JP2011254034A - Flow soldering method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flow soldering method capable of soldering a plurality of inserting and mounting electronic components having different thermal capacity and heat resistance, without losing characteristics, and with junction quality being assured.SOLUTION: The flow soldering method includes a tolerable range specification step for specifying a tolerable range of soldering condition based on solder-wet characteristic in a through hole as well as a temperature of a body part of an inserting and mounting electronic component, available from a combination of kind of a circuit board; thermal capacity and heat resistance of an inserting and mounting electronic component; kind of used solder; and soldering condition, and further a correlationship acquiring step for acquiring a correlationship between the thermal capacity and the tolerable range of soldering condition. It also includes a soldering condition deciding step for deciding a soldering condition from the correlationship.

Description

この発明は、電子機器の組立において全般的に利用される技術であって、回路基板あるいはモジュール(マルチチップモジュール)等に挿入実装電子部品(IMD:Insertion Mount Device)や表面実装電子部品(SMD:Surface Mount Device)を直接実装するためのフローはんだ付け方法に関する。 The present invention is a technique that is generally used in assembling electronic equipment, and is mounted on a circuit board or a module (multi-chip module) or the like, and is mounted and mounted electronic component (IMD) or surface mounted electronic component (SMD). The present invention relates to a flow soldering method for directly mounting (Surface Mount Device).

回路基板に電子部品を実装する方法としては、フローはんだ付け方法やリフローはんだ付け方法などの幾つかの方法が実用されている。
ランドおよびスルーホールを有する回路基板に、リードを有する挿入実装電子部品を実装する場合には、一般的にフローはんだ付け方法が用いられることが多い。この方法では、挿入実装電子部品(以下において厳密性を要しない場合には「電子部品」と略称する)が回路基板のスルーホールにそのリードを挿入された状態で回路基板に配置され、この状態の回路基板の下面が噴流はんだに接触させられ、スルーホールとリードの間に濡れ上がってきたはんだによって、リードが回路基板にはんだ付けされる。
図4は、不図示のはんだ槽から噴流ノズル2へ送られて上方へ噴出している噴流はんだ3が回路基板であるプリント基板1の下面(図4ではB面)11に接触している状態を示している。図4にはプリント基板1に配置された電子部品は示されていないが、実際には、そのリードがプリント基板1の上面(図4ではF面)12から下方に向けてスルーホールに挿入されている。
As a method for mounting an electronic component on a circuit board, several methods such as a flow soldering method and a reflow soldering method have been put into practical use.
When mounting an insertion mounting electronic component having a lead on a circuit board having lands and through holes, a flow soldering method is generally used in many cases. In this method, an insertion-mounted electronic component (hereinafter abbreviated as “electronic component” if no strictness is required) is placed on the circuit board with the leads inserted into the through holes of the circuit board. The lower surface of the circuit board is brought into contact with the jet solder, and the lead is soldered to the circuit board by the solder wetted between the through hole and the lead.
FIG. 4 shows a state in which the jet solder 3 sent from the solder tank (not shown) to the jet nozzle 2 and ejected upward is in contact with the lower surface (B surface in FIG. 4) 11 of the printed circuit board 1 as a circuit board. Is shown. Although the electronic components arranged on the printed circuit board 1 are not shown in FIG. 4, actually, the lead is inserted into the through hole from the upper surface (F surface in FIG. 4) 12 downward. ing.

フローはんだ付けにおいては、図5に示すような温度プロファイルではんだ付けが実行される。図5の場合は、2つの噴流ノズルが2段階に配置されている場合であって、プリント基板およびこれに実装される電子部品は、予熱加熱時にはプリント基板のB面側より加熱され、2段階の噴流はんだとの接触によってはんだ付けされ、自然放熱で冷却される。噴流ノズルが2段階に配置されるのは、十分なはんだの濡れ上がりを確保するのに加えて、はんだブリッジなどのトラブルを低減するのが目的である。噴流ノズルが1段階の場合も実用されている。  In flow soldering, soldering is performed with a temperature profile as shown in FIG. In the case of FIG. 5, the two jet nozzles are arranged in two stages, and the printed circuit board and the electronic components mounted thereon are heated from the B surface side of the printed circuit board during the preheating heating, and the two stages. It is soldered by contact with the jet solder and cooled by natural heat dissipation. The reason why the jet nozzles are arranged in two stages is not only to ensure sufficient solder wetting but also to reduce problems such as solder bridges. It is also practical when the jet nozzle has one stage.

上記のプロセスにおいては、プリント基板のB面は、予備加熱や噴流はんだとの接触で直接に加熱され、常にプリント基板のF面より温度が高くなっている。予備加熱では、B面の温度もはんだの融点以下に設定されている。B面ピーク温度は接触する噴流はんだの温度になる。F面ピーク温度は実装される電子部品の耐熱温度以下に設定されている。
回路基板に実装される電子部品には多くの種類があり、電子機器に使用される回路基板にも熱容量や耐熱温度の異なる複数の電子部品が実装されることが一般的である。また、回路基板にも、材質や厚さなどの違いによって多くの種類があり、配置される部品の種類や数と配置位置なども多種多様である。そのため、これらの組み合わせによって、同じはんだ付け条件でフローはんだ付けを実行しても、スルーホール内でのはんだの濡れ上がり状態に差異が現われる。図6は、この状態をモデル的に示したスルーホール部の断面図である。なお、図においては、電子部品のリードが図示されていないが、実際にはスルーホール内をリードが貫通している。
In the above process, the B surface of the printed circuit board is directly heated by preheating or contact with jet solder, and the temperature is always higher than the F surface of the printed circuit board. In the preheating, the temperature of the B surface is also set below the melting point of the solder. The B surface peak temperature is the temperature of the jet solder that comes into contact. The F-plane peak temperature is set below the heat resistance temperature of the electronic component to be mounted.
There are many types of electronic components mounted on a circuit board, and a plurality of electronic components having different heat capacities and heat-resistant temperatures are generally mounted on circuit boards used in electronic devices. In addition, there are many types of circuit boards depending on differences in materials, thicknesses, and the like, and there are a wide variety of types and number of components to be arranged and arrangement positions. For this reason, even if flow soldering is performed under the same soldering conditions, a difference appears in the wet-up state of the solder in the through hole. FIG. 6 is a cross-sectional view of the through hole portion showing this state as a model. In the figure, the lead of the electronic component is not shown, but the lead actually passes through the through hole.

はんだ付け工程においては、先ず、B面ランド14および電子部品のリードの先端がはんだ4で濡れ、次いで、スルーホール13内をはんだ4が濡れ上がり、場合によっては、F面ランド15まではんだが塗れ拡がる。スルーホール13内でのはんだの濡れ上がり率については、IEC規格があり、スルーホール13の高さの75%以上に濡れ上がっている状態を合格とし、それ未満を不合格としている。図6(a)は、はんだの濡れ上がり率75%未満の不合格状態を、図6(b)は、はんだの濡れ上がり率75%以上の合格状態を、図6(c)は、F面ランド15にまではんだが拡がっているはんだの濡れ上がり率100%以上の合格状態を、示している。濡れ上がり率は、外観観察やX線観察、断面観察により評価される。
上述したように、回路基板およびこれに実装される電子部品にはいろんな種類があるから、同じフローはんだ付け条件ではんだ付けしても、はんだの濡れ上がり状態が合格基準を満たすものもあれば満たさないものもあり、全ての電子部品で十分なはんだの濡れ上がり率を確保しようとすると、耐熱条件を満たさないこともある。
In the soldering process, first, the B-side land 14 and the tip of the electronic component lead are wetted by the solder 4, and then the solder 4 gets wet in the through hole 13, and in some cases, the solder is applied to the F-side land 15. spread. Regarding the solder wetting rate in the through-hole 13, there is an IEC standard, and a state where it is wetted to 75% or more of the height of the through-hole 13 is regarded as acceptable, and less than that is regarded as unacceptable. 6 (a) shows a rejected state with a solder wetting rate of less than 75%, FIG. 6 (b) shows a passing state with a solder wetting rate of 75% or more, and FIG. The solder has spread to the land 15 and shows a passing state with a solder wetting rate of 100% or more. The wetting rate is evaluated by appearance observation, X-ray observation, and cross-sectional observation.
As described above, since there are various types of circuit boards and electronic components mounted on them, even if soldering is performed under the same flow soldering conditions, some solder wetting conditions satisfy the acceptance criteria. Some of them do not meet the heat-resistant condition when trying to secure a sufficient solder wetting rate for all electronic components.

従来技術においては、はんだの濡れ上がり状態が合格基準を満たさないものに対しては、はんだゴテや光ビーム、熱風、レーザ光などによる局所加熱による修正工程で合格基準を満たすはんだの濡れ上がり状態を確保している。しかしながら、この方法では修正工程が個別作業となって余分の工数を必要とするし、接合品質にもバラツキが生じる。
このような個別の修正工程を必要としないはんだ付け方法として、リフローはんだ付け方法においては、特許文献1に、要求される温度プロフィールを満たす加熱条件を設定する方法が開示されている。これによると、熱容量等が異なる複数の部品の「温度上昇を表す等温線図」を重ね合わせるとともに、「部品のはんだ付け性が問題となる領域」と「部品の耐熱性が問題となる領域」とを除外して、「加熱対象物のすべてが所定の温度プロフィールを満たす加熱条件」を設定する。
In the conventional technology, for solder that does not meet the acceptance criteria, the solder wetting state that satisfies the acceptance criteria in the correction process by local heating with soldering iron, light beam, hot air, laser light, etc. Secured. However, in this method, the correction process is an individual operation and requires extra man-hours, and the joining quality also varies.
As a soldering method that does not require such an individual correction process, Patent Document 1 discloses a method for setting a heating condition that satisfies a required temperature profile in a reflow soldering method. According to this, "Isotherm diagram showing temperature rise" of multiple parts with different heat capacities etc. are overlapped, "Area where solderability of parts is a problem" and "Area where heat resistance of parts is a problem" Are set, and “a heating condition in which all of the objects to be heated satisfy a predetermined temperature profile” is set.

特開2007-93031号公報JP 2007-93031 A

上記の特許文献1に開示されているのは、リフローはんだ付け方法によって熱容量や耐熱性の異なる複数の電子部品を、特性を損なうことなく且つ確実に接合品質を確保してはんだ付けしようとするものである。
一方、この発明の課題は、熱容量や耐熱性の異なるものを含む複数の挿入実装電子部品を同一回路基板に搭載してはんだ付けするフローはんだ付け方法において、電子部品の特性を損なうことなく且つ確実に接合品質を確保してはんだ付けしようとするものである。
The above-mentioned Patent Document 1 is intended to solder a plurality of electronic parts having different heat capacities and heat resistances by using a reflow soldering method without deteriorating the characteristics and surely securing the bonding quality. It is.
On the other hand, an object of the present invention is a flow soldering method for mounting and soldering a plurality of insertion-mounting electronic components including those having different heat capacities and heat resistances on the same circuit board and reliably and without impairing the characteristics of the electronic components. It is intended to ensure soldering quality and solder.

請求項1の発明は、ランドおよびスルーホールを有する回路基板に、リードを有する挿入実装電子部品を実装するのに際して、前記挿入実装電子部品を前記回路基板のスルーホールにそのリードを回路基板の上面側から下面側へ挿入させた状態で配置し、この状態の回路基板の下面を上方へ噴出する溶融はんだに接触させ、回路基板のランドおよびスルーホールとスルーホールに挿入されたリードとをはんだ付けするフローはんだ付け方法であって、前記回路基板の種類と前記挿入実装電子部品の熱容量および耐熱温度と使用はんだの種類とはんだ付け条件との組み合わせによって得られる、スルーホール内のはんだの濡れ上がり特性および挿入実装電子部品の本体部の温度に基づいて、はんだ付け条件の許容範囲を特定する許容範囲特定工程と、この工程で得られたはんだ付け条件の許容範囲を用いて、回路基板の種類およびはんだの種類に対応させて、同じ耐熱温度を有する挿入実装電子部品毎に挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得する相関関係取得工程と、この工程で得られた相関関係に基づいてフローはんだ付けの対象とする回路基板および挿入実装電子部品のはんだ付け条件を決定するはんだ付け条件決定工程と、を有する。 According to the first aspect of the present invention, when an insertion mounting electronic component having a lead is mounted on a circuit board having a land and a through hole, the insertion mounting electronic component is placed in the through hole of the circuit board and the lead is placed on the upper surface of the circuit board. Place the circuit board in the state where it is inserted from the side to the bottom side, and contact the bottom surface of the circuit board in this state with the molten solder ejected upward, and solder the lands and through holes of the circuit board and the leads inserted into the through holes. A soldering method of solder in a through-hole obtained by a combination of the type of the circuit board, the heat capacity and heat-resistant temperature of the insertion mounted electronic component, the type of solder used, and the soldering conditions And the tolerance specification process to identify the tolerance range of the soldering conditions based on the temperature of the body part of the insertion mounted electronic component In addition, using the allowable range of soldering conditions obtained in this process, the heat capacity and solder of the insertion mounted electronic component for each insertion mounted electronic component having the same heat-resistant temperature corresponding to the type of circuit board and the type of solder A correlation acquisition step of acquiring a correlation with the allowable range of the soldering conditions, and determining a soldering condition of the circuit board and insertion mounting electronic component to be subjected to flow soldering based on the correlation obtained in this step And a soldering condition determining step.

挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得し、それに基づいてはんだ付け条件を決定するので、どのような熱容量の挿入実装電子部品に対しても、その相関関係よりはんだ付け条件の許容範囲を把握することができる。
なお、想定される最大と最小の熱容量の挿入実装電子部品を含めて許容範囲特定工程を実行すれば、得られる相関関係の精度がより高くなる。
また、請求項2の発明のように、請求項1に記載のフローはんだ付け方法において、前記はんだ付け条件は、前記回路基板の下面が前記溶融はんだに接触を開始してから接触を終るまでの接合時間であるものとすることができる。
Since the correlation between the heat capacity of insertion-mounted electronic components and the allowable range of soldering conditions is acquired and the soldering conditions are determined based on that, the correlation between the insertion-mounting electronic components of any heat capacity The allowable range of soldering conditions can be grasped.
It should be noted that the accuracy of the obtained correlation will be higher if the allowable range specifying step is executed including the assumed maximum and minimum heat capacity insertion-mounted electronic components.
Further, as in the invention of claim 2, in the flow soldering method according to claim 1, the soldering condition is from when the lower surface of the circuit board starts to contact the molten solder to when the contact ends. It can be the joining time.

請求項1の発明においては、挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得し、それに基づいてはんだ付け条件を決定するので、どのような熱容量の挿入実装電子部品に対しても、その相関関係よりはんだ付け条件の許容範囲を把握することができる。
したがって、この発明によれば、熱容量や耐熱性の異なるものを含む複数の挿入実装電子部品を同一回路基板に搭載してはんだ付けする時にも、電子部品の特性を損なうことなく且つ確実に接合品質を確保してはんだ付けすることができる。このため、はんだゴテなどによる個別の修正工程が不要となり、タクトタイムの改善および生産性の向上が図れる。
また、上記はんだ付け条件としては、例えば請求項2の発明のように回路基板の下面が溶融はんだに接触を開始してから接触を終るまでの接合時間を対象とすることができる。
In the invention of claim 1, since the correlation between the heat capacity of the insertion mounted electronic component and the allowable range of the soldering conditions is obtained and the soldering conditions are determined based on the correlation, On the other hand, the allowable range of the soldering conditions can be grasped from the correlation.
Therefore, according to the present invention, even when a plurality of insertion-mounting electronic components including those having different heat capacities and heat resistances are mounted on the same circuit board and soldered, the quality of the electronic components is not impaired and the bonding quality is ensured. Can be secured and soldered. This eliminates the need for a separate correction process using a soldering iron or the like, thereby improving tact time and improving productivity.
Further, as the soldering condition, for example, as in the invention of claim 2, the joining time from when the lower surface of the circuit board starts to contact the molten solder to when the contact ends can be targeted.

この発明によるフローはんだ付け方法の特徴を説明するための工程図Process drawing for explaining the characteristics of the flow soldering method according to the present invention この発明によるフローはんだ付け方法の実施例を説明するための挿入実装電子部品の熱容量と接合時間の相関関係を示す相関図FIG. 6 is a correlation diagram showing the correlation between the heat capacity of an insertion mounted electronic component and the joining time for explaining an embodiment of the flow soldering method according to the present invention. 図2の相関図を作成するためのデータ取得プロセスを示すフローダイアグラムFlow diagram showing the data acquisition process for creating the correlation diagram in Figure 2 フローはんだ付け方法の主要部を示す概念図Conceptual diagram showing the main parts of the flow soldering method フローはんだ付け方法における温度プロファイルTemperature profile in flow soldering method はんだ濡れ上がり状態の合否判定を説明するためのスルーホール部の断面図Cross-sectional view of the through-hole part for explaining pass / fail judgment of the solder wet-up state

この発明によるフローはんだ付け方法は、ランドおよびスルーホールを有する回路基板に、リードを有する挿入実装電子部品を実装するものであって、挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得し、それに基づいてはんだ付け条件を決定することが特徴であり、図1に示す3つの工程「はんだ付け条件の許容範囲特定工程」と「相関関係取得工程」と「はんだ付け条件決定工程」を有する。
「はんだ付け条件の許容範囲特定工程」では、回路基板の種類と挿入実装電子部品の熱容量および耐熱温度と使用はんだの種類とはんだ付け条件との組み合わせによって得られる、スルーホール内のはんだの濡れ上がり特性および挿入実装電子部品の本体部の温度に基づいて、はんだ付け条件の許容範囲を特定する。「相関関係取得工程」では、前工程で得られたはんだ付け条件の許容範囲を用いて、回路基板の種類およびはんだの種類に対応させて、同じ耐熱温度を有する挿入実装電子部品毎に挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得する。「はんだ付け条件決定工程」では、前工程で得られた相関関係に基づいてフローはんだ付けの対象とする回路基板および挿入実装電子部品のはんだ付け条件を決定する。
熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係が得られているので、その相関関係からどのような熱容量の電子部品に対するはんだ付け条件の許容範囲をも把握することができる。
以下において、実施例を用いて実施の形態を説明する。
According to the flow soldering method of the present invention, an insertion mounting electronic component having a lead is mounted on a circuit board having a land and a through hole, and the correlation between the heat capacity of the insertion mounting electronic component and the allowable range of the soldering conditions. The feature is to acquire the relationship and determine the soldering conditions based on it. The three processes shown in FIG. 1 are “the soldering condition tolerance range specifying process”, “correlation acquiring process” and “soldering condition determination”. Process ".
In the "Soldering condition tolerance process", the solder wetting in the through hole is obtained by the combination of the circuit board type, the heat capacity and heat resistance temperature of the mounted electronic components, the type of solder used, and the soldering conditions. Based on the characteristics and the temperature of the main body of the insertion mounting electronic component, the allowable range of the soldering conditions is specified. In the "correlation acquisition process", using the allowable range of the soldering conditions obtained in the previous process, insertion mounting is performed for each electronic component that has the same heat-resistant temperature, corresponding to the type of circuit board and the type of solder. Obtain the correlation between the heat capacity of the electronic component and the allowable range of the soldering conditions. In the “soldering condition determination step”, the soldering conditions for the circuit board and the insertion mounted electronic component to be subjected to flow soldering are determined based on the correlation obtained in the previous step.
Since the correlation between the heat capacity and the allowable range of the soldering condition is obtained, the allowable range of the soldering condition for the electronic component having any heat capacity can be grasped from the correlation.
In the following, embodiments will be described using examples.

図2は、この発明によるフローはんだ付け方法の実施例を説明するための挿入実装電子部品の熱容量と接合時間の相関関係を示す相関図であり、図3は、図2の相関図を作成するためのデータ取得プロセスを示すフローダイアグラムである。
なお、接合時間は、図5に示すように、プリント基板の下面(図4ではプリント基板1のB面11)が上方に噴出してくる溶融はんだ(図4では噴流はんだ3)に接触を開始してから接触を終るまでの時間である。
まず、「はんだ付け条件の許容範囲特定工程」として、プリント基板に、熱容量がそれぞれ6.8mJ/K、17.2 mJ/Kおよび75.7 mJ/Kで同じ耐熱性を有する3種の挿入実装電子部品を搭載し、錫銀銅系の鉛フリーはんだを用い、噴流はんだ温度250℃で、図5と同様の温度プロフィイルによって、接合時間を短時間から長時間に変化させて、繰り返しフローはんだ付けした。この際、1回のフローはんだ付け毎に、電子部品の本体部の最高温度を測定し、はんだ付け終了後、はんだの濡れ上がり率を評価し、電子部品の特性変化の有無により耐熱性を確認した。
FIG. 2 is a correlation diagram showing the correlation between the heat capacity of the insertion mounted electronic component and the joining time for explaining an embodiment of the flow soldering method according to the present invention, and FIG. 3 creates the correlation diagram of FIG. 2 is a flow diagram showing a data acquisition process for
As shown in FIG. 5, the bonding time starts contact with the molten solder (jet solder 3 in FIG. 4) from which the lower surface of the printed circuit board (B surface 11 of the printed circuit board 1 in FIG. 4) is ejected upward. It is the time from contact to end of contact.
First, as an “acceptable range identification process for soldering conditions”, three types of insertion-mounted electronic components with the same heat resistance are mounted on the printed circuit board with heat capacities of 6.8 mJ / K, 17.2 mJ / K and 75.7 mJ / K, respectively. Then, a tin-silver-copper-based lead-free solder was used, and the flow soldering was repeated by changing the joining time from a short time to a long time using a temperature profile similar to FIG. At this time, the maximum temperature of the main part of the electronic component is measured for each flow soldering, the solder wetting rate is evaluated after the soldering is completed, and the heat resistance is confirmed by the presence or absence of changes in the characteristics of the electronic component. did.

なお、噴流はんだ温度は、図5のB面ピーク温度に相当し、通常、はんだの融点+25℃程度に設定される。
以上のプロセスをまとめると図3のフローダイアグラムとなる。濡れ上がり率が規格を満たした時点で、接合時間の下限値を決定し、本体部の温度が耐熱温度に達した時点または特性変化が現れた時点で、接合時間の上限値を決定する。
図2は、このようにして得られた結果を示したものであり、ハッチング部が許容接合時間範囲を示している。
このような図を耐熱性の異なる挿入実装電子部品毎に作成しておけば、どのような熱容量を有する挿入実装電子部品についても、その許容接合時間を把握することができるので、はんだ接合品質を確保することができる。
この実施例は、はんだ付け条件の内の接合時間に関するものであるが、他のはんだ付け条件に関しても同様の方法で相関関係を取得することができることは言うまでもないであろう。
The jet solder temperature corresponds to the B surface peak temperature in FIG. 5 and is usually set to the melting point of solder + 25 ° C.
The above process is summarized as the flow diagram of FIG. The lower limit value of the joining time is determined when the wetting rate satisfies the standard, and the upper limit value of the joining time is determined when the temperature of the main body reaches the heat-resistant temperature or when a characteristic change appears.
FIG. 2 shows the results obtained as described above, and the hatched portion indicates the allowable joining time range.
If such a diagram is created for each insertion / mounting electronic component with different heat resistance, the allowable bonding time can be ascertained for any mounting / mounting electronic component having any heat capacity. Can be secured.
This embodiment relates to the joining time among the soldering conditions, but it goes without saying that the correlation can be obtained in a similar manner with respect to other soldering conditions.

1 プリント基板
11 B面 12 F面 13 スルーホール
14 B面ランド 15 F面ランド
2 噴流ノズル
3 噴流はんだ
4 はんだ
1 Printed circuit board
11 B side 12 F side 13 Through hole
14 B side land 15 F side land 2 Jet nozzle 3 Jet solder 4 Solder

Claims (2)

ランドおよびスルーホールを有する回路基板に、リードを有する挿入実装電子部品を実装するのに際して、前記挿入実装電子部品を前記回路基板のスルーホールにそのリードを回路基板の上面側から下面側へ挿入させた状態で配置し、この状態の回路基板の下面を上方へ噴出する溶融はんだに接触させ、回路基板のランドおよびスルーホールとスルーホールに挿入されたリードとをはんだ付けするフローはんだ付け方法であって、
前記回路基板の種類と前記挿入実装電子部品の熱容量および耐熱温度と使用はんだの種類とはんだ付け条件との組み合わせによって得られる、スルーホール内のはんだの濡れ上がり特性および挿入実装電子部品の本体部の温度に基づいて、はんだ付け条件の許容範囲を特定する許容範囲特定工程と、
この工程で得られたはんだ付け条件の許容範囲を用いて、回路基板の種類およびはんだの種類に対応させて、同じ耐熱温度を有する挿入実装電子部品毎に挿入実装電子部品の熱容量とはんだ付け条件の許容範囲との相関関係を取得する相関関係取得工程と、
この工程で得られた相関関係に基づいてフローはんだ付けの対象とする回路基板および挿入実装電子部品のはんだ付け条件を決定するはんだ付け条件決定工程と、
を有する、
ことを特徴とするフローはんだ付け方法。
When mounting an insertion mounting electronic component having a lead on a circuit board having a land and a through hole, the insertion mounting electronic component is inserted into the through hole of the circuit board from the upper surface side to the lower surface side of the circuit board. In this flow soldering method, the lower surface of the circuit board in this state is brought into contact with the molten solder ejected upward, and the lands and through holes of the circuit board and the leads inserted into the through holes are soldered. And
The wetting characteristics of the solder in the through hole and the main body of the insertion mounting electronic component obtained by the combination of the type of the circuit board, the heat capacity and heat resistant temperature of the insertion mounting electronic component, the type of solder used and the soldering conditions An acceptable range identifying step for identifying an acceptable range of soldering conditions based on the temperature; and
Using the allowable range of the soldering conditions obtained in this process, the heat capacity and soldering conditions of the insertion mounted electronic components for each insertion mounted electronic component having the same heat resistance temperature corresponding to the type of circuit board and the type of solder A correlation acquisition step of acquiring a correlation with an allowable range of
A soldering condition determining step for determining a soldering condition of the circuit board and the insertion mounting electronic component to be subjected to flow soldering based on the correlation obtained in this step;
Having
A flow soldering method characterized by that.
請求項1に記載のフローはんだ付け方法において、
前記はんだ付け条件は、前記回路基板の下面が前記溶融はんだに接触を開始してから接触を終るまでの接合時間である
ことを特徴とするフローはんだ付け方法。
In the flow soldering method according to claim 1,
The flow soldering method, wherein the soldering condition is a joining time from the start of contact of the lower surface of the circuit board to the molten solder to the end of contact.
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