JP2014036252A - Electronic circuit - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、互いのゲートが接続されたPチャネル型CMOSトランジスタとNチャネル型CMOSトランジスタを直列接続して成るCMOS直列回路を有する電子回路に関するものである。 The present invention relates to an electronic circuit having a CMOS series circuit formed by serially connecting a P-channel CMOS transistor and an N-channel CMOS transistor whose gates are connected to each other.
従来、直列接続されたPchMOSトランジスタとNchMOSトランジスタを有する出力回路において、定電流回路に流れる電流のM倍、N倍の定電流がPchMOSトランジスタとNchMOSトランジスタに流れるようにして高速動作を可能とするようにした回路がある(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, in an output circuit having a PchMOS transistor and an NchMOS transistor connected in series, a constant current M times and N times the current flowing in the constant current circuit flows in the PchMOS transistor and the NchMOS transistor so as to enable high-speed operation. There is a circuit (for example, see Patent Document 1).
ところで、例えば、互いのゲートが接続されたPチャネル型CMOSトランジスタとNチャネル型CMOSトランジスタを直列接続して構成されるインバータ回路を有する電子回路においては、インバータ回路が論理反転するときにインバータ回路に貫通電流が流れ、この貫通電流の電流値の変化で、周囲の次回や電界が変化してエミッションノイズが発生する。このようなエミッションノイズは、車載用のAMラジオやFMラジオ等のノイズの原因となる。また、この貫通電流の大きさは、電子回路のトランジスタ数に比例するので、電子回路の回路規模が大きくなるほど大きなエミッションノイズが発生する。 By the way, for example, in an electronic circuit having an inverter circuit configured by serially connecting a P-channel type CMOS transistor and an N-channel type CMOS transistor having gates connected to each other, when the inverter circuit logically inverts, A through current flows, and a change in the current value of the through current changes the next time around and the electric field to generate emission noise. Such emission noise is a cause of noise in an in-vehicle AM radio or FM radio. Further, since the magnitude of the through current is proportional to the number of transistors in the electronic circuit, the emission noise increases as the circuit scale of the electronic circuit increases.
このようなエミッションノイズへの対策として、電子回路の周囲にバイパスコンデンサやフェライトビーズ等のノイズ対策部品を配置するのが一般的である。しかし、このようなノイズ対策部品を配置すると、回路周辺の部品点数が増加してしまうといった問題がある。 As a countermeasure against such emission noise, noise countermeasure parts such as a bypass capacitor and a ferrite bead are generally arranged around the electronic circuit. However, when such noise countermeasure components are arranged, there is a problem that the number of components around the circuit increases.
なお、上記特許文献1に記載されたような出力回路では、高速動作させるために、PchMOSトランジスタとNchMOSトランジスタに大電流を流すように構成されたもので、貫通電流を十分に低減してエミッションノイズを抑制するといったことはできない。 Note that the output circuit as described in Patent Document 1 is configured to allow a large current to flow through the PchMOS transistor and the NchMOS transistor in order to operate at high speed. It cannot be suppressed.
本発明は上記問題に鑑みたもので、回路周辺にノイズ対策部品を配置することなく、貫通電流を低減してエミッションノイズの低減を図ることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to reduce emission current by reducing a through current without arranging noise countermeasure components around a circuit.
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、互いのゲートが接続されたPチャネル型CMOSトランジスタ(11a〜15a、13c、14c)とNチャネル型CMOSトランジスタ(11b〜15b、13d、14d)を直列接続して成るCMOS直列回路を有する電子回路であって、電源端子(Vdd)に接続された一次側トランジスタ(21)および二次側トランジスタ(22〜25)を有し、一次側トランジスタ(21)に流れる電流と比例する定電流が二次側トランジスタ(22〜25)に流れるように構成された第1のカレントミラー回路(20)と、接地端子(GND)に接続された一次側トランジスタ(31)および二次側トランジスタ(32〜35)を有し、一次側トランジスタ(31)に流れる電流と比例する電流が二次側トランジスタ(32〜35)に流れるように構成された第2のカレントミラー回路(30)と、第1のカレントミラー回路(20)の一次側トランジスタ(21)と第2のカレントミラー回路(30)の一次側トランジスタ(31)の間に接続された抵抗(40)と、を備え、CMOS直列回路は、第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)との間に直列に接続されていることを特徴とする電子回路。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is directed to a P-channel type CMOS transistor (11a-15a, 13c, 14c) and an N-channel type CMOS transistor (11b-15b, 13d, 14d) is an electronic circuit having a CMOS series circuit formed by connecting in series, and has a primary side transistor (21) and a secondary side transistor (22-25) connected to a power supply terminal (Vdd). A first current mirror circuit (20) configured such that a constant current proportional to a current flowing through the transistor (21) flows through the secondary side transistors (22 to 25), and a primary connected to the ground terminal (GND). Side transistor (31) and secondary side transistors (32 to 35), which are proportional to the current flowing through the primary side transistor (31) A second current mirror circuit (30) configured to flow through the secondary side transistors (32 to 35), a primary side transistor (21) of the first current mirror circuit (20), and a second current A resistor (40) connected between the primary side transistors (31) of the mirror circuit (30), and the CMOS series circuit includes secondary side transistors (22-25) of the first current mirror circuit (20). ) And the secondary side transistors (32 to 35) of the second current mirror circuit (30).
このような構成によれば、CMOS直列回路は、第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)との間に直列に接続されているので、CMOS直列回路が論理反転する際に、CMOS直列回路を構成しているPチャネル型CMOSトランジスタとNチャネル型CMOSトランジスタに大電流の貫通電流が流れそうになっても、第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)によって電流が制限されるので、回路周辺にノイズ対策部品を配置することなく、貫通電流を低減してエミッションノイズの低減を図ることができる。 According to such a configuration, the CMOS series circuit includes the secondary side transistors (22 to 25) of the first current mirror circuit (20) and the secondary side transistors (32 to 32) of the second current mirror circuit (30). 35) is connected in series to the P channel type CMOS transistor and the N channel type CMOS transistor constituting the CMOS series circuit when the CMOS series circuit is logically inverted. Even if it is likely to flow, the current is limited by the secondary transistors (22 to 25) of the first current mirror circuit (20) and the secondary transistors (32 to 35) of the second current mirror circuit (30). Therefore, it is possible to reduce the emission current by reducing the through current without arranging noise countermeasure parts around the circuit.
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。 In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in this column and the claim shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態に係る電子回路の構成を図1に示す。本実施形態に係る電子回路は、インバータ回路11、カレントミラー回路20、カレントミラー回路30および抵抗40を備えている。
(First embodiment)
FIG. 1 shows the configuration of the electronic circuit according to the first embodiment of the present invention. The electronic circuit according to this embodiment includes an
インバータ回路11は、入力端子IN1に印加される電圧レベルを論理反転した電圧レベルを出力端子OUTより出力するデジタル回路である。インバータ回路11は、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ11aとNチャネル型MOSトランジスタ11bを直列接続して成るCMOS直列回路により構成されている。
The
カレントミラー回路20は、電源端子Vddに接続されたPチャネル型MOSトランジスタ21、22を有し、一次側トランジスタ21に比例する電流が二次側トランジスタ22に流れるように構成されている。
The
また、カレントミラー回路30は、接地端子GNDに接続されたNチャネル型MOSトランジスタ31、32を有し、一次側トランジスタ31に比例する電流が二次側トランジスタ32に流れるように構成されている。
The
抵抗40は、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21とカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31の間に接続されている。
The
インバータ回路11を構成しているトランジスタ11a、11bには、それぞれカレントミラー回路20の二次側トランジスタ22とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32とが直列に接続されている。
The
本実施形態において、インバータ回路11を構成しているトランジスタ11a、11bとトランジスタ21、22のトランジスタサイズ(ゲート長、ゲート幅)は同じとなっている。
In the present embodiment, the transistor sizes (gate length and gate width) of the
また、カレントミラー回路20における一次側トランジスタ21と二次側トランジスタ22のトランジスタサイズ(ゲート長、ゲート幅)は同じとなっており、カレントミラー回路20における一次側トランジスタ21と二次側トランジスタ22に等しい電流が流れるように構成されている。
Further, the transistor sizes (gate length and gate width) of the
また、カレントミラー回路30における一次側トランジスタ31と二次側トランジスタ32のトランジスタサイズ(ゲート長、ゲート幅)も同じとなっており、カレントミラー回路30における一次側トランジスタ31と二次側トランジスタ32に等しい電流が流れるように構成されている。
The transistor sizes (gate length and gate width) of the
上記した構成において、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21と抵抗40とカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31は直列に接続されている。
In the configuration described above, the
ここで、電源端子Vddの電圧をVcc、トランジスタ21の閾値電圧をVtp、トランジスタ31の閾値電圧をVtn、抵抗Rの抵抗値rとすると、トランジスタ21から抵抗40を介してトランジスタ31に流れる電流Iは、数式1のように表すことができる。
(数1)
I=(Vcc−Vtp−Vtn)/r ・・・数式1
上述したように、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21に流れる電流と二次側トランジスタ22に流れる電流は等しくなっており、また、カレントミラー回路30の一次側トランジスタ31に流れる電流と二次側トランジスタ32に流れる電流は等しくなっている。
Here, when the voltage of the power supply terminal Vdd is Vcc, the threshold voltage of the
(Equation 1)
I = (Vcc−Vtp−Vtn) / r Equation 1
As described above, the current flowing through the
すなわち、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22からインバータ回路11を構成しているトランジスタ11a、11bを介してカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32に流れる電流は、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21から抵抗40を介してカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31に流れる電流Iと等しくなる。
That is, the current flowing from the
図2に、カレントミラー回路20、30および抵抗40を省略して電源端子Vddと接地端子GNDの間にインバータ回路11を設けた場合と、カレントミラー回路20、30および抵抗40とともにインバータ回路11を設けた場合の貫通電流Ikiの様子を示す。図中、一点鎖線Aは、カレントミラー回路20、30および抵抗40を省略した場合のインバータ回路11に流れる貫通電流Ikiを示しており、図中実線Bは、カレントミラー回路20、30および抵抗40を省略しない場合のインバータ回路11に流れる貫通電流Ikiを示している。
In FIG. 2, when the
このように、インバータ回路11の入力端子IN1の電圧レベルが変化してインバータ回路11より出力される電圧レベルが論理反転する際に、インバータ回路11を構成しているトランジスタ11a、11bに大電流の貫通電流Ikiが流れそうになっても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22およびカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32によって電流が制限され、貫通電流Ikiを抑制することができる。
Thus, when the voltage level of the input terminal IN1 of the
上記した構成によれば、CMOS直列回路は、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35との間に直列に接続されているので、CMOS直列回路が論理反転する際に、CMOS直列回路を構成しているPチャネル型CMOSトランジスタとNチャネル型CMOSトランジスタに大電流の貫通電流が流れそうになっても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35によって電流が制限されるので、回路周辺にノイズ対策部品を配置することなく、貫通電流を低減してエミッションノイズの低減を図ることができる。
According to the above configuration, the CMOS series circuit is connected in series between the
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態に係る電子回路の構成を図3に示す。本実施形態に係る電子回路は、図1に示した電子回路に対し、更に、3つのインバータ51〜53を駆動するインバータ回路12を備えた点と、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ23〜25およびカレントミラー回路30の二次側トランジスタ33〜35を備えた点が異なる。なお、上記実施形態と同一部分については同一符号を付して説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明する。
(Second Embodiment)
FIG. 3 shows a configuration of an electronic circuit according to the second embodiment of the present invention. In addition to the electronic circuit shown in FIG. 1, the electronic circuit according to the present embodiment further includes an
本実施形態では、CMOS直列回路を有する2つのインバータ回路11、12を備えており、これらのインバータ回路11、12の各々に、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とが接続されている。
In this embodiment, two
回路に含まれる一部のトランジスタに大電流の貫通電流が流れただけでも、比較的大きなエミッションノイズが発生することがあるが、本実施形態では、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ13aとNチャネル型MOSトランジスタ13bを直列接続して成るCMOS直列回路を有する複数の全ての回路11、12の各々に、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とを接続するように構成されている。このように、より効果的にエミッションノイズの発生を抑制している。
Even if a large through current flows through some of the transistors included in the circuit, a relatively large emission noise may occur. In this embodiment, the P-channel MOS transistors with their gates connected to each other 13a and N-
また、本実施形態において、インバータ回路12は、3つのインバータ51〜53を駆動する構成となっている。また、インバータ51〜53は、図1に示したインバータ回路11と同じ回路構成となっている。
In the present embodiment, the
インバータ回路11を構成しているトランジスタ11a、11bに流れる電流は、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22およびカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32により制限され、貫通電流が抑制される。
The current flowing through the
しかし、このようにインバータ回路11に流れる電流を制限する構成では、後段のトランジスタのゲート容量が大きくなると、トランジスタのゲート信号の立ち上がり、立ち下がり波形が鈍って、後段のインバータ50の遅延時間が遅くなってしまう。
However, in the configuration in which the current flowing through the
本実施形態では、後段に3つのインバータ51〜53が接続されているインバータ回路12には、後段に1つのインバータ50が接続されているインバータ回路11と比較して3倍の電流Ikiを流すことができるように構成されている。具体的には、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25に、それぞれ一次側トランジスタ21と同じ値の定電流が流れるように構成され、カレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35に、それぞれ一次側トランジスタ31と同じ値の定電流が流れるように構成されており、1つのインバータ50を駆動するインバータ回路11に含まれるCMOS直列回路には、それぞれ1つの二次側トランジスタ22と二次側トランジスタ32が接続され、3つのインバータ51〜53を駆動するインバータ回路12に含まれるCMOS直列回路には、それぞれ3つの二次側トランジスタ23〜25と二次側トランジスタ33〜35が接続されている。
In the present embodiment, a current Iki that is three times larger than that of the
なお、電圧をV、負荷のゲート容量をC、電流をI、立ち上がり/立ち下がり時間をtとすると、V=I・t/Cの関係が成り立つ。ここで、負荷のゲート容量Cが3倍になったとしても、電流Iを3倍にすることで、立ち上がり/立ち下がり時間tを一定とすることが可能である。 When the voltage is V, the load gate capacitance is C, the current is I, and the rise / fall time is t, the relationship V = I · t / C is established. Here, even if the gate capacitance C of the load is tripled, the rise / fall time t can be made constant by triple the current I.
また、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25に、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21と同じ値の定電流が流れるように構成し、カレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35に、カレントミラー回路30の一次側トランジスタ31と同じ値の定電流が流れるように構成することができる。
Further, a constant current having the same value as that of the
更に、CMOS直列回路の各々は、少なくとも1つのCMOSトランジスタのゲートを制御して当該CMOSトランジスタを含む負荷50〜53を駆動するようになっており、CMOS直列回路には、当該CMOS直列回路により制御されるCMOSトランジスタのゲートの数に比例する数のカレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とがそれぞれ並列接続されるように構成されているので、CMOS直列回路により制御されるCMOSトランジスタのゲートの数が多い場合でも、CMOSトランジスタのゲート信号の立ち上がり、立ち下がり波形が鈍って、負荷の遅延時間が遅くなってしまうといったことを防止することが可能である。
Further, each of the CMOS series circuits controls the gate of at least one CMOS transistor to drive the
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態に係る電子回路の構成を図3に示す。図1中のインバータ回路11を2入力NAND回路13に置き換えた構成となっている。NAND回路13は、入力端子IN1と入力端子IN2にそれぞれハイレベルの信号が入力されたときのみハイレベルの信号を出力端子OUTから出力する電子回路である。
(Third embodiment)
FIG. 3 shows the configuration of an electronic circuit according to the third embodiment of the present invention. The
NAND回路13は、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ13aとNチャネル型MOSトランジスタ13bを直列接続して成るCMOS直列回路と、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ13cとNチャネル型MOSトランジスタ13dを直列接続して成るCMOS直列回路を有している。
The
また、NAND回路13は、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32との間に直列に接続されている。
The
このような構成においても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22からNAND回路13を介してカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32に流れる電流は、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21から抵抗40を介してカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31に流れる電流Iと等しくなる。
Even in such a configuration, the current flowing from the
すなわち、NAND回路13より出力される電圧レベルが論理反転する際に、NAND回路13を構成しているトランジスタ13a、13bおよびトランジスタ13c、13dに大電流の貫通電流Ikiが流れそうになっても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22およびカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32により電流が制限され、貫通電流Ikiを抑制することができる。
That is, when the voltage level output from the
(第4実施形態)
本発明の第4実施形態に係る電子回路の構成を図3に示す。図1中のインバータ回路11を2入力NOR回路14に置き換えた構成となっている。NOR回路14は、入力端子IN1と入力端子IN2にそれぞれローレベルの信号が入力されたときのみハイレベルの信号を出力端子OUTから出力するデジタル回路である。
(Fourth embodiment)
FIG. 3 shows the configuration of an electronic circuit according to the fourth embodiment of the present invention. The
NOR回路14は、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ14aとNチャネル型MOSトランジスタ14bを直列接続して成るCMOS直列回路と、互いのゲートが接続されたPチャネル型MOSトランジスタ14cとNチャネル型MOSトランジスタ14dを直列接続して成るCMOS直列回路を有している。
The NOR
また、NOR回路14は、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32との間に直列に接続されている。
The NOR
このような構成においても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22からNOR回路14を介してカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32に流れる電流は、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21から抵抗40を介してカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31に流れる電流Iと等しくなる。
Even in such a configuration, the current flowing from the
すなわち、NOR回路14より出力される電圧レベルが論理反転する際に、NOR回路14を構成しているトランジスタ14a、14bおよびトランジスタ14c、14dに大電流の貫通電流Ikiが流れそうになっても、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22およびカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32により電流が制限され、貫通電流Ikiを抑制することができる。
That is, when the voltage level output from the NOR
(その他の実施形態)
上記第1〜第4実施形態では、インバータ回路11、12、NAND回路13、NOR回路14に対し、カレントミラー回路20、30および抵抗40により、電流を制限して貫通電流を抑制する構成を示したが、図5に示すようなリングオシレータ15や、図示しない各種フリップフロップ等のデジタル回路等に対しても、同様に、カレントミラー回路20、30および抵抗40により、電流を制限して貫通電流を抑制するように構成することができる。
(Other embodiments)
In the first to fourth embodiments, the
また、上記第2実施形態では、CMOS直列回路を有する2つのインバータ回路11、12の各々に、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とを接続するように構成したが、CMOS直列回路を有する全ての回路の各々に、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とを接続するように構成してもよい。
In the second embodiment, each of the two
また、上記第2実施形態では、カレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25に、カレントミラー回路20の一次側トランジスタ21と同じ値の定電流が流れるように構成し、カレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35に、カレントミラー回路30の一次側トランジスタ31と同じ値の定電流が流れるように構成し、更に、CMOS直列回路の各々は、少なくとも1つのCMOSトランジスタのゲートを制御して当該CMOSトランジスタを含む負荷50〜53を駆動するようになっており、CMOS直列回路には、当該CMOS直列回路により制御されるCMOSトランジスタのゲートの数に比例する数のカレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とがそれぞれ並列接続されるように構成したが、必ずしもカレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路20の一次側トランジスタ21に同じ値の定電流が流れるように構成する必要はなく、また、カレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35とカレントミラー回路30の一次側トランジスタ31に同じ値の定電流が流れるように構成する必要はない。この場合、CMOS直列回路の各々は、少なくとも1つのCMOSトランジスタのゲートを制御して当該CMOSトランジスタを含む負荷50〜53を駆動するように構成し、CMOS直列回路に接続されるカレントミラー回路20の二次側トランジスタ22〜25とカレントミラー回路30の二次側トランジスタ32〜35には、それぞれCMOS直列回路により制御されるCMOSトランジスタのゲート容量に比例する定電流が流れるように構成すれば、CMOS直列回路により制御されるCMOSトランジスタのゲートの数が多い場合でも、CMOSトランジスタのゲート信号の立ち上がり、立ち下がり波形が鈍って、負荷の遅延時間が遅くなってしまうといったことを防止することが可能である。
In the second embodiment, a constant current having the same value as that of the
また、上記第1〜第4実施形態では、カレントミラー回路20をPチャネル型CMOSトランジスタにより構成し、カレントミラー回路30をNチャネル型CMOSトランジスタにより構成したが、例えば、カレントミラー回路20をpnp型トランジスタにより構成し、カレントミラー回路30をnpn型トランジスタにより構成してもよい。
In the first to fourth embodiments, the
11、12 インバータ回路
13 NAND回路
14 NOR回路
20、30 カレントミラー回路
21、31 一次側トランジスタ
22〜25、32〜35 二次側トランジスタ
40 抵抗
11, 12
Claims (7)
電源端子(Vdd)に接続された一次側トランジスタ(21)および二次側トランジスタ(22〜25)を有し、一次側トランジスタ(21)に流れる電流と比例する定電流が二次側トランジスタ(22〜25)に流れるように構成された第1のカレントミラー回路(20)と、
接地端子(GND)に接続された一次側トランジスタ(31)および二次側トランジスタ(32〜35)を有し、一次側トランジスタ(31)に流れる電流と比例する電流が二次側トランジスタ(32〜35)に流れるように構成された第2のカレントミラー回路(30)と、
前記第1のカレントミラー回路(20)の一次側トランジスタ(21)と前記第2のカレントミラー回路(30)の一次側トランジスタ(31)の間に接続された抵抗(40)と、を備え、
前記CMOS直列回路は、前記第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と前記第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)との間に直列に接続されていることを特徴とする電子回路。 An electronic circuit having a CMOS series circuit formed by serially connecting P-channel type CMOS transistors (11a to 15a, 13c, 14c) and N-channel type CMOS transistors (11b to 15b, 13d, 14d) having gates connected to each other. There,
It has a primary side transistor (21) and secondary side transistors (22-25) connected to a power supply terminal (Vdd), and a constant current proportional to the current flowing through the primary side transistor (21) is a secondary side transistor (22 To 25) a first current mirror circuit (20) configured to flow to
A primary-side transistor (31) and secondary-side transistors (32 to 35) connected to a ground terminal (GND) are provided, and a current proportional to a current flowing through the primary-side transistor (31) is a secondary-side transistor (32 to 35). A second current mirror circuit (30) configured to flow to 35);
A resistor (40) connected between a primary side transistor (21) of the first current mirror circuit (20) and a primary side transistor (31) of the second current mirror circuit (30),
The CMOS series circuit is provided between the secondary side transistors (22 to 25) of the first current mirror circuit (20) and the secondary side transistors (32 to 35) of the second current mirror circuit (30). An electronic circuit characterized by being connected in series.
前記CMOS直列回路の各々に、前記第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と前記第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)とが接続されていることを特徴とする請求項1に記載の電子回路。 A plurality of the CMOS series circuits,
Each of the CMOS series circuits includes a secondary side transistor (22-25) of the first current mirror circuit (20) and a secondary side transistor (32-35) of the second current mirror circuit (30). The electronic circuit according to claim 1, wherein the electronic circuit is connected.
前記CMOS直列回路に接続される前記第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と前記第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)には、それぞれ前記CMOS直列回路により制御される前記CMOSトランジスタのゲート容量に比例する定電流が流れるように構成されていることを特徴とする請求項2に記載の電子回路。 Each of the CMOS series circuits controls a gate of at least one CMOS transistor to drive a load (50 to 53) including the CMOS transistor.
The secondary side transistors (22-25) of the first current mirror circuit (20) and the secondary side transistors (32-35) of the second current mirror circuit (30) connected to the CMOS series circuit. 3. The electronic circuit according to claim 2, wherein a constant current proportional to a gate capacitance of the CMOS transistor controlled by the CMOS series circuit flows.
前記第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)には、前記第2のカレントミラー回路(30)の一次側トランジスタ(31)と同じ値の定電流が流れるようになっていることを特徴とする請求項1または2に記載の電子回路。 A constant current having the same value as that of the primary side transistor (21) of the first current mirror circuit (20) flows through the secondary side transistors (22 to 25) of the first current mirror circuit (20). And
A constant current of the same value as the primary side transistor (31) of the second current mirror circuit (30) flows through the secondary side transistors (32 to 35) of the second current mirror circuit (30). The electronic circuit according to claim 1, wherein the electronic circuit is formed.
前記CMOS直列回路には、当該CMOS直列回路により制御される前記CMOSトランジスタのゲートの数に比例する数の前記第1のカレントミラー回路(20)の二次側トランジスタ(22〜25)と前記第2のカレントミラー回路(30)の二次側トランジスタ(32〜35)とがそれぞれ並列接続されていることを特徴とする請求項4に記載の電子回路。 Each of the CMOS series circuits controls a gate of at least one CMOS transistor to drive a load (50 to 53) including the CMOS transistor.
The CMOS series circuit includes a number of secondary transistors (22 to 25) of the first current mirror circuit (20) proportional to the number of gates of the CMOS transistor controlled by the CMOS series circuit and the first number. 5. The electronic circuit according to claim 4, wherein the secondary transistors (32 to 35) of the two current mirror circuits (30) are respectively connected in parallel.
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