JP2013238479A5 - 検出装置及び分析方法 - Google Patents

Description

本発明は、定性分析される極微量物質を定量分析する検出装置及び分析方法等に関する。

本発明の幾つかの態様は、局所増強電場を用いて低濃度の試料を定量検出するときの障害となるブリンキング現象の影響を低減して、定量検出精度を向上させた検出装置及び分析方法を提供することを目的とする。

データ処理部７０Ｂは、光検出部６０からのデータが順次記憶される記憶部例えばＲＡＭ７１７と、データ数演算部７１６と、移動平均演算部７１８と、定量分析部７１９とをさらに有する。データ数演算部７１６は、移動平均時間演算部７１４にて求められた移動平均時間Ｔ内に光検出部６０にて取得されるデータ数ｎｆを、例えばｎｆ＝Ｔ／ｔの除算により求めることができる。この場合、受光素子６３０に露光時間ｔを設定するｔレジスター７２０の情報は、データ数演算部７１６にも設定される。なお、データ数演算部７１６は、ピーク発現頻度演算部７１２から取得されるピーク出現頻度ｆと、ｎレジスター７１５から取得される係数ｎとに基づいて、データ数ｎｆを乗算により算出してもよい。データ数演算部７１６は、ＲＡＭ７１７から移動平均演算部７１８に読み出されるデータ数を指定することができる。こうすると、移動平均時間Ｔが可変されたとしても、移動平均に使用されるデータ数のデータをＲＡＭ７１７より容易に読み出すことができる。

吸引部４０は、吸引口４２と排出口４３との間に流路４１を有する。流体試料中の試料分子１は、標的物は、吸引口４２（搬入口）から流路４１に導入され、排出口４３から排出される。吸引口４２側に除塵フィルター４４を設けることができる。ファン４５０が排出口４３付近に設けられ、ファン４５０を作動させると、流路４１内の圧力（気圧）が低下する。これにより、気体と共に試料が流路４１に吸引される。流体試料は、センサーチップ２０を経由して排出口４３から排出される。このとき、試料分子１（図１参照）の一部がセンサーチップ２０の表面（電気伝導体）に吸着される。

Claims (8)

1. 光源と、
   前記光源からの光が入射され、局所増強電場を用いて被測定試料の濃度に応じた光を出射する光学デバイスと、
   前記光学デバイスからの光を受光して、光強度のデータを出力する光検出部と、を備え、
   前記光学デバイスを露光する露光時間ｔよりも長い計測時間内の前記光検出部の出力値の平均値を計算する時間平均演算部を有することを特徴とする検出装置。
2. 請求項１において、
   前記時間平均演算部は、前記光検出部より出力された前記データの総和を前記計測時間で除算した時間平均値を求めることを特徴とする検出装置。
3. 請求項１または２において、
   前記時間平均演算部は、前記計測時間未満の時間であって前記露光時間ｔの整数倍の時間だけ前記計測時間を時間軸上で順次シフトさせた移動平均時間Ｔ内の移動平均値を、順次演算する移動平均演算部を有することを特徴とする検出装置。
4. 請求項３において、
   前記時間平均演算部は、前記データがブリンキングする周波数以上の高周波数で変動する前記光検出部の前記データのピーク発現頻度に基づいて、前記移動平均時間を設定する移動平均時間設定部を有することを特徴とする検出装置。
5. 請求項４において、
   前記移動平均時間設定部は、前記ピーク発現頻度をｆ（Ｈｚ）とし、移動平均時間係数をｎとしたとき、前記移動平均時間Ｔを、Ｔ＝ｎ×ｆ×ｔに設定する移動平均時間演算部を有し、前記移動平均時間係数ｎがｎ≧３０に設定されることを特徴とする検出装置。
6. 請求項５において、
   前記移動平均時間係数ｎがｎ≧４０に設定されることを特徴とする検出装置。
7. 請求項５または６において、
   前記移動平均時間設定部は、
   所定時間内に前記光検出部からの前記データが閾値以上となったピーク回数Ｎをカウントするカウンターと、
   前記ピーク発現頻度ｆをｆ＝Ｎ／ｍｔ（ｍは係数）により演算する発現頻度演算部と、
   をさらに有し、前記係数ｍがｍ≧２０に設定されることを特徴とする検出装置。
8. 局所増強電場を用いて被測定試料の濃度を分析する方法であって、
   光源からの光を光学デバイスに入射させる過程と、
   前記光学デバイスが出射した被測定試料の濃度に応じた光を光検出部で受光する過程と、
   露光時間よりも長い計測時間内の、前記光検出部が出力した光強度の出力値の平均値を計算する過程と、
   を含むことを特徴とする分析方法。