JP2013203569A - 磁気光学素子用焼結体及び磁気光学素子 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】組成式(Tb1−xMx)2O3(式中、Mはイオン半径が0.85Åから0.91Åの範囲である3価の元素、0.1≦x<0.6)で示される酸化物を主成分として含有する波長1μm用の磁気光学素子用焼結体であって、残余成分として、2価の陽イオンを含む酸化物及び4価の陽イオンを含む酸化物とを含有するものであることを特徴とする波長1μm用の磁気光学素子用焼結体。
【選択図】なし
Description
Θ=VHL
で表される。比例係数のVはヴェルデ定数といい、材料に依存する特性値である。
ファラデー回転子を小型にするには、ヴェルデ定数を大きくすれば良く、このためには単位体積当りの常磁性イオン量、代表的には、3価のテルビウムイオンの含有量を多くすれば良いことが知られている。
また、3価のテルビウムイオンを含有した単結晶としては、テルビウム・ガリウム・ガーネット(化学式Tb3Ga5O12)結晶があるが、この結晶のヴェルデ定数は0.13min./(エルステッド・cm)と比較的小さな値に留まっており、このため、小型の光アイソレータ用ファラデー回転子としては不満足な材料である。
最近、Tb2O3を含有する単結晶や焼結体からなる磁気光学素子材料を、本用途のファラデー回転子として利用することが開示されている(特許文献1〜3)。
このような前記残余成分(焼結助剤)を添加することで、更に安定して透明体を得ることができる。
これにより、ヴェルデ定数の劣化を抑制できる透明体を得ることができる。特に、Hoを選択した場合には、その効果が著しい。
このように、散乱原因となる前記残余成分(焼結助剤)はできるだけ少量とするのが好適である。
このような本発明の焼結体を用いた磁気光学素子であれば、挿入損失が小さくかつアイソレータ素子の小型化を図ることができる。
本発明の焼結体の原料としては、例えば、全て3価のテルビウムイオンで構成される化学式Tb2O3の純度4Nの酸化物粉末がある。市販されている純度4NのTb4O7を用いるときは、これを予め水素雰囲気で還元処理してTb2O3として用いても良い。酸化物原料としては高純度であることが好ましく、また、その粒度は小さい方が焼成過程の反応性は良いが、微細すぎると取り扱いに不便であるので、原料粉末の平均粒径は数μmからサブμmのものを用いると良い。
初めに4NのTb2O3を0.2モル秤取し、6Nの硝酸に溶解して約300mlの溶液を作製する。同様に、Ho2O3、Tm2O3、Lu2O3に関しても6Nの硝酸溶液とし、組成比に応じてこの硝酸溶液を秤取する。そして2つの溶液を混合し、その後この混合溶液に2Nアンモニア水を撹拌しながら滴下すると、ゲル状の物質を得る。更にこの後、約70℃で蒸発乾固させ、120℃で5日間乾燥させることで(TbM)2O3の原料が得られる。なお、原料としてTb4O7を使うときは少量のH2O2を添加すればよい。
HIP処理は、1200〜1800℃の温度範囲での数時間以内の処理によって残留気孔の低減効果が得られる。この処理では、高温にする方が残留気孔を短時間で低減できるため好ましく、残留気孔の比率としては焼結体の密度が理論密度の99.8%以上(気孔率では0.2%以下)であることが必要である。焼結体の密度が理論密度の99.8%未満であると、光の透過率が極端に低下する。なお、焼結体の密度はアルキメデス法で測定できる。一方、気孔率は焼結体の実測密度と理論密度の差異から求めることができる。
(実施例1)
純度99.9%で粒径1μm以下のTb2O3粉末を100g、Lu2O3粉末を108.8g、CaOを0.63g、ZrOを21.25gとエチルアルコール150g、PVA1gを秤量し、表面を樹脂コートしたボールを用いてボールミル混合した。24時間後にスラリーを取り出し、エチルアルコールを蒸発させて乾燥粉末を得た。乾燥した粉末は乳鉢と乳棒を用いて解砕した。
得られた焼結体から直径3mm×長さ10mmの円柱を切り出し、対向する2面を鏡面研磨した試料を作製し、波長1μmでの無反射コート膜を施した。
表1に示す割合で酸化物原料を秤量し、実施例1と同じ手順で焼結体を作製した。この焼結体の両端を鏡面化し、ヴェルデ定数、挿入損失、消光比を測定した。なお、焼結助剤の量は(TbM)2O3の総重量に対する重量パーセントである。
測定結果をあわせて表1に示す。
Claims (5)
- 組成式(Tb1−xMx)2O3(式中、Mはイオン半径が0.85Åから0.91Åの範囲である3価の元素、0.1≦x<0.6)で示される酸化物を主成分として含有する波長1μm用の磁気光学素子用焼結体であって、残余成分として、2価の陽イオンを含む酸化物及び4価の陽イオンを含む酸化物を含有するものであることを特徴とする波長1μm用の磁気光学素子用焼結体。
- 前記残余成分のうち、2価の陽イオンを含む酸化物がPbO又はCaO、4価の陽イオンを含む酸化物がZrO2又はHfO2であることを特徴とする請求項1に記載の波長1μm用の磁気光学素子用焼結体。
- 前記組成式における前記Mが、Ho、Tm、Luから選択される1種以上の元素であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の波長1μm用の磁気光学素子用焼結体。
- 前記残余成分の量が0.001wt%から1wt%であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の波長1μm用の磁気光学素子用焼結体。
- 請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の焼結体を用いた磁気光学素子であって、挿入損失が0.2dB以下であることを特徴とする波長1μmで使われる磁気光学素子。
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