JP2013521522A - 顕微鏡のための試料保持器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 試料台(32)と、試料台の上に配置されるホルダ(34)と、試料が取付けられ、ホルダ(34)に連結可能な試料キャリア(36)と対物レンズ(46)が保持され、試料台に取付けられた対物レンズホルダ(54)と、試料キャリア(36)が連結されるホルダと共に、試料キャリアが試料台上で、対物レンズに対して目標位置に移動可能とする、ホルダに係合する調整装置(44)と、目標位置に配置された試料キャリアを、対物レンズを通って試料の画像形成の際にホルダから分離する分離装置と、を有する。
【選択図】図2
Description
4 試料保持器
6 試料台
8 ホルダ
10 対物タレット
12 対物レンズ
14 貫通孔
16 接眼レンズ
18 ポート
20 調整装置
32 試料台
34 ホルダ
36 試料キャリア
38 フレーム
40 アーム
42 軸
44 調整装置
46 対物レンズ
48 位置決め装置
50 貫通孔
52 第1の肢
54 第2の肢
56 ガイダンス溝
58 キャリッジ
60 細長い凹部
62 締付けネジ
64 環状部分
66 プレート
70 フレーム
72 ピン
74 試料
76 永久磁石
Claims (18)
- 試料台(32)と、
前記試料台(32)の上に配置されるホルダ(34)と、
試料が取付けられ、前記ホルダ(34)に連結可能な試料キャリア(36)と、
対物レンズ(46)が保持され、前記試料台(32)に取付けられた対物レンズホルダ(54)と、
前記試料キャリア(36)が連結される前記ホルダ(34)と共に、前記試料キャリア(36)が前記試料台(32)上で、前記対物レンズ(46)に対して目標位置に移動可能とする、前記ホルダ(34)に係合する調整装置(44)と、
目標位置に配置された前記試料キャリア(36)を、前記対物レンズ(46)を通って試料の画像形成の際に前記ホルダ(34)から分離する分離装置と、
を有する顕微鏡のための試料保持器。 - 前記ホルダ(34)の移動の際に、前記ホルダ(34)の一部であり、前記試料キャリア(36)に係合し、前記対物レンズ(46)を通して試料の画像形成の際に、前記試料キャリア(36)から切離される、少なくとも1つの保持要素(40,72)を前記分離装置が有する請求項1に係る試料保持器。
- 前記保持要素が前記試料キャリア(36)に対して横に当接し、前記試料台(32)に対して並行に旋回可能なアーム(40)である請求項2に係る試料保持器。
- 前記保持要素が前記試料キャリア(36)に対して横に当接し、前記試料台(32)に垂直に移動可能なピン(72)である請求項2に係る試料保持器。
- 前記ホルダ(34)が前記試料キャリア(36)上に配置され、前記ピン(72)が移動可能に取付けられるフレーム(70)を有する請求項4に係る試料保持器。
- 前記調整装置(44)が、前記対物レンズ(46)を通して試料の画像形成の際に、目標位置に配置された連結された試料キャリア(36)から離れて前記ホルダ(34)を移動させる請求項2〜5の何れか一項に係る試料保持器。
- 試料台(32)と、
前記試料台(32)の上に配置されるホルダ(34)と、
試料が取付けられ、前記ホルダ(34)に連結可能な試料キャリア(36)と、
対物レンズ(46)が保持され、前記試料台(32)に取付けられた対物レンズホルダ(54)と、
前記試料キャリア(36)が連結される前記ホルダ(34)と共に、前記試料キャリア(36)が前記試料台(32)上で、前記対物レンズ(46)に対して目標位置に移動可能とする、前記ホルダ(34)に係合する調整装置(44)と、
前記対物レンズ(46)を通って試料の画像形成の際に、前記ホルダ(34)に連結され、前記試料台(32)に対して目標位置に配置された前記試料キャリア(36)を押圧する押圧装置と、を有する顕微鏡のための試料保持器。 - 前記押圧装置が相互に磁気的に作用する少なくとも2つの要素(76)を有し、
一方の要素は前記試料ホルダ(36)上に配置され、他方の要素は前記試料台(32)上に配置される請求項7に係る試料保持器。 - 前記対物レンズホルダ(54)が、前記対物レンズ(46)を試料に焦点をあわせることに供する位置決め装置(48)の一部である請求項1〜8の何れか一項に係る試料保持器。
- 前記対物レンズホルダ(54)が前記試料台(32)上に移動可能に案内され、前記対物レンズホルダ(54)が前記対物レンズ(46)を画像形成ビーム路に保持する作業領域から取外し可能であるガイダンス装置(56,58)を有することを特徴とする請求項1〜9の何れか一項に係る試料保持器。
- 前記位置決め装置(48)が、前記試料台(32)に取付けられ、前記対物レンズ(46)の光軸に並行に配置された第1の肢(52)と、前記第1の肢(52)上に移動可能に取付けられ、前記対物レンズ(46)が取付けられた第2の肢(54)と、を有する実質的にL字形状の配置を形成する請求項9又は10に係る試料保持器。
- 前記ガイダンス装置が、前記試料台(32)の下側に具現化されるガイダンス溝(56)と、前記溝に案内され、前記位置決め装置(48)の前記第1の肢(52)に連結されるキャリッジ(58)と、を有する請求項10と11に係る試料保持器。
- 前記対物レンズ(46)が前記作業領域から前記対物レンズホルダ(54)の取外しの際に移動可能である細長い凹部(60)が前記試料台(32)の下側に具現化される請求項12に係る試料保持器。
- 前記試料台(32)に取付けられ、中心軸が前記対物レンズ(46)の光軸と一致する環状部分(64)と、前記環状部分(64)に移動可能に取付けられ、前記対物レンズ(46)が中心に取付けられる円形プレート(66)と、を有する配置を前記位置決め装置(48)が、前記対物レンズ(46)の光軸の周りに回転対称に、形成する請求項9に係る試料保持器。
- 前記位置決め装置(48)が圧電駆動装置である請求項9〜14の何れか一項に係る試料保持器。
- 配置を囲むシールドが前記対物レンズホルダ(54)と対物レンズ(46)から構成されることを特徴とする請求項1〜15の何れか一項の試料保持器。
- 請求項1〜16の何れか一項の試料保持器を有する顕微鏡。
- 前記対物レンズホルダ(54)が取外される場合、作業領域に移動可能である対物タレットによって特徴つけられる請求項10に関連した請求項17に係る顕微鏡。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018062215A1 (ja) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
US11460682B2 (en) | 2017-05-29 | 2022-10-04 | Evident Corporation | Observation device |
WO2023166655A1 (ja) * | 2022-03-03 | 2023-09-07 | オリンパス株式会社 | 照明ユニットおよび撮影システム |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140223612A1 (en) * | 2013-02-05 | 2014-08-07 | Asylum Corporation | Modular Atomic Force Microscope |
WO2014160061A2 (en) * | 2013-03-13 | 2014-10-02 | Protochips, Inc. | A device for imaging electron microscope environmental sample supports in a microfluidic or electrochemical chamber with an optical microscope |
CN110646629A (zh) * | 2018-06-27 | 2020-01-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 一种样品托 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5953319U (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-07 | サッポロビール株式会社 | 自動掃引装置付顕微鏡 |
JPS6355514A (ja) * | 1986-06-06 | 1988-03-10 | デビツド エル.ギブス | 顕微鏡により検査を行う方法および装置 |
JPH1138326A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Nikon Corp | 倒立顕微鏡 |
JP2003043373A (ja) * | 2001-07-26 | 2003-02-13 | Japan Science & Technology Corp | 顕微鏡等のフォーカス安定性機構 |
JP2007171722A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Michio Tagiri | 偏光顕微鏡用メカニカルステージ及びこれを備えた偏光顕微鏡 |
JP2009198733A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Nsk Ltd | スライドガラス及び流体チップ |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1847180U (de) * | 1961-08-31 | 1962-02-22 | Leitz Ernst Gmbh | Praeparathalter fuer mikroskopische zwecke. |
US3851972A (en) * | 1973-10-18 | 1974-12-03 | Coulter Electronics | Automatic method and system for analysis and review of a plurality of stored slides |
JPS5953319A (ja) | 1982-09-20 | 1984-03-28 | Toyo Tokushu Kikai Kk | 圧送装置 |
US4818169A (en) * | 1985-05-17 | 1989-04-04 | Schram Richard R | Automated wafer inspection system |
DE4231468A1 (de) * | 1992-09-19 | 1994-03-24 | Leica Mikroskopie & Syst | Mikroskopstativfuß |
JPH1039199A (ja) * | 1996-04-16 | 1998-02-13 | Olympus Optical Co Ltd | 光学機器に適用される焦点調節装置 |
US6043475A (en) * | 1996-04-16 | 2000-03-28 | Olympus Optical Co., Ltd. | Focal point adjustment apparatus and method applied to microscopes |
US6285498B1 (en) * | 1997-10-17 | 2001-09-04 | Accumed International, Inc. | High-precision computer-aided microscope system |
JP2004522989A (ja) * | 2000-12-15 | 2004-07-29 | ザ テクノロジー パートナーシップ パブリック リミテッド カンパニー | 光学走査装置機器 |
DE10340721B3 (de) * | 2003-09-04 | 2005-03-03 | Leica Microsystems Wetzlar Gmbh | Mikroskop |
DE202004007728U1 (de) * | 2004-05-11 | 2004-07-29 | Kern, Michael, Dr. | Kreuztischerweiterung für ein optisches Untersuchungsgerät |
US20060050376A1 (en) * | 2004-09-02 | 2006-03-09 | Houston Edward S | Robotic microscopy apparatus for high throughput observation of multicellular organisms |
DE102005013152B4 (de) * | 2005-03-22 | 2007-11-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Automatisiertes Mikroskop |
EP3203235A1 (en) | 2005-05-23 | 2017-08-09 | Harald F. Hess | Optical microscopy with phototransformable optical labels |
DE102006021317B3 (de) | 2006-05-06 | 2007-10-11 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe |
US8067245B2 (en) * | 2006-07-24 | 2011-11-29 | Medica Corporation | Automated microscope for blood cell analysis |
DE102008024568A1 (de) | 2008-05-21 | 2009-12-03 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer interessierenden Struktur einer Probe |
-
2010
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5953319U (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-07 | サッポロビール株式会社 | 自動掃引装置付顕微鏡 |
JPS6355514A (ja) * | 1986-06-06 | 1988-03-10 | デビツド エル.ギブス | 顕微鏡により検査を行う方法および装置 |
JPH1138326A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Nikon Corp | 倒立顕微鏡 |
JP2003043373A (ja) * | 2001-07-26 | 2003-02-13 | Japan Science & Technology Corp | 顕微鏡等のフォーカス安定性機構 |
JP2007171722A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Michio Tagiri | 偏光顕微鏡用メカニカルステージ及びこれを備えた偏光顕微鏡 |
JP2009198733A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Nsk Ltd | スライドガラス及び流体チップ |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018062215A1 (ja) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
JPWO2018062215A1 (ja) * | 2016-09-30 | 2019-07-18 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
US11226476B2 (en) | 2016-09-30 | 2022-01-18 | Olympus Corporation | Specimen observation apparatus |
US11460682B2 (en) | 2017-05-29 | 2022-10-04 | Evident Corporation | Observation device |
WO2023166655A1 (ja) * | 2022-03-03 | 2023-09-07 | オリンパス株式会社 | 照明ユニットおよび撮影システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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