JP2013152798A - 電子線装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料11に向けて電子線20を放出する電子線源1と、電子線源1から放出された電子線20を試料11上で集束するための対物レンズ3と、電子線20を偏向する偏向器4と、電子線20の照射に応じて試料11から発生する特性X線22の検出を行うX線検出器7とを備えた電子線装置において、対物レンズ3の電子線通過領域3b内であって試料11と対向する側の端部にX線集光素子10が配置され、対物レンズ3を間に挟んで試料11が位置する側の反対側の位置にX線検出器7が配置されている。
【選択図】図2
Description
Claims (6)
- 試料に向けて電子線を放出する電子線源と、電子線源から放出された電子線を試料上で集束するための対物レンズと、該電子線を偏向するための偏向器と、電子線の照射に応じて試料から発生する特性X線の検出を行うX線検出器とを備えた電子線装置において、対物レンズの電子線通過領域内であって試料と対向する側の端部にX線集光素子が配置され、対物レンズを間に挟んで試料が位置する側の反対側の位置にX線検出器が配置されていることを特徴とする電子線装置。
- 対物レンズの電子線通過領域内には、電子線が通過するインナーチューブが配置されており、該インナーチューブの試料側の端部にX線集光素子が設置されていることを特徴とする請求項1記載の電子線装置。
- インナーチューブは導電性を有し、該インナーチューブに電圧を印加するための電圧印加手段を備えることを特徴とする請求項2記載の電子線装置。
- 偏向器は、対物レンズの電子線通過領域内であって、X線集光素子を間に挟んで試料が位置する側の反対側の位置に配置されていることを特徴とする請求項1乃至3何れか記載の電子線装置。
- 対物レンズと試料との間において、電子線照射時に試料から発生する電子を遮蔽するための遮蔽部材が挿脱可能に設けられていることを特徴とする請求項1乃至4何れか記載の電子線装置。
- X線検出器と対物レンズとの間において、電子線照射時に試料から発生する電子を遮蔽するための遮蔽部材が挿脱可能に設けられていることを特徴とする請求項1乃至4何れか記載の電子線装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5240190A (en) * | 1975-09-25 | 1977-03-28 | Hitachi Ltd | X-ray analysis device |
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JP2003294659A (ja) * | 2002-04-01 | 2003-10-15 | Jeol Ltd | X線分析装置 |
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2012
- 2012-01-24 JP JP2012011911A patent/JP5851256B2/ja active Active
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JP2003294659A (ja) * | 2002-04-01 | 2003-10-15 | Jeol Ltd | X線分析装置 |
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