JP2014090052A - Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method - Google Patents

Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
JP2014090052A
JP2014090052A JP2012238714A JP2012238714A JP2014090052A JP 2014090052 A JP2014090052 A JP 2014090052A JP 2012238714 A JP2012238714 A JP 2012238714A JP 2012238714 A JP2012238714 A JP 2012238714A JP 2014090052 A JP2014090052 A JP 2014090052A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting element
electrode
light
mounting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012238714A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukitoshi Marutani
幸利 丸谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Chemical Industries Ltd
Original Assignee
Nichia Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Chemical Industries Ltd filed Critical Nichia Chemical Industries Ltd
Priority to JP2012238714A priority Critical patent/JP2014090052A/en
Publication of JP2014090052A publication Critical patent/JP2014090052A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48464Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area also being a ball bond, i.e. ball-to-ball

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light-emitting element which can easily perform alignment by utilizing a magnetic force when the light-emitting element is mounted on a mounting substrate and which is difficult to influence electrical characteristics.SOLUTION: A light-emitting element 10 comprises: a semiconductor light-emitting element structure 3 in which an n-type semiconductor layer 3a and a p-type semiconductor layer 3c are layered on a substrate 2 and an n-side electrode 3n and a p-side electrode 3p are formed; and an insulating reflective layer 6 for covering at least a mounting surface when the light-emitting element 10 is mounted on a mounting substrate 20. The reflective layer 6 contains a magnetic substance and has magnetized regions corresponding to magnetized regions of element mounting parts 22n, 22p.

Description

本発明は、磁性体を含有した絶縁層を有する発光素子、その発光素子を実装基板に実装した発光装置、及びその発光装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a light-emitting element having an insulating layer containing a magnetic material, a light-emitting device in which the light-emitting element is mounted on a mounting substrate, and a method for manufacturing the light-emitting device.

窒化物半導体などの半導体を利用したLED(発光ダイオード)チップを、正負電極と導通する配線パターンを設けた実装基板に実装する際に、LEDチップの電極を実装基板に設けられた電極用配線パターンに正しく位置決めする必要がある。
この位置決め(アライメント)のために、磁力を利用した方法が、例えば、特許文献1や特許文献2に記載されている。
When an LED (light emitting diode) chip using a semiconductor such as a nitride semiconductor is mounted on a mounting board provided with a wiring pattern that is electrically connected to positive and negative electrodes, an electrode wiring pattern in which the electrode of the LED chip is provided on the mounting board It is necessary to position correctly.
For this positioning (alignment), a method using magnetic force is described in Patent Document 1 and Patent Document 2, for example.

特許文献1(段落0040参照)には、発光ダイオード素子のバンプメタルをニッケル等で形成しておき所定方向に磁化させ、配列基板上の素子配置孔もそれに合わせて磁化させたり、外部から磁界を加えたりして配置を行うことで、発光ダイオード素子の配向制御を行う方法が記載されている。   In Patent Document 1 (see paragraph 0040), a bump metal of a light emitting diode element is formed of nickel or the like and magnetized in a predetermined direction, and an element arrangement hole on an array substrate is magnetized in accordance therewith, or a magnetic field is externally applied. A method for controlling the orientation of the light-emitting diode element by adding the arrangement is described.

また、特許文献2(例えば、段落0015及び図1参照)には、実装基板の表面に微小磁石からなる電極パッドを設け、磁力を有する接続用バンプが設けられている半導体チップを載置する際に、接続用バンプを電極パッドの上に位置させることで、電極パッドの磁石の引力によって接続用バンプを固定する方法が記載されている。   Further, in Patent Document 2 (see, for example, paragraph 0015 and FIG. 1), when mounting a semiconductor chip in which electrode pads made of micro magnets are provided on the surface of a mounting substrate and connection bumps having magnetic force are provided. Describes a method of fixing the connection bump by the attractive force of the magnet of the electrode pad by positioning the connection bump on the electrode pad.

特開2005−174979号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-174799 特開平7−78828号公報JP-A-7-78828

しかしながら、特許文献1及び特許文献2に記載された方法のように、電極に磁性体を含有させる場合は、特に磁性体の含有量が多くなると、LEDチップの電極と半導体層との間の接触抵抗や電極間の接触抵抗の良好なオーミック性が得られないことがある。このため、LEDチップ自体や、LEDチップを実装基板に実装した発光装置の電気的特性が低下する恐れがある。また、電極や配線パターンで用いられる導電性材料と磁性体材料との組み合わせによっては、電極や配線パターンが錆易くなり、LEDチップや発光装置の信頼性が低下する恐れもある。   However, when the magnetic material is included in the electrode as in the methods described in Patent Document 1 and Patent Document 2, the contact between the electrode of the LED chip and the semiconductor layer is particularly large when the content of the magnetic material is increased. Good ohmic properties of resistance and contact resistance between electrodes may not be obtained. For this reason, there exists a possibility that the electrical property of LED chip itself or the light-emitting device which mounted the LED chip on the mounting substrate may fall. In addition, depending on the combination of the conductive material and the magnetic material used in the electrode or wiring pattern, the electrode or wiring pattern is likely to rust, and the reliability of the LED chip or the light emitting device may be reduced.

本発明は、かかる問題点に鑑みて創案されたものであり、LEDなどの発光素子を実装基板に搭載して発光装置を製造する際に、磁力を利用して位置合わせを容易に行うことができ、電気的特性に影響を及ぼしにくい発光素子を提供することを課題とする。   The present invention was devised in view of such problems, and when a light emitting device such as an LED is mounted on a mounting substrate to manufacture a light emitting device, alignment can be easily performed using a magnetic force. An object of the present invention is to provide a light-emitting element that can be used and hardly affects electrical characteristics.

前記した課題を解決するために、半導体層と、前記半導体層と電気的に接続される電極を有する発光素子であって、前記発光素子の実装面側に絶縁層を有し、前記絶縁層は、磁性体を含有する磁化領域を有するように構成される。   In order to solve the above-described problem, a light-emitting element having a semiconductor layer and an electrode electrically connected to the semiconductor layer, and having an insulating layer on a mounting surface side of the light-emitting element, And a magnetic region containing a magnetic material.

かかる構成によれば、発光素子は、絶縁層が有する磁化領域によって、磁気パターンを形成する。ここで、磁化領域を有する面を実装面として発光素子を実装基板に実装する際に、発光素子を実装する実装基板側に、発光素子が形成する磁気パターンと符合する磁気パターンを形成することにより、発光素子は実装基板側の磁気パターンと符合するように、位置合わせされて実装基板に載置される。
また、磁化領域を形成するための磁性体は絶縁層に含有されるため、電極などの電気的特性に影響を及ぼしにくくすることができる。
According to such a configuration, the light emitting element forms a magnetic pattern by the magnetization region of the insulating layer. Here, when the light emitting element is mounted on the mounting substrate with the surface having the magnetized region as the mounting surface, a magnetic pattern that matches the magnetic pattern formed by the light emitting element is formed on the mounting substrate side on which the light emitting element is mounted. The light emitting elements are aligned and placed on the mounting substrate so as to coincide with the magnetic pattern on the mounting substrate side.
In addition, since the magnetic material for forming the magnetized region is contained in the insulating layer, it is possible to make it difficult to affect the electrical characteristics of the electrodes and the like.

本発明に係る発光素子によれば、絶縁層に磁性体を含有させて磁気パターンを形成するため、電極の電気的特性への影響を低減させつつ、磁力を利用して実装時の位置合わせを容易に行うことができる。
本発明の他の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
According to the light emitting device of the present invention, the magnetic layer is formed in the insulating layer to form the magnetic pattern. Therefore, the magnetic layer is used for alignment while reducing the influence on the electrical characteristics of the electrode. It can be done easily.
Other problems, configurations, and effects of the present invention will become apparent from the following description of embodiments.

本発明の第1実施形態に係る発光装置の構造を示す模式図であり、(a)は発光装置の断面図、(b)はLEDチップ部分の詳細構造の断面図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the light-emitting device which concerns on 1st Embodiment of this invention, (a) is sectional drawing of a light-emitting device, (b) is sectional drawing of the detailed structure of a LED chip part. 本発明の第1実施形態に係る発光装置の磁化領域を説明する模式図であり、(a)は平面図、(b)は断面図である。It is a schematic diagram explaining the magnetization area | region of the light-emitting device concerning 1st Embodiment of this invention, (a) is a top view, (b) is sectional drawing. 本発明の第1実施形態に係る発光装置の製造方法の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the manufacturing method of the light-emitting device which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る発光素子の製造方法の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the manufacturing method of the light emitting element which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る発光素子の製造工程を説明するための図であり、(a)から(j)は、各工程における模式的断面図である。It is a figure for demonstrating the manufacturing process of the light emitting element which concerns on 1st Embodiment of this invention, (a) to (j) is typical sectional drawing in each process. 本発明の第1実施形態に係る発光素子の製造工程における着磁工程を説明するための模式図であり、(a)は着磁装置の斜視図、(b)は着磁工程の様子を示す断面図である。It is a schematic diagram for demonstrating the magnetization process in the manufacturing process of the light emitting element which concerns on 1st Embodiment of this invention, (a) is a perspective view of a magnetizing apparatus, (b) shows the mode of a magnetization process. It is sectional drawing. 本発明の第1実施形態に係る発光装置の製造工程における発光素子載置工程を説明するための模式図であり、(a)〜(c)は、それぞれ発光素子を実装基板に載置する様子を時系列で示したものであり、上段は平面図、下段は正面図である。It is a schematic diagram for demonstrating the light emitting element mounting process in the manufacturing process of the light-emitting device which concerns on 1st Embodiment of this invention, (a)-(c) is a mode that each light emitting element is mounted in a mounting substrate. Are shown in time series, with the upper part being a plan view and the lower part being a front view. 本発明の第1実施形態の変形例に係る発光装置の構成を示す模式図であり、(a)は一変形例に係る発光装置の分解平面図、(b)は他の変形例に係る発光装置の断面図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the light-emitting device which concerns on the modification of 1st Embodiment of this invention, (a) is an exploded plan view of the light-emitting device which concerns on one modification, (b) is light emission which concerns on another modification. It is sectional drawing of an apparatus. 本発明の第2実施形態に係る発光装置の製造方法における発光素子載置工程を説明するための模式的正面図である。It is a typical front view for demonstrating the light emitting element mounting process in the manufacturing method of the light-emitting device which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る発光装置の構成を示す模式的断面図である。It is typical sectional drawing which shows the structure of the light-emitting device which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る発光素子の構成を示す模式的断面図である。It is typical sectional drawing which shows the structure of the light emitting element which concerns on 4th Embodiment of this invention.

以下、本発明における発光素子、その発光素子を実装基板に実装した発光装置、及びその発光装置の製造方法について説明する。   Hereinafter, a light emitting device, a light emitting device in which the light emitting device is mounted on a mounting substrate, and a method for manufacturing the light emitting device will be described.

<第1実施形態>
[発光装置の構成]
本発明の第1実施形態における発光装置の構造を、図1及び図2を参照して説明する。なお、図1(a)及び図1(b)は、図2(a)のA−A線における断面を示している。
図1(a)及び図2(a)に示すように、本発明の第1実施形態に係る発光装置100は、平面視で矩形状の実装基板20上に、LEDチップサイズのLEDパッケージである発光素子10がフリップチップ実装されている。
また、発光装置100は、発光素子10の全体が透光性の封止部材30によって封止されている。なお、図2(a)において、封止部材30の記載は省略している。
なお、実装基板20の形状は、平面視で矩形状に限定されず、円形、多角形など任意の形状とすることができる。
<First Embodiment>
[Configuration of light emitting device]
The structure of the light emitting device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A and 1B show a cross section taken along line AA in FIG. 2A.
As shown in FIGS. 1A and 2A, the light emitting device 100 according to the first embodiment of the present invention is an LED chip-sized LED package on a rectangular mounting substrate 20 in plan view. The light emitting element 10 is flip-chip mounted.
In the light emitting device 100, the entire light emitting element 10 is sealed with a light-transmitting sealing member 30. In addition, description of the sealing member 30 is abbreviate | omitted in Fig.2 (a).
Note that the shape of the mounting substrate 20 is not limited to a rectangular shape in plan view, and may be an arbitrary shape such as a circle or a polygon.

(発光素子)
図1(a)及び図2(a)に示すように、本実施形態における発光素子10は略直方体形状をしており、図1(a)及び図1(b)に示すように、基板2上(図1(a)において下側)に積層された半導体発光素子構造体3を備えたLEDチップ1と、LEDチップ1のn側電極3n及びp側電極3pと実装基板20とを電気的に接続するためのバンプ(外部接続用電極)4n、4pと、光取り出し面であるLEDチップ1の上面(基板2側)に設けられた蛍光層5と、LEDチップ1の側面(すなわち、基板2の側面及び半導体発光素子構造体3の側面)及び下面(半導体発光素子構造体3側)を被覆する反射層6と、を備えて構成されている。
(Light emitting element)
As shown in FIG. 1A and FIG. 2A, the light emitting element 10 in the present embodiment has a substantially rectangular parallelepiped shape, and as shown in FIG. 1A and FIG. The LED chip 1 including the semiconductor light emitting element structure 3 stacked on the upper side (lower side in FIG. 1A), the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p of the LED chip 1, and the mounting substrate 20 are electrically connected. Bumps (external connection electrodes) 4n and 4p for connecting to the LED, the fluorescent layer 5 provided on the upper surface (substrate 2 side) of the LED chip 1 which is the light extraction surface, and the side surface (that is, the substrate) of the LED chip 1 2 and side surfaces of the semiconductor light emitting element structure 3) and a reflective layer 6 covering the lower surface (the semiconductor light emitting element structure 3 side).

本実施形態において、反射層6は絶縁性であって、磁性体を含有し、実装面側の2以上の所定の領域が、それぞれ所定の磁化方向に磁化されている。これにより、発光素子10を実装基板20に実装する際に、磁力を利用して容易に位置合わせが行えるものである。反射層6の磁化及び磁力を利用した実装の詳細については後記する。   In the present embodiment, the reflective layer 6 is insulative, contains a magnetic material, and two or more predetermined regions on the mounting surface side are each magnetized in a predetermined magnetization direction. Thereby, when mounting the light emitting element 10 on the mounting board | substrate 20, it can align easily using a magnetic force. Details of mounting using the magnetization and magnetic force of the reflective layer 6 will be described later.

図1(a)に示すように、発光素子10において、反射層6は、LEDチップ1の半導体発光素子構造体3側である下面を被覆するとともに、側面を包囲するように被覆している。
なお、本実施形態で「U字状」とは、すべての断面でU字状となる場合に限定されず、図1(a)に示すように、反射層6を貫通して設けられたバンプ4n、4pが含まれる断面において、反射層6の一部が分断される場合においても、他の断面で「U字状」となる場合は、反射層6は断面視で「U字状」に形成されているものとする。また、後記する他の実施形態においても同様である。
また、反射層6は、本実施形態のように、発光素子10の下面と側面とを被覆することが好ましいが、これに限定されるものではない。例えば、反射層6を、発光素子10の下面のみに設け、側面を被覆しないように構成してもよく、側面については、一部を被覆するようにしてもよい。
As shown in FIG. 1A, in the light emitting element 10, the reflective layer 6 covers the lower surface of the LED chip 1 on the semiconductor light emitting element structure 3 side and covers the side surface.
In the present embodiment, the “U-shape” is not limited to a U-shape in all cross sections, and as shown in FIG. 1A, bumps provided through the reflective layer 6 Even when a part of the reflective layer 6 is divided in a cross section including 4n and 4p, if the other cross section is “U-shaped”, the reflective layer 6 is “U-shaped” in cross-sectional view. It shall be formed. The same applies to other embodiments described later.
Moreover, although it is preferable that the reflective layer 6 coat | covers the lower surface and side surface of the light emitting element 10 like this embodiment, it is not limited to this. For example, the reflective layer 6 may be provided only on the lower surface of the light emitting element 10 so as not to cover the side surface, or the side surface may be partially covered.

本明細書において、「半導体発光素子構造体」とは、具体的には、図1(b)に示すように、n型半導体層(第1半導体層)3aとp型半導体層(第2半導体層)3cとが積層され、その間に発光を行う活性層3bを有する積層構造体を含む、発光素子として機能する基本的な構造体のことをいう。また、この半導体発光素子構造体3は、同じ面にn型半導体層3aと電気的に接続するn側電極(電極、第1電極)3nと、p型半導体層3cと電気的に接続するp側電極(電極、第2電極)3pとを有する構造を備えているものである。   In this specification, the “semiconductor light-emitting element structure” specifically refers to an n-type semiconductor layer (first semiconductor layer) 3a and a p-type semiconductor layer (second semiconductor) as shown in FIG. Layer) 3c is a basic structure functioning as a light emitting element, including a stacked structure having an active layer 3b that emits light between them. In addition, the semiconductor light emitting element structure 3 includes an n-side electrode (electrode, first electrode) 3n electrically connected to the n-type semiconductor layer 3a and a p-type electrically connected to the p-type semiconductor layer 3c on the same surface. A structure having a side electrode (electrode, second electrode) 3p is provided.

また、本明細書において、第1実施形態及び他の実施形態において、上下の方向は、原則として各実施形態を説明する図面に示した通りとする。例えば、図1(a)に示す実施形態に係る発光素子10の上面は、蛍光層5の上面であり、発光素子10の下面は、反射層6の下面及びバンプ4n、4pの下面である。
また、底面視での形状とは下方から見た形状をいい、平面視での形状とは上方から見た形状をいう。
In the present specification, in the first embodiment and other embodiments, the vertical direction is basically as shown in the drawings describing each embodiment. For example, the upper surface of the light emitting device 10 according to the embodiment shown in FIG. 1A is the upper surface of the fluorescent layer 5, and the lower surface of the light emitting device 10 is the lower surface of the reflective layer 6 and the lower surfaces of the bumps 4n and 4p.
Further, the shape in a bottom view means a shape seen from below, and the shape in a plan view means a shape seen from above.

また、本明細書において、LEDチップ1について、半導体発光素子構造体3が形成された側の面を表面と呼び、基板2側を裏面と呼ぶこととする。基板2についても同様に、半導体発光素子構造体3が形成された側の面を表面と呼び、反対側の面を裏面と呼ぶ。また、図1(a)、図1(b)などにおいて、本実施形態の発光素子10は、フリップチップ(以下、適宜フェイスダウンともいう)実装型のLEDパッケージであるため、基板2に対して、半導体発光素子構造体3は、下側に設けられているが、便宜上、半導体発光素子構造体3の積層構造を説明する際には、基板面から離れる方向を「上」ということがある。   In the present specification, for the LED chip 1, the surface on which the semiconductor light emitting element structure 3 is formed is referred to as a front surface, and the substrate 2 side is referred to as a back surface. Similarly, for the substrate 2, the surface on which the semiconductor light emitting element structure 3 is formed is called a front surface, and the opposite surface is called a back surface. Further, in FIGS. 1A, 1B, etc., the light emitting element 10 of the present embodiment is a flip chip (hereinafter also referred to as face-down) mounting type LED package. The semiconductor light emitting element structure 3 is provided on the lower side. However, for convenience, when describing the stacked structure of the semiconductor light emitting element structure 3, the direction away from the substrate surface may be referred to as “upper”.

また、本実施形態に係る発光素子10は、LEDチップ1として、透光性の基板2に窒化物半導体からなる半導体発光素子構造体3が積層された青色発光ダイオードを用い、蛍光層5として、LEDチップ1が発光する青色光を吸収し、黄色光を発光する蛍光体を含有する樹脂層を用い、LEDチップ1が発光する青色光と、蛍光層5が発光する黄色光とを混色して、白色光を出力する白色発光ダイオードを例として説明する。   Further, the light emitting element 10 according to the present embodiment uses a blue light emitting diode in which a semiconductor light emitting element structure 3 made of a nitride semiconductor is stacked on a light transmitting substrate 2 as the LED chip 1, and as the fluorescent layer 5, Using a resin layer containing a phosphor that absorbs blue light emitted from the LED chip 1 and emits yellow light, the blue light emitted from the LED chip 1 and the yellow light emitted from the fluorescent layer 5 are mixed. A white light emitting diode that outputs white light will be described as an example.

なお、本実施形態は、本発明の適用範囲を限定するものではなく、例えば、LEDチップ1が発光する光は、青色光に限定されず、紫色光や紫外光や、更に他の光色であってもよい。また、蛍光層5は、黄色光に変換するものに限定されず、赤色光又は緑色光に変換するものであってもよく、赤色光及び緑色光に変換する複数種類の蛍光体を含有するようにしてもよい。また、混色した出力光は、白色光に限定されず、有彩色光であってもよい。
また、発光素子10は、蛍光層5を有さず、蛍光層5に代えて蛍光体を含有しない透光性の保護層を配置した構成としてもよい。
更にまた、半導体発光素子構造体3は、窒化物半導体に限定されず、他の半導体材料を用いたものでもよい。
更に、発光素子10は、n型電極3nとp型電極3pとをそれぞれ異なる面に有するものであってもよい。つまり、発光素子10の上面と下面の両方に電極を備えるものであってもよい。
In addition, this embodiment does not limit the application range of this invention, For example, the light which LED chip 1 light-emits is not limited to blue light, By purple light, ultraviolet light, and another light color. There may be. Further, the fluorescent layer 5 is not limited to the one that converts to yellow light, and may be one that converts to red light or green light, and contains a plurality of types of phosphors that convert to red light and green light. It may be. The mixed output light is not limited to white light, and may be chromatic color light.
The light-emitting element 10 may have a configuration in which the light-emitting element 10 does not include the fluorescent layer 5 and a light-transmitting protective layer that does not contain a phosphor is disposed instead of the fluorescent layer 5.
Furthermore, the semiconductor light emitting element structure 3 is not limited to a nitride semiconductor, but may be one using other semiconductor materials.
Furthermore, the light emitting element 10 may have the n-type electrode 3n and the p-type electrode 3p on different surfaces. That is, electrodes may be provided on both the upper surface and the lower surface of the light emitting element 10.

以下、発光素子10の構成各部について詳細に説明する。
(基板)
基板2は、半導体層をエピタキシャル成長させることができるものや、半導体発光素子構造体3を支持できるものなどであればよく、材料や大きさ、厚さ等は特に限定されない。
具体的な材料としては、C面、R面、A面のいずれかを主面とするサファイア(Al)やスピネル(MgA124)、また炭化ケイ素(SiC)、酸化ガリウム(Ga)、ZnS、ZnO、Si、GaAs、ダイヤモンド、及び窒化物半導体と格子接合する窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウム(AlN)、ニオブ酸リチウム、ガリウム酸ネオジウム等の酸化物基板などを用いることができる。また、本実施形態における発光素子10は、フェイスダウン実装をするため、発光素子10の上面側となるLEDチップ1の裏面側(基板2側)が光取り出し面となる。従って、半導体発光素子構造体3で発光した光は、基板2を透過して光取り出し面から出射されるため、基板2は、少なくとも、この光の波長に対して透光性を有することが好ましい。このような材料としては、サファイアや炭化ケイ素などが挙げられる。
Hereinafter, each component of the light emitting element 10 will be described in detail.
(substrate)
The substrate 2 only needs to be capable of epitaxially growing a semiconductor layer, or can support the semiconductor light emitting element structure 3, and the material, size, thickness, and the like are not particularly limited.
Specific examples of the material include sapphire (Al 2 O 3 ), spinel (MgA 1 2 O 4 ), silicon carbide (SiC), and gallium oxide (Ga) whose main surface is the C-plane, R-plane, or A-plane. 2 O 3 ), ZnS, ZnO, Si, GaAs, diamond, and oxide substrates such as gallium nitride (GaN), aluminum nitride (AlN), lithium niobate, and neodymium gallate that are lattice-bonded to a nitride semiconductor are used. be able to. In addition, since the light emitting element 10 in the present embodiment is mounted face down, the back surface side (substrate 2 side) of the LED chip 1 that is the upper surface side of the light emitting element 10 is a light extraction surface. Therefore, since the light emitted from the semiconductor light emitting element structure 3 is transmitted through the substrate 2 and emitted from the light extraction surface, it is preferable that the substrate 2 has translucency at least with respect to the wavelength of the light. . Examples of such a material include sapphire and silicon carbide.

なお、本発明において、発光素子10は基板2を有さないように構成することもできる。例えば、基板2上にn型半導体層3a、活性層3b及びp型半導体層3cからなる半導体層を成長させた後に、例えば、レーザーリフトオフ法、メートル法(MeTRe法;Mechanical Transfer using a Release layer)やケミカルリフトオフ法などにより、基板2を半導体層から剥離して除去するようにしてもよい。   In the present invention, the light emitting element 10 may be configured not to have the substrate 2. For example, after a semiconductor layer composed of an n-type semiconductor layer 3a, an active layer 3b, and a p-type semiconductor layer 3c is grown on the substrate 2, for example, a laser lift-off method, a metric method (MeTRe method; Mechanical Transfer using a Release layer), The substrate 2 may be peeled off from the semiconductor layer and removed by a chemical lift-off method or the like.

(半導体発光素子構造体)
半導体発光素子構造体3は、図1(b)に示すように、例えば窒化ガリウム系の化合物半導体からなるn型半導体層(半導体層)3aと活性層(半導体層)3bとp型半導体層(半導体層)3cとがこの順で積層された積層構造体を含む発光素子として機能する基本的な構造体のことである。本実施形態においては、半導体発光素子構造体3は、p型半導体層3c上に全面電極3dと、カバー電極3eとが積層され、基板2の同じ平面側にn型半導体層3aと電気的に接続するn側電極(第1電極)3nと、p型半導体層3cと電気的に接続するカバー電極3eの上面にp側電極(第2電極)3pとを有するLEDを構成している。
(Semiconductor light emitting device structure)
As shown in FIG. 1B, the semiconductor light-emitting element structure 3 includes an n-type semiconductor layer (semiconductor layer) 3a, an active layer (semiconductor layer) 3b, and a p-type semiconductor layer (for example) made of a gallium nitride-based compound semiconductor. The semiconductor layer 3c is a basic structure functioning as a light emitting element including a stacked structure in which the semiconductor layers 3c are stacked in this order. In the present embodiment, the semiconductor light emitting element structure 3 includes a full-surface electrode 3d and a cover electrode 3e stacked on a p-type semiconductor layer 3c, and is electrically connected to the n-type semiconductor layer 3a on the same plane side of the substrate 2. An LED having an n-side electrode (first electrode) 3n to be connected and a p-side electrode (second electrode) 3p on the upper surface of a cover electrode 3e electrically connected to the p-type semiconductor layer 3c is configured.

なお、全面電極3dは、p型半導体層3c上に、p型半導体層3cの略全面を覆うように設けられ、p側電極3p及びカバー電極3eを介して供給される電流を、p型半導体層3cの全面に均一に拡散するための電極である。また、フェイスダウン実装をする本実施形態における発光素子10においては、活性層3bで発光した光を光取り出し面である発光素子10の上面側(基板2の裏面側)に反射するための反射層としての機能も有する。   The full-surface electrode 3d is provided on the p-type semiconductor layer 3c so as to cover substantially the entire surface of the p-type semiconductor layer 3c, and a current supplied via the p-side electrode 3p and the cover electrode 3e is supplied to the p-type semiconductor layer 3c. It is an electrode for uniformly diffusing over the entire surface of the layer 3c. Further, in the light emitting element 10 in the present embodiment that is mounted face down, the reflection layer for reflecting the light emitted from the active layer 3b to the upper surface side (the back surface side of the substrate 2) of the light emitting element 10 that is the light extraction surface. It also has the function as

また、全面電極3dは、少なくとも活性層3bで発光する光の波長に対して、良好な反射率を有することが好ましい。したがって、全面電極3dとしては、光の反射率の高いAgやAlの単層膜、Agを最下層(p型半導体層3c側)とするNi、Tiなどとの多層膜を好適に用いることができる。より好ましくは、Agを最下層(p型半導体層3c側)とするAg/Ni/Ti/Ptの多層膜を用いることができ、この多層膜の膜厚は、例えば、それぞれ1000nm程度以下とすることができ、合計が2μm程度以下とすることができる。全面電極3dは、これらの材料を、例えば、スパッタリングや蒸着により、順次積層して形成することができる。   Moreover, it is preferable that the entire surface electrode 3d has a good reflectance with respect to at least the wavelength of light emitted from the active layer 3b. Therefore, as the entire surface electrode 3d, it is preferable to use a single layer film of Ag or Al having a high light reflectivity, or a multilayer film of Ni, Ti or the like having Ag as the lowermost layer (p-type semiconductor layer 3c side). it can. More preferably, an Ag / Ni / Ti / Pt multilayer film with Ag as the lowermost layer (p-type semiconductor layer 3c side) can be used, and the film thickness of each multilayer film is, for example, about 1000 nm or less. The total can be about 2 μm or less. The full-surface electrode 3d can be formed by sequentially laminating these materials, for example, by sputtering or vapor deposition.

カバー電極3eは、全面電極3dの上面及び側面を覆い、p側電極3pを全面電極3dから遮蔽し、全面電極3dの構成材料の、特にAgのマイグレーションを防止するためのバリア層として機能する。   The cover electrode 3e covers the upper surface and side surfaces of the full-surface electrode 3d, shields the p-side electrode 3p from the full-surface electrode 3d, and functions as a barrier layer for preventing migration of the constituent material of the full-surface electrode 3d, particularly Ag.

カバー電極3eとしては、例えば、Ti、Au、Wなどの金属の単層膜やこれらの金属の多層膜を用いることができる。好ましくは、Tiを最下層(全面電極3d側)とするTi(最下層)/Au/W/Tiの多層膜を用いることができ、この多層膜の膜厚は、例えば、下層側からそれぞれ2nm、1700nm、120nm、3nmとすることができる。   As the cover electrode 3e, for example, a single layer film of a metal such as Ti, Au, or W or a multilayer film of these metals can be used. Preferably, a multilayer film of Ti (lowermost layer) / Au / W / Ti with Ti as the lowermost layer (entire electrode 3d side) can be used, and the thickness of this multilayer film is, for example, 2 nm from the lower layer side. It can be set to 1700 nm, 120 nm, and 3 nm.

なお、本実施形態では、全面電極3d及びカバー電極3eをp型半導体層3c上にのみ設けるようにしたが、n型半導体層3a上にも全面電極及びカバー電極を設けるようにしてもよい。   In the present embodiment, the full-surface electrode 3d and the cover electrode 3e are provided only on the p-type semiconductor layer 3c. However, the full-surface electrode and the cover electrode may be provided also on the n-type semiconductor layer 3a.

また、n側電極3nはn型半導体層3aに、p側電極3pはカバー電極3e及び全面電極3dを介してp型半導体層3cに、それぞれ電気的に接続して、発光素子10に外部から電流を供給するためのパッド電極である。n側電極3nは、半導体発光素子構造体3のn型半導体層3aの露出面に設けられる。p側電極3pは、半導体発光素子構造体3のカバー電極3eの上面に設けられる。n側電極3n及びp側電極3pの上面には、それぞれ外部接続用電極として、バンプ4n及びバンプ4pが設けられている。   The n-side electrode 3n is electrically connected to the n-type semiconductor layer 3a, and the p-side electrode 3p is electrically connected to the p-type semiconductor layer 3c via the cover electrode 3e and the entire surface electrode 3d. It is a pad electrode for supplying a current. The n-side electrode 3 n is provided on the exposed surface of the n-type semiconductor layer 3 a of the semiconductor light emitting element structure 3. The p-side electrode 3 p is provided on the upper surface of the cover electrode 3 e of the semiconductor light emitting element structure 3. On the upper surfaces of the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p, bumps 4n and bumps 4p are provided as external connection electrodes, respectively.

n側電極3n及びp側電極3pとしては、電気抵抗が低い材料が好ましく、Au、Cu、Ni、Al、Ptなどの金属やこれらの合金の単層、又は多層膜を用いることができる。n側電極3n及びp側電極3pは、例えば、Cu単層又はCu/Ni積層膜を下層(n型半導体層3a、カバー電極3e側)とし、Au又はAuSn合金を上層とする多層膜とすることができる。   As the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p, a material having low electric resistance is preferable, and a single layer or a multilayer film of a metal such as Au, Cu, Ni, Al, or Pt, or an alloy thereof can be used. The n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p are, for example, multilayer films having a Cu single layer or a Cu / Ni laminated film as a lower layer (n-type semiconductor layer 3a, cover electrode 3e side) and Au or an AuSn alloy as an upper layer. be able to.

また、n側電極3nとn型半導体層3aとの良好な電気的コンタクトを得るために、n側電極3nの最下層(n型半導体層3a側)はTi、Al、AlCuSi合金などを用いることが好ましく、左端を最下層として、Ti/Au、Al/Ti/Au、Al/Ti/Pt/Au、Ti/Pt/Au、AlCuSi/Ti/Pt/Auなどの多層膜を用いることができる。また、AlCuSi合金を最下層として、AlCuSi/Ti/Pt/Auの多層膜とする場合は、各層の膜厚は、例えば、それぞれ500nm、150nm、50nm、700nmとすることができる。   Further, in order to obtain good electrical contact between the n-side electrode 3n and the n-type semiconductor layer 3a, the lowermost layer (n-type semiconductor layer 3a side) of the n-side electrode 3n is made of Ti, Al, AlCuSi alloy or the like. Preferably, a multilayer film such as Ti / Au, Al / Ti / Au, Al / Ti / Pt / Au, Ti / Pt / Au, AlCuSi / Ti / Pt / Au can be used with the left end as the bottom layer. Further, when an AlCuSi alloy is used as the lowermost layer and a multilayer film of AlCuSi / Ti / Pt / Au is used, the thickness of each layer can be set to, for example, 500 nm, 150 nm, 50 nm, and 700 nm, respectively.

本発明においては、磁性を有する領域を絶縁層(本実施形態においては、反射層6)に設けるため、発光素子10の電極(n側電極3n、p側電極3p、又はバンプ4n、4p)の材料を自由に選択することができる。
また、発光素子10の電極の形状にとらわれずに、磁性を有する領域を設けることができるため、実装時の発光素子10の位置決めを容易とすることが可能である。すなわち、電極に磁性領域を設ける場合には、電極の形状によって磁性領域の形状が制限されてしまうことがあるが、本発明では、例えば、電極を被覆するように絶縁層を設け、当該絶縁層に磁性領域を設けることで、電極の形状に制限されず、位置決めに好適な磁性領域を形成することができる。
なお、実装面と反対側の面に電極が設けられており、主に電極が設けられた面から光を取り出すように実装(以下、フェイスアップ実装ともいう)される発光素子を用いる場合には、発光素子10の電極には、透光性を有する材料を用いることが好ましい。
In the present invention, since an area having magnetism is provided in the insulating layer (in this embodiment, the reflective layer 6), the electrodes of the light emitting element 10 (n-side electrode 3n, p-side electrode 3p, or bumps 4n, 4p) are provided. The material can be freely selected.
In addition, since a region having magnetism can be provided without being limited by the shape of the electrode of the light-emitting element 10, the light-emitting element 10 can be easily positioned during mounting. That is, when a magnetic region is provided in an electrode, the shape of the magnetic region may be limited by the shape of the electrode. In the present invention, for example, an insulating layer is provided so as to cover the electrode, and the insulating layer By providing a magnetic region, the magnetic region suitable for positioning can be formed without being limited by the shape of the electrode.
In the case of using a light emitting element in which an electrode is provided on the surface opposite to the mounting surface and mounted mainly so as to extract light from the surface provided with the electrode (hereinafter also referred to as face-up mounting). The electrode of the light emitting element 10 is preferably made of a light-transmitting material.

(バンプ(外部接続用電極))
バンプ(第1外部接続用電極)4n及びバンプ(第2外部接続用電極)4pは、それぞれn側電極3n及びp側電極3pに電気的に接続されており、実装基板などの外部回路と接続するための外部接続用電極である。
バンプ4n及びバンプ4pは、基板2の同じ面側(片面側)に配設され、反射層6を貫通して、外部回路との接続面である下面が露出している。
(Bump (external connection electrode))
The bump (first external connection electrode) 4n and the bump (second external connection electrode) 4p are electrically connected to the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p, respectively, and are connected to an external circuit such as a mounting substrate. This is an external connection electrode.
The bumps 4n and 4p are disposed on the same surface side (one surface side) of the substrate 2 and pass through the reflective layer 6 so that the lower surface, which is a connection surface with an external circuit, is exposed.

バンプ4n、4pは、Au、Cu、Ni、Ag又はこれらの金属を含む合金の単層膜、又はこれらの多層膜を用いることができる。Auは、電気抵抗及び接触抵抗が低く好ましいが、安価なSnとの合金であるAuSn合金を用いることができる。   As the bumps 4n and 4p, a single layer film of Au, Cu, Ni, Ag, or an alloy containing these metals, or a multilayer film thereof can be used. Au is preferable because of its low electric resistance and contact resistance, but an AuSn alloy that is an inexpensive alloy with Sn can be used.

バンプ4n、4pは、単層構造の場合は、前記した材料の線材を用いて、ワイヤボンダにより形成することができる。また、単層構造又は多層構造の場合は、電解メッキや無電解メッキなどのメッキ処理により形成することもできる。   In the case of a single layer structure, the bumps 4n and 4p can be formed by a wire bonder using the wire material described above. In the case of a single layer structure or a multilayer structure, it can also be formed by a plating process such as electrolytic plating or electroless plating.

なお、本例では、バンプ4n,4pを用いて実装基板などの外部回路と接続するように構成したが、これに限定されるものではなく、バンプを設けずに、発光素子10を実装時に半田を用いて接合するようにしてもよい。半田ペーストを用いて接合する場合は、接合の際に半田ペーストによる粘着力が失われ、溶融した半田上で、発光素子10が固定されずに浮遊する状態となる。このような状態でも、本発明では、発光素子10と実装先の配線パターンとの間が磁力で位置決めされるため、容易に位置決めすることができる。   In this example, the bumps 4n and 4p are used to connect to an external circuit such as a mounting board. However, the present invention is not limited to this, and the light emitting element 10 is soldered at the time of mounting without providing bumps. You may make it join using. In the case of joining using the solder paste, the adhesive force due to the solder paste is lost at the time of joining, and the light emitting element 10 is floated without being fixed on the molten solder. Even in such a state, in the present invention, since the space between the light emitting element 10 and the wiring pattern of the mounting destination is positioned by magnetic force, the positioning can be easily performed.

(蛍光層(波長変換部材))
蛍光層5は、光取り出し面である発光素子10の上面側、すなわち基板2の裏面側に設けられ、半導体発光素子構造体3が発光する波長の光の一部又は全部を吸収し、異なる波長の光に変換して発光する蛍光体を含有する層によって構成される波長変換部材である。
また、蛍光層5は、樹脂、セラミック又はガラスなどの透光性を有するバインダーに蛍光体を含有して形成される。また、蛍光体の他に、拡散材を含有して構成されてもよい。更に、蛍光層5は、単層構造だけでなく、多層構造とすることもでき、それぞれ異なる種類の蛍光体を含有する複数の層で構成されてもよい。また、蛍光層5の上に、拡散材を含有する層や表面に凹凸を有する層、及び/又は凸レンズなどの透光性部材を積層してもよい。
(Fluorescent layer (wavelength conversion member))
The fluorescent layer 5 is provided on the upper surface side of the light emitting element 10 that is the light extraction surface, that is, the back surface side of the substrate 2, absorbs part or all of the light of the wavelength emitted by the semiconductor light emitting element structure 3, and has different wavelengths It is a wavelength conversion member comprised by the layer containing the fluorescent substance which converts into the light of this and light-emits.
The fluorescent layer 5 is formed by containing a phosphor in a light-transmitting binder such as resin, ceramic, or glass. Further, in addition to the phosphor, a diffusing material may be contained. Furthermore, the fluorescent layer 5 may have not only a single layer structure but also a multilayer structure, and may be composed of a plurality of layers each containing different types of phosphors. In addition, a layer containing a diffusing material, a layer having irregularities on the surface, and / or a translucent member such as a convex lens may be laminated on the fluorescent layer 5.

蛍光層5の厚さは、蛍光体の含有量、半導体発光素子構造体3が発光する光と、波長変換後の光との混色後の色調などによって定めることができるが、例えば、1μm以上かつ1000μm以下とすることができ、5μm以上かつ500μm以下とすることが好ましく、10μm以上かつ200μm以下とすることがより好ましい。   The thickness of the fluorescent layer 5 can be determined by the phosphor content, the color tone after color mixing of the light emitted from the semiconductor light emitting element structure 3 and the light after wavelength conversion, etc. 1000 μm or less, preferably 5 μm or more and 500 μm or less, more preferably 10 μm or more and 200 μm or less.

(蛍光体)
蛍光層5に含有される蛍光体としては、窒化物半導体を活性層とするLEDチップ1が発光する光により励起されて発光可能な、Ce(セリウム)で付活されたイットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光体をベースとしたものを用いることができる。具体的なイットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光体としては、YAlO:Ce、YAl12Y:Ce(YAG:Ce)やYAl:Ce、更にはこれらの混合物などが挙げられる。イットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光体にBa、Sr、Mg、Ca、Znの少なくとも一種が含有されていてもよい。また、イットリウムに代えてルテチウムを用いてもよい。
(Phosphor)
The phosphor contained in the phosphor layer 5 is an yttrium / aluminum oxide based material activated by Ce (cerium) that can be excited by the light emitted from the LED chip 1 having a nitride semiconductor as an active layer. A phosphor-based material can be used. Specific examples of the yttrium / aluminum oxide phosphor include YAlO 3 : Ce, Y 3 Al 5 O 12 Y: Ce (YAG: Ce), Y 4 Al 2 O 9 : Ce, and a mixture thereof. Can be mentioned. The yttrium / aluminum oxide phosphor may contain at least one of Ba, Sr, Mg, Ca, and Zn. Further, lutetium may be used instead of yttrium.

他にも青色、青緑色や緑色を吸収して赤色が発光可能な蛍光体としては、Eu及び/又はCrで付活されたサファイア(酸化アルミニウム)蛍光体やEu及び/又はCrで付活された窒素含有Ca−Al−SiO蛍光体(オキシナイトライド蛍光硝子)等が挙げられる。これらの蛍光体を利用して発光素子からの光と蛍光体からの光の混色により白色光を得ることもできる。 Other phosphors that can absorb blue, blue-green, and green and emit red light are sapphire (aluminum oxide) phosphors activated with Eu and / or Cr, and activated with Eu and / or Cr. And nitrogen-containing Ca—Al 2 O 3 —SiO 2 phosphor (oxynitride fluorescent glass). Using these phosphors, white light can also be obtained by mixing the light from the light emitting element and the light from the phosphor.

また、前記したCeで付活されたYAG系蛍光体とEu及び/又はCrで付活された窒素含有Ca-Al-Si-O-N系オキシナイトライド蛍光硝子とを組み合わせることにより、青色系が発光可能な半導体発光素子構造体3を利用して演色性の高い白色発光ダイオードを形成させることもできる。   Further, by combining the above-described YAG phosphor activated with Ce and nitrogen-containing Ca—Al—Si—ON—oxynitride fluorescent glass activated with Eu and / or Cr, It is also possible to form a white light emitting diode having high color rendering properties by using the semiconductor light emitting element structure 3 capable of emitting light.

(拡散材)
拡散材は、LEDチップ1及び蛍光体の発する光を拡散させるために添加されるものである。具体的には、酸化チタン、酸化ケイ素、中空酸化ケイ素、酸化アルミニウム、チタン酸カリウム、酸化亜鉛、窒化硼素を用いることができる。また、シリコーンパウダーなどの樹脂の粉末を用いてもよい。拡散材の平均粒径は、例えば0.001μm以上かつ100μm以下とすることができ、0.005μm以上かつ50μm以下とすることが好ましい。
(Diffusion material)
The diffusing material is added to diffuse the light emitted from the LED chip 1 and the phosphor. Specifically, titanium oxide, silicon oxide, hollow silicon oxide, aluminum oxide, potassium titanate, zinc oxide, and boron nitride can be used. Also, resin powder such as silicone powder may be used. The average particle diameter of the diffusing material can be, for example, 0.001 μm or more and 100 μm or less, and preferably 0.005 μm or more and 50 μm or less.

(バインダー(樹脂))
バインダーは、前記した蛍光体や拡散材を、蛍光層5としてLEDチップ1の光取り出し面に結着させるための樹脂である。バインダーとなる樹脂としては、熱硬化性樹脂が好ましい。例えば、ジメチル系シリコーン樹脂、フェニル系シリコーン樹脂、ジメチル/フェニルのハイブリッドシリコーン樹脂、エポキシ/シリコーンのハイブリッド樹脂、フッ素樹脂、アダマンタン樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ハイブリッドエポキシ樹脂、ウレタン樹脂などを用いることができる。特に、耐熱、耐光性、透過率の高い、シリコーン樹脂、フッ素樹脂が好ましい。また、バインダーに、硬度を上げるために、ガラス成分を配合させてもよい。また、LEDチップ1との密着性を向上させるために、密着性付与剤を加えてもよい。密着性付与剤としては、例えば、シラン系カップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤などを用いることができる。
(Binder (resin))
The binder is a resin for binding the above-described phosphor or diffusing material to the light extraction surface of the LED chip 1 as the fluorescent layer 5. As the resin serving as the binder, a thermosetting resin is preferable. For example, dimethyl silicone resin, phenyl silicone resin, dimethyl / phenyl hybrid silicone resin, epoxy / silicone hybrid resin, fluorine resin, adamantane resin, alicyclic epoxy resin, hybrid epoxy resin, urethane resin, etc. may be used. it can. In particular, silicone resin and fluororesin having high heat resistance, light resistance, and high transmittance are preferable. Further, a glass component may be added to the binder in order to increase the hardness. Moreover, in order to improve adhesiveness with LED chip 1, you may add an adhesive imparting agent. As an adhesion imparting agent, for example, a silane coupling agent, a titanate coupling agent, an aluminum coupling agent, or the like can be used.

本実施形態に係る発光素子10は、蛍光体5を備えるように構成したが、これに限定されるものではなく、蛍光層5を備えないで構成するようにしてもよい。また、蛍光層5を設ける場合において、蛍光体を樹脂などのバインダーで固定するものに限らず、蛍光体粒子をALD(Atomic Layer Deposition;原子層堆積)法やMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition;有機金属化学的気相成長)法、PECVD(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition;プラズマCVD)法、大気圧プラズマ成膜法などにより、例えば、SiOやAlなどの被膜を形成して、蛍光体粒子を発光素子10に固定するようにしてもよい。 Although the light emitting element 10 according to the present embodiment is configured to include the phosphor 5, the present invention is not limited thereto, and may be configured without the phosphor layer 5. In addition, when the fluorescent layer 5 is provided, the phosphor is not limited to the one in which the phosphor is fixed with a binder such as a resin, but the phosphor particles may be ALD (Atomic Layer Deposition) method or MOCVD (Metal Organic Chemical Vapor Deposition). For example, a coating such as SiO 2 or Al 2 O 3 is formed by a metal chemical vapor deposition (PECVD) method, a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method, an atmospheric pressure plasma deposition method, etc. The body particles may be fixed to the light emitting element 10.

(反射層(絶縁層))
反射層6は、絶縁層であり、LEDチップ1が発光し、横方向又は下方向に進行する光を、光取り出し面である蛍光層5側に反射する機能を備えた部材である。
本実施形態では、反射層6は、LEDチップ1の下面(半導体発光素子構造体3側)を被覆するとともに、側面を包囲するように被覆する、反射材を含有する樹脂層であり、バインダーとなる樹脂に、光反射材の他に、充填材を含有して構成されてもよい。
(Reflective layer (insulating layer))
The reflective layer 6 is an insulating layer and is a member having a function of reflecting the light emitted from the LED chip 1 and traveling in the lateral direction or the downward direction to the fluorescent layer 5 side that is a light extraction surface.
In the present embodiment, the reflective layer 6 is a resin layer containing a reflective material that covers the lower surface (the semiconductor light emitting element structure 3 side) of the LED chip 1 and covers the side surface, and includes a binder and In addition to the light reflecting material, the resulting resin may contain a filler.

また、本実施形態において、反射層6は、高い保磁力を有する磁性体を含有し、発光素子10の実装面である下面側の層の少なくとも2つの所定の領域が、それぞれ所定の磁化方向に磁化した磁化領域が形成されている。
このように、反射層6に光反射機能と磁化領域形成機能とを兼ねた絶縁層とすることにより、発光素子10の製造工程を簡略化することができる。また、磁化領域を形成する絶縁層は、本実施形態のように、反射層6に限定されるものではない。例えば、SiOやSiNなどで構成される絶縁性の保護層に磁化領域を形成したものであってもよい。
なお、磁化領域の詳細については後記する。
Further, in the present embodiment, the reflective layer 6 contains a magnetic material having a high coercive force, and at least two predetermined regions of the lower surface side layer that is the mounting surface of the light emitting element 10 each have a predetermined magnetization direction. A magnetized magnetization region is formed.
Thus, the manufacturing process of the light emitting element 10 can be simplified by making the reflective layer 6 an insulating layer having both a light reflection function and a magnetization region forming function. Further, the insulating layer that forms the magnetized region is not limited to the reflective layer 6 as in the present embodiment. For example, a magnetized region may be formed in an insulating protective layer made of SiO 2 or SiN.
Details of the magnetization region will be described later.

反射層6は、半導体発光素子構造体3の光取り出し面を露出させて設けられるため、LEDチップ1が発光した光は、光取り出し面に設けられた蛍光層5を通過して外部に取り出される。このとき、蛍光層5を通過する光の一部は、蛍光層5に含有される蛍光体により長波長の光に変換されて外部に取り出され、また、他の光は、半導体発光素子構造体3が発光したそのままの波長の光で蛍光層5を透過して外部に取り出される。そして、蛍光体により波長変換されて取り出される光(例えば、黄色光)と、波長変換されずに取り出される光(例えば、青色光)とが混色された光(白色光)が、発光素子10から出力される。   Since the reflective layer 6 is provided with the light extraction surface of the semiconductor light emitting element structure 3 exposed, the light emitted from the LED chip 1 passes through the fluorescent layer 5 provided on the light extraction surface and is extracted to the outside. . At this time, a part of the light passing through the fluorescent layer 5 is converted into long-wavelength light by the phosphor contained in the fluorescent layer 5 and extracted outside, and the other light is emitted from the semiconductor light emitting element structure. 3 emits light of the same wavelength and passes through the fluorescent layer 5 and is extracted outside. Then, light (white light) in which light (for example, yellow light) extracted after wavelength conversion by the phosphor and light (for example, blue light) extracted without wavelength conversion is mixed from the light emitting element 10. Is output.

反射層6の厚さは、LEDチップ1が発光した光を反射するのに十分な厚さであることが好ましい。LEDチップ1の表面(半導体発光素子構造体3側)に形成された反射層6の厚さは、例えば、1μm以上かつ500μm以下とすることができ、5μm以上かつ200μm以下とすることが好ましく、10μm以上かつ100μm以下とすることがより好ましい。また、反射層6の半導体発光素子構造体3の側面側の厚さは、例えば、1μm以上かつ2000μm以下とすることができ、5μm以上かつ1000μm以下とすることが好ましく、10μm以上かつ500μm以下とすることがより好ましい。   The thickness of the reflective layer 6 is preferably sufficient to reflect the light emitted by the LED chip 1. The thickness of the reflective layer 6 formed on the surface of the LED chip 1 (semiconductor light-emitting element structure 3 side) can be, for example, 1 μm or more and 500 μm or less, and preferably 5 μm or more and 200 μm or less. More preferably, it is 10 μm or more and 100 μm or less. Further, the thickness of the reflective layer 6 on the side surface of the semiconductor light emitting element structure 3 can be, for example, 1 μm or more and 2000 μm or less, preferably 5 μm or more and 1000 μm or less, and 10 μm or more and 500 μm or less. More preferably.

なお、特にLEDチップ1の側面側の反射層6の厚さに、ある程度のバラツキが生じることを考慮して、光反射材の添加量などを調整することが好ましい。すなわち、反射層6の厚さが、このバラツキの範囲内で最小の厚さの場合に、厚さや光反射材の添加量などによって定まる反射層6の反射率が、反射層6に入射する光を、実質的にすべて反射するだけの反射率となるように、前記した光反射材の添加量などを調整して反射層6を形成することが好ましい。   In particular, it is preferable to adjust the addition amount of the light reflecting material in consideration of a certain degree of variation in the thickness of the reflective layer 6 on the side surface side of the LED chip 1. That is, when the thickness of the reflective layer 6 is the smallest within the range of the variation, the reflectance of the reflective layer 6 determined by the thickness, the amount of added light reflecting material, and the like is the light incident on the reflective layer 6. It is preferable to form the reflective layer 6 by adjusting the amount of addition of the light reflecting material described above so that the reflectance is such that substantially all of the light is reflected.

(バインダー)
バインダーは、前記した光反射材、充填材、磁性体を、反射層6としてLEDチップ1の側面及び表面(半導体発光素子構造体3側)に結着させるための材料である。バインダーとしては、前記した蛍光層5に用いるバインダーと同じものを用いることができる。
(binder)
The binder is a material for binding the light reflecting material, the filler, and the magnetic material to the side surface and the surface (semiconductor light emitting element structure 3 side) of the LED chip 1 as the reflective layer 6. As the binder, the same binder as that used for the fluorescent layer 5 can be used.

(光反射材)
光反射材は、LEDチップ1が発光した光を反射する部材である。光反射材としては、前記した蛍光層5に用いる拡散材と同じものを用いることができる。
また、光反射材をバインダーに混ぜないで、例えば、電気泳動堆積法により堆積させることで反射膜を形成するようにしてもよい。
(Light reflecting material)
The light reflecting material is a member that reflects the light emitted from the LED chip 1. As the light reflecting material, the same diffusing material used for the fluorescent layer 5 described above can be used.
In addition, the reflective film may be formed by depositing the light reflecting material without being mixed with the binder, for example, by electrophoretic deposition.

(磁性体)
磁性体は、キュリー温度が、室温ないし発光素子10の実装時にかかる温度よりも十分に高いものを用いる。例えば、フェライト(酸化鉄)、ネオジム鉄ボロン(Nd,Fe,B)、サマリウムコバルト(Sm,Co)、アルニコ(Al,Ni,Co)、サマリウム鉄窒素(Sm,Fe,N)、γ−Fe、CrO、Co−Ni薄膜、Co又はNbドープTiO、エルビウムドープチタン酸バリウム(Er:BaTiO)、CrドープZnTeなどがある。保磁力が高い磁性体である硬磁性体(フェライト(酸化鉄)、ネオジム鉄ボロン(Nd,Fe,B)、サマリウムコバルト(Sm,Co)、アルニコ(Al,Ni,Co)、サマリウム鉄窒素(Sm,Fe,N)など)の粉体や磁気記録材料として用いられるγ−Fe、CrO、Co−Ni薄膜などを用いることが好ましい。
(Magnetic material)
As the magnetic material, a material having a Curie temperature sufficiently higher than room temperature or a temperature required for mounting the light emitting element 10 is used. For example, ferrite (iron oxide), neodymium iron boron (Nd, Fe, B), samarium cobalt (Sm, Co), alnico (Al, Ni, Co), samarium iron nitrogen (Sm, Fe, N), γ-Fe 2 O 3 , CrO 2 , Co—Ni thin film, Co or Nb-doped TiO 2 , erbium-doped barium titanate (Er: BaTiO 3 ), Cr-doped ZnTe, and the like. Hard magnetic materials (ferrite (iron oxide), neodymium iron boron (Nd, Fe, B), samarium cobalt (Sm, Co), alnico (Al, Ni, Co), samarium iron nitrogen (magnetic materials having high coercive force) Sm, Fe, N), etc.) and γ-Fe 2 O 3 , CrO 2 , Co—Ni thin films and the like used as magnetic recording materials are preferably used.

また、Coドープ二酸化チタン、Feドープ二酸化チタン、(Co,Nb)ドープ二酸化チタン、Tb−B−Ga−SiOガラス、EuO−Al−SiOガラス、希土類鉄ガーネット、TSLAG(Tb(Sc,Lu)Al12)結晶、TGG(TbGa12)結晶、(Er,Sr)BaTiO結晶、TAG(TbAl12)結晶、Zn(1−x)MnTe、Zn(1−x)MnSe、Cd(1−x)MnTe、(Co,V,Mn)ドープZnO、(Co,V,Mn)ドープGaN、(Co,V,Mn)ドープAlN、GaMnAs、InMnAs、カルコパイライト型(Cd,Mn)GeP、閃亜鉛鉱型CrAsなどの磁性を有する透光性の誘電体を用いることもできる。透光性を有する磁性体を用いることで、磁性体による光の吸収を抑制することができるため好ましい。
なお、前記組成式で、0≦x≦1である。
Also, Co-doped titanium dioxide, Fe-doped titanium dioxide, (Co, Nb) -doped titanium dioxide, Tb 2 O 3 —B 2 O 3 —Ga 2 O 3 —SiO 2 glass, EuO—Al 2 O 3 —SiO 2 glass , Rare earth iron garnet, TSLAG (Tb 3 (Sc, Lu) 2 Al 3 O 12 ) crystal, TGG (Tb 3 Ga 5 O 12 ) crystal, (Er, Sr) BaTiO 3 crystal, TAG (Tb 3 Al 5 O 12) ) Crystal, Zn (1-x) Mn x Te, Zn (1-x) Mn x Se, Cd (1-x) Mn x Te, (Co, V, Mn) doped ZnO, (Co, V, Mn) doped GaN, (Co, V, Mn ) doped AlN, GaMnAs, InMnAs, chalcopyrite (Cd, Mn) GeP 2, Toru having magnetism, such as sphalerite CrAs It can also be used sexual dielectric. It is preferable to use a magnetic body having translucency because absorption of light by the magnetic body can be suppressed.
In the composition formula, 0 ≦ x ≦ 1.

また、粉体の平均粒径は、特に限定されるものではないが、反射層6の厚さより小さく、かつ、5nm〜50μm程度とすることが好ましい。
なお、本実施形態では、磁性体を電極ではなく、絶縁層である反射層6に含有させるため、発光素子10の電気的特性への影響を低減させながら、大きな磁力を発揮できるように、十分な量の磁性体を含有させることができる。
The average particle size of the powder is not particularly limited, but is preferably smaller than the thickness of the reflective layer 6 and about 5 nm to 50 μm.
In the present embodiment, since the magnetic material is contained in the reflective layer 6 that is an insulating layer, not an electrode, it is sufficient to exhibit a large magnetic force while reducing the influence on the electrical characteristics of the light-emitting element 10. An appropriate amount of magnetic substance can be contained.

また、磁性体は、実装面であり、かつ、磁化領域が形成される反射層6の下面側に含有されていればよく、側面側に含有されないように構成してもよい。更に、反射層6の下面において、磁性体が実装面側に偏在するように含有させてもよい。これによって、磁性体による光吸収を抑制することができる。また、少量の磁性体で強い磁力を得ることができる。   In addition, the magnetic body may be included on the mounting surface and on the lower surface side of the reflective layer 6 where the magnetized region is formed, and may be configured not to be included on the side surface side. Furthermore, you may contain in the lower surface of the reflection layer 6 so that a magnetic body may be unevenly distributed to the mounting surface side. Thereby, light absorption by the magnetic material can be suppressed. Moreover, a strong magnetic force can be obtained with a small amount of magnetic material.

発光素子10に設けられる磁化領域6n、6pは、後記する実装基板20側に設けられる磁化領域23n、23pと、実装されたときに接するように設けられることが好ましい。これにより、発光素子10側の磁化領域6n、6pと実装基板20側の磁化領域23n、23pとの間に、より強い磁力を働かせることができるため、発光素子10の位置決めが容易となる。加えて、発光素子10に設けられる磁化領域6n、6pと、実装基板20に実装される電極3n、3p又はバンプ4n、4pの表面とは、同一平面上にあることが好ましい。これにより、磁力を強く働かせながら、発光素子10の実装を容易とすることができる。   The magnetized regions 6n and 6p provided in the light emitting element 10 are preferably provided so as to be in contact with magnetized regions 23n and 23p provided on the mounting substrate 20 side to be described later. Accordingly, a stronger magnetic force can be applied between the magnetized regions 6n and 6p on the light emitting element 10 side and the magnetized regions 23n and 23p on the mounting substrate 20 side, so that the positioning of the light emitting element 10 is facilitated. In addition, the magnetized regions 6n and 6p provided in the light emitting element 10 and the surfaces of the electrodes 3n and 3p or the bumps 4n and 4p mounted on the mounting substrate 20 are preferably on the same plane. Thereby, mounting of the light emitting element 10 can be facilitated while exerting a strong magnetic force.

(充填材)
充填材は、樹脂層である反射層6の強度を上げるために添加されるものである。なお、充填材を添加することで、反射層6の熱伝導率を上げて放熱性を高めることができる。充填材としては、ガラス繊維、ウィスカー、酸化アルミニウム、酸化ケイ素、窒化硼素、酸化亜鉛、窒化アルミニウムなどを用いることができる。
(Filler)
The filler is added to increase the strength of the reflective layer 6 that is a resin layer. In addition, by adding a filler, the heat conductivity of the reflective layer 6 can be raised and heat dissipation can be improved. As the filler, glass fiber, whisker, aluminum oxide, silicon oxide, boron nitride, zinc oxide, aluminum nitride, or the like can be used.

(実装基板)
実装基板20は、図1(a)及び図2(a)に示すように、支持基板21と、支持基板21の上面に配設された素子載置部22n、22pとを備えて構成されている。
支持基板21は、ガラス、セラミックス、エポキシ樹脂やポリイミドなどの樹脂などの絶縁材料、又は銅、アルミニウムなどの金属材料を基材として絶縁膜で被覆した複合材料を用いることができる。また、樹脂などの絶縁材料を基材として、裏面側に金属膜を設けた複合材料を用いることもできる。
実装基板20の形状は特に限定されるものではなく、厚肉の固い基板でもよく、薄肉のフレキシブル基板であってもよい。
(Mounting board)
As shown in FIGS. 1A and 2A, the mounting substrate 20 includes a support substrate 21 and element mounting portions 22 n and 22 p disposed on the upper surface of the support substrate 21. Yes.
The support substrate 21 can be made of an insulating material such as glass, ceramics, resin such as epoxy resin or polyimide, or a composite material coated with an insulating film using a metal material such as copper or aluminum as a base material. Alternatively, a composite material in which an insulating material such as a resin is used as a base material and a metal film is provided on the back surface side can be used.
The shape of the mounting substrate 20 is not particularly limited, and may be a thick and hard substrate or a thin and flexible substrate.

素子載置部(第1配線パターン)22n及び素子載置部(第2配線パターン)22pは、配線パターンの一部であって、発光素子10を実装するための部位である。本実施形態においては、素子載置部22n、22pは、磁性体を含有し、発光素子10の反射層6の磁化領域6n、6pと符合して磁気引力が作用するように素子載置部22n、22pの全域が、それぞれ所定の磁化方向に磁化され、それぞれ磁化領域23n、23pを形成している。
なお、磁化領域23n、23pの詳細については後記する。
The element mounting portion (first wiring pattern) 22n and the element mounting portion (second wiring pattern) 22p are part of the wiring pattern and are portions for mounting the light emitting element 10. In the present embodiment, the element mounting portions 22n and 22p contain a magnetic material, and are aligned with the magnetization regions 6n and 6p of the reflective layer 6 of the light emitting element 10 so that the magnetic attraction acts so as to act. , 22p are respectively magnetized in a predetermined magnetization direction to form magnetized regions 23n, 23p, respectively.
Details of the magnetized regions 23n and 23p will be described later.

また、実装基板20は、外部の電源と接続するための不図示の電極端子及びこの電極端子と前記した素子載置部22n、22pとを電気的に導通させるための不図示の配線パターンが設けられている。
素子載置部22n、22pを含めて、配線パターンは、金属などの導電性材料を用いて形成することができ、銅、アルミニウム、金などの電気良導体を用いることが好ましい。
また、素子載置部22n、22pが含有する磁性体としては、特に限定されないが、前記した反射層6に含有させる磁性体材料と同様のものを用いることができる。
Further, the mounting substrate 20 is provided with an electrode terminal (not shown) for connecting to an external power source and a wiring pattern (not shown) for electrically connecting the electrode terminal and the element mounting portions 22n and 22p. It has been.
The wiring pattern including the element mounting portions 22n and 22p can be formed using a conductive material such as metal, and it is preferable to use a good electrical conductor such as copper, aluminum, or gold.
The magnetic material contained in the element mounting portions 22n and 22p is not particularly limited, but the same magnetic material as that contained in the reflective layer 6 can be used.

更にまた、素子載置部22n、22pの下層を磁性体材料を用いて形成し、バンプ4n、4pと電気的に接合する上層を前記した電気良導体を用い形成する多層構造としてもよい。なお、多層構造とする場合は、磁性体を含有する層は、例えば、前記した反射層6と同様に、磁性体の粉体を樹脂で固めることで形成することができる。磁性体を含有させる層を本来の電気配線のための層と分離することで、配線パターンの電気的特性の低下を防止することができる。また、配線パターンの電気的特性への影響を低減させつつ、大きな磁力を発揮できるように、十分な量の磁性体を下層に含有させることができる。   Furthermore, the lower layer of the element mounting portions 22n and 22p may be formed using a magnetic material, and the upper layer that is electrically connected to the bumps 4n and 4p may be formed using the above-described good electrical conductor. In the case of a multilayer structure, the layer containing the magnetic material can be formed by, for example, solidifying the magnetic material powder with a resin as in the case of the reflective layer 6 described above. By separating the layer containing the magnetic material from the layer for the original electrical wiring, it is possible to prevent the electrical characteristics of the wiring pattern from being deteriorated. In addition, a sufficient amount of magnetic material can be contained in the lower layer so that a large magnetic force can be exhibited while reducing the influence on the electrical characteristics of the wiring pattern.

(封止部材)
封止部材30は、実装基板20の上面と、実装基板20上に実装された発光素子10とを封止する透光性の樹脂層である。封止部材30の材料としては、前記した蛍光層5のバインダーとして用いられる樹脂と同様のものを用いることができる。
また、蛍光層5に代えて又は蛍光層5に加えて、蛍光体を封止部材30中に含有させてもよい。
(Sealing member)
The sealing member 30 is a translucent resin layer that seals the upper surface of the mounting substrate 20 and the light emitting element 10 mounted on the mounting substrate 20. As a material of the sealing member 30, the same resin as that used as the binder of the fluorescent layer 5 described above can be used.
Further, instead of the fluorescent layer 5 or in addition to the fluorescent layer 5, a phosphor may be contained in the sealing member 30.

(磁化領域)
次に、図2(a)及び図2(b)を参照して、発光素子10の反射層6及び実装基板20の素子載置部22n、22pの磁化領域について説明する。ここで、図2(b)は、図2(a)のA−A線における断面図である。また、図2(b)においては、磁化領域6n、6p、23n、23p以外の部材の断面のハッチングは省略している。
なお、図2(a)及び図2(b)において、濃淡の2色の何れかで網掛けを施した領域が磁化領域であることを示している。本例では、磁化方向は反射層6又は素子載置部22n、22pの膜面に垂直方向である。
(Magnetized region)
Next, with reference to FIG. 2A and FIG. 2B, the magnetization region of the reflective layer 6 of the light emitting element 10 and the element mounting portions 22n and 22p of the mounting substrate 20 will be described. Here, FIG.2 (b) is sectional drawing in the AA line of Fig.2 (a). Further, in FIG. 2B, hatching of cross sections of members other than the magnetized regions 6n, 6p, 23n, and 23p is omitted.
In FIGS. 2A and 2B, it is shown that the shaded region in one of the two shades of color is a magnetized region. In this example, the magnetization direction is perpendicular to the film surface of the reflective layer 6 or the element mounting portions 22n and 22p.

また、図2において、濃い網掛けを施した領域がN極、淡い網掛けを施した領域がS極を示す。つまり、図2(a)において、濃い網掛けを施した領域は上面がN極で、図示されていないが、その下面がS極であり、淡い網掛けを施した領域は上面がS極で、下面がN極であることを示す。
また、図2(b)において、磁化領域の各層において上半分に濃い網掛けを、下半分に淡い網掛けを施した領域は、上面がN極、下面がS極であることを示し、上半分に淡い網掛けを、下半分に濃い網掛けを施した領域は、上面がS極、下面がN極であることを示す。
In FIG. 2, the dark shaded area indicates the N pole, and the light shaded area indicates the S pole. That is, in FIG. 2 (a), the dark shaded area has an N pole on the upper surface and is not shown, but its lower face is the S pole, and the light shaded area has an S pole on the upper face. , Indicating that the bottom surface is an N pole.
Further, in FIG. 2B, in each layer of the magnetized region, a region where the upper half is darkly shaded and the lower half is lightly shaded indicates that the upper surface is an N pole and the lower surface is an S pole. A region where light shading is applied to the half and dark shading is applied to the lower half indicates that the upper surface is the S pole and the lower surface is the N pole.

本実施形態では、反射層6に磁性体を含有させ、発光素子10の実装面である反射層6の底面側の所定の領域を、所定の磁化方向に磁化させて磁気パターンを形成するとともに、実装基板20の上面に配設された配線パターンである素子載置部22n、22pの磁化領域によって形成される磁気パターンと符合させることで、発光素子10を実装基板20に載置する際に、発光素子10と実装基板20との間の位置合わせが自動的に行われるように(セルフアライメント)するものである。   In the present embodiment, the reflective layer 6 contains a magnetic material, and a predetermined region on the bottom surface side of the reflective layer 6 that is the mounting surface of the light emitting element 10 is magnetized in a predetermined magnetization direction to form a magnetic pattern, When the light emitting element 10 is mounted on the mounting substrate 20 by matching with the magnetic pattern formed by the magnetization regions of the element mounting portions 22n and 22p, which are wiring patterns disposed on the upper surface of the mounting substrate 20, The alignment between the light emitting element 10 and the mounting substrate 20 is performed automatically (self-alignment).

図2(a)及び図2(b)に示すように、発光素子10の反射層6の底面側の層において、n側電極3n(図1(b)参照)と接続されるバンプ4nを取り囲む磁化領域(第1磁化領域)6nは、上面側がS極(下面側がN極)となるように膜面に垂直に磁化されている。また、p側電極3p(図1(b)参照)と接続されるバンプ4pを取り囲む磁化領域(第2磁化領域)6pは、上面側がN極(下面側がS極)となるように膜面に垂直に磁化されている。また、磁化領域6n及び磁化領域6pは、平面視で発光素子10を中心線で2分した領域のそれぞれ左半分及び右半分が割当てられている。
このように、発光素子10の実装面である底面の略全面を磁化領域6n、6pとし、磁化領域6nと磁化領域6pとを等分することにより、発光素子10を実装基板20に載置する際に、位置合わせのために有効に作用する磁力が大きくなるため好ましい。
As shown in FIG. 2A and FIG. 2B, the bump 4n connected to the n-side electrode 3n (see FIG. 1B) is surrounded in the bottom layer of the reflective layer 6 of the light emitting element 10. The magnetized region (first magnetized region) 6n is magnetized perpendicularly to the film surface so that the upper surface side is the S pole (the lower surface side is the N pole). Further, the magnetized region (second magnetized region) 6p surrounding the bump 4p connected to the p-side electrode 3p (see FIG. 1B) is on the film surface so that the upper surface side is the N pole (the lower surface side is the S pole). Magnetized vertically. The magnetized region 6n and the magnetized region 6p are respectively assigned to the left half and the right half of the region obtained by dividing the light emitting element 10 by the center line in plan view.
As described above, the light emitting element 10 is mounted on the mounting substrate 20 by dividing substantially the entire bottom surface, which is the mounting surface of the light emitting element 10, into the magnetized regions 6n and 6p and equally dividing the magnetized region 6n and the magnetized region 6p. At this time, it is preferable because the magnetic force that effectively acts for alignment is increased.

また、発光素子10の平面視での形状が長手方向と短手方向とを有する長方形である場合、長手方向の一方の端部(辺)に磁化領域6nを設け、他方の端部(辺)に磁化領域6pを設けることが好ましい。ここで磁化領域6n、6pを端部に設けるとは、端部及びその近傍のみに設けることに限らず、図2に示した例のように、互いに端部から他方の磁化領域の近傍にまで設けることも含まれる。少なくとも、2つの磁化領域6n、6pを、互いになるべく離れた位置にまで設けることにより、磁化パターンが形成される領域が広くなるため、磁気パターンを利用した位置合わせの精度を高くすることができる。
また、平面視で矩形状の実装面において、前記したように対向する辺の近傍に磁化領域6n、6pを設ける他に、対角線上の両端(角部)に、それぞれ磁化領域6nと磁化領域6pとを設けるようにしてもよい。
When the shape of the light emitting element 10 in a plan view is a rectangle having a longitudinal direction and a short direction, a magnetized region 6n is provided at one end (side) in the longitudinal direction, and the other end (side). It is preferable to provide a magnetized region 6p. Here, the provision of the magnetized regions 6n and 6p at the end is not limited to the end and the vicinity thereof, but from the end to the vicinity of the other magnetized region as in the example shown in FIG. Provision is also included. By providing at least the two magnetized regions 6n and 6p as far as possible from each other, the region in which the magnetized pattern is formed becomes wider, so that the alignment accuracy using the magnetic pattern can be increased.
In addition to providing the magnetized regions 6n and 6p in the vicinity of the opposing sides as described above on the rectangular mounting surface in plan view, the magnetized regions 6n and 6p are respectively provided at opposite ends (corner portions) on the diagonal line. May be provided.

更にまた、平面視で、磁化領域6n及び磁化領域6pを、それぞれバンプ4n及びバンプ4pを取り囲むように設けることにより、磁化領域6n、6pによって形成される磁気パターンを利用したバンプ4n、4pの位置合わせを精度よく行うことができて好ましい。   Furthermore, by providing the magnetized region 6n and the magnetized region 6p so as to surround the bump 4n and the bump 4p, respectively, in a plan view, the positions of the bumps 4n and 4p using the magnetic pattern formed by the magnetized regions 6n and 6p. It is preferable because the alignment can be performed with high accuracy.

一方、実装基板20の素子載置部22nは全域が、上面側がS極となるように膜面に垂直に磁化されて、磁化領域(第3磁化領域)23nを形成している。また、素子載置部22pはその全域が、上面側がN極となるように膜面に垂直に磁化されて、磁化領域(第4磁化領域)23pを形成している。   On the other hand, the entire element mounting portion 22n of the mounting substrate 20 is magnetized perpendicularly to the film surface so that the upper surface side is the S pole, thereby forming a magnetization region (third magnetization region) 23n. Further, the entire element mounting portion 22p is magnetized perpendicularly to the film surface so that the upper surface side is the N pole, thereby forming a magnetized region (fourth magnetized region) 23p.

このように構成することで、発光素子10を実装基板20に載置する際に、対向する発光素子10の下面と実装基板20の上面との間で磁気引力が作用する領域同士、すなわち、磁化領域6nと磁化領域23nとの組と、及び磁化領域6pと磁化領域23pとの組とが、それぞれ接触するように発光素子10が実装基板20に載置される。これによって、磁化領域6nに囲まれたバンプ4nと素子載置部22nとが接触し、磁化領域6pに囲まれたバンプ4pと素子載置部22pとが接触するように発光素子10が実装基板20に載置される。
磁力を利用した位置合わせの詳細については、後記する製造方法において説明する。
With this configuration, when the light emitting element 10 is placed on the mounting substrate 20, areas where magnetic attraction acts between the lower surface of the opposing light emitting element 10 and the upper surface of the mounting substrate 20, that is, magnetization The light emitting element 10 is mounted on the mounting substrate 20 so that the set of the region 6n and the magnetized region 23n and the set of the magnetized region 6p and the magnetized region 23p are in contact with each other. As a result, the bump 4n surrounded by the magnetized region 6n and the element mounting portion 22n are in contact with each other, and the bump 4p surrounded by the magnetized region 6p and the element mounting portion 22p are in contact with each other. 20.
Details of alignment using magnetic force will be described in the manufacturing method described later.

なお、発光素子10、実装基板20、及びこれらを構成する各部材の形状は図1に示したものに限定されず、任意の形状とすることができる。また、発光素子10のバンプ4n、4pと磁化領域6n、6pとの位置関係、及び磁化領域6n、6pと磁化領域23n、23pとの位置関係は、図1に示した例に限定されるものではない。磁化領域6n、6pは同形とすることに限定されず、また、それぞれバンプ4n、4pを取り囲むように形成することに限定されない。発光素子10側の磁気パターンと、実装基板20側の磁気パターンとが符合し、バンプ4nと素子載置部22nと、バンプ4pと素子載置部22pとが良好に接合されるよう磁化領域6n、6p、23n、23pが形成されていればよい。   In addition, the shape of the light emitting element 10, the mounting board | substrate 20, and each member which comprises these is not limited to what was shown in FIG. 1, It can be set as arbitrary shapes. Further, the positional relationship between the bumps 4n, 4p of the light emitting element 10 and the magnetized regions 6n, 6p and the positional relationship between the magnetized regions 6n, 6p and the magnetized regions 23n, 23p are limited to the example shown in FIG. is not. The magnetized regions 6n and 6p are not limited to the same shape, and are not limited to be formed so as to surround the bumps 4n and 4p, respectively. The magnetic region 6n so that the magnetic pattern on the light emitting element 10 side matches the magnetic pattern on the mounting substrate 20 side, and the bump 4n and the element mounting portion 22n and the bump 4p and the element mounting portion 22p are favorably bonded. , 6p, 23n, and 23p may be formed.

[発光装置の動作]
図1に示した本発明の第1実施形態に係る発光装置100は、不図示の外部電源から実装基板20に設けられた不図示の電源接続用の電極端子を介して電力が供給されると、素子載置部22p、バンプ4p、LEDチップ1、バンプ4n、素子載置部22nの経路で電流が流れる。LEDチップ1に電流が流れることによって、LEDチップ1は青色光を発光する。LEDチップ1が発光した青色光は、直接に、又は反射層6、n側電極3n、p側電極3p、全面電極3dなどによって反射されて、基板2側(図1(a)の上方向)から蛍光層5を通過して取り出される。このとき、蛍光層5を通過する青色光の一部は、蛍光層5に含有される蛍光体によって吸収され、波長の長い黄色光に変換されて取り出される。これによって、発光素子10からは、蛍光層5を波長変換されずに通過する青色光と、蛍光層5で波長変換された黄色光とが混色された白色光が出力される。そして、発光装置100は、発光素子10から出力される白色光を、透光性の封止部材30を介して出力する。
[Operation of light emitting device]
When the light emitting device 100 according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1 is supplied with electric power from an external power supply (not shown) through an electrode terminal (not shown) for power supply provided on the mounting substrate 20. A current flows through the path of the element mounting portion 22p, the bump 4p, the LED chip 1, the bump 4n, and the element mounting portion 22n. When an electric current flows through the LED chip 1, the LED chip 1 emits blue light. The blue light emitted from the LED chip 1 is reflected directly or by the reflective layer 6, the n-side electrode 3n, the p-side electrode 3p, the full-surface electrode 3d, etc., and the substrate 2 side (upward direction in FIG. 1A). Is taken out through the fluorescent layer 5. At this time, a part of the blue light passing through the fluorescent layer 5 is absorbed by the phosphor contained in the fluorescent layer 5, converted into yellow light having a long wavelength, and extracted. As a result, the light emitting element 10 outputs white light in which blue light passing through the fluorescent layer 5 without wavelength conversion and yellow light wavelength-converted by the fluorescent layer 5 are mixed. The light emitting device 100 outputs the white light output from the light emitting element 10 through the translucent sealing member 30.

[発光装置の製造方法]
本発明の第1実施形態に係る発光装置の製造方法について、図3を参照して説明する。
図3に示すように、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法は、発光素子製造工程S10と、発光素子載置工程S11と、電極接合工程S12と、封止工程S13と、が順次行われる。
[Method for Manufacturing Light Emitting Device]
A method of manufacturing the light emitting device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 3, in the method for manufacturing the light emitting device 100 according to the first embodiment, the light emitting element manufacturing step S10, the light emitting element mounting step S11, the electrode bonding step S12, and the sealing step S13 are sequentially performed. Done.

(発光素子製造工程:S10)
まず、発光素子製造工程S10において、発光素子10を製造する。
ここで、発光素子10を製造する発光素子製造工程S10について、図4〜図6を参照(適宜図1及び図2参照)して詳細に説明する。
(Light emitting element manufacturing process: S10)
First, in the light emitting element manufacturing step S10, the light emitting element 10 is manufactured.
Here, the light emitting element manufacturing step S10 for manufacturing the light emitting element 10 will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 6 (refer to FIGS. 1 and 2 as appropriate).

発光素子製造工程S10においては、図4に示すように、サブ工程である半導体発光素子構造体形成工程S100と、バンプ形成工程S101と、第1個片化工程S102と、チップ選別工程S103と、第1キャリア貼付工程S104と、反射層形成工程S105と、反射層厚さ調整工程S106と、清浄化工程S107と、第2キャリア貼付工程S108と、蛍光層形成工程S109と、蛍光層厚さ調整工程S110と、第2個片化工程S111と、着磁工程S112と、が順次行われる。   In the light emitting element manufacturing process S10, as shown in FIG. 4, the semiconductor light emitting element structure forming process S100, which is a sub process, a bump forming process S101, a first singulation process S102, a chip sorting process S103, First carrier sticking step S104, reflective layer forming step S105, reflective layer thickness adjusting step S106, cleaning step S107, second carrier sticking step S108, fluorescent layer forming step S109, and fluorescent layer thickness adjusting Step S110, second singulation step S111, and magnetization step S112 are sequentially performed.

次に、図5を参照(適宜図1、図2及び図4参照)して、各工程について具体的に説明する。
なお、本実施形態では、発光素子10は、基板2上に窒化物半導体を積層した半導体発光素子構造体3がマトリクス状に配列されて形成されたウエハ状態のLEDチップ1は、公知の方法で製造するものとして説明を簡略化し、チップ化されていないウエハ状態のLEDチップ1の製造工程より後の工程について図面を参照して説明する。
Next, referring to FIG. 5 (refer to FIGS. 1, 2 and 4 as appropriate), each step will be specifically described.
In this embodiment, the LED chip 1 in a wafer state in which the light emitting element 10 is formed by arranging the semiconductor light emitting element structures 3 in which the nitride semiconductors are stacked on the substrate 2 is arranged in a matrix form is a known method. The description will be simplified as what is to be manufactured, and a process subsequent to the manufacturing process of the LED chip 1 in a wafer state that has not been formed into chips will be described with reference to the drawings.

(半導体発光素子構造体形成工程:S100)
基板2上に半導体発光素子構造体3を形成する半導体発光素子構造体形成工程S100について簡略化して説明する。
まず、サファイアなどからなる基板2上に、MOVPE法(有機金属気相成長法)を用いて、例えば、窒化ガリウム系などの化合物半導体からなる、n型半導体層3a、活性層3b及びp型半導体層3cを構成するそれぞれの半導体層を成長させる。
(Semiconductor light emitting element structure forming step: S100)
The semiconductor light emitting element structure forming step S100 for forming the semiconductor light emitting element structure 3 on the substrate 2 will be described in a simplified manner.
First, an n-type semiconductor layer 3a, an active layer 3b, and a p-type semiconductor made of a compound semiconductor such as gallium nitride are formed on a substrate 2 made of sapphire or the like by using the MOVPE method (metal organic vapor phase epitaxy). Each semiconductor layer constituting the layer 3c is grown.

次に、n側電極3nを形成するために、n型半導体層3aの一部を露出させる。ウエハ上にフォトレジストにて所定の形状のマスクを形成して、RIE(反応性イオンエッチング)にて、p型半導体層3c及び活性層3b、更にn型半導体層3aの一部を除去して、n型半導体層3aを露出させる。エッチングの後、レジストを除去する。   Next, in order to form the n-side electrode 3n, a part of the n-type semiconductor layer 3a is exposed. A mask having a predetermined shape is formed on the wafer with a photoresist, and the p-type semiconductor layer 3c, the active layer 3b, and a part of the n-type semiconductor layer 3a are removed by RIE (reactive ion etching). The n-type semiconductor layer 3a is exposed. After the etching, the resist is removed.

次に、ウエハの全面に、全面電極3dとして、例えば、Ag/Ni/Ti/Ptを順次積層してなる多層膜をスパッタリングにて成膜する。そして、フォトリソグラフィ法により所定形状の全面電極3dを形成する。その後、カバー電極3eとして、例えば、Ti/Au/W/Tiを順次積層してなる多層膜をスパッタリングにて成膜する。そして、フォトリソグラフィ法により全面電極3dを遮蔽する所定形状のカバー電極3eを形成する。
また、類似の方法により、n側電極3nを形成する。
以上により、基板2上に半導体発光素子構造体3が形成されたウエハ状態のLEDチップ1が得られる。
Next, as a full-surface electrode 3d, for example, a multilayer film in which Ag / Ni / Ti / Pt is sequentially laminated is formed on the entire surface of the wafer by sputtering. Then, an entire surface electrode 3d having a predetermined shape is formed by photolithography. Thereafter, as the cover electrode 3e, for example, a multilayer film formed by sequentially stacking Ti / Au / W / Ti is formed by sputtering. Then, a cover electrode 3e having a predetermined shape that shields the entire surface electrode 3d is formed by photolithography.
Further, the n-side electrode 3n is formed by a similar method.
As described above, the LED chip 1 in the wafer state in which the semiconductor light emitting element structure 3 is formed on the substrate 2 is obtained.

また、半導体発光素子構造体3の表面全体に、例えば、スパッタリングにより、絶縁性のSiOなどを保護層として積層してもよい。 Further, the entire surface of the semiconductor light emitting element structure 3, for example, by sputtering, may be laminated like insulating SiO 2 as the protective layer.

(バンプ形成工程(外部接続用電極形成工程):S101)
次に、バンプ形成工程S101において、図5(a)に示すように、半導体発光素子構造体3の上面にバンプ4n、4pを形成する。なお、以降の製造方法の説明においては、バンプ4n、4pを合わせて、適宜にバンプ4と呼ぶこととする。バンプ4として、n側電極3n及びp側電極3p(図1(b)参照)上に、それぞれ、バンプ4n及びバンプ4pが形成される。
(Bump forming step (external connection electrode forming step): S101)
Next, in the bump forming step S101, bumps 4n and 4p are formed on the upper surface of the semiconductor light emitting element structure 3, as shown in FIG. In the following description of the manufacturing method, the bumps 4n and 4p are collectively referred to as the bump 4 as appropriate. As the bumps 4, bumps 4 n and bumps 4 p are formed on the n-side electrode 3 n and the p-side electrode 3 p (see FIG. 1B), respectively.

バンプ4は、n側電極3n及びp側電極3p(図1(b)参照)上に、ワイヤボンダを用いて形成することができる。例えば、Au(金)などの線材(ボンディングワイヤ)を、ワイヤボンダを用いて、半導体発光素子構造体3(のn側電極3n又はp側電極3p(図1(b)参照)上に接続し、半導体発光素子構造体3上に接続されたボンディングワイヤの端部に形成された球状の金属の塊をバンプ4として用いることができる。   The bump 4 can be formed on the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p (see FIG. 1B) using a wire bonder. For example, a wire (bonding wire) such as Au (gold) is connected to the semiconductor light emitting element structure 3 (the n-side electrode 3n or the p-side electrode 3p (see FIG. 1B)) using a wire bonder, A spherical metal lump formed at the end of the bonding wire connected on the semiconductor light emitting element structure 3 can be used as the bump 4.

また、バンプ4の形成方法はこれに限定されず、例えば、フォトレジストを用いてバンプ形成領域に開口を有するマスクパターンを形成し、電解メッキや無電解メッキによって金属のバンプを形成することもできる。   The method for forming the bumps 4 is not limited to this. For example, a mask pattern having an opening in the bump formation region can be formed using a photoresist, and metal bumps can be formed by electrolytic plating or electroless plating. .

(第1個片化工程:S102)
次に、第1個片化工程S102において、図5(b)に示すように、バンプ4を形成したウエハ状態のLEDチップ1をダイシングシート(不図示)に貼付し、ダイシングにより素子構造の境界線12に沿って切断し、チップ11に個片化する。
(First piece separation step: S102)
Next, in the first singulation step S102, as shown in FIG. 5B, the wafer-state LED chip 1 on which the bumps 4 are formed is pasted on a dicing sheet (not shown), and the boundary of the element structure is obtained by dicing. Cut along the line 12 and cut into chips 11.

(チップ選別工程:S103)
次に、チップ選別工程S103において、個片化された各チップ11について、半導体発光素子構造体3のn側電極3n上及びp側電極3p(図1(b)参照)上に形成されたバンプ4に電源装置を接続してチップ11を発光させ、発光波長を測定する。そして、発光波長が所定の範囲にあるチップ11を選別する。
(Chip selection process: S103)
Next, in the chip selection step S103, bumps formed on the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p (see FIG. 1B) of the semiconductor light emitting element structure 3 for each chip 11 separated into individual pieces. A power supply device is connected to 4 to cause the chip 11 to emit light, and the emission wavelength is measured. Then, the chips 11 whose emission wavelengths are in a predetermined range are selected.

(第1キャリア貼付工程(配列工程):S104)
次に、第1キャリア貼付工程S104において、チップ選別工程S103で選別したチップ11を、バンプ4を上側にして、所定の間隔を空けて粘着シート41が貼付されたキャリア40上に配列する。キャリア40上に配列されたチップ11は、粘着シート41によってキャリア40に貼付され、その位置が保持される。
(First carrier pasting step (array step): S104)
Next, in the first carrier sticking step S104, the chips 11 sorted in the chip sorting step S103 are arranged on the carrier 40 to which the adhesive sheet 41 is stuck at a predetermined interval with the bumps 4 facing upward. The chips 11 arranged on the carrier 40 are affixed to the carrier 40 by the adhesive sheet 41 and the position thereof is maintained.

なお、第1キャリア貼付工程S104において、例えば、不図示のコレットを用いて1個ずつチップ11を吸着し、キャリア40上に配列することができる。このとき、チップ11の間隔は、ある程度のバラツキが許容される。   In the first carrier attaching step S104, for example, the chips 11 can be adsorbed one by one using a collet (not shown) and arranged on the carrier 40. At this time, the gap between the chips 11 is allowed to vary to some extent.

ここで、キャリア(平板状の治具)40は、チップ11の配列を保持する板状の治具である。キャリア40は、剛性を有するセラミックス、ガラス、金属、プラスチックなどの板状部材を用いることができる。   Here, the carrier (flat jig) 40 is a plate-like jig that holds the arrangement of the chips 11. The carrier 40 can be a plate-shaped member such as ceramic, glass, metal, or plastic having rigidity.

(反射層形成工程(反射部材形成工程):S105)
次に、反射層形成工程S105において、図5(d)に示すように、キャリア40に貼付されたチップ11の表面(半導体発光素子構造体3側)及び側面に反射層6を形成する。具体的には、キャリア40を下金型50上に載置し、光反射材を含有した樹脂をチップ11を配列した面上に塗布し、上金型51で挟み込む。そして、上金型51から離型できる強度が得られるまで加熱して硬化(一次硬化)させる。その後、キャリア40を上下金型50,51から取り出し、オーブンに投入して、反射層6の樹脂を十分に硬化(二次硬化)させる。
(Reflective layer forming step (reflective member forming step): S105)
Next, in the reflective layer forming step S105, as shown in FIG. 5D, the reflective layer 6 is formed on the surface (semiconductor light emitting element structure 3 side) and side surfaces of the chip 11 attached to the carrier 40. Specifically, the carrier 40 is placed on the lower mold 50, a resin containing a light reflecting material is applied on the surface on which the chips 11 are arranged, and is sandwiched by the upper mold 51. And it heats and hardens (primary hardening) until the intensity | strength which can be released from the upper metal mold | die 51 is obtained. Thereafter, the carrier 40 is taken out from the upper and lower molds 50 and 51 and put into an oven to sufficiently cure (secondary curing) the resin of the reflective layer 6.

なお、前記した例では、樹脂をチップ11上に塗布した後で上金型51を下げ、圧縮成形するようにしたが、成形方法はこれに限定されるものではない。例えば、上下金型50,51を所定の位置に設置し、上下金型50,51の隙間から樹脂を注入するトランスファー成形を行うようにしてもよい。   In the example described above, the resin is applied onto the chip 11 and then the upper mold 51 is lowered and compression molded. However, the molding method is not limited to this. For example, the upper and lower molds 50 and 51 may be installed at predetermined positions, and transfer molding in which resin is injected from the gap between the upper and lower molds 50 and 51 may be performed.

(反射層厚さ調整工程:S106)
次に、反射層厚さ調整工程S106において、図5(e)に示すように、反射層6の表面(図5(e)において上面)を、研磨機60を用いて、研磨(又は研削)して、バンプ4を露出させるとともに、予め定めておいた研磨線61まで研磨(又は研削)して、反射層6を所定の厚さに調整する。このようにして、磁化領域6n、6pが形成される反射層6の表面と、後記する実装基板20と接合されるバンプ4の表面とを、同一平面上にすることができる。これによって、磁力を強く働かせながら、発光素子10の実装を容易とすることができる。
(Reflection layer thickness adjustment step: S106)
Next, in the reflective layer thickness adjusting step S106, as shown in FIG. 5E, the surface of the reflective layer 6 (upper surface in FIG. 5E) is polished (or ground) by using a polishing machine 60. Then, the bump 4 is exposed and polished (or ground) to a predetermined polishing line 61 to adjust the reflective layer 6 to a predetermined thickness. In this way, the surface of the reflective layer 6 on which the magnetized regions 6n and 6p are formed and the surface of the bump 4 bonded to the mounting substrate 20 described later can be on the same plane. Accordingly, it is possible to easily mount the light emitting element 10 while exerting a strong magnetic force.

(清浄化工程:S107)
次に、清浄化工程S107において、図5(f)に示すように、反射層6で一体化されたチップ11をキャリア40から剥離し、研磨により生じたバリや、ごみ等を除去する。
(Cleaning step: S107)
Next, in the cleaning step S107, as shown in FIG. 5F, the chip 11 integrated with the reflective layer 6 is peeled off from the carrier 40, and burrs, dust, and the like generated by polishing are removed.

清浄化の方法としては、ウォータージェットを用いることができる。他の清浄化の方法としては、例えば、プラズマ照射、レーザ照射、ブラストなどを用いることができる。   As a cleaning method, a water jet can be used. As other cleaning methods, for example, plasma irradiation, laser irradiation, blasting, or the like can be used.

(第2キャリア貼付工程:S108)
次に、第2キャリア貼付工程S108において、図5(g)に示すように、反射層6で一体化されているチップ11を、基板2が上側になるように、粘着シート43が貼付されたキャリア42に貼付する。なお、本工程で用いるキャリア42及び粘着シート43は、第1キャリア貼付工程S104で用いたキャリア40及び粘着シート41と同様のものを用いることができる。
(Second carrier pasting step: S108)
Next, in 2nd carrier sticking process S108, as shown in FIG.5 (g), the adhesive sheet 43 was affixed so that the board | substrate 2 might become an upper side, as shown in FIG.5 (g). Affixed to the carrier 42. In addition, the carrier 42 and the adhesive sheet 43 used at this process can use the thing similar to the carrier 40 and the adhesive sheet 41 used at 1st carrier sticking process S104.

(蛍光層形成工程:S109)
次に、蛍光層形成工程S109において、図5(h)に示すように、チップ11の基板2側の面に、蛍光層5を形成する。具体的には、キャリア42を下金型52上に載置し、蛍光体を含有した樹脂をチップ11の裏面上に塗布し、上金型53で挟み込んで、上金型53から離型できる強度が得られるまで加熱して硬化(一次硬化)させる。その後、キャリア42を上下金型52,53から取り出し、オーブンに投入して、蛍光層5の樹脂を十分に硬化(二次硬化)させる。
(Fluorescent layer forming step: S109)
Next, in the fluorescent layer forming step S109, as shown in FIG. 5H, the fluorescent layer 5 is formed on the surface of the chip 11 on the substrate 2 side. Specifically, the carrier 42 can be placed on the lower mold 52, a resin containing a phosphor is applied on the back surface of the chip 11, and sandwiched by the upper mold 53 to be released from the upper mold 53. It is heated and cured (primary curing) until strength is obtained. Thereafter, the carrier 42 is taken out from the upper and lower molds 52 and 53 and put into an oven to sufficiently cure (secondary curing) the resin of the fluorescent layer 5.

なお、本工程も、前記した反射層形成工程S105と同様に、圧縮成形に限定されず、トランスファー成形など他の成形方法を用いるようにしてもよい。   In addition, this process is not limited to compression molding similarly to the above-described reflective layer forming process S105, and other molding methods such as transfer molding may be used.

(蛍光層厚さ調整工程:S110)
次に、蛍光層厚さ調整工程S110において、図5(i)に示すように、蛍光層5の上面を、研磨機60を用いて、予め定めておいた研磨線62まで研磨(又は研削)して、蛍光層5を所定の厚さに調整する。これにより、発光素子10の発光色の色調を調整することができる。
(Fluorescent layer thickness adjustment step: S110)
Next, in the fluorescent layer thickness adjusting step S110, as shown in FIG. 5I, the upper surface of the fluorescent layer 5 is polished (or ground) to a predetermined polishing line 62 by using a polishing machine 60. Then, the fluorescent layer 5 is adjusted to a predetermined thickness. Thereby, the color tone of the luminescent color of the light emitting element 10 can be adjusted.

(第2個片化工程:S111)
次に、第2個片化工程S111において、図5(j)に示すように、反射層6及び蛍光層5により一体化されている発光素子10をダイシングシート(不図示)に貼付し、ダイシングにより発光素子10の境界線13に沿って切断して個片化する。
(Second piece separation step: S111)
Next, in the second singulation step S111, as shown in FIG. 5 (j), the light emitting element 10 integrated by the reflective layer 6 and the fluorescent layer 5 is attached to a dicing sheet (not shown), and dicing is performed. Is cut along the boundary line 13 of the light emitting element 10 to be separated into individual pieces.

(着磁工程:S112)
最後に、着磁工程S112において、着磁装置を用いて発光素子10の底面側の反射層6に磁界を印加し、所定の領域を所定の磁化方向に磁化することで磁化領域6n、6pを形成する。これによって、図1に示した発光素子10が完成する。
(Magnetization process: S112)
Finally, in the magnetizing step S112, a magnetic field is applied to the reflective layer 6 on the bottom surface side of the light emitting element 10 using a magnetizing device, and a predetermined region is magnetized in a predetermined magnetization direction so that the magnetized regions 6n and 6p are formed. Form. Thereby, the light emitting element 10 shown in FIG. 1 is completed.

ここで、図6を参照して、着磁装置の例について説明する。
図6(a)に示した着磁装置70は、ヨーク71と、着磁用の電源73と、両者を接続する電線74とから構成されている。ヨーク71はコア71nとコア71pとを有するように二股に形成されており、コア71n及びコア71pには、それぞれ互いに逆向きにコイル72n及びコイル72pが巻かれている。
Here, an example of a magnetizing apparatus will be described with reference to FIG.
The magnetizing device 70 shown in FIG. 6A includes a yoke 71, a magnetizing power source 73, and an electric wire 74 that connects them. The yoke 71 is bifurcated to have a core 71n and a core 71p, and a coil 72n and a coil 72p are wound around the core 71n and the core 71p in opposite directions, respectively.

この例では、コイル72nとコイル72pとは直列に接続されており、コイル72n側を電源73の正極に、コイル72p側を電源73の負極に接続して電流を流すことにより、コア71nの上面がN極となる上向きの磁界が発生するとともに、コア71pの上面がS極となる下向きの磁界が発生する。
コア71n及びコア71pの上面の形状は、それぞれ発光素子10の磁化領域6n及び磁化領域6pの形状に一致している。
In this example, the coil 72n and the coil 72p are connected in series, and the coil 72n side is connected to the positive electrode of the power source 73, and the coil 72p side is connected to the negative electrode of the power source 73 so that a current flows. As a result, an upward magnetic field with N poles is generated and a downward magnetic field with the upper surface of the core 71p being S poles is generated.
The shapes of the upper surfaces of the core 71n and the core 71p coincide with the shapes of the magnetization region 6n and the magnetization region 6p of the light emitting element 10, respectively.

図6(b)に示すように、着磁装置70のコア71nの上面及びコア71pの上面を、それぞれ発光素子10の磁化領域6n及び磁化領域6pとなる反射層6の底面に接触又は近接させ、前記したように磁界を発生させることで、磁化領域6nは垂直方向上向きに磁化し、磁化領域6pは垂直方向下向きに磁化する。
なお、着磁装置は二股のヨークを用いたものに限定されず、着磁コイルや磁化領域ごとに独立した複数の電磁石や永久磁石を用いたものでもよい。
As shown in FIG. 6B, the upper surface of the core 71n and the upper surface of the core 71p of the magnetizing device 70 are brought into contact with or close to the bottom surface of the reflective layer 6 that becomes the magnetized region 6n and the magnetized region 6p of the light emitting element 10, respectively. By generating a magnetic field as described above, the magnetized region 6n is magnetized upward in the vertical direction, and the magnetized region 6p is magnetized downward in the vertical direction.
The magnetizing device is not limited to one using a bifurcated yoke, and may be one using a plurality of electromagnets or permanent magnets that are independent for each magnetizing coil or magnetized region.

図3に戻って、発光装置100の製造方法について説明を続ける。
(発光素子載置工程:S11)
前記したように発光素子製造工程S10により製造された発光素子10は、発光素子載置工程S11において、実装基板20の素子載置部22n、22p上に電極の極性が整合するように載置される。
Returning to FIG. 3, the description of the method for manufacturing the light emitting device 100 will be continued.
(Light emitting element mounting step: S11)
As described above, the light emitting element 10 manufactured in the light emitting element manufacturing process S10 is placed on the element mounting portions 22n and 22p of the mounting substrate 20 so that the polarities of the electrodes are matched in the light emitting element mounting process S11. The

ここで、実装基板20は、予め、又は発光素子製造工程S10と並行して製造されるものとする。なお、実装基板20は、例えば、樹脂などの支持基板21上に金属などの導電材料を用いて配線パターンを形成することで製造される。このとき、配線パターンの内の素子載置部22n、22pについては、磁性体を含有した材料で形成される。そして、素子載置部22n、22pの所定の領域を、例えば、前記した発光素子10の着磁工程S112(図4参照)と同様にして着磁させることで、磁化領域23n、23pを形成することができる。   Here, the mounting substrate 20 is manufactured in advance or in parallel with the light emitting element manufacturing step S10. The mounting substrate 20 is manufactured, for example, by forming a wiring pattern on a support substrate 21 such as a resin using a conductive material such as a metal. At this time, the element mounting portions 22n and 22p in the wiring pattern are formed of a material containing a magnetic material. Then, magnetized regions 23n and 23p are formed by magnetizing predetermined regions of the element mounting portions 22n and 22p, for example, in the same manner as the magnetization step S112 (see FIG. 4) of the light emitting element 10 described above. be able to.

次に、図7を参照して、発光素子10が、磁力を利用して位置合わせをしながら、実装基板20上に載置される様子について説明する。
なお、図7の(a)〜(c)の各図の上段に示した平面図において濃い網掛けを施し、また、下段に示した正面図において上半分に濃い網掛けを施し、下半分に淡い網掛けを施した磁化領域6n、23nは、上面側がN極、下面側がS極となるように膜面に垂直方向に磁化されていることを示す。また、図7の(a)〜(c)の各図の上段に示した平面図において淡い網掛けを施し、下段に示した正面図において上半分に淡い網掛けを施し、下半分に濃い網掛けを施した磁化領域6p、23pは、上面側がN極、下面側がS極となるように膜面に垂直方向に磁化されていることを示す。
Next, with reference to FIG. 7, a state in which the light emitting element 10 is placed on the mounting substrate 20 while performing alignment using magnetic force will be described.
In addition, in the top view shown in the upper part of each figure of (a)-(c) of FIG. 7, dark shading is given, and in the front view shown in the lower part, dark shading is given to the upper half, and the lower half is given. The lightly shaded magnetized regions 6n and 23n are magnetized in the direction perpendicular to the film surface so that the upper surface side is an N pole and the lower surface side is an S pole. Further, in the plan view shown in the upper part of each of FIGS. 7A to 7C, light shading is applied, in the front view shown in the lower part, the upper half is lightly shaded, and the lower half is dark. The magnetized regions 6p and 23p subjected to the multiplication indicate that they are magnetized in a direction perpendicular to the film surface so that the upper surface side is an N pole and the lower surface side is an S pole.

まず、図7(a)に示すように、発光素子10は、上面をコレット80によって吸着され、コレット80に保持されたまま実装基板20に向けて搬送される。このとき、コレット80は、不図示の移動機構により、上段の平面図において上方から下方に向けて水平方向に移動するとともに、下段の正面図において上方から下方に向けて垂直方向に移動する。
なお、発光素子10において磁化領域6n及びバンプ4nが右側、磁化領域6p及びバンプ4pが左側にあり、実装基板20において磁化領域23n(素子載置部22n)が左側、磁化領域23p(素子載置部22p)が右側にある。すなわち、図7(a)の段階では、発光素子10の電極の極性と実装基板20の電極の極性とは逆向きとなっている。
First, as illustrated in FIG. 7A, the light emitting element 10 is adsorbed on the upper surface by the collet 80 and is conveyed toward the mounting substrate 20 while being held by the collet 80. At this time, the collet 80 is moved in the horizontal direction from the upper side to the lower side in the upper plan view by the moving mechanism (not shown), and is moved in the vertical direction from the upper side to the lower side in the lower front view.
In the light emitting element 10, the magnetization region 6 n and the bump 4 n are on the right side, the magnetization region 6 p and the bump 4 p are on the left side, and on the mounting substrate 20, the magnetization region 23 n (element mounting portion 22 n) is on the left side. Part 22p) is on the right. That is, in the stage of FIG. 7A, the polarity of the electrode of the light emitting element 10 and the polarity of the electrode of the mounting substrate 20 are opposite to each other.

ここで、コレット(搬送手段)80は、軸部81と吸着部82と継手83とから構成されている。軸部81は、中空構造をしており、不図示の吸引装置によって吸引することにより、先端の吸着部82で発光素子10を吸着して保持できるように構成されている。また、軸部81の途中には、継手83が設けられ、継手83より先端側である吸着部82側が軸回りに回転自在となるように構成されている。   Here, the collet (conveying means) 80 includes a shaft portion 81, a suction portion 82, and a joint 83. The shaft portion 81 has a hollow structure and is configured so that the light emitting element 10 can be sucked and held by the suction portion 82 at the tip end by being sucked by a suction device (not shown). Further, a joint 83 is provided in the middle of the shaft portion 81, and the suction portion 82 side, which is the tip side of the joint 83, is configured to be rotatable around the shaft.

また、軸部81は、発光素子10の磁化領域6n、6pと実装基板20の磁化領域23n、23pとの間に作用する磁力によって、撓むように可撓性を有することが好ましい。このように構成することによって、発光素子10は、実装基板20に載置される際に、発光素子10が搬送された位置が、実装基板20上の所定の位置に対して実装面内でズレがある場合でも、磁化領域間に作用する磁力によって発光素子10の載置箇所が所定の位置となるように自己調整(セルフアライメント)される。   In addition, the shaft portion 81 preferably has flexibility so as to be bent by a magnetic force acting between the magnetization regions 6 n and 6 p of the light emitting element 10 and the magnetization regions 23 n and 23 p of the mounting substrate 20. With this configuration, when the light emitting element 10 is placed on the mounting substrate 20, the position where the light emitting element 10 is transported is shifted in the mounting surface with respect to a predetermined position on the mounting substrate 20. Even if there is, there is a self-adjustment (self-alignment) so that the place where the light emitting element 10 is placed becomes a predetermined position by the magnetic force acting between the magnetized regions.

前記した方法によるものの他に、液滴に発光素子を浮かせて載置位置を自己調整させる方法を用いることもできる。より詳細に説明すると、実装基板20の上に、表面張力により凸型に盛り上がった液滴を、磁化領域23n、23pを内包するように形成し、発光素子10を浮力と表面張力とを利用して液滴表面に浮かせる。そして、液滴を蒸発させる間に、発光素子10と実装基板20との磁化領域間に作用する磁力により、発光素子10が所定の載置位置に移動し、自己調整(セルフアライメント)される。   In addition to the method described above, a method of self-adjusting the mounting position by floating the light emitting element in the droplet can also be used. More specifically, droplets raised in a convex shape due to surface tension are formed on the mounting substrate 20 so as to enclose the magnetized regions 23n and 23p, and the light emitting element 10 is utilized using buoyancy and surface tension. Float on the droplet surface. While the droplets are evaporated, the light emitting element 10 is moved to a predetermined mounting position by the magnetic force acting between the magnetized regions of the light emitting element 10 and the mounting substrate 20 and is self-adjusted (self-alignment).

次に、図7(b)に示すように、発光素子10が実装基板20の上面に更に近づくと、互いに近接して対向する、磁化領域6pの下面と磁化領域23nの上面は同極性(N極)であり、磁化領域6nの下面と磁化領域23pの上面は同極性(S極)であるため、これらの対向する磁化領域間には、それぞれ磁気斥力が作用する。このため、これらの磁気斥力によって発光素子10がコレット80の軸部81の軸回りに回転する。
そして、図7(c)に示すように、磁化領域6nと磁化領域23nとが対向し、磁化領域6pと磁化領域23pとが対向し、それぞれ対向する面間に磁気引力が作用する状態に、発光素子10と実装基板20とが位置合わせされる。
Next, as shown in FIG. 7B, when the light emitting element 10 further approaches the upper surface of the mounting substrate 20, the lower surface of the magnetized region 6p and the upper surface of the magnetized region 23n facing each other are the same polarity (N Since the lower surface of the magnetized region 6n and the upper surface of the magnetized region 23p have the same polarity (S pole), a magnetic repulsive force acts between these opposing magnetized regions. For this reason, the light emitting element 10 rotates around the axis of the shaft portion 81 of the collet 80 by these magnetic repulsive forces.
Then, as shown in FIG. 7C, the magnetized region 6n and the magnetized region 23n face each other, the magnetized region 6p and the magnetized region 23p face each other, and a magnetic attractive force acts between the facing surfaces. The light emitting element 10 and the mounting substrate 20 are aligned.

このように、発光素子10の磁化領域6n、6pによって形成される磁気パターンと、実装基板20の磁化領域23n、23pによって形成される磁気パターンとが符合するように、発光素子10が実装基板20に載置される。これによって、発光素子10の外部接続用電極であるバンプ4n、4pと、実装基板20の配線パターンにおける素子接続用電極である素子載置部22n、22pと、が正しい極性となるように位置合わせされる。
このとき、コレット80の軸部81に回転性に加えて、好ましくは可撓性を持たせることで、電極の極性の向きの整合に加えて、図7(c)において、左右方向の位置合わせを行うこともできる。
As described above, the light emitting element 10 is mounted on the mounting substrate 20 so that the magnetic pattern formed by the magnetization regions 6n and 6p of the light emitting element 10 and the magnetic pattern formed by the magnetization regions 23n and 23p of the mounting substrate 20 coincide. Placed on. As a result, the bumps 4n and 4p which are external connection electrodes of the light emitting element 10 and the element mounting portions 22n and 22p which are element connection electrodes in the wiring pattern of the mounting substrate 20 are aligned so as to have the correct polarity. Is done.
At this time, in addition to the alignment of the polarity direction of the electrodes, in addition to the rotation of the shaft portion 81 of the collet 80, preferably in addition to the rotational property, in FIG. Can also be done.

なお、図7(a)の段階で、発光素子10の磁化領域6nが左側、磁化領域6pが右側にあり、発光素子10の磁気パターンと実装基板20の磁気パターンとの電極の向きが整合している場合は、図7(b)及び図7(c)に示した発光素子10が実装基板20に近接する過程において、発光素子10は回転せずに、そのまま実装基板20に載置される。   7A, the magnetization region 6n of the light emitting element 10 is on the left side and the magnetization region 6p is on the right side, and the orientation of the electrodes of the magnetic pattern of the light emitting element 10 and the magnetic pattern of the mounting substrate 20 is matched. In the case where the light emitting element 10 shown in FIGS. 7B and 7C approaches the mounting substrate 20, the light emitting element 10 is placed on the mounting substrate 20 without rotating. .

また、図7(c)に示したように、発光素子10が実装基板20に載置されると、不図示の吸引装置による吸引を停止することで、コレット80による発光素子10の吸着を停止し、不図示の移動機構を駆動してコレット80を発光素子10から離間させる。このとき、発光素子10は、実装基板20に磁気引力によって吸着された状態である。   Further, as shown in FIG. 7C, when the light emitting element 10 is placed on the mounting substrate 20, the suction of the light emitting element 10 by the collet 80 is stopped by stopping the suction by the suction device (not shown). Then, a moving mechanism (not shown) is driven to separate the collet 80 from the light emitting element 10. At this time, the light emitting element 10 is in a state of being attracted to the mounting substrate 20 by magnetic attraction.

図3に戻って、発光装置の製造方法について説明を続ける。
(電極接合工程:S12)
発光素子10が実装基板20に載置されると、次に、電極接合工程S12において、不図示の接合装置によって、発光素子10のバンプ4n、4pと実装基板20の素子載置部22n、22pとを接合する。
接合方法としては、例えば、発光素子10と実装基板20との間に圧力及び熱を印加する圧接工法、超音波を印加する超音波接合工法、導電性接着剤を用いる接着工法などの公知の工法を用いることができる。
Returning to FIG. 3, the description of the method for manufacturing the light emitting device will be continued.
(Electrode bonding step: S12)
When the light emitting element 10 is mounted on the mounting substrate 20, next, in the electrode bonding step S12, the bumps 4n and 4p of the light emitting element 10 and the element mounting portions 22n and 22p of the mounting substrate 20 are performed by a bonding apparatus (not shown). And join.
Examples of the bonding method include known methods such as a pressure welding method in which pressure and heat are applied between the light emitting element 10 and the mounting substrate 20, an ultrasonic bonding method in which an ultrasonic wave is applied, and an adhesive method using a conductive adhesive. Can be used.

(封止工程:S13)
次に、封止工程S13において、発光素子10の全体と、実装基板20の上面とを、例えば、透光性の樹脂を用いて封止する。
封止方法としては、例えば、金型を用いた公知の成形方法や、封止樹脂材料を発光素子10及び実装基板20の上面に滴下し、加熱又は紫外線照射などによって硬化させる方法を用いることができる。
以上の工程により、図1(a)に示した発光装置100が製造される。
(Sealing process: S13)
Next, in the sealing step S13, the entire light emitting element 10 and the upper surface of the mounting substrate 20 are sealed using, for example, a translucent resin.
As a sealing method, for example, a known molding method using a mold, or a method in which a sealing resin material is dropped on the upper surfaces of the light emitting element 10 and the mounting substrate 20 and cured by heating or ultraviolet irradiation is used. it can.
Through the above steps, the light emitting device 100 shown in FIG. 1A is manufactured.

<変形例>
次に、図8を参照して、本実施形態の変形例について説明する。
なお、図8(a)においては、封止部材の記載は省略してあり、図8(b)においては、磁化領域以外の部材のハッチングは省略している。
<Modification>
Next, a modification of the present embodiment will be described with reference to FIG.
In FIG. 8A, the description of the sealing member is omitted, and in FIG. 8B, the hatching of members other than the magnetized region is omitted.

(変形例1)
図8(a)に示す変形例に係る発光装置100は、実装基板20の磁化領域23n、23pを、それぞれ発光素子10の対応する磁化領域6n、6pと、平面視で同じ形状とするものである。対応する磁化領域が完全に同一形状であることが好ましいが、ここで、平面視で同じ形状とは、磁化領域6nと磁化領域23nとの平面視の外形形状、及び磁化領域6pと磁化領域23pとの平面視の外形形状が、位置合わせ精度の範囲内で実質的に同じであることをいう。例えば、図8(a)に示した例のように、磁化領域6n、6pの内部において、バンプ4n、4pが設けられた領域が磁化されないことは無視するものとする。また、磁化領域23n、23p間に、磁化されない領域が含まれていてもよいものとする。
(Modification 1)
In the light emitting device 100 according to the modification shown in FIG. 8A, the magnetized regions 23n and 23p of the mounting substrate 20 have the same shape in plan view as the corresponding magnetized regions 6n and 6p of the light emitting element 10, respectively. is there. It is preferable that the corresponding magnetized regions have the completely same shape. Here, the same shape in plan view means the outer shape in plan view of the magnetized region 6n and the magnetized region 23n, and the magnetized region 6p and the magnetized region 23p. The outer shape in plan view is substantially the same within the range of alignment accuracy. For example, as in the example shown in FIG. 8A, it is ignored that the regions where the bumps 4n and 4p are provided are not magnetized inside the magnetization regions 6n and 6p. In addition, a region that is not magnetized may be included between the magnetized regions 23n and 23p.

図8(a)に示した例のように、実装基板20の磁化領域23n、23pの平面視での形状を、実質的に発光素子10の磁化領域6n、6pの形状と同じにすることで、発光素子10と実装基板20との間の磁気引力が最大となる位置、すなわち、磁気パターンが符合する位置が一義的に定まるため、電極の極性だけでなく、実装面内の上下左右の方向についても精度よく位置合わせすることができる。   As in the example illustrated in FIG. 8A, the shape of the magnetization regions 23 n and 23 p of the mounting substrate 20 in plan view is substantially the same as the shape of the magnetization regions 6 n and 6 p of the light emitting element 10. Since the position where the magnetic attractive force between the light emitting element 10 and the mounting substrate 20 is maximized, that is, the position where the magnetic pattern coincides is uniquely determined, not only the polarity of the electrodes but also the vertical and horizontal directions in the mounting surface Can be accurately aligned.

(変形例2)
図8(b)に示す他の変形例に係る発光装置100は、実装基板20の磁化領域23n、23pが、それぞれ実装面である実装基板20の上面に平行であって、図8(b)において、左側がN極、右側がS極となるように磁化されている。なお、この変形例では、発光素子10の磁化領域6n、6pは、図2に示した例と同様に、実装基板20の上面に垂直方向に磁化されている。
このように、各磁化領域は、磁化方向が実装面に垂直方向とすることに限定されず、発光素子10側の磁化領域6n、6p及び実装基板20側の磁化領域23n、23pの一方又は双方が、実装面に水平に磁化されるように構成してもよい。
(Modification 2)
In the light emitting device 100 according to another modification shown in FIG. 8B, the magnetized regions 23n and 23p of the mounting substrate 20 are parallel to the upper surface of the mounting substrate 20 which is the mounting surface, respectively, and FIG. Are magnetized so that the left side is the N pole and the right side is the S pole. In this modification, the magnetized regions 6n and 6p of the light emitting element 10 are magnetized in the vertical direction on the upper surface of the mounting substrate 20 as in the example shown in FIG.
Thus, each magnetization region is not limited to a magnetization direction perpendicular to the mounting surface, and one or both of the magnetization regions 6n and 6p on the light emitting element 10 side and the magnetization regions 23n and 23p on the mounting substrate 20 side. However, it may be configured to be magnetized horizontally on the mounting surface.

<第2実施形態>
次に、図9を参照して、本発明の第2実施形態に係る発光装置について説明する。
図9に示すように、第2実施形態に係る発光装置100Aは、実装基板20Aの素子載置部22An、22Apに磁化領域を設けずに、第1実施形態における発光素子載置工程S11(図3参照)において、実装基板20Aの裏面側に電磁石90を配置して、発光素子10の磁気パターンと符合する磁気パターンを発生させて位置合わせを行うものである。
Second Embodiment
Next, a light-emitting device according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 9, the light emitting device 100A according to the second embodiment includes the light emitting element placement step S11 (FIG. 11) in the first embodiment without providing a magnetization region in the element placement portions 22An and 22Ap of the mounting substrate 20A. 3), an electromagnet 90 is disposed on the back side of the mounting substrate 20A, and a magnetic pattern matching the magnetic pattern of the light emitting element 10 is generated to perform alignment.

電磁石(磁界発生手段)90は、例えば、図6(a)に示した着磁装置70と同様の構成のものを用いることができる。図9に示した電磁石90は、着磁装置70と同様に、ヨーク91と、電源93と、両者を接続する電線94とから構成されている。ヨーク91はコア91nとコア91pとを有するように二股に形成されており、コア91n及びコア91pには、それぞれ互いに逆向きにコイル92n及びコイル92pが巻かれている。   As the electromagnet (magnetic field generating means) 90, for example, one having the same configuration as the magnetizing device 70 shown in FIG. 6A can be used. The electromagnet 90 shown in FIG. 9 is comprised from the yoke 91, the power supply 93, and the electric wire 94 which connects both similarly to the magnetizing apparatus 70. FIG. The yoke 91 is bifurcated so as to have a core 91n and a core 91p, and a coil 92n and a coil 92p are wound around the core 91n and the core 91p in opposite directions, respectively.

この例では、コイル92nとコイル92pとは直列に接続されており、コイル92n側を電源93の正極に、コイル92p側を電源93の負極に接続して電流を流すことにより、コア91nの上面がN極となり上向きに磁界が発生し、コア91pの上面がS極となる下向きの磁界が発生する。
コア91n及びコア91pの上面の形状は、それぞれ実装基板20Aの素子載置部22An、22Apの形状と同形状をしている。
In this example, the coil 92n and the coil 92p are connected in series, and the coil 92n side is connected to the positive electrode of the power source 93, and the coil 92p side is connected to the negative electrode of the power source 93, so that a current flows. Becomes the N pole, and a magnetic field is generated upward, and a downward magnetic field is generated in which the upper surface of the core 91p is the S pole.
The shapes of the upper surfaces of the core 91n and the core 91p are the same as the shapes of the element mounting portions 22An and 22Ap of the mounting substrate 20A, respectively.

第2実施形態では、発光素子載置工程S11(図3参照)において、発光素子10の磁化領域6n、6pと符合する磁気パターンを、実装基板20Aの裏面側から電磁石90を用いて発生させることで、発光素子10と実装基板20Aとの位置合わせを行う。
このため、配線パターンである素子載置部22n、22pに磁性体を含有させる必要がなく、素子載置部22n、22pは、電極として良好な導電性や防錆性を得ることができる。
In the second embodiment, in the light emitting element placement step S11 (see FIG. 3), a magnetic pattern that coincides with the magnetization regions 6n and 6p of the light emitting element 10 is generated from the back side of the mounting substrate 20A using the electromagnet 90. Thus, alignment between the light emitting element 10 and the mounting substrate 20A is performed.
For this reason, it is not necessary to make the element mounting parts 22n and 22p which are wiring patterns contain a magnetic body, and the element mounting parts 22n and 22p can obtain favorable electroconductivity and rust prevention as an electrode.

なお、電磁石は二股のヨークを備えるものに限定されず、磁化領域ごとに独立した複数の電磁石を用いて構成したものでもよい。
また、コア91n及びコア91pの上面の形状を、それぞれ発光素子10の磁化領域6n及び磁化領域6pと平面視での形状と同形状とすることで、図8(a)に示した第1実施形態の変形例に係る発光装置100と同様に、発光素子10と実装基板20Aとの位置合わせを、電極の極性の整合だけでなく、実装面における上下左右の方向についても精度よく行うことができる。
The electromagnet is not limited to the one having a bifurcated yoke, and may be configured using a plurality of independent electromagnets for each magnetization region.
Further, the upper surface of the core 91n and the core 91p has the same shape as that of the magnetized region 6n and the magnetized region 6p of the light emitting element 10 in plan view, so that the first embodiment shown in FIG. Similar to the light emitting device 100 according to the modification of the embodiment, the alignment of the light emitting element 10 and the mounting substrate 20A can be accurately performed not only in the polarity matching of the electrodes but also in the vertical and horizontal directions on the mounting surface. .

第2実施形態に係る発光装置100Aは、実装基板20Aの素子載置部22An、22Apに磁化領域がなく、発光素子載置工程S11(図3参照)において電磁石を用いること以外は、第1実施形態に係る発光装置100と同様であるから、他の構成、他の製造工程、及び発光装置の動作については説明を省略する。   The light emitting device 100A according to the second embodiment is the first embodiment except that the element mounting portions 22An and 22Ap of the mounting substrate 20A have no magnetization region and use an electromagnet in the light emitting element mounting step S11 (see FIG. 3). Since it is the same as that of the light-emitting device 100 according to the embodiment, description of other configurations, other manufacturing processes, and operations of the light-emitting device is omitted.

なお、本実施形態では、発光素子側に、垂直方向に互いに逆向きに磁化した2つの磁化領域を設け、実装基板の裏面側から、電磁石などの磁界発生手段によって、これと符合する磁界を発生させるようにしたが、これに限定されるものではない。発光素子側の磁化領域は1つであってもよく、3以上であってもよい。また、発光素子側の磁化領域が設けられる面(すなわち、実装面)は、後記する第4実施形態のように、電極が設けられる面と反対側の面であってもよい。   In this embodiment, two magnetized regions magnetized in opposite directions in the vertical direction are provided on the light emitting element side, and a magnetic field matching this is generated from the back surface side of the mounting substrate by a magnetic field generating means such as an electromagnet. However, the present invention is not limited to this. There may be one magnetized region on the light emitting element side, or three or more. Further, the surface on which the magnetized region on the light emitting element side (that is, the mounting surface) may be a surface opposite to the surface on which the electrode is provided, as in a fourth embodiment described later.

更にまた、発光素子側の磁化領域の磁化方向は、水平方向であってもよい。特に、磁化方向を水平方向とすることにより、磁化領域が1つであっても、発光素子の実装基板に対する載置方向(向き)を正しく整合させることができる。この場合は、磁界発生手段によって、発光素子側の磁化領域の磁化方向と符合するように、水平方向に磁界を発生させるようにすればよい。   Furthermore, the magnetization direction of the magnetization region on the light emitting element side may be a horizontal direction. In particular, by setting the magnetization direction to the horizontal direction, the mounting direction (direction) of the light emitting element with respect to the mounting substrate can be correctly aligned even if there is one magnetization region. In this case, a magnetic field may be generated in the horizontal direction by the magnetic field generation means so as to coincide with the magnetization direction of the magnetization region on the light emitting element side.

何れの場合も、実装基板に対して発光素子が、所定の方向、又は、所定の方向及び所定の位置に載置されたときに、磁界から発光素子側の磁化領域が磁気引力を受けるように、磁界発生手段によって磁界を発生させるようにすればよい。   In any case, when the light emitting element is placed in a predetermined direction or a predetermined direction and a predetermined position with respect to the mounting substrate, the magnetization region on the light emitting element side receives a magnetic attractive force from the magnetic field. The magnetic field may be generated by the magnetic field generating means.

<第3実施形態>
次に、図10を参照して、本発明の第3実施形態に係る発光装置について説明する。
図10に示すように、第3実施形態に係る発光装置100Bは、図1(a)に示した第1実施形態に係る発光装置100とは、反射層6に代えてLEDチップ1の底面と側面とを被覆する反射層6Bを設け、更に反射層6Bの底面側に絶縁層7を設けたことが異なる。すなわち、第3実施形態における発光素子10Bは、反射層6Bに磁性体を含有せず、発光素子10Bの底面に磁性体を含有する絶縁層7を設けたものである。そして、絶縁層7に、図2に示した磁化領域6n、6pに相当する磁化領域を形成するものである。
他の構成は第1実施形態に係る発光装置100と同様であるから、詳細な説明は省略する。
<Third Embodiment>
Next, a light-emitting device according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 10, the light emitting device 100 </ b> B according to the third embodiment is different from the light emitting device 100 according to the first embodiment shown in FIG. The difference is that a reflective layer 6B covering the side surface is provided, and an insulating layer 7 is further provided on the bottom surface side of the reflective layer 6B. That is, in the light emitting element 10B according to the third embodiment, the reflective layer 6B does not contain a magnetic substance, and the insulating layer 7 containing a magnetic substance is provided on the bottom surface of the light emitting element 10B. Then, magnetization regions corresponding to the magnetization regions 6 n and 6 p shown in FIG. 2 are formed in the insulating layer 7.
Since other configurations are the same as those of the light emitting device 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.

第3実施形態における発光素子10Bは、反射層6Bに磁性体を含有せず、磁性体を含有する絶縁層7を独立して設けるため、反射層6Bは磁性体による光吸収などの影響を受けずに良好な反射性を得ることができる。
なお、発光素子10Bは、図4及び図5に示した第1実施形態に係る発光素子10の製造方法において、例えば、反射層6Bの形成の際に上金型51を用いずに、ポッティングにより反射樹脂材料を滴下供給し、チップ11の側面及び上面(半導体発光素子構造体3の上面)に反射層6Bを形成し、樹脂硬化後に、当該反射層6Bの上面に磁性体を含有した絶縁樹脂材料を供給して絶縁層7を積層すればよい。なお、反射層6Bは、絶縁層7に必要な厚さを考慮して、バンプ4n、4pの厚さよりも薄くなるように形成する。
Since the light emitting element 10B according to the third embodiment does not contain a magnetic material in the reflective layer 6B and the insulating layer 7 containing the magnetic material is provided independently, the reflective layer 6B is affected by light absorption by the magnetic material. And good reflectivity can be obtained.
The light emitting element 10B is manufactured by potting in the method for manufacturing the light emitting element 10 according to the first embodiment shown in FIGS. 4 and 5, for example, without using the upper mold 51 when forming the reflective layer 6B. An insulating resin containing a magnetic material on the upper surface of the reflective layer 6B after dropping the reflective resin material, forming the reflective layer 6B on the side surface and upper surface of the chip 11 (the upper surface of the semiconductor light emitting element structure 3), and curing the resin. The insulating layer 7 may be stacked by supplying a material. The reflective layer 6B is formed so as to be thinner than the bumps 4n and 4p in consideration of the thickness required for the insulating layer 7.

以上説明した各実施形態に係る発光装置及びその変形例において、発光素子側の磁化領域と実装基板側の磁化領域とは、発光素子の電極(バンプ)と実装基板の素子載置部とが、互いの磁化領域間の磁力によって正しく位置合わせできるように形成されていればよい。すなわち、発光素子側の磁気パターンと実装基板側の磁気パターンとが符合して、発光素子が実装基板に対して、正しく位置合わせされるように磁化領域が形成されていればよい。   In the light emitting device and the modification thereof according to each embodiment described above, the magnetization region on the light emitting element side and the magnetization region on the mounting substrate side include an electrode (bump) of the light emitting element and an element mounting portion of the mounting substrate. What is necessary is just to be formed so that it can align correctly with the magnetic force between mutual magnetization area | regions. In other words, it is only necessary that the magnetized region is formed so that the magnetic pattern on the light emitting element side matches the magnetic pattern on the mounting board side and the light emitting element is correctly aligned with the mounting board.

例えば、発光素子及び実装基板の磁化領域は、それぞれ2領域に限定されず、3領域以上形成してもよく、また、1領域であってもよい。磁化領域が1領域の場合は、実装基板側の磁化領域又は電磁石などにより印加された磁界に吸引され、発光素子を実装基板に対して正しく位置合わせすることができる。発光素子及び実装基板のそれぞれにおいて、磁化方向の異なる2以上の磁化領域を設けることにより、発光素子の向きが特定できるため、実装基板に対して発光素子の向きを正しく合わせることができる。これによって、電極の配向が正しくなるように発光素子を実装基板に対して位置合わせすることができる。
また、磁化方向は、実装面に垂直方向に限定されず、発光素子側と実装基板側の磁化領域の一方又は両方が、実装面に水平方向であってもよい。更にまた、発光素子の磁化領域は、平面視で電極(バンプ)を取り囲むように形成するものに限定されず、発光素子の底面において任意の形状に形成することができる。
For example, the magnetization regions of the light emitting element and the mounting substrate are not limited to two regions, but may be formed by three or more regions, or may be one region. When the magnetized region is one region, the light-emitting element can be correctly aligned with the mounting substrate by being attracted by a magnetic field applied by a magnetizing region on the mounting substrate side or an electromagnet. By providing two or more magnetization regions having different magnetization directions in each of the light emitting element and the mounting substrate, the direction of the light emitting element can be specified, so that the direction of the light emitting element can be correctly aligned with the mounting substrate. Accordingly, the light emitting element can be aligned with the mounting substrate so that the orientation of the electrodes is correct.
Further, the magnetization direction is not limited to the direction perpendicular to the mounting surface, and one or both of the magnetization regions on the light emitting element side and the mounting substrate side may be in the horizontal direction on the mounting surface. Furthermore, the magnetized region of the light emitting element is not limited to be formed so as to surround the electrode (bump) in plan view, and can be formed in an arbitrary shape on the bottom surface of the light emitting element.

また、本発明の発光素子はフェイスダウン実装するものに限定されず、フェイスアップ実装型の発光素子であってもよい。この場合、発光素子の基板や基板側に磁性体を含有させた反射層又は反射層とは独立した磁性体を含有させた絶縁層を設け、磁化領域を形成すればよい。また、発光素子の電極と実装基板の電極とはワイヤボンディングによって接続すればよい。   Further, the light-emitting element of the present invention is not limited to the one mounted face-down, and may be a face-up mounting type light-emitting element. In this case, a magnetic layer may be formed by providing a reflective layer containing a magnetic material on the substrate of the light emitting element or an insulating layer containing a magnetic material independent of the reflective layer. The electrode of the light emitting element and the electrode of the mounting substrate may be connected by wire bonding.

<第4実施形態>
次に、図11を参照して、本発明の第4実施形態に係る発光装置について説明する。
図11に示すように、本実施形態に係る発光装置100Cは、発光素子10Cを実装基板20Cにフェイスアップ実装して構成されるものである。すなわち、本実施形態に係る発光装置100Cは、図1(a)に示した第1実施形態に係る発光装置100とは、発光素子10Cの実装方法が異なる。より詳細には、LEDチップ1Cの基板2側を実装面として実装基板20Cに実装されていること、LEDチップ1Cの半導体発光素子構造体3C側から光が取り出されること、n側電極3n及びp側電極3pと配線パターン22Cn及び配線パターン22Cpとが、それぞれボンディングワイヤ24n、24pによって電気的に接続されていること、水平方向に磁化された磁化領域6aが、LEDチップ1Cの裏面である基板2の裏面を被覆する反射層6Cに設けられていること、水平方向に磁化された磁化領域23fが、素子載置部22fに設けられていること、及び、LEDチップ1Cのn側電極3n及びp側電極3pが形成された領域を除く表面及び側面に蛍光層5が設けられていること、が異なる。
なお、素子載置部22fは、支持基板21上において、配線パターン22Cn,22Cpと同層に設けられる電気的にフロート状態のパターンである。
<Fourth embodiment>
Next, with reference to FIG. 11, the light-emitting device which concerns on 4th Embodiment of this invention is demonstrated.
As shown in FIG. 11, a light emitting device 100C according to the present embodiment is configured by mounting a light emitting element 10C face up on a mounting substrate 20C. That is, the light emitting device 100C according to the present embodiment is different from the light emitting device 100 according to the first embodiment illustrated in FIG. More specifically, the LED chip 1C is mounted on the mounting substrate 20C with the substrate 2 side as a mounting surface, the light is extracted from the semiconductor light emitting element structure 3C side of the LED chip 1C, and the n-side electrodes 3n and p The side electrode 3p, the wiring pattern 22Cn, and the wiring pattern 22Cp are electrically connected by bonding wires 24n and 24p, respectively, and the magnetized region 6a magnetized in the horizontal direction is the back surface of the LED chip 1C. Provided on the reflective layer 6C covering the back surface of the LED, the magnetized region 23f magnetized in the horizontal direction provided on the element mounting portion 22f, and the n-side electrodes 3n and p of the LED chip 1C. The difference is that the fluorescent layer 5 is provided on the surface and side surfaces excluding the region where the side electrode 3p is formed.
The element mounting portion 22f is an electrically floating pattern provided on the support substrate 21 in the same layer as the wiring patterns 22Cn and 22Cp.

ここで、磁化領域6aは、図11において、左側がN極、右側がS極となるように水平方向に磁化されている。また、磁化領域23fは、図11において、左側がS極、右側がN極となるように水平方向に磁化されている。すなわち、発光素子10C側の磁化方向と実装基板20C側の磁化方向とが互いに逆向きであり、磁化領域6aと磁化領域23fとの間に磁気引力が作用する状態で接合されている。
なお、発光素子10Cの実装面である底面の略全面を磁化領域6aとすることが好ましい。これにより、発光素子10Cを実装基板20Cに載置する際に、位置合わせのために有効に作用する磁力が大きくなり、実装の信頼性を向上することができる。
Here, in FIG. 11, the magnetized region 6a is magnetized in the horizontal direction so that the left side is the N pole and the right side is the S pole. Further, in FIG. 11, the magnetized region 23f is magnetized in the horizontal direction so that the left side is the S pole and the right side is the N pole. That is, the magnetization direction on the light emitting element 10C side and the magnetization direction on the mounting substrate 20C side are opposite to each other, and the magnetic region 6a and the magnetization region 23f are joined in a state in which a magnetic attractive force acts.
It is preferable that substantially the entire bottom surface, which is the mounting surface of the light emitting element 10C, be the magnetized region 6a. Thereby, when mounting the light emitting element 10C on the mounting substrate 20C, the magnetic force that effectively acts for alignment is increased, and the mounting reliability can be improved.

本実施形態では、磁化領域23fは、配線パターン22Cn,22Cpと分離、独立した素子載置部22fに設けられている。発光素子と電気的に接続される配線パターンに磁化領域を設ける場合には、電気抵抗などの電気特性が悪化しないように、磁化領域の形状や配置を考慮する必要があるが、本実施形態のように、磁化領域23fを、発光素子10Cと電気的に接続される配線パターン22Cn,22Cpから独立させることで、電気特性などが悪化する恐れを低減させることができ、好ましい。また、磁化領域23fは、支持基板21に内在するように設けてもよい。
また、本実施形態において、素子載置部22fの平面視での形状は、発光素子10Cの底面形状と略同じである。すなわち、素子載置部22fの略全面が磁化領域23fとなっている。
In the present embodiment, the magnetized region 23f is provided in the element mounting portion 22f that is separated from the wiring patterns 22Cn and 22Cp and independent. When providing a magnetized region in a wiring pattern electrically connected to a light emitting element, it is necessary to consider the shape and arrangement of the magnetized region so that electric characteristics such as electric resistance are not deteriorated. As described above, it is preferable to make the magnetized region 23f independent of the wiring patterns 22Cn and 22Cp electrically connected to the light emitting element 10C, thereby reducing the possibility of deterioration of electrical characteristics and the like. Further, the magnetized region 23 f may be provided so as to be inherent in the support substrate 21.
Further, in the present embodiment, the shape of the element placement portion 22f in plan view is substantially the same as the bottom shape of the light emitting element 10C. That is, substantially the entire surface of the element mounting portion 22f is a magnetization region 23f.

なお、本実施形態では、実装基板20C側の磁化領域23fを、配線パターン22Cn,22Cpから独立した素子載置部22fに設けたが、これに限定されるものではない。第1実施形態と同様に、配線パターン22Cn、配線パターン22Cpの両方又は何れか一方に磁化領域22fを設けるようにしてもよい。   In the present embodiment, the magnetized region 23f on the mounting substrate 20C side is provided on the element mounting portion 22f independent of the wiring patterns 22Cn and 22Cp. However, the present invention is not limited to this. Similarly to the first embodiment, the magnetized region 22f may be provided in both or one of the wiring pattern 22Cn and the wiring pattern 22Cp.

また、磁化領域23fの磁化方向についても、水平方向に限定されるものではない。第1実施形態と同様に、反射層6Cの底面に、垂直方向で互いに逆向きの磁化領域6n及び磁化領域6p(図2参照)を設け、素子載置部22fに、それぞれ垂直方向で互いに逆向きの磁化領域23n及び磁化領域23p(図2参照)を設けるようにしてもよい
更にまた、図8(b)に示した第1実施形態の変形例のように、発光素子10C側又は実装基板20C側の何れか一方について磁化領域の磁化方向を水平方向とし、他方について磁化方向を垂直方向としてもよい。
Further, the magnetization direction of the magnetization region 23f is not limited to the horizontal direction. As in the first embodiment, the bottom surface of the reflective layer 6C is provided with the magnetized region 6n and the magnetized region 6p (see FIG. 2) that are opposite to each other in the vertical direction, and the element mounting portion 22f is opposite to each other in the vertical direction. The magnetized region 23n and the magnetized region 23p (see FIG. 2) may be provided. Further, as in the modification of the first embodiment shown in FIG. 8B, the light emitting element 10C side or the mounting substrate The magnetization direction of the magnetization region may be the horizontal direction for one of the 20C sides, and the magnetization direction may be the vertical direction for the other.

また、発光素子10Cの底面側に複数の(例えば、2つ)磁化領域を形成する場合は、それぞれの磁化領域が平面視で、n側電極3n及びp側電極3pと重なるように又は取り囲むように形成することが好ましい。これによって、発光素子10Cを実装基板20Cに実装する際に、電極の位置合わせをより精度よく行うことができる。   Further, when a plurality of (for example, two) magnetized regions are formed on the bottom surface side of the light emitting element 10C, the respective magnetized regions overlap or surround the n-side electrode 3n and the p-side electrode 3p in plan view. It is preferable to form. Thus, when the light emitting element 10C is mounted on the mounting substrate 20C, the electrodes can be aligned more accurately.

第4実施形態に係る発光装置100Cは、電力をボンディングワイヤ24n、24pを介して供給されることと、光取り出し面がLEDチップ1Cの半導体層側であることとが異なる以外は、同様に動作するため、詳細な説明は省略する。   The light emitting device 100C according to the fourth embodiment operates in the same manner except that power is supplied through the bonding wires 24n and 24p and that the light extraction surface is on the semiconductor layer side of the LED chip 1C. Therefore, detailed description is omitted.

次に、第4実施形態に係る発光装置100Cの製造方法について説明する。なお、第1実施形態に係る発光装置100と同様に工程については、説明は適宜省略する。
まず、反射層6Cに設けられる磁化領域6aとなる膜の製造方法の具体例について説明する。
図1(b)に示した第1実施形態と同様に、基板2の表面側にn型半導体層3a、活性層3b及びp型半導体層3cを順次にMOCVD法により結晶成長を行った後に、基板2の裏面側にマグネトロンスパッタリング法により、SiO膜を厚さ150nmで形成する。更にその後に、Bi1.51.0Dy1.0Fe3.8Al1.2をターゲットとしてマグネトロンスパッタリング法により、約3μmの厚さの膜を形成し、大気中で750℃1時間程度アニール処理することで、絶縁膜として、磁性を有するガーネット膜を形成することができる。また、屈折率の異なるSiO膜とガーネット膜とを積層することにより、これらの積層膜で構成される絶縁膜は反射膜としても機能する。
Next, a method for manufacturing the light emitting device 100C according to the fourth embodiment will be described. Note that, as for the light emitting device 100 according to the first embodiment, description of steps is omitted as appropriate.
First, a specific example of a method for manufacturing a film that becomes the magnetization region 6a provided in the reflective layer 6C will be described.
Similarly to the first embodiment shown in FIG. 1B, after the crystal growth of the n-type semiconductor layer 3a, the active layer 3b, and the p-type semiconductor layer 3c on the surface side of the substrate 2 by the MOCVD method in order, A SiO 2 film having a thickness of 150 nm is formed on the back side of the substrate 2 by magnetron sputtering. Thereafter, a film having a thickness of about 3 μm is formed by magnetron sputtering using Bi 1.5 Y 1.0 Dy 1.0 Fe 3.8 Al 1.2 O x as a target, and is 750 ° C. in the atmosphere. By performing annealing treatment for about 1 hour, a garnet film having magnetism can be formed as the insulating film. Further, by laminating a SiO 2 film and a garnet film having different refractive indexes, the insulating film constituted by these laminated films also functions as a reflective film.

このガーネット膜からなる絶縁膜を着磁させることで、LEDチップ1Cの底面に磁化領域6aを形成することができる。
更にまた、この絶縁膜の外側に、光反射部材を含有する反射膜を積層し、この絶縁膜と合わせて、磁化領域を設けた反射層6Cを構成するようにしてもよい。また、基板2の裏面に反射膜を形成し、この反射膜上に、例えば、前記したガーネット膜などの磁性を有する絶縁膜を積層するようにしてもよい。
By magnetizing the insulating film made of the garnet film, the magnetized region 6a can be formed on the bottom surface of the LED chip 1C.
Furthermore, a reflective film containing a light reflecting member may be laminated outside the insulating film, and the reflective layer 6C provided with a magnetized region may be configured together with the insulating film. Further, a reflective film may be formed on the back surface of the substrate 2, and a magnetic insulating film such as the above-described garnet film may be laminated on the reflective film.

この後に、フォトリソグラフィ法、RIE法、スパッタリング法などを用いて、n側電極3n、p側電極3pなどを形成することで、LEDチップ1Cを製造することができる。
なお、LEDチップ1Cの半導体層側から光が取り出されるため、p型半導体層3c上に設ける全面電極は、ITO(インジウム−スズ酸化物)などの良好な透光性を有する導電材料を用いて形成することが好ましい。
Thereafter, the LED chip 1C can be manufactured by forming the n-side electrode 3n, the p-side electrode 3p, and the like using a photolithography method, an RIE method, a sputtering method, and the like.
Since light is extracted from the semiconductor layer side of the LED chip 1C, the entire surface electrode provided on the p-type semiconductor layer 3c is made of a conductive material having good translucency such as ITO (indium-tin oxide). It is preferable to form.

このLEDチップ1Cを、第1実施形態と同様にして、磁力を利用して電極の極性が整合するように位置決めを行いつつ、例えば半田(不図示)などの接合部材を用いて素子載置部である素子載置部22f上に実装する。そして、n側電極3nと配線パターン22Cnと、及びp側電極3pと配線パターン22Cpとを、それぞれボンディングワイヤ24n、24pを用いて電気的に接続する。その後、発光素子10Cとボンディングワイヤ24n、24p、及び実装基板20Cを封止部材30を用いて封止する。これによって、発光装置100Cが完成する。   The LED chip 1C is positioned so that the polarities of the electrodes are matched using magnetic force in the same manner as in the first embodiment, and an element mounting portion is used using a bonding member such as solder (not shown), for example. It is mounted on the element mounting portion 22f. Then, the n-side electrode 3n and the wiring pattern 22Cn, and the p-side electrode 3p and the wiring pattern 22Cp are electrically connected using bonding wires 24n and 24p, respectively. Thereafter, the light emitting element 10C, the bonding wires 24n and 24p, and the mounting substrate 20C are sealed using the sealing member 30. Thus, the light emitting device 100C is completed.

1、1C LEDチップ
2 基板
3、3C 半導体発光素子構造体
3a n型半導体層(半導体層)
3b 活性層(半導体層)
3c p型半導体層(半導体層)
3d 全面電極
3e カバー電極
3n n側電極(電極、第1電極)
3p p側電極(電極、第2電極)
4 バンプ(外部接続用電極)
4n バンプ(第1外部接続用電極)
4p バンプ(第2外部接続用電極)
5、5C 蛍光層(波長変換部材)
6、6C 反射層(絶縁層)
6B 反射層
6n 磁化領域(第1磁化領域)
6p 磁化領域(第2磁化領域)
6a 磁化領域
7 絶縁層
10、10A、10B、10C 発光素子
11 チップ
12、13 境界線
20、20A、20C 実装基板
21 支持基板
22n、22An 素子載置部(第1配線パターン)
22p、22Ap 素子載置部(第2配線パターン)
22f 素子載置部
22Cn 配線パターン(第1配線パターン)
22Cp 配線パターン(第2配線パターン)
23n 磁化領域(第3磁化領域)
23p 磁化領域(第4磁化領域)
23f 磁化領域
24n ボンディングワイヤ
24p ボンディングワイヤ
30 封止部材
40、42 キャリア(平板状の治具)
41、43 粘着シート
50、52 下金型
51、53 上金型
60 研磨機
61、62 研磨線
70 着磁装置
71 ヨーク
71n、71p コア
72n、72p コイル
73 電源
74 電線
80 コレット(搬送手段)
81 軸部
82 吸着部
83 継手
90 電磁石(磁界発生手段)
91 ヨーク
91n、91p コア
92n、92p コイル
93 電源
94 電線
100、100A、100B、100C 発光装置
1, 1C LED chip 2 substrate 3, 3C semiconductor light emitting element structure 3a n-type semiconductor layer (semiconductor layer)
3b Active layer (semiconductor layer)
3c p-type semiconductor layer (semiconductor layer)
3d full surface electrode 3e cover electrode 3n n side electrode (electrode, first electrode)
3pp p-side electrode (electrode, second electrode)
4 Bump (electrode for external connection)
4n Bump (first external connection electrode)
4p Bump (second external connection electrode)
5, 5C Fluorescent layer (wavelength conversion member)
6, 6C Reflective layer (insulating layer)
6B Reflective layer 6n Magnetization region (first magnetization region)
6p magnetization region (second magnetization region)
6a Magnetized region 7 Insulating layer 10, 10A, 10B, 10C Light emitting element 11 Chip 12, 13 Boundary line 20, 20A, 20C Mounting substrate 21 Support substrate 22n, 22An Element mounting portion (first wiring pattern)
22p, 22Ap element placement part (second wiring pattern)
22f Element placement portion 22Cn wiring pattern (first wiring pattern)
22Cp wiring pattern (second wiring pattern)
23n magnetization region (third magnetization region)
23p magnetization region (fourth magnetization region)
23f Magnetized region 24n Bonding wire 24p Bonding wire 30 Sealing member 40, 42 Carrier (flat jig)
41, 43 Adhesive sheet 50, 52 Lower mold 51, 53 Upper mold 60 Polishing machine 61, 62 Polishing wire 70 Magnetizing device 71 Yoke 71n, 71p Core 72n, 72p Coil 73 Power supply 74 Electric wire 80 Collet (conveying means)
81 Shaft portion 82 Adsorption portion 83 Joint 90 Electromagnet (magnetic field generating means)
91 Yoke 91n, 91p Core 92n, 92p Coil 93 Power supply 94 Electric wire 100, 100A, 100B, 100C Light emitting device

Claims (22)

半導体層と、前記半導体層と電気的に接続される電極を有する発光素子であって、
前記発光素子の実装面側に絶縁層を有し、
前記絶縁層は、磁性体を含有する磁化領域を有することを特徴とする発光素子。
A light emitting element having a semiconductor layer and an electrode electrically connected to the semiconductor layer,
Having an insulating layer on the mounting surface side of the light emitting element;
The light-emitting element, wherein the insulating layer has a magnetized region containing a magnetic substance.
前記磁化領域は、前記発光素子の実装面の略全面に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の発光素子。   The light-emitting element according to claim 1, wherein the magnetization region is provided on substantially the entire mounting surface of the light-emitting element. 前記絶縁層が、前記半導体層が発する光を反射する光反射材を含有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 1, wherein the insulating layer contains a light reflecting material that reflects light emitted from the semiconductor layer. 前記絶縁層は、磁化方向が異なる少なくとも2つの磁化領域を有することを特徴とする請求項1から請求項3の何れか一項に記載の発光素子。   4. The light emitting device according to claim 1, wherein the insulating layer has at least two magnetization regions having different magnetization directions. 5. 前記絶縁層は、前記磁化領域として、第1磁化領域と、前記第1磁化領域と磁化方向が異なる第2磁化領域とを有することを特徴とする請求項4に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 4, wherein the insulating layer includes a first magnetization region and a second magnetization region having a magnetization direction different from that of the first magnetization region as the magnetization region. 前記絶縁層は、平面視において長手方向と短手方向とを有する矩形であり、前記長手方向の一方の端部に前記第1磁化領域を有し、前記長手方向の他方の端部に前記第2磁化領域を有することを特徴とする請求項5に記載の発光素子。   The insulating layer is a rectangle having a longitudinal direction and a transverse direction in plan view, has the first magnetization region at one end in the longitudinal direction, and has the first magnetization region at the other end in the longitudinal direction. The light emitting device according to claim 5, wherein the light emitting device has two magnetization regions. 前記電極として第1電極及び第2電極を同一面に備え、前記実装面が、前記電極が設けられた面であることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか一項に記載の発光素子。   The first electrode and the second electrode are provided on the same surface as the electrode, and the mounting surface is a surface on which the electrode is provided. Light emitting element. 前記電極として第1電極及び第2電極を同一面に備え、前記実装面が、前記電極が設けられた面であり、前記第1電極の周囲に前記第1磁化領域を有し、前記第2電極の周囲に前記第2磁化領域を有することを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の発光素子。   The first electrode and the second electrode are provided on the same surface as the electrode, the mounting surface is a surface on which the electrode is provided, the first magnetization region is provided around the first electrode, and the second electrode The light emitting device according to claim 5, wherein the second magnetization region is provided around an electrode. 前記電極として第1電極及び第2電極を同一面に備え、前記実装面が、前記電極が設けられた面の反対側の面であることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか一項に記載の発光素子。   The first electrode and the second electrode are provided on the same surface as the electrode, and the mounting surface is a surface opposite to the surface on which the electrode is provided. The light emitting element according to one item. 実装基板上に、請求項1から請求項9の何れか一項に記載の発光素子を載置した発光装置。   The light-emitting device which mounted the light emitting element as described in any one of Claims 1-9 on the mounting board | substrate. 前記実装基板は、前記発光素子が予め定められた所定の方向又は所定の方向及び所定の位置に載置されたときに、前記発光素子の磁化領域との間に磁気引力が作用する方向に磁化された磁化領域を有することを特徴とする請求項10に記載の発光装置。   The mounting substrate is magnetized in a direction in which a magnetic attraction acts between the light emitting element and a magnetization region of the light emitting element when the light emitting element is placed in a predetermined direction or a predetermined direction and a predetermined position. The light emitting device according to claim 10, further comprising a magnetized region. 前記実装基板が有する前記磁化領域は、前記発光素子と電気的に接続される配線パターンから独立して設けられていることを特徴とする請求項11に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 11, wherein the magnetization region of the mounting substrate is provided independently of a wiring pattern electrically connected to the light emitting element. 実装基板上に、請求項5、請求項6、請求項6を引用する請求項7、請求項8、又は、請求項5もしくは請求項6を引用する請求項9の何れか一項に記載の発光素子を搭載した発光装置であって、
前記実装基板は、前記第1磁化領域との間に磁気引力が作用する方向に磁化された第3磁化領域と、前記第2磁化領域との間に磁気引力が作用する方向に磁化された第4磁化領域とを有することを特徴とする発光装置。
The mounting circuit board according to any one of Claims 7, 8, and 6, or 6, wherein the Claim 5, the Claim 6, and the Claim 6 are cited. A light emitting device equipped with a light emitting element,
The mounting substrate is magnetized in a direction in which a magnetic attraction acts between the third magnetization region and the second magnetization region, which is magnetized in a direction in which a magnetic attraction acts between the first magnetization region and the second magnetization region. A light emitting device having four magnetized regions.
平面視において、前記第3磁化領域は前記第1磁化領域と同じ外形形状を有し、前記第4磁化領域は前記第2磁化領域と同じ外形形状を有することを特徴とする請求項13に記載の発光装置。   The plan view of claim 13, wherein the third magnetization region has the same outer shape as the first magnetization region, and the fourth magnetization region has the same outer shape as the second magnetization region. Light-emitting device. 前記実装基板は、前記第1電極と接続される第1配線パターンと、前記第2電極と接続される第2配線パターンとを有することを特徴とする請求項10から請求項14の何れか一項に記載の発光装置。   The mounting substrate includes a first wiring pattern connected to the first electrode and a second wiring pattern connected to the second electrode. The light emitting device according to item. 前記第1配線パターンは前記第3磁化領域を有し、前記第2配線パターンは前記第4磁化領域を有していることを特徴とする請求項15に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 15, wherein the first wiring pattern has the third magnetization region, and the second wiring pattern has the fourth magnetization region. 請求項10から請求項16の何れか一項に記載の発光装置の製造方法であって、
前記発光素子の実装面を前記実装基板に対向させて載置する発光素子載置工程を含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
A method for manufacturing a light emitting device according to any one of claims 10 to 16,
A method of manufacturing a light-emitting device, comprising: a light-emitting element mounting step of mounting the light-emitting element so that a mounting surface faces the mounting substrate.
前記発光素子載置工程において、前記発光素子の磁化領域と前記実装基板の磁化領域とを磁力を用いて位置合わせすることを特徴とする請求項17に記載の発光装置の製造方法。   The method of manufacturing a light emitting device according to claim 17, wherein in the light emitting element mounting step, the magnetization region of the light emitting element and the magnetization region of the mounting substrate are aligned using a magnetic force. 請求項15に記載の発光装置の製造方法であって、
前記発光素子の前記電極を有する面を前記実装基板に対向させて載置する発光素子載置工程と、
前記第1電極と前記第1配線パターンとを電気的に接続するとともに、前記第2電極と前記第2配線パターンとを電気的に接続する電極接合工程と、
をこの順で含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
A method for manufacturing a light emitting device according to claim 15,
A light emitting element mounting step of mounting the surface of the light emitting element facing the mounting substrate;
An electrode joining step of electrically connecting the first electrode and the first wiring pattern and electrically connecting the second electrode and the second wiring pattern;
In this order. A method for manufacturing a light-emitting device.
請求項16に記載の発光装置の製造方法であって、
前記発光素子の前記電極を有する面を前記実装基板に対向させて載置する発光素子載置工程と、
前記第1電極と前記第1配線パターンとを電気的に接続するとともに、前記第2電極と前記第2配線パターンとを電気的に接続する電極接合工程と、
をこの順で含み、
前記発光素子載置工程において、前記第1磁化領域と前記第3磁化領域と、前記第2磁化領域と前記第4磁化領域とを、それぞれ磁力を用いて位置合わせすることを特徴とする発光装置の製造方法。
A method of manufacturing a light emitting device according to claim 16,
A light emitting element mounting step of mounting the surface of the light emitting element facing the mounting substrate;
An electrode joining step of electrically connecting the first electrode and the first wiring pattern and electrically connecting the second electrode and the second wiring pattern;
In this order,
In the light emitting element mounting step, the first magnetization region, the third magnetization region, the second magnetization region, and the fourth magnetization region are aligned using magnetic force, respectively. Manufacturing method.
請求項10に記載の発光装置の製造方法であって、
前記発光素子の実装面を前記実装基板に対向させて載置する発光素子載置工程を含み、
前記発光素子載置工程において、前記実装基板の前記発光素子を載置する側と反対側の面に磁界発生手段を設置して、前記発光素子が前記実装基板に対して所定の方向又は所定の方向及び所定の位置に載置されたときに、前記発光素子の前記磁化領域が磁界から磁気引力を受けるように、前記磁界発生手段によって前記磁界を発生させることを特徴とする発光装置の製造方法。
It is a manufacturing method of the light-emitting device according to claim 10,
A light emitting element mounting step of mounting the light emitting element mounting surface facing the mounting substrate;
In the light emitting element mounting step, magnetic field generating means is installed on a surface of the mounting substrate opposite to the side on which the light emitting element is mounted, and the light emitting element is in a predetermined direction or a predetermined direction with respect to the mounting substrate. A method of manufacturing a light emitting device, wherein the magnetic field generating means generates the magnetic field so that the magnetized region of the light emitting element receives a magnetic attraction from the magnetic field when placed in a direction and at a predetermined position. .
前記第1電極と接続される第1配線パターンと、前記第2電極と接続される第2配線パターンとを有する実装基板上に、請求項8に記載の発光素子を搭載した発光装置の製造方法であって、
前記発光素子の実装面を前記実装基板に対向させて載置する発光素子載置工程と、
前記第1電極と前記第1配線パターンとを電気的に接続するとともに、前記第2電極と前記第2配線パターンとを電気的に接続する電極接合工程と、
をこの順で含み、
前記発光素子載置工程において、前記実装基板の前記第1配線パターン及び前記第2配線パターンを有する側の反対側の面に磁界発生手段を設置して、前記磁界発生手段によって、前記第1磁化領域が前記第1配線パターンに向かって磁気引力を受けるとともに、前記第2磁化領域が前記第2配線パターンに向かって磁気引力を受けるように磁界を発生させることを特徴とする発光装置の製造方法。
The manufacturing method of the light-emitting device which mounts the light emitting element of Claim 8 on the mounting substrate which has the 1st wiring pattern connected with the said 1st electrode, and the 2nd wiring pattern connected with the said 2nd electrode. Because
A light emitting element mounting step of mounting the light emitting element with the mounting surface facing the mounting substrate;
An electrode joining step of electrically connecting the first electrode and the first wiring pattern and electrically connecting the second electrode and the second wiring pattern;
In this order,
In the light emitting element mounting step, a magnetic field generation unit is installed on a surface of the mounting substrate opposite to the side having the first wiring pattern and the second wiring pattern, and the first magnetization is generated by the magnetic field generation unit. A method of manufacturing a light emitting device, wherein a magnetic field is generated so that a region receives a magnetic attraction toward the first wiring pattern and a second magnetization region receives a magnetic attraction toward the second wiring pattern .
JP2012238714A 2012-10-30 2012-10-30 Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method Pending JP2014090052A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012238714A JP2014090052A (en) 2012-10-30 2012-10-30 Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012238714A JP2014090052A (en) 2012-10-30 2012-10-30 Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014090052A true JP2014090052A (en) 2014-05-15

Family

ID=50791738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012238714A Pending JP2014090052A (en) 2012-10-30 2012-10-30 Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014090052A (en)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016018966A (en) * 2014-07-11 2016-02-01 スタンレー電気株式会社 Semiconductor optical element and element dispersion solution
JP2016025205A (en) * 2014-07-18 2016-02-08 スタンレー電気株式会社 Method of manufacturing semiconductor optical device
KR20160053481A (en) * 2014-11-05 2016-05-13 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting device package having the same, and light system having the same
JP2017527122A (en) * 2014-09-08 2017-09-14 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Optoelectronic module
WO2018104138A1 (en) * 2016-12-09 2018-06-14 Lumileds Holding B.V. Method of manufacturing an led carrier assembly
JP2018527748A (en) * 2015-08-03 2018-09-20 ルミレッズ ホールディング ベーフェー Semiconductor light-emitting device with reflective side coating
JP2018170339A (en) * 2017-03-29 2018-11-01 京セラディスプレイ株式会社 Display device
CN108962042A (en) * 2018-07-23 2018-12-07 上海天马微电子有限公司 Display panel and preparation method thereof
CN109003966A (en) * 2018-07-23 2018-12-14 上海天马微电子有限公司 Display panel and preparation method thereof
JP2019054277A (en) * 2018-12-04 2019-04-04 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method of light-emitting device
JP2019096902A (en) * 2015-01-30 2019-06-20 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Method for manufacturing semiconductor component and semiconductor component
US10396253B2 (en) 2017-03-31 2019-08-27 Nichia Corporation Method for manufacturing light-emitting device
US10559724B2 (en) 2016-10-19 2020-02-11 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing same
US10651336B2 (en) 2017-06-30 2020-05-12 Nichia Corporation Light-emitting device
JP2020115584A (en) * 2020-04-15 2020-07-30 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method of the same
JP2021068913A (en) * 2014-12-26 2021-04-30 日亜化学工業株式会社 Light emitting device
CN112838082A (en) * 2020-12-31 2021-05-25 深圳Tcl新技术有限公司 LED lamp panel preparation method, magnetic LED chip and preparation method thereof, and LED display screen

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016018966A (en) * 2014-07-11 2016-02-01 スタンレー電気株式会社 Semiconductor optical element and element dispersion solution
JP2016025205A (en) * 2014-07-18 2016-02-08 スタンレー電気株式会社 Method of manufacturing semiconductor optical device
US10276762B2 (en) 2014-09-08 2019-04-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic component
JP2017527122A (en) * 2014-09-08 2017-09-14 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Optoelectronic module
KR20160053481A (en) * 2014-11-05 2016-05-13 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting device package having the same, and light system having the same
KR102249645B1 (en) 2014-11-05 2021-05-10 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting device package having the same, and light system having the same
JP2021068913A (en) * 2014-12-26 2021-04-30 日亜化学工業株式会社 Light emitting device
JP7096512B2 (en) 2014-12-26 2022-07-06 日亜化学工業株式会社 Luminescent device
JP2019096902A (en) * 2015-01-30 2019-06-20 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Method for manufacturing semiconductor component and semiconductor component
KR20210031006A (en) * 2015-08-03 2021-03-19 루미리즈 홀딩 비.브이. Semiconductor light emitting device with reflective side coating
JP7181792B2 (en) 2015-08-03 2022-12-01 ルミレッズ ホールディング ベーフェー Semiconductor light emitting device with reflective side coating
KR102641716B1 (en) 2015-08-03 2024-02-29 루미리즈 홀딩 비.브이. Semiconductor light-emitting device with reflective side coating
US11127887B2 (en) 2015-08-03 2021-09-21 Lumileds Llc Semiconductor light emitting device with reflective side coating
JP2018527748A (en) * 2015-08-03 2018-09-20 ルミレッズ ホールディング ベーフェー Semiconductor light-emitting device with reflective side coating
US11322664B2 (en) 2016-10-19 2022-05-03 Nichia Corporation Method of manufacturing light emitting device
US10559724B2 (en) 2016-10-19 2020-02-11 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing same
US10896998B2 (en) 2016-10-19 2021-01-19 Nichia Corporation Method of manufacturing light emitting device
US20190304950A1 (en) * 2016-12-09 2019-10-03 Lumileds Llc Method of manufacturing an led carrier assembly
JP2020501370A (en) * 2016-12-09 2020-01-16 ルミレッズ ホールディング ベーフェー Method of manufacturing an LED carrier assembly
TWI774710B (en) * 2016-12-09 2022-08-21 荷蘭商露明控股公司 Method of manufacturing an led carrier assembly
JP7224285B2 (en) 2016-12-09 2023-02-17 ルミレッズ ホールディング ベーフェー Method for manufacturing LED carrier assembly
KR20190092516A (en) * 2016-12-09 2019-08-07 루미리즈 홀딩 비.브이. How to Make an LED Carrier Assembly
WO2018104138A1 (en) * 2016-12-09 2018-06-14 Lumileds Holding B.V. Method of manufacturing an led carrier assembly
KR102465038B1 (en) * 2016-12-09 2022-11-09 루미리즈 홀딩 비.브이. How to manufacture an LED carrier assembly
CN110024495A (en) * 2016-12-09 2019-07-16 亮锐控股有限公司 The method for manufacturing LED carrier module
US11227853B2 (en) 2016-12-09 2022-01-18 Lumileds Llc Method of manufacturing an LED carrier assembly having an embedded alignment magnet
JP2018170339A (en) * 2017-03-29 2018-11-01 京セラディスプレイ株式会社 Display device
US10396253B2 (en) 2017-03-31 2019-08-27 Nichia Corporation Method for manufacturing light-emitting device
US10651336B2 (en) 2017-06-30 2020-05-12 Nichia Corporation Light-emitting device
CN109003966A (en) * 2018-07-23 2018-12-14 上海天马微电子有限公司 Display panel and preparation method thereof
CN108962042A (en) * 2018-07-23 2018-12-07 上海天马微电子有限公司 Display panel and preparation method thereof
JP2019054277A (en) * 2018-12-04 2019-04-04 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method of light-emitting device
JP7007606B2 (en) 2020-04-15 2022-01-24 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and its manufacturing method
JP2020115584A (en) * 2020-04-15 2020-07-30 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method of the same
CN112838082A (en) * 2020-12-31 2021-05-25 深圳Tcl新技术有限公司 LED lamp panel preparation method, magnetic LED chip and preparation method thereof, and LED display screen

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014090052A (en) Light-emitting element, light-emitting device and light-emitting device manufacturing method
US9123867B2 (en) Light emitting device
US10270011B2 (en) Light emitting device
US10043955B2 (en) Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
US9196805B2 (en) Light emitting device and method for manufacturing light emitting device
US8377726B2 (en) Method for manufacturing light emitting device and light emitting device
JP6094062B2 (en) Light emitting device and manufacturing method thereof
TWI462352B (en) Optical semiconductor device and method for manufacturing same
US10211379B2 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
JP2011243977A (en) Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
TW201244183A (en) Wafer level LED package and method of fabricating the same
CN104300068A (en) Light emitting device and method of manufacturing the same
JP6519177B2 (en) Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
JP6269753B2 (en) Light emitting device
JP2004165308A (en) Light emitting device
JP5919753B2 (en) Light emitting device and method for manufacturing light emitting device
KR101719642B1 (en) Light-emitting diode package and method of manufacturing the same
JP4544361B2 (en) Light emitting device
KR20120064838A (en) Light emitting diode package and method of manufacturing thereof
JP6555335B2 (en) LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE MANUFACTURING METHOD
JP2017028265A (en) Light-emitting element and light-emitting device
JP2017069378A (en) Light-emitting device
CN117153992A (en) Light emitting diode device and manufacturing method thereof