JP2013250580A - 干渉変調器ディスプレイの調整方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一実施形態において、前記方法は、干渉変調表示素子に少なくとも1つの電圧を印加するステップと、前記電圧を印加している間に、干渉変調器のリリースおよび作動応答時間を調整するステップとを含む。他の実施形態では、前記デバイスに印加されるバイアス電圧を調整することによって、リリースおよび作動応答時間が調整される。バイアス電圧を調整する方法は、前記デバイスの電流応答を測定することによって、決定できる。
【選択図】なし
Description
本出願は、2008年2月11日に出願された米国仮出願第61/027,783号の、合衆国法典第35編第119条(e)下における優先権の利益を主張する。この優先出願の開示全体が、参照により本明細書に組み込まれる。
本明細書に開示された他の実施形態は、干渉変調ディスプレイの駆動を調整する方法を含み、前記方法は、前記ディスプレイにおける1つ以上の干渉変調表示素子に1つ以上のバイアス電圧を印加するステップと、画像データに基づいて前記ディスプレイにおける1つ以上の干渉変調表示素子に駆動電圧を印加するステップと、前記少なくとも1つの干渉変調表示素子の状態変化についての応答時間の1つ以上の特性値を決定するステップと、1つ以上のバイアス電圧を調整するステップとを含み、前記駆動電圧は、少なくとも1つの干渉変調表示素子の状態を変更させる電圧である。
202 ディスプレイアレイ
204 デジタル/アナログ変換器(DAC)
206 スイッチ・サブシステム
208 DAC
210 スイッチ回路
212 アレイドライバ
214 DAC
216 DAC
218 ダイレクト・デジタル・シンセシス(DDSl)ブロック
220 トランス−インピーダンス増幅器
220a 抵抗
220b 増幅器
222 第2のDDS(DDS2)
224 乗算器
226 フィルタ
228 乗算器
230 フィルタ
232 デュアル・アナログ/デジタル変換器(ADC)
250 回路
Claims (25)
- MEMS干渉変調器の状態を変更せずにMEMS干渉変調ディスプレイを駆動するための電圧を調整する方法であって、
前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子にバイアス電圧を印加するステップであって、前記バイアス電圧は、作動状態およびリリース状態の1つ以上にある前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子を維持する電圧であるステップと、
前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子の作動電圧およびリリース電圧に対するバイアス電圧の値の光学的、機械的または電気的パラメータの特性のうちの1つ以上を決定するステップであって、前記決定では、前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子の状態を変更させないステップと、
1つ以上の前記パラメータを1つ以上の基準パラメータと比較するステップと、
前記比較に基づいて前記バイアス電圧を調整するステップと
を含む方法。 - 前記光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上は、前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子のキャパシタンスを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子に印加される電圧を変えることによって前記キャパシタンスを決定するステップと、前記1つ以上のMEMS干渉変調表示素子によって引き起こされた電流を測定するステップとをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記電圧を変えることは、前記バイアス電圧に重畳された周期的な電圧波形を印加することを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記周期的な電圧波形は、正弦波形を含む、請求項3に記載の方法。
- 前記光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上は、反射率を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上は、機械的共振周波数を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上は、機械的応答時間の特性値を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記バイアス電圧は、前記作動電圧およびリリース電圧に関連した所定範囲内にあるように調整される、請求項1に記載の方法。
- 複数のMEMS干渉変調表示素子と、
前記MEMS干渉変調表示素子にバイアス電圧を印加するように構成された駆動モジュールと、
バイアス電圧に重畳された電圧波形を印加するように構成された電圧波形発生器と、
前記電圧波形の印加に対応して光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上を決定するように構成された検出器と、
前記光学的、機械的または電気的パラメータのための1つ以上の基準値を記憶するメモリと、
前記決定された光学的、機械的または電気的パラメータと光学的、機械的または電気的パラメータの前記基準値とを比較するとともに、前記MEMS干渉変調表示素子の作動電圧およびリリース電圧に関連して前記バイアス電圧を決定するかまたは前記バイアス電圧のための調整を決定する、ように構成された計算モジュールと
を含み、
前記バイアス電圧は、作動状態およびリリース状態の1つ以上に前記MEMS干渉変調表示素子を維持する電圧であり、
前記電圧波形は、作動状態とリリース状態との間で前記MEMS干渉変調表示素子の状態を変更させないものであり、
前記パラメータは、前記MEMS干渉変調表示素子の作動電圧およびリリース電圧に対する前記バイアス電圧の値の特性である、MEMS干渉変調ディスプレイ。 - 前記検出器は、検流器である、請求項10に記載のディスプレイ。
- 前記検出器は、光検出器である、請求項10に記載のディスプレイ。
- 前記メモリは、作動電圧およびリリース電圧に関連する電圧の関数として、およびMEMS干渉変調器の状態の関数として、光学的、機械的または電気的パラメータを記憶する、請求項10に記載のディスプレイ。
- 前記表示素子と電気通信するプロセッサであって、画像データを処理するように構成されたプロセッサと、
前記プロセッサと電気通信するメモリデバイスとをさらに含む、
請求項10に記載のディスプレイ。 - 少なくとも1つの信号を前記表示素子に送信するように構成された第1コントローラと、
少なくとも前記画像データの一部分を前記第1コントローラに送信するように構成された第2コントローラと
をさらに含む、請求項14に記載のディスプレイ。 - 前記画像データを前記プロセッサに送信するように構成された画像ソースモジュールをさらに含む、請求項14に記載のディスプレイ。
- 前記画像ソースモジュールは、受信機と、トランシーバと、送信機とのうちの少なくとも1つを含む、請求項16に記載のディスプレイ。
- 入力データを受信するとともに、前記入力データを前記プロセッサと通信するように構成された入力デバイスをさらに含む、請求項14に記載のディスプレイ。
- 光を干渉変調する光変調手段と、
バイアス電圧を前記光変調手段に印加するバイアス電圧印加手段と、
前記バイアス電圧に重畳された電圧波形を印加する電圧波形印加手段と、
前記電圧波形の印加に対応して光学的、機械的または電気的パラメータのうちの1つ以上を決定する決定手段と、
前記光学的、機械的または電気的パラメータのための1つ以上の基準値を記憶する記憶手段と、
前記決定された光学的、機械的または電気的パラメータと光学的、機械的または電気的パラメータの前記基準値とを比較するとともに、前記光変調手段の作動電圧およびリリース電圧に関連して前記バイアス電圧を決定するかまたは前記バイアス電圧のための調整を決定する比較決定手段とを含み、
前記バイアス電圧は、作動状態およびリリース状態の1つ以上に前記光変調手段を維持する電圧であり、
前記電圧波形は、作動状態とリリース状態との間で前記光変調手段の状態を変更させないものであり、
前記パラメータは、前記光変調手段の作動電圧およびリリース電圧に対する前記バイアス電圧の値の特性である、MEMS干渉変調ディスプレイ。 - 前記光変調手段は、複数のMEMS干渉変調表示素子を含む、請求項19に記載のディスプレイ。
- 前記バイアス電圧印加手段は、駆動モジュールを含む、請求項19に記載のディスプレイ。
- 前記電圧波形印加手段は、電圧波形発生器を含む、請求項19に記載のディスプレイ。
- 前記決定手段は、検出器を含む、請求項19に記載のディスプレイ。
- 前記記憶手段は、メモリを含む、請求項19に記載のディスプレイ。
- 前記比較決定手段は、計算モジュールを含む、請求項19に記載のディスプレイ。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US2778308P | 2008-02-11 | 2008-02-11 | |
US61/027,783 | 2008-02-11 | ||
US12/236,366 US20090201282A1 (en) | 2008-02-11 | 2008-09-23 | Methods of tuning interferometric modulator displays |
US12/236,366 | 2008-09-23 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010545991A Division JP5526041B2 (ja) | 2008-02-11 | 2009-02-05 | 干渉変調器ディスプレイの調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013250580A true JP2013250580A (ja) | 2013-12-12 |
Family
ID=40938494
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010545991A Expired - Fee Related JP5526041B2 (ja) | 2008-02-11 | 2009-02-05 | 干渉変調器ディスプレイの調整方法 |
JP2013182869A Pending JP2013250580A (ja) | 2008-02-11 | 2013-09-04 | 干渉変調器ディスプレイの調整方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010545991A Expired - Fee Related JP5526041B2 (ja) | 2008-02-11 | 2009-02-05 | 干渉変調器ディスプレイの調整方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090201282A1 (ja) |
EP (1) | EP2250637A2 (ja) |
JP (2) | JP5526041B2 (ja) |
KR (1) | KR20100121493A (ja) |
CN (1) | CN101933076B (ja) |
TW (1) | TW200951910A (ja) |
WO (1) | WO2009102614A2 (ja) |
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- 2008-09-23 US US12/236,366 patent/US20090201282A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-02-05 WO PCT/US2009/033216 patent/WO2009102614A2/en active Application Filing
- 2009-02-05 JP JP2010545991A patent/JP5526041B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-05 EP EP09710953A patent/EP2250637A2/en not_active Withdrawn
- 2009-02-05 CN CN2009801038179A patent/CN101933076B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-05 KR KR1020107018695A patent/KR20100121493A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-02-11 TW TW098104371A patent/TW200951910A/zh unknown
-
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- 2013-09-04 JP JP2013182869A patent/JP2013250580A/ja active Pending
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Publication number | Publication date |
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WO2009102614A3 (en) | 2010-01-28 |
CN101933076A (zh) | 2010-12-29 |
JP2011514550A (ja) | 2011-05-06 |
US20090201282A1 (en) | 2009-08-13 |
TW200951910A (en) | 2009-12-16 |
JP5526041B2 (ja) | 2014-06-18 |
CN101933076B (zh) | 2013-10-09 |
KR20100121493A (ko) | 2010-11-17 |
WO2009102614A2 (en) | 2009-08-20 |
EP2250637A2 (en) | 2010-11-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130917 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140312 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140407 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140623 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20141208 |