JP2013197273A - Electronic component manufacturing method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component manufacturing method which can restrain all of damage to boards, residuals of solder balls, and poor fillet formation even when electronic elements are mounted on a printed wiring board built with a low melting point board such as a PET or PEN by irradiating it with near-infrared laser light from the reverse side of the board.SOLUTION: An electronic component manufacturing method of the present invention involves mounting electronic elements on a printed wiring board built with a board made of resin whose melting point is 280°C or less and having a wiring pattern thereon. The manufacturing method includes a step of supplying solder, a placement step of placing terminals for the electronic elements into position, and a step of soldering the electronic elements to the printed wiring board by irradiating it with near-infrared laser light. In the placement step, the wiring pattern is restricted in width to 2 mm or less within at least 2 mm on both sides in the extension direction of the wiring pattern from the center in width of the terminal, and the shortest distance from an end portion in the width direction on one side of the wiring pattern to the terminal is defined to be 0.5 mm to 1.6 mm.

Description

本発明は、電子部品の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an electronic component.

基板およびこの基板上に配線パターンを有するプリント配線板に電子素子を実装して電子部品を得る際、電子素子をプリント配線板にはんだ付けする主流な方法は、リフロー方式である。これは、プリント配線板の表面の配線パターン上にはんだを介して電子素子を搭載し、その後プリント配線板をリフロー炉内に搬送して、リフロー炉内でプリント配線板に所定温度の熱風を吹きつけることで、はんだペーストを融解させ、電子素子をプリント配線板にはんだ付けするものである。リフロー炉内の温度は280℃以上となる。   When an electronic element is mounted on a substrate and a printed wiring board having a wiring pattern on the substrate to obtain an electronic component, a main method for soldering the electronic element to the printed wiring board is a reflow method. This is because an electronic element is mounted on the wiring pattern on the surface of the printed wiring board via solder, and then the printed wiring board is transported into a reflow furnace and hot air at a predetermined temperature is blown to the printed wiring board in the reflow furnace. By attaching, the solder paste is melted and the electronic element is soldered to the printed wiring board. The temperature in the reflow furnace is 280 ° C. or higher.

このようなリフロー炉ではんだ付けを自動化するために、可撓性の基板を用いてリールトゥリール方式とすることができる。その場合、特許文献1に記載のように、ポリイミド樹脂を主成分とした基板を用いるのが一般的である。ポリイミド樹脂は400℃を超える高融点材料であり、リフロー炉内の温度に耐えられるだけの耐熱性を有するからである。すなわち、リフロー方式による可撓性基板への実装では、280℃超えの融点を有する高耐熱性材料の基板を用いざるを得なかった。   In order to automate the soldering in such a reflow furnace, a reel-to-reel system can be used by using a flexible substrate. In that case, as described in Patent Document 1, it is common to use a substrate mainly composed of a polyimide resin. This is because the polyimide resin is a high melting point material exceeding 400 ° C. and has heat resistance sufficient to withstand the temperature in the reflow furnace. That is, in mounting on a flexible substrate by the reflow method, a substrate made of a high heat resistant material having a melting point exceeding 280 ° C. has to be used.

特開平08−222831号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-222831

しかしながら、ポリイミド樹脂は高価であり、また吸湿性が高いため電気特性の変動がおこる。これに対し、吸湿性が低く、かつ、安価であるポリエチレンテレフタレート(PET)やポリエチレンナフタレート(PEN)などの材料からなる基板を用いることが望ましいが、これらの基材は、融点が280℃以下であり耐熱性に劣るため、リフロー方式ではんだ付けするのは困難である。   However, polyimide resin is expensive and has high hygroscopicity, which causes fluctuations in electrical characteristics. On the other hand, it is desirable to use a substrate made of a material such as polyethylene terephthalate (PET) or polyethylene naphthalate (PEN), which has low hygroscopicity and is inexpensive, but these base materials have a melting point of 280 ° C. or lower. Since it is inferior in heat resistance, it is difficult to solder by the reflow method.

そこで、本発明者らが検討したところ、900〜980nmの波長の近赤外レーザー光を基板の裏面からはんだに向けて照射すれば、PETやPENのような融点が280℃以下の材料からなる基板を用いたプリント配線板に対しても、電子素子のはんだ付けは可能であることを見出した。   Then, when the present inventors examined, if near infrared laser light with a wavelength of 900-980 nm is irradiated toward the solder from the back surface of a board | substrate, it will consist of materials with melting | fusing point like 280 degrees C or less like PET and PEN. It has been found that electronic devices can be soldered to a printed wiring board using a substrate.

しかしながら、近赤外レーザー光の基板裏面からの照射によるはんだ付けを行うと、基板の裏面が損傷してしまったり、はんだ中のはんだボールの一部が溶解せずに残存してしまったり、長期接続信頼性を確保できる良好な形状のフィレットが形成できない場合があることが判明した。図7(A)〜(C)は、はんだ付けに起因して生じるこれらの問題を示す模式図であり、いずれも、融点が280℃以下の材料からなる可撓性基板524の上に配線パターン526を有するプリント配線板522に、はんだ504を介して電子素子508を載置し、近赤外レーザー光を基板524の裏面から照射してはんだ付けした結果である。図7(A)では、はんだ504を十分融解するのに必要な程度に近赤外レーザー光を照射したところ、基板524が大きなダメージを受けている場合を示している。図7(B)では、配線パターン526上ではんだ504がレーザーの易加熱圏外まで移動した結果、はんだボールの一部が残存してしまった場合を示している。図7(C)では、配線パターンの面積が小さく、はんだと配線パターンとの接触面積が狭小化したため、長期接続信頼性を十分確保できる形状のフィレットが形成されなかった場合を示している。長期接続信頼性を十分確保できるのは、端子側面にフィレットが十分接触しており、かつ、接触角が45°未満のフィレット形状である。また、本明細書において、フィレットの接触角とは、フィレットすそ先端でのはんだ鏡面と、配線パターンとが成す角度をいう。   However, when soldering is performed by irradiating near infrared laser light from the back side of the substrate, the back side of the substrate may be damaged, or some of the solder balls in the solder may remain undissolved, It has been found that a fillet having a good shape that can ensure connection reliability may not be formed. FIGS. 7A to 7C are schematic diagrams showing these problems caused by soldering, all of which are formed on a flexible substrate 524 made of a material having a melting point of 280 ° C. or lower. This is a result of mounting the electronic element 508 on the printed wiring board 522 having 526 through the solder 504 and irradiating the near-infrared laser light from the back surface of the substrate 524 and soldering. FIG. 7A shows a case where the substrate 524 is greatly damaged when the near-infrared laser light is irradiated to the extent necessary to sufficiently melt the solder 504. FIG. 7B shows a case where a part of the solder ball remains as a result of the solder 504 moving on the wiring pattern 526 to the outside of the laser easy heating zone. FIG. 7C shows a case where a fillet having a shape that can sufficiently ensure long-term connection reliability is not formed because the area of the wiring pattern is small and the contact area between the solder and the wiring pattern is narrowed. The long-term connection reliability can be sufficiently secured by the fillet shape in which the fillet is in sufficient contact with the terminal side surface and the contact angle is less than 45 °. Further, in this specification, the contact angle of the fillet means an angle formed by the solder mirror surface at the fillet skirt tip and the wiring pattern.

そこで本発明は、上記課題に鑑み、PETやPENなどの融点の低い基板を用いたプリント配線板に、基板裏面から近赤外レーザー光を照射して電子素子を実装した場合でも、基板の損傷、はんだボールの残存、およびフィレット形成不良のいずれも抑制することが可能な電子部品の製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, in view of the above-mentioned problems, the present invention can damage a substrate even when an electronic device is mounted on a printed wiring board using a substrate having a low melting point such as PET or PEN by irradiating near-infrared laser light from the back of the substrate. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electronic component capable of suppressing both remaining solder balls and defective fillet formation.

上記の目的を達成するべく本発明者らが鋭意検討した結果、はんだ付け部位周辺の配線パターンの形状を最適化することにより、融点が280℃以下の基板を損傷させることなく、配線パターン上のはんだを融解させることができ、さらに、はんだボールの残存やフィレット形成不良を十分に抑制することができることを見出し、本発明を完成するに至った。本発明は、上記の知見および検討に基づくものであり、その要旨構成は以下のとおりである。   As a result of intensive studies by the present inventors in order to achieve the above object, by optimizing the shape of the wiring pattern around the soldering site, the circuit board has a melting point of 280 ° C. or less without damaging it. The present inventors have found that the solder can be melted, and further, the remaining of the solder balls and poor fillet formation can be sufficiently suppressed, and the present invention has been completed. This invention is based on said knowledge and examination, The summary structure is as follows.

本発明の電子部品の製造方法は、融点が280℃以下の樹脂からなる基板と、該基板上の配線パターンと、を有するプリント配線板に電子素子を実装して電子部品とする電子部品の製造方法であって、前記配線パターンの上にはんだを供給する工程と、前記はんだ上に、前記電子素子の端子を載置する載置工程と、前記プリント配線板の裏面側から前記はんだに向けて、近赤外レーザー光を照射して、前記はんだを融解させ、前記電子素子を前記プリント配線板にはんだ付けする工程と、を有し、前記載置工程では、前記端子の、前記配線パターンの延在方向の幅の中央から、前記配線パターンの延在方向両側の少なくとも2mmの範囲内で、前記配線パターンを2mm以下の幅としたランド部を設け、前記ランド部上における、前記配線パターンの片方の幅方向端部から前記端子までの最短距離を0.5mm〜1.6mmとすることを特徴とする。   An electronic component manufacturing method according to the present invention is an electronic component manufacturing method in which an electronic element is mounted on a printed wiring board having a substrate made of a resin having a melting point of 280 ° C. or less and a wiring pattern on the substrate. A method of supplying solder onto the wiring pattern; a mounting step of mounting terminals of the electronic element on the solder; and from the back side of the printed wiring board toward the solder. Irradiating near-infrared laser light to melt the solder, and soldering the electronic element to the printed wiring board. In the placing step, the terminal of the wiring pattern A land portion having a width of 2 mm or less is provided within a range of at least 2 mm on both sides of the wiring pattern in the extending direction from the center of the width in the extending direction, and the wiring pattern on the land portion is provided. Characterized by a 0.5mm~1.6mm the shortest distance to the terminal from one widthwise end portion of the over down.

この発明では、前記載置工程において、前記配線パターンの延在方向に対して垂直の方向に沿って、前記ランド部における前記片方の幅方向端部から回路が分岐してもよく、その場合、前記回路の、分岐位置での幅を1mm以下とすることが好ましい。   In the present invention, in the placing step described above, the circuit may branch from one end in the width direction of the land portion along a direction perpendicular to the extending direction of the wiring pattern. The width of the circuit at the branch position is preferably 1 mm or less.

この発明では、前記載置工程では、前記片方の幅方向端部側に前記はんだが偏るように、前記端子を前記はんだに対して押しつけて載置することが好ましい。   In this invention, it is preferable that the terminal step is placed by pressing the terminal against the solder so that the solder is biased toward the one end in the width direction.

この発明では、前記基板は、長尺、かつ、可撓性であることが好ましい。   In the present invention, the substrate is preferably long and flexible.

この発明では、複数の前記電子素子の端子配置に制限はないが、リールトゥリール方式の基板においては、前記基板の長手方向に対して垂直の方向に沿って、各素子の2つの端子が並ぶように実装することが好ましい。   In the present invention, the terminal arrangement of the plurality of electronic elements is not limited, but in a reel-to-reel type substrate, two terminals of each element are arranged along a direction perpendicular to the longitudinal direction of the substrate. It is preferable to implement as described above.

本発明によれば、PETやPENなどの融点の低い基板を用いたプリント配線板に、基板裏面から近赤外レーザー光を照射して電子素子を実装した場合に、基板の損傷、はんだボールの残存、およびフィレット形成不良のいずれも抑制することが可能となった。   According to the present invention, when an electronic device is mounted on a printed wiring board using a substrate having a low melting point such as PET or PEN by irradiating near-infrared laser light from the back surface of the substrate, damage to the substrate, It was possible to suppress both remaining and poor fillet formation.

本発明に従う製造方法に用いる装置を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the apparatus used for the manufacturing method according to this invention. 図1に示す装置内での、レーザー照射によるはんだ付けの部分を拡大して示す模式図である。It is a schematic diagram which expands and shows the part of the soldering by laser irradiation in the apparatus shown in FIG. 本発明に従う電子部品の製造方法を示す、はんだ付け部位周辺の配線パターンの模式上面図である。It is a model top view of the wiring pattern around a soldering site | part which shows the manufacturing method of the electronic component according to this invention. (A)〜(D)は、それぞれ図3(A)〜(D)のA−A位置での断面図である。(A)-(D) are sectional drawings in the AA position of Drawing 3 (A)-(D), respectively. 本発明に従う製造方法により製造した電子部品の模式上面図である。It is a model top view of the electronic component manufactured by the manufacturing method according to this invention. 本発明に従う電子部品により製造した、分岐回路を有する電子部品の模式上面図である。It is a model top view of the electronic component which has the branch circuit manufactured with the electronic component according to this invention. (A)〜(C)は、それぞれ比較例のはんだ付け部分の模式断面図である。(A)-(C) are schematic sectional drawings of the soldering part of a comparative example, respectively. 実験例1における配線パターンの上面図である。6 is a top view of a wiring pattern in Experimental Example 1. FIG.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態をより詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

(電子部品の製造装置)
図1および図2を参照して、本発明を実施することのできる、電子部品の製造装置100を説明する。この製造装置100は、基板124およびこの基板上の配線パターン126を有するプリント配線板122に電子素子108を実装し、電子部品112を製造する。なお、本明細書では、JIS C 5603およびIEC60914に従い、「プリント配線板」は、基板と、基板上に形成される配線パターンとを含み、実装する電子素子は含まない。
(Electronic component manufacturing equipment)
With reference to FIG. 1 and FIG. 2, the manufacturing apparatus 100 of the electronic component which can implement this invention is demonstrated. The manufacturing apparatus 100 manufactures an electronic component 112 by mounting the electronic element 108 on a printed wiring board 122 having a substrate 124 and a wiring pattern 126 on the substrate 124. In this specification, in accordance with JIS C 5603 and IEC60914, “printed wiring board” includes a substrate and a wiring pattern formed on the substrate, and does not include an electronic element to be mounted.

まず、製造装置100は、プリント配線板の配線パターン126上にはんだ104を供給する供給装置102を有する。供給装置102は、特に限定されないが、非接触ディスペンサとすることが好ましい。非接触ディスペンサは、詳細は図示しないが、はんだを収容するタンクと、はんだをプリント配線板と離間した位置からプリント配線板に対して吐出する吐出ノズルと、タンクと吐出ノズルとを連結し、タンクから吐出ノズルへとはんだを供給するための連結部と、これらを制御する制御部と、を有する。この供給装置102によれば、所定量のはんだをプリント配線板に対して離間した位置から供給することができる。そのため、プリント配線板と吐出ノズルとが接触した状態ではんだを供給する装置に比べて、はんだの持ち帰りを抑制し、また吐出ヘッドの上下動によるタイムロスも抑えることができる。また、はんだの破棄量が少ないので環境面からも好ましい。   First, the manufacturing apparatus 100 includes a supply device 102 that supplies the solder 104 onto the wiring pattern 126 of the printed wiring board. The supply device 102 is not particularly limited, but is preferably a non-contact dispenser. Although not shown in detail, the non-contact dispenser connects a tank for containing solder, a discharge nozzle for discharging the solder to the printed wiring board from a position separated from the printed wiring board, and the tank and the discharge nozzle. A connecting portion for supplying solder from the discharge nozzle to the discharge nozzle, and a control portion for controlling them. According to the supply device 102, a predetermined amount of solder can be supplied from a position separated from the printed wiring board. Therefore, compared to a device that supplies solder in a state where the printed wiring board and the discharge nozzle are in contact with each other, it is possible to suppress the take-back of the solder and to suppress time loss due to the vertical movement of the discharge head. Moreover, since the discard amount of solder is small, it is preferable from an environmental viewpoint.

次に、製造装置100は、はんだ104上に電子素子108を載置する載置装置106を有する。載置装置106は、特に限定されず、例えばチップマウンターなどの公知の載置装置を用いることができる。なお、図1および図2では、電子素子の端子の図示を省略している。   Next, the manufacturing apparatus 100 includes a mounting device 106 that mounts the electronic element 108 on the solder 104. The mounting device 106 is not particularly limited, and for example, a known mounting device such as a chip mounter can be used. In FIGS. 1 and 2, the terminals of the electronic elements are not shown.

次に、製造装置100はレーザー110を有する。このレーザー110は、図2に示すように、電子素子108を載置したはんだ104に向けて、近赤外光をプリント配線板の裏面122A側から照射するものである。照射した光は、基板124中を透過して配線パターン126に到達し、配線パターン126を加熱し、はんだ104が融解する。こうして電子素子108はプリント配線板122にはんだ付けされる。   Next, the manufacturing apparatus 100 includes a laser 110. As shown in FIG. 2, the laser 110 irradiates near infrared light from the back surface 122A side of the printed wiring board toward the solder 104 on which the electronic element 108 is placed. The irradiated light passes through the substrate 124 and reaches the wiring pattern 126, heats the wiring pattern 126, and the solder 104 is melted. In this way, the electronic element 108 is soldered to the printed wiring board 122.

レーザー110は、波長を900〜980nmの範囲内に設定できるものであれば特に限定されないが、例えば波長が半導体レーザーなどを使用することができる。また、本明細書において「プリント配線板の裏面」とは、プリント配線板の一対の主面のうち、電子素子を実装する面を表面とした際の、その裏の面、すなわち電子素子を実装しない面を意味する。   The laser 110 is not particularly limited as long as the wavelength can be set in the range of 900 to 980 nm. For example, a semiconductor laser having a wavelength can be used. In addition, in this specification, “the back surface of the printed wiring board” means that the back surface of the pair of main surfaces of the printed wiring board when the surface on which the electronic element is mounted is the front surface, that is, the electronic device is mounted. It means the surface that does not.

製造装置100中には検査装置114を有してもよい。例えば、LEDを電子素子108として用いる場合に実点燈検査用装置を用いることができる。   The manufacturing apparatus 100 may have an inspection apparatus 114. For example, when an LED is used as the electronic element 108, an actual spot check device can be used.

製造装置へのプリント配線板の挿入方法は、図1に示すようにプリント配線板122が一対のリール118,120間に張り渡され、プリント配線板122を両リール間で走行させながら、プリント配線板122に複数の電子素子108を連続的に実装するリールトゥリール方式とすることができる。   As shown in FIG. 1, the printed wiring board 122 is stretched between a pair of reels 118 and 120, and the printed wiring board 122 is run between the two reels. A reel-to-reel system in which a plurality of electronic elements 108 are continuously mounted on the plate 122 can be employed.

(電子部品の製造方法)
次に、図3〜図5を参照して、本発明の一実施形態による電子部品の製造方法を説明する。図3(A)〜(D)は、はんだ付け部位周辺の配線パターンの模式上面図であり、図4(A)〜(D)は、それぞれ図3(A)〜(D)のA−A位置での断面図である。図5は、本発明に従う製造方法により製造した電子部品の模式上面図である。本発明の製造方法は、融点が280℃以下の樹脂からなる基板124と、基板124上の配線パターン126と、を有するプリント配線板122に電子素子108を実装して電子部品112とする電子部品108の製造方法である。
(Method for manufacturing electronic parts)
Next, a method for manufacturing an electronic component according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 (A) to 3 (D) are schematic top views of the wiring pattern around the soldering site, and FIGS. 4 (A) to 4 (D) are respectively A-A in FIGS. 3 (A) to (D). It is sectional drawing in a position. FIG. 5 is a schematic top view of an electronic component manufactured by the manufacturing method according to the present invention. In the manufacturing method of the present invention, an electronic component 112 is formed by mounting an electronic element 108 on a printed wiring board 122 having a substrate 124 made of a resin having a melting point of 280 ° C. or less and a wiring pattern 126 on the substrate 124. 108 is a manufacturing method.

ここで、本実施形態では、はんだ付け部位周辺の配線パターンの形状が所定の条件を満たすように、電子素子108の端子128を配線パターン126上に載置することを特徴とする。具体的には、はんだ104上に、電子素子108の端子128を載置する載置工程では、図3(B)および図4(B)に示すように、配線パターン126の片方の幅方向端部130側にはんだ104が偏るように、端子128をはんだ104に対して押しつけて載置し、さらに、端子128の、配線パターン126の延在方向の幅の中央128Aから、配線パターン126の延在方向両側の少なくとも2mmの範囲内で、配線パターン126を2mm以下の幅Wとしたランド部126Aを設け、ランド部126A上における、端子からはんだを偏らせた方向の幅方向端部130から端子128までの最短距離Dを0.5mm〜1.6mmとする。   Here, the present embodiment is characterized in that the terminal 128 of the electronic element 108 is placed on the wiring pattern 126 so that the shape of the wiring pattern around the soldering site satisfies a predetermined condition. Specifically, in the placement step of placing the terminal 128 of the electronic element 108 on the solder 104, as shown in FIGS. 3B and 4B, one end in the width direction of the wiring pattern 126 is obtained. The terminal 128 is pressed against the solder 104 and placed so that the solder 104 is biased toward the portion 130, and the extension of the wiring pattern 126 is further extended from the center 128 A of the terminal 128 in the extending direction of the wiring pattern 126. A land portion 126A having a wiring pattern 126 with a width W of 2 mm or less is provided within a range of at least 2 mm on both sides in the present direction, and the terminal from the width direction end portion 130 in the direction in which the solder is biased from the terminal on the land portion 126A. The shortest distance D up to 128 is 0.5 mm to 1.6 mm.

以下、本発明の上記特徴的工程を採用したことの技術的意義を、作用効果とともに具体例で説明する。既述の通り、本発明者らは、900nm〜980nmの近赤外レーザー光をプリント配線板の裏面側から照射することにより、融点が280℃以下である耐熱性に劣る材料からなる基板にはんだ付けできることを見出した。しかし、このようなはんだ付けには既述のような問題があった。   Hereinafter, the technical significance of adopting the above characteristic steps of the present invention will be described with specific examples together with the effects. As described above, the present inventors soldered a substrate made of a material having poor melting point and having a melting point of 280 ° C. or less by irradiating near infrared laser light of 900 nm to 980 nm from the back side of the printed wiring board. I found out that it can be attached. However, such soldering has the problems described above.

まず、図7(A)に示す基板の損傷について、本発明者らは、はんだ付け部位周辺の配線パターン面積をできるだけ小さくすることで解決できることを着想した。これは、配線パターンの面積が大きいと配線パターンでの放熱効果が大きく、はんだ加熱効率が悪くなり、はんだの溶解に長時間または高出力の照射が必要になるためである。発明者らが検討したところ、配線パターンによる放熱が問題となるのは、端子128の、配線パターン126の延在方向の幅の中央128Aから、配線パターン126の延在方向両側の少なくとも2mmの範囲内であること、さらに、少なくともその範囲内で、配線パターンを2mm以下の幅Wとすれば、融点が280℃以下の基板における損傷を顕著に抑制できることを見出した。   First, the inventors have conceived that the substrate damage shown in FIG. 7A can be solved by making the wiring pattern area around the soldering portion as small as possible. This is because if the area of the wiring pattern is large, the heat dissipation effect in the wiring pattern is large, the solder heating efficiency is deteriorated, and it is necessary to irradiate the solder for a long time or at a high output for melting the solder. As a result of studies by the inventors, heat radiation due to the wiring pattern becomes a problem in the range from the center 128A of the terminal 128 in the extending direction of the wiring pattern 126 to at least 2 mm on both sides in the extending direction of the wiring pattern 126. In addition, it was found that if the wiring pattern has a width W of 2 mm or less within at least the range, damage to the substrate having a melting point of 280 ° C. or less can be remarkably suppressed.

また、図7(B)に示すはんだボールの残存と、図7(C)に示す長期接続信頼性の得られる良好な形状のフィレットを形成できないことについては、以下の知見を得た。   Moreover, the following knowledge was acquired about the remaining of the solder ball shown in FIG. 7B and the inability to form a fillet having a good shape with which long-term connection reliability shown in FIG. 7C can be obtained.

はんだ104は、いわゆるクリームはんだと呼ばれるものであり、はんだボールと、フラックスと呼ばれる樹脂成分と、溶剤とからなる。はんだ104にレーザー光を照射すると、まず、フラックスが低粘度化して、はんだボールを巻き込んで配線パターン上を流れる(図4(C))。次に、レーザー照射の易加熱圏内に位置するはんだボールは融解してフィレット形成するが、易加熱圏外まで流れたはんだボールは融解せずに残存し、フィレット形成しないことが判明した。図3(B)に示す前記距離Dが長いと、この現象が起きるため、図7(B)に示すように、はんだボールの残存が生じる。また、距離Dが長いと、はんだが流れすぎる結果、端子の側面にフィレットが十分に接触しにくく、長期接続信頼性のあるフィレットが形成できない。本発明者らの検討によれば、本実施形態に用いる端子サイズおよびはんだ量においては、Dを1.6mm以下とすることにより、図4(D)に示すように、はんだボールの残存が十分に抑制でき、かつ、端子側面にフィレットが十分接触することがわかった。   The solder 104 is a so-called cream solder, and includes a solder ball, a resin component called a flux, and a solvent. When the solder 104 is irradiated with laser light, first, the flux is reduced in viscosity, and the solder ball is entrained and flows on the wiring pattern (FIG. 4C). Next, it was found that the solder balls located within the easy heating range of the laser irradiation melt and form a fillet, but the solder balls that flowed out of the easy heating range remain without melting and do not form a fillet. When the distance D shown in FIG. 3B is long, this phenomenon occurs, so that solder balls remain as shown in FIG. 7B. Moreover, when the distance D is long, as a result of the solder flowing too much, the fillet is not sufficiently in contact with the side surface of the terminal, and a fillet with long-term connection reliability cannot be formed. According to the study by the present inventors, in the terminal size and the amount of solder used in this embodiment, by setting D to 1.6 mm or less, as shown in FIG. It was found that the fillet was sufficiently in contact with the side surface of the terminal.

一方で、前記距離Dを短くしすぎれば、はんだを融解させることは容易となるが、図7(C)に示すように、はんだと配線パターンとの接触面積が狭小化してしまい、はんだの接触角が45°以上となってしまい、長期接続信頼性の高いフィレット形成はできない。発明者らが検討したところ、本実施形態に用いる端子サイズおよびはんだ量においては、距離Dを0.5mm以上とすれば、接触角が45°未満の長期接続信頼性の得られる形状の良好なフィレットを形成できることを見出した。   On the other hand, if the distance D is too short, it becomes easy to melt the solder. However, as shown in FIG. 7C, the contact area between the solder and the wiring pattern is reduced, and the contact of the solder is reduced. Since the angle is 45 ° or more, it is impossible to form a fillet with high long-term connection reliability. As a result of investigations by the inventors, in the terminal size and the amount of solder used in the present embodiment, when the distance D is 0.5 mm or more, the contact angle is less than 45 °, and the long-term connection reliability can be obtained. It has been found that fillets can be formed.

すなわち、Dが0.5mm未満であれば、はんだボールの残存はないが、フィレットの接触角が45°以上となり、長期接続信頼性が低下する。また、1.6mm超えであれは、フィレットのぬれ上がりの形成がなく、はんだボールの残存もある。本発明者は、以上の知見に基づき、本発明を完成するに至った。   That is, if D is less than 0.5 mm, there is no solder ball remaining, but the contact angle of the fillet becomes 45 ° or more, and long-term connection reliability decreases. If the thickness exceeds 1.6 mm, fillet wetting is not formed and solder balls remain. Based on the above findings, the present inventor has completed the present invention.

次に、本発明の電子部品の製造方法に従う一実施形態を具体的に説明する。まず、プリント配線板122を用意する。プリント配線板122は、基板124と、配線パターン126とを有する。   Next, an embodiment according to the method of manufacturing an electronic component of the present invention will be specifically described. First, the printed wiring board 122 is prepared. The printed wiring board 122 includes a substrate 124 and a wiring pattern 126.

基板124は、厚みが10〜100μmであり、レーザー透過率範囲が5%以上であることが好ましい。基板124の素材としては、融点が220℃〜280℃の樹脂が好ましく、さらに好ましくは250℃〜280℃であって、例えばPETおよび/またはPENが好ましい。PETおよび/またはPENを含む基板は、従来のリフロー方式では基板の大きな変形や熱による加水分解を起こし大きなダメージを受けてしまうが、本発明によれば、加水分解、溶けおよび焦げを抑制させて用いることができる。基板124は、長尺、かつ、可撓性であれば、リールトゥリール方式の実装装置を用いることができる。これにより、電子部品の生産性を向上させることができる。   The substrate 124 preferably has a thickness of 10 to 100 μm and a laser transmittance range of 5% or more. The material of the substrate 124 is preferably a resin having a melting point of 220 ° C. to 280 ° C., more preferably 250 ° C. to 280 ° C., for example, PET and / or PEN. Substrates containing PET and / or PEN are subject to large deformations and hydrolysis due to heat in the conventional reflow method. However, according to the present invention, hydrolysis, melting and scorching are suppressed. Can be used. If the substrate 124 is long and flexible, a reel-to-reel mounting device can be used. Thereby, productivity of an electronic component can be improved.

配線パターン126は、厚みが5μm〜70μmの銅箔であることが好ましい。5μmよりも薄いとレーザー照射中にはんだボールが飛散してしまうおそれがあり、70μmよりも厚いと裏面からのレーザー照射によりはんだを融解しにくくなるおそれがあるためである。   The wiring pattern 126 is preferably a copper foil having a thickness of 5 μm to 70 μm. This is because if it is thinner than 5 μm, solder balls may be scattered during laser irradiation, and if it is thicker than 70 μm, it may be difficult to melt the solder due to laser irradiation from the back surface.

次に、配線パターン126の上にはんだ104を供給する(図3(A)、図4(A))。はんだとしては、例えばクリームはんだやはんだペーストなどの公知のはんだを用いることができる。はんだの供給量は、用いる電子部品の端子形状によって、端子をはんだ付けするのに適した量を適宜調整することができる。例えば、0.2〜1.5mmの奥行き、1〜3mmの幅、および0.1〜3mmの高さの端子部分を配線パターン上に載置する場合は、0.01mg〜5.0mgが好ましく、さらには0.1mg〜3.0mgが好ましい。   Next, the solder 104 is supplied onto the wiring pattern 126 (FIGS. 3A and 4A). As the solder, for example, a known solder such as cream solder or solder paste can be used. The amount of solder supplied can be adjusted as appropriate depending on the terminal shape of the electronic component to be used. For example, when a terminal portion having a depth of 0.2 to 1.5 mm, a width of 1 to 3 mm, and a height of 0.1 to 3 mm is placed on the wiring pattern, 0.01 mg to 5.0 mg is preferable. Further, 0.1 mg to 3.0 mg is preferable.

次に、はんだ104上に、電子素子108の端子128を載置する(図3(B)、図4(B))。本発明に使用する電子素子108の端子128の、配線パターン122の上に位置する部分が、0.2〜1.5mmの奥行きと、1〜3mmの幅と、0.1〜3mmの高さと、を有する形状である場合は、本発明の効果を確実に得ることができる。なお、電子素子108がLEDであるとさらに好ましい。従来のリフロー方式でのはんだ付けでは、部品全体が加熱されるため、LEDの蛍光剤や内部配線に劣化を生じて十分な寿命が得られなくなるが、本発明によるはんだ付けによれば、従来よりも寿命の長いLED部品を製造することができるからである。ただし、電子素子108としてはLEDに限られず、チップコンデンサ、チップ抵抗器、CCD(電荷結合素子)等のセンサー部品、一般半導体部品のBGA(ball grid array)、QFP(Quad Flat Package)、CSP(Chip size package)などでもよい。   Next, the terminal 128 of the electronic element 108 is placed on the solder 104 (FIGS. 3B and 4B). The portion of the terminal 128 of the electronic element 108 used in the present invention located on the wiring pattern 122 has a depth of 0.2 to 1.5 mm, a width of 1 to 3 mm, and a height of 0.1 to 3 mm. , The effect of the present invention can be obtained with certainty. Note that the electronic element 108 is more preferably an LED. In the conventional reflow soldering, the entire component is heated, so that the fluorescent agent and internal wiring of the LED are deteriorated and a sufficient lifetime cannot be obtained. However, according to the soldering according to the present invention, This is because a long-life LED component can be manufactured. However, the electronic element 108 is not limited to the LED, but includes a chip capacitor, a chip resistor, a sensor component such as a CCD (charge coupled device), a BGA (ball grid array) of general semiconductor components, a QFP (Quad Flat Package), and a CSP (CSP). (Chip size package) or the like.

本明細書において、端子128の、配線パターン126の延在方向の幅の中央128Aから、配線パターン126の延在方向両側の少なくとも2mmの範囲内の配線パターンをランド部126Aとよぶ。載置工程では、ランド部126Aの幅Wが2mm以下となるように、端子128を載置する。また、ランド部126A上における、片方の幅方向端部130から端子128までの最短距離Dが0.5mm〜1.6mmとなるように、端子128を載置する。また、はんだ104上に端子128を載置する際には、図4(B)に示すように、配線パターン126の片方の幅方向端部130側にはんだ104が偏るように、端子128をはんだ108に対して押しつけて載置することが好ましい。   In this specification, a wiring pattern within a range of at least 2 mm on both sides in the extending direction of the wiring pattern 126 from the center 128A in the extending direction of the wiring pattern 126 of the terminal 128 is referred to as a land portion 126A. In the placement step, the terminal 128 is placed so that the width W of the land portion 126A is 2 mm or less. Further, the terminal 128 is placed so that the shortest distance D from one width direction end portion 130 to the terminal 128 on the land portion 126A is 0.5 mm to 1.6 mm. When the terminal 128 is placed on the solder 104, the terminal 128 is soldered so that the solder 104 is biased toward the one end 130 in the width direction of the wiring pattern 126 as shown in FIG. 4B. It is preferable to place it by pressing against 108.

リールトゥリール方式を採用する場合、図5に示すように、複数の電子素子108を、基板124の長手方向に対して垂直の方向に沿って、各電子素子108の2つの端子128が並ぶように、配線パターン126の上に実装することが好ましい。プリント配線板をリールに巻き取る際、基板124は長手方向に湾曲するが、図5のように実装すれば、はんだおよび電子部品のプリント配線板からのはがれを抑制することができるからである。   When the reel-to-reel method is adopted, as shown in FIG. 5, the plurality of electronic elements 108 are arranged so that two terminals 128 of each electronic element 108 are aligned along a direction perpendicular to the longitudinal direction of the substrate 124. In addition, it is preferable to mount on the wiring pattern 126. When the printed wiring board is wound around the reel, the substrate 124 is curved in the longitudinal direction. However, if the printed circuit board is mounted as shown in FIG. 5, peeling of the solder and electronic components from the printed wiring board can be suppressed.

次に、プリント配線板の裏面122A側からはんだ104に向けて、近赤外レーザー光を照射して、はんだ104を融解させ(図3(C)、図4(C))、フィレットを形成して電子素子108をプリント配線板122にはんだ付けする(図3(D)、図4(D))。ここで、近赤外レーザー光は、波長を900nm〜980nmの範囲内であり、出力を15W以下、基板表面における照射径を0.1mm〜2.0mmとし、1つの端子のはんだ付けにつき1回照射する。既述のはんだ量の場合、一般的な照射時間は、0.1〜1.0秒である。   Next, near infrared laser light is irradiated from the back surface 122A side of the printed wiring board toward the solder 104 to melt the solder 104 (FIGS. 3C and 4C) to form a fillet. Then, the electronic element 108 is soldered to the printed wiring board 122 (FIGS. 3D and 4D). Here, the near-infrared laser light has a wavelength in the range of 900 nm to 980 nm, an output of 15 W or less, an irradiation diameter on the substrate surface of 0.1 mm to 2.0 mm, and once per soldering of one terminal. Irradiate. In the case of the solder amount described above, the general irradiation time is 0.1 to 1.0 seconds.

また、図6に示すように、回路132を分岐させて、例えば、接続確認用回路を形成することもできる。その場合、載置工程において、配線パターン126の延在方向に対して垂直の方向に沿って、ランド部126Aにおける、端子からはんだを偏らせた方向の幅方向端部130から回路132が分岐し、回路の分岐位置134での幅を1mm以下とすることが好ましい。1mm以下であれば、分岐した回路132へのはんだの流動を抑制することができるからである。   Further, as shown in FIG. 6, the circuit 132 can be branched to form, for example, a connection confirmation circuit. In that case, in the mounting process, the circuit 132 branches from the width direction end portion 130 in the direction in which the solder is biased from the terminal in the land portion 126A along the direction perpendicular to the extending direction of the wiring pattern 126. The width at the circuit branch position 134 is preferably 1 mm or less. This is because if it is 1 mm or less, the flow of solder to the branched circuit 132 can be suppressed.

本発明の効果をさらに明確にするため、以下に説明する実施例・比較例の実験を行った比較評価について説明する。   In order to further clarify the effects of the present invention, comparative evaluations in which experiments of Examples and Comparative Examples described below were conducted will be described.

<実験例1:基板ダメージ性評価>
(試料の作成)
融点が255℃のPETからなる基板(三菱樹脂社製:W400)を用いた。この基板は、50μmの厚みであり、可撓性を有する。まず、基板上に、公知の方法により銅箔をエッチングして、図8に示すような配線パターンを形成した。表1に記載の距離Yで離間した1対の10mm角の銅箔の間に、表1に記載の幅Wの線状の銅箔を有する、厚みが35μmの配線パターンを形成し、プリント配線板を作製した。
<Experimental example 1: Evaluation of substrate damage>
(Sample preparation)
A substrate made of PET having a melting point of 255 ° C. (Mitsubishi Resin Co., Ltd .: W400) was used. This substrate has a thickness of 50 μm and has flexibility. First, the copper foil was etched on the substrate by a known method to form a wiring pattern as shown in FIG. Between the pair of 10 mm square copper foils separated by the distance Y shown in Table 1, a wiring pattern with a thickness of 35 μm having a linear copper foil with a width W shown in Table 1 is formed, and printed wiring A plate was made.

次にLEDの実装を行った。非接触ジェットディスペンサ(武蔵野エンジニアリング社製:ジェットマスター)を用いて、1.8mgのクリームはんだ(千住金属工業社製:エコソルダーペーストS70G)を、線状の銅箔の中央部(図8の+印)に供給した。   Next, the LED was mounted. Using a non-contact jet dispenser (Musashino Engineering Co., Ltd .: Jet Master), 1.8 mg of cream solder (Senju Metal Industry Co., Ltd .: Eco Solder Paste S70G) was added to the center of the linear copper foil (+ in FIG. 8). ).

次に、マウンター(奥原電気社製:卓上マウンター)を用いてクリームはんだ上に、LED素子(Samsung社製:5630)の端子を載置した。このとき、配線パターンの片方の幅方向端部側にクリームはんだが偏るように、端子をはんだに対して押しつけて載置した。配線パターン上の端子部分は0.4mm×1.3mm×0.25mm(奥行き×幅×高さ)であった。端子からはんだを偏らせた方向の幅方向端部から端子までの最短距離Dは1.6mmに固定した。次に、波長が920nmの半導体レーザー(浜松ホトニクス社製:LD照射装置15Wタイプ)を用いて、レーザー出力を12.5Wに調節し、基板表面における照射径を0.4mmに調整し、プリント配線板の裏面側からはんだに向けて、はんだが溶融するまでレーザー光を照射してはんだ付けをした。   Next, the terminal of the LED element (Samsung: 5630) was mounted on the cream solder using a mounter (Okuhara Electric Co., Ltd .: tabletop mounter). At this time, the terminal was pressed against the solder and placed so that the cream solder was biased toward one side in the width direction of the wiring pattern. The terminal portion on the wiring pattern was 0.4 mm × 1.3 mm × 0.25 mm (depth × width × height). The shortest distance D from the end in the width direction in the direction in which the solder was biased from the terminal to the terminal was fixed at 1.6 mm. Next, using a semiconductor laser with a wavelength of 920 nm (manufactured by Hamamatsu Photonics: LD irradiation device 15W type), the laser output is adjusted to 12.5 W, the irradiation diameter on the substrate surface is adjusted to 0.4 mm, and printed wiring Soldering was performed by irradiating laser light from the back side of the plate toward the solder until the solder melted.

(評価)
実施例および比較例において、基板ダメージを評価した。基板に25μm以上の損傷がある場合は×、無い場合は○として表1に記載した。端子の、配線パターンの延在方向の幅の中央から、配線パターンの延在方向両側の2mmの範囲内(ランド部)で、配線パターンを2mmとした場合は基板ダメージがなかったが、ランド部に幅2mm超えの部分がある場合は、基板ダメージが発生した。なお、いずれの場合もはんだボールの残存やフィレット形成不良はなかった。
(Evaluation)
In Examples and Comparative Examples, substrate damage was evaluated. When the substrate has a damage of 25 μm or more, it is shown in Table 1 as x, and when there is no damage, it is shown as ◯. There was no substrate damage when the wiring pattern was 2 mm within the range of 2 mm (land part) on both sides of the wiring pattern extending direction from the center of the width of the terminal in the extending direction of the wiring pattern. When there was a part exceeding 2 mm in width, substrate damage occurred. In either case, there was no remaining solder balls or defective fillet formation.

<実験例2:フィレット形状・はんだボール残存評価>
(試料の作成)
融点が255℃のPETからなる、50μmの厚みであり、可撓性を有する基板(三菱樹脂社製:W400)を用いた。まず、基板上に、公知の方法により銅箔をエッチングして、長さが100mmで幅が表2の、厚みが35μmの銅箔からなる配線パターンを形成し、プリント配線板を作製した。
<Experimental example 2: Evaluation of fillet shape and solder ball remaining>
(Sample preparation)
A flexible substrate made of PET having a melting point of 255 ° C. and having a thickness of 50 μm (Mitsubishi Resin Co., Ltd .: W400) was used. First, a copper foil was etched on a substrate by a known method to form a wiring pattern made of a copper foil having a length of 100 mm, a width of Table 2 and a thickness of 35 μm, and a printed wiring board was produced.

次にLEDの実装を行った。プリント配線板上の配線パターンの上に非接触ジェットディスペンサ(武蔵野エンジニアリング社製:ジェットマスター)を用いて、1.8mgのクリームはんだ(千住金属工業社製:エコソルダーペーストS70G)を供給した。   Next, the LED was mounted. 1.8 mg of cream solder (Senju Metal Industry Co., Ltd .: Eco Solder Paste S70G) was supplied onto the wiring pattern on the printed wiring board using a non-contact jet dispenser (Musano Engineering Co., Ltd .: Jet Master).

次に、マウンター(奥原電気社製:卓上マウンター)を用いてクリームはんだ上に、LED素子(Samsung社製:5630)の端子を載置した。このとき、配線パターンの片方の幅方向端部側にクリームはんだが偏るように、端子をはんだに対して押しつけて載置した。配線パターン上の端子部分は0.4mm×1.3mm×0.25mm(奥行き×幅×高さ)であった。端子からはんだを偏らせた方向の幅方向端部から端子までの最短距離Dはそれぞれ表2に記載したとおりである。次に、波長が920nmの半導体レーザー(浜松ホトニクス社製:LD照射装置15Wタイプ)を用いて、レーザー出力を12.5Wに調節し、基板表面における照射径を0.4mmに調整し、プリント配線板の裏面側からはんだに向けて、はんだが溶融するまでレーザー光を照射してはんだ付けをした。   Next, the terminal of the LED element (Samsung: 5630) was mounted on the cream solder using a mounter (Okuhara Electric Co., Ltd .: tabletop mounter). At this time, the terminal was pressed against the solder and placed so that the cream solder was biased toward one side in the width direction of the wiring pattern. The terminal portion on the wiring pattern was 0.4 mm × 1.3 mm × 0.25 mm (depth × width × height). The shortest distances D from the terminals in the width direction in the direction in which the solder is biased from the terminals to the terminals are as described in Table 2, respectively. Next, using a semiconductor laser with a wavelength of 920 nm (manufactured by Hamamatsu Photonics: LD irradiation device 15W type), the laser output is adjusted to 12.5 W, the irradiation diameter on the substrate surface is adjusted to 0.4 mm, and printed wiring Soldering was performed by irradiating laser light from the back side of the plate toward the solder until the solder melted.

(評価)
フィレット形状を目視および接触角計(協和界面科学株式会社製:自動接触角計)により評価した。高さ0.25mmの端子側面のほぼ全体にフィレットが接触しており、かつ、接触角が45°未満である場合は○、それ以外は×として表2に示す。また、はんだボールの残存の有無を、顕微鏡観察により評価した結果を表2に示す。さらに、基板上の25μm以上の損傷の有無を表2に示す。
(Evaluation)
The fillet shape was evaluated visually and with a contact angle meter (manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd .: automatic contact angle meter). Table 2 shows the case where the fillet is in contact with almost the entire side surface of the terminal having a height of 0.25 mm and the contact angle is less than 45 °, and “X” otherwise. Table 2 shows the results of microscopic observation of the presence or absence of remaining solder balls. Further, Table 2 shows the presence or absence of damage of 25 μm or more on the substrate.

距離Dが0.5mm〜1.6mmである場合は、フィレット形状が良好であり、また、はんだボールの残存も無かった。距離Dが1.85mm以上の場合は、はんだの一部が易加熱圏外まで流れ、はんだボールが残存した。これに関連して、フィレット形状は図7(B)のような、長期接続信頼性の低い形状となった。距離Dが0.4mmの場合は、はんだボールの残存はなかったが、フィレットの接触角が立ち、フィレット形状は図7(C)のような、長期接続信頼性の低い形状となった。なお、配線パターンの幅Wが2mm以下の場合には、基板ダメージがなかった。   When the distance D was 0.5 mm to 1.6 mm, the fillet shape was good, and no solder balls remained. When the distance D was 1.85 mm or more, part of the solder flowed out of the easy heating zone, and the solder balls remained. In this connection, the fillet shape has a low long-term connection reliability as shown in FIG. When the distance D was 0.4 mm, no solder balls remained, but the fillet contact angle stood up and the fillet shape became a shape with low long-term connection reliability as shown in FIG. When the width W of the wiring pattern was 2 mm or less, there was no substrate damage.

<実験例3:分岐回路幅評価>
(試料の作成)
融点が255℃のPETからなる、50μmの厚みであり、可撓性を有する基板(三菱樹脂社製:W400)を用いた。まず、基板上に、公知の方法により銅箔をエッチングして、幅Wが2mmの銅箔の配線パターンを有し、配線パターンの延在方向に対して垂直の方向に、ランド部における片方の幅方向端部から回路が分岐し、この回路の分岐位置での幅を0.9mmとした、図6の形状で、厚みが35μmの配線パターンを形成し、プリント配線板を作製した。
<Experimental example 3: Branch circuit width evaluation>
(Sample preparation)
A flexible substrate made of PET having a melting point of 255 ° C. and having a thickness of 50 μm (Mitsubishi Resin Co., Ltd .: W400) was used. First, the copper foil is etched on the substrate by a known method to have a copper foil wiring pattern having a width W of 2 mm, and one of the land portions is perpendicular to the extending direction of the wiring pattern. A circuit was branched from the end in the width direction, a wiring pattern having a thickness of 35 μm was formed in the shape of FIG. 6 with a width at the branching position of the circuit being 0.9 mm, and a printed wiring board was manufactured.

次にLEDの実装を行った。プリント配線板上の配線パターンの上に非接触ジェットディスペンサ(武蔵野エンジニアリング社製:ジェットマスター)を用いて、1.8mgのクリームはんだ(千住金属工業社製:エコソルダーペーストS70G)を供給した。   Next, the LED was mounted. 1.8 mg of cream solder (Senju Metal Industry Co., Ltd .: Eco Solder Paste S70G) was supplied onto the wiring pattern on the printed wiring board using a non-contact jet dispenser (Musashino Engineering Co., Ltd .: Jet Master).

次に、マウンター(奥原電気社製:卓上マウンター)を用いてクリームはんだ上に、LED素子(Samsung社製:5630)を載置した。このとき、配線パターンの分岐回路を有する方の幅方向端部側にクリームはんだが偏るように、端子をはんだに対して押しつけて載置した。配線パターン上の端子は0.4mm×1.3mm×0.25mm(奥行き×幅×高さ)であった。また、距離Dは1.6mmとした。次に、波長が920nmの半導体レーザー(浜松ホトニクス社製:LD照射装置15Wタイプ)を用いて、レーザー出力を12.5Wに調節し、基板表面における照射径を0.4mmに調整し、プリント配線板の裏面側からはんだに向けてレーザー光を0.5秒間、1回照射してはんだ付けをした。   Next, an LED element (Samsung: 5630) was placed on the cream solder using a mounter (Okuhara Electric Co., Ltd .: tabletop mounter). At this time, the terminal was pressed against the solder so that the cream solder was biased toward the end in the width direction having the branch circuit of the wiring pattern. The terminals on the wiring pattern were 0.4 mm × 1.3 mm × 0.25 mm (depth × width × height). The distance D was 1.6 mm. Next, using a semiconductor laser with a wavelength of 920 nm (manufactured by Hamamatsu Photonics: LD irradiation device 15W type), the laser output is adjusted to 12.5 W, the irradiation diameter on the substrate surface is adjusted to 0.4 mm, and printed wiring Soldering was performed by irradiating a laser beam once for 0.5 seconds toward the solder from the back side of the plate.

(評価)
はんだボールの残存の有無は顕微鏡観察により評価した。はんだは分岐した回路へ流出せず、はんだボールの残存なく、長期接続信頼性を十分確保できる形状のフィレットではんだ付けできた。基板ダメージもなかった。
(Evaluation)
The presence or absence of remaining solder balls was evaluated by microscopic observation. The solder did not flow out to the branched circuit, the solder balls did not remain, and the solder could be soldered with a fillet with a shape that could ensure long-term connection reliability. There was no substrate damage.

本発明によれば、PETやPENなどの融点の低い基板を用いたプリント配線板に、基板裏面から近赤外レーザー光を照射して電子素子を実装した場合に、基板の損傷、はんだボールの残存、およびフィレット形成不良のいずれも抑制することが可能な、電子部品の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, when an electronic device is mounted on a printed wiring board using a substrate having a low melting point such as PET or PEN by irradiating near-infrared laser light from the back surface of the substrate, damage to the substrate, It is possible to provide a method for manufacturing an electronic component capable of suppressing both remaining and defective fillet formation.

100 電子部品の製造装置
102 供給装置
104 はんだ
106 載置装置
108 電子素子
110 レーザー
112 電子部品
114 検査装置
116 ライン
118 リール
120 リール
122 プリント配線板
122A プリント配線板の裏面
124 基板
126 配線パターン
126A ランド部
128 端子
128A 端子の幅の中央
130 片方の幅方向端部
132 分岐した回路
134 回路の分岐位置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Electronic component manufacturing apparatus 102 Supply apparatus 104 Solder 106 Mounting apparatus 108 Electronic element 110 Laser 112 Electronic component 114 Inspection apparatus 116 Line 118 Reel 120 Reel 122 Printed wiring board 122A Back surface of printed wiring board 124 Substrate 126 Wiring pattern 126A Land part 128 terminal 128A terminal width center 130 one width direction end 132 branched circuit 134 circuit branch position

Claims (5)

融点が280℃以下の樹脂からなる基板と、該基板上の配線パターンと、を有するプリント配線板に電子素子を実装して電子部品とする電子部品の製造方法であって、
前記配線パターンの上にはんだを供給する工程と、
前記はんだ上に、前記電子素子の端子を載置する載置工程と、
前記プリント配線板の裏面側から前記はんだに向けて、近赤外レーザー光を照射して、前記はんだを融解させ、前記電子素子を前記プリント配線板にはんだ付けする工程と、
を有し、
前記載置工程では、
前記端子の、前記配線パターンの延在方向の幅の中央から、前記配線パターンの延在方向両側の少なくとも2mmの範囲内で、前記配線パターンを2mm以下の幅としたランド部を設け、
前記ランド部上における、前記配線パターンの片方の幅方向端部から前記端子までの最短距離を0.5mm〜1.6mmとすることを特徴とする電子部品の製造方法。
An electronic component manufacturing method for mounting an electronic element on a printed wiring board having a substrate made of a resin having a melting point of 280 ° C. or lower and a wiring pattern on the substrate,
Supplying solder onto the wiring pattern;
A placement step of placing the terminals of the electronic elements on the solder;
To the solder from the back side of the printed wiring board, irradiating near infrared laser light, melting the solder, and soldering the electronic element to the printed wiring board;
Have
In the previous placement process,
From the center of the width of the terminal in the extending direction of the wiring pattern, within a range of at least 2 mm on both sides of the extending direction of the wiring pattern, a land portion having a width of 2 mm or less is provided for the wiring pattern.
The method of manufacturing an electronic component, wherein a shortest distance from one end in the width direction of the wiring pattern to the terminal on the land portion is set to 0.5 mm to 1.6 mm.
前記載置工程では、
前記片方の幅方向端部側に前記はんだが偏るように、前記端子を前記はんだに対して押しつけて載置する、請求項1に記載の電子部品の製造方法。
In the previous placement process,
The method of manufacturing an electronic component according to claim 1, wherein the terminal is pressed against and placed on the solder so that the solder is biased toward the one end in the width direction.
前記載置工程において、
前記配線パターンの延在方向に対して垂直の方向に沿って、前記ランド部における前記片方の幅方向端部から回路が分岐し、
前記回路の、分岐位置での幅を1mm以下とする、請求項1または2に記載の電子部品の製造方法。
In the previous placement process,
A circuit branches from one end in the width direction of the land portion along a direction perpendicular to the extending direction of the wiring pattern,
The method for manufacturing an electronic component according to claim 1, wherein a width of the circuit at a branch position is 1 mm or less.
前記基板は、長尺、かつ、可撓性である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法。   The method of manufacturing an electronic component according to claim 1, wherein the substrate is long and flexible. 複数の前記電子素子を、前記基板の長手方向に対して垂直の方向に沿って、各素子の2つの端子が並ぶように実装する、請求項4に記載の電子部品の製造方法。   5. The method of manufacturing an electronic component according to claim 4, wherein the plurality of electronic elements are mounted such that two terminals of each element are aligned along a direction perpendicular to a longitudinal direction of the substrate.
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