JP2013218782A - 情報記録媒体、記録装置および再生装置 - Google Patents

情報記録媒体、記録装置および再生装置 Download PDF

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Abstract

【課題】ある情報記録層のＯＰＣ領域でのテスト記録が他の情報記録層のＯＰＣ領域に及ぼす影響を最小限にする。
【解決手段】本発明の情報記録媒体は３層以上の複数の情報記録層を備える。複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備える。複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備える。複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の記録層のそれぞれは、その管理データ領域の一部と半径位置が重なるテスト記録領域を備える。
【選択図】図１７

Description

本発明は、複数の情報記録層に最適な記録条件（記録パワーおよび／またはライトストラテジ）を求めるためのテスト記録領域（ＯＰＣ領域）が設けられた多層光学的情報記録媒体、および多層光学的情報記録媒体に対して記録および／または再生を行う記録装置および再生装置に関する。
従来、光記録媒体として、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ規格等があり、これらの規格に準じた光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録／再生する技術がある。
これらの光ディスクの一例として、相変化タイプの記録材料を記録層に用いた光ディスクがある。相変化型光ディスクは、レーザ光線を光ディスクに照射し、その注入エネルギーにより記録膜面上に形成した薄膜物質の原子結合状態を局所的に変化させることにより情報を記録する。次に、記録したときよりも十分低いパワーのレーザ光を照射したときに前述の物理状態の違いによって反射率が変化する。この反射率の変化量を検出すれば情報の読み取りを行うことができる。
このように相変化型光ディスクは、記録層の記録材料にＧｅＳｂＴｅを用いた、書き換え型の光ディスクの他に、別の記録材料を用いた追記型の光ディスクもある。追記型光ディスクの記録材料の一例としては、特許文献第１に、Ｔｅ−Ｏ−Ｍ（ただし、Ｍは金属元素、半金属元素および半導体元素から選ばれる少なくとも１つの元素である。）を含有する材料を用いた記録層の開示がある。記録材料がＴｅ−Ｏ−Ｍとは、Ｔｅ、ＯおよびＭを含有する材料であり、成膜直後でＴｅＯ２のマトリクス中にＴｅ、Ｔｅ−ＭおよびＭの微粒子が一様にランダムに分散された複合材料である。この記録材料によって形成された薄膜に、集光したレーザ光を照射すると、膜の溶融が起こり、粒径の大きいＴｅあるいはＴｅ−Ｍの結晶が析出する。この際の光学状態の違いを信号として検出することができ、これにより１回のみ書き込み可能な、いわゆる追記型の記録が可能となる。
また、無機系材料で合金系の追記型ディスクのように材料の異なる２つの薄膜を重ね合わせ、レーザで加熱溶融することで、両者を混ぜあわせて合金化して記録マークを形成する方式、あるいは、有機色素系材料へのレーザ照射による昇温によって、有機色素を熱分解し、熱分解した部分の屈折率の変化が低下し、未記録部分と比べると光透過層の行路長が短くなったように見え、入射光にとって再生専用ＣＤ等の凹凸のピットのように見えることによって、情報を記録する追記型光ディスク等がある。
これらの追記型光ディスクにマークエッジ記録する場合、マルチパルス状に変調されたレーザ光を照射して記録材料の物理状態の変化を生じさせることによって、記録マークを形成し、できたマークとスペースの反射率変化を検出して情報を読み出す。
近年、光ディスクの大容量化が進んでいる。光ディスクの記録容量を高めるために、記録するマーク、スペースの長さとトラックピッチを短くして、一面当たりの記録密度を高める方法と、レーザ光入射面から書き込みあるいは読み出し可能な情報記録層を多層化して記録容量を高める方法がある。
多層化して記録容量を高める方法としては、レーザ光に対して半透明な情報記録層をレーザ光入射側（手前）の情報記録層に配置し、さらに奥側にも情報記録層を配置することで多層化する方法がある。複数の情報記録層をもつ光ディスクは、積層した全ての情報記録層で、透過した情報記録層の記録状態によらず、適切な状態で記録あるいは再生する必要があり、記録再生信号の信頼性を確保することが益々重要になってくる。
そこで、信頼性を確保するために、光ディスクの内周部のインナー領域あるいは外周部のアウター領域内にテスト記録領域、あるいは“ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域”と呼ばれる、記録パワーをキャリブレーションする領域を配置している。“ＯＰＣ”とは、記録可能な光ディスクにおいて、本来の記録を行う前、あるいは、温度変化などによって生じたパワーの変動をキャリブレーションするために、テスト記録を行って、光ディスクに照射されるレーザパルスのパワーレベル（記録パワー学習）、レーザパルスの発生のタイミングおよび長さ等（ライトストラテジ学習）を最適化する過程を意味する。即ち、光ディスクが記録再生装置（光ディスク装置）にローディングされると、光ディスク装置は、光ディスク内に設けられたＯＰＣ領域で、テスト記録を繰り返し行い、該当の光ディスクに最適な記録パワーを算出する。
しかしながら、ＯＰＣ領域においては、記録パワーを学習する過程で、データを記録するのに適切な記録パワーに比べ、過大な記録パワーでテスト信号を記録することも考えられる。もし、過大な記録パワーで手前の情報記録層のＯＰＣ領域にテスト記録した場合、透過するレーザ光が、そのＯＰＣ領域の記録状態の影響を受けて、奥側にある情報記録層の記録／再生信号品質に悪影響を与えてしまう。具体的には、最適な記録パワーからのずれ、再生信号の読み取りエラー、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号に歪みを生じさせトラッキングやフォーカスサーボが不安定になる可能性がある。
それらの課題を解決するために、多層光ディスクのＯＰＣ領域の物理フォーマットや記録方法を工夫するなどして、ＯＰＣの信頼性を高める技術が提案されている（例えば特許文献第２から特許文献第７および非特許文献１）。
特開２００４−３６２７４８号公報 特開２００５−３８５８４号公報 国際公開第２００２／０２３５４２号パンフレット 特表２００７−５２１６０６号公報 特表２００７−５２６５９５号公報 特表２００７−５２１５８９号公報 特表２００８−５２７６０２号公報
図解 ブルーレイディスク読本 オーム社
過大な記録パワーで手前の情報記録層のＯＰＣ領域にテスト記録した場合、透過するレーザ光が、そのＯＰＣ領域の記録状態の影響を受けて、奥側にある情報記録層の記録／再生信号品質に悪影響を与えてしまうのを防ぐことを目的として、特許文献第２〜第７には、少なくとも２つの情報記録層を備え、各情報記録層は、インナー領域、データ領域およびアウター領域で構成され、前記インナー領域およびアウター領域のうちの少なくとも１つの領域に少なくとも１つのＯＰＣ領域を備え、複数の情報記録層のうち、全てあるいは隣接した情報記録層内に備えられる各ＯＰＣ領域は、光ビームの進行方向を基準に物理的に同じ位置に備えられない多層光ディスクのＯＰＣ領域の物理フォーマットが主に開示されている。
しかしながら、ＯＰＣ領域が奇数あるいは偶数の情報層間で重ね合わさることによって、透過光は手前の情報記録層の記録状態の影響を受け、奥側にある情報記録層の記録／再生信号品質に悪影響を与えてしまう。仮に手前の層の記録の有無が奥の情報記録層への記録品質に影響を与えないような光ディスクであっても、手前の情報記録層のＯＰＣ領域に過大なパワーでテスト記録した場合、手前の情報記録層をレーザ光が通過するときに強度変化などの影響を受けてしまい、奥の情報記録層では、ＯＰＣによって、最適な記録パワーの導出ができなくなることが考えられる。
一方、全てのＯＰＣ領域が重なり合わないよう配置した場合は、光ビームの進行方向を基準に物理的に同じ位置にＯＰＣ領域の重ね合わせを排除して配置するには、情報記録層を積層する数が多くなるにつれて、１層当たりのＯＰＣ領域の占める物理サイズを小さくするか、インナー領域あるいはアウター領域を増やす必要がある。いずれの方法も、ＯＰＣの回数を減らさざるを得なくなる、光ディスクに本来ユーザーが記録するためのユーザーデータ領域を減少させることになる等、課題の解決に至っていない。
特に、インナー領域あるいはアウター領域を増大させることなく、ＯＰＣ領域を隣接の情報記録層あるいは全ての情報記録層で重ならないようにできたとしても、情報記録層の数が増えるにつれてＯＰＣ領域の占める物理サイズ（クラスタ数）を小さくしなければならないこととなる。特に、追記型光ディスクのように１回しか記録できない光ディスク媒体においては、ＯＰＣ領域の物理サイズの減少によって記録パワーや記録パルスの条件を学習する回数が減少してしまう。さらに、ＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性が高くなり、ユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、テスト記録ができないために光ディスクへの記録を中止せざるを得なくなる可能性が高まる。
特に、多層化と同時に１面当たりの記録密度も同時に向上させているような光ディスクの場合（例えばＢＤで線密度をつめることによって、１層当たり３３．４ＧＢや３２ＧＢの記録容量の場合）には、光スポットのスポットサイズよりも記録マークあるいはスペースのサイズが十分小さくなり、再生信号の符号間干渉や記録マーク間の熱干渉が増加して、記録マークとスペースの間のエッジずれが顕著に発生する。それらのエッジずれを補正するためにライトストラテジ調整を行う場合には、これまでよりもテスト記録の回数を増やして、より正確にライトストラテジ調整を行い記録信号品質の改善を行わなければならない。即ち、インナー領域あるいはアウター領域内のテスト記録領域を上述のように情報記録層の間で重ならないように配置する物理フォーマットでは、情報記録層のテスト領域の物理サイズを小さくしなければならず、多くのテスト記録領域を確保できないという課題がある。
またテスト記録領域には、情報記録層間をシーケンシャルではなく自由に使用できるランダムアクセス性が要求される。
追記あるいは書き換え可能な光ディスクの場合、各情報記録層に記録する記録順序は、Ｌ０→Ｌ１→Ｌ２→Ｌ３のように必ずしも奥側の情報記録層から手前の情報記録層に向かって完全にシーケンシャルに記録するのではなく、各情報記録層のまとまった区間に連続して記録し、情報記録層間は自由に記録することが必要になる。情報記録層間に自由に記録することが必要になる例として、欠陥管理とファイルシステム管理について説明する。
本発明の光ディスクでは、ユーザーデータを記録する領域の内周と外周にスペアエリア（交替領域）と呼ばれるデータを退避させる領域が定義されている。それぞれＩＳＡ（Ｉｎｎｅｒ Ｓｐａｒｅ Ａｒｅａ）、ＯＳＡ（Ｏｕｔｅｒ Ｓｐａｒｅ Ａｒｅａ）と呼ぶ。欠陥管理は、光ディスク装置がデータ記録中に何らかの原因で記録できない場合、光ディスク装置は記録できないブロックに記録する予定だったデータを交替領域内の未使用領域に記録する。次に、交替情報としてディフェクトリストと呼ばれる交替情報を管理するリストに、交替元（欠陥ブロック）と交替先（交替領域）のアドレスのペアを登録する。ディフェクトリストはインナーゾーンあるいはアウターゾーン内のＤＭＡの中に確保されている。再生時には、光ディスク装置は、ディフェクトリストに登録されている情報を読み出して、もし、登録されていなければ指定された場所からデータを読み込み、もし登録されていれば交替情報をもとにして実際にデータが書かれている場所からデータを読み込む。
前述の欠陥管理のシステムでは、ファイルシステム側が論理アドレス情報を管理しているため、物理構造を反映した交替処理が行われないことがある。即ち、Ｌ０のユーザーデータ領域にデータを記録中に、交替処理が発生し、Ｌ０のスペアエリアがいっぱいの場合に、Ｌ０以外の他の情報記録層の未記録状態のスペアエリアに書き込みに行くことが起こり得る。このように、情報記録層間の記録順序は、物理的には、情報記録層間にまたがって記録することが起こり得る。
また、ディスク内の情報を管理する仕組みであるファイルシステムの管理上、論理アドレスの開始アドレスと終了アドレス、および物理アドレスの開始アドレスと終了アドレスをシーケンシャルに対応させたときに、論理アドレスの開始側から情報を順番に記録し、管理情報を論理アドレスの終了側から記録するようなファイルシステムの場合、終了アドレス側にホストからデータを記録するよう命令がなされることが想定される。論理アドレスの終了アドレスは、光ディスクの物理上の終了アドレスが配置されているＬ３の情報記録層である。したがって、情報記録層間の記録順序は、物理的には、情報記録層間にまたがって記録することとなる。
したがって、ＯＰＣ領域での記録パワーの最適化は、奥側の層から順番に手前の情報記録層のＯＰＣを順次行うだけでなく、全ての情報記録層に最適な記録パワー、記録パルス条件およびサーボ条件の最適化を事前に行うことが必要である。
本発明は上記問題点を鑑みて成されたものであり、ある情報記録層のＯＰＣ領域でのテ
スト記録が他の情報記録層のＯＰＣ領域に及ぼす影響を最小限にすることを実現しつつ、インナー領域および／またはアウター領域内にＯＰＣ領域が効率的に配置された情報記録媒体、およびその情報記録媒体に対応した記録装置および再生装置を提供することを目的とする。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、前記管理データ領域の一部と半径位置が重なる前記テスト記録領域を備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、少なくとも一部が前記再生専用の管理データ領域と半径位置が重なっている、書き込みが禁止された書き込み禁止領域を備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記再生専用の管理データ領域に予め記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域と、テスト記録領域とを備え、前記記録可能な管理データ領域は、前記テスト記録領域の内周側および外周側に配置される。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも２つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域と、他の少なくとも１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域とは、少なくとも一部の半径位置が互いに重なっている。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記記録可能な管理データ領域に記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数ブロック備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記記録可能な管理データ領域に記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数個備え、２つの前記記録可能な管理データ領域の間には、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域が配置されている。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域と、前記テスト記録領域の内周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第１の書き込み禁止領域と、前記テスト記録領域の外周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第２の書き込み禁止領域と、前記第１の書き込み禁止領域の内周側に隣接して配置された第１の領域と、前記第２の書き込み禁止領域の外周側に隣接して配置された第２の領域とを備え、前記第１の領域および第２の領域には、同じ属性の情報が記録される。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも１つの情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられる第１および第２のテスト記録領域を備え、前記第１のテスト記録領域では第１のテスト記録が行われ、前記第１のテスト記録の後、前記第２のテスト記録領域において、前記第１のテスト記録の結果に基づいた第２のテスト記録が行われ、前記第２のテスト記録領域の物理サイズは、前記第１のテスト記録領域の物理サイズよりも大きい。
また、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも２つの情報記録層のそれぞれは、前記第１および第２のテスト記録領域を備え、前記第１のテスト記録領域を用いたテスト記録は、前記情報記録媒体のレーザ光入射面から遠い情報記録層から順に行われてもよい。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記第１および第２のテスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備える。前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備える。前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、前記管理データ領域の一部と半径位置が重なる前記テスト記録領域を備える。
上記のように本発明によれば、再生専用の管理データ領域（例えばＰＩＣ領域）の一部と他の２つ以上の情報記録層のテスト記録領域（例えばＯＰＣ領域）の少なくとも一部とが重なるように配置する。サイズが限られたゾーンの中で、あえてＯＰＣ領域をＰＩＣ領域と重ねて配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域のサイズを大きく確保することができ、ＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。ＰＩＣ領域には同じ情報が繰り返し記録されているので、仮に、それらのＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ダメージを受けたＯＰＣ領域と重なっていないＰＩＣ領域の部分からは確実に情報を読み出すことができる。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備える。前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、少なくとも一部が前記再生専用の管理データ領域と半径位置が重なっている、書き込みが禁止された書き込み禁止領域を備える。
上記のように本発明によれば、再生専用の管理データ領域（例えばＰＩＣ領域）と他層の書き込み禁止領域（例えばバッファ領域）の少なくとも一部同士が重なるように配置する。バッファ領域には書き込み動作が行われないので、レーザ光によるダメージを受けることは無い。そのため、バッファ領域と重なるＰＩＣ領域の部分からは確実に情報を読み出すことができる。仮に、ＰＩＣ領域の一部と重なる他層の領域（例えばＯＰＣ領域）がダメージを受けると、ＰＩＣ領域のその対応する部分からは情報を読み取れなくなるおそれがある。しかしその場合でも、ＰＩＣ領域には同じ情報が繰り返し記録されているので、ＰＩＣ領域のバッファ領域と重なる部分からは確実に情報を読み出すことができる。ＰＩＣ領域には各情報記録層のディスク管理データがブロック単位に記録されており、単位ブロックをＰＩＣ領域内で複数回繰り返し記録している。したがって、ＰＩＣ領域のほとんど全ての領域のディスク管理データが、手前の層の書き込みの影響を受けてダメージを受けて、読めなくなってしまってもよい。即ち、繰り返し記録されている複数のブロックのうち、少なくとも１つのブロックのディスク管理データを読み出すことができれば問題ない。Ｌ１からＬ３のバッファ領域の奥側にあるＰＩＣ領域のディスク管理データが問題なく読み取れればよい。即ち、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の奥側にＰＩＣ領域を配置し、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の隣接部に十分なバッファ領域を持たせて配置することで、リードインゾーンのスペースを効率的に使い十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備える。前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域と、テスト記録領域を備える。前記記録可能な管理データ領域は、前記テスト記録領域の内周側および外周側に配置される。
上記のように本発明によれば、一つの情報記録層において記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）をＯＰＣ領域の内周側と外周側の２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域と、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならないが、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を内周側と外周側の２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができる。これによって、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも２つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を備える。前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域と、他の少なくとも１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域とは、少なくとも一部の半径位置が互いに重なっている。
上記のように本発明によれば、ある情報記録層の管理データ領域（例えばＤＭＡ（ＴＤＭＡ））と、他のある情報記録層の管理データ領域（例えばＤＭＡ（ＴＤＭＡ））とは、少なくとも一部の半径位置が互いに重なるように配置する。ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）同士を重ねて配置することで、サイズが限られたゾーンを有効に利用することができる。例えば、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域およびＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の両方と、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とを、半径位置が重なるように配置することで、その近い側の情報記録層のゾーンを有効に利用することができる。ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）にはパワー調整後のレーザ光が照射され、過剰な記録パワーを照射することによって、ダメージを受けることはないので、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）同士を重ねても、より奥側の情報記録層に記録された情報を正常に読み出すことができる。また仮に、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ＯＰＣ領域のレーザ照射面に近い側に配置された情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）からは問題なく情報を読み出すことができる。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数ブロック備える。
上記のように本発明によれば、一つの情報記録層において記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域との間で、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならないが、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができる。これによって、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数個備える。２つの前記記録可能な管理データ領域の間には、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域が配置されている。
上記のように本発明によれば、２つの管理データ領域（例えばＤＭＡ（ＴＤＭＡ））の間にＯＰＣ領域を配置する。これにより、ユーザデータ領域から離れた位置にＯＰＣ領域を配置することができる。また、そのような構成により、例えば、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域と、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とは、半径位置が互いに重なる場合がある。この場合において、仮にレーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）からは問題なく情報を読み出すことができる。
また、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の内部にＯＰＣ領域を配置した場合には、その分だけ、サイズが限られた残りのゾーンを有効に利用することができる。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域と、前記テスト記録領域の内周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第１の書き込み禁止領域と、前記テスト記録領域の外周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第２の書き込み禁止領域と、前記第１の書き込み禁止領域の内周側に隣接して配置された第１の領域と、前記第２の書き込み禁止領域の外周側に隣接して配置された第２の領域とを備える。前記第１の領域および第２の領域には、同じ属性の情報が記録される。
上記のように本発明によれば、２つのＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の間にＯＰＣ領域を配置する場合は、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とＯＰＣ領域との間にバッファ領域を配置する。これにより、ＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）にその影響が及ぶことを防止することができる。また、２つのＤＭＡ（ＴＤＭＡ）には同じ属性の情報が記録されるので、仮に一方のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）がダメージを受けて読み出し不能となった場合でも、他方のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）から確実に情報を読み出すことができる。
また、一つの情報記録層において、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域との間で、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならない。一方、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
本発明のある実施形態による情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも１つの情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられる第１および第２のテスト記録領域を備える。前記第１のテスト記録領域では第１のテスト記録が行われる。前記第１のテスト記録の後、前記第２のテスト記録領域において、前記第１のテスト記録の結果に基づいた第２のテスト記録が行われる。前記第２のテスト記録領域の物理サイズは、前記第１のテスト記録領域の物理サイズよりも大きい。
上記のように本発明によれば、第１のテスト記録領域を用いてまずレーザ光のパワーの調整を行う。パワーの調整の後、第２のテスト記録領域を用いてパルス波形等のパワー以外の記録パラメータの調整を行う。パワー調整の後に第２のテスト記録領域を用いるので、第２のテスト記録領域がダメージを受けることを防止することができる。そのため、複数の情報記録層にわたって第２のテスト記録領域を互いの半径位置が重なるよう配置することができるので、サイズが限られたゾーンを有効に利用することができる。
また、本発明に係る多層光学的情報記録媒体、多層光学的情報記録媒体の記録方法、再生方法および記録再生装置によれば、複数の情報記録層を備えた多層光ディスクにおいて、複数の情報記録層のそれぞれに備えられるＯＰＣ領域でテスト記録を行って最適な記録パワーやライトストラテジを調整する際、レーザ光入射側に位置する情報記録層の記録状態に係わらず、奥の情報記録層においても精度のよい記録パワー調整やライトストラテジ調整が可能となり、信頼性の高い多層光ディスクを提供できる。
また、テスト記録領域の物理フォーマット配置を工夫することによって、限られたインナー領域あるいはアウター領域の中で、各情報記録層のＯＰＣ領域の物理サイズを多くとることが可能となり、テスト記録の回数を減らすことなく信頼性の高い記録パワー調整とライトストラテジ調整が可能になる。特に、追記型光ディスクのように１回しか記録できない光ディスク媒体においては、ユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
これにより大容量かつ高密度の多層光学的情報記録媒体が実現できるのと同時に、情報記録再生装置の高信頼性を実現できる。
本発明の実施形態による光学的情報記録再生装置の全体構成を説明する図である。 本発明の実施形態による４層光ディスクの各層のトラックレイアウトの断面を説明する図である。 本発明の第１の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。 本発明の第２の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。 本発明の第３の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。 本発明の第４の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。 本発明の第５の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。 本発明の第１から第４の実施形態による４層光ディスクのテスト記録領域にテスト記録する際の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施形態による４層光ディスクのスタック構成の概略を説明する図である。 本発明の実施形態による多層光ディスク媒体の平面上の領域構成を示す図である。 本発明の第５の実施形態による４層光ディスクのテスト記録領域にテスト記録する際の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施形態８による再生信号の模式図を示す図である。 本発明の実施形態８による記録パワーに対する変調度とパワーの積の関係を説明する図である。 本発明の実施形態によるＯＰＣ領域のクラスタの使用方向を説明する図である。 本発明の実施形態による４層光ディスクの各層のトラックレイアウトの断面を説明する別の図である。 本発明の第９の実施形態による４層光ディスクのサーボ条件を最適化する際の手順を示すフローチャートである。 本発明の第５の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの別の一例を示す図である。 （ａ）は、本発明の実施形態による情報記録層を２層備える追記型ディスクを示し、（ｂ）は、本発明の実施形態による情報記録層を２層備える書換型ディスクを示している。 本発明の実施形態による多層ディスクの構成例を示す図である。 本発明の実施形態による単層ディスクの構成例を示す図である。 本発明の実施形態による二層ディスクの構成例を示す図である。 本発明の実施形態による三層ディスクの構成例を示す図である。 本発明の実施形態による四層ディスクの構成例を示す図である。 本発明の実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す図である。 （ａ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤの例を示す図であり、（ｂ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す図である。 本発明の実施形態によるトラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す図である。 本発明の実施形態による２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークの関係を示す図である。 本発明の実施形態による最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０になっている例を示す図である。
以下、本発明の多層光学的情報記録媒体、多層光学的情報記録媒体の記録方法、再生方法および記録再生装置に係る好適な実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
本発明の実施形態では記録媒体として４層に多層化した追記型光ディスクであるＢＤ−Ｒの場合を例に説明するが、これは記録媒体の特質を特に限定するものではなく、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは物理的性質の異なるマークあるいはピットを形成することによって情報を記録する記録媒体に共通の技術である。本実施形態におけるブルーレイディスク(ＢＤ)の物理フォーマットの概略については非特許文献１にも開示がある。
また、凹凸のピットをもつ基板に反射膜を成膜した再生専用の光ディスクの情報記録層と、追記型光ディスクの情報記録層および書き換え型光ディスクの情報記録層のうちのいずれかを組み合わせた構成のいわゆるハイブリッド型の多層光学的情報記録媒体にも共通する技術である。
本発明の光ディスク、光ディスクの記録方法、再生方法および記録再生装置で用いる主な光学条件は、レーザ光の波長４００ｎｍ〜４１０ｎｍ、具体的には波長４０５ｎｍと、対物レンズのＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が０．８４〜０．８６、具体的にはＮＡ＝０．８５を用いる。光ディスク媒体の物理構造はトラックピッチ０．３２μｍ、レーザ入射側から記録あるいは読み出し可能な情報記録層が４層に積層されている多層光ディスクであって、レーザ入射面から各情報記録面までの厚みが５０μｍ〜１１０μｍ、前記光ディスク上に符号化方式が１７ＰＰ変調、最短マーク長（２Ｔ）が０．１１２μｍから０．１２４μｍ、具体的には０．１１２μｍで記録する場合を例として説明する。最短マーク長が０．１１２μｍとなる線密度で記録した場合、直径１２ｃｍのＢＤ一面当たりの記録容量は概略３３．４ＧＢに相当し、これを３レイヤに積層した場合、概略１００ＧＢ、４レイヤ積層した場合、概略１３４ＧＢに相当する。また、最短マーク長が０．１１６μｍとなる線密度で記録した場合、直径１２ｃｍの光ディスク１面当たりの記録容量は概略３２ＧＢに相当し、これを３レイヤに積層した場合、概略９６ＧＢ、４レイヤ積層した場合、概略１２８ＧＢに相当する。また、最短マーク長が０．１２４μｍとなる線密度で記録した場合、直径１２ｃｍの光ディスク１面当たりの記録容量は概略３０ＧＢに相当し、これを３レイヤに積層した場合、概略９０ＧＢ、４レイヤ積層した場合、概略１２０ＧＢに相当する。
記録スピードは、チャネルレート１３２ＭＨｚ（Ｔｗ＝７．５８ｎｓ）のＢＤ２倍速に相当の場合を例に説明する。線速度は、７．３８ｍ／ｓｅｃである。
ただし、ここに示した各種パラメータ（層数、層厚、記録密度、記録容量、記録スピード等）は一例であって、これらの数値に特に限定されるわけではない。
尚、本発明で“ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域”とは、記録媒体内の内周部に設けられたインナーゾーンあるいは外周部に設けられたアウターゾーンにテスト記録（あるいはＯＰＣともいう）を行うために割り当てられた領域のことをいう。“ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）”とは、記録可能な光ディスクにおいて、データを記録する前に、記録時に光ディスクに照射されるレーザ光の記録パワーレベルを最適化する過程を意味する。即ち、光ディスクが光記録再生装置（光ディスク装置）にローディングされると、光ディスク装置は、光ディスク内のＯＰＣ領域に、テスト記録を行い、記録された信号を再生するという過程を繰り返し行い、記録パワーの最適なレベルを算出する。この過程で決定された記録パワーを最適記録パワーとし、データを記録する際に最適記録パワーでレーザ光を照射して記録動作を行うようになる。したがって、記録可能な光ディスクには必ずテスト記録領域が設けられている。
また、多層光ディスクは、手前の情報記録層の透過率によって奥の情報記録層を記録するためのレーザ光の出射パワーが影響を受けるのみならず、情報記録層毎に記録膜に用いられている記録材料の組成、記録膜あるいは保護層、反射層などの記録膜の膜厚などの構成の違いにより、それぞれの情報記録層にとって最適な記録条件（最適な記録パワーや最適な記録パルス条件など）が異なる。したがって、そのような記録条件を調整するためのＯＰＣ領域は、全ての情報記録層に必要とされる。
次に本発明の多層光学的情報記録媒体の一例である多層光ディスクについて図を用いて説明する。図１０に多層光ディスク媒体１０１の平面上の領域構成を示す。光ディスク媒体の内周側からインナーゾーン１００４、データ領域１００１、アウターゾーン１００５が配置されている。インナーゾーン１００４内には、ＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ ＆ Ｃｏｎｔｒｏｌ ｄａｔａ)領域１００３、ＯＰＣ／ＤＭＡ領域１００２が配置されている。ＯＰＣ領域は、データ領域１００１にデータを記録する前に、テスト記録を行ってディスクあるいは各情報記録層に最適な記録パワーや記録パルス列の条件を求めるために用いられる領域である。学習領域と呼ばれることもある。また、光ディスク装置の個々のばらつきや、急激な温度変動、ゴミや埃などの付着等の環境変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス列の変動分などを調整するために、テスト記録を行う領域でもある。
ＰＩＣ領域１００３は、再生専用領域であって、溝を高速に変調することによってディスク管理情報を記録している。ディスク管理情報としては、最適記録パワーを求めるのに必要なＯＰＣパラメータや、ライトストラテジタイプ、レーザパルスの発生のタイミングおよび長さ等（記録パルス条件）の推奨値、記録線速度、再生パワー、バージョン番号などが記録されている。ＰＩＣ領域の内周側には図１０には図示しないが、ＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ Ｃｕｔｔｉｎｇ Ａｒｅａ)と呼ばれる領域に情報面をバーコード状に焼ききる形式でメディア識別用の固有の番号を記録して、著作権保護などに利用している。データ領域１００１は、実際に光ディスクにユーザーが指定するデータを記録する領域でユーザーデータ領域とも呼ばれる。アウターゾーンは、再生専用のＰＩＣ領域はなく、インナーゾーンと同じくテスト記録のための領域や記録データの管理情報に関するＯＰＣ／ＤＭＡ領域が配置されている。
次に、図９に本発明の４層光ディスク媒体のスタック構成の概略図を示す。以降、本実施形態において便宜上、情報記録層の各情報記録層の番号と略称を一致させるため、第１の情報記録層ではなく、第０の情報記録層からレイヤ番号を開始するものとする。９０５が基板、９０１が第０の情報記録層Ｌ０（Ｌａｙｅｒ０を略してＬ０）、９０２が第１の情報記録層Ｌ１、９０３が第２の情報記録層Ｌ２、９０４が第３の情報記録層Ｌ３である。９０９はカバー層でありレーザ光は、カバー層側から入射する。
基板９０５の厚みが概略１．１ｍｍ、９０９のカバー層の厚みは少なくとも４０μｍ以上、各情報面は、９０６、９０７、９０８の透明なスペース層で隔てられている。本実施形態においては、具体例として、カバー層９０９の厚みが５３μｍ、Ｌ３−Ｌ２間のスペース層の厚みが１２μｍ、Ｌ２−Ｌ１間のスペース層の厚みが２０μｍ、Ｌ１−Ｌ０間のスペース層の厚みが１５μｍとする。スペース層で隔てられた各情報記録層の間隔は、各情報記録層からの回折光の干渉（層間干渉）が少なくなるよう設計されることが好ましく、上述のスペース層の厚みによる層間距離に限定されるわけではない。
次に図２に本発明の４層光ディスクの各層のトラックレイアウトの断面を示す。図２において、４層光ディスク媒体の第０の情報記録層は、ＢＣＡと呼ばれる媒体固有のユニークＩＤを、情報面を焼ききる形式等であらかじめ記録したものが形成されている。ＢＣＡは、記録マークを同心円状に並べるように形成していくことで、バーコード状の記録データを形成する。これはＬ０にのみ形成されている。
次のエリアがＰＩＣ領域である。ＰＩＣ領域は、ディスク管理情報あるいはＤＩ（Ｄｉｓｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ）と呼ばれる情報が予め記録されている。ディスク管理情報として、バージョン番号、レイヤ番号、最大記録速度、追記型・書き換え型などディスクタイプ、各情報記録層の推奨記録パワー、ＯＰＣに必要とされる各種パラメータ、記録パルス条件、ライトストラテジ、コピープロテクションに用いる情報等が記録されている。ＰＩＣ領域には、スパイラル状に形成された案内溝（Ｇｒｏｏｖｅ）を蛇行させる（ウォブリング）ことによってディスク管理情報が記録されている。これらのプリレコーデッド情報は書き換え不能な再生専用の情報であり、ディスク製造時にディスク製造者によって、ディスク管理情報があらかじめ記録されている。つまりＢＣＡとＰＩＣ領域が再生専用の領域となる。
次のエリアには、光ディスク装置が記録パワーや記録パルス条件等のテスト記録を行うＯＰＣ領域およびディスクマネジメントエリア（ＤＭＡ）が設けられている。ＯＰＣ領域は、光ディスク装置にディスクが挿入された起動時や、動作中にある一定以上の温度変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス条件の変動分をキャリブレーションするために、テスト記録を行うテスト記録領域である。ＤＭＡ（Ｄｉｓｃ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）はディスク管理情報やディフェクト情報を管理するための領域である。
半径２４．０ｍｍ〜５８．０ｍｍがデータ領域となる。データ領域は、実際にユーザーが希望するデータを書き込む領域である。データ領域には、ＰＣユース等において、ディフェクト等により記録再生できない部分が存在した場合、記録再生できない部分（セクタ、クラスタ）を交替する交替エリアとして、ユーザーデータを記録再生するデータエリアの前後にＩＳＡ（Ｉｎｎｅｒ Ｓｐａｃｅ Ａｒｅａ)、ＯＳＡ（Ｏｕｔｅｒ Ｓｐａｃｅ Ａｒｅａ）を設定する。ビデオ記録再生等の高転送レートが必要なリアルタイム記録では、交替エリアを設定しない場合もある。半径５８．０ｍｍより外周部はアウターゾーンとされる。アウターゾーンは、インナーゾーンと同様のＯＰＣ領域とディスクマネジメントエリア（ＤＭＡ)を設けている。また、シークの際、オーバーランしてもよいようにバッファエリアとして使われる。
ここで、第１から第３の情報記録層（Ｌ１からＬ３）にはＢＣＡに相当するエリアは設けられているが、ユニークＩＤの記録は行わない。第１から第３の情報記録層（Ｌ１からＬ３）にユニークＩＤ等のＢＣＡ情報を新たに記録しても、信頼性のある記録ができない可能性があるからである。また、逆にいえば、Ｌ０以外にはＢＣＡの記録を行わないことにより、Ｌ０のＢＣＡの信頼性を高めるものとなる。
本発明の４層光ディスク媒体においては、ディスク製造時にディスク管理情報などがあらかじめ記録されている再生専用のＰＩＣ領域は、第０の情報面（Ｌ０）にのみ配置されている。こうすることで、光ディスク装置においては、Ｌ０〜Ｌ３までの全ての情報面のディスク管理情報を一括して読み出すことができ、起動時間を短縮できる。
また、図１５に本発明の別の４層光ディスクの各層のトラックレイアウトの断面を示す。図２に示した４層光ディスクとの違いは、ディスク製造時にディスク管理情報などがあらかじめ記録されている再生専用のＰＩＣ領域が、第０の情報面（Ｌ０）から第３の情報面（Ｌ３）に配置されている点である。こうすることで、光ディスク装置においては、Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の個々の情報記録層のデータを分散して記録することができるため、任意の情報記録層のＰＩＣ情報が破壊、劣化された場合にも他の情報記録層のＰＩＣ領域のディスク管理情報を読み出すことができ信頼性を向上させることが可能である。また、ＰＩＣ領域を各情報記録層に分散して配置することができるため、１つの情報記録層のＰＩＣ領域のスペースを減らすことができ、その分ＯＰＣ領域に割り当てることができるなどリードインゾーンを効率的に使用することが可能となる。
次に、図１４にＯＰＣ領域のクラスタの使用方向を示す。
第０の情報記録層Ｌ０と第２の情報記録層Ｌ２のアドレスのオーダーは、内周から外周の方向に記録されており、データ領域の記録再生はアドレスのオーダーにそって、内周から外周の方向に行う。
また、第１の情報記録層Ｌ１と第３の情報記録層Ｌ３のアドレスのオーダーは、外周から内周の方向に記録されており、データ領域の記録再生は外周から内周の方向に行う。
データ領域でこのような記録再生の進行が行われることで、外周から内周へのフルシークを必要とせず、第０の情報記録層（Ｌ０）内周→外周、第１の情報記録層（Ｌ１）外周→内周と奥の層から順次手前の層へと順次記録あるいは再生することができ、ビデオ記録再生等の、高転送レートのリアルタイム記録を長時間行うことができる。
ＯＰＣ領域のクラスタの使用方向は、データ領域とは逆向きに使用する。Ｌ０とＬ２は外周から内周の方向に使用し、Ｌ１とＬ３は内周から外周の方向に使用する。例えば、Ｌ３の１４０１のクラスタでＯＰＣを行う場合、１回目のＯＰＣでクラスタ１４０１内の領域１４０２に記録した後、領域１４０３のマーカを記録し、２回目のＯＰＣ記録で領域１４０４を図の方向に記録する。
（実施形態１）
以下、本発明の第１の実施形態における多層光ディスクの物理フォーマット、特にＯＰＣ領域の配置について図面を参照して説明する。
図３は、本発明の第１の実施形態における、各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。図３は４層の情報記録層をもつ光ディスク媒体１０１の物理フォーマット、特にＯＰＣ領域の配置の一例を示す図である。第０の情報記録層（Ｌ０）がレーザ光入射側から最も遠い、奥の情報記録層に位置し、第１の情報記録層（Ｌ１）は、第０の情報記録層よりも手前であるレーザ光入射側に設けられている。さらに、第１の情報記録層に近い側から順にレーザ光入射側に、順次第２（Ｌ２）および第３(Ｌ３)の情報記録層が配置されている。これらの情報記録層は、半径位置に応じて内周からインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンが構成されている。
第０の情報記録層のインナーゾーンは、内周からＢＣＡ領域（Ｂｕｒｓｔ Ｃｕｔｔｉｎｇ Ａｒｅａ）、ＰＩＣ領域（管理データ領域）と呼ばれるあらかじめディスク作成時に形成される読み出し専用の領域であって、ディスク管理情報（コントロール情報）などが記載されている。ＰＩＣ領域までが読み出し専用領域となり、ＰＩＣ領域より外周側は記録可能な領域となる。次に、データを記録および／又は再生する際の条件をテスト記録する第２のテスト記録領域（ＯＰＣ０−Ｂ領域）、続いてＯＰＣ領域管理情報等が記録されているＤＭＡ、さらに第１のテスト記録領域（ＯＰＣ０−Ａ領域）が配置されている。また、テスト記録領域（ＯＰＣ領域）の隣接部には図に明示しないが、バッファ領域という書き込みがなされない保護領域を備える。
第１から第３の情報記録層のインナーゾーンは、バッファ領域、第２のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ｂ領域）、ＤＭＡ、第１のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ａ領域）が配置されている。また、テスト記録領域（ＯＰＣ領域）の隣接部には図に明示しないが、バッファ領域という、隣接した領域どうしの干渉を緩和するための緩衝領域や、書き込み禁止領域を意味する書き込みがなされない保護領域としての機能を有する領域を備える。
第０から第３の情報記録層の第２のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ｂ領域）であるＯＰＣ０ｂ、ＯＰＣ１ｂ、ＯＰＣ２ｂ、ＯＰＣ３ｂは、概略同一半径位置上に配置されている。概略同一半径位置上とは、ディスク作成時に各情報記録層を積層する際、各層の半径位置の誤差を正確に±０μｍに合わせてスタックできないためである。したがって、あらかじめ規定されている偏心量程度の誤差を含んで同一半径位置上に配置されていることをいう。同様に、第０から第３の情報記録層の第１のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ａ領域）であるＯＰＣ０ａ、ＯＰＣ１ａ、ＯＰＣ２ａ、ＯＰＣ３ａは概略同一半径位置上に配置されている。
インナーゾーンの外側にデータゾーンが配置されており、このゾーンのデータエリアにユーザーデータを記録する。
データゾーンの外側には、アウターゾーンが配置されており、第３のテスト記録領域（ＯＰＣｃ領域）が含まれ、第０の情報層から第３の情報層順に、ＯＰＣ０ｃ、ＯＰＣ１ｃ、ＯＰＣ２ｃ、ＯＰＣ３ｃが配置されている。第０から第３の情報記録層の第３のテスト記録領域(ＯＰＣ−Ｃ領域)であるＯＰＣ０ｃ、ＯＰＣ１ｃ、ＯＰＣ２ｃ、ＯＰＣ３ｃは概略同一半径位置上に配置されている。
図３で示したように、第１のテスト領域、第２のテスト領域、第３のテスト領域を各情報層で概略同一半径位置上に配置することによって、限られたインナーゾーン、アウターゾーンを有効に活用でき、スペース効率を上げることが可能となる。ことさら、本実施形態の４層ディスクだけでなく、８層、１６層とさらに積層数が多くなった場合でも、インナーゾーンの物理サイズを広げることなくテスト記録領域を確保することが可能である。即ち、データ領域の記録容量を圧迫することなく、テスト記録領域を確保することができる。また、テスト記録領域を各情報記録層の間で重ならないように配置する場合に比べて、限られたインナーゾーンあるいはアウターゾーンの中で、各情報記録層のＯＰＣ領域の物理サイズを多くとることが可能となり、テスト記録の回数を減らすことなく信頼性の高い記録パワー調整とライトストラテジ調整が可能になる。特に、追記型光ディスクのように１回しか記録できない光ディスク媒体においては、ユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなる可能性を少なくすることが可能となる。
次に第１および第２のＯＰＣ領域の区分法について説明する。はじめに、第１のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ａ領域）の使用方法について説明する。
第１のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ａ領域）は、テスト記録される記録パワーには制限がなく、光ディスクの起動後に、ＰＩＣ領域からＯＰＣを行う際に必要なパラメータを読み出し、最初のＯＰＣを行う領域である。ＯＰＣを行って最適な記録パワーが求まるまでは、該当の光ディスク装置の個々がもつばらつきや経時変化によってレーザから出射されるパワーレベルが正確に出射されている保証がない。あるいは、光ディスクの個々がもつばらつきによって、ディスク製造時にあらかじめ決められた記録パワーからのずれがある可能性もある。あるいは、同一の光ディスク装置と光ディスク媒体の組み合わせで一度テスト記録を行った後、その装置と媒体の組み合わせで求まった最適記録パワーを光ディスク装置のメモリ、又は、光ディスク媒体の所定の領域に記録しておき次回記録時にその記録パワーを利用する方法がある。しかし、次回のテスト記録時に光ピックアップの光学系の部品等に埃やゴミが付着したり、ディスク上に指紋が付着したり、外気温度が変わってレーザ特性が変わるなど様々な要因で、本来出射されるべき記録パワーで正確に発光されないことが起こり得る。
以上まとめると、ＯＰＣ領域においては、記録パワーを学習する過程で、データを記録するのに適切な記録パワーに比べ、最適な記録パワーよりも高い記録パワーでテスト記録がなされる可能性がある。仮に、同一装置と媒体の組み合わせで過去にテスト記録を行った履歴を利用してテスト記録を行ったとしても、前回記録を行ったときから時間がたっている場合においても、最適な記録パワーよりも高い記録パワーでテスト記録がなされる可能性がある。もし、手前の情報記録層のＯＰＣ領域に過大なパワーでテスト記録を行った場合、手前の情報記録層をレーザ光が通過するときに強度変化などの影響を受けてしまい、奥の情報記録層では、ＯＰＣによって、最適な記録パワーの導出ができなくなることが考えられる。具体的には、最適な記録パワーからのずれ、再生信号の読み取りエラー、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号に歪みを生じさせトラッキングやフォーカスサーボが不安定になる可能性がある。
以上説明した上述のような様々な可能を想定して、ＯＰＣ−Ａ領域の各層間の記録順序は、レーザ光入射側から遠い、奥の情報記録層から手前の情報記録層の順にＯＰＣ−Ａ領域を使用していく取り決めとする。さらにＯＰＣ−Ａ領域は各情報記録層間で重なって配置されていることから、これによって、たとえ過大な記録パワーでテスト記録されたとしても、奥のＯＰＣ−Ａ領域は既にテスト記録済み、あるいは、最も奥側の情報記録層であれば、奥側にある情報記録層がないため、過大な記録パワーで記録がなされたとしても奥側の情報記録層の再生信号品質に悪影響を与えることはない。
次に、第２のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ｂ領域）の使用方法について説明する。ＯＰＣ−Ｂ領域はＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーを用いて、ライトストラテジ調整と呼ばれる記録パルス列の発生するタイミングおよび長さの条件を求めるのに主として利用する。ＯＰＣ―Ａ領域でテスト記録を行った、同一の情報記録層であれば記録パワーの最適値が求まっているため、最適記録パワーからはずれた過大な記録パワーで書き込みが行われる可能性はない。
また、ＯＰＣ−Ｂ領域は、記録パワーが制限されていてもよい。ＯＰＣ−Ｂ領域は、同一情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域で求められた最適記録パワーでテスト記録するか、あるいは、異なる情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域でテスト記録されている場合は、ＯＰＣ―Ａ領域で求められた最適記録パワーをもとに、ＯＰＣ−Ｂ領域のテスト記録時に記録できる記録パワーの上限値を設定する。
前記上限値は、ＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーと、ディスク製造時にあらかじめ決定された管理データ領域内にあらかじめ記録されている推奨記録パワーとの比率を演算した演算値をもとに、最適記録パワーと推奨記録パワーのずれの比率が一定値以内であれば、その比率をもとに、前記ＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録する際の記録パワーの上限値が設定される。上限値の求め方の具体的な説明は後述の実施形態で詳細を説明する。
以上のように２つの異なる区分のテスト記録領域（ＯＰＣ−Ａ領域とＯＰＣ―Ｂ領域）の特徴をまとめると、表１のようになる。テスト記録される際の記録パワーの上限に制限を設けていない領域（ＯＰＣ―Ａ領域）と制限を設けている領域（ＯＰＣ―Ｂ領域）にテスト記録領域を区分し、決められた上限記録パワー以下の記録パワーでテスト記録を実行しなくてはならないテスト記録領域をＯＰＣ―Ｂ領域とし、記録パワーの上限に特別の制限を設けていない領域をＯＰＣ―Ａ領域とする。
また、異なる区分のＯＰＣ領域間の記録順序には制限があり、光ディスク装置へ多層光ディスク媒体が挿入された後の最初のテスト記録実施時、あるいは、過大な記録パワーで書き込みがなされる可能性が大きいと判断される場合に、第１回目のテスト記録として、ＯＰＣ―Ａ領域でテスト記録を行い、記録パワーがキャリブレーションされた後、第２回目以降のテスト記録を任意の情報記録層のＯＰＣ―Ｂ領域において実施する。
また、同一区分のＯＰＣ領域の層間記録順序は、ＯＰＣ―Ａ領域に制限があり、ＯＰＣ―Ｂ領域には制限が設けられない。ＯＰＣ―Ａ領域内の層間の記録の順序は、図３で示す通り、最も奥にＯＰＣ−Ａ領域が配置されている第０の情報記録層（Ｌ０）のテスト記録開始点から順次テスト記録を行う。Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い切った後は、１つ手前の情報記録層のＬ１のＯＰＣ―Ａ領域でテスト記録を行い、さらにＬ１のＯＰＣ―Ａ領域を使い切った後は、Ｌ２のＯＰＣ―Ａ領域でテスト記録を行うというようにレーザ光入射側から遠い奥側に配置された情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域から手前の情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域の順に記録していく。
また、ＯＰＣ―Ｂ領域内の層間の記録の順序は、特別に決められた制限はなく、任意の情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域に必要に応じて移動してテスト記録することが可能である。
以上のように、ＯＰＣ−Ｂ領域に対して、第２回目以降のテスト記録を行う、又は記録パワーの上限を設けるという制限によって、ＯＰＣ―Ｂ領域には過大な記録パワーで書き込みがなされることがないため、ＯＰＣ−Ｂ領域へのランダムなテスト記録が可能となり、前述した欠陥管理やファイルシステム管理に起因する、情報記録層間の自由な記録が実現できる。
また、ＯＰＣ―Ａ領域は、Ｌ０だけでなくＬ１からＬ３の情報記録層にも配置するため、万が一Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い果たした場合でも、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を順番に使っていくことができ、追記型光ディスクでユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
Figure 2013218782
（実施形態２）
図４は、本発明の第２の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。実施形態１の多層光ディスクと異なる点は、図４において、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域の一部は、第０の情報記録層のＰＩＣ領域と重ねて配置されている点、および、同一の情報記録層内において、ＯＰＣ−Ｂ領域の物理サイズは、ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きい点である。
ＯＰＣ―Ｂ領域には過大な記録パワーで書き込みがなされることがないため、これにより、Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ−Ｂ領域を通過する光ビームが散乱や回折を受けて、ＰＩＣ領域を再生する際の再生信号品質の低下を抑えることができる。
このようにテスト記録領域の物理フォーマット配置を工夫することによって、ＯＰＣエリアをＰＩＣ領域の手前の情報記録層に配置できるため、限られたインナーゾーンの物理サイズの中で、各層のテスト記録領域物理サイズを大きくとることが可能となり、インナーゾーンを効率的に使用することができる。
また、ＯＰＣ―Ａ領域は、Ｌ０だけでなくＬ１からＬ３の情報記録層にも配置するため、万が一Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い果たした場合でも、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を順番に使っていくことができ、追記型光ディスクでユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
また、ＯＰＣ−Ｂ領域のサイズを大きくすることで、主にＯＰＣ−Ｂ領域で行われるライトストラテジ調整のためのテスト記録の回数を増やすことが可能となる。特に、３３．４ＧＢや、３２ＧＢなど光スポットよりも記録マーク・スペースのサイズが小さい高線密度記録時には、ライトストラテジ学習の回数を増やして、より一層正確にライトストラテジ調整を行わなければならず、本実施形態のように、同一の情報記録層内において、前記ＯＰＣ−Ｂ領域の物理サイズは、前記ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きいことから、テスト記録の回数を減らすことなく信頼性の高い記録パワー調整とライトストラテジ調整が可能になる。
（実施形態３）
図５は、本発明の第３の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。図５において、Ｌ０はテスト記録領域（ＯＰＣ―Ａ領域）が１つ設けられている。Ｌ１からＬ３にはＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ―Ｂ領域の２つのテスト記録領域が備えられている。Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域の一部は、Ｌ０のＰＩＣ領域と重ねて配置されている。ＯＰＣ−Ｂ領域には過大な記録パワーで書き込みがなされることがないため、これにより、Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、Ｌ１からＬ３を通過する光ビームが散乱や回折を受けて、ＰＩＣの再生信号品質の低下を抑えることができる。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域は概略同一半径位置上重ねて配置されている。また、Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域の物理サイズは、Ｌ１からＬ３の各々の前記ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きい。
このようにテスト記録領域の物理フォーマット配置を工夫することによって、ＯＰＣエリアをＰＩＣ領域の手前の情報記録層に配置できるため、限られたインナーゾーンの物理サイズの中で、各層のテスト記録領域物理サイズを大きくとることが可能となり、インナーゾーンを効率的に使用することができる。
また、Ｌ０のテスト記録領域の全てをＯＰＣ―Ａ領域とすることで、ＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ−Ｂ領域の２つの領域を設けたときに比べて、ＯＰＣ領域の隣接部にあるバッファ領域を少なくすることができ、インナーゾーンをより一層効率的に利用することができる。
また、Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域の一部とＬ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を図５のような構成で概略同一半径位置上に配置することによって、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域の奥側の半径位置のＬ０にバッファ領域を設けずに済み、インナーゾーンをより一層効率的に利用することができる。
また、Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域の物理サイズは、Ｌ１からＬ３の前記ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きいことから、光ディスク装置に本光ディスクを挿入して立ち上げる起動回数が多くてもＬ０のＯＰＣ―Ａ領域がなくなる確率を低減することができる。起動時の学習をＬ０で多くすることが可能となり、起動時間を短縮することが可能となる。
また、ＯＰＣ―Ａ領域は、Ｌ０だけでなくＬ１からＬ３の情報記録層にも配置するため、万が一Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い果たした場合でも、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を順番に使っていくことができ、追記型光ディスクでユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
（実施形態４）
図６は、本発明の第４の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。図６において、Ｌ０はテスト記録領域（ＯＰＣ―Ａ領域）が１つ設けられている。Ｌ１からＬ３にはＯＰＣ―Ｂ領域の１つのテスト記録領域が備えられている。Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域の一部は、Ｌ０のＰＩＣ領域と重ねて配置されている。ＯＰＣ―Ｂ領域には過大な記録パワーで書き込みがなされることがないため、Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、Ｌ１からＬ３を通過する光ビームが散乱や回折を受けて、ＰＩＣの再生信号品質の低下を抑えることができる。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域は概略同一半径位置上に重ねて配置されている。
このようにテスト記録領域の物理フォーマット配置を工夫することによって、ＯＰＣ領域をＰＩＣ領域の手前の情報記録層に配置できるため、限られたインナーゾーンの物理サイズの中で、各層のテスト記録領域物理サイズを大きくとることが可能となり、インナーゾーンを効率的に使用することができる。
また、Ｌ０のテスト記録領域の全てをＯＰＣ―Ａ領域とすることで、ＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ−Ｂ領域の２つの領域を設けたときに比べて、ＯＰＣ領域の隣接部にあるバッファ領域を少なくすることができ、インナーゾーンをより一層効率的に利用することができる。
また、Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域の一部とＬ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域を図６のような構成で概略同一半径位置上に配置することによって、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域の奥側の半径位置のＬ０にバッファ領域を設けずに済み、インナーゾーンをより一層効率的に利用することができる。
（実施形態５）
図７は、本発明の第５の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの一例を示す図である。図７において、Ｌ０はテスト記録領域（ＯＰＣ―Ａ領域）が１つ設けられている。Ｌ１からＬ３にはＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ―Ｂ領域の２つのテスト記録領域が備えられている。Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域の一部は、Ｌ０のＰＩＣ領域と重ねて配置されている。ＯＰＣ―Ｂ領域には過大な記録パワーで書き込みがなされることがないため、Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、Ｌ１からＬ３を通過する光ビームが散乱や回折を受けて、ＰＩＣの再生信号品質の低下を抑えることができる。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域は概略同一半径位置上に重ねて配置されている。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域は概略同一半径位置上に重ねて配置されている。
この場合、Ｌ０とＬ１の２つの情報記録層に備えられたＯＰＣ―Ａ領域を使って、それぞれテスト記録の開始を行うことが可能である。Ｌ１からＬ３の情報記録層は、記録膜を設計する上で奥の情報記録層に光を透過する半透明層にしなければならないというが制約があるが、Ｌ０の情報記録層にはその必要がない。即ち、情報記録層の記録材料や記録膜の構成は、Ｌ０と、Ｌ１からＬ３の間で大きく異なる。このようにＬ０と、Ｌ１からＬ３で異なる記録膜の性質をもつことから、Ｌ０のＯＰＣ−Ａ領域だけでなく、Ｌ１のＯＰＣ―Ａ領域の２つのＯＰＣ−Ａ領域で、最初のテスト記録を行って、Ｌ１で求まった最適記録パワーをもとにＬ２とＬ３のテスト記録する際の、記録パワーの上限値を求める方が、同類の記録膜の特性であれば、Ｌ２とＬ３の最適記録パワーをより精度よく求めることが可能でとなる。
また、ＯＰＣ―Ａ領域は、Ｌ０だけでなくＬ１からＬ３の情報記録層にも配置するため、万が一Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い果たした場合でも、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を順番に使っていくことができ、追記型光ディスクでユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
図1７は、本発明の第５の実施形態による各情報記録層内にＯＰＣ領域が配置された物理フォーマットの別の一例を示す図である。図1７において、Ｌ０にはテスト記録領域（ＯＰＣ―Ａ領域）が2つ設けられている。Ｌ１からＬ３にはＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ―Ｂ領域の２つのテスト記録領域が備えられている。Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域の一部は、Ｌ０のＰＩＣ領域と重ねて配置されている。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域は概略重ねて配置されている。Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域は過大な記録パワーで書き込みがなされることがあるが、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ−Ａ領域の隣接部に相当なバッファ領域を確保しており、バッファ領域の部分の奥側のＬ０にもＰＩＣ領域が確保されている。したがって、Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、Ｌ１からＬ３を通過する光ビームが散乱や回折を受けるが、バッファ領域の奥側に配置されているＰＩＣ領域では、再生信号品質の低下を抑えることができる。また、ＰＩＣ領域には各情報記録層のディスク管理データがブロック単位に記録されており、単位ブロックをＰＩＣ領域内で複数回繰り返し記録している。したがって、ＰＩＣ領域の全ての領域のディスク管理データが読めなくてもよい。即ち、繰り返し記録されている複数のブロックのうち、少なくとも１つのブロックのディスク管理データを読み出すことができれば問題ない。Ｌ１からＬ３のバッファ領域の奥側にあるＰＩＣ領域のディスク管理データが問題なく読み取れればよい。即ち、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の奥側にＰＩＣ領域を配置し、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の隣接部に十分なバッファ領域を持たせて配置することで、リードインゾーンのスペースを効率的に使い十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。
また、ＰＩＣ領域は、再生専用領域であって、溝を高速に変調することによってディスク管理情報を記録している。また、ＰＩＣ領域のトラックピッチ（０．３５μｍ）は、データエリアのトラックピッチ（０．３２μｍ）に比べて間隔が広いためもともとデータの読み出し信頼性が高く設計されている。従って、ＰＩＣ領域の手前に配置されたＬ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域において、過大な記録パワーでテスト記録がなされても、ＰＩＣ領域に記録されているディスク管理情報の読み出し性能の悪化は、追記されているデータあるいは書き換え可能なデータを読み取る場合よりも読み出しの信頼性が高く設計されている。従って、Ｌ０のＰＩＣ領域とＬ１からＬ３のＯＰＣ−Ａ領域を重ねるように配置させても、ＰＩＣ領域に記録されているディスク管理情報の読み出し時の信頼性を大きく損なうことがない。ＰＩＣ領域とＯＰＣ−Ａ領域を重ねて配置することによって、リードインゾーンのスペースを効率的に使え、十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。
また、図１７においてＬ１からＬ３のＯＰＣ―Ｂ領域とＬ０のＯＰＣ−Ａ領域は概略同一半径位置上に重ねて配置されている。また、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域は概略同一半径位置上に重ねて配置されている。このように、Ｌ０とＬ１の２つの情報記録層に備えられたＯＰＣ―Ａ領域を使って、Ｌ０とＬ１の２点をテスト記録の開始点としてＯＰＣ−Ａ領域を使用することが可能である。Ｌ１からＬ３の情報記録層は、記録膜を設計する上で奥の情報記録層に光を透過する半透明層にしなければならないというが制約があるが、Ｌ０の情報記録層にはその必要がない。即ち、情報記録層の記録材料や記録膜の構成は、Ｌ０と、Ｌ１からＬ３の間で大きく異なる。このようにＬ０と、Ｌ１からＬ３で異なる記録膜の性質をもつことから、Ｌ０のＯＰＣ−Ａ領域だけでなく、Ｌ０とＬ１の２つのＯＰＣ−Ａ領域で、最初のテスト記録を行って、Ｌ１で求まった最適記録パワーをもとにＬ２とＬ３のテスト記録する際の、記録パワーの上限値を求める方が、Ｌ１からＬ３が同類の記録膜の特性であれば、Ｌ２とＬ３の最適記録パワーをより精度よく求めることが可能となる。
また、ＯＰＣ―Ａ領域は、Ｌ０だけでなくＬ１からＬ３の情報記録層にも配置するため、万が一Ｌ０のＯＰＣ―Ａ領域を使い果たした場合でも、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ―Ａ領域を順番に使っていくことができ、追記型光ディスクでユーザーデータ領域に空きがあるにも係わらず、早期にＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性がなくなり、テスト記録ができないことが原因で光ディスクへの追記ができなくなるなどの課題を解決することが可能となる。
また、図１７のＬ０でＯＰＣ−Ａ領域を２つに分けたが、一方をＯＰＣ−Ｂ領域としてもよいし、Ｌ０のＯＰＣ領域の配置を変えて１つのＯＰＣ−Ａ領域にまとめてもよい。１つにまとめることによってバッファ領域を設ける必要がなくなり、リードイン領域のスペース効率が向上する。
また、Ｌ０のＯＰＣ領域をバッファ領域を挟んで、ＰＩＣ領域の隣接部に置くことで、ＨＦＭグルーブとウォブルグルーブの間のコネクションゾーンをバッファ領域として使うことができ、リードイン領域のスペース効率が向上する。
ここで、本発明の特徴をより明確にさせるために、情報記録層を２層備える光ディスクにおけるＯＰＣ領域の配置構成についても、図１８を用いて説明する。図１８（ａ）は、情報記録層を２層備える追記型ディスク１０１１を示し、図１８（ｂ）は、情報記録層を２層備える書換型ディスク１０１２を示している。なお、実際は、偏芯や隣接領域からの干渉を吸収するためにバッファ領域などが所々に配置されているが、便宜上ここではその説明を省略する。
追記型ディスク１０１１（ＢＤ−Ｒ等）も書換型ディスク１０１２（ＢＤ−ＲＥ等）も、光源から遠い側の層（Ｌ０）のトラック方向（光スポットの進行方向）は、内周側から外周側へ向かう方向（図１８では左側から右側の方向）である。また、光源に近い側の層（Ｌ１）のトラック方向は、外周側から内周側へ向かう方向（図１８では右側から左側の方向）である（オポジット・パス）。また、Ｌ０層におけるテスト記録領域であるＯＰＣ０と、Ｌ１層におけるテスト記録領域であるＯＰＣ１は、半径位置が重なっていない。
追記型ディスク１０１１の場合、ＰＩＣ領域はＬ０層に配置され、Ｌ１層には配置されていない。そして、ＯＰＣ１は、Ｌ０層のＰＩＣ領域と半径位置が一部または全部が重なる位置に配置されている。また、ＯＰＣ０は、ＯＰＣ１よりも外周側の半径位置に配置されている。また、ＯＰＣ０の使用方向１０２１は、ＯＰＣ０における外周側の領域からＯＰＣ０における内周側の領域の方向であるのに対して、ＯＰＣ１の使用方向１０３１は、ＯＰＣ１における内周側の領域からＯＰＣ１における外周側の領域の方向である。
書換型ディスク１０１２の場合、ＰＩＣ領域はＬ０層にもＬ１層にも配置され、ＯＰＣ０は、ＯＰＣ１よりも内周側の半径位置に配置されている。また、ＯＰＣの使用方向については、追記型光ディスク１０１１のような規制はない。
ここで、ＴＤＭＡ（Ｔｅｍｐｏｒａｒｙ Ｄｉｓｃ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）について説明する。光ディスクが追記型ディスクである場合は図１〜１７やその説明におけるＤＭＡは厳密に言えばＴＤＭＡを指しており、ＴＤＭＡは追記型ディスクに特有の領域である。追記型ディスクで欠陥管理などを行う場合、交替元エリアと交替先エリアの対応関係などを示したディフェクト情報（ＤＦＬ（ディフェクトリスト）等）に更新が発生すると、追記という形でしか対応できないため、このＴＤＭＡに更新情報を追記していく。
追記型ディスクがファイナライズ（それ以降は記録を禁止し、再生のみ可能とするクローズ処理）がされると、ＴＤＭＡの最終のディフェクト情報が、ＩＮＦＯ領域内のＤＭＡに記録される。なお、上述したＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ情報は、ディフェクト情報とは異なるものであり、ＯＰＣを管理するのに必要な情報である。そのため、ＴＤＭＡには記録されるが、ファイナライズ後はテスト記録が実行されることがないことから管理する必要がないので、ＩＮＦＯ領域内のＤＭＡには記録されない。このように、ＴＤＭＡで管理する情報はＩＮＦＯ領域内のＤＭＡに記録される情報よりも遙かに多くなるため、例えば、ＩＮＦＯ領域内のＤＭＡが３２ブロックに対して、各ＴＤＭＡは２０４８ブロックとする等、充分なサイズが確保されている。
また、ＴＤＭＡ０とＴＤＭＡ１の関係であるが、ＴＤＭＡ０からＴＤＭＡ１の順番で使用される。つまり、Ｌ０層のＴＤＭＡ０の空き領域が少なくなる等して、ＴＤＭＡ０への記録が不可能になった場合に、Ｌ１層のＴＤＭＡ１での更新処理が行われる。
一方、書換型ディスクでは、書き換えによる更新が可能なため、このようなディフェクト情報の更新は、ＩＮＦＯ領域内のＤＭＡを用いて実行される。また、追記型ディスクにおけるＴＤＭＡ０やＴＤＭＡ１にほぼ相当する半径位置の領域は、その使用用途が特に決められていないリザーブ領域として確保されている。よって、図１７までの説明において、書換型ディスクの場合、ＤＭＡと記載された領域は、必ずしもＤＭＡである必要性はなく、リザーブ領域であってもよい。
ここで、図１７に示す構成と図１８に示す構成とを比べることで、図１７に示すＯＰＣ領域やＤＭＡ（ＴＤＭＡ）等の配置関係の特徴として、以下のような特徴をより明確に把握することができる。
まず、図１７に示す構成では、ＰＩＣ領域の半径位置に対して、少なくとも一部の半径位置が重なるＯＰＣ領域を有する情報記録層が２つ以上ある。すなわち、再生専用の管理データ領域（例えばＰＩＣ領域）の一部と他の２つ以上の情報記録層のテスト記録領域（例えばＯＰＣ領域）の少なくとも一部とが重なるように配置される。サイズが限られたゾーンの中で、あえてＯＰＣ領域をＰＩＣ領域と重ねて配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域のサイズを大きく確保することができ、ＯＰＣ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。ＰＩＣ領域には同じ情報が繰り返し記録されているので、仮に、それらのＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ダメージを受けたＯＰＣ領域と重なっていないＰＩＣ領域の部分からは確実に情報を読み出すことができる。
また、図１７に示す構成では、ＰＩＣ領域の半径位置に対して、少なくとも一部の半径位置が重なる書き込み禁止領域（バッファ領域など）を有する情報記録層が２つ以上ある。すなわち、再生専用の管理データ領域（例えばＰＩＣ領域）と他層の書き込み禁止領域（例えばバッファ領域）の少なくとも一部同士が重なるように配置されている。バッファ領域には書き込み動作が行われないので、レーザ光によるダメージを受けることは無い。そのため、バッファ領域と重なるＰＩＣ領域の部分からは確実に情報を読み出すことができる。仮に、ＰＩＣ領域の一部と重なる他層の領域（例えばＯＰＣ領域）がダメージを受けると、ＰＩＣ領域のその対応する部分からは情報を読み取れなくなるおそれがある。しかしその場合でも、ＰＩＣ領域には同じ情報が繰り返し記録されているので、ＰＩＣ領域のバッファ領域と重なる部分からは確実に情報を読み出すことができる。ＰＩＣ領域には各情報記録層のディスク管理データがブロック単位に記録されており、単位ブロックをＰＩＣ領域内で複数回繰り返し記録している。したがって、ＰＩＣ領域のほとんど全ての領域のディスク管理データが、手前の層の書き込みの影響を受けてダメージを受けて、読めなくなってしまってもよい。即ち、繰り返し記録されている複数のブロックのうち、少なくとも１つのブロックのディスク管理データを読み出すことができれば問題ない。Ｌ１からＬ３のバッファ領域の奥側にあるＰＩＣ領域のディスク管理データが問題なく読み取れればよい。即ち、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の奥側にＰＩＣ領域を配置し、Ｌ１からＬ３のＯＰＣ領域の隣接部に十分なバッファ領域を持たせて配置することで、リードインゾーンのスペースを効率的に使い十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。
また、図１７に示す構成では、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の内周側でなく外周側にＯＰＣ領域が配置された情報記録層がある。ＯＰＣ領域の内周側と外周側にＤＭＡが分割して配置されている。すなわち、一つの情報記録層において記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）をＯＰＣ領域の内周側と外周側の２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域と、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならないが、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を内周側と外周側の２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができる。これによって、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
また、図１７に示す構成では、少なくとも一部の半径位置が互いに重なる複数のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）がある。すなわち、ある情報記録層の管理データ領域（例えばＤＭＡ（ＴＤＭＡ））と、他のある情報記録層の管理データ領域（例えばＤＭＡ（ＴＤＭＡ））とは、少なくとも一部の半径位置が互いに重なるように配置されている。ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）同士を重ねて配置することで、サイズが限られたゾーンを有効に利用することができる。例えば、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域およびＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の両方と、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とを、半径位置が重なるように配置することで、その近い側の情報記録層のゾーンを有効に利用することができる。ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）にはパワー調整後のレーザ光が照射され、過剰な記録パワーを照射することによって、ダメージを受けることはないので、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）同士を重ねても、より奥側の情報記録層に記録された情報を正常に読み出すことができる。また仮に、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ＯＰＣ領域のレーザ照射面に近い側に配置された情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）からは問題なく情報を読み出すことができる。
また、図１７に示す構成では、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）を複数含む情報記録層がある。一つの情報記録層において記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域との間で、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならないが、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができる。これによって、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
また、図１７に示す構成では、２つのＤＭＡ（ＴＤＭＡ）を含み、それらＴＤＭＡの間にＯＰＣ領域が配置された情報記録層がある。これにより、ユーザデータ領域から離れた位置にＯＰＣ領域を配置することができる。また、そのような構成により、例えば、レーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域と、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とは、半径位置が互いに重なる場合がある。この場合において、仮にレーザ照射面から遠い情報記録層のＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、レーザ照射面に近い情報記録層のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）からは問題なく情報を読み出すことができる。また、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の内部にＯＰＣ領域を配置した場合には、その分だけ、サイズが限られた残りのゾーンを有効に利用することができる。
また、図１７に示す構成では、ＯＰＣ領域の両端に書き込み禁止領域（バッファ領域など）が配置されている情報記録層がある。そのＯＰＣ領域の内周側に隣接して第１のバッファ領域が配置されている。ＯＰＣ領域の外周側に隣接して第２のバッファ領域が配置されている。第１のバッファ領域の内周側に隣接して第１のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）が配置されており、第２のバッファ領域の外周側に隣接して第２のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）が配置されている。第１および第２のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）には、同じ属性の情報が記録される。すなわち、２つのＤＭＡ（ＴＤＭＡ）の間にＯＰＣ領域を配置する場合は、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）とＯＰＣ領域との間にバッファ領域を配置する。これにより、ＯＰＣ領域がレーザ光によるダメージを受けたとしても、ＤＭＡ（ＴＤＭＡ）にその影響が及ぶことを防止することができる。また、２つのＤＭＡ（ＴＤＭＡ）には同じ属性の情報が記録されるので、仮に一方のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）がダメージを受けて読み出し不能となった場合でも、他方のＤＭＡ（ＴＤＭＡ）から確実に情報を読み出すことができる。また、一つの情報記録層において、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を２箇所設けることで、その他の情報記録層のＯＰＣ領域との間で、ＯＰＣ領域同士の層間の重なり量を減らす、または、なくすことができる。即ち、記録可能な管理データ領域（たとえばＴＤＭＡ領域）を１つのブロックとして確保すると、ＯＰＣ領域同士を重ねて配置しなくてはならない。一方、ＯＰＣ領域を挟んで記録可能な管理データ領域を２つに分割して配置することで、ＯＰＣ領域同士が同じ半径位置に配置される構成を最小限に抑えつつ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域のサイズを共に大きく確保することができ、ＯＰＣ領域と記録可能な管理データ領域を使い果たしてしまう可能性を低減させることができる。逆に、ＯＰＣ領域を分割して配置するとＯＰＣ領域の隣接のバッファ領域をＯＰＣ領域に比例してふやさなければならないが、記録可能な管理データ領域を分割して配置する場合には隣接部にバッファ領域を設ける必要がないため、有効にリードインゾーンを使用することが可能である。
なお、本発明の情報記録媒体は、図１７に示す上記の特徴を全て満たす必要はなく、これらの特徴のいずれか１つを採用した構成でもよいし、複数の特徴を任意に組み合わせた構成でもよい。
（実施形態６）
次に本発明の多層光学的情報記録媒体の記録方法について図面を参照して説明する。本発明の第６の実施形態によるテスト記録の手順について図８を用いて説明する。用いる多層光ディスクは実施形態１から４で用いた多層光ディスク媒体である。
第１のステップは、ＰＩＣ領域のディスク管理情報およびＤＭＡに記録されているＯＰＣ管理情報を読み出すステップである。ＰＩＣ領域にあらかじめ記録されている各情報記録層の推奨記録パワー、ＯＰＣに必要な各種パラメータ、ライトストラテジパラメータ、ＤＭＡに記録されている各情報記録層のＯＰＣ領域の位置、例えば記録開始アドレスおよび／又は終了アドレスを指示する情報と、それぞれのＯＰＣ領域内で現在使用可能な位置を指示する情報であるＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ（Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｅｃｔｏｒ Ｎｕｍｂｅｒ）を読み出す。光ディスクが光記録再生装置にローディングされると、当該ＤＭＡのＯＰＣ領域管理情報を読み取り、この情報から光ディスク内のＯＰＣ領域の位置および使用可能なＯＰＣ領域内の位置を確認し、該確認された位置でＯＰＣを行うことができる。読み取った情報から、第ｉ（ｉは０から３の整数）の情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域に記録可と判定された場合次のステップに進む。もし、全てのＯＰＣ−Ａ領域を使い切っている場合は、テスト記録不可となり、テスト記録は中止される。
第２のステップは、第ｉの情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域にテスト記録を行い記録パワーの最適値を求めるステップである。テスト記録の際には、ＰＩＣ領域から読み出されたＯＰＣパラメータを使って、複数の記録パワーでテスト記録し、記録された信号の変調度特性を測定し、それらの結果をもとに所定の演算を行って、最適記録パワーを求める。変調度の測定結果から最適記録パワーの求め方については後述の実施形態で説明する。
次に、ＯＰＣ−Ａ領域で求められた最適記録パワーが本来求まるべき最適記録パワーであったかをチェックする。上述の最適記録パワーを求める動作手順におけるＯＰＣ−Ａ領域で求めた該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）と、光ディスクのＰＩＣ領域にあらかじめ記録されているディスク管理情報から読み出された推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）とを比較し、該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）が該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）に比べて例えば５％を超えて大きい場合（Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ−１＞５％）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が不適切と判断し、再度、ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライ
トストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を求めなおす。
また、別のチェック方法として、上述の最適記録パワーを求める動作手順において、当該光ディスク装置を用いてＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーが、本来光ディスク製造者がディスク作成時に想定した記録パワーと比べて実質的に高くなることを防ぐために、該最適記録パワーと光ディスク上のＰＩＣ領域にあらかじめ記録されているディスク管理情報から読み出された推奨記録パワーのターゲット変調度（Ｍｍａｘ）を、該最適記録パワーで記録された信号の変調度（Ｍｏ）と比較し、最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて大きい場合（Ｍｏ＞Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が高いと判断し、再度ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライトストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)を求めなおす。該最適記録パワーで記録された変調度（Ｍｏ）と、該ターゲッ
ト変調度（Ｍｍａｘ）とを比較し、該最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて同等もしくは小さい場合（Ｍｏ≦Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を最適記録パワーと決定する。
次に、第ｉの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域（もし、ｉ＝０であればＯＰＣ−Ａ領域でも可）で該最適記録パワーを使ってテスト記録を行い、記録パルス条件（ライトストラテジ条件）の最適値を求める。これによって第ｉ層へのテスト記録は完了する。
ここで、最適記録パワーのチェックの方法として上述の例を説明したが、上述方法を組み合わせてもよいし、別の好適な方法でチェックを行ってもよい。例えば、ジッタ、ＭＬＳＥ、β、アシンメトリ等を組み合わせて判断材料に使ってもよい。
第３のステップは、第ｉ以外の情報記録層である第ｊ層にテスト記録を行うため準備を行うステップである。第ｉの情報記録層の該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）と該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）の比率α（＝Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ）を求め、第ｊの情報記録層の推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）から、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）を以下の式で算出する。
（Ｐｗｙｊ）＝（Ｐｗｐｊ）×α
さらに、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）にあらかじめ決められている係数であるＸ（例えば１．１）をかけた値を第ｊ層の上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）と決定する。
(Ｐｗｍａｘｊ)＝ （Ｐｗｙｊ）×Ｘ
ここで前記比率αはテスト記録によってもとまった最適記録パワーと推奨記録パワーとの比率である。即ち、光ディスク装置にゴミ、埃、その他の原因によって光ディスク装置の設定する記録パワーが、光ディスク作成時にディスク製造者が決めた記録パワーに対して、記録パワーの絶対値がどのくらいずれているかを表す指標である。したがって、α＝１の場合、求まった最適記録パワーと推奨記録パワーが一致している場合であり、光ディスク装置を使ってテスト記録して求めた記録パワーはディスク製造者があらかじめディスク作成時に記録したパワーと一致していることを意味する。α＞１の場合は、一例として、光ディスク装置の光学系、例えば対物レンズ上にゴミ、埃などが付着し、行路途中でレーザ光出射直後の記録パワーと光ディスク盤面上での記録パワーとの間にロスがあるときに生じる。あるいは、光ディスク装置の記録パワーのキャリブレーションに誤差がある場合も生じる。これらが原因の場合は、他の情報記録層においても同様の記録パワーのロスやキャリブレーション誤差が発生するため、前記比率αを使って、光ディスク装置が設定する記録パワーと実際の光ディスクの情報記録面上の照射パワーとの間を補正することを目的としている。
第４のステップは第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、第ｊ層の最適記録パワーと記録パルス条件を求めるステップである。テスト記録の際には、第３のステップで決定した該上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）以下の複数の記録パワーでテスト記録し、記録されている信号の変調度特性を測定し、第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）を求める。第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）決定後、該最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）で第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、記録パルス条件(ライトストラテジ条件)の最適値を求める。これによって第ｊの情報記録層へのテスト記録は完了する。ここで省略したが、第２のステップと同様、求められた最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）が本来求まるべき最適記録パワーであったかをチェックする処理手順をいれてもよい。
第５のステップは全ての情報記録層のテスト記録が完了したかをチェックするステップである。もし、全ての情報記録層でテスト記録が完了していない場合は、第４のステップに戻って、残りの情報記録層のテスト記録を行い、記録パワーとライトストラテジの最適値を求める。もし、全ての情報記録層のテスト記録が完了している場合は、テスト記録の完了処理を実施する。即ち、ＤＭＡのＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ情報を更新しテスト記録は完了する。
本実施形態において、一例としてＸ＝１．１としたが、Ｘ＝１．１に限られるものでなく、Ｘ＝１として、予測される最適記録パワーを上限として記録するよう設定してもよい。
また、ＯＰＣ−Ｂ領域でテスト記録した結果求まった最適記録パワーがステップ３で算出した記録パワーの上限値を超える場合は、記録パワーの上限値を適切な値に更新してもよい。ただし、最適パワーが求まるまでは、先に決めた上限パワーを超えてテスト記録することはできない。
また、本発明の実施形態において記録方法としたが、記録動作の手順をメインに説明しているためであって、必ずしも記録動作に限られるものではなく、再生方法も含めて光記録再生方法といってもよい。
（実施形態７）
次に本発明の多層光学的情報記録媒体の記録方法について図面を参照して説明する。本発明の第７の実施形態によるテスト記録の手順について図１１を用いて説明する。用いる多層光ディスクは実施形態５で用いた多層光ディスク媒体である。
第１のステップは、ＰＩＣ領域のディスク管理情報およびＤＭＡに記録されているＯＰＣ管理情報を読み出すステップである。ＰＩＣ領域にあらかじめ記録されている各情報記録層の推奨記録パワー、ＯＰＣに必要な各種パラメータ、ライトストラテジパラメータ、ＤＭＡに記録されている各情報記録層別のＯＰＣ領域の位置、例えば記録開始アドレスおよび／又は終了アドレスを指示する情報と、それぞれのＯＰＣ領域内で現在使用可能な位置を指示する情報であるＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ（Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｅｃｔｏｒ Ｎｕｍｂｅｒ）を読み出す。光ディスクが光記録再生装置にローディングされると、当該ＤＭＡのＯＰＣ領域管理情報を読み取り、この情報から光ディスク内のＯＰＣ領域の位置および使用可能なＯＰＣ領域内の位置を確認し、該確認された位置でＯＰＣを行うことができる。読み取った情報から、第０の情報記録層のＯＰＣ―Ａ領域と第ｉの情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域に記録可と判定された場合次のステップに進む。もし、第０層のＯＰＣ−Ａ領域を使い果たしていた場合および、全てのＯＰＣ−Ａ領域を使い切っている場合は、テスト記録不可となり、テスト記録は中止される。もし、第０の情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域が記録可能で、第１から第３のＯＰＣ−Ａ領域を使い切っていた場合は、実施形態６の手順でテスト記録が実施される。
第２のステップは、第０の情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域にテスト記録を行い記録パワーの最適値を求めるステップである。テスト記録の際には、ＰＩＣ領域から読み出されたＯＰＣパラメータを使って、複数の記録パワーでテスト記録し、記録された信号の変調度特性を測定し、それらの結果をもとに所定の演算を行って、最適記録パワーを求める。さらに前記最適パワーでテスト記録を行い、第０層の最適記録パルス条件（ライトストラテジ条件）を求める。これによって第０の情報記録層へのテスト記録は完了する。変調度の測定結果から最適記録パワーの求め方については後述の実施形態で説明する。
第３のステップは、第ｉの情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域にテスト記録を行い記録パワーの最適値を求めるステップである。テスト記録の際には、ＰＩＣ領域から読み出されたＯＰＣパラメータを使って、複数の記録パワーでテスト記録し、記録されている信号の変調度特性を測定し、それらの結果をもとに所定の演算を行って、最適記録パワーを求める。
次に、ＯＰＣ−Ａ領域で求められた最適記録パワーが本来求まるべき最適記録パワーであったかをチェックする。上述の最適記録パワーを求める動作手順における第ｉの情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域で求まった該最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)と、光ディスクのＰＩＣ領域にあらかじめ記録されているディスク管理情報から読み出された推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）とを比較し、該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）が該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）に比べて例えば５％以上大きい場合（Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ−１≧５％）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が不適切と判断し、再度、ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライトストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を求めなおす。
また、別のチェック方法として、上述の最適記録パワーを求める動作手順において、当該光ディスク装置を用いてＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーが、本来光ディスク製造者がディスク作成時に想定した記録パワーと比べて実質的に高くなることを防ぐために、該最適記録パワーと光ディスク上のＰＩＣ領域にあらかじめ記録されているディスク管理情報から読み出された推奨記録パワーのターゲット変調度（Ｍｍａｘ）を、該最適記録パワーで記録された信号の変調度（Ｍｏ）と比較し、最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて大きい場合（Ｍｏ＞Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が、高いと判断し、再度ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライトストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)を求めなおす。最適記録パワーで記録された変調度（Ｍｏ）と、該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）とを比較し、該最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて同等もしくは小さい場合（Ｍｏ≦Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を最適記録パワーと決定する。
次に、第ｉ層のＯＰＣ−Ｂ領域へ該最適パワーでテスト記録を行い、第ｉ層の最適記録パルス条件（ライトストラテジ条件）を求める。これによって第ｉ層へのテスト記録は完了する。
ここで、最適記録パワーのチェックの方法として上述の例を説明したが、上述方法を組み合わせてもよいし、別の好適な方法でチェックを行ってもよい。例えば、ジッタ、ＭＬＳＥ、β、アシンメトリ等を組み合わせて判断材料に使ってもよい。
第４のステップは、第ｉ以外の情報記録層である第ｊ層にテスト記録を行うため準備を行うステップである。第ｉの情報記録層の該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）と該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）の比率α（＝Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ）を求め、第ｊの情報記録層の推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）から、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）を以下の式で算出する。
（Ｐｗｙｊ）＝（Ｐｗｐｊ）×α
さらに、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）にあらかじめ決められている係数であるＸ（例えば１．１）をかけた値を第ｊ層の上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）と決定する。
(Ｐｗｍａｘｊ)＝ （Ｐｗｙｊ）×Ｘ
ここで前記比率αはテスト記録によってもとまった最適記録パワーと推奨記録パワーとの比率である。即ち、光ディスク装置にゴミ、埃、その他の原因によって光ディスク装置の設定する記録パワーが、光ディスク作成時にディスク製造者が決めた記録パワーに対して、記録パワーの絶対値がどのくらいずれているかを表す指標である。したがって、α＝１の場合、求まった最適記録パワーと推奨記録パワーが一致している場合であり、光ディスク装置を使ってテスト記録して求めた記録パワーはディスク製造者があらかじめディスク作成時に記録したパワーと一致していることを意味する。α＞１の場合は、一例として、光ディスク装置の光学系、例えば対物レンズ上にゴミ、埃などが付着し、行路途中でレーザ光出射直後の記録パワーと光ディスク盤面上での記録パワーとの間にロスがあるときに生じる。あるいは、光ディスク装置の記録パワーのキャリブレーションに誤差がある場合も生じる。これらが原因の場合は、他の情報記録層においても同様の記録パワーのロスやキャリブレーション誤差が発生するため、前記比率αを使って、光ディスク装置が設定する記録パワーと実際の光ディスクの情報記録面上の照射パワーとの間を補正することを目的としている。
第５のステップは第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、第ｊ層の最適記録パワーと記録パルス条件を求めるステップである。テスト記録の際には、第４のステップで決定した該上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）以下の複数の記録パワーでテスト記録し、記録されている信号の変調度特性を測定し、第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）を求める。第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）決定後、該最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）で第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、記録パルス条件(ライトストラテジ条件)の最適値を求める。これによって第ｊの情報記録層へのテスト記録は完了する。ここで省略したが、第３のステップと同様、求められた最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）が本来求まるべき最適記録パワーであったかをチェックする処理手順をいれてもよい。
第６のステップは全ての情報記録層のテスト記録が完了したかをチェックするステップである。もし、全ての情報記録層でテスト記録が完了していない場合は、第５のステップに戻って、残りの情報記録層のテスト記録を行い、記録パワーとライトストラテジの最適値を求める。もし、全ての情報記録層のテスト記録が完了している場合は、テスト記録の完了処理を実施する。即ち、ＤＭＡのＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ情報を更新しテスト記録は完了する。
本実施形態において、一例としてＸ＝１．１としたが、Ｘ＝１．１に限られるものでなく、Ｘ＝１として、予測される最適記録パワーを上限として記録するよう設定してもよい。
また、ＯＰＣ−Ｂ領域でテスト記録した結果求まった最適記録パワーがステップ４で算出した記録パワーの上限値を超える場合は、記録パワーの上限値を適切な値に更新してもよい。ただし、最適パワーが求まるまでは、先に決めた上限パワーを超えてテスト記録することはできない。
また、本発明の実施形態において記録方法としたが、記録動作の手順をメインに説明しているためであって、必ずしも記録動作に限られるものではなく、再生方法も含めて光記録再生方法といってもよい。
（実施形態８）
次に本発明の多層光学的情報記録媒体の記録再生装置１００について図面を参照して説明する。装置１００は、情報記録媒体１０１に対して情報の記録または再生の少なくとも一方を行う装置であり、再生専用装置であってもよい。
図１は本発明の第８の実施形態による多層光学的情報記録媒体の記録再生装置の全体構成を説明する図である。実施形態１から５の多層光ディスクおよび実施形態６および７の記録方法を用いて、テスト記録を行って各情報記録層へテスト記録を行う動作について説明する。
多層光ディスク１０１は例えばＢＤ−Ｒ媒体等の多層光学的情報記録媒体である。記録再生装置１００は、光ピックアップ１１１と、スピンドルモータ１２２と、サーボ制御部１１２とを備える。光ピックアップ１１１は、回折素子１０２と、コリメートレンズ１０３および１０４と、対物レンズ１０５と、レーザ光源１０６と、アクチュエータ１０７と、光検出器１０９および１１０と、サーボ制御部１１２とを備える。
記録再生装置１００は、管理データ領域（ＰＩＣ、ＤＭＡ、ＴＤＭＡ等）から管理データを再生し、管理データに基づいて情報記録媒体へ情報を記録する記録部を備える。その記録部は、球面収差補正部１０８と、ＲＦ信号演算部１１３と、レーザ駆動回路１１４と、レーザ出力制御回路１１５と、記録パワー制御部１１６と、再生信号検出部１１７と、管理情報読み込み部１１８と、演算部１１９と、メモリ１２０と、システム制御部１２１とを備える。記録部はまた、テスト記録領域を用いて記録条件を調整し、調整された記録条件にて、多層光ディスク１０１へ情報を記録する動作を行う。
レーザ光源１０６および光検出器１０９および１１０を備える光ピックアップ１１１は、多層光ディスク１０１の各情報記録層にレーザ光を照射する照射部として機能するとともに、情報記録層で反射された反射光を受光する受光部として機能する。
ＲＦ信号演算部１１３、再生信号検出部１１７、管理情報読み込み部１１８と、演算部１１９、メモリ１２０およびシステム制御部１２１は、反射光の受光により得られた電気信号に基づいて情報を再生する再生部として機能する。
レーザ光源１０６から出射された光ビームはコリメートレンズ１０３、１０４によって平行光に変換され、対物レンズ１０５に入射し、多層光ディスク１０１の情報記録面上に収束される。多層光ディスク１０１で反射された光ビームはもとの光路を逆にたどってコリメートレンズ１０３、１０４によって集光され、回折素子１０２の光分岐手段によって光検出器１０９、１１０へ入射する。サーボ信号（フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号）および情報信号（ＲＦ信号）は、光検出器１０９、１１０の出力信号より生成される。アクチュエータ１０７は、対物レンズ１０５の光軸方向の位置制御であるフォーカス制御と、それに垂直かつ光ビームの進行方向に対して垂直な方向の位置制御であるトラッキング制御をサーボ制御部１１２によって行い、コイルや磁石などの駆動手段を駆動することによって制御されている。また、ＲＦ信号演算部１１３によってＲＦ信号が生成される。球面収差補正部１０８は、コリメートレンズ１０４を駆動し、各情報層の表面からの厚みに応じた最適な球面収差補正を行う。前記光ピックアップ１１１内のレーザ光源１０６を駆動するレーザ駆動回路１１４、前記レーザ駆動回路１１４に対し所望のレーザ出力でパワー制御をかけるレーザ出力制御回路１１５、前記レーザ出力制御回路に、複数の記録パワーを設定し、テスト記録、データ記録あるいは再生の指示を出す記録パワー制御部１１６、前記ＲＦ信号から再生信号の信号品質（変調度、アシンメトリ、β、ジッタ、ＭＬＳＥ等）を検出する再生信号検出部１１７、前記ＲＦ信号から前記多層光ディスク１０１上に記録されているＰＩＣ領域のディスク管理情報やＤＭＡのＯＰＣ領域管理情報を読み出す管理情報読み込み部１１８、テスト記録された信号を再生し、再生信号検出部で検出された変調度特性から、最適記録パワーを演算、さらに前記最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）と推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）の比率を演算し、テスト記録時の上限パワーを演算する演算部１１９を備える。演算部１１９の動作は実施形態６のステップ３、および実施形態７のステップ４で説明した通りであり、テスト記録の結果をもとに最適記録パワーや、上限記録パワーの演算を行う。また、前記テスト記録によって求まった各情報記録層の最適記録パワー、最適記録パワーと推奨記録パワーとの比率（α）、上限記録パワーのいずれか又は全てを保持するメモリ１２０、演算部の演算結果、管理情報読み込み部の読み取り情報をもとに記録パワー制御部に所定の記録条件を設定するシステム制御部１２１を備える。システム制御部は、記録パワー制御部１１６に命令を出し、全ての情報記録層のテスト記録完了するまでテスト記録の動作を繰り返す。
次に、前記多層光学的情報記録媒体の記録再生装置を用いて最適な記録パワーを学習する詳細な動作について説明する。
図１において、レーザ駆動回路１１４によって駆動されたレーザ光源１０６から出射された光ビームは、球面収差補正部１０８によってコリメートレンズ１０４を移動し、多層光学的情報記録媒体（ＢＤ−Ｒ媒体）である多層光ディスク１０１の所望の情報記録層に集光される。サーボ制御部１１２によって、光スポットは所望の情報記録層へフォーカス、トラッキング制御される。光ピックアップ１１１は多層光ディスク１０１の内周部へシークしＰＩＣ領域のディスク管理情報（ＤＩ：Ｄｉｓｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ）を読み出す。サーボ制御回路は、光スポットを多層光ディスク１０１のテスト記録領域にシークさせフォーカス、トラッキング制御する。システム制御部１２１は、前記ＤＩ情報の中のＯＰＣパラメータの１つであるターゲット記録パワー（Ｐｉｎｄ）の近傍±１０％の範囲の複数のパワーを設定し、記録パワーを変えながら複数回テスト記録するよう記録パワー制御部１１６に指令する。レーザ出力制御回路１１５は、所望の記録パワーで発光するようパワーサーボをかけ、レーザ駆動回路１１４がレーザ光源１０６を駆動し、対物レンズ１０５で集光された光ビームによって、所望のテスト記録領域の所望のトラック（あるいは所望のクラスタ）に信号が記録される。
次に、記録された信号の再生動作について説明する。該トラック（クラスタ）からの反射光は、光ピックアップ１１１内の光検出器１０９，１１０で受光され、電気信号に変換され、ＲＦ信号演算部１１３でＲＦ信号が生成される。再生信号検出部１１７により該テスト記録された複数の記録パワーにおける変調度が検出される。図１２を用いてＲＦ信号から再生信号検出部によって検出される変調度について説明する。図１２は８Ｔ信号を含む信号が記録された場合の再生信号を示す。図１２の上側が光ディスク上に形成された８Ｔスペース部分を再生したときの電圧レベル（Ｉ８Ｈ）、下側が光ディスク上に形成された８Ｔマーク部分を再生したときの電圧レベル（Ｉ８Ｌ）である。再生信号検出部１１７はＲＦ信号から最長スペースである８Ｔスペース、最長マークである８Ｔマークのそれぞれの電圧レベル（Ｉ８Ｈ、Ｉ８Ｌ）を検出する。
演算部１１９は、再生信号検出部１１７で検出された該電圧レベル（Ｉ８Ｈ、Ｉ８Ｌ）から変調度（ＭＯＤ）を算出する。変調度（ＭＯＤ）はＭＯＤ＝（Ｉ８Ｈ−Ｉ８Ｌ）／Ｉ８Ｈ の演算により算出される。
次に複数の記録パワーの変調度特性から記録パワーの最適値である最適記録パワーを求める方法について説明する。演算部１１９はテスト記録した複数の記録パワーに対する変調度の測定結果から、該記録パワー(Ｐｗ)での該変調度（ＭＯＤ）と該記録パワー（Ｐｗ）の積（ＭＯＤ×Ｐｗ）を算出する。図１３に記録パワーに対する変調度と記録パワーの積（ＭＯＤ×Ｐｗ）を説明するための図の一例を示す。ターゲット記録パワー（Ｐｉｎｄ）の近傍でのいくつかの測定点を用いて、接線１３０１を引き、ｘ軸（パワー軸）との切片を限界記録パワー（Ｐｔｈ）とする。最適記録パワー（Ｐｗｏ）は、前記限界記録パワー（Ｐｔｈ）とパワー増倍率ρおよびκを用いて演算する。ここでκ、ρ、Ｐｉｎｄは前記ＯＰＣパラメータであって、ディスク管理領域にあらかじめ記録されているものを読み出した結果を利用する。最適記録パワー（Ｐｗｏ）は Ｐｗｏ＝ρ×κ×Ｐｔｈ の式によって演算され、演算結果を該情報記録層の最適記録パワーＰｗｏとする。
次に、演算部は、ＯＰＣ−Ａ領域で求められた最適記録パワーが本来求まるべき最適パワーであったかをチェックする。上述の最適記録パワーを求める動作手順において、当該光ディスク装置を用いて第ｉ層のＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)と、本来光ディスク製造者がディスク作成時に決定した記録パワーである第ｉ層の推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）とを比較し、最適記録パワーが該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）に比べて例えば５％以上大きい場合（Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ−１≧５％）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が不適切と判断し、再度、ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライトストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を求めなおす。
また、別のチェック方法として、上述の最適記録パワーを求める動作手順において、当該光ディスク装置を用いてＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーが、本来光ディスク製造者がディスク作成時に想定した記録パワーと比べて実質的に高くなることを防ぐために、該最適記録パワーと光ディスク上のＰＩＣ領域にあらかじめ記録されているディスク管理情報から読み出された推奨記録パワーのターゲット変調度（Ｍｍａｘ）を、該最適記録パワーで記録された信号の変調度（Ｍｏ）と比較し、最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて大きい場合（Ｍｏ＞Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)が、高いと判断し、再度ライトストラテジを変更する、あるいは、そのままのライトストラテジで、上述のＯＰＣ手順をやり直し、最適記録パワー(Ｐｗｏｉ)を求めなおす。最適記録パワーで記録された変調度（Ｍｏ）と、該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）とを比較し、該最適記録パワーで記録した際の変調度が該ターゲット変調度（Ｍｍａｘ）に比べて同等もしくは小さい場合（Ｍｏ≦Ｍｍａｘ）は、求まった最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）を最適記録パワーと決定する。
ここで、最適記録パワーのチェックの方法として上述の例を説明したが、上述方法を組み合わせてもよいし、別の好適な方法でチェックを行ってもよい。例えば、ジッタ、ＭＬＳＥ、β、アシンメトリ等を組み合わせて判断材料に使ってもよい。
尚、本実施形態８において、複数の記録パワーで記録した信号の変調度を測定することによって、記録パワーの最適値を求める方法を説明したが、最適パワーを求める方法は、変調度から求める方法だけでなく、β、ジッタ、アシンメトリ、ＭＬＳＥ等の他の信号指標の１つあるいは２つ以上を組み合わせて測定して求める方法であってもよい。また、変調度を使って最適記録パワーを求める場合においても、上述の変調度と記録パワーの積から、記録パワーの最適値を求める方法以外に、変調度の記録パワーのｎ乗の積を使って求めるｎ・κ法を用いて記録パワーの最適値を求めてもよい。
次に、演算部は、第ｉ以外の情報記録層である第ｊ層にテスト記録を行うため準備を行う動作について説明する。第ｉの情報記録層の該最適記録パワー（Ｐｗｏｉ）と該推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）の比率α（＝Ｐｗｏｉ／Ｐｗｐｉ）を求め、第ｊの情報記録層の推奨記録パワー（Ｐｗｐｉ）から、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）を以下の式で算出する。
（Ｐｗｙｊ）＝（Ｐｗｐｊ）×α
さらに、第ｊの情報記録層の予測される最適記録パワー（Ｐｗｙｊ）にあらかじめ決められている係数であるＸ（例えば１．１）をかけた値を第ｊ層の上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）と決定する。
(Ｐｗｍａｘｊ)＝ （Ｐｗｙｊ）×Ｘ
ここで前記比率αはテスト記録によってもとまった最適記録パワーと推奨記録パワーとの比率である。即ち、光ディスク装置にゴミ、埃、その他の原因によって光ディスク装置の設定する記録パワーが、光ディスク作成時にディスク製造者が決めた記録パワーに対して、記録パワーの絶対値がどのくらいずれているかを表す指標である。したがって、α＝１の場合、求まった最適記録パワーと推奨記録パワーが一致している場合であり、光ディスク装置を使ってテスト記録して求めた記録パワーはディスク製造者があらかじめディスク作成時に記録したパワーと一致していることを意味する。α＞１の場合は、一例として、光ディスク装置の光学系、例えば対物レンズ上にゴミ、埃などが付着し、行路途中でレーザ光出射直後の記録パワーと光ディスク盤面上での記録パワーとの間にロスがあるときに生じる。あるいは、光ディスク装置の記録パワーのキャリブレーションに誤差がある場合も生じる。これらが原因の場合は、他の情報記録層においても同様の記録パワーのロスやキャリブレーション誤差が発生するため、前記比率αを使って、光ディスク装置が設定する記録パワーと実際の光ディスクの情報記録面上の照射パワーとの間を補正することを目的としている。
次に、システム制御部１２１は、記録パワー制御部１１６に、第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、第ｊ層の最適記録パワーと記録パルス条件を求めるよう指示する。テスト記録の際には、該上限記録パワー（Ｐｗｍａｘｊ）以下の複数の記録パワーでテスト記録し、ＲＦ信号生成部１１３から出力されるＲＦ信号の再生信号の変調度特性を再生信号検出部１１７で測定する。
演算部１１９は、第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）を求める。第ｊの情報記録層の最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）決定後、該最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）で第ｊの情報記録層のＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録を行い、記録パルス条件(ライトストラテジ条件)の最適値を求める。これによって第ｊの情報記録層へのテスト記録は完了する。ここで省略したが、システム制御部１２１は、求められた最適記録パワー（Ｐｗｏｊ）が本来求まるべき最適記録パワーであったかをチェックする処理を行ってもよい。
システム制御部１２１は、全ての情報記録層のテスト記録が完了したかをチェックする。もし、全ての情報記録層でテスト記録が完了していない場合は、再び、残りの情報記録層のテスト記録を行い、記録パワーとライトストラテジの最適値を求める。もし、全ての情報記録層のテスト記録が完了している場合は、テスト記録の完了処理を実施する。即ち、ＤＭＡのＮｅｘｔ Ａｖａｉｌａｂｌｅ ＰＳＮ情報を更新するようシステム制御部は、記録パワー設定部に指示し、ＤＭＡに記録を行い記録動作は完了する。
尚、該光ディスク記録再生装置でテスト記録することによって求まった最適記録パワーあるいはＯＰＣ−Ｂ領域に記録する記録パワーの上限値、あるいは、記録パワーの上限値となる変調度、記録パルス条件の最適値等の情報を、１００２のインナーエリアのＤＭＡあるいは、その他所定の領域に追記しておいてもよい。こうすることによって、光学的情報記録媒体の特性に応じて、次回起動時に不要な調整ステップを実施することなく、記録パワーや記録パルス条件の補正を行う。これにより調整時間を短縮でき効率的に記録マークの信号品質を向上させることが可能となる。
尚、本発明の実施形態において光記録再生装置と追記型光ディスクを例に説明したが、これに限定されるわけではなく、書き換え可能な光ディスクに対しても有効である。
尚、本発明の実施形態において、ＯＰＣ−Ｂ領域に記録する記録パワーの上限を設定したが、記録パワーとは、一般にレーザ光をパルス変調したときのピークレベルのパワーのことであるが、記録パルスによっては、中間パワー、スペースパワー、イレーズパワー、ボトムパワー、冷却パワー等、記録パワーよりも低いパワーレベルにも上限値を設けてもよい。また、記録パワーの上限値は、記録する際の光ディスクの速度に応じて複数設定することが可能である。具体的には２倍速（２ｘ）と４倍速（４ｘ）で記録可能な光ディスクの場合、２ｘと４ｘでは、別々の記録パワーの上限値をもってよい。
（実施形態９）
次に、本発明の第９の実施形態による多層光学的情報記録媒体のテスト記録を含むサーボ条件の調整の手順について図面を参照して説明する。多層光ディスクは本発明の第１の実施形態で用いた多層光ディスクの物理フォーマットを例に説明するが、第２、第３第４の実施形態で説明した多層光ディスクの物理フォーマットにも適応してもよい。
主として、ラジアルチルト、タンジェンシャルチルト、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、球面収差等のサーボ関係の項目の調整手順について説明する。
ラジアルチルト、タンジェンシャルチルトとは、光軸とスポットの進行方向で決まる傾きのことであり、光ディスクの情報記録面に対して、光スポットが垂直に入射するよう傾きの調整がなされる。光ディスクの記録面に傾き（チルト）があると、コマ収差が発生し、品質のよい信号を光ディスクに記録し、再生することが困難である。そのため、光ディスクに信号を記録再生する前に、ディスクとレーザビームの光軸との間のチルト角を正確に検出し、補正する必要がある。
また、複数の情報記録層をもつ光ディスクの場合、各情報記録層へ光スポットを集光する際、レーザビームの入射面から情報記録面までの厚みがＬ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３でそれぞれ異なるため、入射厚みに応じて球面収差が発生する。球面収差を各情報記録層に最適な条件に調整することが必要である。
光ディスクシステムの信頼性を上げるためには、サーボ条件の調整を行って品質のよい信号を記録、再生する必要がある。サーボ条件の調整は、光ディスク装置にあらかじめ設定されたサーボ条件の初期値を用いる方法があるが、光ディスクの種類、個々のディスクの偏心、厚みばらつき、チルトまた、光ディスク装置の取り付け精度のばらつきなどによって工場出荷時にあらかじめ設定されているサーボ条件の初期値に対して、個別に調整を行うことで、品質のよい信号を記録、再生することができる。サーボ条件の調整手順は、光ディスクが装置にローディングされた際に、所望の情報記録層にレーザ光をフォーカスさせた状態で、あらかじめ形成されているグルーブトラックからの反射光から生成されるトラッキングエラー信号をサーボ制御部１１２で検出し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように、ラジアルチルト、タンジェンシャルチルト、フォーカスオフセット、球面収差補正値を調整する。
図１のアクチュエータ１０７は、対物レンズ１０５の光軸方向の位置制御であるフォーカス制御と、それに垂直かつ光ビームの進行方向に対して垂直な方向の位置制御であるトラッキング制御をサーボ制御部１１２によって行い、コイルや磁石などの駆動手段を駆動することによって制御されている。球面収差補正部１０８は、コリメートレンズ１０４を駆動し、各情報層の表面からの厚みに応じた最適な球面収差補正を行う。書き換えあるいは追記型の光ディスクのサーボ条件の調整は、サーボの条件を変えながら、光ディスクの記録トラックからの反射光によって生成されたトラッキングエラー信号をサーボ制御部１１２で検出し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように、ラジアルチルト、タンジェンシャルチルト、フォーカスオフセットを調整する。
さらに精度よく、サーボ条件を調整する場合には、ＤＭＡのＯＰＣ領域管理情報をもとに過去に記録した記録済みトラックを検索し、所望の記録済みトラックを再生し、反射光から生成されるＲＦ信号を再生信号検出部１１７によって読み取り、再生信号の信号品質（ジッタ、ＭＬＳＥ、エラーレート、変調度等）を測定し、測定された信号品質が最良になるようにサーボ条件を調整する。このようにトラキングエラー信号と、ＲＦ信号の２つの信号を使って、サーボ条件の調整することでより精度よいサーボ条件を設定することができ、信号品質を向上させることが可能である。
また、ブランクディスクのように、一度も記録されていない光ディスクの場合は、記録済みのトラックが存在しないため、レーザ光をフォーカスさせた状態でトラッキングエラー信号の振幅を検出してサーボ条件の調整を行うことはできるが、ＲＦ信号を使ってより精度よくサーボ条件の調整をすることができない。そこでサーボ条件の調整用に、記録パワーと記録パルス条件を学習し、暫定の記録パワーおよび暫定の記録パルス条件を決定し、その条件でサーボ条件を最適化するためのテスト記録トラックを作成し、最適なサーボ条件を決定する。最適なサーボ条件が決定後、さらにＯＰＣ領域で記録パワーと記録パルス条件を学習し、本発明の第６の実施形態で述べた手順で最適記録パワーと最適記録パルス条件を決定し、その条件でテスト記録トラックをＯＰＣ領域あるいはＤＭＡに作成する。
本実施形態のサーボ条件の調整手順について図１６のフローチャートを用いて説明する。第１のステップは、光ディスクが光ディスク装置にローディングされた際に、第１のサーボ条件の調整を行うステップである。光ディスクが光ディスク装置にローディングされた際に、所望の情報記録層にレーザ光をフォーカスさせた状態で、光ディスクにあらかじめ形成されているグルーブトラックからの反射光から生成されるトラッキングエラー信号をサーボ制御部１１２で検出し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように、ラジアルチルト、タンジェンシャルチルト、フォーカスオフセット、球面収差補正値を調整する。トラッキングオフセットは、プシュプル信号の振幅の中心で制御ループが閉じるように調整する。以上を全ての情報記録層毎に実施し、各情報記録層の第１のサーボ条件の調整を完了する。
尚、ラジアルチルトとタンジェンシャルチルトのように情報記録層の厚みでなく半径位置で変わるようなパラメータに関しては、全ての情報記録層で、調整するのではなく、任意の１つの情報記録層で求めた値を用いて、他の情報記録層での調整を省略してもよい。
第２のステップは、ブランクディスクか否かを判断するステップである。リードインゾーン内のＤＭＡに記録されたＯＰＣ領域管理情報を読み取り、ＤＭＡあるいはＯＰＣ領域にデータが記録されてないかチェックする。もし、過去に信号を記録済みの場合は後述の第６のステップへ移行し、過去に信号が記録されていない場合（ブランクディスクの場合）は、第３のステップへ移行する。
第３のステップは、第２のサーボ条件の調整前にＯＰＣ領域で、Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の各情報記録層の暫定の記録パワーと記録パルス条件を求める手順である。第１のサーボ条件を設定し、Ｌ０のＯＰＣ−Ａ領域でＯＰＣを行い暫定の記録パワーを決定する。さらにＯＰＣ−Ａ領域で記録パルス条件の調整を行い、記録パルス条件の暫定値を決定する。前述の暫定の記録パワーと暫定のライトストラテジで、ＯＰＣ−Ａ領域にテスト記録トラック（Ａ）を作成する。次にＬ１のＯＰＣ−Ｂ領域でＯＰＣを行い暫定の記録パワーを決定する。さらにＯＰＣ−Ｂ 領域で記録パルス条件の調整を行い、記録パルス条件の暫定値を決定する。前述の暫定の記録パワーと暫定のライトストラテジで、ＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録トラック（Ａ）を作成する。同様にＬ２、Ｌ３もＬ１と同様の手順で暫定の記録パワーと暫定の記録パルス条件を決定し、ＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録トラック（Ａ）を作成する。ここで、ＯＰＣ領域へのテスト記録の手順は、前述の第６の実施形態の手順で実施し、暫定記録パワーおよび暫定記録パルス条件を決定する。
第４のステップは、第２のサーボ条件の調整を行うステップである。第３のステップで作成したＯＰＣ領域のテスト記録トラック（Ａ）を再生し、サーボ条件の調整を行う。サーボ条件の調整は、各サーボ条件のオフセット値を変えながら再生信号品質を測定し、テスト記録トラック（Ａ）を再生して生成されたＲＦ信号の再生信号品質（ジッタ、ＭＬＳＥ、エラーレート、変調度等）を読み取って、再生信号品質が最良になるようにサーボ条件を調整し、最良なサーボ条件を決定する。以上を全ての情報記録層毎に実施し、各情報記録層の第２のサーボ条件の調整を完了する。
第５のステップは、第３のサーボ条件の調整を行うステップである。サーボ条件の調整は、各サーボ条件の設定値を変えながらＤＭＡに記録済みトラック（Ｃ）を再生して得られたＲＦ信号の再生信号品質（ジッタ、ＭＬＳＥ、エラーレート、変調度等）を測定して、再生信号品質が最良になるようサーボ条件を決定する。全ての情報記録層毎にサーボ調整を実施し、各情報記録層の第３のサーボ条件の調整を完了する。
尚、ＤＭＡに記録済みのトラック（Ｃ）を使って、サーボ条件の調整を行こととしたが、ＤＭＡに記録されている信号は、テスト記録でなく記録パワーと記録パルス条件の調整がなされた後の良好な状態で記録が行われていることから、ＯＰＣ領域のテスト記録トラックに比べて精度の高いサーボ条件の調整を行うのに適している。
尚、本実施形態の第５のステップの第３のサーボ調整に用いた記録トラックはリードインゾーン内のＤＭＡに記録されたトラック（Ｃ）を再生して、最適なサーボ条件を決定したが、リードインゾーン内のＯＰＣ−Ｂ領域に記録されているテスト記録トラック（Ｂ）の信号品質が良好な場合は、ＯＰＣ−Ｂ領域内に記録されているテスト記録トラックを使ってサーボ条件の調整を行ってもよい。
また、内周と外周の両方のＤＭＡに記録されたトラック（Ｃ）を使ってサーボ条件の調整を行ってもよい。光ディスクの内周と外周で別々に決定したサーボ条件を、内周から外周の半径位置に応じて線形補間することによって、光ディスクの半径方向に渡って良好なサーボ条件で、記録および再生することが可能である。
また、プレイヤーと呼ばれる書き込み動作のできない再生専用の光ディスク装置において、本発明の多層光ディスクのサーボ条件の調整を行う場合、リードインゾーン内のＯＰＣ領域あるいは、ＤＭＡに記録されている記録済みのトラックを使ってサーボ条件の調整を行う。プレイヤーでの調整方法は、図１６のフローチャートでブランクディスクでない場合に相当し、あらかじめ、記録されている記録トラック（Ｃ）を用いて、サーボ条件を変えながらＲＦ信号の再生信号品質を測定して、最適なサーボ条件を決定する。ブランクディスクと判断された場合は、再生すべきデータが記録されていないと判断し、以降の処理を中止する。
内周のリードインゾーン内でサーボ条件を調整することは、以下の効果がある。スピンコート法などを用いて光ディスクのカバー層あるいは中間層を形成する場合、内周から外周にかけて厚みむらが生じる。光ディスクの内周厚を規定の精度で作成した場合、サーボ条件の調整は、カバー層と中間層の厚みばらつきや、ディスクチルトの影響が少ない内周で行った方が、より精度よくサーボ条件を調整することが可能である。光ディスクが内周から外周にかけて厚みばらつきがある場合、内周の一定の基準内に入っている厚みの状態でサーボ調整を実施し、外周側は厚みやチルトが内周の基準値に対して一定の範囲内にあるとして設計保証を行うことで、信号品質を一定以内に保つことが可能である。
また、サーボ調整を内周のリードインゾーンと外周のリードアウトゾーンの両方で行う場合、内周から外周へ光ピックアップがシークするのに要する待ち時間がかかる。内周のリードインゾーンでサーボ条件の調整を行うことによって光ピックアップのシーク時間を短縮することが可能である。したがって、内周のリードインゾーン内でサーボ条件の調整ＯＰＣ、記録パルス条件の調整、ディスク管理情報の読み出し等をまとめて行うことによって起動時間を短縮できる効果がある。
尚、本発明の実施形態１から９に用いた多層光ディスクにおいて、光ディスクのレーザ光入射側から、最も奥に位置する情報記録層である第０の情報記録層は、さらに奥の情報記録層への影響を考慮する必要がないことから、記録パワーの上限値を設ける必要はない。したがって、第１の情報記録層より手前側の情報記録層に限って記録パワーの上限値を設ければよい。したがって、本発明の実施形態１から９に用いた多層光ディスクの第０の情報記録層（Ｌ０）では、ＯＰＣ−Ｂ領域と図示したところをＯＰＣ−Ａ領域に置き換えてもよい。また、テスト記録の開始点としては、Ｌ０のＯＰＣ領域と、Ｌ０以外の他の情報記録層のＯＰＣ−Ａ領域をテスト記録の開始点として併用してもよい。
尚、本実施形態１から９においてＯＰＣ−Ｂ領域の配置を各情報記録層で概略同一半径位置上に配置するような構成を例に説明したが、本発明のＯＰＣ−Ｂ領域は、過大な記録パワーで記録されることがないため、インナーゾーンあるいはアウターゾーン内の適性パワーで記録されるＤＭＡなどの領域と配置を入れ替えて、半径位置をずらして配置させることも可能である。また、ＯＰＣ−Ｂ領域を１つの情報記録層内のインナーゾーンあるいはアウターゾーンのそれぞれの領域内で、２つ以上に分けて配置してもよい。
また、本実施形態１から９では、インナーゾーンに２種類のＯＰＣ領域を配置した実施形態について説明したが、ＯＰＣ領域は、インナーゾーンに限らず、アウターゾーンにあってもよい。また、インナーゾーンとアウターゾーンの両方にあってもよいし、書き換え型光ディスクの場合、データゾーン内にテスト記録領域を配置し、テスト記録完了後ＤＣパワーで消去して使うなどしてもよい。
あるいは、アウターゾーンには、ＯＰＣ−Ａ領域、ＯＰＣ−Ｂ領域のいずれか一方のＯＰＣ領域を配置してもよい。インナーゾーンとアウターゾーンの双方にＯＰＣ領域を配置することによって、内周でスピンドルモータの回転数が１００００ｒｐｍを超えるような高速記録を行うとき、内周にあるインナーゾーンで回転数の制限によって、所望の線速度でテスト記録ができない際、外周のアウターゾーンでは回転数が半分以下となるためテスト記録ができ、最適な記録パワー等の学習を外周で行うことが可能となる。
尚、本発明の実施形態１から９において、ＢＤで使用されているのと同様の光ピックアップを用いたが、光記録媒体にビームを照射して、光記録媒体から反射されたビームに応じた信号を出力するものであれば、如何なる構成の光ピックアップであってもよい。
尚、本実施形態１から９では情報記録層が、情報記録層が４層に積層された場合の例を図と共に説明したが、本発明は、４層に限らず３層あるいは２層、あるいは５層以上に積層されている構成の多層光ディスクにも適応できることはいうまでもない。
（主要パラメータ）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、ここではＢＤに関して説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ，書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがあり、本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲ(追記型・ライトワンス型)，ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、記録層が１層または２層設けられている。記録層の記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（又は０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（又は６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（又は２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（又は２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（又は５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（又は５４．０４０ＧＢ））である。
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（又は、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
なお、上記は既に商品化が進んでいる、主に１層当たり約２５ＧＢ（又は約２７ＧＢ）の１層又は２層のＢＤに関するものであるが、更なる大容量化として、１層あたりの記録容量を略３２ＧＢ又は略３３．４ＧＢとした高密度なＢＤや、層数を３層又は４層としたＢＤも検討されており、以降では、それらに関しても説明する。
（多層について）
レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層ディスクの一般的な構成例を図１９に示す。図示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２で構成されている（ｎは０以上の整数）。その構成を具体的に説明すると、光ディスクには、レーザ光５０５が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、そして基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２の層間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向，スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。
パラレル・パスでは、全ての層において、再生方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全層にて内周から外周の方向へ、又は全層にて外周から内周の方向へ進行する。
一方、オポジット・パスでは、ある層とその層に隣接する層とで、再生方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）における再生方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、記録層Ｌ１における再生方向は外周から内周へ向かう方向であり、記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、再生方向は、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
保護層（カバー層）の厚みは、開口数ＮＡが上がることで、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５，ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚みを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚みはさらに薄くしてもよい。
（１層から４層の各構成例）
ここで、単層ディスクの構成例を図２０に、二層ディスクの構成例を図２１に、三層ディスクの構成例を図２２に、四層ディスクの構成例を図２３に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、図２１から図２３のいずれにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）、基板５００の厚みは略１．１ｍｍ、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図２０の単層ディスク（図１９においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚みは略０．１ｍｍ、また、図２１の二層ディスク（図１９においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚みは略０．０７５ｍｍ、中間層５３０２の厚みは略０．０２５ｍｍ、また、図２２の三層ディスク（図１９においてｎ＝２の場合）や図２３の四層ディスク（図１９においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１３，５０１４の厚み、及び／又は、中間層５３０３，５３０４の厚みは、更に薄くなる。
（光ディスクの製造方法）
これらの単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）は、以下のような工程により製造することができる。
つまり、厚みが略１．１ｍｍの基板上に、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射することにより情報が再生可能なｋ個の記録層が形成される。
次に、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層が形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は形成されない。
次に、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層が形成される。
そして、記録層を形成する工程において、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの内周側から外周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の偶数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの外周側から内周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす奇数であるｉは“１”しか存在しないため、ｉ番目の記録層としては１つの記録層しか形成されず、また、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす偶数であるｊは存在しな
いため、ｊ番目の記録層は形成されないことになる。
そして、記録層におけるトラックには、前述の各種の領域が割り当て可能となる。
（光ディスクの再生装置）
このような単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）の再生は、以下のような構成を有する再生装置によって行われる。
ディスクの構成としては、厚みが略１．１ｍｍの基板と、前記基板上にｋ個の記録層と、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層と（なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は存在しない）、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層と、を有する。ｋ個の記録層のそれぞれにはトラックが形成され、そのうちの少なくとも１つのトラックには、各種の領域が割り当て可能である。
そして、前記保護層の表面側から、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射する光ヘッドによりｋ個の記録層のそれぞれから情報の再生が可能となる。
そして、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの内周側から外周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｉ番目の記録層から情報を再生することができる。
また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの外周側から内周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｊ番目の記録層から情報を再生することができる。
（Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ／Ｏｎ−Ｇｒｏｖｅ）
また記録方式に関してであるが、媒体に溝を形成することによって、溝部と、溝と溝との間の溝間部と、が形成されることになるが、溝部に記録するか、溝間部に記録するか、溝部と溝間部の両方に記録するか、様々な方式がある。ここで、溝部と溝間部のうち、光入射面から見て凸部となる側に記録する方式をＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式といい、光入射面から凹部となる側に記録する方式をＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式という。本発明において、記録方式として、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、両方式のどちらか一方を許可する方式とするかは特に問わない。
なお、両方式のどちらか一方を許可する方式の場合、その媒体が、どちらの記録方式であるかを容易に識別できるように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかを示した記録方式識別情報を媒体に記録してもよい。多層媒体については、各層についての記録方式識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録方式識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録方式識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録方式識別情報を記録してもよい。
また記録方式識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
またウォブルの開始方向に関してであるが、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とで互いに逆となるようにしてもよい。つまり、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの内周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの外周側から開始するようにし（、又は、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの外周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの内周側から開始するようにし）てもよい。このように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とでウォブルの開始方向互いに逆となるようにすることで、どちらの方式にしてもトラッキングの極性を同一にすることができる。なぜなら、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凸部となる側に記録を行うのに対して、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凹部となる側に記録を行うため、仮に両者で溝の深さが同じである場合、トラッキング極性は逆の関係となる。そこで、両者でウォブルの開始方向も互いに逆とすることにより、トラッキング極性を同じにすることができる。
（Ｈｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗ／Ｌｏｗ ｔｏ Ｈｉｇｈ）
また、記録膜の特性に関してであるが、記録部分と未記録部分との反射率の関係により、以下の２つの特性のものがある。つまり、未記録部分が記録済部分よりも高反射率（Ｈｉｇｈ−ｔｏ−Ｌｏｗ）であるＨｔｏＬ特性と、未記録部分が記録済部分よりも低反射率（Ｌｏｗ−ｔｏ−Ｈｉｇｈ）であるＬｔｏＨ特性である。本発明において、媒体の記録膜特性として、ＨｔｏＬであるか、ＬｔｏＨであるか、どちらか一方を許可するものであるかは特に問わない。
また、どちらか一方を許可するものの場合、どちらの記録膜特性であるかを容易に識別できるように、ＨｔｏＬであるかＬｔｏＨであるかを示した記録膜特性識別情報を媒体に記録してもよい。多層媒体については、各層についての記録膜特性識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録膜特性識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録膜特性識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録膜特性識別情報を記録してもよい。
また、記録膜特性識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
なお、記録密度が向上すると、光ディスク媒体の記録密度は複数種類存在する可能性が生じることになる。この場合は、上記の各種のフォーマットや方式に関して、記録密度に応じて、その一部のみを採用したり、一部を別のフォーマットや方式に変更したりしてもよい。
図２４は、本実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク１には、たとえば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック２が形成されており、各トラック２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック２には予め定められたサイズのブロック３を単位としてデータが記録される。
本実施形態による光ディスク１は、従来の光ディスク（たとえば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、たとえば光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク１は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
トラック２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロックに分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロックは、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
（記録密度について）
次に、記録密度について、図２５、図２６および図２７を用いて説明する。
図２５（ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ１２３Ａの波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０Ａの開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック２上に物理変化のマーク列１２０Ａ、１２１Ａとして、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク１２１Ａが最短マークである。
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク１２１Ａの物理的長さは０．１４９ｕｍとなっている。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
図２６は、トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット３０は、約０．３９ｕｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット３０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
たとえば図２５（ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ１２３Ａの波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０Ａの開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列１２５Ａ、１２４Ａのうち、最短マーク１２５Ａの物理的長さは０．１１１７５ｕｍとなっている。図２５（ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９ｕｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
図２７は、２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
そのため、図２５（ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
図２８は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図２８において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
（波長と開口数とマーク長との関係）
また、高記録密度のディスクＢにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとしたとき、（最短マーク長＋最短スペース長）を“Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いると、
Ｐ ≦ λ／２ＮＡ
となるまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超えることになる。
ＮＡ＝０．８５，λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、
Ｔ ＝ ４０５／（２ｘ０．８５）／４ ＝ ５９．５５８ｎｍ
となる（なお、逆に、Ｐ ＞ λ／２ＮＡ である場合は、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い）。
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
なお、以上では、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録密度に関して述べたものであるが、更に高密度化が進んだ場合には、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係により、以上と同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度，記録容量）を設定してもよい。
（記録密度及び層数）
ここで、波長４０５ｎｍ，開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合においては、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，又は３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
ここで、ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、即ち、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成をによって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
以上説明したように、本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、前記管理データ領域の一部と半径位置が重なる前記テスト記録領域を備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、少なくとも一部が前記再生専用の管理データ領域と半径位置が重なっている、書き込みが禁止された書き込み禁止領域を備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記再生専用の管理データ領域に予め記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域と、テスト記録領域とを備え、前記記録可能な管理データ領域は、前記テスト記録領域の内周側および外周側に配置される。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも２つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を備え、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域と、他の少なくとも１つの情報記録層の前記記録可能な管理データ領域とは、少なくとも一部の半径位置が互いに重なっている。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記記録可能な管理データ領域に記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数ブロック備える。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記記録可能な管理データ領域に記録された前記管理データを再生し、前記管理データに基づいて前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データを新たに書き込むことが可能な記録可能な管理データ領域を複数個備え、２つの前記記録可能な管理データ領域の間には、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域が配置されている。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域と、前記テスト記録領域の内周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第１の書き込み禁止領域と、前記テスト記録領域の外周側に隣接して配置された、書き込みが禁止された第２の書き込み禁止領域と、前記第１の書き込み禁止領域の内周側に隣接して配置された第１の領域と、前記第２の書き込み禁止領域の外周側に隣接して配置された第２の領域とを備え、前記第１の領域および第２の領域には、同じ属性の情報が記録される。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
本発明の情報記録媒体は、３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも１つの情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられる第１および第２のテスト記録領域を備え、前記第１のテスト記録領域では第１のテスト記録が行われ、前記第１のテスト記録の後、前記第２のテスト記録領域において、前記第１のテスト記録の結果に基づいた第２のテスト記録が行われ、前記第２のテスト記録領域の物理サイズは、前記第１のテスト記録領域の物理サイズよりも大きい。
また、前記複数の情報記録層のうちの少なくとも２つの情報記録層のそれぞれは、前記第１および第２のテスト記録領域を備え、前記第１のテスト記録領域を用いたテスト記録は、前記情報記録媒体のレーザ光入射面から遠い情報記録層から順に行われてもよい。
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部とを備える。
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、前記第１および第２のテスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部とを備える。
また、ある実施形態によれば、本発明の多層光学的情報記録媒体は、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体であって、前記多層光学的情報記録媒体は、半径位置に応じて前記各情報記録層が内周からインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンとで構成され、前記多層光学的情報記録媒体の前記複数の情報記録層には、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）とが含まれ、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域（コントロールデータ領域）を備え、データを記録及び／または再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（ＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ−Ｂ領域）のうち、少なくとも１種類のテスト記録領域を、前記インナーゾーン及びアウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内の前記第１から第Ｎの情報記録層に備え、前記ＯＰＣ―Ｂ領域は、テスト記録する際の記録パワーの上限値が設定されている。
また、ある実施形態によれば、前記ＯＰＣ−Ｂ領域は、前記第１から第Ｎの情報記録層のうちいずれかの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域へのテスト記録後に、テスト記録する。
また、ある実施形態によれば、前記ＯＰＣ−Ｂ領域の前記上限値は、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーと、前記管理データ領域内にあらかじめ記録されている推奨記録パワーとの比率とをもとに、前記ＯＰＣ−Ｂ領域の前記上限値が設定される。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、第Ｍ（Ｍは１以上Ｎ以下の整数）から第Ｎの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域の一部または全部が、物理的に概略同一の半径位置に重なって備えられる。
また、ある実施形態によれば、前記ＭがＭ＝１またはＭ＝２である。
また、ある実施形態によれば、前記管理データ（コントロールデータ）領域の物理半径位置の一部または全部が、前記ＯＰＣ−Ｂ領域と重なるよう配置される。
また、ある実施形態によれば、前記第１の情報記録層の前記テスト記録領域の物理サイズは、前記第２から第Ｎの情報記録層の各々の前記ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きい。
また、ある実施形態によれば、同一の情報記録層内において、前記ＯＰＣ−Ｂ領域の物理サイズは、前記ＯＰＣ−Ａ領域の物理サイズに比べ大きい。
また、ある実施形態によれば、前記管理データ領域内には、前記ＯＰＣ−Ｂ領域にテスト記録する際の、記録パワーの上限値があらかじめ記録されている。
また、ある実施形態によれば、前記管理データ領域内には、前記ＯＰＣ−Ｂ領域に記録できる変調度の上限値あるいは推奨記録パワーの変調度があらかじめ記録されている。
また、ある実施形態によれば、前記多層光学的情報記録媒体は、ライトワンス型光ディスクである。
また、本発明のある実施形態によれば、多層光学的情報記録媒体の記録方法において、多層光学的情報記録媒体は、複数の情報記録層を備え、半径位置に応じて前記各情報記録層が内周からインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンとで構成され、前記複数の情報記録層には、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２〜第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を備え、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域（コントロールデータ領域）と追記あるいは書き換え可能な管理データ領域（ＤＭＡ）を備え、データを記録及び／または再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類（ＯＰＣ―Ａ領域とＯＰＣ−Ｂ領域）に区別されるテスト記録領域のうち、少なくとも１種類のテスト記録領域を、前記インナーゾーン及びアウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内の前記第１から第Ｎの情報記録層に備え、前記ＯＰＣ―Ｂ領域は、テスト記録する際の記録パワーの上限値が設定されている。記録方法は、前記コントロールデータ領域からあらかじめディスク作成時に記録されている推奨パワーを読み出すステップと、前記ＤＭＡからＯＰＣ領域管理情報を読み出すステップと、前記ＯＰＣ領域管理情報から記録可能なＯＰＣ−Ａ領域が第ｉ（ｉは１〜Ｎの整数）の情報記録層であると決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の最適記録パワーを決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記最適パワーと前記推奨記録パワーの比率（α）を演算し、第ｉ以外の情報記録層の推測される最適パワーである予測最適記録パワーを算出し、前記予測最適記録パワーから前記第ｉ以外の情報記録層の前記ＯＰＣ−Ｂ領域へテスト記録する際の記録パワーの上限値を算出するステップと、前記第ｉ以外の情報記録層のうちの任意の１つの第ｊ（ｊ≠ｉかつｊは１〜Ｎの整数）の情報記録層の前記ＯＰＣ−Ｂ領域に前記上限値以下の記録パワーでテスト記録し、前記第ｊの情報記録層の最適パワーを決定するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、前記ＯＰＣ−Ｂ領域は、前記第１から第Ｎの情報記録層の内いずれかの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域へのテスト記録後にテスト記録する。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層である第ｉの情報記録層の前記ＯＰＣ−Ａ領域で求まった最適記録パワーと、前記管理データ領域内にあらかじめ記録されている推奨記録パワーとの比率（α）を演算した演算値から、下記数式（１）
第ｊ層の予測最適パワー＝α×第ｊ層の推奨記録パワー×Ｘ・・・・・（１）
の演算値を元に、前記ＯＰＣ−Ｂ領域の前記上限値が設定される。
また、ある実施形態によれば、前記Ｘは、１．１である。
また、ある実施形態によれば、各情報記録層に配置されている前記ＯＰＣ−Ａ領域のテスト記録の順序は、前記記録可能なＯＰＣ−Ａ領域のうち、前記レーザ入射光の遠い側に位置する層から、前記レーザ入射光の近くに位置する層へと順次記録する。
また、ある実施形態によれば、各情報記録層に配置されている前記ＯＰＣ−Ｂ領域の各層間のテスト記録の順序は、記録可能なＯＰＣ−Ｂ領域を任意の順序で記録することが可能である。
また、ある実施形態によれば、前記複数の情報記録層をもった光学的情報記録媒体は、ライトワンス型光ディスクである。
また、本発明のある実施形態によれば、多層光学的情報記録媒体の記録再生装置は、複数の情報記録層をもつ多層光学的情報記録媒体の各情報記録層にレーザ光を照射し集光して前記情報記録層のデータを記録および再生する光照射手段と、前記多層情報記録媒体に読み出し専用のディスク管理領域にあらかじめディスク作成時に記録されている推奨記録パワーと、追記あるいは書き換え可能なＯＰＣ領域管理情報とを読み出す管理情報読み出し手段と、前記多層光学的情報記録媒体の各情報記録層に照射された前記レーザ光のレーザーパワーを制御して複数の記録パワーでテスト記録する記録パワー制御手段と、前記多層光学的情報記録媒体からの反射光から得られる再生信号の信号品質を検出する再生信号検出手段と、前記再生信号検出手段の検出値から、前記記録パワーの最適値である最適記録パワーを演算し、前記最適記録パワーと前記推奨記録パワーの比率（α）を演算し、任意の情報記録層の推定される最適パワーである予測最適記録パワーを算出する演算手段とを備える。
また、ある実施形態によれば、記録再生装置は、前記テスト記録によって求まった各情報記録層の前記最適記録パワー、前記比率（α）、前記予測最適パワーのいずれかまたは全てをメモリに保持するメモリ手段を保持する。
また、ある実施形態によれば、本発明の多層光学的情報記録媒体は、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体であって、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域）のうち少なくとも１種類のテスト記録領域を有し、前記第２のテスト記録領域は、前記第１のテスト記録領域へのテスト記録の後に、テスト記録される。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも２つの情報記録層において、前記第１のテスト記録領域の少なくとも一部が、物理的に略同一の半径位置に重なっている。
また、ある実施形態によれば、前記第１のテスト記録領域は、レーザ光入射側から遠い情報記録層から順にテスト記録される。
また、ある実施形態によれば、前記第１の情報記録層の前記テスト記録領域の物理サイズは、前記第２から第Ｎの情報記録層の各々の前記第１のテスト記録領域の物理サイズに比べて大きい。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層は、前記第１のテスト記録領域と前記第２のテスト記録領域を両方有し、前記第２のテスト記録領域の物理サイズは、前記第１のテスト記録領域の物理サイズに比べて大きい。
また、ある実施形態によれば、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体であって、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するためのテスト記録領域を有し、前記テスト記録領域の少なくとも１つは、テスト記録する際の記録パワーの上限値が設定されている。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域を備え、前記テスト記録する際の記録パワーの上限値は、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層でテスト記録により求まった最適記録パワーと、前記管理データ領域内にあらかじめ記録されている推奨記録パワーとの比率と、をもとに設定される。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作製時に形成された読み出し専用の管理データ領域を備え、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層が有する前記テスト記録領域の少なくとも一部が、前記管理データ領域と、物理的に略同一の半径位置に重なっている。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域を備え、前記管理データ領域内には、前記テスト記録領域にテスト記録する際の記録パワーの上限値があらかじめ記録されている。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域を備え、前記管理データ領域内には、前記テスト記録領域にテスト記録できる変調度の上限値、あるいは推奨記録パワーの変調度があらかじめ記録されている。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち、少なくとも２つの情報記録層において、前記テスト記録領域の少なくとも一部が、物理的に略同一の半径位置に重なっている。
また、ある実施形態によれば、前記多層光学的情報記録媒体は、ライトワンス型光ディスクである。
また、ある実施形態によれば、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体の記録方法において、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域）のうち少なくとも１種類のテスト記録領域を有する。記録方法は、第ｉ（ｉは１からＮの整数）の情報記録層の前記第１のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パワーを決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記第２のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パルス条件を決定するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体の記録方法において、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域）のうち少なくとも１種類のテスト記録領域を有する。記録方法は、第ｉ（ｉは１からＮの整数）の情報記録層の前記第１のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パワーを決定するステップと、前記第ｉ以外の情報記録層のうちの任意の１つの第ｊ（ｊ≠ｉかつｊは１からＮの整数）情報記録層の前記第２のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｊの情報記録層の記録パワーを決定するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層は、あらかじめディスク作成時に形成された読み出し専用の管理データ領域（コントロールデータ領域）と追記あるいは書き換え可能な管理データ領域（ＤＭＡ）をさらに備えている。多層光学的情報記録媒体の記録方法は、前記コントロールデータ領域からあらかじめディスク作成時に記録されている推奨パワーを読み出すステップと、前記ＤＭＡからテスト記録領域管理情報を読み出すステップと、前記テスト記録領域管理情報から記録可能な第１のテスト記録領域が第ｉ（ｉは１〜Ｎの整数）の情報記録層であると決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記第１のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の最適記録パワーを決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記最適パワーと前記推奨記録パワーの比率（α）を演算し、第ｉ以外の情報記録層の推測される最適パワーである予測最適記録パワーを算出し、前記予測最適記録パワーから前記第ｉ以外の情報記録層の前記第２のテスト記録領域へテスト記録する際の記録パワーの上限値を算出するステップと、前記第ｉ以外の情報記録層のうちの任意の１つの第ｊ（ｊ≠ｉかつｊは１〜Ｎの整数）の情報記録層の前記第２のテスト記録領域に前記上限値以下の記録パワーでテスト記録し、前記第ｊの情報記録層の最適パワーを決定するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、前記第２のテスト記録領域は、前記第１から第Ｎの情報記録層のうちいずれかの情報記録層の前記第１のテスト記録領域へのテスト記録後にテスト記録する。
また、ある実施形態によれば、前記第１から第Ｎの情報記録層のうち少なくとも１つの情報記録層である第ｉの情報記録層の前記第１のテスト記録領域で求まった最適記録パワーと、前記管理データ領域内にあらかじめ記録されている推奨記録パワーとの比率（α）を演算した演算値から、下記数式（１）
第ｊ層の予測最適パワー＝α×第ｊ層の推奨記録パワー×Ｘ・・・・・（１）
の演算値をもとに、前記第２のテスト記録領域の前記上限値が設定される。
また、ある実施形態によれば、前記Ｘは、１．１である。
また、ある実施形態によれば、各情報記録層に配置されている前記第１のテスト記録領域のテスト記録の順序は、前記記録可能な第１のテスト記録領域のうち、前記レーザ入射光の遠い側に位置する層から、前記レーザ入射光の近くに位置する層へと順次記録する。
また、ある実施形態によれば、各情報記録層に配置されている前記第２のテスト記録領域の各層間のテスト記録の順序は、記録可能な第２のテスト記録領域を任意の順序で記録することが可能である。
また、ある実施形態によれば、前記複数の情報記録層をもった光学的情報記録媒体は、ライトワンス型光ディスクである。
また、ある実施形態によれば、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体の再生方法において、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域）のうち少なくとも１種類のテスト記録領域と、追記あるいは書き換え可能な管理データ領域（ＤＭＡ）を有する。再生方法は、第ｉ（ｉは１からＮの整数）の情報記録層の前記第１のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パワーを決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記第２のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パルス条件を決定するステップと、前記第ｉの情報記録層の前記第１のテスト記録領域、又は前記第２のテスト記録領域、又は前記管理データ領域（ＤＭＡ）に書き込みを行うステップと、複数のサーボ条件にて、前記書き込みが行われた記録トラックを再生し再生信号の品質をチェックするステップと、前記再生信号の品質からサーボ条件を調整するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、複数の情報記録層をもった多層光学的情報記録媒体の再生方法において、前記多層光学的情報記録媒体は、第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層よりもレーザ光入射側に設けられ、かつ前記第１の情報記録層に近い側から順に配置された第２から第Ｎの情報記録層（Ｎは２以上の整数）を有し、前記各情報記録層は、半径位置に応じて、内周から順にインナーゾーン、データゾーン、アウターゾーンを構成し、前記各情報記録層の前記インナーゾーン、又は前記アウターゾーンのうちの少なくとも１つのゾーン内に、データを記録及び／又は再生する際の条件をテスト記録するための少なくとも２種類に区別されるテスト記録領域（第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域）のうち少なくとも１種類のテスト記録領域と、追記あるいは書き換え可能な管理データ領域（ＤＭＡ）を有する。再生方法は、第ｉ（ｉは１からＮの整数）の情報記録層の前記第１のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｉの情報記録層の記録パワーを決定するステップと、前記第ｉ以外の情報記録層のうちの任意の１つの第ｊ（ｊ≠ｉかつｊは１からＮの整数）の情報記録層の前記第２のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｊの情報記録層の記録パワーを決定するステップと、前記第ｊの情報記録層の前記第２のテスト記録領域にテスト記録し、前記第ｊの情報記録層の記録パルス条件を決定するステップと、前記第ｉの情報記録層、又は前記第ｊの情報記録層の前記第１のテスト記録領域又は前記第２のテスト記録領域又は前記管理データ領域（ＤＭＡ）に書き込みを行うステップと、複数のサーボ条件にて、前記書き込みが行われた記録トラックを再生し再生信号の品質をチェックするステップと、前記再生信号の品質からサーボ条件を調整するステップを含む。
また、ある実施形態によれば、多層光学的情報記録媒体の記録再生装置は、複数の情報記録層をもつ多層光学的情報記録媒体の各情報記録層にレーザ光を照射し集光して前記情報記録層のデータを記録及び再生する光照射手段と、前記多層情報記録媒体に読み出し専用のディスク管理領域にあらかじめディスク作成時に記録されている推奨記録パワーと、追記あるいは書き換え可能なテスト記録領域管理情報とを読み出す管理情報読み出し手段と、前記多層光学的情報記録媒体の各情報記録層に照射された前記レーザ光のレーザパワーを制御して複数の記録パワーでテスト記録する記録パワー制御手段と、前記多層光学的情報記録媒体からの反射光から得られる再生信号の信号品質を検出する再生信号検出手段と、前記再生信号検出手段の検出値から、前記記録パワーの最適値である最適記録パワーを演算し、前記最適記録パワーと前記推奨記録パワーの比率（α）を演算し、任意の情報記録層の推定される最適パワーである予測最適記録パワーを算出する演算手段とを備える。
また、ある実施形態によれば、記録再生装置は、前記テスト記録によって求まった各情報記録層の前記最適記録パワー、前記比率（α）、前記予測最適パワーのいずれか又は全てをメモリに保持するメモリ手段を保持する。
本発明の光ディスク媒体への光記録再生方法および光記録再生装置は、光記録媒体への高密度記録という効果を有し、デジタル家電機器、情報処理装置を含む電気機器産業等に利用可能である。
１０１ 多層光ディスク
１０２ 回折素子
１０３ コリメートレンズ
１０５ 対物レンズ
１０６ レーザ光源
１０７ アクチュエータ
１０８ 球面収差補正部
１０９ 光検出器
１１１ 光ピックアップ
１１２ サーボ制御部
１１３ ＲＦ信号演算部
１１４ レーザ駆動回路
１１５ レーザ出力制御回路
１１６ 記録パワー制御部
１１７ 再生信号検出部
１１８ 管理情報読み込み部
１１９ 演算部
１２０ メモリ
１２１ システム制御部
１２２ スピンドルモータ

Claims (3)

  1. ３層以上の複数の情報記録層を備えた情報記録媒体であって、
    前記複数の情報記録層のそれぞれは、記録条件を調整するために用いられるテスト記録領域を備え、
    前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、前記情報記録媒体を管理するための管理データが予め記録された再生専用の管理データ領域を備え、
    前記複数の情報記録層のうちの他の２つ以上の情報記録層のそれぞれは、共通の前記再生専用の管理データ領域の一部と半径位置が重なる前記テスト記録領域と書き込み禁止領域とを備え、
    前記他の２つ以上の情報記録層の書き込み禁止領域のそれぞれは、共通の前記再生専用の管理データ領域の一部と半径位置が重なるように配置され、
    前記複数の情報記録層のうちの１つの情報記録層は、記録可能な管理データ領域を前記テスト記録領域の内周側と外周側に備える、情報記録媒体。
  2. 請求項１に記載の情報記録媒体に記録された情報を再生するための再生装置であって、
    前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、
    前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
    前記受光により得られた信号に基づいて情報を再生する再生部と
    を備えた、再生装置。
  3. 請求項１に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
    前記複数の情報記録層にレーザ光を照射する照射部と、
    前記テスト記録領域を用いて前記記録条件を調整し、前記調整された記録条件にて、前記情報記録媒体へ情報を記録する記録部と
    を備えた、記録装置。
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