JP2013084743A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
半導体装置及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013084743A JP2013084743A JP2011223300A JP2011223300A JP2013084743A JP 2013084743 A JP2013084743 A JP 2013084743A JP 2011223300 A JP2011223300 A JP 2011223300A JP 2011223300 A JP2011223300 A JP 2011223300A JP 2013084743 A JP2013084743 A JP 2013084743A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microlens
- semiconductor device
- monitor
- cross
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 8
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 21
- 238000011161 development Methods 0.000 description 6
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14627—Microlenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0037—Arrays characterized by the distribution or form of lenses
- G02B3/0056—Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14683—Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
- H01L27/14685—Process for coatings or optical elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
【解決手段】 半導体装置は、画素領域に設けられたマイクロレンズと、画素領域の他の領域である周辺領域の上に設けられ、マイクロレンズの形状と相関があり、基板に垂直な面に含まれる断面の形状が同一のモニタ用構造体を有する。
【選択図】 図1
Description
本実施形態では、半導体装置として光電変換装置を例に、図1〜図3、及び図6を用いて説明する。まず、図2の半導体ウエハの模式的な平面図を用いて、マイクロレンズとモニタ用構造体との位置関係について説明する。
本実施形態では、第1の実施形態の製造方法とは異なり、マイクロレンズ及びモニタ用構造体がリフロー法によって製造された場合について、図4及び図5を用いて説明する。図4は、図1と対応する図面であるが、完成した構成ではなく形成途中のマイクロレンズとモニタ用構造体の部材を示している。図5は、図4の後に出来上がるマイクロレンズとモニタ用構造体を示す図面である。図4及び図5は図1と対応し、図1と同様の構成については同一の符号を付し、説明を省略する。
本実施形態では、マイクロレンズとモニタ用構造体のモニタ用構造体との形状を変化させた場合について図7及び図8を用いて説明する。
102 マイクロレンズの平面構造のA−B線での断面構造
103 マイクロレンズの平面構造のC−D線での断面構造
104 画素
105 マイクロレンズ
106 マイクロレンズのA−B線の断面形状
107 マイクロレンズのC−D線の断面形状
110 モニタ用構造体群
111 モニタ用構造体の平面構造
112 モニタ用構造体の平面構造のE−F線、G−H線での断面構造
113 モニタ用構造体の平面構造のI−J線での断面構造
115 モニタ用構造体
116 モニタ用構造体のE−F線、G−H線での断面形状
117 モニタ用構造体のI−J線での断面形状
Claims (18)
- 画素領域に設けられたマイクロレンズと、
前記画素領域の他の領域である周辺領域に設けられ、前記マイクロレンズの形状と相関があり、底面を有し、前記底面に垂直な方向での断面の形状が前記断面に直行する方向に渡って同一であるモニタ用構造体を有する半導体装置。 - 前記モニタ用構造体は、前記マイクロレンズと同じ材料からなる請求項1に記載の半導体装置。
- 前記断面の形状は前記マイクロレンズの頂点を含む断面と同じ形状である請求項1あるいは2のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記モニタ用構造体の断面の形状は、前記マイクロレンズと同じ断面形状を有する請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記画素領域の上に複数の前記マイクロレンズが設けられている請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記周辺領域は、複数の前記モニタ用構造体を有する請求項5に記載の半導体装置。
- 前記矩形の領域は、前記断面に直行する方向に沿った2辺を有し、
前記2辺は長さdを有し、
前記長さdは前記画素領域の画素の辺の長さWとW≦dの関係を有する請求項1乃至6のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記画素領域には複数の画素が設けられており、
前記長さdは前記長さWの1倍以上500倍以下である請求項7に記載の半導体装置。 - 前記マイクロレンズと前記モニタ用構造体は、反射防止膜を含む請求項1乃至8のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記画素領域には、光電変換素子が設けられている請求項1乃至9のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 画素を含む画素領域に設けられたマイクロレンズと、
前記画素領域の他の領域である周辺領域に設けられ、底面を有し、前記底面に垂直な面に含まれる断面の形状が前記断面に直行する方向に渡って同一なモニタ用構造体を有する半導体装置の製造方法において、
前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程を有する半導体装置の製造方法。 - 前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程において、
前記モニタ用構造体及び前記マイクロレンズの材料が同一であることを特徴とする請求項11に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程において、
前記モニタ用構造体及び前記マイクロレンズのためのフォトマスクは、1つのフォトマスクであることを特徴とする請求項11あるいは12のいずれか1項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程は、
感光性の材料層を前記画素領域から前記周辺領域に渡って設ける工程と、
前記モニタ用構造体、及び前記マイクロレンズのためのフォトマスクを用いて前記材料層を露光する工程と、を含む請求項11乃至13のいずれか1項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記フォトマスクは、階調マスクである請求項14に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記階調マスクは、
前記マイクロレンズのための遮光パターンと、
前記マイクロレンズの中心を含む断面に対応する前記遮光パターンの一部の領域を一次元に繰り返し配置することで形成した前記モニタ用パターンのための遮光パターンと、を有する請求項15に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程は、
前記露光する工程の後に、前記感光性の材料を現像し、前記感光性の材料の構造体を形成する工程と、
前記感光性の材料の構造体の表面が曲率を有するように熱処理を行う工程と、を有する請求項14に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを同時に形成する工程は、
前記材料層を設ける工程の前に、前記モニタ用構造体と前記マイクロレンズとを構成する材料層を設ける工程を有し、
前記熱処理を行う工程の後に、前記表面が曲率を有する感光性の材料のパターンをマスクとして前記材料層をエッチングする工程を有する請求項17に記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011223300A JP5800662B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置及びその製造方法 |
US13/611,375 US9276028B2 (en) | 2011-10-07 | 2012-09-12 | Semiconductor device including pixels, microlenses, and a monitoring structure, and a method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011223300A JP5800662B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置及びその製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013084743A true JP2013084743A (ja) | 2013-05-09 |
JP2013084743A5 JP2013084743A5 (ja) | 2014-11-20 |
JP5800662B2 JP5800662B2 (ja) | 2015-10-28 |
Family
ID=48041540
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011223300A Expired - Fee Related JP5800662B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9276028B2 (ja) |
JP (1) | JP5800662B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015045834A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited | マイクロレンズの製造方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014112002A1 (ja) * | 2013-01-15 | 2014-07-24 | オリンパス株式会社 | 撮像素子、及び撮像装置 |
US10249661B2 (en) * | 2014-08-22 | 2019-04-02 | Visera Technologies Company Limited | Imaging devices with dummy patterns |
JP6927098B2 (ja) * | 2018-03-13 | 2021-08-25 | 日本電信電話株式会社 | レンズ集積受光素子及びその検査方法 |
US20190339422A1 (en) * | 2018-05-03 | 2019-11-07 | Visera Technologies Company Limited | Method for forming micro-lens array and photomask therefor |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006253464A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | マイクロレンズの製造方法及びこれを用いて製造した固体撮像素子 |
JP2006351853A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Fujifilm Holdings Corp | 固体撮像素子およびその製造方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100628231B1 (ko) * | 2004-12-30 | 2006-09-26 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 사각 마이크로렌즈를 갖는 이미지 센서 및 그 제조방법 |
US8003983B2 (en) * | 2006-04-19 | 2011-08-23 | United Microelectronics Corp. | Wafer for manufacturing image sensors, test key layout for defects inspection, and methods for manufacturing image sensors and for forming test key |
US7612319B2 (en) * | 2006-06-09 | 2009-11-03 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing a microlens for an image sensor |
US20110130508A1 (en) * | 2009-07-29 | 2011-06-02 | Alan David Pendley | Topside optical adhesive for micro-optical film embedded into paper during the papermaking process |
-
2011
- 2011-10-07 JP JP2011223300A patent/JP5800662B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-09-12 US US13/611,375 patent/US9276028B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006253464A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | マイクロレンズの製造方法及びこれを用いて製造した固体撮像素子 |
JP2006351853A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Fujifilm Holdings Corp | 固体撮像素子およびその製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015045834A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited | マイクロレンズの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130087874A1 (en) | 2013-04-11 |
JP5800662B2 (ja) | 2015-10-28 |
US9276028B2 (en) | 2016-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI473258B (zh) | 固態成像裝置、固態成像裝置製造方法、電子裝置及透鏡陣列 | |
JP5800662B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
US6970293B2 (en) | Solid state imaging device | |
US20090242735A1 (en) | Solid-state image pickup device and mask manufacturing method | |
US9274254B2 (en) | Optical element array, photoelectric conversion apparatus, and image pickup system | |
US20110300662A1 (en) | Method of forming pattern and method of producing solid-state image pickup device | |
KR100318637B1 (ko) | 고체촬상장치 및 그 검사방법과 제조방법 | |
JPH08116041A (ja) | 固体撮像装置の製造方法 | |
US9305955B2 (en) | Method for manufacturing solid-state imaging device, and solid-state imaging device | |
JP2013182943A (ja) | 固体撮像装置の製造方法 | |
US10481196B2 (en) | Image sensor with test region | |
JP2016012122A (ja) | フォトマスク、光学素子アレイの製造方法、光学素子アレイ | |
JP2005203617A (ja) | 固体撮像装置及びその製造方法 | |
JP4998334B2 (ja) | 固体撮像素子とそれを用いた撮像装置 | |
CN114256209A (zh) | 一种大尺寸芯片设计版图结构 | |
JP5440649B2 (ja) | 固体撮像素子の製造方法 | |
JP2010060937A (ja) | フォトマスクセット、フォトマスク、デバイスの製造方法、並びに、測定方法及びその装置 | |
JP4877215B2 (ja) | 固体撮像素子およびそれを用いた撮像装置 | |
KR100640982B1 (ko) | 씨모스 이미지 센서의 테스트 패턴 및 이를 이용한공정관리 측정방법 | |
KR100358195B1 (ko) | 고체촬상장치 및 그 제조방법 | |
US7149034B2 (en) | Assessing mark for microlens | |
JP4941221B2 (ja) | 固体撮像素子およびそれを用いた撮像装置 | |
TWI421961B (zh) | 晶圓的檢測方法 | |
JP2009031399A (ja) | マイクロレンズ | |
CN117311097A (zh) | 线性图像传感器及制作方法和光刻掩膜版 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141007 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141007 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150630 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150728 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150825 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5800662 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |