JP2014096456A - ステージ装置及びその調整方法、露光装置並びにデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ステージ装置は、ステージ1と、該ステージの側面に設置されたミラー12の表面の位置を計測可能に配置された干渉計測器4と、該干渉計測器の計測結果に基づいて前記ステージを位置決めする駆動部205とを備える。前記干渉計測器は、計測光が前記ミラーに入射する入射位置を周期的に変動させる変動部16と、前記入射位置の周期的な変動に伴って発生する前記干渉計測器の計測結果の変動量に基づいて、前記ミラーの回転を検出する検出部14と、を含む。
【選択図】 図3
Description
E=EΔθL1+EΔθL2
=L×tan(ΔθL1+ΔθL2)×tan|θSZ−π/2|・・・(1)
E=L×(ΔθL1+ΔθL2)×|θSZ−π/2|・・・(1’)
図1〜図5は本発明の第1実施形態のステージ装置を示す図である。図1に示すように、ステージ装置のステージ1は、微動ステージ2と粗動ステージ3とで構成される。微動ステージ2は、ウエハ(基板)などの対象物を保持した状態で位置決めされる。粗動ステージ3は主にXY方向に長距離移動する。粗動ステージ3を駆動するために、リニアモーター、平面モーターなどが使用される。微動ステージ2は、電磁継手などによって粗動ステージ3に追従し、主に6軸(X、Y、Z、ωX、ωY、ωZ)の微小移動を行う。微動ステージ2を駆動するために、リニアモーターなどが使用される。
E=EΔθL1+EΔθL2
=2×EΔθL1
=2×L×tan(ΔθL1)×tan|θSZ−π/2|・・・(2)
E=2×L×ΔθL1×|ωZ|・・・(2’)
|ωZ|=E/(2×L×ΔθL1)・・・(3)
E=DL×tan|θSZ−π/2|
=DL×|ωZ|・・・(4)
|ωZ|=E/DL・・・(5)
E=2×L×ΔθL1×|ωY|・・・(6)
|ωY|=E/(2×L×ΔθL1)・・・(7)
|ωY|=EfY/(2×L×ΔθL1)・・・(8)
|ωZ|=EfZ/(2×L×ΔθL1)・・・(9)
つぎに、図6、7に基づいて第2実施形態のステージ装置について説明する。第1実施形態との違いは、微動ステージ2のZ軸周りの傾き角ωZを直接算出せずに、測長誤差Eまたは測長値Iの変化から、ωZ=0となる微動ステージの姿勢を決定する点である。第2実施形態のステージ装置は、図3に示すように、ステージ1の位置の初期化後、ステージ1を位置決め制御状態にして位置決めピン22から離れた位置Aに移動させ、ステージ1を浮上させたままの状態で静止させる。位置Aは、その場で微動ステージ2をZ軸周りに回転させても位置決めピン22と干渉しない位置であり、かつ、レーザー干渉計システム4で微動ステージ2の位置を計測できる位置である。
E=2×L×ΔθL1×|ωZ|・・・(10)
つぎに、図8に基づいて第3実施形態のステージ装置について説明する。第1、2実施形態との違いは、Xバーミラー12の形状に反りや変形があり、Xバーミラー12の反射面21と、微動ステージの側面22とが平行でない場合に対応している点である。第3実施形態のステージ装置は、図3に示すように、ステージ1の位置の初期化を行う。次にステージ1を位置決め制御状態にして、位置決めピン22から離れた位置Aに移動させ、ステージ1を浮上させたままの状態で静止させる。位置Aは、その場で微動ステージ2をZ軸周りに回転させても位置決めピン22と干渉しない位置であり、かつ、レーザー干渉計システム4で微動ステージ2の位置を計測できる位置である。
E=2×L×ΔθL1×|θSZ−π/2|
|θSZ−π/2|=E/(2×L×ΔθL1)・・・(11)
測長誤差Eは、X干渉計7の測長値Iの周波数fでの振幅に相当する。X干渉計7の測長値Iに対してバンドパスフィルターやFFTなどで周波数分析を行えば、周波数fでの振幅が算出される。(θSZ−π/2)の正負の符号に関しては、レーザー角度と測長誤差の関係から判断できる。例えば、レーザー9のZ軸周りの角度を、レーザー9から反時計周りに変化させたときに、測長誤差Eが減少すれば、(θSZ−π/2)はZ軸周りに正、つまり反時計周りの角度である。
ωZ=θSZ−(π/2)−θBZ
=|E/(2×L×ΔθL1)|−θBZ・・・(12)
E=2×L×θLU×|θBZ|・・・(13)
図11を用いて、本発明のステージ装置が適用される例示的な露光装置を説明する。露光装置は、照明系201、レチクルを保持するレチクルステージ202、投影光学系203、ウエハ(基板)を保持するウエハステージ(基板ステージ)204と、ウエハステージを駆動する駆動部205と、を有する。本発明のステージ装置は、レチクルステージ202、ウエハステージ204の一方又は双方に適用可能である。露光装置は、レチクルに形成された回路パターンをウエハに投影露光するものであり、ステップアンドリピート投影露光方式またはステップアンドスキャン投影露光方式であってもよい。
つぎに、本発明の一実施形態のデバイス(半導体デバイス、液晶表示デバイス等)の製造方法について説明する。半導体デバイスは、ウエハに集積回路を作る前工程と、前工程で作られたウエハ上の集積回路チップを製品として完成させる後工程を経ることにより製造される。前工程は、前述のステージ装置を使用して感光剤が塗布されたウエハを露光する工程と、ウエハを現像する工程を含む。後工程は、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)と、パッケージング工程(封入)を含む。液晶表示デバイスは、透明電極を形成する工程を経ることにより製造される。透明電極を形成する工程は、透明導電膜が蒸着されたガラス基板に感光剤を塗布する工程と、前述のステージ装置を使用して感光剤が塗布されたガラス基板を露光する工程と、ガラス基板を現像する工程を含む。本実施形態のデバイス製造方法によれば、従来よりも高品位のデバイスを製造することができる。
Claims (15)
- ステージと、該ステージの側面に設置されたミラーの表面の位置を計測可能に配置された干渉計測器と、該干渉計測器の計測結果に基づいて前記ステージを位置決めする駆動部とを備えたステージ装置であって、
前記干渉計測器は、
計測光が前記ミラーに入射する入射位置を周期的に変動させる変動部と、
前記入射位置の周期的な変動に伴って発生する前記干渉計測器の計測結果の変動量に基づいて、前記ミラーの回転を検出する検出部と、
を含むことを特徴とするステージ装置。 - 前記駆動部は、検出された前記ミラーの回転に基づいて前記ステージを位置決めすることを特徴とする請求項1に記載のステージ装置。
- 前記検出部は、前記変動部から前記ミラーまでの前記計測光の光路長に基づいて前記ミラーの回転を検出することを特徴とする請求項1又は2に記載のステージ装置。
- 前記干渉計測器は、レーザー光源と、前記レーザー光源から出射された光を参照光と計測光に分離し、前記ミラーで反射された計測光と参照ミラーで反射された参照光とを干渉させる干渉計と、を含み、
前記変動部は、前記レーザー光源と前記干渉計との間に配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のステージ装置。 - 前記変動部は、前記計測光の角度を周期的に変動させることによって前記入射位置を周期的に変動させることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のステージ装置。
- 前記変動部は、前記計測光を前記ミラーが延びる方向に沿って周期的にシフト移動させることによって前記入射位置を周期的に変動させることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のステージ装置。
- 前記変動部は、前記ステージの位置制御系の制御帯域を超える周波数で前記入射位置を周期的に変動させることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のステージ装置。
- 前記検出部は、前記ステージの回転位置を変化させて得られた前記計測結果の変動量の変化が閾値内となる回転位置を決定し、
前記駆動部は、決定された前記回転位置に基づいて前記ステージを位置決めすることを特徴とする請求項1、3乃至7のいずれか1項に記載のステージ装置。 - 前記検出部は、前記ステージの回転位置を変化させて得られた前記計測結果の変動量の変化が最小となる回転位置を決定することを特徴とする請求項8に記載のステージ装置。
- 前記干渉計測器は、検出された前記ミラーの回転に基づいて前記ステージの位置及び姿勢の情報を初期化する初期化ユニットを備えることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のステージ装置。
- 前記初期化ユニットは、検出された前記ミラーの回転に基づいて前記計測光と前記ミラーとが直交するように前記ステージの位置及び姿勢の情報を初期化することを特徴とする請求項10に記載のステージ装置。
- 前記初期化ユニットは、検出された前記ミラーの回転のほか前記ミラーの形状にさらに基づいて、前記ステージの位置及び姿勢の情報を初期化することを特徴とする請求項10又は11に記載のステージ装置。
- レチクルに形成されたパターンを基板に投影して基板を露光する露光装置であって、
前記レチクル及び前記基板の少なくともいずれかを保持する請求項1乃至12のいずれか1項に記載のステージ装置を備えることを特徴とする露光装置。 - 請求項13に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
露光された前記基板を現像する工程と、
を含むデバイス製造方法。 - ステージと、該ステージの側面に設置されたミラーの表面の位置を計測可能に配置された干渉計測器と、該干渉計測器の計測結果に基づいて前記ステージを位置決めする駆動部とを備えたステージ装置の調整方法であって、
計測光が前記ミラーに入射する入射位置を周期的に変動させる工程と、
前記入射位置の周期的な変動に伴って発生する前記干渉計測器の計測結果の変動量に基づいて、前記ミラーの回転を検出する工程と、
検出された前記ミラーの回転に基づいて前記駆動部により前記ステージを位置決めする工程と、
を含むことを特徴とする調整方法。
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