JP2013172517A - Dc−dcコンバータ - Google Patents

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Abstract

【課題】DC/DCコンバータの入力電圧または出力電圧の変化によらず、ほぼ一定の出力電流レベルで機能するような過電流保護機能を備えたDC−DCコンバータを提供する。
【解決手段】DC−DCコンバータ1において、制御回路11は、スイッチング素子TR1のオンおよびオフを切替えることによって出力電圧Voutを制御する。制御回路11は、さらに、インダクタLを流れるインダクタ電流ILが上限値を超えたときにスイッチング素子TR1をオフ状態にする過電流制御を行なう。上記の上限値は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの差の絶対値が大きいほど大きい。
【選択図】図1

Description

この発明は、DC−DCコンバータに関し、特に、過電流保護機能を有するDC−DCコンバータに関する。
DC−DCコンバータには、インダクタ電流が所定の上限値を超えたときにインダクタに接続されたスイッチ素子をオフする過電流保護(OCP:Over Current Protection)機能が備えられている場合が多い。
特開2002−84742号公報には、インダクタ電流を検出する方法として3種類の方法が記載されている。第1の方法は、DC−DCコンバータの出力部側または入力部側にインダクタ電流検出用の抵抗素子(センス抵抗)を挿入する方法である。第2の方法は、スイッチ素子のオン抵抗をセンス抵抗の代わりに用いる方法である。第3の方法は、インダクタの直流抵抗成分による電圧降下を検知する方法である。
特開2002−84742号公報
ところで、インダクタ電流はスイッチ素子がオン状態のとき次第に増加し、スイッチ素子がオフ状態のとき次第に減少する。したがって、インダクタ電流の平均値(実際の出力電流に等しい)はインダクタ電流の最大値とは異なる。この出力電流値とインダクタ電流の最大値との差は入力電圧および出力電圧に応じて変化する。
一方、上記文献に記載された過電流保護は、インダクタ電流の検出値が上限値に達したとき、すなわち、インダクタ電流の最大値が上限値に達したときに働く。したがって、入力電圧または出力電圧が変化すれば、過電流保護が働く出力電流のレベルが変化するという問題が生じる。
この発明は上記の問題点を考慮してなされたものであって、その目的は、DC/DCコンバータの入力電圧または出力電圧の変化によらず、ほぼ一定の出力電流レベルで機能するような過電流保護機構を備えたDC−DCコンバータを提供することである。
この発明は一局面においてDC−DCコンバータであって、入力電圧が与えられる入力ノードと、接地電圧が与えられる接地ノードと、出力電圧を出力するための出力ノードと、スイッチング素子と、インダクタと、制御回路とを備える。スイッチング素子は、入力ノードまたは接地ノードに一端が接続される。インダクタは、スイッチング素子の他端と接続され、スイッチング素子のオンおよびオフに応じて流れる電流の大きさが変化する。制御回路は、スイッチング素子のオンおよびオフを切替えることによって出力電圧を制御する。制御回路は、さらに、インダクタを流れるインダクタ電流が上限値を超えたときにスイッチング素子をオフ状態にする過電流制御を行なう。上記の上限値は、入力電圧と出力電圧との差の絶対値が大きいほど大きい。
好ましくは、DC−DCコンバータは、スイッチング素子と直列に接続され、スイッチング素子がオン状態のときにスイッチング素子を介してインダクタ電流が流れる抵抗素子をさらに備える。この場合、制御回路は、入力電圧と出力電圧との差の絶対値に応じた大きさを有する上記の上限値に対応する上限電圧を生成する上限電圧生成部と、抵抗素子にかかる電圧と上限電圧とを比較する比較器とを含む。上記のスイッチング素子は、比較器の出力に応じてオフ状態に切替わる。
好ましくは、制御回路は、入力電圧と出力電圧との差の絶対値に応じた大きさを有する上記の上限値に対応する上限電圧を生成する上限電圧生成部と、スイッチング素子のオン電圧と上限電圧とを比較する比較器とを含む。この場合、上記のスイッチング素子は、比較器の出力に応じてオフ状態に切替わる。
好ましくは、制御回路は、出力電圧制御部と論理ゲートとをさらに含む。出力電圧制御部は、インダクタ電流に比例する電圧およびDC−DCコンバータの出力電圧に基づく電流モード制御によってスイッチング素子をオフ状態に切替えるための信号を出力する。もしくは、出力電圧制御部は、DC−DCコンバータの出力電圧に基づく電圧モード制御によってスイッチング素子をオフ状態に切替えるための信号を出力する。論理ゲートは、出力電圧制御部の出力信号および上記の比較器の出力信号の論理演算を行ない、論理演算結果をスイッチング素子をオフ状態にするための信号として出力する。
この発明によれば、DC/DCコンバータの入力電圧または出力電圧の変化によらず、ほぼ一定の出力電流レベルで過電流保護が働くようにできる。
この発明の実施の形態1によるDC−DCコンバータ1の構成を示すブロック図である。 図1の電圧制御電圧源16の構成の一例を示す図である。 図1の電圧制御電圧源16の他の構成例を示す図である。 実施の形態1の比較例として、過電流保護電圧Vocpを一定に固定した場合における図1のDC−DCコンバータ1の各部の信号波形を示す図である。 実施の形態1の場合における図1のDC−DCコンバータ1の各部の信号波形を示す図である。 この発明の実施の形態1の変形例によるDC−DCコンバータ2の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態2によるDC−DCコンバータ3の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態3によるDC−DCコンバータ4の構成を示すブロック図である。 図8のDC−DCコンバータ4の各部の信号波形を示す図である。
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して、その説明を繰返さない。
<実施の形態1>
[DC−DCコンバータ1の構成]
図1は、この発明の実施の形態1によるDC−DCコンバータ1の構成を示すブロック図である。
図1を参照して、DC−DCコンバータ1は、入力ノードND1と、接地ノードND2と、出力ノードND3と、直流電圧変換を行なう変換部10と、制御回路11とを含む。入力ノードND1には入力電圧Vinが与えられ、接地ノードND2には接地電圧GNDが与えられる。出力電圧Voutを出力するための出力ノードND3と接地ノードND2との間には負荷9が接続される。負荷9には出力電流Ioが流れる。
(変換部10の構成)
変換部10は、いわゆる降圧チョッパと呼ばれる回路であり、入力された直流電圧Vinを降圧することによって出力電圧Voutを生成する。変換部10は、スイッチング素子としてのPMOS(Positive-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタTR1と、NMOS(Negative-channel MOS)トランジスタTR2と、インダクタLと、平滑用のコンデンサC1と、インダクタ電流ILの検出用の抵抗素子R1とを含む。
トランジスタTR1,TR2は、この順で入力ノードND1と接地ノードND2との間に直列に接続される。インダクタLは、トランジスタTR1,TR2の接続ノードND4と出力ノードND3との間に接続される。コンデンサC1は、出力ノードND3と接地ノードND2との間に接続される。
トランジスタTR2は、同期整流素子として用いられ、トランジスタTR1がオン状態のときはオフ状態となるように制御回路11によってオン・オフが制御される。トランジスタTR2に代えてダイオードを設けてもよい。この場合、ダイオードのカソードが接続ノードND4に接続され、ダイオードのアノードが接地ノードND2に接続される。
抵抗素子R1は、トランジスタTR1のソースと入力ノードND1との間に挿入される。抵抗素子R1は、トランジスタTR1がオン状態のときにインダクタLに流れるインダクタ電流ILを検出するために設けられる。
(制御回路11の構成:電流モード制御)
制御回路11は、インダクタLを流れるインダクタ電流ILに比例した電圧と、スロープ補償回路14が生成するスロープ電圧との合計電圧(Vsumと記載する)を生成する。さらに制御回路11は、出力電圧Voutに比例した電圧と所定の参照電圧Vrefとの差に基づく誤差電圧Veを生成し、誤差電圧Veと合計電圧Vsumとの比較によってトランジスタTR1をオフ状態に切替える電流モード制御を行なう。具体的に、制御回路11は、誤差アンプEAMPと、スロープ補償回路14と、加算器13と、第1の比較器CMP1と、ORゲート15と、RSフリップフロップFFと、ドライブ回路DRVとを含む。
誤差アンプEAMPは、+端子に参照電圧Vrefを受け、−端子に出力電圧Voutまたは出力電圧Voutを抵抗分圧した電圧を受け、これらの差を増幅した誤差電圧Veを比較器CMP1に出力する。誤差アンプEAMPの後段にフィードバック補償回路(位相補償回路)を設け、フィードバック補償回路の出力を誤差電圧Veとして比較器CMP1に出力するようにしてもよい。
スロープ補償回路14は、トランジスタTR1がオン状態に切り替わったとき(反転出力/Qがローレベル(Lレベル)になったとき)から徐々に増加し、トランジスタTR1がオフ状態に切替わったときに0にリセットされるスロープ電圧を生成する。生成したスロープ電圧は加算器13に出力される。電流モード制御では、インダクタの通電率が50%を超えるとインダクタ電流が不安定になることが知られており、スロープ電圧はその安定化のために用いられる。
加算器13は、抵抗素子R1にかかる電圧(入力ノードND1の電位Vinと、抵抗素子R1とトランジスタTR1との接続ノードND5の電位との電位差)と、スロープ電圧との合計電圧Vsumを比較器CMP1に出力する。抵抗素子R1にかかる電圧は、インダクタ電流ILに比例する。
比較器CMP1は、合計電圧Vsumと誤差電圧Veとを比較し、合計電圧Vsumが誤差電圧Veを超えたときハイレベル(Hレベル)となる信号を出力する。
上記の誤差アンプEAMP、スロープ補償回路14、加算器13、および比較器CMP1によって、出力電圧制御部50が構成される。出力電圧制御部50は、インダクタ電流ILに比例する電圧(抵抗素子R1にかかる電圧)とDC−DCコンバータ1の出力電圧Voutとに基づく電流モード制御によって、トランジスタTR1をオフ状態に切替えるための信号を生成してORゲート15に出力する。
RSフリップフロップFFは、セット端子Sにクロック信号CLKを受け、リセット端子RにORゲート15を介して第1の比較器CMP1の出力を受ける。フリップフロップFFは、クロック信号CLKがHレベルに切替わったときに(クロック信号CLKの立上がりエッジで)セット状態になり、第1の比較器CMP1の出力がHレベルに切替わったときにリセット状態になる。
ドライブ回路DRVは、フリップフロップFFの反転出力/Qを増幅した信号を、トランジスタTR1,TR2の各ゲートに出力する。したがって、フリップフロップFFがセット状態のとき、トランジスタTR1がオン状態であり、トランジスタTR2がオフ状態である。フリップフロップFFがリセット状態のとき、トランジスタTR1がオフ状態であり、トランジスタTR2がオン状態である。
なお、トランジスタTR1,TR2を介した貫通電流を防止するために、フリップフロップFFがセット状態からリセット状態に切替わったときには、ドライブ回路DRVはトランジスタTR1を先にオフし、その次にトランジスタTR2をオンするように制御することが望ましい。フリップフロップFFがリセット状態からセット状態に切替わったときには、ドライブ回路DRVは、トランジスタTR2を先にオフし、その次にトランジスタTR1をオンするように制御することが望ましい。
(制御回路11の構成:過電流保護)
制御回路11は、さらに、過電流保護(OCP:Over Current Protection)のための構成として、電圧制御電圧源16と第2の比較器CMP2とを含む。
電圧制御電圧源16は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電圧差の絶対値に応じた過電流保護電圧Vocpを生成する。入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電圧差の絶対値が大きいほど過電流保護電圧Vocpは大きくなる。
第2の比較器CMP2は、過電流保護のための基準電位(Vin−Vocp)と、抵抗素子R1とトランジスタTR1の接続ノードND5の電位とを比較する。比較器CMP2は、基準電位(Vin−Vocp)よりも接続ノードND5の電位が小さくなったとき、すなわち、抵抗素子R1にかかる電圧(インダクタ電流ILに抵抗素子R1の抵抗値を乗算した値)が過電流保護電圧Vocpを超えたときHレベルの信号を出力する。
第2の比較器CMP2の出力は、ORゲート15を介してフリップフロップFFのリセット端子Rに入力される。ORゲート15は、前述の出力電圧制御部50の出力(すなわち、第1の比較器CMP1の出力)と第2の比較器CMP2の出力との論理和を演算し、論理演算結果をフリップフロップFFのリセット端子Rに出力する。したがって、抵抗素子R1にかかる電圧が過電流保護電圧Vocpを超えたときフリップフロップFFがリセットされ、トランジスタTR1がオフに切替わる。
[電圧制御電圧源16の構成例]
図2は、図1の電圧制御電圧源16の構成の一例を示す図である。図2を参照して、電圧制御電圧源16は、トランスコンダクタンスアンプ(Transconductance Amplifier)TAと、抵抗素子21とを含む。
トランスコンダクタンスアンプTAは、+端子に出力電圧Voutを受け、−端子に入力電圧Vinを受ける。+端子と−端子との差電圧に比例した電流Idを出力する。−端子に入力された電圧が+端子に入力された電圧よりも大きい場合には、トランスコンダクタンスアンプTAは、電流Idを吸収する電流シンクとして機能する。
抵抗素子21は、トランスコンダクタンスアンプTAの出力ノードと入力ノードND1(入力電圧Vin)との間に接続される。電流Idによって抵抗素子21に生じた電圧が過電流保護電圧Vocpに相当する。
図3は、図1の電圧制御電圧源16の他の構成例を示す図である。図3に示す電圧制御電圧源16は、接地電圧GNDを基準とした差動アンプAMP1の出力を、入力電圧Vinを基準とした電圧に変換して出力する回路である。具体的に、図3を参照して、電圧制御電圧源16は、差動アンプAMP1と、抵抗素子23,24と、NPN型のバイポーラトランジスタ26と、PNP型のバイポーラトランジスタ25と、定電流源22とを含む。
差動アンプAMP1の+端子には入力電圧Vinが入力され、差動アンプAMP1の−端子に出力電圧Voutが入力される。抵抗素子23、バイポーラトランジスタ26、および抵抗素子24は、この順で入力ノードND1と接地ノードND2との間に直列に接続される。定電流源22およびバイポーラトランジスタ25は、この順で入力ノードND1と接地ノードND2との間に直列に接続される。バイポーラトランジスタ26のベースが、定電流源22とバイポーラトランジスタ25との接続ノード(バイポーラトランジスタ25のエミッタ)に接続される。バイポーラトランジスタ25のベースには、差動アンプAMP1の出力電圧(Vin−Voutを増幅した電圧)が入力される。
上記構成の電圧制御電圧源16によれば、差動アンプAMP1の出力電圧(すなわち、バイポーラトランジスタ25のベース電圧)が増加すると、バイポーラトランジスタ25のコレクタ電流が減少するので、バイポーラトランジスタ26のベース電流が増加する。この結果、バイポーラトランジスタ26のコレクタ電流(すなわち、抵抗素子23を流れる電流)が増加するので、抵抗素子23にかかる電圧が増加する。抵抗素子23にかかる電圧(すなわち、入力ノードND1の電位Vinとトランジスタ26のコレクタ電位との電位差)が、比較器CMP2に入力される。
[実施の形態1の効果]
次に、電圧制御電圧源16を設けることによって、過電流保護電圧Vocpの大きさを可変とした効果について説明する。
図4は、実施の形態1の比較例として、過電流保護電圧Vocpを一定に固定した場合における図1のDC−DCコンバータ1の各部の信号波形を示す図である。図4のグラフは、上から順に、図1のフリップフロップFFに入力されるクロック信号CLKの波形、インダクタ電流ILの波形、および比較器CMP2の−端子の入力電位(ノードND5の電位)を示す。
ここで、図4(A)と図4(B)とでは、入力電圧Vinの大きさが異なる。すなわち、図4(A)は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差が比較的小さい場合(たとえば、Vin=4V、Vout=3V)を示す。図4(B)は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差が比較的大きい場合(たとえば、Vin=12V、Vout=3V)を示す。
さらに、図4(A)、図4(B)に示す比較例の場合には、過電流保護電圧Vocpの大きさが入力電圧Vin、出力電圧Voutによらず一定であるとし、抵抗素子R1の電圧が過電流保護電圧Vocpを超えたときに、フリップフロップFFがリセットされるとする。
図4を参照して、トランジスタTR1がオンの期間(時刻t1〜t2、時刻t3〜t4、時刻t11〜t12、時刻t13〜t14)には、インダクタ電流ILが増加する。降圧チョッパの場合、これらの期間におけるインダクタ電流ILの増加率ΔIL/Δtは、インダクタLのインダクタンス値をLoとすると、
ΔIL/Δt=(Vin−Vout)/Lo …(1)
と表わされる。
トランジスタTR1がオフの期間(時刻t2〜t3、時刻t4〜t5、時刻t12〜t13、時刻t14〜t15)には、インダクタ電流ILが減少する。降圧チョッパの場合、これらの期間におけるインダクタ電流ILの増加率ΔIL/Δtは、インダクタLのインダクタンス値をLoとすると、
ΔIL/Δt=−Vout/Lo …(2)
と表わされる。
したがって、図4(A),(B)に示すように、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差が大きいほど(すなわち、図4(B)のほうが)インダクタ電流ILの最大値と最小値との差が広がる。この結果、図1の負荷9に供給される実際の出力電流Ioは、図4(A)のほうが大きくなり、図4(B)のほうが小さくなる。このことは、実質的に過電流保護が働く電流レベルが図4(A)と図4(B)とで異なっていることを意味している。
図5は、実施の形態1の場合における図1のDC−DCコンバータ1の各部の信号波形を示す図である。図4の場合と異なる点は、過電流保護電圧Vocpの大きさが入力電圧Vin、出力電圧Voutによって変化する点である。具体的には、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの差が比較的小さい図5(A)の場合の過電流保護電圧Vocp1は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの差が比較的大きい図5(B)の場合の過電流保護電圧Vocp2に比べて小さい。図5のその他の点は、図4(A)の場合とで同じである。
これにより、図5(A)の場合の過電流保護電圧Vocp1対応する過電流保護の基準電流レベルIocp1は、図5(B)の場合の過電流保護電圧Vocp2に対応する過電流保護の基準電流レベルIocp1よりも低くなる。この結果、実際に負荷に供給される出力電流Ioは図5(A)の場合と図5(B)の場合とでほぼ同じになる。すなわち、実質的な過電流保護が働く電流レベルが図5(A)と図5(B)とでほぼ同じになる。
<実施の形態1の変形例>
図6は、この発明の実施の形態1の変形例によるDC−DCコンバータ2の構成を示すブロック図である。
図6のDC−DCコンバータ2の変換部10Aは、抵抗素子R1を含んでいない点で図1のDC−DCコンバータ1の変換部10と異なる。加算器13の一方の入力ノードは、トランジスタTR1とインダクタLとの接続ノードND4と接続される。したがって、図6に示すDC−DCコンバータ2の場合には、インダクタ電流ILは、トランジスタTR1のオン抵抗を利用して(トランジスタTR1のオン電圧として)検出される。図6のその他の点は図1の場合と同じであるので、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
その他、図1、図6には、変換部10として、非絶縁型のDC−DCコンバータ1が示されているが、これに代えて絶縁型のDC−DCコンバータにもこの発明を適用することができる。
<実施の形態2>
図7は、この発明の実施の形態2によるDC−DCコンバータ3の構成を示すブロック図である。図7のDC−DCコンバータ3は、電流モード制御によってトランジスタTR1,TR2のオンおよびオフを切替える制御回路11に代えて、電圧モード制御によってトランジスタTR1,TR2のオンおよびオフを切替える制御回路30が設けられている点で、図1のDC−DCコンバータ1と異なる。図7の変換部10の構成は図1の場合と同じであるので、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
(制御回路30の構成:電圧モード制御)
図7を参照して、制御回路30は、出力電圧Voutに比例した電圧と所定の参照電圧Vrefとの差に基づく誤差電圧Veを生成し、誤差電圧Veと三角波発生器31が発生する三角波との比較によって、トランジスタTR1,TR2のオンおよびオフを切替える電圧モード制御を行なう。具体的に、制御回路30は、誤差アンプEAMPと、第1の比較器CMP1と、三角波発生器31と、インバータ32と、ORゲート15と、RSフリップフロップFFと、ドライブ回路DRVとを含む。
誤差アンプEAMPは、+端子に参照電圧Vrefを受け、−端子に出力電圧Voutまたは出力電圧Voutを抵抗分圧した電圧を受け、これらの差を増幅した誤差電圧Veを比較器CMP1に出力する。誤差アンプEAMPの後段にフィードバック補償回路(位相補償回路)を設け、フィードバック補償回路の出力を誤差電圧Veとして比較器CMP1に出力するようにしてもよい。
比較器CMP1は、誤差電圧Veと三角波発生器31が発生する三角波を比較し、誤差電圧Veが三角波の電圧レベルを超えているときHレベルの信号を出力し、誤差電圧Veが三角波の電圧レベル以下のときLレベルの信号を出力する。
比較器CMP1の出力は、フリップフロップFFのセット端子Sに入力されるとともに、インバータ32およびORゲート15を介して、フリップフロップFFのリセット端子Rに入力される。したがって、比較器CMP1の出力がLレベルからHレベルに変化したとき、フリップフロップFFはセット状態に切替わり、比較器CMP1の出力がHレベルからLレベルに変化したとき、フリップフロップFFはリセット状態に切替わる。
上記の誤差アンプEAMP、三角波発生器31、比較器CMP1、およびインバータ32によって、出力電圧制御部51が構成される。出力電圧制御部51は、DC−DCコンバータ3の出力電圧Voutに基づく電圧モード制御によって、スイッチング素子TR1をオン状態に切替えるための信号を生成してフリップフロップFFのセット端子Sに出力するとともに、スイッチング素子TR1をオフ状態に切替えるための信号を生成してORゲート15に出力する。
ドライブ回路DRVは、フリップフロップFFの反転出力/Qを増幅した信号を、トランジスタTR1,TR2の各ゲートに出力する。したがって、フリップフロップFFがセット状態のとき、トランジスタTR1がオン状態であり、トランジスタTR2がオフ状態である。フリップフロップFFがリセット状態のとき、トランジスタTR1がオフ状態であり、トランジスタTR2がオン状態である。
(制御回路30の構成:過電流保護)
制御回路11は、さらに、過電流保護(OCP:Over Current Protection)のための構成として、電圧制御電圧源16と第2の比較器CMP2とを含む。これらの構成および動作は、図1の場合と同様であるので説明を繰返さない。
ORゲート15は、前述の出力電圧制御部51の出力(すなわち、インバータ32の出力)と第2の比較器CMP2の出力との論理和を演算し、論理演算結果をフリップフロップFFのリセット端子Rに出力する。したがって、出力電圧制御部51を構成する第1の比較器CMP1の出力がLレベルになったとき、または、第2の比較器CMP2の出力がHレベルになったときに、ORゲート15はHレベルの信号をフリップフロップFFのリセット端子Rに出力する。この結果、フリップフロップFFがリセット状態となり、トランジスタTR1がオフ状態に切替わる。
電圧モード制御の場合にも、電流モード制御の場合と同様に、DC/DCコンバータの入力電圧または出力電圧の変化によらず、ほぼ一定の出力電流レベルで過電流保護が働くようにできる。
<実施の形態3>
図8は、この発明の実施の形態3によるDC−DCコンバータ4の構成を示すブロック図である。実施の形態3のDC−DCコンバータ4では、変換部40として昇圧チョッパが設けられている点で実施の形態1の場合と異なる。具体的に、図8を参照して、DC−DCコンバータ3は、入力ノードND1と、接地ノードND2と、出力ノードND3と、直流電圧変換を行なう変換部40と、制御回路41とを含む。入力ノードND1には入力電圧Vinが与えられ、接地ノードND2には接地電圧GNDが与えられる。出力電圧Voutを出力するための出力ノードND3と接地ノードND2との間には負荷9が接続される。負荷9には出力電流Ioが流れる。
(変換部40の構成)
変換部40は、いわゆる昇圧チョッパと呼ばれる回路であり、入力された直流電圧Vinを昇圧することによって出力電圧Voutを生成する。変換部40は、スイッチング素子としてのNMOSトランジスタTR3と、同期整流素子としてのNMOSトランジスタTR4と、インダクタLと、平滑用のコンデンサC1と、インダクタ電流ILの検出用の抵抗素子R1とを含む。
インダクタL、トランジスタTR3、および抵抗素子R1は、この順で入力ノードND1と接地ノードND2との間に直列に接続される。トランジスタTR4は、インダクタLとトランジスタTR3の接続ノードND4と出力ノードND3との間に接続される。コンデンサC1は、出力ノードND3と接地ノードND2との間に接続される。
同期整流素子としてのトランジスタTR4に代えてダイオードを設けてもよい。この場合、ダイオードのアノードが接続ノードND4に接続され、ダイオードのカソードが出力ノードND3に接続される。
(制御回路41の構成:電流モード制御)
制御回路41は、インダクタLを流れるインダクタ電流ILに比例した電圧と、スロープ補償回路14が生成するスロープ電圧との合計電圧(Vsumと記載する)を生成する。さらに制御回路41は、出力電圧Voutに比例した電圧と所定の参照電圧Vrefとの差に基づく誤差電圧Veを生成し、誤差電圧Veと合計電圧Vsumとの比較によってトランジスタTR3をオフ状態に切替える電流モード制御を行なう。具体的に、制御回路41は、誤差アンプEAMPと、スロープ補償回路14と、加算器13と、第1の比較器CMP1と、ORゲート15と、RSフリップフロップFFと、ドライブ回路DRVと、インバータ43とを含む。
誤差アンプEAMPは、+端子に参照電圧Vrefを受け、−端子に出力電圧Voutまたは出力電圧Voutを抵抗分圧した電圧を受け、これらの差を増幅した誤差電圧Veを比較器CMP1に出力する。誤差アンプEAMPの後段にフィードバック補償回路(位相補償回路)を設け、フィードバック補償回路の出力を誤差電圧Veとして比較器CMP1に出力するようにしてもよい。
スロープ補償回路14は、トランジスタTR3がオン状態に切り替わったとき(出力QがHレベルになったとき)から徐々に増加し、トランジスタTR3がオフ状態に切替わったときに0にリセットされるスロープ電圧を生成する。生成したスロープ電圧は加算器13に出力される。
加算器13は、抵抗素子R1にかかる電圧(インダクタ電流ILに比例した電圧)と、スロープ電圧との合計電圧Vsumを比較器CMP1に出力する。
比較器CMP1は、合計電圧Vsumと誤差電圧Veとを比較し、合計電圧Vsumが誤差電圧Veを超えたときHレベルとなる信号を出力する。
上記の誤差アンプEAMP、スロープ補償回路14、加算器13、および比較器CMP1によって、出力電圧制御部52が構成される。出力電圧制御部52は、インダクタ電流ILに比例する電圧(抵抗素子R1にかかる電圧)とDC−DCコンバータ4の出力電圧Voutとに基づく電流モード制御によって、トランジスタTR3をオフに切替えるための信号を生成してORゲート15に出力する。
RSフリップフロップFFは、セット端子Sにクロック信号CLKを受け、リセット端子RにORゲート15を介して第1の比較器CMP1の出力を受ける。フリップフロップFFは、クロック信号CLKがHレベルに切替わったときに(クロック信号CLKの立上がりエッジで)セット状態になり、第1の比較器CMP1の出力がHレベルに切替わったときにリセット状態になる。
ドライブ回路DRVは、フリップフロップFFの出力Qを増幅した信号を、トランジスタTR3のゲートに出力するとともにインバータ43を介してトランジスタTR4のゲートに出力する。したがって、フリップフロップFFがセット状態のとき、トランジスタTR3がオン状態であり、トランジスタTR4がオフ状態である。フリップフロップFFがリセット状態のとき、トランジスタTR3がオフ状態であり、トランジスタTR4がオン状態である。
(制御回路41の構成:過電流保護)
制御回路41は、さらに、過電流保護(OCP:Over Current Protection)のための構成として、電圧制御電圧源16と第2の比較器CMP2とを含む。
電圧制御電圧源16は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電圧差の絶対値に応じた過電流保護電圧Vocpを生成する。入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電圧差の絶対値が大きいほど過電流保護電圧Vocpは大きくなる。
第2の比較器CMP2は、過電流保護電圧Vocpと、抵抗素子R1とトランジスタTR3の接続ノードND5の電位(抵抗素子R1にかかる電圧)とを比較する。比較器CMP2は、抵抗素子R1にかかる電圧(インダクタ電流ILに抵抗素子R1の抵抗値を乗算した値)が過電流保護電圧Vocpを超えたときHレベルの信号を出力する。
第2の比較器CMP2の出力は、ORゲート15を介してフリップフロップFFのリセット端子Rに入力される。ORゲート15は、前述の出力電圧制御部52の出力(すなわち、第1の比較器CMP1の出力)と第2の比較器CMP2の出力との論理和を演算し、論理演算結果をフリップフロップFFのリセット端子Rに出力する。したがって、抵抗素子R1にかかる電圧が過電流保護電圧Vocpを超えたときフリップフロップFFがリセットされ、トランジスタTR3がオフに切替わる。
[実施の形態3の効果]
図9は、図8のDC−DCコンバータ4の各部の信号波形を示す図である。
図9のグラフは、上から順に、図1のフリップフロップFFに入力されるクロック信号CLKの波形、インダクタ電流ILの波形、および比較器CMP2の+端子の入力電位(ノードND5の電位)を示す。
ここで、図9(A)と図9(B)とでは、出力電圧Voutの大きさが異なる。すなわち、図9(A)は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差の絶対値が比較的小さい場合(たとえば、Vin=3V、Vout=4V)を示す。図9(B)は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差の絶対値が比較的大きい場合(たとえば、Vin=3V、Vout=12V)を示す。
さらに、過電流保護電圧Vocpの大きさは、入力電圧Vin、出力電圧Voutによって変化する。具体的には、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの差の絶対値が比較的小さい(A)の場合の過電流保護電圧Vocp1は、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの差の絶対値が比較的大きい(B)の場合の過電流保護電圧Vocp2に比べて小さい。比較器CMP2の+端子入力(抵抗素子R1にかかる電圧)が過電流保護電圧Vcop1,Vocp2を超えることによってフリップフロップFFがリセットされる。
図9を参照して、トランジスタTR3がオンの期間(時刻t1〜t2、時刻t3〜t4、時刻t11〜t12、時刻t13〜t14)には、インダクタ電流ILが増加する。昇圧チョッパの場合、これらの期間におけるインダクタ電流ILの増加率ΔIL/Δtは、インダクタLのインダクタンス値をLoとすると、
ΔIL/Δt=Vin/Lo …(3)
と表わされる。
トランジスタTR3がオフの期間(時刻t2〜t3、時刻t4〜t5、時刻t12〜t13、時刻t14〜t15)には、インダクタ電流ILが減少する。昇圧チョッパの場合、これらの期間におけるインダクタ電流ILの増加率ΔIL/Δtは、インダクタLのインダクタンス値をLoとすると、
ΔIL/Δt=(Vin−Vout)/Lo …(4)
と表わされる。
したがって、図9(A),(B)に示すように、入力電圧Vinと出力電圧Voutとの電位差が大きいほど(すなわち、図9(B)のほうが)インダクタ電流ILの最大値と最小値との差が広がる。
ここで、図9(A)と図9(B)とで過電流保護電圧が異なるので、(A)の場合の過電流保護電圧Vocp1対応する過電流保護の基準電流レベルIocp1は、(B)の場合の過電流保護電圧Vocp2に対応する過電流保護の基準電流レベルIocp1よりも低くなる。この結果、実際に負荷に供給される出力電流Ioは図9(A)の場合と図9(B)の場合とでほぼ同じになる。すなわち、実質的に過電流保護の働く電流レベルが図9(A)と図9(B)とでほぼ同じになる。
このように、昇圧チョッパの場合にも、降圧チョッパの場合と同様に、DC/DCコンバータの入力電圧または出力電圧の変化によらず、ほぼ一定の出力電流レベルで過電流保護が働くようにできる。
なお、図6で説明したように、図8のDC−DCコンバータ4の場合にも、抵抗素子R1を設けずに、NMOSトランジスタTR3のオン抵抗を利用してインダクタ電流ILを検出することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1,2,3,4 DC−DCコンバータ、9 負荷、10,10A,40 変換部、11,30,41 制御回路、AMP1 差動アンプ、13 加算器、14 スロープ補償回路、15 ORゲート、16 電圧制御電圧源、31 三角波発生器、50,51,52 出力電圧制御部、C1 コンデンサ、CLK クロック信号、CMP1,CMP2 比較器、DRV ドライブ回路、EAMP 誤差アンプ、FF フリップフロップ、IL インダクタ電流、Io 出力電流、L インダクタ、ND1 入力ノード、ND2 接地ノード、ND3 出力ノード、Vin 入力電圧、Vout 出力電圧、GND 接地電圧。

Claims (5)

  1. 入力電圧が与えられる入力ノードと、
    接地電圧が与えられる接地ノードと、
    出力電圧を出力するための出力ノードと、
    前記入力ノードまたは前記接地ノードに一端が接続されたスイッチング素子と、
    前記スイッチング素子の他端と接続され、前記スイッチング素子のオンおよびオフに応じて流れる電流の大きさが変化するインダクタと、
    前記スイッチング素子のオンおよびオフを切替えることによって前記出力電圧を制御する制御回路とを備え、
    前記制御回路は、さらに、前記インダクタを流れるインダクタ電流が上限値を超えたときに前記スイッチング素子をオフ状態にする過電流制御を行ない、
    前記上限値は、前記入力電圧と前記出力電圧との差の絶対値が大きいほど大きい、DC−DCコンバータ。
  2. 前記スイッチング素子と直列に接続され、前記スイッチング素子がオン状態のときに前記スイッチング素子を介して前記インダクタ電流が流れる抵抗素子をさらに備え、
    前記制御回路は、
    前記入力電圧と前記出力電圧との差の絶対値に応じた大きさを有する前記上限値に対応する上限電圧を生成する上限電圧生成部と、
    前記抵抗素子にかかる電圧と前記上限電圧とを比較する比較器とを含み、
    前記スイッチング素子は、前記比較器の出力に応じてオフ状態に切替わる、請求項1に記載のDC−DCコンバータ。
  3. 前記制御回路は、
    前記入力電圧と前記出力電圧との差の絶対値に応じた大きさを有する前記上限値に対応する上限電圧を生成する上限電圧生成部と、
    前記スイッチング素子のオン電圧と前記上限電圧とを比較する比較器とを含み、
    前記スイッチング素子は、前記比較器の出力に応じてオフ状態に切替わる、請求項1に記載のDC−DCコンバータ。
  4. 前記制御回路は、
    前記インダクタ電流に比例する電圧および前記出力電圧に基づく電流モード制御によって前記スイッチング素子をオフ状態に切替えるための信号を出力する出力電圧制御部と、
    前記出力電圧制御部の出力信号および前記比較器の出力信号の論理演算を行ない、論理演算結果を前記スイッチング素子をオフ状態にするための信号として出力する論理ゲートとをさらに含む、請求項2または3に記載のDC−DCコンバータ。
  5. 前記制御回路は、
    前記出力電圧に基づく電圧モード制御によって前記スイッチング素子をオフ状態に切替えるための信号を出力する出力電圧制御部と、
    前記出力電圧制御部の出力信号および前記比較器の出力信号の論理演算を行ない、論理演算結果を前記スイッチング素子をオフ状態にするための信号として出力する論理ゲートとをさらに含む、請求項2または3に記載のDC−DCコンバータ。
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