JP2014006134A - 光学測定装置 - Google Patents
光学測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014006134A JP2014006134A JP2012141532A JP2012141532A JP2014006134A JP 2014006134 A JP2014006134 A JP 2014006134A JP 2012141532 A JP2012141532 A JP 2012141532A JP 2012141532 A JP2012141532 A JP 2012141532A JP 2014006134 A JP2014006134 A JP 2014006134A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- measurement object
- light
- light receiving
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】投光部10から測定空間MSへ光が投射される。測定空間MSを通過する光が、第1の光学系201を通して第1のイメージセンサ24に導かれ、第2の光学系202を通して第2のイメージセンサ27に導かれる。第1のイメージセンサ24の出力信号に基づいてZ方向における測定対象物500のエッジE1,E2の位置が算出される。測定空間MS内でX方向における第1の光学系201の第1の焦点FP1の位置と第2の光学系202の第2の焦点FP2の位置とが互いに異なる。第1および第2のイメージセンサ24,27の出力信号に基づいて、測定対象物500が、第1の焦点FP1に位置するか、第1の焦点FP1に関して投光部10に近い側に位置するか、または第1の焦点FP1に関して投光部10から遠い側に位置するかが判定される。
【選択図】図2
Description
(1)光学測定装置の構成
以下、第1の実施の形態に係る光学測定装置について図面を参照しながら説明する。図1は第1の実施の形態に係る光学測定装置の外観斜視図であり、図2は第1の実施の形態に係る光学測定装置の構成を示すブロック図である。
図5および図6は、第1の実施の形態に係る光学測定装置1による測定対象物500の測定方法を説明するための図である。本例では、測定対象物500は断面円形の線状部材である。以下に説明する測定方法によれば、Z方向における測定対象物500の一方のエッジE1と他方のエッジE2との間の距離が算出される。また、Z方向における測定対象物500の一方のエッジE1および他方のエッジE2の位置が算出される。また、X方向における測定対象物500の位置(測定対象物500の中心部500cの位置)が算出される。
続いて、CPU321は、算出された第1の焦点FP1からの測定対象物500の位置ずれ量ΔL1が0であるか否かを判定する(ステップS15)。
上記のように、図1および図2の表示部324には、測定対象物500の測定により算出されたZ方向のエッジE1,E2の位置、エッジE1,E2間の距離、第1の焦点FP1からの測定対象物500の位置ずれ量ΔL1および第1の焦点FP1に対する測定対象物500の位置の判定結果等が表示される。さらに、表示部324には、図2の第3のイメージセンサ28からの出力信号により示される受光量分布が表示される。
本実施の形態に係る光学測定装置1は、例えば光ファイバの線引き装置に適用することができる。図12は、第1の実施の形態に係る光学測定装置1の一適用例を示す模式図である。
図13(a)は断面円形の線状部材である測定対象物500の測定時に受光部20の位置から測定空間MSを見た場合の一例を示す図であり、図13(b)は断面円形の線状部材である測定対象物500の測定時に受光部20の位置から測定空間MSを見た場合の他の例を示す図である。
算出された傾き角度θは、Y方向に平行な軸に対する測定対象物500の軸心の傾斜角度を表す。CPU321は、算出された傾き角度θに基づいて、第1のイメージセンサ24の出力信号に基づいて算出された2つのエッジE1,E2間の距離の値を補正する。
このように、傾き補正によれば、測定対象物500の測定精度をより向上させることができる。なお、CPU321は、算出された傾き角度θに基づいて、Z方向における測定対象物500のエッジE1,E2の位置の算出結果を補正してもよい。
(6−1)本実施の形態に係る光学測定装置1においては、測定空間MS内で、X方向における第1の光学系201の第1の焦点FP1の位置と、X方向における第2の光学系202の第2の焦点FP2の位置とが互いに異なる。それにより、第1のイメージセンサ24および第2のイメージセンサ27の出力信号に基づいて、測定対象物500が第1の焦点FP1に位置するか、測定対象物500が第1の焦点FP1に関して投光部10に近い側に位置するか、または測定対象物500が第1の焦点FP1に関して投光部10から遠い側に位置するかが容易かつ正確に判定される。また、第1の焦点FP1からの測定対象物500の位置ずれ量ΔL1が算出される。
図15は、第2の実施の形態に係る光学測定装置1の構成を示すブロック図である。図15に示すように、本実施の形態に係る光学測定装置1においては、受光部20に図2のビームスプリッタ25および第2のイメージセンサ27が設けられず、コントローラ30に図2のA/D変換器31bが設けられない。
(1)上記の実施の形態では、第1のイメージセンサ24からの出力信号により示される受光量分布が微分される。受光量分布の微分値に基づいて第1の焦点FP1からの測定対象物500の位置ずれ量に対応する第1の評価値が算出される。これに限らず、第1の評価値は、他の方法により算出されてもよい。例えば、第1の評価値は、受光量分布の微分値のピーク幅に基づいて算出されてもよい。
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。
10 投光部
10a,20a,30a 筐体
11 光源
12 拡散部
13 投光レンズ
21 第1のレンズ
22 絞り
23 第2のレンズ
24 第1のイメージセンサ
25 ビームスプリッタ
26 ハーフミラー
27 第2のイメージセンサ
28 第3のイメージセンサ
30 コントローラ
31a,31b,31c A/D変換器
32 信号処理部
40 表示装置
50 プログラマブルコントローラ
60 移動装置
201 第1の光学系
202 第2の光学系
203 第3の光学系
321 CPU
322 データ用メモリ
323 プログラム用メモリ
324 表示部
325 操作部
326 出力回路
500 測定対象物
612 光ファイバ
610 加熱炉
611 母材
CA1,CA2,CA4,CA4 ケーブル
E1,E2 エッジ
FP1 第1の焦点
FP2 第2の焦点
MA 有効測定領域
MS 測定空間
Claims (10)
- 測定対象物が配置されるべき測定空間へ第1の方向に平行に光を投射する投光部と、
受光量を示す信号を出力する第1および第2の受光部と、
前記測定空間内に第1の焦点を有し、前記測定空間を通過する前記投光部からの光を前記第1の受光部に導く第1の光学系と、
前記測定空間内で前記第1の方向における前記第1の焦点の位置と異なる位置に第2の焦点を有し、前記測定空間を通過する前記投光部からの光を前記第2の受光部に導く第2の光学系と、
前記第1の受光部の出力信号に基づいて前記第1の方向に交差する第2の方向における前記測定対象物の位置を算出する制御部とを備え、
前記制御部は、前記第1および第2の受光部の出力信号に基づいて、前記測定対象物が前記第1の方向において前記第1の焦点に関して前記投光部に近い側に位置する第1の状態、前記第1の焦点に関して前記投光部から遠い側に位置する第2の状態または前記第1の焦点に位置する第3の状態のいずれにあるかを判定する、光学測定装置。 - 前記制御部は、前記第1の受光部の出力信号および前記第2の受光部の出力信号の少なくとも一方に基づいて、前記第1の方向における前記第1の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量を算出する、請求項1記載の光学測定装置。
- 前記制御部は、前記第1の受光部の出力信号の演算により前記第1の方向における前記第1の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量に対応する第1の値を算出し、前記第2の受光部の出力信号の演算により前記第1の方向における前記第2の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量に対応する第2の値を算出し、算出された前記第1および第2の値の少なくとも一方に基づいて前記第1の方向における前記第1の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量を算出するとともに、前記第1および第2の値に基づいて前記測定対象物が前記第1、第2または第3の状態のいずれにあるかを判定するように構成される、請求項2記載の光学測定装置。
- 前記制御部は、算出された前記第2の値を用いた演算により前記第1の方向における前記第1の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量を算出するとともに、算出された位置ずれ量および前記第1の値に基づいて前記測定対象物が前記第1、第2または第3の状態のいずれにあるかを判定するように構成される、請求項3記載の光学測定装置。
- 前記測定空間に前記測定対象物が存在しない場合における前記第1および第2の受光部による基準の受光量分布をそれぞれ示す第1および第2の基準データを予め記憶する記憶部をさらに備え、
前記制御部は、前記測定対象物の測定時に、前記記憶部に記憶された前記第1および第2の基準データに基づいて、前記第1および第2の受光部の出力信号により示される受光量分布のうち前記測定対象物を除く前記測定空間の部分に対応する受光量分布が基準の受光量分布に等しくなるように前記第1および第2の受光部の出力信号を補正し、補正された前記第1の受光部の出力信号に基づいて前記第1の方向に交差する第2の方向における前記測定対象物の位置を算出し、補正された前記第1および第2の受光部の出力信号に基づいて、前記測定対象物が前記第1の状態、前記第2の状態または前記第3の状態のいずれにあるかを判定し、補正された前記第1の受光部の出力信号および補正された前記第2の受光部の出力信号の少なくとも一方に基づいて、前記第1の方向における前記第1の焦点からの前記測定対象物の位置ずれ量を算出する、請求項2〜4のいずれか一項に記載の光学測定装置。 - 前記制御部は、算出された前記測定対象物の前記第2の方向における位置および前記測定対象物の前記第1の方向の位置ずれ量に基づいて、前記第1の方向および前記第2の方向における前記測定対象物の位置を示す画像を表示するための画像データを生成する、請求項2〜5のいずれか一項に記載の光学測定装置。
- 前記制御部は、算出された前記測定対象物の前記第2の方向における位置および前記測定対象物の前記第1の方向の位置ずれ量に基づいて、前記測定対象物が予め定められた有効測定領域内に位置するか否かを判定し、前記測定対象物が前記有効測定領域内に位置しない場合に、前記測定対象物が前記有効測定領域から外れたことを示す報知信号を生成する、請求項2〜6のいずれか一項に記載の光学測定装置。
- 前記投光部は、前記測定空間に一定幅を有する平行光を投射するように構成され、
前記第1の光学系は、前記測定空間を通過した平行光を前記第1の受光部に導くように構成され、
前記第2の光学系は、前記測定空間を通過した平行光を前記第2の受光部に導くように構成され、
前記第1の受光部は、前記第1の光学系により導かれた平行光の幅方向に並ぶ複数の画素を有する第1のイメージセンサを含み、
前記第2の受光部は、前記第2の光学系により導かれた平行光の幅方向に並ぶ複数の画素を有する第2のイメージセンサを含み、
前記制御部は、前記第1のイメージセンサの出力信号に基づいて前記第2の方向における前記測定対象物のエッジの位置を算出するように構成される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の光学測定装置。 - 前記第2のイメージセンサは、前記第2の光学系により導かれた平行光の幅方向および厚み方向に二次元的に並ぶ複数の画素を有し、
前記制御部は、前記第2のイメージセンサの出力信号に基づいて前記平行光の厚み方向に対する前記測定対象物のエッジの傾きを検出し、検出された傾きに基づいて、算出された前記測定対象物のエッジの位置を補正するように構成される、請求項8記載の光学測定装置。 - 受光量を示す信号を出力する第3の受光部と、
前記測定空間を通過した平行光を前記第3の受光部に導く第3の光学系とをさらに備え、
前記第3の受光部は、前記第3の光学系により導かれた平行光の幅方向および厚み方向に二次元的に並ぶ複数の画素を有する第3のイメージセンサを含み、
前記制御部は、前記第3のイメージセンサの出力信号に基づいて前記平行光の厚み方向に対する前記測定対象物のエッジの傾きを検出し、検出された傾きに基づいて、算出された前記測定対象物のエッジの位置を補正するように構成される、請求項8記載の光学測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012141532A JP6046929B2 (ja) | 2012-06-25 | 2012-06-25 | 光学測定装置 |
US13/904,146 US9068821B2 (en) | 2012-06-25 | 2013-05-29 | Optical measuring device with positional displacement detection |
DE102013211899.6A DE102013211899A1 (de) | 2012-06-25 | 2013-06-24 | Optische Messvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012141532A JP6046929B2 (ja) | 2012-06-25 | 2012-06-25 | 光学測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014006134A true JP2014006134A (ja) | 2014-01-16 |
JP6046929B2 JP6046929B2 (ja) | 2016-12-21 |
Family
ID=49754334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012141532A Active JP6046929B2 (ja) | 2012-06-25 | 2012-06-25 | 光学測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9068821B2 (ja) |
JP (1) | JP6046929B2 (ja) |
DE (1) | DE102013211899A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108050939A (zh) * | 2017-12-06 | 2018-05-18 | 柳州市融智科技服务有限公司 | 一种位移检测装置 |
EP3421928A1 (en) | 2017-06-30 | 2019-01-02 | Mitutoyo Corporation | Optical measuring device |
JP7503465B2 (ja) | 2020-09-23 | 2024-06-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置および光学式測定方法 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9612177B2 (en) * | 2013-12-19 | 2017-04-04 | Corning Optical Communications LLC | Ferrule-core concentricity measurement systems and methods |
DE102014109687B4 (de) * | 2014-07-10 | 2020-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Positionsbestimmung eines Objekts im Strahlengang einer optischen Vorrichtung |
DE102015107517B3 (de) | 2015-05-13 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme mit erhöhter Schärfentiefe |
DE102016116311A1 (de) | 2016-05-02 | 2017-11-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Winkelselektive Beleuchtung |
US10206675B2 (en) * | 2016-07-13 | 2019-02-19 | Ethicon Llc | Method and apparatus for fabricating self-retaining sutures with calibration |
CN107664483B (zh) * | 2016-07-29 | 2019-06-25 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种圆柱棒材形状参数测量方法 |
CN109714579B (zh) * | 2017-10-25 | 2023-10-13 | 成都极米科技股份有限公司 | 一种调焦行程的自检装置和方法 |
EP3761952B1 (en) | 2018-03-09 | 2024-08-14 | Ocusoft, Inc. | Topical skin care compositions |
US10945326B2 (en) | 2018-10-23 | 2021-03-09 | Sway sp. z o.o. | Configurable light sensor comprising a photocell array |
US10656008B2 (en) * | 2018-10-23 | 2020-05-19 | Sway sp. z o.o. | System and method for discovering the topology of devices within a building automation and control system |
CN110487193A (zh) * | 2019-08-21 | 2019-11-22 | 太原纵横海威科技有限公司 | 一种基于单目视觉的圆柱工件直径检测方法 |
CN114754681B (zh) * | 2022-03-07 | 2024-05-14 | 上海微钠光电科技有限公司 | 基于光学成像传感的纳米位移测量装置及方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5088827A (en) * | 1988-12-15 | 1992-02-18 | Beta Instrument Co., Ltd. | Measuring apparatus for determining the dimension and position of an elongate object |
JPH04344408A (ja) * | 1991-05-21 | 1992-12-01 | Ono Sokki Co Ltd | 寸法測定器 |
JPH08247726A (ja) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Omron Corp | 寸法測定装置 |
JP2008039750A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Kaneyuki Kubodera | 高さ測定装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5576312A (en) * | 1978-12-04 | 1980-06-09 | Canon Inc | Focus detecting system of image |
US5235375A (en) * | 1990-04-12 | 1993-08-10 | Olympus Optical Co., Ltd. | Focusing position detecting and automatic focusing apparatus with optimal focusing position calculation method |
JP4659996B2 (ja) | 2001-03-19 | 2011-03-30 | 株式会社キーエンス | 光学測定装置 |
JP2002365517A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 撮影レンズのピント状態検出装置 |
JP4599116B2 (ja) * | 2004-08-26 | 2010-12-15 | 富士フイルム株式会社 | オートフォーカスシステム |
JP2008225239A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Fujinon Corp | オートフォーカスシステム |
TWI406025B (zh) * | 2010-11-25 | 2013-08-21 | Ind Tech Res Inst | 自動聚焦裝置及方法 |
US8593565B2 (en) * | 2011-03-25 | 2013-11-26 | Gary S. Shuster | Simulated large aperture lens |
-
2012
- 2012-06-25 JP JP2012141532A patent/JP6046929B2/ja active Active
-
2013
- 2013-05-29 US US13/904,146 patent/US9068821B2/en active Active
- 2013-06-24 DE DE102013211899.6A patent/DE102013211899A1/de active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5088827A (en) * | 1988-12-15 | 1992-02-18 | Beta Instrument Co., Ltd. | Measuring apparatus for determining the dimension and position of an elongate object |
JPH04344408A (ja) * | 1991-05-21 | 1992-12-01 | Ono Sokki Co Ltd | 寸法測定器 |
JPH08247726A (ja) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Omron Corp | 寸法測定装置 |
JP2008039750A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Kaneyuki Kubodera | 高さ測定装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3421928A1 (en) | 2017-06-30 | 2019-01-02 | Mitutoyo Corporation | Optical measuring device |
CN109211106A (zh) * | 2017-06-30 | 2019-01-15 | 株式会社三丰 | 光学测量设备 |
US10724847B2 (en) | 2017-06-30 | 2020-07-28 | Mitutoyo Corporation | Optical measuring device |
CN109211106B (zh) * | 2017-06-30 | 2021-09-07 | 株式会社三丰 | 光学测量设备 |
CN108050939A (zh) * | 2017-12-06 | 2018-05-18 | 柳州市融智科技服务有限公司 | 一种位移检测装置 |
JP7503465B2 (ja) | 2020-09-23 | 2024-06-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置および光学式測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6046929B2 (ja) | 2016-12-21 |
DE102013211899A1 (de) | 2014-01-02 |
US9068821B2 (en) | 2015-06-30 |
US20130342852A1 (en) | 2013-12-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6046929B2 (ja) | 光学測定装置 | |
US8049901B2 (en) | Measuring device and measuring method | |
KR101911006B1 (ko) | 이미지 센서 포지셔닝 장치 및 방법 | |
TWI420081B (zh) | 測距系統及測距方法 | |
US6291817B1 (en) | Moire apparatus having projection optical system and observation optical system which have optical axes parallel to each other | |
CN102749039A (zh) | 形状测量设备 | |
US9031399B2 (en) | Autofocus mechanism | |
KR101891182B1 (ko) | 자동초점 조절장치 | |
KR20020066378A (ko) | 안경 렌즈 또는 콘택트 렌즈의 특성 측정용 렌즈 미터 | |
JP2006234614A (ja) | 測量機の自動焦点機構 | |
RU2419068C2 (ru) | Способ измерения толщины и устройство для его осуществления | |
JP2015108582A (ja) | 3次元計測方法と装置 | |
JP2012141252A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP2015034726A (ja) | 電子レベル | |
JP2009109315A (ja) | 光計測装置及び走査光学系 | |
JP4683270B2 (ja) | レンズメータ | |
JP2017125707A (ja) | 計測方法および計測装置 | |
JP2012008431A (ja) | オートフォーカス装置 | |
JP4911113B2 (ja) | 高さ測定装置および高さ測定方法 | |
JP5864347B2 (ja) | オートフォーカス機構 | |
JP2021105603A (ja) | 光学的な位置測定装置 | |
US10031088B2 (en) | Measurement apparatus | |
JP5251218B2 (ja) | 測定装置および測定方法 | |
JP2009042128A (ja) | 高さ測定装置 | |
JP2012117871A (ja) | 検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150311 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160216 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160413 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160906 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161013 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161101 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161118 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6046929 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |