JP2014049545A - 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - Google Patents
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Abstract
【構成】本発明の一態様の荷電粒子ビーム描画方法は、試料を載置するステージの回転方向の位置ずれ量を測定する工程と、磁場が逆方向の複数の電磁レンズの各電磁レンズの磁場中に少なくとも1つずつ配置された複数の静電レンズを用いて、複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させた状態で、ビーム像のパターンを前記ステージ上の試料に描画する工程と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図7
Description
試料を載置するステージの回転方向の位置ずれ量を測定する工程と、
磁場が逆方向の複数の電磁レンズの各電磁レンズの磁場中に少なくとも1つずつ配置された複数の静電レンズを用いて、複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させた状態で、ビーム像のパターンを前記ステージ上の試料に描画する工程と、
を備えたことを特徴とする。
少なくとも3段の静電レンズを用いて、複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、ビーム像の倍率を一定に維持するように、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させると好適である。
ビーム像を回転させる際、複数の静電レンズを用いて、測定された試料の表面高さに応じて荷電粒子ビームの焦点を動的に合わせながら、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させると好適である。
少なくとも3段の静電レンズを用いて、測定された試料の表面高さに応じて荷電粒子ビームの焦点を動的に合わせながら、かつ、ビーム像の倍率を一定に維持するように、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させると好適である。
試料を載置するステージと、
ステージの回転方向の位置ずれ量を測定する測定部と、
磁場が逆方向の複数の電磁レンズと、
各電磁レンズの磁場中に少なくとも1つずつ配置された複数の静電レンズと、
複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、測定されたステージの回転方向の位置ずれ量を補正するようにビーム像を回転させる電圧の組となるように、複数の静電レンズに電圧を印加する複数の電圧印加部と、
を備え、
回転させられたビーム像のパターンをステージ上の試料に描画することを特徴とする。
図1は、実施の形態1における描画装置の構成を示す概念図である。図1において、描画装置100は、描画部150と制御部160を備えている。描画装置100は、マルチ荷電粒子ビーム描画装置の一例である。描画部150は、電子鏡筒102と描画室103を備えている。電子鏡筒102内には、電子銃201、照明レンズ202、アパーチャ部材203、ブランキングプレート204、縮小レンズ205、制限アパーチャ部材206、対物レンズ207、及び、2段の静電レンズ212,214が配置されている。描画室103内には、XYステージ105が配置される。XYステージ105上には、描画時には描画対象基板となるマスク等の試料101が配置される。試料101には、半導体装置を製造する際の露光用マスク、或いは、半導体装置が製造される半導体基板(シリコンウェハ)等が含まれる。また、試料101には、レジストが塗布された、まだ何も描画されていないマスクブランクスが含まれる。XYステージ105上には、レーザ測長用のミラー106が配置される。
実施の形態1では、上述した例では、対物レンズ207で合わせた焦点位置を変化させないように静電レンズ212,214の電圧を調整したが、これに限るものではない。電子ビーム描画では、例えばXYステージ105が移動しながら描画を進めるため、描画位置が都度変化していく。また、試料面も平面とは限らず、凹凸が存在する。そのため、マルチビーム20が照射される試料面上の高さが変化する。そのため、静電レンズ212,214によって、描画中に、ダイナミックにマルチビーム20の焦点ずれを補正(ダイナミックフォーカス)するとなおよい。
実施の形態3では、さらに、ビーム像の倍率変動についても調整する構成について説明する。
22 穴
24,26 電極
30 描画領域
32 ストライプ領域
34 照射領域
36 ショットパターン
50 回転誤差測定部
52 電圧取得部
54高さ測定部
100 描画装置
101,340 試料
102 電子鏡筒
103 描画室
105 XYステージ
110 制御計算機
111 メモリ
112 制御回路
120,122,124 アンプ
150 描画部
160 制御部
200 電子ビーム
201 電子銃
202 照明レンズ
203 アパーチャ部材
204 ブランキングプレート
205 縮小レンズ
206 制限アパーチャ部材
207 対物レンズ
212,214,216 静電レンズ
Claims (5)
- 試料を載置するステージの回転方向の位置ずれ量を測定する工程と、
磁場が逆方向の複数の電磁レンズの各電磁レンズの磁場中に少なくとも1つずつ配置された複数の静電レンズを用いて、前記複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、測定された前記ステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させた状態で、ビーム像のパターンを前記ステージ上の試料に描画する工程と、
を備えたことを特徴とする荷電粒子ビーム描画方法。 - 前記複数の静電レンズは、3つ以上の静電レンズであり、前記複数の電磁レンズの一方の磁場中に少なくとも2段の静電レンズが配置され、前記複数の電磁レンズの他方の磁場中に少なくとも1段の静電レンズが配置され、
前記少なくとも3段の静電レンズを用いて、前記複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、ビーム像の倍率を一定に維持するように、かつ、測定された前記ステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させることを特徴とする請求項1記載の荷電粒子ビーム描画方法。 - 前記ステージ上の試料の表面高さを測定する工程をさらに備え、
前記ビーム像を回転させる際、前記複数の静電レンズを用いて、測定された試料の表面高さに応じて荷電粒子ビームの焦点を動的に合わせながら、かつ、測定された前記ステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させることを特徴とする請求項1記載の荷電粒子ビーム描画方法。 - 前記複数の静電レンズは、3つ以上の静電レンズであり、前記複数の電磁レンズの一方の磁場中に少なくとも2段の静電レンズが配置され、前記複数の電磁レンズの他方の磁場中に少なくとも1段の静電レンズが配置され、
前記少なくとも3段の静電レンズを用いて、測定された試料の表面高さに応じて荷電粒子ビームの焦点を動的に合わせながら、かつ、ビーム像の倍率を一定に維持するように、かつ、測定された前記ステージの回転方向の位置ずれ量を補正するように、ビーム像を回転させることを特徴とする請求項3記載の荷電粒子ビーム描画方法。 - 試料を載置するステージと、
前記ステージの回転方向の位置ずれ量を測定する測定部と、
磁場が逆方向の複数の電磁レンズと、
各電磁レンズの磁場中に少なくとも1つずつ配置された複数の静電レンズと、
前記複数の電磁レンズを通過する荷電粒子ビームの焦点ずれが生じないように、かつ、測定された前記ステージの回転方向の位置ずれ量を補正するようにビーム像を回転させる電圧の組となるように、前記複数の静電レンズに電圧を印加する複数の電圧印加部と、
を備え、
回転させられたビーム像のパターンを前記ステージ上の試料に描画することを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。
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