、配線基板10aの各端子11の形成位置と同じ配置で設けられる。すなわち、各吸着孔33に半田ボール15を吸着させて搭載ヘッド32を配線基板10aに対向配置させ、この状態から搭載ヘッド32を配線基板10に向けて下降させると、各吸着孔33に吸着された半田ボール15が配線基板10の各端子11にそれぞれ搭載されるようになっている。なお、搭載ヘッド32は、1つの配線基板10aに対応する大きさに限らず、複数の配線基板10aに対応する大きさでも良く、また、1つの配線基板10aの中の端子複数個分に対応する大きさであっても良い。
さらに、搭載ヘッド32は、不図示の移動装置によって、水平移動(XY方向移動)、上下移動(Z方向移動)および回転動(θ移動)自在に設けられる。
なお、半田ボール搭載装置3は、制御部36を備える。この制御部36は、負圧発生装置34や不図示の移動装置を制御し、支持ステージ31上に載置された基板10の各端子11に対して、それぞれ半田ボール15を配置する。
また、半田ボール搭載装置3は、上記の構成に限られるものではなく、先端部から半田ボール15を一つずつ排出するノズルを各端子11上に順次移動させて端子11上に半田ボール15を搭載する構成の半田ボール搭載装置や、各端子11に対応する位置に開口を設けたマスクを用いて各端子11に半田ボール15を搭載する構成の半田ボール搭載装置など、公知の他の構成の半田ボール搭載装置を採用することも可能である。
加熱装置5は、半田ボール15を溶融するための公知のリフロー装置であり、基板10に搭載された半田ボール15を溶融温度にまで加熱する加熱炉やホットプレート等の加熱手段を備える。
次に、作動について、図5を用いて説明する。
まず、図5(a)に示すように、第1のフラックス塗布装置2によって基板10の各端子11上にフラックス溶液16を塗布する。
すなわち、不図示の供給装置によって、第1のフラックス塗布装置2のステージ21上に基板10が供給される。ステージ21上に載置された基板10は、ステージ21が備える吸着手段によって吸着保持される。
ステージ21上に基板10が保持されると、制御部29がY軸移動テーブル23を制御して、ステージ21を所定の搬送速度で移動させる。
このステージ21の移動中、制御部29は、Y軸移動テーブル23に付随して設けられたリニアエンコーダ等の位置検出器(不図示)の出力に基づいてステージ21の位置情報を取得し、ステージ21上の基板10が塗布ヘッド22の下方を通過するタイミングに合せて塗布ヘッド22の各吐出孔からフラックス溶液16の液滴16aを吐出させ、基板10上の各端子11上に所定量のフラックス溶液16を塗布する。
なお、各端子11上に塗布するフラックス溶液16の量は、適宜設定すればよいが、例えば、端子11が設けられた配線基板10aの凹所14a内を満たし、かつ、凹所14aの開口部から溢れ出ることのない量に設定する。
ここで、図2の例においては、塗布ヘッド22の長手方向(X方向)の長さが配線基板10aの1つ分の長さに相当する長さであるので、まず図2に示す塗布ヘッド22と基板10の位置関係、すなわち、2行×3列で配列された配線基板10aのうち一方(下側)の行に塗布ヘッド22が対応する位置関係において上述のフラックス溶液16の塗布を行ない、その後、塗布ヘッド22と基板10との位置関係を他方(上側)の行に塗布ヘッド22が対応する位置関係となるように塗布ヘッド22のX方向位置を切り替えて、上述のフラックス溶液16の塗布を行なう。
基板10上の全ての端子11に対してフラックス溶液16の塗布が完了したら、基板10を半田ボール搭載装置3に移送し、図5(b)に示すように、フラックス溶液16が塗布された各端子11上に半田ボール15を搭載する。
すなわち、不図示の搬送ロボット等によって、第1のフラックス塗布装置2のステージ21上からフラックス溶液16の塗布を終えた基板10を取り出し、半田ボール搭載装置3の支持ステージ31上に移送する。支持ステージ31上に載置された基板10は、ステージ21が備える吸着手段によって吸着保持される。
支持ステージ31上に基板10が保持されると、或いは、基板10の供給と並行して、制御部26は不図示の移動装置を制御し、搭載ヘッド32を半田ボール15の供給部(不図示)へと移動させ、各吸着孔33に半田ボール15を吸着保持させる。
次いで、制御部26は、半田ボール15を吸着した搭載ヘッド32を支持ステージ31上に移動させ、基板10における複数の配線基板10aのうち1つの配線基板10aの対向位置(真上)に位置付ける。より詳細には、半田ボール搭載装置3は、支持ステージ31上に載置された基板10の位置を検出する位置検出装置(不図示)を備えており、この位置検出装置が検出した基板1の位置に基づいて各配線基板10aの位置を認識し、位置を認識した配線基板10aのうち所定の配線基板10aの真上に搭載ヘッド32を位置付ける。
配線基板10aの真上に搭載ヘッド32を位置付けたならば、搭載ヘッド32を下降させて、各吸着孔33に吸着した半田ボール15を各端子11上に搭載する。
その後、真空発生装置34を制御して、吸着孔33に作用させている吸引を停止させ、半田ボール15の吸着を解除する。
半田ボール15の吸着を解除したならば、制御部29は、搭載ヘッド32を再び不図示の半田ボール15の供給部へと移動させ、新たな半田ボール15を吸着させ、半田ボール15が未だ搭載されていない配線基板10aに対する半田ボール15の搭載を実行する。
このような動作を、基板10における全ての配線基板10aに対して繰り返し行ない、基板10上の全ての端子11に半田ボール15を搭載する。
半田ボール15の搭載が完了したならば、半田ボール15の搭載が完了した基板10を第2のフラックス塗布装置4のステージ21上に移送し、図5(c)に示すように、各端子11に搭載された半田ボール15上にフラックス溶液を塗布する。
すなわち、不図示の搬送ロボット等によって、半田ボール搭載装置3の支持ステージ31上から半田ボール15の搭載を終えた基板10を取り出し、第2のフラックス塗布装置4のステージ21上に移送する。ステージ21上に載置された基板10は、ステージ21が備える吸着手段によって吸着保持される。
ステージ21上に基板10が保持されたなら、制御部29は、第1のフラックス塗布装置2と同様にして、各端子11上に搭載された半田ボール15上に所定量のフラックス溶液16を塗布する。
このときのフラックス溶液16の塗布量は、フラックス溶液16の濃度や粘度に応じて適宜設定すればよいが、例えば、フラックス溶液16の表面張力によって半田ボール15の表面にフラックス溶液16の膜16bを形成可能な量に設定する。
基板10上の全ての端子11、すなわち、半田ボール15に対するフラックス溶液16の塗布が完了したら、基板10を加熱装置5に移送し、図5(d)に示すように、半田ボール15を溶融し、端子11上に半田バンプ17を形成する。
すなわち、不図示の搬送ロボット等によって、第2のフラックス塗布装置4のステージ21上からフラックス溶液16の塗布を終えた基板10を取り出し、加熱装置5に移送する。
この加熱装置5で、半田ボール15は溶融温度以上の温度に加熱されて溶融される。溶融した半田ボール15は、配線基板10aの凹所14a内に広がって充満し、その一部は表面張力で凹所14aの開口部から半球状に突出する。すなわち、半田ボール15は、溶融した状態で凹所14aの開口部から所望の高さ突出するように、その大きさが選定されている。
この後、基板10を常温に戻すことで、溶融した半田が硬化して、半田バンプ17が形成される。
上述した実施形態によれば、端子11上に塗布したフラックス溶液16の上に半田ボール15を搭載し、その半田ボール15の上を覆うようにフラックス溶液16を塗布する。そのため、先に塗布したフラックス溶液16によって図5(b)に示すように半田ボール15の下側表面が覆われ、その後に塗布されるフラックス溶液16によって図5(c)に示すように半田ボール15の上側表面が覆われるので、それらフラックス溶液16によって半田ボール15の表面全域が覆われることになる。これにより、半田ボール15の表面に酸化物や汚れが付着している場合であっても、加熱装置4によって半田ボール15が溶融する際に、半田ボール15の表面全体に亘りフラックスによって酸化物や汚れが除去され、また、フラックスによって溶融中の半田の表面が覆われて再酸化が防止される。したがって、酸化物や汚れの付着、または、半田表面の再酸化に起因するバンプ17の表面にしわ状の凹凸や陥没が発生することを防止することができ、端子11上に接続信頼性が良好な所望形状のバンプ17を形成することが可能となる。
なお、上述の実施形態において、凹所14a内に塗布するフラックス溶液16の量を、凹所14a内を満たし、かつ、凹所14aの開口部から溢れ出ることのない量に設定する例で説明したが、これに限られるものではなく、例えば、凹所14a内に半田ボール15を配置した状態において凹所14a内を満たし、かつ、凹所14aの開口部から溢れ出ることのない量に設定するようにしても良い。
このようにすることによって、凹所14a内に半田ボール15が搭載された時に、凹所14a内に塗布されていたフラックス溶液16が凹所14a内から溢れ出して基板10の表面に濡れ広がることが防止されるので、基板10の表面の不要な汚染を低減させることができる。
次に、第2の実施形態について説明する。
第2の実施形態は、図5(c)に示した、第2のフラックス塗布装置4によるフラックス溶液の塗布を、1つの半田ボール15に対して複数回、例えば、2回行なう点で第1の実施形態と相違する。
すなわち、第2のフラックス塗布装置4によって基板10の各端子11に搭載された半田ボール15上に対して1回目のフラックス溶液の塗布を行ない、1回目に塗布したフラックス溶液16を乾燥させた後、或いは、フラックス溶液16が乾燥によって粘度が増加し流動性が低下した後、第2のフラックス塗布装置4によって、半田ボール15上に対してフラックス溶液の2回目の塗布を行なう。ここで、1回目に塗布したフラックス溶液16の乾燥は、常温、または、所定の加熱温度で所定時間放置することによって行なうことができる。
このようにすることによって、1回目の塗布で半田ボール15上に塗布されたフラックス溶液16が、半田ボール15上から流れ落ち、その頂部表面に付着するフラックス溶液16の膜16bが消失したり、薄くなったりしたとしても、2回目の塗布によってその部分にフラックス溶液16が補われることから、フラックス溶液16が流れ落ちやすい半田ボール15の頂部においても確実にフラックス溶液16の膜16bを形成することができる。
また、半田ボール15上に対して、必要量のフラックス溶液16を一度に塗布した場合、半田ボール15上に塗布されたフラックス溶液が基板10の表面に濡れ広がってしまうことが考えられる。しかしながら、2回、或いはそれ以上に分けてフラックス溶液16を塗布すると、必要量を一度に塗布する場合に比べて、1回に塗布されるフラックス溶液の総量が少ないので、塗布されたフラックス溶液16が濡れ広がり難く、基板10上に濡れ広がることが防止できる。また、2回目以降に塗布されるフラックス溶液16は、先に塗布されて乾燥(溶媒の揮発)が進んで流動性が低下したフラックス溶液16の上に塗布される。両フラックス溶液16は同じ成分であるため馴染みやすく、また、先に塗布されたフラックス溶液16は流動性の低下によって流れ難くなっていることから、2回目以降に塗布されるフラックス溶液16の濡れ広がりがより抑制されるものとなる。そのため、これによっても、フラックス溶液16が基板10上に塗れ広がることを防止できる。
なお、第2の実施形態において、2回目に塗布するフラックス溶液16の塗布量は、1回目に塗布するフラックス溶液16の塗布量と同じでも良いし、異ならせても良い。例えば、2回目の塗布は、1回目に塗布されたフラックス溶液16の膜16aの不足を補うために塗布することから、1回目に塗布するフラックス溶液16の塗布量よりも少ない塗布量としても良い。
また、1回目に塗布するフラックス溶液16と2回目に塗布するフラックス溶液16とで、粘度を異ならせるようにしても良い。
例えば、1回目に塗布するフラックス溶液16の粘度よりも2回目に塗布するフラックス溶液16の粘度を高くするようにしても良い。この場合、1回目に塗布するフラックス溶液16と2回目に塗布するフラックス溶液16は、常温、あるいは吐出時点での粘度の差が5cp以上、より好ましくは10cp以上あると良い。
なお、1回目に塗布するフラックス溶液16の粘度と2回目に塗布するフラックス溶液16の粘度は、前述の差に確保しつつ、1〜200cp程度の範囲から選択すれば良く、例えば、1回目に塗布するフラックス溶液16の粘度を1〜100cpから選択し、2回目に塗布するフラックス溶液16の粘度を101〜200cpから選択することもできる。
このようにすることで、2回目に塗布するフラックス溶液16の流動性が1回目に塗布するフラックス溶液16よりも低くなることから、2回目に塗布したフラックス溶液16が、1回目の塗布でフラックス溶液16の膜16bが薄くなりやすい、半田ボール15の頂部に残りやすくなる。この結果、半田ボール15の表面全域にフラックス溶液16の膜16bを形成することができ、ひいては、所望形状のバンプ17を形成することが可能となる。
ここで、粘度の異なるフラックス溶液16を塗布する手段としては、第2のフラックス塗布装置4を2台用意し、それぞれのフラックス塗布装置4に供給するフラックス溶液16の粘度を異ならせたり、第2のフラックス塗布装置4に塗布ヘッド22を2セット装備し、それぞれの塗布ヘッド22に供給するフラックス溶液16の粘度を異ならせたり、或いは、第2のフラックス塗布装置4の塗布ヘッド22やフラックス溶液16の供給手段にフラックス溶液16の温度を制御する温度制御装置を設け、塗布ヘッド22から吐出させるフラックス溶液16の温度を異ならせることで、フラックス溶液16の粘度を異ならせるようにすることが考えられる。
また、1回目に塗布によって半田ボール15上に塗布されたフラックス溶液16を、そのフラックス溶液16の膜16b中に含有されるフラックス材料が膜パターンの縁部に移動し、図6(a)に示すように、膜パターンの外周が盛り上がる、所謂、コーヒーステイン現象が生じるように、乾燥させるようにしても良い。
このように、1回目に塗布したフラックス溶液16の膜16の外周が盛り上がっていると、2回目の塗布で塗布されたフラックス溶液16が、この盛り上がり部16cによって堰き止められ、図6(b)に示すように、濡れ広がることなく半田ボール15上に確実にフラックス溶液16の膜16bを形成することが可能となる。
なお、コーヒーステイン現象は、フラックス溶液16の乾燥中に、溶質であるフラックス材料が膜パターンの中央部分から外周部分へと移動した結果として生じるものであり、膜パターンの中央部分よりも外周部分の乾燥速度が速い場合に顕著に現れる。
なお、上述した実施形態において、図5(a)に示す、半田ボール15を端子11に搭載する前に塗布するフラックス溶液16と、図5(c)に示す、半田ボール15の搭載後に塗布するフラックス溶液16の粘度が同じであるものとしたが、両フラックス溶液16の粘度を異ならせるようにしても良い。例えば、半田ボール15を端子11に搭載する前に塗布するフラックス溶液16の粘度を半田ボール15の搭載後に塗布するフラックス溶液16の粘度よりも高くするようにしても良い。
配線基板10aは絶縁層14が複数積層されて構成されているため、例えば、図7に示すように、端子11が形成されている基材13とその上に形成された絶縁層14との間や端子11と凹所14aの側壁との間に、凹所14aに連通する隙間sが生じていた場合、塗布されたフラックス溶液16がこの隙間sに染み込み、その結果、端子11上に塗布されるフラックス溶液16の量が不足するという問題が生じることがある。
このような場合に、半田ボール15を端子11に搭載する前に塗布するフラックス溶液16の粘度(流動性)を、隙間sへの染み込みが抑制されるような粘度となるように、半田ボール15の搭載後に塗布されるフラックス溶液16よりも高く設定する。この場合、1回目に塗布するフラックス溶液16の粘度は30cp以上、より好ましくは50cp以上に設定することができる。2回目に塗布するフラックス溶液16の粘度は、1回目に塗布するフラックス溶液16の粘度よりも低い粘度であればよく、半田ボール15上に塗布した後の流動性などを考慮して、選択すれば良い。
このようにすることで、配線基板10aを構成する絶縁層14の間に、端子11が形成される凹所14aに連通する隙間sがある場合であっても、その隙間s内に、端子11上に塗布されたフラックス溶液16が染み込むことが抑制されるので、隙間s内にフラックス溶液16が染み込むことによって生じるフラックス溶液16の不足を防止することがきる。この結果、半田ボール15の外周に充分な量のフラックス溶液16を配置することができることから、半田ボール15を溶融して形成されるバンプ17を所望形状に形成することが可能となる。
なお、前述の例において、半田ボール15を端子11に搭載する前に塗布するフラックス溶液16の粘度を、隙間s内にフラックス溶液16が染み込むことが抑制できる程度に高くする代わりに、フラックス溶液16の表面張力を高める、つまり、凹所14aの側壁を含む絶縁層14との接触角を大きくするようにしても良い。フラックス溶液16の接触角を大きくすると、フラックス溶液16が絶縁層14からはじかれるから、フラックス溶液16が隙間sに染み込み難くなり、フラックス溶液16の粘度を高めた場合と同様の効果を得ることができる。
また、前述において、凹所14aに対してフラックス溶液16を2回に分けて塗布するようにしてもよく、その場合、1回目に塗布するフラックス溶液16を2回目に塗布するフラックス溶液16よりも粘度が高いもの、乾燥速度が速いもの、或いは、接触角が大きいものを用いるようにすると良い。
この場合、粘度が高いものを用いたときには、フラックス溶液16がより流動し難くなるので、フラックス溶液16が隙間sに染み込んで入ることがより一層抑制され、また、乾燥速度が速いものを用いたときには、フラックス溶液16が隙間sに染み込む前に固化することが期待できる。さらに、接触角が大きいものを用いたときには、ラックス溶液16が絶縁層14からはじかれて隙間sに染み込んで入ることが抑制される。いずれの場合にも、フラックス溶液16が隙間sに染み込んで入ることが防止されることとなり、隙間sへの染み込みによって凹所14a内に充填されるフラックス溶液16が不足することを防止することがきる。
また、導電性バンプが半田バンプであるものとして説明したが、これに限られるものではなく、導電性バンプは他の金属、例えば、金バンプであっても良い。
また、第1のフラックス塗布装置2と第2のフラックス塗布装置4を個別に設けるものとしたが、第1、第2のフラックス塗布装置2、4を1台のフラックス塗布装置で兼用するようにしても良い。
また、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、上述した実施の形態を選択的に組み合わせても良いことは言うまでもない。
1 導電性バンプ形成装置
2、4 フラックス塗布装置
3 半田ボール搭載装置
5 加熱装置
6 制御装置
10 基板
11 端子
12 半田バンプ
15 半田ボール
16 フラックス溶液
22 塗布ヘッド
32 搭載ヘッド
2、4 フラックス塗布装置
3 半田ボール搭載装置
5 加熱装置
6 制御装置
10 基板
11 端子
12 半田バンプ
15 半田ボール
16 フラックス溶液
22 塗布ヘッド
32 搭載ヘッド
Claims (8)
- 基板に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、前記導電性ボールを溶融させて前記端子上に導電性バンプを形成する導電性バンプ形成方法において、
前記端子上にフラックスを塗布する第1のフラックス塗布工程と、
前記フラックスが塗布された前記端子上に前記導電性ボールを搭載する導電性ボール搭載工程と、
前記端子上に搭載された前記導電性ボール上にフラックスを塗布する第2のフラックス塗布工程と、
を有することを特徴とする導電性バンプ形成方法。 - 前記第1のフラックス塗布工程で塗布するフラックスは、前記第2のフラックス塗布工程で塗布するフラックスよりも高い粘度であることを特徴とする請求項1に記載の導電性バンプ形成方法。
- 前記第2のフラックス塗布工程では前記導電性ボール1つに対してフラックスの塗布を少なくとも2回実行するものであり、
2回目以降に塗布するフラックスは1回目に塗布するフラックスよりも高い粘度であることを特徴とする請求項1または2に記載の導電性バンプ形成方法。 - 前記第2のフラックス塗布工程では導電性ボール1つのに対してフラックスの塗布を少なくとも2回実行するものであり、
2回目の塗布は、1回目に塗布されたフラックスの粘度が塗布時よりも増加した後に行なうことを特徴とする請求項1または2に記載の導電性バンプ形成方法。 - 前記端子は、前記基板上に形成された凹所内に設けられており、
前記第1のフラックス塗布工程において塗布される前記フラックスの量は、前記端子上に前記導電性ボールが搭載されたときに前記凹所を満たし、かつ、凹所の開口部から溢れ出ることのない量に設定されることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の導電性バンプ形成方法。 - 基板に設けられた端子上に導電性ボールを搭載し、前記導電性ボールを溶融させて前記端子上に導電性バンプを形成する導電性バンプ形成装置において、
前記端子上にフラックスを塗布する第1のフラックス塗布装置と、
前記フラックスが塗布された前記端子上に前記導電性ボールを搭載する導電性ボール搭載装置と、
前記端子上に搭載された前記導電性ボール上にフラックスを塗布する第2のフラックス塗布装置と、
前記第1のフラックス塗布装置によって前記端子上に前記フラックスを塗布し、前記第1のフラックス塗布装置によって前記フラックスが塗布された前記端子上に前記導電性ボール搭載装置によって前記導電性ボールを搭載し、前記端子上に搭載された前記導電性ボール上に前記第2のフラックス塗布装置によってフラックスを塗布するように、前記第1のフラックス塗布装置、前記導電性ボール搭載装置および前記第2のフラックス塗布装置を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする導電性バンプ形成装置。 - 前記制御手段は、前記導電性ボール1つに対してフラックスの塗布を少なくとも2回実行するように前記第2のフラックス塗布装置を制御することを特徴とする請求項6に記載の導電性バンプ形成装置。
- 前記第1のフラックス塗布装置は、前記第2のフラックス塗布装置を兼ねることを特徴とする請求項6または7に記載の導電性バンプ形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012252394A JP2014103157A (ja) | 2012-11-16 | 2012-11-16 | 導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012252394A JP2014103157A (ja) | 2012-11-16 | 2012-11-16 | 導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014103157A true JP2014103157A (ja) | 2014-06-05 |
Family
ID=51025440
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2012252394A Pending JP2014103157A (ja) | 2012-11-16 | 2012-11-16 | 導電性バンプの形成方法および導電性バンプの形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014103157A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112234044A (zh) * | 2019-07-15 | 2021-01-15 | 矽品精密工业股份有限公司 | 电子封装件及其导电基材与制法 |
-
2012
- 2012-11-16 JP JP2012252394A patent/JP2014103157A/ja active Pending
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