JP2013248261A - 光画像撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 被検査物である眼底の所望の位置における、高横分解能な平面画像を簡便に撮像することが可能となる装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 光源からの光を第一の測定光とし、被検眼に照射された該第一の測定光による第一の戻り光の強度により、前記被検眼の第一の画像を撮像する第一の撮像部を有する光画像撮像装置であって、前記被検眼が注視するための固視灯と、前記固視灯の点灯位置を設定する点灯位置設定手段と、を有し、前記点灯位置設定手段は、モニターの画面上に表示された前記被検眼の眼底上の位置の指定に応じて、前記固視灯の点灯位置を設定することを特徴とする。
【選択図】 図5

Description

本発明は、眼科診療等に用いられる光画像撮像装置に関するものである。
共焦点レーザー顕微鏡の原理を利用した眼科装置である走査型レーザー検眼鏡(SLO:Scanning Laser Ophthalmoscope)は、測定光であるレーザーを眼底に対してラスタースキャンを行い、その戻り光の強度から平面画像を高分解能かつ高速に得る装置である。
以下、このような平面画像を撮像する装置をSLO装置と記す。
近年、SLO装置において測定光のビーム径を大きくし、測定光が眼底上により微小なスポットになるようにすることにより、横分解能を向上させた眼底の平面画像を取得することが可能になってきた。しかし、測定光のビーム径の大径化に伴い、眼底の平面画像の取得において、被検眼にて発生する、測定光やその戻り光の収差による平面画像のSN比及び分解能の低下が問題になってきた。
それを解決するために、被検眼による収差を波面センサでリアルタイムに測定し、被検眼にて発生する測定光やその戻り光の収差を波面補正デバイスで補正する補償光学系を有する補償光学SLO装置(以下、AOSLO装置)が開発され、高横分解能な平面画像の取得を可能にしている。眼底被検眼の所望の位置を撮像する場合、被検眼を固視するための固視灯がよく用いられる。特許文献1においては、眼底の画像の所望の位置を指定して、固視灯の投影位置を変更することで、容易に所望の位置の眼底画像を取得することが試みられている。
特開2007−275374号公報
上記特許文献1の眼科装置は、上記したように、眼底の画像の所望の位置を指定して、固視灯の投影位置を変更することで、容易に所望の位置の眼底画像を取得することが可能とされている。
しかしながら、特許文献1においては、眼底上の詳細な位置設定や、他の測定機器との関連付けに関しては、言及されていない。
本発明は、上記課題に鑑み、被検査物である眼底の所望の位置における、高横分解能な平面画像を簡便に眼底撮像することが可能な装置を提供することを目的とする。
光源からの光を第一の測定光とし、被検眼に照射された該第一の測定光による第一の戻り光の強度により、前記被検眼の第一の画像を撮像する第一の撮像部を有する光画像撮像装置であって、前記被検眼が注視するための固視灯と、前記固視灯の点灯位置を設定する点灯位置設定手段と、を有し、前記点灯位置設定手段は、モニターの画面上に表示された前記被検眼の眼底上の位置の指定に応じて、前記固視灯の点灯位置を設定することを特徴とする。
本発明は、上記課題に鑑み、被検査物である眼底の所望の位置における、高横分解能な平面画像を簡便に撮像する眼底光画像撮像装置を実現することができる。
本発明の実施例におけるSLO装置の全体の構成について説明する図である。 本発明の実施例におけるSLO装置の光学系の構成を説明する図である。 本発明の実施例におけるSLO装置の測定光の波長分布を説明する図である。 本発明の実施例におけるSLO装置による撮像手順を説明する図である。 本発明の実施例におけるSLO装置の制御ソフト画面の構成を説明する図である。 本発明の実施例におけるSLO装置の画像閲覧ソフトの画面の構成を説明する図である。
本発明を実施するための形態を、以下の実施例により説明する。
本発明の実施例について説明する。
[実施例1]
実施例1においては、光画像撮像装置として、本発明を適用したAOSLO装置について説明する。該AOSLO装置は、補償光学系を備え、網膜の高横分解能の平面画像(AOSLO像)の撮像を行う装置である。また、AOSLO像の取得を補助する目的で、広画角の平面画像(WFSLO像)の撮像を行うWFSLO装置、測定光の入射位置を把握するための前眼部観察装置、および撮像箇所を調整するために視線を誘導する固視灯表示装置が付随している。
本実施例では、被検眼による光学収差を空間光変調器を用いて補正して平面画像を取得するAOSLO装置が構成され、被検眼の視度や被検眼による光学収差によらず良好な平面画像が得られるようにされている。
ここでは、高横分解能の平面画像を撮像するために、補償光学系を備えているが、高解像度を実現できる光学系の構成であれば、補償光学系を備えていなくてもよい。
<装置全体構成>
図1を用いて、まず、本実施例におけるAOSLO装置101の概略構成について具体的に説明する。
AOSLO装置101は、大まかには、主要な光学系を内蔵するヘッド部102、ヘッド部102を水平垂直方向に移動させるステージ部103、被検者の顔を乗せ位置を調整する顔受け部104、操作画面を表示する液晶モニター105、およびAOSLO装置101全体を制御する制御PC106からなる。
ヘッド部102は、ステージ部103上に設置され、ジョイスティック107を倒すことによって水平方向に、回転させることによって垂直方向に移動できる。顔受け部104は、顎を乗せる顎受け108と電動ステージによって顎受け108を移動させる顎受け駆動部109からなる。
<光学系の構成>
次に、図2を用いて、ヘッド部102に内蔵される光学系について、具体的に説明する。
光源201−1から出射した光は、光カプラー231によって参照光205と測定光206−1とに分割される。測定光206−1(第一の測定光)は、シングルモードファイバー230−4、空間光変調器259、XYスキャナ219−1、ダイクロイックミラー270−1等を介して観察対象である被検眼207に導かれる。
256は固視灯であり、固視灯256からの光束257は、被検眼207の固視あるいは回旋を促す役割を有する。
測定光206−1は、被検眼207によって反射あるいは散乱された戻り光208(第一の戻り光)となり、光路を逆行し、光カプラー231を介して、ディテクター238−1に入射される。ディテクター238−1(第一の撮像部)は、戻り光208の光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼207の平面画像(第一の画像)が構成される。本実施例では、光学系の全体を主にレンズを用いた屈折光学系を用いて構成しているが、レンズの代わりに球面ミラーを用いた反射光学系によっても構成することができる。
また、本実施例では、収差補正デバイスとして反射型の空間光変調器を用いたが、透過型の空間光変調器や、可変形状ミラーを用いても構成することができる。
<AOSLO部の光源>
つぎに、光源201−1の周辺について説明する。光源201−1は、代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。波長は840nmバンド幅50nmである。ここでは、スペックルノイズの少ない平面画像を取得するために低コヒーレント光源を選択している。また、光源の種類は、ここでは、SLDを選択したが低コヒーレント光が出射できればよくASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに、波長は得られる平面画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは840nmとする。観察対象の測定部位によっては他の波長を選んでも良い。
光源201−1から出射された光は、シングルモードファイバー230−1と光カプラー231とを介して、参照光205と測定光206−1とに90:10の割合で分割される。253は偏光コントローラである。
<AOSLO部の参照光路>
次に、参照光205の光路について説明する。
光カプラー231によって分割された参照光205は、光ファイバー230−2を介して、光量測定装置264に入射される。光量測定装置264は参照光の205光量を測定し、測定光206−1の光量をモニターする用途に用いられる。
<AOSLO部の測定光路>
次に、測定光206−1の光路について説明する。
光カプラー231によって分割された測定光206−1(第二の測定光)は、シングルモードファイバー230−4を介してレンズ235−4に導かれ、ビーム径4mmの平行光になるよう調整される。
測定光206−1は、ビームスプリッタ258−1を通過し、レンズ235−5〜6を通過し、空間光変調器259に入射される。
ここで、空間光変調器259は、制御PC106からドライバ部281内の空間光変調器駆動ドライバ288を介して制御される。
次に、測定光206−1は、空間光変調器259にて変調され、レンズ235−7〜8を通過し、XYスキャナ219−1のミラーに入射される。ここでは、簡単のため、XYスキャナ219−1は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャナとYスキャナとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜227上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光206−1の中心は、XYスキャナ219−1のミラーの回転中心と一致するように調整されている。
ここで、Xスキャナは測定光206−1を紙面に平行な方向に走査するスキャナであり、ここでは共振型スキャナを用いている。駆動周波数は約7.9kHzである。またYスキャナは、測定光206−1を紙面に垂直な方向に走査するスキャナであり、ここではガルバノスキャナを用いている。駆動波形はのこぎり波であり、周波数は32Hz、デューティ比は16%である。Yスキャナの駆動周波数は、AOSLO像の撮像のフレームレートを決定する重要なパラメータである。
ここで、XYスキャナ219−1は制御PC106からドライバ部281内の光スキャナ駆動ドライバ282を介して制御される。
レンズ235−9〜10は、網膜227を走査するための光学系であり、測定光206−1を被検眼207の瞳孔中心を支点として、網膜227をスキャンする役割がある。
ここで、測定光206−1のビーム径は4mmであるが、より高分解能な光画像を取得するためにビーム径はより大径化してもよい。
また、217−1は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ235−10の位置を動かし、フォーカスを調整することができる。
ここで、電動ステージ217−1は、制御PC106からドライバ部281内の電動ステージ駆動ドライバ283を介して制御される。
レンズ235−10の位置を調整することで、被検眼207の網膜227の所定の層に、測定光106を合焦し観察することが可能になる。
また、被検眼207が屈折異常を有している場合にも対応できる。
測定光206−1は、被検眼207に入射すると、網膜227からの反射や散乱により、戻り光208(第二の戻り光)となり再び光カプラー231に導かれ、シングルモードファイバー230−3を介してディテクター238−1に到達する。ディテクター238−1(第二の撮像部)は、例えば高速・高感度な光センサであるAPD(Avalanche Photo Diode)やPMT(Photomultiplier Tube)が用いられる。ディテクター238−1(第二の撮像部)によって、第二の画像が取得される。
<WFSLO部全体>
次に、WFSLO部について説明する。
WFSLO部は基本的にAOSLO部と同様の構成となっている。重複する部分ついては説明を省略する。
光源201−2から出射した光は、レンズ235−2、11〜14、XYスキャナ219−2、ダイクロイックミラー270−1〜3等を介して観察対象である被検眼207に導かれる。光源201−2は、AOSLO部と同様にSLDである。波長は920nmバンド幅20nmである。
<WFSLO部の測定光路>
次に、測定光206−2の光路について説明する。
光源201−2から射出された測定光206−2は、レンズ235−2、11〜14、XYスキャナ219−2、ダイクロイックミラー270−1等を介して観察対象である被検眼207に導かれる。
ここで、XYスキャナ219−2の構成要素であるXスキャナは、測定光206−2を紙面に平行な方向に走査するスキャナであり、ここでは共振型スキャナを用いている。駆動周波数は約3.9kHzである。また、Yスキャナは測定光206−2を紙面に垂直な方向に走査するスキャナであり、ここでは、ガルバノスキャナを用いている。駆動波形はのこぎり波であり、周波数は15Hz、デューティ比は16%である。Yスキャナの駆動周波数は、WFSLO像のフレームレートを決定する重要なパラメータである。
ここで、測定光206−2のビーム径は1mmであるが、より高分解能な光画像を取得するために、ビーム径はより大径化してもよい。
測定光206−2は、被検眼207に入射すると網膜227からの反射や散乱により戻り光208となりダイクロイックミラー270−1〜3、レンズ235−2〜3、13〜14、XYスキャナ219−2、ビームスプリッタ258−2等を介してディテクター238−2に到達する。
<ビーコン部の説明>
次に、被検眼207の収差を測定するためのビーコン部について説明する。
光源201−3から射出された測定光206−3は、レンズ235−15〜16、ダイクロイックミラー270−1〜2、4等を介して観察対象である被検眼207に導かれる。ここで、測定光206−3は、角膜226からの反射を避けるために、被検眼207の中心から偏心して入射される。戻り光208の一部は、ダイクロイックミラー258−1、ピンホール298を介して、波面センサ255に入射され、被検眼207で発生する戻り光208の収差が測定される。ここで、ピンホール298は、戻り光208以外の不要光を遮蔽する目的で設置されている。波面センサ255は、制御PC106に電気的に接続されている。波面センサ255は、シャックハルトマン方式の波面センサであり、測定レンジは−10D〜+5Dとなっている。得られた収差は、ツェルニケ多項式を用いて表現され、これは被検眼207の収差を示している。ツェルニケ多項式はチルト(傾き)の項、デフォーカスの項、アスティグマ(非点収差)の項、コマの項、トリフォイルの項等からなる。なお、光源201−3の中心波長は760nm、波長幅は20nmである。
ここで、角膜226とXYスキャナ219−1と波面センサ255と空間光変調器259とは光学的に共役になるようレンズ235−5〜10等が配置されている。そのため、波面センサ255は、被検眼207の収差を測定することが可能になっている。また、空間光変調器259は被検眼207の収差を補正することが可能になっている。
<固視灯部>
固視灯256は、発光型のディスプレイモジュールからなり表示面(□27mm、128×128画素)をXY平面に有する。ここでは、液晶、有機EL、LEDアレイ等を用いることができる。被検眼207が、固視灯256からの光束257を注視することで、被検眼207の固視あるいは回旋が促される。固視灯256の表示面には例えば図2(b)に示すように、任意の点灯位置265に十字のパターンが点滅して表示される。
固視灯256からの光束257は、レンズ235−17〜18、ダイクロイックミラー270−1〜3を介して網膜227に導かれる。また、レンズ235−17、18は、固視灯256の表示面と網膜227とが光学的に共役になるよう配置される。また、固視灯256は、制御PC106からドライバ部281内の固視灯駆動ドライバ284を介して制御される。
<前眼部観察部>
次に、前眼部観察部について説明する。
前眼部照明光源201−4から照射された光は、被検眼207を照らし、その反射光がダイクロイックミラー207、レンズ235を介してCCDカメラ260に入射する。光源201−4は中心波長740nmのLEDである。
<フォーカス、シャッター、乱視補正>
以上のように、ヘッド部102に内蔵される光学系は、AOSLO部、WFSLO部、ビーコン部、固視灯部、前眼部観察部からなる。この中でAOSLO部、WFSLO部、ビーコン部、固視灯部はそれぞれ個別に電動ステージ217−1〜4を持ち、4つの電動ステージを連動させて動かしている。ただし、個別にフォーカス位置を調整したい場合には、個別に電動ステージを動かすことで調整可能である。
また、AOSLO部、WFSLO部、ビーコン部はそれぞれシャッター(不図示)を備え、シャッターの開閉により個別に被検眼207に入射させるか否かを制御できる。ここではシャッターを用いたが、光源201−1〜3を直接ON/OFFすることにより、制御することもできる。同様に、前眼部観察部、固視灯部についても、光源201−4および固視灯256のON/OFFにより制御可能である。
また、235−10のレンズは交換可能になっており、被検眼207による収差(屈折異常)に合わせて球面レンズやシリンドリカルレンズを用いることができる。また1個のレンズに限らず、複数のレンズを組み合わせて設置することも可能である。
<波長>
AOSLO部、WFSLO部、ビーコン部、固視灯部、前眼部観察部に用いられている光源の波長分布を図3に示す。それぞれの光をダイクロイックミラー270−1〜4で分けるために、それぞれ異なる波長帯になるようにしている。なお、図3は各光源の波長の違いを示すものであり、その強度およびスペクトル形状を規定するものではない。
<画像化>
次に、撮像画像の構成方法について説明する。
ディテクター238−1において入射された光は、光の強度が電圧に変換される。ディテクター238−1で得られた電圧信号は、制御PC106内のADボード276−1にてデジタル値に変換され、制御PC106にて、XYスキャナ219−1の動作や駆動周波数と同期したデータ処理が行われ、AOSLO像が形成される。ここで、ADボード276−1の取り込み速度は15MHzである。同様に、ディテクター238−2で得られた電圧信号は、制御PC106内のADボード276−2にてデジタル値に変換され、WFSLO像が形成される。
<撮像手順>
次に、本実施例のAOSLO装置における撮像手順について図4〜5を用いて説明する。
図4に撮像手順を示す。以下に、各工程について詳しく述べる。
(工程1)装置を立ち上げ各種確認を行う
制御PC106及びAOSLO装置の電源を入れる。次に、測定用の制御ソフトを起動すると、図5(a)に示す制御ソフト画面が液晶モニター105に表示される。ここで被検者に顔を顔受け部104にセットしてもらう。
(工程2)前眼部画像を取得する
制御ソフト画面の実行ボタン501を押すと、前眼部モニター512に前眼部の画像が表示される。画面中央に瞳孔の中心が正しく表示されていない場合は、まずジョイスティック107を用いてヘッド部102を略正しい位置に動かす。さらに調整が必要な場合は、制御画面上の電動ステージボタン503を押し、顎受け駆動部109を微動させる。
(工程3)WFSLO像を取得する
略正しい状態で前眼部画像が表示された場合、WFSLO像がWFSLOモニター515に表示される。固視灯位置モニター513で固視灯を中央位置に設定し、被検眼207の視線を中心に誘導する。
ここで、固視灯位置モニター513は、図5(b)、(c)に示すように、マップ状の固視灯設定画面525上をクリックして、被検眼207の網膜に対応する位置を指定する形態となっている。固視灯設定画面525の中心が中心窩に対応している。また、固視灯設定画面525は単位を角度(deg.)と長さ(mm)とをタブで選択することができる。
次に、WFSLO強度モニター516を見ながら、フォーカス調整ボタン504を調整して、WFSLO強度が大きくなるように調整する。ここで、WFSLO強度モニター516には横軸時間、縦軸信号強度でWFSLO部で検出された信号強度が時系列に表示されている。ここで、フォーカス調整ボタン504を調整することで、レンズ235−10、14、16、18の位置が同時に調整される。
WFSLO像が鮮明に表示された場合、WFSLO記録ボタン517を押して、WFSLOデータを保存する。
(工程4)AOSLO像取得位置を決定する
表示されたWFSLO像を確認し、AOSLO像を取得したい位置を後述の手段を用いて決める。次に、その位置がWFSLOモニター515の中央にくるように被検眼207の視線を誘導する。
AOSLO像を取得する位置を決める手段は2通りあり、一つは固視灯位置モニター513において固視灯の位置を指示する方法、もう一つはWFSLOモニター515において所望の位置をクリックする方法である。WFSLOモニター515上の画素と固視灯の位置を関連付けており、固視灯の位置が自動的に移動し、視線を所望の位置に誘導することができる。また、WFSLOモニター515上をクリックして得られた固視灯の位置に基づいて、固視灯位置モニター513上の固視灯の位置が更新される。
AOSLO像を取得したい位置がWFSLOモニター515上中央に移動したのを確認して、次の工程に移る。
(工程5)収差補正を行う
収差測定ボタン506を押すと、WFSLO測定光である測定光206−2が遮断され、ビーコン光のシャッターが開いてビーコン光である測定光206−3が被検眼207に照射される。波面センサモニター514に波面センサ255で検出されたハルトマン像が表示される。このハルトマン像から計算された収差が収差補正モニター511に表示される。収差はデフォーカス(defocus)成分(μm単位)と、全ての収差量(μmRMS単位)に分けて表示される。ここで、工程3において、AOSLO測定光とビーコン光のフォーカスレンズであるレンズ235−10、16の位置が調整されているため、この工程での収差測定が可能な状態になっている。
ここで自動フォーカスボタン521を押すと、デフォーカスの値が小さくなるようにレンズ235−10、14、16、18の位置が自動的に調整される。
次に収差補正ボタン522を押すと、収差量が小さくなる方向に自動的に空間光変調器259が調整され、リアルタイムに収差量の値が表示される。ここで、収差量の値が事前に決めておいた閾値(0.03μmRMS)以下になると自動的にAOSLO測定ボタン507が押され、次の工程に移動する。ここで、収差量の閾値は任意に設定できる。また、閾値以下にならない場合には、収差補正一時停止ボタン508を押し、収差補正を停止したのち、AOSLO測定ボタン507を押すことにより次の工程に移動する。
(工程6)AOSLO像を取得する
AOSLO測定ボタン507が押されると、ビーコン光である測定光206−3が遮断され、AOSLO測定光のシャッターが開いてAOSLO測定光である測定光206−1が被検眼207に照射される。AOSLOモニター518に収差補正済みのAOSLO像が表示される。また、AOSLO強度モニター519に、WFSLO強度モニター516と同様に、AOSLO部で検出された信号強度が時系列に表示される。
信号強度が不十分な場合には、AOSLO強度モニター519を見ながらフォーカス、顎受け位置を調整し、信号強度が大きくなるように調整する。
また、撮像条件設定ボタン523によって、撮像画角、フレームレート、撮像時間を指定することができる。
また、深さ調整ボタン524を調整して、レンズ235−10を移動させ、被検眼207の深さ方向の撮像範囲を調整することができる。具体的には、視細胞層や神経線維層や色素上皮層等の所望の層の像を取得することができる。
また、撮像位置が所望の位置と異なる場合には、固視灯位置モニター513を用いて、ユーザー指示に基づき点灯位置設定手段によって、撮像位置を微調整することができる。
AOSLO像が鮮明に表示された場合、AOSLO記録ボタン520を押して、AOSLOデータを保存する。その後、測定光206−1は遮断される。
(工程7)次の動作を選択する
撮像位置の変更を行う場合には工程4に、左右眼の切り替えを行う場合には工程2に戻る。撮像を終了する場合には、次の工程に移動する。
(工程8)終了する
STOPボタン502を押すと、制御ソフトが停止する。
<画像の確認>
次に、本実施例のAOSLO装置において撮像したデータを画像化して確認する方法について図6を用いて説明する。
撮像した画像データを可視化するビューワーソフトを起動すると、図6に示すビューワーソフト画面(インターフェース画面)が液晶モニター105に表示される。
保存されたWFSLOデータ、もしくはAOSLOデータを読み込んで画像化することができる。
測定時間によって撮像枚数が変わるが、時間順に画像番号が付けられる。画像番号選択部602によって指定された画像番号の画像が画像表示部601に表示される。画質調整部603には、画像の明るさ、コントラスト、ガンマの調整を行うためのつまみがあり、左右にスライドさせることで画質を調整することができる。
また、撮像時に固視灯モニター513を用いて指定した位置が、固視灯ビューワー613に表示される。座標625は、図に示す通り、碁盤目状に表示される。ここでも、位置の座標の単位を角度(deg.)と長さ(mm)とをタブ切替えによって選択することができる。角度と長さを切り替えることで、視野計や眼底カメラ等の他の検査機器と結果の比較がしやすくすることができる。
101 AOSLO装置
102 ヘッド部
103 ステージ部
104 顔受け部
105 液晶モニター
106 制御PC

Claims (8)

  1. 光源からの光を第一の測定光とし、被検眼に照射された該第一の測定光による第一の戻り光の強度により、前記被検眼の第一の画像を撮像する第一の撮像部を有する光画像撮像装置であって、
    前記被検眼が注視するための固視灯と、
    前記固視灯の点灯位置を設定する点灯位置設定手段と、を有し、
    前記点灯位置設定手段は、
    モニターの画面上に表示された前記被検眼の眼底上の位置の指定に応じて、前記固視灯の点灯位置を設定することを特徴とする光画像撮像装置。
  2. 前記点灯位置設定手段は、
    碁盤目状のインターフェース画面の前記モニターの画面上に表示された前記被検眼の眼底上の位置の指定に応じて、前記固視灯の点灯位置を設定する
    ことを特徴とする請求項1に記載の光画像撮像装置。
  3. 前記点灯位置は、
    前記モニターの画面上に表示された前記被検眼の座標の設定により、前記固視灯の点灯位置を設定し、
    更に、前記被検眼の座標の単位を選択する選択手段を有する
    ことを特徴とする請求項1乃至2の何れか1項に記載の光画像撮像装置。
  4. 前記選択手段は、前記被検眼の座標の単位を角度もしくは長さから選択することを特徴とする請求項3に記載の光画像撮像装置。
  5. 前記選択手段は、前記モニターの画面上に表示されたタブの切替えに応じて、前記被検眼の座標の単位を選択することを特徴とする請求項4に記載の光画像撮像装置。
  6. 光源からの光を第二の測定光とし、前記被検眼に照射された該第二の測定光による第二の戻り光の強度により前記被検眼の第二の画像を撮像する第二の撮像部をさらに有する
    ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の光画像撮像装置。
  7. 前記第一の画像と前記第二の画像との少なくともいずれか一つを、
    前記点灯位置とともに表示することを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の光画像撮像装置。
  8. 光源からの光を第一の測定光とし、被検査物である被検眼に照射された該第一の測定光による第一の戻り光の強度により前記被検眼の第一の画像を撮像する第一の撮像部と、
    光源からの光を第二の測定光とし、前記被検眼に照射された該第二の測定光による第二の戻り光の強度により前記被検眼の第二の画像を撮像する第二の撮像部と、
    前記被検眼が注視するための固視灯と、
    前記固視灯の点灯位置を設定する点灯位置設定手段と、を有し、
    前記点灯位置設定手段は、
    モニターの画面上に表示された前記被検眼の眼底上の位置の指定に応じて、前記固視灯の点灯位置を設定することを特徴とする光画像撮像装置。
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