JP2013541165A5 - - Google Patents
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- 1つ又は複数の表面を処理する方法であって、
表面を照射する、実質的に電離ガスクラスタを含むイオンビームを生成するクラスタモード設定と、表面を照射する、実質的に電離ガス原子を含むイオンビームを生成する原子モード設定との間で切り替え可能な切り替え可能イオン銃を提供するステップと、
前記イオン銃内の電離チャンバ内でイオンを形成するステップと、
前記クラスタモードにおいて、可変質量セレクタを使用して、前記電離チャンバ内で形成された電離ガスクラスタを質量選択することにより、実質的に電離ガスクラスタで表面を照射するか、又は前記原子モードにおいて、前記可変質量セレクタを使用して、前記電離チャンバ内で形成された電離ガス原子を質量選択することにより、実質的に電離ガス原子で表面を照射するように、前記イオン銃を選択的に動作させるステップと、
前記質量選択されたイオンに湾曲路を辿らせて、中性ガス種を前記イオンビームから除去するステップと、
を含む、方法。 - 前記イオン銃を他方のモードに切り替え、その後、前記他方のモードで前記イオン銃を動作させることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記クラスタモードにおいて、電離ガスクラスタビームは、50eV以下の原子当たりのエネルギーを有し、前記原子モードにおいて、電離ガス原子ビームは少なくとも500eVの原子当たりのエネルギーを有する、請求項1又は2に記載の方法。
- クラスタモードにおいて、前記イオンビーム内の前記クラスタは、1〜10eVの範囲内の原子当たりのエネルギーを有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- クラスタモードにおいて、前記イオンビーム内の前記クラスタの下限サイズは原子50〜400個の範囲内にある、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記電離ガスクラスタ及び電離ガス原子は、5keV以下のソースエネルギーで形成される、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ガスはアルゴンである、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 1つ又は複数の表面解析方法により前記1つ又は複数の表面を解析するステップを含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記処理する方法は、前記1つ又は複数の表面を深度方向でエッチングすることを含み、前記1つ又は複数の表面解析方法は、X線光電子分光法(XPS)を含む、請求項8に記載の方法。
- 前記電離ガスクラスタ及び電離ガス原子は、ソースエネルギーで前記イオン銃内で形成され、前記イオン銃をクラスタモード又は原子モードで選択的に動作させるステップは、磁場を使用して前記電離ガスクラスタ及び電離ガス原子を質量選択すること、及び電離ガスクラスタ及び電離ガス原子が前記磁場にある間、ソースエネルギーと比較して前記電離ガスクラスタ及び電離ガス原子のエネルギーを変更することを含む、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- ガス膨脹ノズルであって、前記ノズルを通してのガス膨脹によりガス原子の存在下でガスクラスタを生成するためのガス膨脹ノズルと、
前記ガスクラスタ及び前記ガス原子を電離させる電離チャンバと、
前記電離ガスクラスタ及び前記電離ガス原子を質量選択して、実質的に電離ガスクラスタを含むイオンビームと実質的に電離ガス原子を含むイオンビームとの間で変更可能なイオンビームを生成する可変質量セレクタと、
を備え、
前記可変質量セレクタは、前記質量選択されたイオンに湾曲路を辿らせて、中性ガス種を前記イオンビームから除去する磁気セクタを備える、切り替え可能イオン銃。 - 前記ガス膨脹ノズルは微細加工金属膨脹ノズルを含む、請求項11に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記ガス膨脹ノズルは、直径100μm以下の開口部を備える、請求項11又は12に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記可変質量セレクタは、前記磁気可変質量セレクタ内の前記イオンのエネルギーを調整する電気浮動イオン光学装置を備える、請求項11〜13のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記電気浮動イオン光学装置は、電気浮動飛行管を備える、請求項14に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記電気浮動イオン光学装置は、少なくとも部分的に前記磁気可変質量セレクタ内に配置される、請求項14又は15に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記クラスタモードにおいて、電圧が前記浮動イオン光学装置に印加されて、イオンが前記磁気セクタを通過する際に前記イオンを遅らせ、且つ/又は原子モードにおいて、電圧が前記浮動イオン光学装置に印加されて、前記イオンが前記磁気セクタを通過する際に前記イオンを加速させる、請求項14〜16のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記可変質量セレクタは、使用中、0.2テスラ未満の磁場強度を生成する、請求項14〜17のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記イオンは、6keV以下のソースエネルギーで前記電離チャンバ内で形成される、請求項11〜18のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記イオンの前記ソースエネルギーは、前記可変質量セレクタにより前記イオンのサイズの選択から独立して選択することができる、請求項11〜19のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記イオンは、抽出器電極により前記電離チャンバから抽出され、集光レンズにより集束してから、前記可変質量セレクタに入る、請求項11〜20のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記可変質量セレクタはハイパス質量セレクタとして動作可能である、請求項11〜21のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記磁気セクタは、前記磁気セクタにより選択された前記イオンの質量範囲を変更するプログラマブル電磁石を有する、請求項11〜22のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
- 前記湾曲路は、前記磁気セクタの入口と出口との間で1〜5度の湾曲を有する、請求項1〜23のいずれか一項に記載の切り替え可能イオン銃。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1017173.4A GB2484488B (en) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | Improvements in and relating to ion guns |
GB1017173.4 | 2010-10-12 | ||
PCT/EP2011/067626 WO2012049110A2 (en) | 2010-10-12 | 2011-10-10 | Improvements in and relating to ion guns |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013541165A JP2013541165A (ja) | 2013-11-07 |
JP2013541165A5 true JP2013541165A5 (ja) | 2014-10-02 |
JP5808815B2 JP5808815B2 (ja) | 2015-11-10 |
Family
ID=43304416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013533165A Active JP5808815B2 (ja) | 2010-10-12 | 2011-10-10 | イオン銃の改良及びイオン銃に関連する改良 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9478388B2 (ja) |
JP (1) | JP5808815B2 (ja) |
CN (1) | CN203466162U (ja) |
GB (1) | GB2484488B (ja) |
WO (1) | WO2012049110A2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10181402B2 (en) * | 2010-08-23 | 2019-01-15 | Exogenesis Corporation | Method and apparatus for neutral beam processing based on gas cluster ion beam technology and articles produced thereby |
US10825685B2 (en) | 2010-08-23 | 2020-11-03 | Exogenesis Corporation | Method for neutral beam processing based on gas cluster ion beam technology and articles produced thereby |
CN103180030B (zh) | 2010-08-23 | 2017-04-12 | 艾克索乔纳斯公司 | 基于气体团簇离子束技术的中性射束处理方法和设备 |
JP2014086247A (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-12 | Canon Inc | 超音速ビーム装置 |
US8963081B2 (en) * | 2013-03-06 | 2015-02-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Mass selector, and ion gun, ion irradiation apparatus and mass microscope |
US8993982B2 (en) | 2013-07-15 | 2015-03-31 | Vg Systems Limited | Switchable ion gun with improved gas inlet arrangement |
JP2015138667A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | アルバック・ファイ株式会社 | イオン源、イオン銃、分析装置 |
CN103956314B (zh) * | 2014-05-04 | 2016-02-17 | 北京大学 | 一种微波驱动无铯负氢离子源 |
JP6566683B2 (ja) * | 2014-07-02 | 2019-08-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板洗浄方法および基板洗浄装置 |
JP6331960B2 (ja) * | 2014-10-21 | 2018-05-30 | 住友金属鉱山株式会社 | 薄膜状の試料の前処理方法および分析方法 |
WO2017163923A1 (ja) * | 2016-03-24 | 2017-09-28 | ソニー株式会社 | 光電変換素子およびその測定方法、固体撮像素子、電子機器、並びに太陽電池 |
JP6632937B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-01-22 | アールエムテック株式会社 | ガスクラスタービーム装置 |
CN107121694A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-09-01 | 宜昌后皇真空科技有限公司 | 一种在线监测脉冲气体团簇离子束的方法及系统 |
CN107393794B (zh) * | 2017-08-07 | 2019-09-10 | 深圳江海行纳米科技有限公司 | 一种气体团簇离子源产生方法及装置 |
CN109862684B (zh) * | 2018-12-21 | 2020-07-10 | 南京大学 | 单一尺寸强流团簇脉冲束产生方法 |
EP3705877A1 (en) * | 2019-03-04 | 2020-09-09 | VG Systems Limited | Methods and apparatus for electron backscatter diffraction sample characterisation |
CN110473765B (zh) * | 2019-08-30 | 2024-04-26 | 西安交通大学 | 一种表面活化过程中高速氩原子束获得装置及获得方法 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0831305B2 (ja) * | 1986-09-25 | 1996-03-27 | ソニー株式会社 | イオンビ−ム装置 |
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JP4497889B2 (ja) | 2003-10-29 | 2010-07-07 | アルバック・ファイ株式会社 | 電子分光分析方法及び分析装置 |
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JP2008116363A (ja) | 2006-11-06 | 2008-05-22 | Ulvac Japan Ltd | 表面分析方法 |
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JPWO2009131022A1 (ja) | 2008-04-23 | 2011-08-18 | 株式会社アルバック | 分析方法 |
GB2460855B (en) | 2008-06-11 | 2013-02-27 | Kratos Analytical Ltd | Electron spectroscopy |
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-
2010
- 2010-10-12 GB GB1017173.4A patent/GB2484488B/en active Active
-
2011
- 2011-10-10 US US13/823,499 patent/US9478388B2/en active Active
- 2011-10-10 CN CN201190000794.1U patent/CN203466162U/zh not_active Expired - Lifetime
- 2011-10-10 JP JP2013533165A patent/JP5808815B2/ja active Active
- 2011-10-10 WO PCT/EP2011/067626 patent/WO2012049110A2/en active Application Filing
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