JP2013156631A - 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 43
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 title abstract description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 122
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 30
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 15
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 12
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 11
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 102000034287 fluorescent proteins Human genes 0.000 description 6
- 108091006047 fluorescent proteins Proteins 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 5
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 230000003834 intracellular effect Effects 0.000 description 3
- 238000000399 optical microscopy Methods 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000002186 photoactivation Effects 0.000 description 2
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 241000280258 Dyschoriste linearis Species 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical group 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000004042 decolorization Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 1
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02041—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
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- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
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- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02075—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
- G01B9/02078—Caused by ambiguity
- G01B9/02079—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals
- G01B9/02081—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals simultaneous quadrature detection, e.g. by spatial phase shifting
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B9/02—Interferometers
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B9/04—Measuring microscopes
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0056—Optical details of the image generation based on optical coherence, e.g. phase-contrast arrangements, interference arrangements
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
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- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
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- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
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- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N13/00—Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
- H04N13/20—Image signal generators
- H04N13/204—Image signal generators using stereoscopic image cameras
- H04N13/207—Image signal generators using stereoscopic image cameras using a single 2D image sensor
- H04N13/214—Image signal generators using stereoscopic image cameras using a single 2D image sensor using spectral multiplexing
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- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
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Abstract
【解決手段】顕微鏡観察システム100は、光学素子130および140と、ビームスプリッター150と、光学素子160および170と、ディテクター165および175と、を含む。光学素子130および140は、サンプルSからビームスプリッター150までそれぞれ光路132および142を画定する任意のタイプの光学素子でありうる。たとえば、光学素子130および140は、それぞれ、一連のミラー、レンズ、または対物レンズを含みうる。光学素子130および140は、たとえば、サンプルの点光源から放出される光エネルギーを平行化するレンズまたは対物レンズを含みうる。
【選択図】図1
Description
本出願は、「三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法(System and Methods for
3-Dimensional Interferometric Microscopy)」という名称で2006年12月21日に出願された米国仮特許出願第60/871,366号ならびに「三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法(System and Methods for 3-Dimensional Interferometric Microscopy)」という名称で2007年3月27日に出願された米国仮特許出願第60/908,307号(いずれも参照によりその全体が本明細書に援用されるものとする)に基づく優先権を主張する。本出願はまた、「三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法(System and Methods for 3-Dimensional Interferometric Microscopy)」という名称の米国特許出願第11/961,601号(その全体が参照により本明細書に援用されるものとする)に基づく優先権を主張するものでありかつその継続出願である。
本発明は、一般的には、干渉顕微鏡観察、たとえば、光活性蛍光タンパク質分子から光を内部放射するサンプルのように、空間分解可能な点光源で構成されたもしくは標識されたサンプルの干渉顕微鏡観察、および/または第3の次元(たとえばz座標)で位置情報を決定すると同時に2つの他の次元(たとえばx座標およびy座標)で位置情報を測定するために位相差が測定される干渉顕微鏡観察に関する。
一実施形態では、装置は、複数のディテクターとプロセッサーとを有する光学システムを含む。光学システムは、所与の時間で、各ディテクターで、第1の次元と第1の次元に実質的に直交する第2の次元とで、光源の画像を生成するように構成される。画像の各画像は、光源からの第1の方向の発光と、光源からの第1の方向とは異なる第2の方向の発光と、の干渉に基づく。プロセッサーは、画像に基づいて第3の次元で位置を計算するように構成される。第3の次元は、第1の次元と第2の次元とに実質的に直交する。
広義には、本明細書に記載の1つ以上の実施形態により、公知の光学顕微鏡観察よりも良好な解像度を有する三次元レンダリングを生成することが可能である。いくつかの実施形態では、干渉顕微鏡で位相差を測定することにより、第3の次元(たとえばz座標)で位置情報を決定すると同時に2つの他の次元(たとえばx座標およびy座標)で位置情報を測定することが可能である。いくつかの実施形態では、一群の点光源を含有するサンプル、たとえば、光活性蛍光標識から光を内部放射するサンプルを干渉顕微鏡で測定することが可能である。
Resolution)」という名称で2006年3月10日出願に出願された米国仮特許出願第60/780,968号、「光変換性光学標識を用いた光学顕微鏡観察(Optical Microscopy with Phototransformable Optical Labels)」という名称で2006年5月23日に出願されかつPCT国際公開第2006/127682号として2005年11月11日に公開されたPCT特許出願第PCT/US2006/019887号、Betzig, E. et al., "Imaging Intracellular Fluorescent Proteins
at Nanometer Resolution," Science, Vol. 313, September 15, 2006、およびBetzig, E. et al., "Supporting online Material for 'Imaging
Intracellular Fluorescent Proteins at Nanometer Resolution'," Science
Express, August 10, 2006, [online]
www.sciencemag.org/cgi/content/full/1127344/DC1(本明細書中ではまとめて「Betzig参考文献」と記す)。
E1=A×exp(−ikδ+ikL1+ikL2+iπ/2)、
式中、k=2π/λ。
E2=A×exp(ikδ+ikL1+ikL2)。
E12=1/20.5×(E1±E2)=
1/20.5×(A×exp(−ikδ+ikL1+ikL2+iπ/2)±A×exp(ikδ+ikL1+ikL2))。
I1=1/2×(E1+E2)2=A2×(1+sin(2kδ))。
I2=1/20.5×(E1−E2)2=A2×(1+sin(2kδ+π))。
(I1−I2)/(I1+I2)=sin(4πδ/λ)またはδ=λarcsin((I1−I2)/(I1+I2))/4π
Iij=Gj×(AUi 2+ALi 2+2×βj×AUi×ALi×cos(φi+φj)+Ofsj)
式中、j=0、1、2、…は、多位相干渉計のレッグを表す、
Ij=点光源のjレッグの強度、オフセット補正なし、
βj=j番目のレッグの干渉補正係数、
Gj=j番目のレッグのゲイン、
Ofsj=j番目のレッグのオフセット、
AUi=i番目の点光源の振幅、上側対物レンズ、
ALi=i番目の点光源の振幅、下側対物レンズ、
φj=j番目のレッグの位相シフト、および
φi=点光源(すなわち蛍光分子)の位相。
Ioj=Gj×Ofsj
Iij=Gj×(AUi 2+ALi 2+2×βj×AUi×ALi×cos(φi+φj)+Ofsj) 全振幅:ATi 2=AUi 2+ALi 2
Xi=2×AUi×ALi/ATi 2
Iij=Ioj+Gj×ATi 2(1+βj×Xi×cos(φi+φj))
Ifj(z)=Ioj+Gj×If(1+βj×Xf×cos(φj(z)+φj))。
If=1かつXf=1かつαi=ATi 2/If
Iij=Ioj+Gj×ATi 2(1+βj×Xi×cos(φi+φj))
Dij=(Iij−Ioj)/(Gj×If) 再スケール調整された強度データ
Dij=αi×(1+βj×Xi×cos(φi+φj))
Dij=αi×(1+βj×Xi×cos(φi(z)+φj))
を用いて軸方向に沿った発光体の位置を決定することが可能である。したがって、i番目の分子の強度に関する3つ以上のデータ値Di0、Di1、Di2、…から、3つの未知の値:αi、Xi、および(最も興味深い)φi(z)を決定するための3つ以上の式が得られる。3つの位相だけが存在する場合、3つの式からこれらの3つの未知量の一意解が得られるであろう。この値、特にφiの値は、たとえば、ニュートン法により解くことが可能である。
χi=Σj[Dij−αi(1+βjcos(φi+φj))]2
tan(φi)≒−ΣjDijsin(φj)/ΣjDijcos(φj)
δi≒λ×φi/(4πn)=λ/(4πn)×atan(ΣjDijsin(φj)/ΣjDijcos(φj))
φi≒4πδ/(nλ)+atan(δ/zR)。
[CA1(z)−PA1]2+[CA2(z)−PA2]2+[CA3(z)−PA3]2+...+[CAN(z)−PAN]2
式中、N=システム中のディテクターの数であり、
CAi(z)=z平面内の特定のサンプル位置に対して校正時に決定されたディテクターiにおける規格化ピーク光エネルギー強度振幅であり、
PAi=現在のPALM画像フレームから決定されたディテクターiにおける規格化ピーク光エネルギー強度振幅である。
δ=2π(Δinner−Δouter)/λ=Δz×(1−cos(θ))×2πn/(λ)。
Δz=δλ/(n(1−cos(θ))。
Claims (34)
- 複数のディテクターを有する光学システムであって、光源の第1の方向の発光と光源の第2の方向の発光との干渉に基づいて、第1の次元および第1の次元に実質的に直交する第2の次元で、前記光源の複数の画像を生成するように構成され、前記第2の方向は前記第1の方向とは異なり、前記複数のディテクターの各ディテクターは、ある時間点で前記複数の画像の画像に一意的に関連付けられる光学システムと、
前記複数の画像に基づいて第3の次元で前記光源の位置を計算するように構成されたプロセッサーであって、前記第3の次元は、前記第1の次元および前記第2の次元に実質的に直交するプロセッサーと、
を含む、装置。 - 前記プロセッサーが、前記光源に対応する少なくとも2つの画像の一部分間の振幅差に基づいて前記第3の次元で位置を計算するように構成される、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の画像が第1の画像および第2の画像を含み、前記第1の画像が、前記光源からの前記第1の方向の発光の第1の部分および前記光源からの前記第2の方向の発光の第1の部分に関連付けられ、前記第2の画像が、前記光源からの前記第1の方向の発光の第2の部分および前記光源からの前記第2の方向の発光の第2の部分に関連付けられ、
前記第1の方向の発光の前記第1の部分が、前記第1の方向の発光の前記第2の部分とは異なり、前記第2の方向の発光の前記第1の部分が、前記第2の方向の発光の前記第2の部分とは異なる、請求項1に記載の装置。 - 前記光学システムが、前記複数のディテクターの第1のディテクターに対して前記第1の方向の発光の前記第1の部分および前記第2の方向の発光の前記第2の部分をアライメントするように構成され、かつ
前記光学システムが、前記複数のディテクターの第2のディテクターに対して前記第1の方向の発光の前記第2の部分および前記第2の方向の発光の前記第1の部分をアライメントするように構成される、請求項3に記載の装置。 - 前記光学システムが、ビームスプリッターを含み、かつ前記複数の画像を生成するように構成され、前記複数の画像の各画像は、前記ビームスプリッターにおける前記第1の方向の発光の位相と、前記第1の方向の発光の前記位相に依存しない、前記ビームスプリッターにおける前記第2の方向の発光の位相と、に基づくものとする、請求項1に記載の装置。
- 前記光学システムが、
前記光源からの前記第1の方向の発光と前記光源からの前記第2の方向の発光とを干渉させて少なくとも2本の出力ビームを生成するように構成されたビームスプリッターデバイスと、
前記光源と前記ビームスプリッターデバイスとの間に第1の光路を画定するように構成された第1の光学素子と、
前記光源と前記ビームスプリッターデバイスとの間に第2の光路を画定するように構成された第2の光学素子と、
前記ビームスプリッターデバイスの少なくとも2本の出力ビームから光エネルギーを検出するように構成された少なくとも2つの光ディテクターと、
を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記光学システムが、前記光源と前記少なくとも2つの光ディテクターとの間の光路に沿って配設された少なくとも1つの分光フィルターを含み、前記少なくとも1つの分光フィルターが、帯域幅フィルター、ローパスフィルター、またはハイパスフィルターである、請求項2に記載の装置。
- 前記光学システムが、
前記ビームスプリッターデバイス、前記第1の光学素子、前記第2の光学素子、または少なくとも2つの光ディテクターのうちの少なくとも1つに結合された多軸ポジショナー、
を含む、請求項2に記載の装置。 - 前記光学システムが、
第1の位相を有する発光と第2の位相を有する発光とを干渉させて少なくとも3本の出力ビームを生成するように構成されたビームスプリッターデバイスと、
前記ビームスプリッターデバイスの少なくとも3本の出力ビームから光エネルギーを検出するように構成された少なくとも3つの光ディテクターと、
を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記複数のディテクターが第1の複数のディテクターであり、前記複数の画像が第1の複数の画像であり、前記光源が、ある波長を有する第1の光源であり、
前記光学システムが、第2の複数のディテクターと複数のダイクロイックフィルターとをさらに含み、構成された前記第2の複数のディテクターが、前記第1の光源の波長と異なる波長を有する第2の複数の画像を生成し、
前記複数のダイクロイックフィルターの各ダイクロイックフィルターが、前記第1の複数のディテクターのディテクターおよび前記第2の複数のディテクターのディテクターに一意的に関連付けられ、
前記複数のダイクロイックフィルターの各ダイクロイックフィルターが、第1の光源からの発光と第2の光源からの発光とを分離するように構成される、請求項1に記載の装置。 - ある時間点で光源から第1の位相を有する発光と第1の位相とは異なる第2の位相を有する発光とを受光して前記時間点に関連付けられた複数の画像を生成するように構成された光学システムと、
前記光学システムにより画定される回折限界未満の確度まで前記時間点での前記光源の三次元位置を計算するように構成されたプロセッサーと、
を含む、装置。 - 前記光学システムが、ある方向から前記第1の位相を有する発光を受光しかつ前記第1の位相を有する発光の方向と異なる方向から前記第2の位相を有する発光を受光するように構成される、請求項11に記載の装置。
- 前記プロセッサーが、前記光源に対応する複数の画像の一部分間の振幅差に基づいて前記光源の三次元位置を計算するように構成される、請求項11に記載の装置。
- 光源から複数の方向に放出される光エネルギーを干渉させて複数の出力ビームを生成する工程と、
前記複数の出力ビームの各出力ビームの強度に基づいて前記光源の三次元位置情報を決定する工程と、
を含む、方法。 - 前記複数の方向の各方向からの光エネルギーが、前記複数の方向の少なくとも1つの異なる方向の光エネルギーの位相と異なる位相を有するように、前記光エネルギーを受け取る工程、
をさらに含み、
前記複数の出力ビームの各出力ビームが、前記複数のビームの残りの出力ビームの位相とは異なる位相を有する、請求項14に記載の方法。 - 前記複数の出力ビームに基づいて複数の画像を実質的に同時に検出する工程であって、前記複数の画像の各画像は、前記複数の出力ビームの出力ビームに一意的に基づく工程、
をさらに含み、
前記決定する工程が、前記複数の画像の各画像の強度に基づく、請求項14に記載の方法。 - 前記複数の出力ビームに基づいて複数の画像を実質的に同時に検出する工程であって、前記複数の画像の各画像は、前記複数の出力ビームの出力ビームに一意的に基づく工程、
をさらに含み、
前記決定する工程が、前記複数の画像内の前記光源の画像に対応する前記複数の画像の各画像の一部分の強度に基づいて三次元位置情報を計算する工程を含む、請求項14に記載の方法。 - 前記光源がスイッチャブルである、請求項14に記載の方法。
- 前記光源から放出される光エネルギーが一連の単一光子である、請求項14に記載の方法。
- 前記光源がスイッチャブルであり、前記方法が、
前記干渉の前にスイッチャブル光源を活性化させる工程と、
前記スイッチャブル光源から放出される光エネルギーが、複数の方向の第1の方向および第2の方向に放出されるように、前記活性化の後かつ前記干渉の前に前記スイッチャブル光源を励起する工程と、
をさらに含む、請求項14に記載の方法。 - 前記光源が点光源または準点光源である、請求項14に記載の方法。
- 入力ビームスプリッターを有する光学素子と、前記光学素子内に配設された第1の出力ビームスプリッターおよび第2の出力ビームスプリッターとを含む装置であって、前記入力ビームスプリッターは、画像平面を有する画像に関連付けられた光信号を受け取るように構成され、前記第1の出力ビームスプリッターは、前記入力ビームスプリッターから受け取った光信号の一部分と前記第2の出力ビームスプリッターから受け取った光信号の一部分とを干渉させるように構成される、装置。
- 前記入力ビームスプリッターが、第1の方向で受け取った光信号の第1の部分と、前記第1の方向とは異なる第2の方向で受け取った光信号の第2の部分と、を干渉させるように構成される、請求項22に記載の装置。
- 前記入力ビームスプリッターが、第1の方向で受け取った光信号の第1の部分と、前記第1の方向とは異なる第2の方向で受け取った光信号の第2の部分と、を干渉させて第1のビームおよび第2のビームを生成するように構成され、
前記光学素子が、前記第1のビームを前記入力ビームスプリッターから前記第1の出力ビームスプリッターまで伝送するように構成され、
前記光学素子が、前記第2のビームを前記入力ビームスプリッターから前記第2の出力ビームスプリッターまで伝送するように構成される、請求項22に記載の装置。 - 前記光学素子が、前記光信号に基づいて少なくとも3本の出力光ビームを出力するように構成され、前記少なくとも3本の出力光ビームのそれぞれの出力光ビームの振幅が、前記少なくとも3本の出力光ビームのそれぞれの残りの出力光ビームの振幅に実質的に等しい、請求項22に記載の装置。
- 第1の入力光ビームおよび第2の入力光ビームを受け取るように構成された光学素子であって、複数の入力光ビームの前記第1の入力光ビームは、複数の入力光ビームの前記第2の入力光ビームの位相とは異なる位相を有し、前記第1の入力光ビームは画像平面を含み、かつ前記第2の入力光ビームは画像平面を含む光学素子、
を含む装置であって、
前記光学素子が、第1の出力光ビーム、第2の出力光ビーム、および第3の出力光ビームを伝送し、前記第1の出力光ビームが、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分と、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分間の位相差と、を含み、前記第2の出力光ビームが、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分と、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分間の位相差と、を含み、前記第3の出力光ビームが、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分と、前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームの一部分間の位相差と、を含む、装置。 - 前記光学素子が、入力ビームスプリッター、第1の出力ビームスプリッター、および第2の出力ビームスプリッターを含み、
前記入力ビームスプリッターが、複数の入力光ビームの少なくとも2本の入力光ビームを受け取るように構成され、
前記第1の出力ビームスプリッターが、前記少なくとも3本の出力光ビームの少なくとも1本の出力光ビームを伝送するように構成され、
前記第2の出力ビームスプリッターが、前記少なくとも3本の出力光ビームの少なくとも2本の出力光ビームを伝送するように構成される、請求項26に記載の装置。 - 前記第1の出力ビームに関連付けられた位相差、前記第2の出力ビームに関連付けられた位相差、および前記第3の出力ビームに関連付けられた位相差が異なる、請求項26に記載の装置。
- 第1の入力光ビームおよび第2の入力光ビームを受け取る工程であって、複数の入力光ビームの前記第1の入力光ビームは、複数の入力光ビームの前記第2の入力光ビームの位相とは異なる位相を有し、前記第1の入力光ビームは画像平面を含み、かつ前記第2の入力光ビームは画像平面を含む工程と、
前記第1の入力光ビームおよび前記第2の入力光ビームから、第1の出力光ビーム、第2の出力光ビーム、および第3の出力ビームを生成する工程であって、前記第1の出力光ビームは、前記第1の入力光ビームの第1の部分および前記第2の入力光ビームの第1の部分と、前記第1の入力光ビームの第1の部分および前記第2の入力光ビームの第1の部分の間の位相差と、を含み、前記第2の出力光ビームは、前記第1の入力光ビームの第2の部分および前記第2の入力光ビームの第2の部分と、前記第1の入力光ビームの第2の部分および前記第2の入力光ビームの第2の部分の間の位相差と、を含み、前記第3の出力光ビームは、前記第1の入力光ビームの第3の部分および前記第2の入力光ビームの第3の部分と、前記第1の入力光ビームの第3の部分および前記第2の入力光ビームの第3の部分の間の位相差と、を含む工程と、
を含む、方法。 - 前記第1の入力光ビームの第1の部分および前記第2の入力光ビームの第1の部分の間の位相差が、前記第1の入力光ビームの第2の部分および前記第2の入力光ビームの第2の部分の間の位相差とは異なり、前記第1の入力光ビームの第1の部分および前記第2の入力光ビームの第1の部分の間の位相差が、前記第1の入力光ビームの第3の部分および前記第2の入力光ビームの第3の部分の間の位相差とは異なる、請求項29に記載の方法。
- 前記第1の入力光ビームの第1の部分および前記第2の入力光ビームの第1の部分の間の位相差、前記第1の入力光ビームの第2の部分および前記第2の入力光ビームの第2の部分の間の位相差、ならびに前記第1の入力光ビームの第3の部分および前記第2の入力光ビームの第3の部分の間の位相差に基づいて光源の位置を決定する工程、
をさらに含む、請求項29に記載の方法。 - z平面内の複数の所定位置で光源の位相シフト画像を逐次的に取得して複数の画像フレームシーケンスを形成する工程と、
前記複数の画像フレームシーケンスから、z平面内の前記光源の各所定位置に関連付けられる少なくとも1つの位相関連特性を決定する工程と、
前記少なくとも1つの位相関連特性およびz平面内の前記光源の所定位置を記憶する工程と、
を含む、方法。 - 複数の画像フレームに基づいて、z平面内の光源の位置に関連付けられる少なくとも1つの位相関連特性を決定する工程と、
前記少なくとも1つの位相関連特性を、z平面内の光源の複数の所定位置に関連付けられる複数の位相関連特性と相関付けて、z平面内の光源の位置を特定する工程と、
を含む、方法。 - 前記光源の複数の位相シフト発光を検出して複数の画像フレームを形成する工程と、
前記複数の画像フレームに基づいてx,y平面内の光源の位置を特定する工程と、
をさらに含む、請求項33に記載の方法。
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US87136606P | 2006-12-21 | 2006-12-21 | |
US60/871,366 | 2006-12-21 | ||
US90830707P | 2007-03-27 | 2007-03-27 | |
US60/908,307 | 2007-03-27 | ||
US11/961,601 | 2007-12-20 | ||
US11/961,601 US7916304B2 (en) | 2006-12-21 | 2007-12-20 | Systems and methods for 3-dimensional interferometric microscopy |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009543248A Division JP5495790B2 (ja) | 2006-12-21 | 2007-12-21 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015066070A Division JP5864798B2 (ja) | 2006-12-21 | 2015-03-27 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013156631A true JP2013156631A (ja) | 2013-08-15 |
JP5723391B2 JP5723391B2 (ja) | 2015-05-27 |
Family
ID=39563227
Family Applications (5)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009543248A Active JP5495790B2 (ja) | 2006-12-21 | 2007-12-21 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
JP2013007569A Active JP5723391B2 (ja) | 2006-12-21 | 2013-01-18 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
JP2015066070A Active JP5864798B2 (ja) | 2006-12-21 | 2015-03-27 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステム |
JP2015252588A Active JP6078628B2 (ja) | 2006-12-21 | 2015-12-24 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
JP2017005396A Active JP6438054B2 (ja) | 2006-12-21 | 2017-01-16 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009543248A Active JP5495790B2 (ja) | 2006-12-21 | 2007-12-21 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
Family Applications After (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015066070A Active JP5864798B2 (ja) | 2006-12-21 | 2015-03-27 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステム |
JP2015252588A Active JP6078628B2 (ja) | 2006-12-21 | 2015-12-24 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
JP2017005396A Active JP6438054B2 (ja) | 2006-12-21 | 2017-01-16 | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US7916304B2 (ja) |
EP (1) | EP2052204B1 (ja) |
JP (5) | JP5495790B2 (ja) |
WO (1) | WO2008080032A2 (ja) |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006021317B3 (de) | 2006-05-06 | 2007-10-11 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe |
US7924432B2 (en) * | 2006-12-21 | 2011-04-12 | Howard Hughes Medical Institute | Three-dimensional interferometric microscopy |
US8643748B2 (en) * | 2007-11-20 | 2014-02-04 | Motorola Mobility Llc | Compact stationary lens optical zoom image capture system |
US8379115B2 (en) * | 2007-11-20 | 2013-02-19 | Motorola Mobility Llc | Image capture device with electronic focus |
US7772569B2 (en) * | 2008-04-01 | 2010-08-10 | The Jackson Laboratory | 3D biplane microscopy |
DE102008024568A1 (de) * | 2008-05-21 | 2009-12-03 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer interessierenden Struktur einer Probe |
US8174692B2 (en) | 2008-05-21 | 2012-05-08 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | High spatial resolution imaging of a structure of interest in a specimen |
DE102008049886B4 (de) * | 2008-09-30 | 2021-11-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung, insbesondere ein Mikroskop, zur Untersuchung von Proben |
DE102008059328A1 (de) * | 2008-11-27 | 2010-06-02 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Auflösungsgesteigerte Mikroskopie |
US9213176B2 (en) * | 2008-12-02 | 2015-12-15 | The Regents Of The University Of California | Imaging arrangement and microscope |
DE102009031231A1 (de) | 2009-06-26 | 2010-12-30 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren und Anordnungen für die Fluoreszenzmikroskopie |
WO2011005239A1 (en) * | 2009-07-08 | 2011-01-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Device for forming a high-resolution image, imaging system, and method for deriving a high-spatial-resolution image |
EP2562246B1 (en) * | 2010-04-23 | 2018-09-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Cell observation device and cell observation method |
US8711211B2 (en) | 2010-06-14 | 2014-04-29 | Howard Hughes Medical Institute | Bessel beam plane illumination microscope |
US10051240B2 (en) | 2010-06-14 | 2018-08-14 | Howard Hughes Medical Institute | Structured plane illumination microscopy |
DE102011114500B4 (de) * | 2011-09-29 | 2022-05-05 | Fei Company | Mikroskopvorrichtung |
WO2014186353A1 (en) | 2013-05-13 | 2014-11-20 | The General Hospital Corporation | Detecting self-interefering fluorescence phase and amplitude |
US10535137B2 (en) * | 2014-01-07 | 2020-01-14 | Sony Corporation | Analysis system and analysis method |
US20160025480A1 (en) * | 2014-07-25 | 2016-01-28 | Nikon Corporation | Interferometric level sensor |
DE102014111979A1 (de) * | 2014-08-21 | 2016-02-25 | Martin Berz | Interferometer |
US10247672B2 (en) * | 2014-09-29 | 2019-04-02 | Howard Hughes Medical Institute | Non-linear structured illumination microscopy |
CZ306015B6 (cs) | 2014-10-20 | 2016-06-22 | Vysoké Učení Technické V Brně | Interferometrický systém a způsob měření prostorového rozložení indexu lomu |
US10795144B2 (en) | 2014-12-06 | 2020-10-06 | Howard Hughes Medical Institute | Microscopy with structured plane illumination and point accumulation for imaging and nanoscale topography |
WO2016125281A1 (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡、観察方法、及び制御プログラム |
WO2016178856A1 (en) | 2015-05-01 | 2016-11-10 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | Uniform and scalable light-sheets generated by extended focusing |
EP3159728A1 (en) | 2015-10-21 | 2017-04-26 | FEI Company | Standing wave interferometric microscope |
EP3382439A4 (en) * | 2015-11-27 | 2019-12-11 | Nikon Corporation | MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD, AND IMAGE PROCESSING PROGRAM |
US10783697B2 (en) | 2016-02-26 | 2020-09-22 | Yale University | Systems, methods, and computer-readable media for ultra-high resolution 3D imaging of whole cells |
CN107283816B (zh) * | 2016-04-05 | 2019-05-14 | 清华大学 | 一种dlp 3d打印机打印方法及装置 |
WO2017180680A1 (en) | 2016-04-12 | 2017-10-19 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | LIGHT-SHEET MICROSCOPE WITH PARALLELIZED 3D lMAGE ACQUISITION |
US11946867B2 (en) | 2016-12-05 | 2024-04-02 | Memorial Sloan Kettering Cancer Center | Modulation interferometric imaging systems and methods |
GB2562694B (en) * | 2016-12-12 | 2020-12-30 | Vg Systems Ltd | Image capture assembly and method for electron back scatter diffraction |
CN110692005B (zh) | 2017-06-01 | 2022-03-04 | 美利坚合众国,由健康及人类服务部部长代表 | 用于经由多视图成像的三维荧光偏振的系统和方法 |
US11169368B2 (en) * | 2018-01-02 | 2021-11-09 | King's College London | Method and system for localisation microscopy |
WO2019246478A1 (en) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | Northwestern University | Systems and methods for interferometric multifocus microscopy |
US11255785B2 (en) * | 2019-03-14 | 2022-02-22 | Applied Materials, Inc. | Identifying fiducial markers in fluorescence microscope images |
EP3938763A4 (en) | 2019-03-14 | 2022-12-07 | Applied Materials, Inc. | IDENTIFICATION OF LANDMARK MARKERS IN MICROSCOPE IMAGES |
WO2020243698A1 (en) * | 2019-05-30 | 2020-12-03 | University Of Utah Research Foundation | Interferometric fluorescent cross correlation spectroscopy |
WO2023211376A2 (en) * | 2022-04-26 | 2023-11-02 | National University Of Singapore | Imaging system |
WO2024086402A1 (en) * | 2022-10-17 | 2024-04-25 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Three-phase spectral interferometry |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01272905A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-10-31 | Agency Of Ind Science & Technol | 強度補正型干渉計 |
JPH11501404A (ja) * | 1995-02-03 | 1999-02-02 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 解像深度が強化された3次元顕微鏡法のための方法及び装置 |
JP2002013911A (ja) * | 1999-01-05 | 2002-01-18 | Tomoko Shinohara | 走査型画像構成装置 |
JP2002221668A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-08-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 干渉顕微鏡及びその作動方法 |
JP2005037388A (ja) * | 2003-07-11 | 2005-02-10 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料内で励起された、および/または後方散乱した光放射を、対物レンズ二重配置により光学的に捕捉するための配置およびその方法 |
WO2006127692A2 (en) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Hess Harald F | Optical microscopy with phototransformable optical labels |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0658482B2 (ja) * | 1980-07-17 | 1994-08-03 | キヤノン株式会社 | 焦点調節状態の検出装置 |
JPS60132406U (ja) * | 1984-02-15 | 1985-09-04 | 田中 ゆみ子 | 通気性のよいオムツカバ− |
DE3805904A1 (de) * | 1988-02-25 | 1989-08-31 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Faserkreisel |
EP0561015A1 (de) * | 1992-03-17 | 1993-09-22 | International Business Machines Corporation | Interferometrische Phasenmessung |
US5736410A (en) * | 1992-09-14 | 1998-04-07 | Sri International | Up-converting reporters for biological and other assays using laser excitation techniques |
JPH08280726A (ja) * | 1995-04-13 | 1996-10-29 | Gunze Ltd | 失禁用パンツ |
US6525821B1 (en) * | 1997-06-11 | 2003-02-25 | Ut-Battelle, L.L.C. | Acquisition and replay systems for direct-to-digital holography and holovision |
US6388788B1 (en) * | 1998-03-16 | 2002-05-14 | Praelux, Inc. | Method and apparatus for screening chemical compounds |
US6139166A (en) | 1999-06-24 | 2000-10-31 | Lumileds Lighting B.V. | Luminaire having beam splitters for mixing light from different color ' LEDs |
JP2001133215A (ja) * | 1999-08-24 | 2001-05-18 | Nikon Corp | 干渉計測方法および干渉計測装置 |
US6304330B1 (en) * | 1999-10-06 | 2001-10-16 | Metrolaser, Inc. | Methods and apparatus for splitting, imaging, and measuring wavefronts in interferometry |
DE10003570A1 (de) * | 2000-01-27 | 2001-08-02 | Leica Microsystems | Mikroskop-Aufbau |
AU2001264099A1 (en) | 2000-06-13 | 2001-12-24 | University College Cardiff Consultants Ltd. | Zinc transporters |
WO2001096373A2 (en) | 2000-06-14 | 2001-12-20 | Clontech Laboratories, Inc. | Fluorescent timer proteins and methods for their use |
DE10046410A1 (de) * | 2000-09-18 | 2002-03-28 | Leica Microsystems | Optische Anordnung zum Beleuchten von Objekten |
US20020098516A1 (en) * | 2000-10-03 | 2002-07-25 | Boystown National Research Hospital | Immunodiagnostic determination of usher syndrome type IIA |
US6687008B1 (en) * | 2000-10-19 | 2004-02-03 | Kla-Tencor Corporation | Waveguide based parallel multi-phaseshift interferometry for high speed metrology, optical inspection, and non-contact sensing |
US20050099682A1 (en) * | 2000-11-06 | 2005-05-12 | Vincent Lauer | Microscope for diffracting objects |
DE10107095A1 (de) * | 2001-02-14 | 2002-08-29 | Leica Microsystems | Doppelkonfokales Rastermikroskop |
EP1390379A4 (en) * | 2001-05-25 | 2005-02-02 | Clontech Lab Inc | FLUORESCENT CRUNCH PROTEINS AND METHODS OF USE |
DE10154699B4 (de) * | 2001-11-09 | 2004-04-08 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum räumlich eng begrenzten Anregen eines optischen Übergangs |
JP3975892B2 (ja) * | 2002-05-02 | 2007-09-12 | 富士ゼロックス株式会社 | 位置計測システム |
US7268878B2 (en) | 2002-08-01 | 2007-09-11 | Sensor Technologies Llc | Fluorescence correlation spectroscopy instrument and method of using the same |
DE10241472B4 (de) * | 2002-09-04 | 2019-04-11 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität |
NL1021457C2 (nl) * | 2002-09-13 | 2004-03-16 | Tno | Werkwijze voor het meten van contourvariaties. |
WO2004074881A2 (en) * | 2003-02-19 | 2004-09-02 | Zetetic Institute | Method and apparatus for dark field interferometric confocal microscopy |
US7430045B2 (en) * | 2003-04-13 | 2008-09-30 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | High spatial resolution imaging |
US7064824B2 (en) * | 2003-04-13 | 2006-06-20 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | High spatial resoulution imaging and modification of structures |
US7833733B2 (en) | 2003-06-09 | 2010-11-16 | The University Of British Columbia | Methods for detecting and treating cancer |
DE10331501B4 (de) * | 2003-07-11 | 2005-06-30 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Justierung eines Mikroskops |
WO2005031397A2 (en) * | 2003-09-26 | 2005-04-07 | Zetetic Institute | Catoptric and catadioptric imaging systems with pellicle and aperture-array beam-splitters and non-adaptive and adaptive catoptric surfaces |
WO2006058187A2 (en) | 2004-11-23 | 2006-06-01 | Robert Eric Betzig | Optical lattice microscopy |
EP1839012B1 (en) | 2005-01-20 | 2014-05-07 | Duke University | Methods, systems and computer program products for characterizing structures based on interferometric phase data |
US7333690B1 (en) * | 2005-03-28 | 2008-02-19 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Evanescent waveguide couplers |
RU2305270C2 (ru) | 2005-05-18 | 2007-08-27 | Андрей Алексеевич Климов | Способ флуоресцентной наноскопии (варианты) |
US7573577B2 (en) * | 2005-10-21 | 2009-08-11 | Southwest Research Institute | Spatial heterodyne wide-field Coherent Anti-Stokes Raman spectromicroscopy |
-
2007
- 2007-12-20 US US11/961,601 patent/US7916304B2/en active Active
- 2007-12-21 JP JP2009543248A patent/JP5495790B2/ja active Active
- 2007-12-21 EP EP07866170.9A patent/EP2052204B1/en active Active
- 2007-12-21 WO PCT/US2007/088488 patent/WO2008080032A2/en active Application Filing
-
2011
- 2011-03-18 US US13/051,670 patent/US8780442B2/en active Active
-
2013
- 2013-01-18 JP JP2013007569A patent/JP5723391B2/ja active Active
-
2014
- 2014-06-11 US US14/302,153 patent/US9127925B2/en active Active
-
2015
- 2015-03-27 JP JP2015066070A patent/JP5864798B2/ja active Active
- 2015-08-07 US US14/820,676 patent/US9482512B2/en active Active
- 2015-12-24 JP JP2015252588A patent/JP6078628B2/ja active Active
-
2017
- 2017-01-16 JP JP2017005396A patent/JP6438054B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01272905A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-10-31 | Agency Of Ind Science & Technol | 強度補正型干渉計 |
JPH11501404A (ja) * | 1995-02-03 | 1999-02-02 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 解像深度が強化された3次元顕微鏡法のための方法及び装置 |
JP2002013911A (ja) * | 1999-01-05 | 2002-01-18 | Tomoko Shinohara | 走査型画像構成装置 |
JP2002221668A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-08-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 干渉顕微鏡及びその作動方法 |
JP2005037388A (ja) * | 2003-07-11 | 2005-02-10 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料内で励起された、および/または後方散乱した光放射を、対物レンズ二重配置により光学的に捕捉するための配置およびその方法 |
WO2006127692A2 (en) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Hess Harald F | Optical microscopy with phototransformable optical labels |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016057643A (ja) | 2016-04-21 |
US9127925B2 (en) | 2015-09-08 |
JP2015143876A (ja) | 2015-08-06 |
WO2008080032A2 (en) | 2008-07-03 |
JP5495790B2 (ja) | 2014-05-21 |
JP5723391B2 (ja) | 2015-05-27 |
WO2008080032A3 (en) | 2008-08-21 |
EP2052204B1 (en) | 2019-10-23 |
JP2017062519A (ja) | 2017-03-30 |
US8780442B2 (en) | 2014-07-15 |
JP6078628B2 (ja) | 2017-02-08 |
JP2010515084A (ja) | 2010-05-06 |
US20080158551A1 (en) | 2008-07-03 |
US20110170200A1 (en) | 2011-07-14 |
EP2052204A4 (en) | 2014-08-06 |
JP5864798B2 (ja) | 2016-02-17 |
US20140293015A1 (en) | 2014-10-02 |
US20160054112A1 (en) | 2016-02-25 |
US7916304B2 (en) | 2011-03-29 |
JP6438054B2 (ja) | 2018-12-12 |
US9482512B2 (en) | 2016-11-01 |
EP2052204A2 (en) | 2009-04-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140219 |
|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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