JP2013079384A - Substrate for mounting optical semiconductor element, method for producing the same, and optical semiconductor device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate for mounting an optical semiconductor element, which uses a thermosetting resin composition enabling a simplified molding process, a method for producing the same, and an optical semiconductor device.SOLUTION: The substrate for mounting an optical semiconductor element includes a resin molding which includes a recessed portion composed of a bottom surface and an inner peripheral side, and also forms the inner peripheral side, wherein the bottom surface is a region for mounting an optical semiconductor element. The resin molding is formed from a thermosetting resin composition containing an epoxy resin and a curing agent. The cured product, which is obtained by performing transfer molding of the thermosetting resin composition on the condition that mold temperature is 180°C and curing time is 90 seconds, has a cure degree substantially equivalent to that of the cured product further experienced after curing by being heated at 150°C for three hours.

Description

本発明は、熱硬化性樹脂組成物に関する。本発明は更に、熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子及びその製造方法、並びに光半導体装置に関する。   The present invention relates to a thermosetting resin composition. The present invention further relates to an optical semiconductor element using the thermosetting resin composition, a method for manufacturing the same, and an optical semiconductor device.

従来、エポキシ樹脂は、優れた電気絶縁性、機械的強度、接着性、耐水性等の特徴を活かして、電気絶縁材料、半導体装置材料、光半導体封止材料、接着材料及び塗料材料などの様々な用途で用いられている。   Conventionally, epoxy resins have various characteristics such as electrical insulation materials, semiconductor device materials, optical semiconductor sealing materials, adhesive materials and paint materials, taking advantage of the characteristics such as excellent electrical insulation, mechanical strength, adhesion and water resistance. It is used for various purposes.

一般に、光半導体装置は、LED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)などの光半導体素子と蛍光体を組み合わせて構成される。光半導体装置は高エネルギー効率、長寿命などの利点を有することから、近年、屋外用ディスプレイ、携帯液晶バックライト、車載用途などにおいてその需要が拡大している。光半導体装置に用いられる光半導体素子搭載用基板は、射出成形法によって製造されるのが主流である。例えば、熱可塑性樹脂と二酸化チタン等の白色顔料を複合化した熱可塑性樹脂組成物を用いて、射出成形法の特徴を活かし安価ながら生産性に優れた光半導体素子搭載用基板が提供されている。   In general, an optical semiconductor device is configured by combining an optical semiconductor element such as an LED (Light Emitting Diode) and a phosphor. Since the optical semiconductor device has advantages such as high energy efficiency and long life, the demand for the display for outdoor use, portable liquid crystal backlight, in-vehicle use and the like has been increasing in recent years. An optical semiconductor element mounting substrate used in an optical semiconductor device is mainly manufactured by an injection molding method. For example, by using a thermoplastic resin composition in which a thermoplastic resin and a white pigment such as titanium dioxide are combined, a substrate for mounting an optical semiconductor element is provided that is inexpensive and excellent in productivity by taking advantage of the characteristics of an injection molding method. .

また、特許文献1では、エポキシ樹脂及び酸無水物系硬化剤を含む熱硬化性樹脂を用いた光半導体素子搭載用基板が開示されている。   Patent Document 1 discloses a substrate for mounting an optical semiconductor element using a thermosetting resin containing an epoxy resin and an acid anhydride curing agent.

特開2006−140207号公報JP 2006-140207 A

従来の熱硬化性樹脂組成物は、射出成形や押出成形法に用いられる熱可塑性樹脂成形材料と比較して、耐久性は優れるものの、必要とされる工程数が多く生産性の点では不利なものであった。   Although conventional thermosetting resin compositions are superior in durability to thermoplastic resin molding materials used in injection molding and extrusion molding methods, they require many steps and are disadvantageous in terms of productivity. It was a thing.

そこで、本発明の目的は、成形の工程の簡略化を可能にする熱硬化性樹脂組成物を提供することにある。また、本発明は当該樹脂組成物を用いた光半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。   Then, the objective of this invention is providing the thermosetting resin composition which enables the simplification of the process of shaping | molding. Moreover, an object of this invention is to provide the optical semiconductor device using the said resin composition, and its manufacturing method.

本発明は、エポキシ樹脂、硬化剤及び硬化触媒を含有する熱硬化性樹脂組成物に関する。本発明に係る熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物の硬化度は、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物と実質的に同等である。   The present invention relates to a thermosetting resin composition containing an epoxy resin, a curing agent and a curing catalyst. The degree of cure of the cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition according to the present invention under conditions of a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds was further cured by heating at 150 ° C. for 3 hours. Substantially equivalent to the later cured product.

本発明に係る熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物の、ガラス転移温度、40℃における貯蔵弾性率及びガラス領域における線膨張係数のうち少なくともいずれか一つは、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物に対して−5%〜+5%の範囲内にあってもよい。   The glass transition temperature, the storage elastic modulus at 40 ° C., and the linear expansion in the glass region of a cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition according to the present invention under conditions of a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds. At least one of the coefficients may be within a range of −5% to + 5% with respect to the cured product after further being cured by heating at 150 ° C. for 3 hours.

上記本発明に係る熱硬化性樹脂組成物によれば、アフターキュアの前であっても、アフターキュアの後と実質的に同等の硬化度、ガラス転移温度、貯蔵弾性率又は線膨張係数が達成される。したがって、アフターキュアの工程を行うことなく、熱硬化性樹脂組成物の成形品を製造することが可能になる。その結果、熱硬化性樹脂組成物の成形において、工 程を大幅に簡略化できる。   According to the thermosetting resin composition of the present invention, the degree of cure, the glass transition temperature, the storage elastic modulus, or the linear expansion coefficient substantially the same as that after the after-curing is achieved even before the after-curing. Is done. Therefore, it is possible to produce a molded article of the thermosetting resin composition without performing an after-curing step. As a result, the process can be greatly simplified in the molding of the thermosetting resin composition.

上記のような特徴を有する熱硬化性樹脂組成物は、例えば、下記一般式(1)で表される多価カルボン酸縮合体を含む硬化剤を用いることによって得られる。更に、係る硬化剤を用いることにより、熱硬化性樹脂組成物から透明で着色の少ない硬化物を得ることができる。   The thermosetting resin composition having the above-described characteristics can be obtained, for example, by using a curing agent containing a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following general formula (1). Furthermore, by using such a curing agent, a transparent and less colored cured product can be obtained from the thermosetting resin composition.

Figure 2013079384
Figure 2013079384

式(1)中、Rxは脂肪族炭化水素環を有し該脂肪族炭化水素環がハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭化水素基で置換されていてもよい2価の基を示し、同一分子中の複数のRxは同一でも異なっていてもよく、Ryは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示し、同一分子中の2個のRyは同一でも異なっていてもよく、n1は1以上の整数を示す。   In the formula (1), Rx represents an aliphatic hydrocarbon ring and the aliphatic hydrocarbon ring represents a divalent group which may be substituted with a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group, A plurality of Rx in the same molecule may be the same or different, and Ry represents a monovalent hydrocarbon group which may be substituted with an acid anhydride group or a carboxylic ester group, and two Rx in the same molecule Ry may be the same or different, and n1 represents an integer of 1 or more.

Ryは、下記化学式(20)で表される1価の基、又は、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ナフタレン及び水素化ビフェニルから選ばれる環式脂肪族炭化水素から水素原子を除くことにより誘導される1価の基であることが好ましい。   Ry is selected from a monovalent group represented by the following chemical formula (20), or cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated naphthalene, and hydrogenated biphenyl. It is preferably a monovalent group derived by removing a hydrogen atom from the cycloaliphatic hydrocarbon.

Figure 2013079384
Figure 2013079384

上記一般式(1)で表される多価カルボン酸縮合体は、下記一般式(1a)で表される化合物であることが特に好ましい。式(1a)中、mは0〜4の整数を示し、Rzはハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭素数1〜4の炭化水素基を示し、mが2〜4であるとき複数のRzは同一でも異なっていてもよく、互いに連結して環を形成していてもよく、n1は1以上の整数を示す。

Figure 2013079384
The polyvalent carboxylic acid condensate represented by the general formula (1) is particularly preferably a compound represented by the following general formula (1a). In the formula (1a), m represents an integer of 0 to 4, Rz represents a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms, and when m is 2 to 4, a plurality of Rz may be the same or different and may be linked to each other to form a ring, and n1 represents an integer of 1 or more.
Figure 2013079384

硬化剤は、下記一般式(21)で表されるトリカルボン酸化合物と下記一般式(22)で表されるモノカルボン酸化合物とを分子間で縮合させる方法により得ることのできる多価カルボン酸縮合体を含んでいてもよい。係る硬化剤を用いることによっても、アフターキュアの前であっても、アフターキュアの後と実質的に同等の硬化度、ガラス転移温度、貯蔵弾性率又は線膨張係数を達成することができる。

Figure 2013079384
The curing agent is a polyvalent carboxylic acid condensation obtainable by a method of condensing a tricarboxylic acid compound represented by the following general formula (21) and a monocarboxylic acid compound represented by the following general formula (22) between molecules. May contain body. By using such a curing agent, even before the after cure, substantially the same degree of cure, glass transition temperature, storage elastic modulus, or linear expansion coefficient as after the after cure can be achieved.
Figure 2013079384

式(21)及び(22)中、Rは脂肪族炭化水素環、非芳香族複素環又はシロキサン環を有する3価の基を示し、Rは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示し、同一分子中の2個のRは同一でも異なっていてもよい。 In formulas (21) and (22), R 1 represents a trivalent group having an aliphatic hydrocarbon ring, a non-aromatic heterocyclic ring or a siloxane ring, and R 2 is substituted with an acid anhydride group or a carboxylic ester group. 1 represents a monovalent hydrocarbon group, and two R 2 in the same molecule may be the same or different.

上記トリカルボン酸化合物が下記一般式(21a)で表されるイソシアヌル酸誘導体であり、上記モノカルボン酸化合物が下記化学式(22a)で表される水素化トリメリット酸無水物であってもよい。式(21a)中、Rは飽和炭化水素基又は不飽和炭化水素基を示す。 The tricarboxylic acid compound may be an isocyanuric acid derivative represented by the following general formula (21a), and the monocarboxylic acid compound may be a hydrogenated trimellitic acid anhydride represented by the following chemical formula (22a). In formula (21a), R 3 represents a saturated hydrocarbon group or an unsaturated hydrocarbon group.

Figure 2013079384
Figure 2013079384

硬化剤は、下記化学式(3)で表される多価カルボン酸縮合体を更に含んでいてもよい。   The curing agent may further contain a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following chemical formula (3).

Figure 2013079384
Figure 2013079384

硬化触媒の含有量は、エポキシ樹脂及び硬化剤の合計量100重量部に対して、1〜5重量部の範囲内にあることが好ましい。   The content of the curing catalyst is preferably in the range of 1 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of the epoxy resin and the curing agent.

別の側面において、本発明は、底面及び内周側面から構成される凹部を有するとともに該内周側面を形成する樹脂成形品を有し、該底面が光半導体素子搭載領域である光半導体素子搭載用基板に関する。前記樹脂成形品は、上記本発明に係る熱硬化性樹脂組成物から形成することのできるものである。   In another aspect, the present invention includes an optical semiconductor element mounting having a resin molded product that has a recess composed of a bottom surface and an inner peripheral side surface and forms the inner peripheral side surface, and the bottom surface is an optical semiconductor element mounting region. Related to the substrate The resin molded product can be formed from the thermosetting resin composition according to the present invention.

本発明に係る光半導体素子搭載用基板は、簡略化された工程によって高い生産性で製造されることが可能である。また、本発明に係る光半導体素子搭載用基板は耐久性の点でも十分に優れる。   The substrate for mounting an optical semiconductor element according to the present invention can be manufactured with high productivity by a simplified process. Further, the optical semiconductor element mounting substrate according to the present invention is sufficiently excellent in terms of durability.

更に別の側面において、本発明は、底面及び内周側面から構成される凹部を有するとともに該内周側面を形成する樹脂成形品を有し、該底面が光半導体素子搭載領域である光半導体素子搭載用基板の製造方法に関する。本発明に係る製造方法は、上記本発明に係る熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形することにより上記樹脂成形品を形成する工程を備える。   In still another aspect, the present invention provides an optical semiconductor element having a recess formed of a bottom surface and an inner peripheral side surface and a resin molded product forming the inner peripheral side surface, the bottom surface being an optical semiconductor element mounting region The present invention relates to a method for manufacturing a mounting substrate. The manufacturing method according to the present invention includes a step of forming the resin molded product by transfer molding the thermosetting resin composition according to the present invention.

本発明に係る製造方法によれば、耐久性に優れる光半導体素子搭載用基板を高い生産性で製造することが可能である。   According to the manufacturing method of the present invention, it is possible to manufacture an optical semiconductor element mounting substrate having excellent durability with high productivity.

更に別の側面において、本発明は光半導体装置に関する。本発明に係る光半導体装置は、上記本発明に係る光半導体素子搭載用基板と、当該光半導体素子搭載用基板の光半導体素子搭載領域に搭載された光半導体素子と、光半導体素子を当該光半導体素子搭載用基板の凹部内で覆う封止樹脂層とを備える。   In still another aspect, the present invention relates to an optical semiconductor device. An optical semiconductor device according to the present invention includes an optical semiconductor element mounting substrate according to the present invention, an optical semiconductor element mounted in an optical semiconductor element mounting region of the optical semiconductor element mounting substrate, and the optical semiconductor element in the optical semiconductor device. And a sealing resin layer that covers the concave portion of the semiconductor element mounting substrate.

本発明に係る光半導体装置は、簡略化された工程によって高い生産性で製造されることが可能である。また、本発明に係る光半導体装置は耐久性の点でも十分に優れる。   The optical semiconductor device according to the present invention can be manufactured with high productivity by a simplified process. In addition, the optical semiconductor device according to the present invention is sufficiently excellent in terms of durability.

本発明によれば、成形の工程の簡略化を可能にする熱硬化性樹脂組成物が提供される。本発明に係る熱硬化性樹脂組成物の成形に際しては、アフターキュア工程を省略することが可能であり、また、アフターキュアのために必要とされる設備が不要となる。   According to the present invention, there is provided a thermosetting resin composition capable of simplifying the molding process. When molding the thermosetting resin composition according to the present invention, the after-curing step can be omitted, and the equipment required for after-curing is not required.

本発明に係る熱硬化性樹脂組成物は、耐熱性及び耐光性の点でも優れており、光半導体装置搭載用基板を構成する光反射部材(リフレクター)として用いられる樹脂成形品を形成するための熱硬化性樹脂組成物として特に有用なものである。特に近年、LEDデバイスの高輝度化が進み、素子の発熱量増大によるジャンクション温度の上昇、更には直接的な光エネルギーの増大による材料の劣化の問題が顕在化していることから、耐熱性及び耐光性に優れることが重要である。   The thermosetting resin composition according to the present invention is excellent in terms of heat resistance and light resistance, and is used for forming a resin molded product used as a light reflecting member (reflector) constituting a substrate for mounting an optical semiconductor device. It is particularly useful as a thermosetting resin composition. Particularly in recent years, the brightness of LED devices has increased, and the problem of deterioration of materials due to an increase in the junction temperature due to an increase in the amount of heat generated by the elements and a direct increase in light energy has become apparent. It is important to have excellent properties.

光半導体装置の一実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows one Embodiment of an optical semiconductor device. 図1のII−II線に沿う断面図である。It is sectional drawing which follows the II-II line | wire of FIG. 光半導体装置の一実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows one Embodiment of an optical semiconductor device. 光半導体装置の一実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows one Embodiment of an optical semiconductor device.

以下、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments.

本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂、硬化剤及び硬化触媒を含有する。本実施形態に係る本発明の熱硬化性樹脂組成物は、光半導体装置等が有する光反射部材としての樹脂成形品を形成するために用いる光反射用熱硬化性樹脂組成物として特に好適に用いられる。   The thermosetting resin composition according to this embodiment contains an epoxy resin, a curing agent, and a curing catalyst. The thermosetting resin composition of the present invention according to the present embodiment is particularly suitably used as a light reflecting thermosetting resin composition used to form a resin molded product as a light reflecting member of an optical semiconductor device or the like. It is done.

本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、成形圧力6.9MPa、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物を、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアしたとき、アフターキュアされる前の硬化物の硬化度は、アフターキュアされた後の硬化物の硬化度と実質的に同等である。言い換えると、アフターキュアされる前の硬化物は、アフターキュアされた後の硬化物と実質的に同等のガラス転移温度、40℃における貯蔵弾性率又はガラス領域における線膨張係数を有する。より具体的には、トランスファー成形して得られる硬化物の、ガラス転移温度、40℃における貯蔵弾性率及びガラス領域における線膨張係数のうち少なくともいずれか一つは、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物に対して±5%以内にある。   A cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition according to the present embodiment under conditions of a mold temperature of 180 ° C., a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds is further heated by heating at 150 ° C. for 3 hours. When after-curing, the degree of cure of the cured product before after-curing is substantially equivalent to the degree of curing of the cured product after after-curing. In other words, the cured product before after-curing has a glass transition temperature substantially equal to that of the cured product after after-curing, a storage elastic modulus at 40 ° C., or a linear expansion coefficient in the glass region. More specifically, at least one of the glass transition temperature, the storage elastic modulus at 40 ° C., and the linear expansion coefficient in the glass region of the cured product obtained by transfer molding is obtained by heating at 150 ° C. for 3 hours. Furthermore, it is within ± 5% with respect to the cured product after being cured.

ガラス転移温度等の上記物性値の変化が±5%よりも大きいと、十分に硬化した成形品を得るためにはアフターキュアが必要とされることから、製造工数及び時間の点で不利となる。硬化反応が十分に進行しないままその後の製造工程に進むと、例えば光半導体素子を接着する工程や、光半導体装置をプリント基板等にはんだ、高温リフローなどにより実装する工程のような、200℃以上の加熱が必要とされる高温条件下の工程において、パッケージ又はリードフレームの剥離及びクラック、または、熱硬化性樹脂自体の熱分解による劣化が生じるおそれがある。そのため、光半導体装置の製造が困難となる場合がある。   If the change in physical properties such as glass transition temperature is greater than ± 5%, after-curing is required to obtain a fully cured molded product, which is disadvantageous in terms of manufacturing man-hours and time. . When proceeding to the subsequent manufacturing process without sufficiently proceeding with the curing reaction, for example, a step of adhering the optical semiconductor element or a step of mounting the optical semiconductor device to a printed circuit board by soldering, high-temperature reflow, etc. In a process under a high temperature condition that requires heating, there is a risk that the package or lead frame may be peeled off and cracked, or the thermosetting resin itself may be deteriorated due to thermal decomposition. For this reason, it may be difficult to manufacture the optical semiconductor device.

貯蔵弾性率は、例えば、アフターキュア前後それぞれの硬化物(樹脂成形品)から切り出された試験片の動的粘弾性をトーションモード、昇温速度5℃/minの条件で測定し、測定された動的粘弾性から所定の温度(例えば40℃)における貯蔵弾性率を読み取る方法によって測定することができる。測定装置としては、例えばTAインスツルメンツ社(旧レオメトリック社)製ARES2KSTDが用いられる。   The storage elastic modulus was measured, for example, by measuring the dynamic viscoelasticity of a test piece cut out from a cured product (resin molded product) before and after after-curing under conditions of a torsion mode and a heating rate of 5 ° C./min. It can measure by the method of reading the storage elastic modulus in predetermined | prescribed temperature (for example, 40 degreeC) from dynamic viscoelasticity. As the measuring device, for example, ARES2KSTD manufactured by TA Instruments (formerly Rheometric) is used.

ガラス転移温度及び線膨張係数は、例えば、アフターキュア前後それぞれの硬化物から切り出された、19mm×3mm×3mmのサイズを有する試験片の線膨張曲線を、昇温速度5℃/minの条件で測定する方法によって測定される。ガラス転移温度は、線膨張係数の屈曲点に基づいて決定される。更に、線膨張曲線から、ガラス転移温度以下の温度領域(ガラス領域)における所定の温度における線膨張係数が読み取られる。通常、40℃における線膨張係数は、ガラス領域における線膨張係数である。線膨張曲線の測定は、例えば、セイコーインスツルメンツ社製TMASS6000を用いて行われる。   The glass transition temperature and the linear expansion coefficient are, for example, a linear expansion curve of a test piece having a size of 19 mm × 3 mm × 3 mm cut out from each cured product before and after after-curing under the condition of a heating rate of 5 ° C./min. It is measured by the measuring method. The glass transition temperature is determined based on the inflection point of the linear expansion coefficient. Furthermore, the linear expansion coefficient at a predetermined temperature in the temperature region (glass region) below the glass transition temperature is read from the linear expansion curve. Usually, the linear expansion coefficient at 40 ° C. is the linear expansion coefficient in the glass region. The linear expansion curve is measured using, for example, a TASS6000 manufactured by Seiko Instruments Inc.

熱硬化性樹脂組成物を、熱硬化をともなう成形方法によって成形して、樹脂成形品を製造することができる。硬化条件は特に限定されない。成形方法としては、例えば、トランスファー成形、圧縮成形及び注型成形のような方法がある。半導体封止樹脂、光半導体封止樹脂、光半導体素子搭載用基板用の樹脂の成形は、例えば、金型温度180℃、成型圧力6.9MPa、硬化時間90秒のトランスファー成形によって行われる。この程度の短時間の硬化であっても、本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物によれば十分な硬化度を達成することが可能であることから、従来必要とされたアフターキュア工程を省略できる。   The thermosetting resin composition can be molded by a molding method involving thermosetting to produce a resin molded product. The curing conditions are not particularly limited. Examples of the molding method include methods such as transfer molding, compression molding, and cast molding. The molding of the semiconductor sealing resin, the optical semiconductor sealing resin, and the resin for the optical semiconductor element mounting substrate is performed, for example, by transfer molding with a mold temperature of 180 ° C., a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds. Even with such a short-time curing, according to the thermosetting resin composition according to the present embodiment, it is possible to achieve a sufficient degree of curing, the conventionally required after cure process Can be omitted.

熱硬化性樹脂組成物は、1種又は2種以上のエポキシ樹脂を含有する。エポキシ樹脂としては、例えば電子部品封止用エポキシ樹脂成形材料として一般に使用されているものを用いることができる。エポキシ樹脂の具体例としては、フェノールノボラック型エポキシ樹脂及びオルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂のような、フェノール類とアルデヒド類のノボラック樹脂をエポキシ化したもの、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS及びアルキル置換ビスフェノール等のジグリシジルエーテル、ジアミノジフェニルメタン及びイソシアヌル酸等のポリアミンとエピクロルヒドリンの反応により得られるグリシジルアミン型エポキシ樹脂、オレフィン結合を過酢酸等の過酸で酸化して得られる線状脂肪族エポキシ樹脂及び脂環族エポキシ樹脂がある。これらのうち比較的着色のないものが好ましい。係る観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ジグリシジルイソシアヌレート、トリグリシジルイソシアヌレート、及び、1,2−シクロヘキサンジカルボン酸、1,3−シクロヘキサンジカルボン酸又は1,4−シクロヘキサンジカルボン酸から誘導されるジカルボン酸ジグリシジルエステルから選ばれる少なくとも1種のエポキシ樹脂が好ましい。同様の理由から、フタル酸、テトラヒドロフタル酸、ヘキサヒドロフタル酸、メチルテトラヒドロフタル酸、ナジック酸及びメチルナジック酸等のジカルボン酸のジグリシジルエステルも好ましい。核水素化トリメリット酸又は核水素化ピロメリット酸のグリシジルエステルも好ましい。更に、シラン化合物を有機溶媒、有機塩基および水の存在下に加熱して、加水分解・縮合させることにより製造される、エポキシ基を有するポリオルガノシロキサンも好ましい。グリシジルメタクリレート単量体と、これと重合可能な単量体との共重合体である、下記式(7)で示されるエポキシ樹脂を用いることもできる。   The thermosetting resin composition contains one or more epoxy resins. As an epoxy resin, what is generally used, for example as an epoxy resin molding material for electronic component sealing can be used. Specific examples of the epoxy resin include epoxidized phenol and aldehyde novolak resins such as phenol novolak type epoxy resin and orthocresol novolak type epoxy resin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S and alkyl-substituted bisphenol. Diglycidyl ether such as diglycidyl ether, diaminodiphenylmethane and isocyanuric acid, etc., glycidylamine epoxy resin obtained by reaction of epichlorohydrin, linear aliphatic epoxy resin obtained by oxidizing olefin bond with peracid such as peracetic acid, and fat There are cyclic epoxy resins. Of these, those which are relatively uncolored are preferred. From such a viewpoint, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, diglycidyl isocyanurate, triglycidyl isocyanurate, and 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,3-cyclohexanedicarboxylic acid or At least one epoxy resin selected from dicarboxylic acid diglycidyl esters derived from 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid is preferred. For the same reason, diglycidyl esters of dicarboxylic acids such as phthalic acid, tetrahydrophthalic acid, hexahydrophthalic acid, methyltetrahydrophthalic acid, nadic acid and methylnadic acid are also preferred. Also preferred are glycidyl esters of nuclear hydrogenated trimellitic acid or nuclear hydrogenated pyromellitic acid. Furthermore, the polyorganosiloxane which has an epoxy group manufactured by heating a silane compound in presence of an organic solvent, an organic base, and water, and making it hydrolyze and condense is also preferable. An epoxy resin represented by the following formula (7), which is a copolymer of a glycidyl methacrylate monomer and a polymerizable monomer, can also be used.

Figure 2013079384
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式(7)中、Rはグリシジル基を示し、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜6の飽和又は不飽和の1価の炭化水素基を示し、Rは1価の飽和炭化水素基を示す。a及びbは正の整数を示す。 In formula (7), R 5 represents a glycidyl group, R 6 and R 7 each independently represent a hydrogen atom or a saturated or unsaturated monovalent hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms, and R 8 represents 1 Represents a saturated saturated hydrocarbon group. a and b represent a positive integer.

熱硬化性樹脂組成物は、上述の硬化特性を達成するために、硬化剤が、下記一般式(1)で表される多価カルボン酸縮合体で表される多価カルボン酸縮合体を含むことが好ましい。   In order to achieve the above-described curing characteristics, the thermosetting resin composition includes a polyvalent carboxylic acid condensate represented by a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following general formula (1). It is preferable.

Figure 2013079384
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式(1)中のRxは飽和炭化水素環を有する2価の飽和炭化水素基である。Rxが飽和炭化水素環を有する飽和炭化水素基であることにより、当該多価カルボン酸縮合体はエポキシ樹脂の透明な硬化物を形成させることが可能である。同一分子中の複数のRxは同一でも異なっていてもよい。Rxの飽和炭化水素環はハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭化水素基で置換されていてもよい。飽和炭化水素環を置換する炭化水素基は好ましくは飽和炭化水素基である。飽和炭化水素環は単環でもよいし、2以上の環から構成される縮合環、ポリシクロ環、スピロ環又は環集合であってもよい。Rxの炭素数は好ましくは3〜15である。   Rx in the formula (1) is a divalent saturated hydrocarbon group having a saturated hydrocarbon ring. When Rx is a saturated hydrocarbon group having a saturated hydrocarbon ring, the polyvalent carboxylic acid condensate can form a transparent cured product of an epoxy resin. A plurality of Rx in the same molecule may be the same or different. The saturated hydrocarbon ring of Rx may be substituted with a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group. The hydrocarbon group that substitutes the saturated hydrocarbon ring is preferably a saturated hydrocarbon group. The saturated hydrocarbon ring may be a single ring or a condensed ring, a polycyclo ring, a spiro ring or a ring assembly composed of two or more rings. The number of carbon atoms in Rx is preferably 3-15.

Rxは式(1)の重合体を得るために用いられるモノマーとしての多価カルボン酸からカルボキシル基を除いて誘導される基である。モノマーとしての多価カルボン酸は、重縮合の反応温度よりも高い沸点を有することが好ましい。   Rx is a group derived by removing a carboxyl group from a polyvalent carboxylic acid as a monomer used to obtain the polymer of the formula (1). The polyvalent carboxylic acid as a monomer preferably has a boiling point higher than the reaction temperature of polycondensation.

より具体的には、Rxはシクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ヒドロナフタレン及び水素化ビフェニルから選ばれる環式脂肪族炭化水素から水素原子を除くことにより誘導される2価の基であることが好ましい。Rxがこれらの基であることにより、透明で熱による着色の少ない硬化物が得られるという効果がより一層顕著に奏される。これら環式飽和炭化水素は、ハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭化水素基( 好ましくは飽和炭化水素基)で置換されていてもよい。   More specifically, Rx is a hydrogen atom from a cyclic aliphatic hydrocarbon selected from cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated hydronaphthalene and hydrogenated biphenyl. It is preferably a divalent group derived by removing. When Rx is such a group, the effect of obtaining a cured product that is transparent and less colored by heat is more remarkably exhibited. These cyclic saturated hydrocarbons may be substituted with a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group (preferably a saturated hydrocarbon group).

特に、Rxは1,2−シクロヘキサンジカルボン酸、1,3−シクロヘキサンジカルボン酸、1,4−シクロヘキサンジカルボン酸又はこれらの誘導体からカルボキシル基を除いて誘導される基であることが好ましい。すなわち、Rxは下記一般式(10)で表される2価の基であることが好ましい。式(10)中、mは0〜4の整数を示す。Rzはハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭素数1〜4の炭化水素基を示す。mが2〜4であるとき、複数のRzは同一でも異なっていてもよく、互いに連結して環を形成していてもよい。   In particular, Rx is preferably a group derived by removing a carboxyl group from 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,3-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid or derivatives thereof. That is, Rx is preferably a divalent group represented by the following general formula (10). In formula (10), m represents an integer of 0 to 4. Rz represents a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms. When m is 2 to 4, a plurality of Rz may be the same or different, and may be connected to each other to form a ring.

Figure 2013079384
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式(1)中の末端基であるRyは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示す。2個のRyは同一でも異なっていてもよい。Ryは、直鎖状、分岐状若しくは環状の炭素数2〜15の脂肪族若しくは芳香族モノカルボン酸(安息香酸等)からカルボキシル基を除くことにより誘導される1価の基であってもよい。Ryによって末端のカルボキシル基が封鎖され、これにより硬化剤を合成する際のカルボン酸基濃度が低減する。その結果、式(1)の多価カルボン酸縮合体の分子量の分散を抑えることができる。   Ry which is a terminal group in the formula (1) represents a monovalent hydrocarbon group which may be substituted with an acid anhydride group or a carboxylic ester group. Two Ry may be the same or different. Ry may be a monovalent group derived by removing a carboxyl group from a linear, branched or cyclic C2-C15 aliphatic or aromatic monocarboxylic acid (such as benzoic acid). . The terminal carboxyl group is blocked by Ry, thereby reducing the carboxylic acid group concentration when the curing agent is synthesized. As a result, dispersion of the molecular weight of the polyvalent carboxylic acid condensate of formula (1) can be suppressed.

Ryは、好ましくは、下記化学式(20)で表される1価の基、又は、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ナフタレン及び水素化ビフェニルから選ばれる環式脂肪族炭化水素から水素原子を除くことにより誘導される1価の基である。Ryがこれらの基であることにより、透明で熱による着色の少ない硬化物が得られるという効果がより一層顕著に奏される。   Ry is preferably a monovalent group represented by the following chemical formula (20), or cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated naphthalene and hydrogenated It is a monovalent group derived by removing a hydrogen atom from a cycloaliphatic hydrocarbon selected from biphenyl. When Ry is any of these groups, the effect of obtaining a cured product that is transparent and less colored by heat is more remarkably exhibited.

Figure 2013079384
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Rxが上記一般式(10)で表される2価の基であり、同時に、Ryが上記化学式(20)で表される1価の基であってもよい。すなわち、式(1)の多価カルボン酸縮合体は、下記一般式(1a)で表される化合物であってもよい。   Rx may be a divalent group represented by the general formula (10), and at the same time, Ry may be a monovalent group represented by the chemical formula (20). That is, the polycarboxylic acid condensate of formula (1) may be a compound represented by the following general formula (1a).

Figure 2013079384
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式(1)及び(1a)のn1は1以上の整数を示し、好ましくは1〜200の整数である。   N1 of Formula (1) and (1a) shows an integer greater than or equal to 1, Preferably it is an integer of 1-200.

式(1)の多価カルボン酸縮合体は、例えば、下記一般式(5)で表される多価カルボン酸及び下記一般式(6)で表されるモノカルボン酸を含む反応液中で、それぞれが有するカルボキシル基を分子間で脱水縮合させる工程を備える方法によって得ることができる。   In the reaction liquid containing the polycarboxylic acid represented by the following general formula (5) and the monocarboxylic acid represented by the following general formula (6), for example, the polyvalent carboxylic acid condensate of the formula (1) It can be obtained by a method comprising a step of dehydrating and condensing the carboxyl groups each has between molecules.

Figure 2013079384
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脱水縮合の反応液は、例えば、多価カルボン酸及びモノカルボン酸と、これらを溶解する無水酢酸又は無水プロピオン酸、塩化アセチル、脂肪族酸塩化物及び有機塩基(トリメチルアミン等)から選ばれる脱水剤とを含有する。例えば、反応液を5〜30分にわたって窒素雰囲気下で還流した後、反応液の温度を180℃まで上昇させて窒素気流下の開放系で、生成する酢酸及び水を留去することにより重縮合を進行させる。揮発成分の発生が認められなくなった時点で、反応容器内を減圧しながら180℃の温度で3時間にわたって、より好ましくは1時間にわたって溶融状態で重縮合を進行させる。生成した多価カルボン酸縮合体を、無水酢酸等の非プロトン性溶媒を用いた再結晶や再沈殿法によって精製してもよい。   The dehydrating condensation reaction liquid is, for example, a polyhydric carboxylic acid and a monocarboxylic acid, and a dehydrating agent selected from acetic anhydride or propionic anhydride, acetyl chloride, an aliphatic acid chloride, and an organic base (such as trimethylamine) that dissolve them. Containing. For example, after the reaction solution is refluxed in a nitrogen atmosphere for 5 to 30 minutes, the temperature of the reaction solution is increased to 180 ° C., and polycondensation is performed by distilling off the generated acetic acid and water in an open system under a nitrogen stream. To advance. When generation of volatile components is no longer observed, polycondensation proceeds in a molten state at a temperature of 180 ° C. for 3 hours, more preferably for 1 hour while reducing the pressure in the reaction vessel. The produced polyvalent carboxylic acid condensate may be purified by recrystallization or reprecipitation using an aprotic solvent such as acetic anhydride.

硬化剤は、下記一般式(21)で表されるトリカルボン酸化合物と下記一般式(22)で表されるモノカルボン酸化合物とを分子間で縮合させる方法により得ることのできる多価カルボン酸縮合体(以下場合により「トリカルボン酸縮合体」という。)を含んでいてもよい。このトリカルボン酸縮合体は単独で用いることもできるし、式(1)の多価カルボン酸縮合体と併用することもできる。   The curing agent is a polyvalent carboxylic acid condensation obtainable by a method of condensing a tricarboxylic acid compound represented by the following general formula (21) and a monocarboxylic acid compound represented by the following general formula (22) between molecules. (Hereinafter sometimes referred to as “tricarboxylic acid condensate”). This tricarboxylic acid condensate can be used alone or in combination with the polycarboxylic acid condensate of the formula (1).

Figure 2013079384
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上記トリカルボン酸縮合体は、下記一般式(2)で表される化合物を主成分として含む。   The tricarboxylic acid condensate contains a compound represented by the following general formula (2) as a main component.

Figure 2013079384
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式(21)、(22)及び(2)において、Rは脂肪族炭化水素環、非芳香族複素環又はシロキサン環を有する3価の基を示し、Rは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示す。 In the formulas (21), (22) and (2), R 1 represents a trivalent group having an aliphatic hydrocarbon ring, a non-aromatic heterocyclic ring or a siloxane ring, and R 2 represents an acid anhydride group or a carboxylic acid A monovalent hydrocarbon group which may be substituted with an ester group is shown.

は、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ナフタレン、水素化ビフェニル及び環状シロキサンから選ばれる脂肪族炭化水素環、イソシアヌル環等の非芳香族複素環、又はシロキサン環を有する。これにより、透明な硬化物を得ることが可能となる。 R 1 is a non-aromatic heterocyclic ring such as an aliphatic hydrocarbon ring selected from cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated naphthalene, hydrogenated biphenyl, and cyclic siloxane, isocyanuric ring, Or it has a siloxane ring. Thereby, a transparent cured product can be obtained.

式(22)のモノカルボン酸化合物は縮合反応の温度よりも高い沸点を有することが好ましい。式(22)のモノカルボン酸化合物は、例えば、水素化トリメリット酸無水物、又は、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ナフタレン及び水素化ビフェニルから誘導されるモノカルボン酸、及びこれらの誘導体から選ばれる。Rはこれらモノカルボン酸化合物からカルボキシル基を除いて誘導される基である。これらモノカルボン酸化合物の中でも、安価であるという観点から、シクロヘキサン及びその誘導体にカルボキシル基が結合したモノカルボン酸が望ましい。 The monocarboxylic acid compound of formula (22) preferably has a boiling point higher than the temperature of the condensation reaction. Monocarboxylic acid compounds of formula (22) are, for example, hydrogenated trimellitic anhydride, or cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated naphthalene and hydrogen Selected from monocarboxylic acids derived from biphenyl fluoride and derivatives thereof. R 2 is a group derived from these monocarboxylic acid compounds by removing a carboxyl group. Among these monocarboxylic acid compounds, monocarboxylic acids in which a carboxyl group is bonded to cyclohexane and its derivatives are desirable from the viewpoint of being inexpensive.

式(21)のトリカルボン酸化合物は、下記一般式(21a)で表されるイソシアヌル酸誘導体であることが好ましい。また、式(22)のモノカルボン酸化合物は、下記化学式(22a)で表される水素化トリメリット酸無水物であることが好ましい。好ましくは、トリカルボン酸縮合物は下記一般式(2a)で表される化合物を含む。   The tricarboxylic acid compound of the formula (21) is preferably an isocyanuric acid derivative represented by the following general formula (21a). Further, the monocarboxylic acid compound of the formula (22) is preferably a hydrogenated trimellitic anhydride represented by the following chemical formula (22a). Preferably, the tricarboxylic acid condensate includes a compound represented by the following general formula (2a).

Figure 2013079384
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式(21a)及び(2a)中、Rは飽和炭化水素基又は不飽和炭化水素基を示す。Rは直鎖状、分岐状、脂環式若しくは複素環式の炭素数2〜15の飽和炭化水素基若しくは不飽和炭化水素基であることが好ましい。 In the formulas (21a) and (2a), R 3 represents a saturated hydrocarbon group or an unsaturated hydrocarbon group. R 3 is preferably a linear, branched, alicyclic or heterocyclic saturated hydrocarbon group or unsaturated hydrocarbon group having 2 to 15 carbon atoms.

式(21)のトリカルボン酸化合物と式(22)のモノカルボン酸化合物とは、トリカルボン酸1当量に対して、モノカルボン酸を3当量の比率で反応させることが好ましい。   The tricarboxylic acid compound of the formula (21) and the monocarboxylic acid compound of the formula (22) are preferably reacted at a ratio of 3 equivalents to 1 equivalent of tricarboxylic acid.

硬化剤は、下記化学式(3)で表される多価カルボン酸縮合体を更に含んでいてもよい。式(3)の多価カルボン酸縮合体は、水素化トリメリット酸無水物2分子から誘導される。式(3)の化合物は、式(1)の多価カルボン酸縮合物又は上記トリカルボン酸縮合体を製造する際に副生成物として生成することがある。   The curing agent may further contain a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following chemical formula (3). The polyvalent carboxylic acid condensate of formula (3) is derived from two hydrogenated trimellitic anhydride molecules. The compound of the formula (3) may be generated as a by-product when the polyvalent carboxylic acid condensate of the formula (1) or the tricarboxylic acid condensate is produced.

Figure 2013079384
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式(1)の多価カルボン酸縮合体及び上記トリカルボン酸縮合体の数平均分子量Mnは200〜20000であることが好ましい。数平均分子量Mnが200よりも小さいと、熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形したときの樹脂汚れの発生が多くなる傾向がある。数平均分子量Mnが20000よりも大きいと、多価カルボン酸縮合物のエポキシ樹脂との相溶性が低下する傾向、及び、熱硬化性脂組成物のトランスファー成形時の流動性が低下する傾向がある。   The number average molecular weight Mn of the polycarboxylic acid condensate of the formula (1) and the tricarboxylic acid condensate is preferably 200 to 20000. When the number average molecular weight Mn is smaller than 200, there is a tendency that the occurrence of resin contamination increases when the thermosetting resin composition is transfer molded. When the number average molecular weight Mn is larger than 20000, the compatibility of the polyvalent carboxylic acid condensate with the epoxy resin tends to decrease, and the fluidity during transfer molding of the thermosetting fat composition tends to decrease. .

多価カルボン酸縮合体の数平均分子量Mnは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により、標準ポリスチレンによる検量線に基づいて測定される換算値である。GPCは、例えば、ポンプ(株式会社日立製作所製L−6200型)、カラム(TSKgel−G5000HXLおよびTSKgel−G2000HXL、いずれも東ソー株式会社製商品名)及び検出器(株式会社日立製作所製L−3300RI型)を用い、テトラヒドロフランを溶離液として温度30℃、流量1.0ml/minの条件で測定される。   The number average molecular weight Mn of the polyvalent carboxylic acid condensate is a conversion value measured by gel permeation chromatography (GPC) based on a calibration curve with standard polystyrene. GPC includes, for example, a pump (L-6200 manufactured by Hitachi, Ltd.), a column (TSKgel-G5000HXL and TSKgel-G2000HXL, both of which are trade names manufactured by Tosoh Corporation) and a detector (L-3300RI type manufactured by Hitachi, Ltd.). ) Using tetrahydrofuran as an eluent, under the conditions of a temperature of 30 ° C. and a flow rate of 1.0 ml / min.

式(1)の多価カルボン酸縮合体及び上記トリカルボン酸縮合体の、ICIコーンプレート型粘度計によって測定される粘度は、100〜150℃の範囲で100〜30000 mPa・sであることが好ましい。この粘度が100mPa・sよりも小さいと、熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形するときの樹脂汚れの発生が多くなる傾向がある。また、粘度が30000mPa・sよりも大きいと、熱硬化性樹脂組成物のトランスファー成形時の金型内での流動性が低下する傾向がある。ここで「粘度」とはICIコーンプレート型粘度計を用いて測定した際の粘度を示す。多価カルボン酸縮合体の粘度は、例えばReseach Equipment(London)LTD.製のICIコーンプレート型粘度計を用いて測定することができる。   The viscosity of the polycarboxylic acid condensate of the formula (1) and the tricarboxylic acid condensate as measured with an ICI cone plate viscometer is preferably 100 to 30000 mPa · s in the range of 100 to 150 ° C. . When this viscosity is less than 100 mPa · s, there is a tendency that the occurrence of resin contamination increases when transfer molding the thermosetting resin composition. Moreover, when a viscosity is larger than 30000 mPa * s, there exists a tendency for the fluidity | liquidity in the metal mold | die at the time of transfer molding of a thermosetting resin composition to fall. Here, “viscosity” indicates the viscosity when measured using an ICI cone plate viscometer. The viscosity of the polyvalent carboxylic acid condensate can be measured, for example, by Research Equipment (London) LTD. It can be measured using a manufactured ICI cone plate viscometer.

式(1)の多価カルボン酸縮合体及び上記トリカルボン酸縮合体の軟化点は、20〜150℃であることが好ましい。軟化点が20℃よりも小さいと、熱硬化性樹脂組成物を製造する際のハンドリング性、混練性及び分散性が低下し、均一な組成物を得難くなる傾向がある。また、軟化点が低いとトランスファー成形時の樹脂汚れの発生を効果的に抑えることが困難となる傾向がある。軟化点が150℃よりも大きいと、トランスファー成形、圧縮成形又は注型成形のために熱硬化性樹脂組成物を100℃〜200℃に加熱したときに、樹脂組成物中に固形物が溶け残る可能性がある。その結果均一な成形品(硬化体)を得ることができない可能性がある。多価カルボン酸縮合体の軟化点は、より好ましくは30〜80℃、更に好ましくは30〜50℃である。これにより熱硬化性樹脂組成物を製造する際の混練性がより向上する。   The softening point of the polycarboxylic acid condensate of formula (1) and the tricarboxylic acid condensate is preferably 20 to 150 ° C. When the softening point is less than 20 ° C., the handling property, kneading property and dispersibility in producing the thermosetting resin composition are lowered, and it tends to be difficult to obtain a uniform composition. Moreover, if the softening point is low, it tends to be difficult to effectively suppress the occurrence of resin stains during transfer molding. When the softening point is higher than 150 ° C., when the thermosetting resin composition is heated to 100 ° C. to 200 ° C. for transfer molding, compression molding or cast molding, the solid matter remains in the resin composition. there is a possibility. As a result, there is a possibility that a uniform molded product (cured body) cannot be obtained. The softening point of the polyvalent carboxylic acid condensate is more preferably 30 to 80 ° C, still more preferably 30 to 50 ° C. Thereby, the kneadability at the time of manufacturing a thermosetting resin composition improves more.

熱硬化性樹脂組成物は、以上のような多価カルボン酸縮合体以外の化合物を硬化剤として更に含有していてもよい。その他の硬化剤としては、例えば電子部品封止用エポキシ樹脂成形材料で一般に使用されているものを用いることができる。その他の硬化剤は、酸無水物系硬化剤(上述の多価カルボン酸縮合体を除く。)、又はイソシアヌル酸誘導体であることが好ましい。酸無水物系硬化剤は、多価カルボン酸が分子内で閉環縮合して形成される化合物である。   The thermosetting resin composition may further contain a compound other than the polyvalent carboxylic acid condensate as described above as a curing agent. As other curing agents, for example, those generally used in epoxy resin molding materials for electronic component sealing can be used. The other curing agent is preferably an acid anhydride curing agent (excluding the above-mentioned polyvalent carboxylic acid condensate) or an isocyanuric acid derivative. An acid anhydride curing agent is a compound formed by ring-closing condensation of a polyvalent carboxylic acid in a molecule.

酸無水物系硬化剤は、例えば、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、無水ジメチルグルタル酸、無水ジエチルグルタル酸、無水コハク酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸及びメチルテトラヒドロ無水フタル酸からなる群より選ばれる。イソシアヌル酸誘導体は、例えば、1,3,5−トリス(1−カルボキシメチル)イソシアヌレート、1,3,5−トリス(2−カルボキシエチル)イソシアヌレート、1,3,5−トリス(3−カルボキシプロピル)イソシアヌレート及び1,3−ビス(2−カルボキシエチル)イソシアヌレートからなる群より選ばれる。これらは、単独で用いても2種類以上併用しても良い。   Acid anhydride curing agents include, for example, phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride, nadic anhydride, glutaric anhydride Dimethyl glutaric anhydride, diethyl glutaric anhydride, succinic anhydride, methyl hexahydrophthalic anhydride, and methyl tetrahydrophthalic anhydride. Isocyanuric acid derivatives include, for example, 1,3,5-tris (1-carboxymethyl) isocyanurate, 1,3,5-tris (2-carboxyethyl) isocyanurate, 1,3,5-tris (3-carboxyl). Propyl) isocyanurate and 1,3-bis (2-carboxyethyl) isocyanurate. These may be used alone or in combination of two or more.

上記硬化剤の中では、無水フタル酸、無水トリメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、無水グルタル酸、無水ジメチルグルタル酸、無水ジエチルグルタル酸及び1,3,5−トリス(3−カルボキシプロピル)イソシアヌレートが好ましい。   Among the above curing agents, phthalic anhydride, trimellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, glutaric anhydride, dimethylglutaric anhydride, diethyl anhydride Glutaric acid and 1,3,5-tris (3-carboxypropyl) isocyanurate are preferred.

多価カルボン酸縮合体以外の硬化剤は、その分子量が100〜10000であることが好ましく、また、無色ないし淡黄色であることが好ましい。無水トリメリット酸及び無水ピロメリット酸等の芳香環を有する酸無水物は、芳香環の不飽和結合のすべてを水素化させた水素化物として用いられることが好ましい。ポリイミド樹脂の原料として一般的に使用される酸無水物を用いてもよい。   The curing agent other than the polyvalent carboxylic acid condensate preferably has a molecular weight of 100 to 10,000, and is preferably colorless or light yellow. An acid anhydride having an aromatic ring such as trimellitic anhydride and pyromellitic anhydride is preferably used as a hydride obtained by hydrogenating all unsaturated bonds of the aromatic ring. You may use the acid anhydride generally used as a raw material of a polyimide resin.

熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂100重量部と、硬化剤1〜150重量部とを含有することが好ましい。成形時の樹脂汚れを抑制するという観点から、エポキシ樹脂100重量部に対して、硬化剤が50〜120重量部であることがより好ましい。   The thermosetting resin composition preferably contains 100 parts by weight of an epoxy resin and 1 to 150 parts by weight of a curing agent. From the viewpoint of suppressing resin contamination during molding, the curing agent is more preferably 50 to 120 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin.

エポキシ樹脂及び硬化剤は、エポキシ樹脂中のエポキシ基1当量に対して、当該エポキシ基との反応可能な硬化剤中の活性基(酸無水物基及び水酸基等)が好ましくは0.6〜2.0当量、より好ましくは0.7〜0.8当量となるように配合される。活性基の当量が0.6未満であると、熱硬化性樹脂組成物の硬化速度が低下したり、得られる硬化物のガラス転移温度及び弾性率が低下したりする傾向がある。一方、活性基が2.0当量を超えると硬化物の強度が低下する場合がある。   The epoxy resin and the curing agent are preferably 0.6 to 2 active groups (an acid anhydride group and a hydroxyl group) in the curing agent capable of reacting with the epoxy group with respect to 1 equivalent of the epoxy group in the epoxy resin. It is mix | blended so that it may become 0.0 equivalent, More preferably, it is 0.7-0.8 equivalent. There exists a tendency for the cure rate of a thermosetting resin composition to fall that the equivalent of an active group is less than 0.6, and for the glass transition temperature and elastic modulus of the hardened | cured material obtained to fall. On the other hand, when the active group exceeds 2.0 equivalents, the strength of the cured product may decrease.

硬化触媒は、例えば、1,8−ジアザ−ビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7、トリエチレンジアミン及びトリ−2,4,6−ジメチルアミノメチルフェノールなどの3級アミン類;2−エチル−4メチルイミダゾール及び2−メチルイミダゾールなどのイミダゾール類;トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフルオロボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルジメチルホスフェート、テトラ−n−ブチルホスホニウムアセテート及びテトラ−n−ブチルホスホニウムオクチルカルボキシレートなどのリン化合物;4級アンモニウム塩;およびこれらの誘導体が挙げられる。これらは単独で使用してもよく、あるいは、併用してもよい。これらの硬化触媒の中では、3級アミン類、イミダゾール類又はリン化合物を用いることが好ましい。   Curing catalysts include, for example, tertiary amines such as 1,8-diaza-bicyclo (5,4,0) undecene-7, triethylenediamine and tri-2,4,6-dimethylaminomethylphenol; Imidazoles such as 4-methylimidazole and 2-methylimidazole; triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethylphosphorodithioate, tetra-n-butylphosphonium-tetrafluoro Phosphorus compounds such as borates, tetra-n-butylphosphonium-tetraphenylborate, tetra-n-butyldimethylphosphate, tetra-n-butylphosphonium acetate and tetra-n-butylphosphonium octylcarboxylate; Salts; and derivatives thereof. These may be used alone or in combination. Among these curing catalysts, tertiary amines, imidazoles or phosphorus compounds are preferably used.

硬化触媒の含有量は、エポキシ樹脂と(B)硬化剤の合計総重量100重量部に対して、好ましくは1〜5重量部、より好ましくは1〜3重量部の範囲内にある。硬化促進剤の含有量が1重量部未満であると、硬化促進効果が小さくなる傾向があり、5重量部を超えると、得られる成形体に変色が見られる場合がある。   The content of the curing catalyst is preferably in the range of 1 to 5 parts by weight, more preferably 1 to 3 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total total weight of the epoxy resin and (B) curing agent. When the content of the curing accelerator is less than 1 part by weight, the curing acceleration effect tends to be small, and when it exceeds 5 parts by weight, discoloration may be seen in the resulting molded article.

熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂、硬化剤及び硬化促進剤に加えて、有機酸金属塩及び金属アルコキサイドのうち少なくとも一方を更に含有することが好ましい。これらは、硬化触媒を更に活性化する硬化助剤として機能することができる。   The thermosetting resin composition preferably further contains at least one of an organic acid metal salt and a metal alkoxide in addition to the epoxy resin, the curing agent, and the curing accelerator. These can function as curing aids that further activate the curing catalyst.

有機酸金属塩は下記一般式(8):
(R0−COO)qM1
で表される金属石鹸であることが好ましい。式(8)中、R0はアルキレン基、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、エポキシ基を有する炭素数3〜50の1価の有機基、カルボキシル基を有する1価の有機基又は炭素数3〜500のポリアルキレンエーテル基を示し、M1は第3周期の金属元素、IIA族、IVB族、IIB族、VIII族、IB族、IIIA族、IIIB又はIVA族に属する金属元素を示し、qは1〜4の整数を示す。
The organic acid metal salt has the following general formula (8):
(R0-COO) qM1
It is preferable that it is a metal soap represented by these. In Formula (8), R0 is an alkylene group, an alkyl group, an aryl group, an alkoxy group, a monovalent organic group having 3 to 50 carbon atoms having an epoxy group, a monovalent organic group having a carboxyl group, or 3 to 3 carbon atoms. 500 represents a polyalkylene ether group, M1 represents a metal element belonging to the third period, Group IIA, IVB, IIB, Group VIII, Group IB, Group IIIA, IIIB or IVA, and q represents 1 Represents an integer of ~ 4.

M1はマグネシウム、カルシウム、バリウム、アルミニウム、スズ、チタン、鉄、コバルト、ニッケル、銅及び亜鉛から選ばれることが好ましい。化学的または物理的な安定性の観点から、より好ましくは、アルミニウム、スズ、チタン、鉄、コバルト、ニッケル、銅又は亜鉛である。亜鉛が最も好ましい。熱硬化性樹脂組成物の熱硬化反応過程や混練時のBステージ化(オリゴマー化または高分子量化)などの化学反応を伴う工程において、当該金属石鹸中に含まれる金属化合物が、予期しない副反応の反応触媒として作用しない有機酸金属塩を適宜選択することが好ましい。   M1 is preferably selected from magnesium, calcium, barium, aluminum, tin, titanium, iron, cobalt, nickel, copper and zinc. From the viewpoint of chemical or physical stability, aluminum, tin, titanium, iron, cobalt, nickel, copper, or zinc is more preferable. Zinc is most preferred. In a process involving a chemical reaction such as a thermosetting reaction process of a thermosetting resin composition or B-stage formation (oligomerization or high molecular weight) at the time of kneading, a metal compound contained in the metal soap causes an unexpected side reaction. It is preferable to appropriately select an organic acid metal salt that does not act as a reaction catalyst.

R0は、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸及びモンタン酸のような、炭素数10〜50の1価の脂肪族カルボン酸からカルボキシル基を除いた基である。   R0 is a group obtained by removing a carboxyl group from a monovalent aliphatic carboxylic acid having 10 to 50 carbon atoms, such as lauric acid, myristic acid, palmitic acid, stearic acid, and montanic acid.

有機酸金属塩の具体例としては、アルミニウムステアレート及び亜鉛ステアレートがある。市販品として入手可能なものとしては、例えば、日本油脂株式会社製ジンクステアレート及びアルミニウムステアレート300がある。   Specific examples of the organic acid metal salt include aluminum stearate and zinc stearate. Examples of commercially available products include zinc stearate and aluminum stearate 300 manufactured by Nippon Oil & Fat Co., Ltd.

有機酸金属塩としては、有機酸のアルカリ金属塩水溶液とM1の金属塩とを用いる湿式法、又は脂肪酸とM1の金属を直接反応させる乾式法により製造される金属石鹸が知られている。係る金属石鹸は、遊離脂肪酸及び水分を含んでいる場合がある。室温(0〜35℃)において、金属石鹸中の遊離脂肪酸の含有量は好ましくは20重量%以下、より好ましくは10重量%以下、さらに好ましくは5重量%以下であり、特に好ましくは0.5重量%以下である。遊離脂肪酸の含有量が20重量%よりも多いと、熱硬化性樹脂組成物の貯蔵安定性が低下する可能性がある。また、室温(0〜35℃)において、金属石鹸中の水分の含有量は好ましくは10重量%以下、より好ましくは5重量%以下、さらに好ましくは3重量%以下、特に好ましくは0.5重量%以下である。金属石鹸中の水分含有量が10重量%よりも多いと、硬化後の成形体の耐リフロー性が低下する場合がある。   As the organic acid metal salt, a metal soap produced by a wet method using an alkali metal salt aqueous solution of an organic acid and an M1 metal salt or a dry method in which a fatty acid and an M1 metal are directly reacted is known. Such metal soaps may contain free fatty acids and moisture. At room temperature (0 to 35 ° C.), the content of free fatty acid in the metal soap is preferably 20% by weight or less, more preferably 10% by weight or less, still more preferably 5% by weight or less, and particularly preferably 0.5% or less. % By weight or less. When there is more content of free fatty acid than 20 weight%, the storage stability of a thermosetting resin composition may fall. At room temperature (0 to 35 ° C.), the water content in the metal soap is preferably 10% by weight or less, more preferably 5% by weight or less, still more preferably 3% by weight or less, and particularly preferably 0.5% by weight. % Or less. If the water content in the metal soap is more than 10% by weight, the reflow resistance of the molded article after curing may be lowered.

有機酸金属塩は、エポキシ樹脂及び硬化剤に対する分散性の観点から、100℃以上200℃未満の融点を有することが好ましい。有機酸金属塩の融点はより好ましくは100℃以上、150℃未満であり、特に好ましくは110℃以上135℃未満である。融点が200℃を超えると、分散性が低下して成形工程において、熱硬化性樹脂組成物中に有機酸金属塩が固形のまま偏在しやすくなる。その結果離型不良が発生する場合がある。融点が100℃未満であると、ミキシングロールミルやニ軸押出等による混練の際に、熱硬化性樹脂組成物の粘度が低下して、混練性が十分に確保できない可能性がある。   The organic acid metal salt preferably has a melting point of 100 ° C. or higher and lower than 200 ° C. from the viewpoint of dispersibility with respect to the epoxy resin and the curing agent. The melting point of the organic acid metal salt is more preferably 100 ° C. or higher and lower than 150 ° C., particularly preferably 110 ° C. or higher and lower than 135 ° C. When the melting point exceeds 200 ° C., the dispersibility is lowered, and the organic acid metal salt tends to be unevenly distributed in the thermosetting resin composition in the molding step. As a result, a mold release failure may occur. When the melting point is less than 100 ° C., the kneadability may not be sufficiently ensured because the viscosity of the thermosetting resin composition is lowered during kneading by a mixing roll mill or biaxial extrusion.

金属アルコキサイドは、金属原子にその結合価数と同じ数の有機アルコキサイド分子が結合した化合物、又はこれらが多量化し鎖を形成した化合物である。金属アルコキサイドは特に限定されるものではないが、シランアルコキサイド、アルミニウムアルコキサイド及びチタンアルコキサイドから選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。これらの中でもシランアルコキサイドが材料コストの観点で好ましい。有機アルコキサイドは、特に限定はされないが炭素数2〜10のアルキルオキサイド(メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基及びイソプロポキシ基など)が好ましい。これらのなかでも、テトラエトキシシランが特に好ましい。例えばテトラメトキシシランは反応性が高く水分が混入するとゲル化し易い。テトラエトキシシランは、白色顔料の凝集を防止する点からもテトラメトキシシランよりも好ましい。   The metal alkoxide is a compound in which the same number of organic alkoxide molecules as the valence is bonded to a metal atom, or a compound in which these are quantified to form a chain. The metal alkoxide is not particularly limited, but is preferably at least one selected from silane alkoxide, aluminum alkoxide and titanium alkoxide. Among these, silane alkoxide is preferable from the viewpoint of material cost. The organic alkoxide is not particularly limited, but is preferably an alkyl oxide having 2 to 10 carbon atoms (methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, isopropoxy group, etc.). Of these, tetraethoxysilane is particularly preferable. For example, tetramethoxysilane is highly reactive and easily gels when moisture is mixed therein. Tetraethoxysilane is preferable to tetramethoxysilane from the viewpoint of preventing aggregation of the white pigment.

金属アルコキサイドの含有量は、エポキシ100重量部に対して、好ましくは0.5〜20重量部、より好ましくは1.0〜10重量部である。この含有量が20重量部よりも大きいと白色顔料の凝集が生じやすくなる傾向、及び熱硬化性樹脂組成物の硬化性が低下する傾向がある。含有量が0.5重量部よりも少ないと硬化助剤としての硬化促進効果が低下する傾向がある。   The content of the metal alkoxide is preferably 0.5 to 20 parts by weight, more preferably 1.0 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy. When this content is larger than 20 parts by weight, the white pigment tends to aggregate and the curability of the thermosetting resin composition tends to decrease. When the content is less than 0.5 parts by weight, the curing acceleration effect as a curing aid tends to decrease.

熱硬化性樹脂組成物は、高い反射率を達成するために、白色顔料を含有することが好ましい。白色顔料は、公知のものを特に制限なく使用することができる。白色顔料は、例えば、アルミナ、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化チタン、酸化ジルコニウム、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス及びシラスからなる群より選ばれる少なくとも1種である。白色顔料は無機中空粒子であってもよい。無機中空粒子は、例えば、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス又はシラスを含む。白色顔料の中心粒径は0.1〜50μmの範囲にあることが好ましい。この中心粒径が0.1μm未満であると粒子が凝集しやすいために分散性が低下する傾向があり、50μmを超えると硬化物の反射特性が低下する可能性がある。   The thermosetting resin composition preferably contains a white pigment in order to achieve high reflectance. A well-known thing can be especially used for a white pigment without a restriction | limiting. The white pigment is, for example, at least one selected from the group consisting of alumina, magnesium oxide, antimony oxide, titanium oxide, zirconium oxide, sodium silicate glass, aluminum silicate glass, borosilicate soda glass, and shirasu. The white pigment may be inorganic hollow particles. The inorganic hollow particles include, for example, sodium silicate glass, aluminum silicate glass, borosilicate soda glass, or shirasu. The center particle diameter of the white pigment is preferably in the range of 0.1 to 50 μm. When the center particle size is less than 0.1 μm, the particles tend to aggregate, so that the dispersibility tends to be lowered. When the center particle size exceeds 50 μm, the reflection property of the cured product may be lowered.

熱硬化性樹脂組成物は、白色顔料以外の無機充填材を更に含有していてもよい。無機充填剤の配合によって成形性を調整することができる。無機充填材は、特に限定されないが、例えば、シリカ、酸化アンチモン、酸化チタン、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、硫酸バリウム、炭酸マグネシウム及び炭酸バリウムからなる群から選ばれる少なくとも1種である。熱伝導性、光反射特性、成型性及び難燃性の点からは、シリカ、アルミナ、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化チタン、酸化ジルコニウム、水酸化アルミニウム及び水酸化マグネシウムから選ばれる2種類以上の組み合わせが好ましい。   The thermosetting resin composition may further contain an inorganic filler other than the white pigment. The moldability can be adjusted by blending the inorganic filler. The inorganic filler is not particularly limited, but is at least one selected from the group consisting of silica, antimony oxide, titanium oxide, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, barium sulfate, magnesium carbonate, and barium carbonate. Two or more combinations selected from silica, alumina, magnesium oxide, antimony oxide, titanium oxide, zirconium oxide, aluminum hydroxide, and magnesium hydroxide from the viewpoints of thermal conductivity, light reflection characteristics, moldability, and flame retardancy Is preferred.

無機充填材の中心粒径は、特に限定されないが、白色顔料とのパッキングが効率良くなるように1〜100μmの範囲にあることが好ましい。   The center particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably in the range of 1 to 100 μm so that packing with the white pigment is efficient.

無機充填材及び白色顔料の合計量は、熱硬化性樹脂組成物全体に対して、10体積%〜85体積%の範囲にあることが好ましい、この量が10体積%未満であると硬化物の光反射特性が低下する傾向があり、85体積%を超えると樹脂組成物の成型性が低下する傾向がある。   The total amount of the inorganic filler and the white pigment is preferably in the range of 10% by volume to 85% by volume with respect to the entire thermosetting resin composition. If this amount is less than 10% by volume, There exists a tendency for a light reflection characteristic to fall, and when it exceeds 85 volume%, there exists a tendency for the moldability of a resin composition to fall.

熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂及び硬化剤と無機充填材及び白色顔料との接着性を向上させる観点から、カップリング剤を含有することが好ましい。カップリング剤としては、特に限定されないが、例えば、シランカップリング剤及びチタネート系カップリング剤等がある。シランカップリング剤としては、エポキシシラン系、アミノシラン系、カチオニックシラン系、ビニルシラン系、アクリルシラン系、メルカプトシラン系及びこれらの組み合わせがある。任意の付着量で多々用いられる。カップリング剤の量、種類及び処理条件は特に限定されない。カップリング剤の配合量は熱硬化性樹脂組成物全体に対して5重量%以下が好ましい。熱硬化性樹脂組成物は、必要に応じて、酸化防止剤、離型剤及びイオン捕捉剤等の添加剤を含有してもよい。   It is preferable that a thermosetting resin composition contains a coupling agent from a viewpoint of improving the adhesiveness of an epoxy resin and a hardening | curing agent, an inorganic filler, and a white pigment. Although it does not specifically limit as a coupling agent, For example, there exist a silane coupling agent, a titanate coupling agent, etc. Examples of the silane coupling agent include epoxy silane, amino silane, cationic silane, vinyl silane, acrylic silane, mercapto silane, and combinations thereof. Often used in any amount of deposit. The amount, type and processing conditions of the coupling agent are not particularly limited. The blending amount of the coupling agent is preferably 5% by weight or less with respect to the entire thermosetting resin composition. The thermosetting resin composition may contain additives such as an antioxidant, a release agent, and an ion scavenger as necessary.

熱硬化前の熱硬化性樹脂組成物は、加圧成形により室温(15〜30℃)においてタブレットを形成可能であることが好ましい。加圧成形は、例えば、室温(25℃)において、5〜50MPa、1〜5秒程度の条件下で成形を行うことができればよい。   It is preferable that the thermosetting resin composition before thermosetting can form a tablet at room temperature (15-30 degreeC) by pressure molding. For example, the pressure molding may be performed at room temperature (25 ° C.) under conditions of 5 to 50 MPa and about 1 to 5 seconds.

熱硬化性樹脂組成物の熱硬化によって形成される硬化物の光反射率は、波長350nm〜800nmにおいて80%以上であることが望まれる。この光反射率が80%未満であると、光半導体装置の輝度向上の効果が低下する傾向がある。より好ましくは、光反射率は90%以上である。   The light reflectance of the cured product formed by thermal curing of the thermosetting resin composition is desirably 80% or more at a wavelength of 350 nm to 800 nm. If the light reflectance is less than 80%, the effect of improving the luminance of the optical semiconductor device tends to be reduced. More preferably, the light reflectance is 90% or more.

熱硬化性樹脂組成物は、上記各種成分を均一に分散及び混合する方法により得ることができる。混合の手段や条件等は特に限定されない。一般的な方法として、押出機、ニーダー、ロール、エクストルーダー等によって(溶融)混練し、混錬物を冷却及び粉砕する方法が挙げることができる。(溶融)混練の条件は、成分の種類や配合量により適宜決定すればよく、特に限定されないが、15℃〜100℃の範囲で5〜40分間(溶融)混練することが好ましく、20℃〜100℃の範囲で10〜30分間(溶融)混練することがより好ましい。(溶融)混練温度が15℃未満であると、各成分を(溶融)混練させることが困難であり、分散性も低下する傾向にあり、100℃よりも高温であると、樹脂組成物の高分子量化が進行し、樹脂組成物が硬化してしまう可能性がある。また、(溶融)混練時間が5分未満であると、トランスファー成形時に樹脂汚れ(樹脂バリ)が発生してしまう可能性が高くなる傾向にある。光半導体素子搭載領域の開口部に樹脂汚れが発生すると、光半導体素子を搭載する際の障害になる可能性や、光半導体素子と金属配線とをボンディングワイヤなどの方法により電気的に接続する際の障害になる可能性がある。混練時間が30分よりも長いと、樹脂組成物の高分子量化が進行し、樹脂組成物が硬化してしまう可能性がある。   The thermosetting resin composition can be obtained by a method in which the various components are uniformly dispersed and mixed. The mixing means and conditions are not particularly limited. As a general method, a method of (melting) kneading with an extruder, a kneader, a roll, an extruder or the like, and cooling and pulverizing the kneaded product can be mentioned. The conditions for (melting) kneading may be appropriately determined depending on the types and blending amounts of the components, and are not particularly limited, but are preferably (melting) kneading in the range of 15 ° C. to 100 ° C. for 5 to 40 minutes, It is more preferable to knead (melt) for 10 to 30 minutes in the range of 100 ° C. When the (melting) kneading temperature is less than 15 ° C., it is difficult to (melt) kneading each component, and the dispersibility tends to decrease. When the temperature is higher than 100 ° C., the resin composition has a high temperature. There is a possibility that the molecular weight proceeds and the resin composition is cured. Further, when the (melting) kneading time is less than 5 minutes, there is a high possibility that resin stains (resin burrs) are generated during transfer molding. If resin contamination occurs in the opening of the optical semiconductor element mounting region, it may become an obstacle when mounting the optical semiconductor element, or when the optical semiconductor element and the metal wiring are electrically connected by a method such as a bonding wire. Can be an obstacle. If the kneading time is longer than 30 minutes, the resin composition may increase in molecular weight and the resin composition may be cured.

熱硬化性樹脂組成物は、必要に応じ、エポキシ樹脂及び硬化剤を予備混合してから、混合物をロールミル、押出機などを用いて混練する方法によって製造してもよい。エポキシ樹脂及び硬化剤の少なくともどちらかの一方が、0℃〜35℃以下の温度範囲で液状である場合、または100〜200℃の温度範囲で10mPa・s未満の低粘度である場合、予備混合を実施することが好ましい。このような場合に予備混合を実施しないと、熱硬化性樹脂組成物の貯蔵安定性が低下したり、溶融粘度が著しく低くなってトランスファー成形が困難となったりする傾向がある。   You may manufacture a thermosetting resin composition by the method of knead | mixing a mixture using a roll mill, an extruder, etc., after pre-mixing an epoxy resin and a hardening | curing agent as needed. When at least one of the epoxy resin and the curing agent is liquid in a temperature range of 0 ° C. to 35 ° C. or has a low viscosity of less than 10 mPa · s in a temperature range of 100 to 200 ° C., premixing It is preferable to implement. If pre-mixing is not performed in such a case, the storage stability of the thermosetting resin composition tends to decrease, or the melt viscosity tends to be extremely low, making transfer molding difficult.

エポキシ樹脂及び硬化剤を予め混合する予備混合の工程において、それらの混合物の粘度が、100〜150℃の範囲で10〜10000mPa・sの範囲にあることが好ましく、100℃における粘度が10〜10000mPa・sの範囲にあることがより好ましい。この粘度が10mPa・sよりも低いとトランスファー成形時にバリが発生しやすくなる傾向があり、10000mPa・sを超えると流動性が低下して、金型に樹脂を流し込んで成形することが困難となる傾向がある。   In the step of premixing the epoxy resin and the curing agent in advance, the viscosity of the mixture is preferably in the range of 10 to 10000 mPa · s in the range of 100 to 150 ° C., and the viscosity at 100 ° C. is in the range of 10 to 10000 mPa -More preferably in the range of s. If this viscosity is lower than 10 mPa · s, burrs tend to occur during transfer molding, and if it exceeds 10000 mPa · s, the fluidity decreases, making it difficult to mold by pouring a resin into the mold. Tend.

エポキシ樹脂及び硬化剤は相溶性を有することが好ましい。言い換えると、エポキシ樹脂同士、及びエポキシ樹脂と硬化剤とが親和性を示し、これらの混合物が均一な状態で存在することが好ましい。より具体的には、例えばエポキシ樹脂と硬化剤とを1/1の重量比で混合し、混合物を120℃にて完全に溶解し、引き続き攪拌を行って得られる混合液を30分にわたり静置し、その後に混合液の一部を取り出して目視したときに、混合物が相分離のない透明な液体であることが確認できる場合に、両者が相溶性を有すると判断することができる。相分離によって不透明な液体である場合は「不溶」と称される。相溶性を有する組み合わせであっても、溶解するまでに長い時間が必要であると、長時間にわた加熱により多くの熱エネルギーを必要とし、生産性やコストの面で不利となる。   It is preferable that the epoxy resin and the curing agent have compatibility. In other words, it is preferable that the epoxy resins and the epoxy resin and the curing agent exhibit affinity and the mixture thereof exists in a uniform state. More specifically, for example, an epoxy resin and a curing agent are mixed at a weight ratio of 1/1, the mixture is completely dissolved at 120 ° C., and then the mixture obtained by stirring is allowed to stand for 30 minutes. Then, when a part of the mixed liquid is taken out and visually observed, it can be determined that the two are compatible when it can be confirmed that the mixture is a transparent liquid without phase separation. A liquid that is opaque due to phase separation is called "insoluble". Even if the combination has compatibility, if it takes a long time to dissolve, a large amount of heat energy is required for heating over a long period of time, which is disadvantageous in terms of productivity and cost.

予備混合工程において、エポキシ樹脂と硬化剤との反応物であるゲル等の析出物による白濁を生じないことが好ましい。析出物が発生すると粘度の増加が妨げられる。「析出物による白濁を生じない」とは電磁波の可視光領域における散乱がないことを意味する。より具体的には光のレイリー散乱、ミー散乱、回折散乱現象を生じるような、散乱中心を有する微粒子が混合物中に存在しないとき、「析出物による白濁を生じない」とみなすことができる。混合物の白濁の確認は、例えば、エポキシ樹脂100重量部及び硬化剤120重量部を耐熱ガラス製の容器に秤量し、容器をシリコーンオイルや水などの流体を媒体としたヒーターを用いて35℃〜180℃の温度範囲で加熱する方法によって行うことができる。加熱方法はこれに限定されるものではなく、熱電対、電磁波照射など公知の方法を用いることができ、さらに溶解を促進するために超音波などを照射してもよい。   In the preliminary mixing step, it is preferable that white turbidity due to precipitates such as gel that is a reaction product of the epoxy resin and the curing agent does not occur. When precipitates are generated, the increase in viscosity is hindered. “No white turbidity caused by precipitates” means that there is no scattering of electromagnetic waves in the visible light region. More specifically, when fine particles having scattering centers that cause Rayleigh scattering, Mie scattering, and diffraction scattering phenomenon of light are not present in the mixture, it can be regarded as “no white turbidity due to precipitates”. Confirmation of the cloudiness of the mixture is, for example, by weighing 100 parts by weight of an epoxy resin and 120 parts by weight of a curing agent into a container made of heat-resistant glass, and using a heater with a fluid medium such as silicone oil or water as a container. It can carry out by the method of heating in the temperature range of 180 degreeC. The heating method is not limited to this, and a known method such as thermocouple or electromagnetic wave irradiation can be used, and ultrasonic waves or the like may be irradiated to promote dissolution.

熱硬化性樹脂組成物に用いられるエポキシ樹脂及び硬化剤の一部又は全量を予備混合することができる。例えば、エポキシ樹脂100重量部及び硬化剤120重量部を含有する熱硬化性樹脂組成物を製造する場合、エポキシ樹脂50重量部及び硬化剤120重量部を耐熱ガラス製の容器に秤量する。次に容器をシリコーンオイルや水などの流体を媒体としたヒーターを用いて35℃から〜180℃の温度範囲で加熱して予備混合する。得られた予備混合物と、残りのエポキシ樹脂50重量部と、硬化触媒及び白色顔料それぞれの必要量とをロール混練などにより混合して、熱硬化性樹脂組成物を製造してもよい。   Part or all of the epoxy resin and the curing agent used in the thermosetting resin composition can be premixed. For example, when producing a thermosetting resin composition containing 100 parts by weight of an epoxy resin and 120 parts by weight of a curing agent, 50 parts by weight of the epoxy resin and 120 parts by weight of the curing agent are weighed in a container made of heat resistant glass. Next, the container is premixed by heating in a temperature range of 35 ° C. to ˜180 ° C. using a heater using a fluid such as silicone oil or water as a medium. The obtained preliminary mixture, the remaining 50 parts by weight of the epoxy resin, and the necessary amounts of the curing catalyst and the white pigment may be mixed by roll kneading or the like to produce a thermosetting resin composition.

図1は光半導体装置の一実施形態を示す斜視図であり、図2は図1のII−II線に沿う断面図である。図1、2に示す光半導体装置1は、底面S1及び内周側面S2から構成される凹部11を有する光半導体素子搭載用基板10と、光半導体素子搭載領域である底面S1に搭載された光半導体素子20と、光半導体素子20を凹部11内で覆う封止樹脂層30とから主として構成される。   FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of an optical semiconductor device, and FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II in FIG. The optical semiconductor device 1 shown in FIGS. 1 and 2 includes an optical semiconductor element mounting substrate 10 having a recess 11 composed of a bottom surface S1 and an inner peripheral side surface S2, and light mounted on the bottom surface S1, which is an optical semiconductor element mounting region. It is mainly composed of a semiconductor element 20 and a sealing resin layer 30 that covers the optical semiconductor element 20 in the recess 11.

光半導体素子搭載用基板10は、板状の金属配線12と、金属配線12上に設けられたNi/Agめっき13及びリフレクター15を有する。Ni/Agめっき13は底面S1を構成している。リフレクター15は、底面S1(Ni/Agめっき13)が露出する開口を形成する内周側面S2を有する。リフレクター15は、上述の実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物を成形して形成される樹脂成形品である。   The optical semiconductor element mounting substrate 10 includes a plate-shaped metal wiring 12, a Ni / Ag plating 13 and a reflector 15 provided on the metal wiring 12. The Ni / Ag plating 13 constitutes the bottom surface S1. The reflector 15 has an inner peripheral side surface S2 that forms an opening through which the bottom surface S1 (Ni / Ag plating 13) is exposed. The reflector 15 is a resin molded product formed by molding the thermosetting resin composition according to the above-described embodiment.

光半導体素子20は、ボンディングワイヤ21を介して金属配線12及びNi/Agめっき13と電気的に接続されている。金属配線12は、光半導体素子20の底部に接している部分とボンディングワイヤ21が接続されている部分とに分割されている。これら二つの部分の間には絶縁層16が介在している。絶縁層16は、上述の実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物によって形成されていてもよい。   The optical semiconductor element 20 is electrically connected to the metal wiring 12 and the Ni / Ag plating 13 via the bonding wire 21. The metal wiring 12 is divided into a portion in contact with the bottom of the optical semiconductor element 20 and a portion to which the bonding wire 21 is connected. An insulating layer 16 is interposed between these two portions. The insulating layer 16 may be formed of the thermosetting resin composition according to the above-described embodiment.

封止樹脂層30は、透明樹脂層31と、透明樹脂層31内に分散した蛍光体32とを含む。封止樹脂層30は、蛍光体を含有する公知の透明封止樹脂組成物を用いて形成することができる。   The sealing resin layer 30 includes a transparent resin layer 31 and a phosphor 32 dispersed in the transparent resin layer 31. The sealing resin layer 30 can be formed using a known transparent sealing resin composition containing a phosphor.

光半導体装置1は、例えば、上述の実施形態に係る光反射用熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形により成形して金属配線12上にリフレクター15としての樹脂成形品を形成する工程と、金属配線12上に電気めっきによりNi/Agめっき13を形成する工程と、光半導体素子20を半導体搭載領域(底面S1)に搭載する工程と、封止樹脂層30を形成する工程とを備える方法によって製造することができる。トランスファー成形の後、形成された樹脂成形品をアフターキュアすることなく、光半導体素子20の搭載等を行うことができる。   The optical semiconductor device 1 includes, for example, a step of forming a light-curing thermosetting resin composition according to the above-described embodiment by transfer molding to form a resin molded product as the reflector 15 on the metal wiring 12, and a metal wiring. Manufactured by a method including a step of forming Ni / Ag plating 13 on electroplating 12, a step of mounting optical semiconductor element 20 on a semiconductor mounting region (bottom surface S <b> 1), and a step of forming sealing resin layer 30. can do. After the transfer molding, the optical semiconductor element 20 can be mounted without post-curing the formed resin molded product.

金属配線12は、例えば、金属箔からの打ち抜き及びエッチング等の公知の方法により形成することができる。金属配線12を所定形状の金型に配置し、金型の樹脂注入口から熱硬化性樹脂組成物を注入し、これを好ましくは金型温度170〜200℃、成形圧力0.5〜20MPaで60〜120秒の条件で熱硬化させた後、金型を外す方法により、リフレクター15として樹脂成形品が得ることができる。   The metal wiring 12 can be formed by a known method such as punching from a metal foil and etching. The metal wiring 12 is placed in a mold having a predetermined shape, and a thermosetting resin composition is injected from a resin injection port of the mold, and this is preferably performed at a mold temperature of 170 to 200 ° C. and a molding pressure of 0.5 to 20 MPa. A resin molded product can be obtained as the reflector 15 by a method of removing the mold after thermosetting for 60 to 120 seconds.

本発明に係る光半導体素子搭載用基板及び光半導体素子は、上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変形が可能である。例えば、図3の断面図に示されるように、光半導体素子20がはんだバンプ22を介して金属配線12及びNi/Agめっき13と電気的に接続されていてもよい。また、図4に示されるように、金属配線を用いるのに代えて、リード40を用いてもよい。図4に示す実施形態に係る光半導体装置1においては、光半導体素子(LED素子)20がダイボンド材42によって半導体素子搭載用基板10に接着されている。光半導体素子搭載用基板は2以上の凹部を有していてもよい。   The substrate for mounting an optical semiconductor element and the optical semiconductor element according to the present invention are not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately modified without departing from the gist thereof. For example, as shown in the sectional view of FIG. 3, the optical semiconductor element 20 may be electrically connected to the metal wiring 12 and the Ni / Ag plating 13 via the solder bumps 22. Further, as shown in FIG. 4, a lead 40 may be used instead of using the metal wiring. In the optical semiconductor device 1 according to the embodiment shown in FIG. 4, the optical semiconductor element (LED element) 20 is bonded to the semiconductor element mounting substrate 10 with a die bond material 42. The optical semiconductor element mounting substrate may have two or more recesses.

以下、実施例を挙げて本発明についてより具体的に説明する。ただし、本発明はこれらに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the present invention is not limited to these.

多価カルボン酸縮合体の作製
下記の実施例A1、A2及びA3にそれぞれ示した繰り返し単位用のモノマーと両末端モノマーを、無水酢酸中で30分にわたって窒素雰囲気下で還流した。その後、液温を160℃まで上昇させ、窒素気流下、開放系で反応によって生成した酢酸及び水を開放系で留去した。揮発成分の生成が認められなくなった時点で、反応容器内を減圧しながら130℃の温度で7時間にわたって溶融縮合し、多価カルボン酸縮合体を得た。
(実施例A1)
繰り返し単位:水素化テレフタル酸(東京化成社製);125g
両末端:水素化無水トリメリット酸(三菱瓦斯化学社製,製品名H−TMAn);126g
(実施例A2)
繰り返し単位:水素化テレフタル酸;218g
両末端:水素化無水トリメリット酸;86g
(実施例A3)
繰り返し単位:1,3,5−トリス(3−カルボキシプロピル)イソシアヌレート(四国化成工業社製,製品名C3CIC酸);170g
両末端:水素化無水トリメリット酸;260g
Preparation of polyvalent carboxylic acid condensate The monomers for the repeating units and both end monomers shown in Examples A1, A2 and A3 below were refluxed in acetic anhydride for 30 minutes under a nitrogen atmosphere. Thereafter, the liquid temperature was raised to 160 ° C., and acetic acid and water produced by the reaction in an open system were distilled off in an open system under a nitrogen stream. When the generation of volatile components was not observed, melt condensation was performed at a temperature of 130 ° C. for 7 hours while reducing the pressure in the reaction vessel to obtain a polyvalent carboxylic acid condensate.
(Example A1)
Repeating unit: Hydrogenated terephthalic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry); 125 g
Both ends: hydrogenated trimellitic anhydride (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, product name H-TMAn); 126 g
(Example A2)
Repeating unit: hydrogenated terephthalic acid; 218 g
Both ends: hydrogenated trimellitic anhydride; 86 g
(Example A3)
Repeating unit: 1,3,5-tris (3-carboxypropyl) isocyanurate (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product name C3CIC acid); 170 g
Both ends: hydrogenated trimellitic anhydride; 260 g

多価カルボン酸縮合体の特性評価
実施例A1、A2及びA3の多価カルボン酸縮合体の数平均分子量、粘度及び軟化点を評価した。評価結果を表1に示した。
Characteristic evaluation of polyvalent carboxylic acid condensate The number average molecular weight, viscosity and softening point of the polyvalent carboxylic acid condensates of Examples A1, A2 and A3 were evaluated. The evaluation results are shown in Table 1.

数平均分子量Mnは、下記条件のゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により標準ポリスチレンによる検量線を用いて測定した。
・装置:ポンプ(株式会社日立製作所製L−6200型)、カラム(TSKgel―G5000HXLおよびTSKgel−G2000HXL、いずれも東ソー株式会社製商品名)、検出器(株式会社日立製作所製L−3300RI型)
・溶離液:テトラヒドロフラン
・温度30℃、流量1.0ml/min
The number average molecular weight Mn was measured using a standard polystyrene calibration curve by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.
Apparatus: Pump (L-6200 manufactured by Hitachi, Ltd.), column (TSKgel-G5000HXL and TSKgel-G2000HXL, both are trade names manufactured by Tosoh Corporation), detector (L-3300RI manufactured by Hitachi, Ltd.)
-Eluent: Tetrahydrofuran-Temperature 30 ° C, Flow rate 1.0 ml / min

粘度測定はReseach Equipment(London)LTD.製のICIコーンプレート型粘度計を用いて行った。軟化点は、多価カルボン酸縮合体をホットプレート上で加熱し、性状の変化を目視で確認する方法により評価した。   Viscosity measurements were made using Research Equipment (London) LTD. This was carried out using an ICI cone plate viscometer made by the manufacturer. The softening point was evaluated by a method of heating the polyvalent carboxylic acid condensate on a hot plate and visually confirming the change in properties.

Figure 2013079384
Figure 2013079384

(実施例B1〜B11、比較例B1〜B4)
熱硬化性樹脂組成物の作製
エポキシ樹脂及び硬化剤を予備混合した後、表2に示した配合表に従って各材料を配合した。配合物をミキサーによって十分混合した後、ミキシングロールにより所定条件で溶融混練し、混錬後の配合物を冷却してから粉砕して、実施例B1〜B11及び比較例B1〜B4の熱硬化性光反射用樹脂組成物を得た。表中の各成分の配合量の単位は重量部であり、空欄は配合無しであることを表す。
(Examples B1 to B11, Comparative Examples B1 to B4)
Preparation of Thermosetting Resin Composition After preliminarily mixing the epoxy resin and the curing agent, each material was blended according to the blending table shown in Table 2. After the blend is sufficiently mixed with a mixer, it is melt-kneaded under a predetermined condition with a mixing roll, the blend after cooling is pulverized and then pulverized, and the thermosetting properties of Examples B1 to B11 and Comparative Examples B1 to B4 A resin composition for light reflection was obtained. The unit of the blending amount of each component in the table is parts by weight, and the blank indicates that there is no blending.

熱硬化性樹脂組成物の評価
各実施例及び各比較例の樹脂組成物を下記の各種特性試験によりそれぞれ評価した。結果を表2に示す。
Evaluation of Thermosetting Resin Composition The resin compositions of Examples and Comparative Examples were evaluated by the following various characteristic tests. The results are shown in Table 2.

光反射性試験
各実施例及び各比較例の熱硬化性樹脂組成物を、成形型温度180℃、成形圧力6.9MPa、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形した。成形品の波長400nmにおける光反射率を、積分球型分光光度計V−750型(日本分光株式会社製)を用いて測定した。そして、下記の評価基準により光反射特性を評価した。評価結果を表2に示す。比較例B4についてはトランスファー成形不能であったため、カル部を使用し光学特性を評価した。
(光反射率の評価基準)
A:光波長400nmにおいて光反射率80%以上
B:光波長400nmにおいて光反射率70%以上、80%未満
C:光波長400nmにおいて光反射率70%未満
Light reflectivity test The thermosetting resin compositions of each Example and each Comparative Example were transfer molded under the conditions of a mold temperature of 180 ° C., a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds. The light reflectance at a wavelength of 400 nm of the molded product was measured using an integrating sphere spectrophotometer V-750 type (manufactured by JASCO Corporation). The light reflection characteristics were evaluated according to the following evaluation criteria. The evaluation results are shown in Table 2. Since Comparative Example B4 was not transfer moldable, the optical characteristics were evaluated using the cull portion.
(Evaluation criteria for light reflectance)
A: Light reflectance of 80% or more at a light wavelength of 400 nm B: Light reflectance of 70% or more and less than 80% at a light wavelength of 400 nm C: Light reflectance of less than 70% at a light wavelength of 400 nm

貯蔵弾性率
各実施例及び各比較例の熱硬化性樹脂組成物を、成形型温度180℃、成形圧力6.9MPa、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して、10×80×3mmのサイズを有する成形物を得た。得られた成形物の動的粘弾性を、TAインスツルメンツ社(旧レオメトリック社)製ARES2KSTDを用いて、昇温速度5℃/minの条件下で測定した。測定結果から、40℃及び260℃における貯蔵弾性率(GPa)を求めた。更に、トランスファー成形により得られた成形物を150℃、3時間の条件でアフターキュアして得た試験片の貯蔵弾性率も同様に求めた。
Storage modulus The thermosetting resin composition of each example and each comparative example was transfer molded under the conditions of a molding die temperature of 180 ° C., a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds, and a size of 10 × 80 × 3 mm. A molded product having was obtained. The dynamic viscoelasticity of the obtained molded product was measured under conditions of a temperature rising rate of 5 ° C./min using ARES2KSTD manufactured by TA Instruments (formerly Rheometric). From the measurement results, the storage elastic modulus (GPa) at 40 ° C. and 260 ° C. was determined. Furthermore, the storage elastic modulus of the test piece obtained by after-curing the molded product obtained by transfer molding at 150 ° C. for 3 hours was also obtained.

ガラス転移温度及び線膨張係数
各実施例及び各比較例の熱硬化性樹脂組成物を、成形型温度180℃、成型圧力6.9MPa、硬化時間90秒の条件でトランスファー成型して、10×80×3mmのサイズを有する成形物を得た。成形物から切り出した19mm×3mm×3mmのサイズを有する試験片の熱膨張曲線を、昇温速度5℃/minの条件下で測定した。測定装置はセイコーインスツルメンツ社製TMASS6000を用いた。得られた線膨張曲線の屈曲点に基づいてガラス転移温度(以下「Tg」と略す。)を求めた。また、Tg以下の温度及びTg以上の温度のそれぞれの領域における線膨張曲線の傾きを、線膨張係数として求めた。Tg以下の温度領域における線膨張係数をα1、Tg以上の温度領域における線膨張係数をα2と略す。更に、トランスファー成形により得られた成形物を150℃、3時間の条件でアフターキュアして得た試験片のガラス転移温度及び線膨張係数も同様に求めた。
Glass transition temperature and linear expansion coefficient The thermosetting resin compositions of the examples and comparative examples were transfer molded under conditions of a mold temperature of 180 ° C., a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds. A molded product having a size of × 3 mm was obtained. The thermal expansion curve of a test piece having a size of 19 mm × 3 mm × 3 mm cut out from the molded product was measured under the condition of a temperature rising rate of 5 ° C./min. As a measuring device, TMASS6000 manufactured by Seiko Instruments Inc. was used. The glass transition temperature (hereinafter abbreviated as “Tg”) was determined based on the inflection point of the obtained linear expansion curve. Moreover, the inclination of the linear expansion curve in each area | region of the temperature below Tg and the temperature above Tg was calculated | required as a linear expansion coefficient. The linear expansion coefficient in the temperature region below Tg is abbreviated as α1, and the linear expansion coefficient in the temperature region above Tg is abbreviated as α2. Furthermore, the glass transition temperature and the linear expansion coefficient of a test piece obtained by after-curing the molded product obtained by transfer molding at 150 ° C. for 3 hours were also obtained in the same manner.

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*1:トリグリシジルイソシアヌレート(エポキシ当量100、日産化学社製、商品名T EPIC−S)
*2:ヘキサヒドロ無水フタル酸(和光純薬社製)
*3:テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチエート(日本化学工業社製、商品名PX−4ET)
*4:トリメトキシエポキシシラン(東レダウコーニング社製、商品名A−187)
*5:溶融シリカ(電気化学工業社製、商品名FB−301)
*6:中空粒子(住友3M社製、商品名S6〇−HS)
*7:アルミナ(アドマテックス社製、商品名AO−802)
Figure 2013079384

* 1: Triglycidyl isocyanurate (epoxy equivalent 100, manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd., trade name T EPIC-S)
* 2: Hexahydrophthalic anhydride (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.)
* 3: Tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate (product name PX-4ET, manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.)
* 4: Trimethoxyepoxysilane (manufactured by Toray Dow Corning, trade name A-187)
* 5: Fused silica (trade name FB-301, manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd.)
* 6: Hollow particles (manufactured by Sumitomo 3M, trade name S600-HS)
* 7: Alumina (manufactured by Admatechs, trade name AO-802)

表2に示されるように、各実施例の熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、90秒の条件で熱硬化させて得られた硬化物(成形物)は、これをアフターキュアして硬化反応を更に進行させて得られる硬化物と実質的に同等の物性値(貯蔵弾性率、Tg及び線膨張係数)を示した。具体的にはアフターキュア前後で各物性値の変化率がいずれも±5%以内であった。貯蔵弾性率、ガラス転移点及び線膨張係数の値は、樹脂組成物に含まれる多官能エポキシ樹脂と硬化剤の化学反応によって生じた架橋度合いを反映している。これらの物性値がアフターキュア前後で大きく変化する場合は、アフターキュア前の硬化物の架橋反応が十分に進行していないと考えられる。   As shown in Table 2, the cured product (molded product) obtained by thermosetting the thermosetting resin composition of each example at a mold temperature of 180 ° C. for 90 seconds was subjected to after-curing. Thus, physical properties (storage modulus, Tg, and linear expansion coefficient) substantially equivalent to the cured product obtained by further proceeding the curing reaction were exhibited. Specifically, the rate of change of each physical property value was within ± 5% before and after the after cure. The values of storage elastic modulus, glass transition point, and linear expansion coefficient reflect the degree of crosslinking caused by the chemical reaction between the polyfunctional epoxy resin and the curing agent contained in the resin composition. When these physical property values change greatly before and after the after cure, it is considered that the crosslinking reaction of the cured product before the after cure has not sufficiently progressed.

以上の実験結果から、本発明の熱硬化性樹脂組成物を硬化させた場合はアフターキュア等の後硬化工程を省略できることがわかる。本発明の熱硬化性樹脂組成物は成形性が従来の樹脂組成物よりも優れており、光半導体搭載用基板の製造時間短縮など、生産性の面で非常に有利であり実用上好ましい。   From the above experimental results, it can be seen that when the thermosetting resin composition of the present invention is cured, a post-curing step such as after-cure can be omitted. The thermosetting resin composition of the present invention has a moldability superior to that of conventional resin compositions, is extremely advantageous in terms of productivity, such as shortening the manufacturing time of a substrate for mounting an optical semiconductor, and is practically preferable.

1…光半導体装置、10…光半導体素子搭載用基板、11…凹部、12…金属配線、15…リフレクター、16…絶縁層、20…光半導体素子、21…ボンディングワイヤ、22…はんだバンプ、30…封止樹脂層、31…透明樹脂層、32…蛍光体、40…リード、42…ダイボンド材、S1…底面(光半導体素子搭載領域)、S2…内周側面。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical semiconductor device, 10 ... Substrate for optical semiconductor element mounting, 11 ... Recess, 12 ... Metal wiring, 15 ... Reflector, 16 ... Insulating layer, 20 ... Optical semiconductor element, 21 ... Bonding wire, 22 ... Solder bump, 30 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Sealing resin layer, 31 ... Transparent resin layer, 32 ... Phosphor, 40 ... Lead, 42 ... Die-bonding material, S1 ... Bottom surface (optical semiconductor element mounting area), S2 ... Inner peripheral side surface.

Claims (14)

底面及び内周側面から構成される凹部を有するとともに該内周側面を形成する樹脂成形品を有し、該底面が光半導体素子搭載領域である光半導体素子搭載用基板であって、
前記樹脂成形品は、エポキシ樹脂及び硬化剤を含有する熱硬化性樹脂組成物から形成することができ、
当該熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物の硬化度が、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物と実質的に同等である、光半導体素子搭載用基板。
An optical semiconductor element mounting substrate having a recess formed of a bottom surface and an inner peripheral side surface and having a resin molded product forming the inner peripheral side surface, wherein the bottom surface is an optical semiconductor element mounting region,
The resin molded product can be formed from a thermosetting resin composition containing an epoxy resin and a curing agent,
The degree of cure of a cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition at a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds is further aftercured by heating at 150 ° C. for 3 hours. A substrate for mounting an optical semiconductor element, which is substantially equivalent to a cured product.
前記熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物のガラス転移温度が、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物に対して−5%〜+5%の範囲内にある、請求項1記載の光半導体素子搭載用基板。   After the glass transition temperature of the cured product obtained by transfer molding the thermosetting resin composition under conditions of a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds is further cured by heating at 150 ° C. for 3 hours. The substrate for mounting an optical semiconductor element according to claim 1, wherein the substrate is in a range of -5% to + 5% with respect to the cured product. 前記熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物の40℃における貯蔵弾性率が、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物に対して−5%〜+5%の範囲内にある、請求項1又は2記載の光半導体素子搭載用基板。   The storage elastic modulus at 40 ° C. of the cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition at a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds is further cured by heating at 150 ° C. for 3 hours. The substrate for mounting an optical semiconductor element according to claim 1, wherein the substrate is in a range of −5% to + 5% with respect to the cured product. 前記熱硬化性樹脂組成物を金型温度180℃、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形して得られる硬化物のガラス領域における線膨張係数が、150℃、3時間の加熱によって更にアフターキュアされた後の当該硬化物に対して−5%〜+5%の範囲内にある、請求項1〜3のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板。   The linear expansion coefficient in the glass region of the cured product obtained by transfer molding of the thermosetting resin composition at a mold temperature of 180 ° C. and a curing time of 90 seconds is further aftercured by heating at 150 ° C. for 3 hours. The optical-semiconductor element mounting substrate as described in any one of Claims 1-3 which exists in the range of -5%-+ 5% with respect to the said hardened | cured material after a long time. 前記硬化剤が、下記一般式(1)で表される多価カルボン酸縮合体を含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384

[式(1)中、Rxは脂肪族炭化水素環を有し該脂肪族炭化水素環がハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭化水素基で置換されていてもよい2価の基を示し、同一分子中の複数のRxは同一でも異なっていてもよく、Ryは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示し、同一分子中の2個のRyは同一でも異なっていてもよく、n1は1以上の整数を示す。]
The optical semiconductor element mounting substrate according to claim 1, wherein the curing agent includes a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following general formula (1).
Figure 2013079384

[In the formula (1), Rx represents a divalent group which has an aliphatic hydrocarbon ring and the aliphatic hydrocarbon ring may be substituted with a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group. A plurality of Rx in the same molecule may be the same or different, and Ry represents a monovalent hydrocarbon group which may be substituted with an acid anhydride group or a carboxylic acid ester group, and two Rx in the same molecule; Ry may be the same or different, and n1 represents an integer of 1 or more. ]
Ryが、下記化学式(20)で表される1価の基、又は、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロへプタン、シクロオクタン、ノルボルネン、ジシクロペンタジエン、アダマンタン、水素化ナフタレン及び水素化ビフェニルから選ばれる環式脂肪族炭化水素から水素原子を除くことにより誘導される1価の基である、請求項5記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384
Ry is selected from a monovalent group represented by the following chemical formula (20), or cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, norbornene, dicyclopentadiene, adamantane, hydrogenated naphthalene, and hydrogenated biphenyl. The substrate for mounting an optical semiconductor element according to claim 5, which is a monovalent group derived by removing a hydrogen atom from a cyclic aliphatic hydrocarbon.
Figure 2013079384
前記一般式(1)で表される多価カルボン酸縮合体が、下記一般式(1a)で表される化合物である、請求項5又は6記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384

[式(1a)中、mは0〜4の整数を示し、Rzはハロゲン原子又は直鎖状若しくは分岐状の炭素数1〜4の炭化水素基を示し、mが2〜4であるとき複数のRzは同一でも異なっていてもよく、互いに連結して環を形成していてもよく、n1は1以上の整数を示す。]
The substrate for mounting an optical semiconductor element according to claim 5 or 6, wherein the polyvalent carboxylic acid condensate represented by the general formula (1) is a compound represented by the following general formula (1a).
Figure 2013079384

[In Formula (1a), m represents an integer of 0 to 4, Rz represents a halogen atom or a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms, and when m is 2 to 4, Rz may be the same or different, and may be linked to each other to form a ring, and n1 represents an integer of 1 or more. ]
前記硬化剤が、下記一般式(21)で表されるトリカルボン酸化合物と下記一般式(22)で表されるモノカルボン酸化合物とを分子間で縮合させる方法により得ることのできる多価カルボン酸縮合体を含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384

[式(21)及び(22)中、Rは脂肪族炭化水素環、非芳香族複素環又はシロキサン環を有する3価の基を示し、Rは酸無水物基又はカルボン酸エステル基で置換されていてもよい1価の炭化水素基を示し、同一分子中の2個のRは同一でも異なっていてもよい。]
Polyhydric carboxylic acid that can be obtained by a method in which the curing agent condenses a tricarboxylic acid compound represented by the following general formula (21) and a monocarboxylic acid compound represented by the following general formula (22) between molecules. The optical semiconductor element mounting substrate according to claim 1, comprising a condensate.
Figure 2013079384

[In the formulas (21) and (22), R 1 represents a trivalent group having an aliphatic hydrocarbon ring, a non-aromatic heterocyclic ring or a siloxane ring, and R 2 represents an acid anhydride group or a carboxylic acid ester group. The monovalent hydrocarbon group which may be substituted is shown, and two R 2 in the same molecule may be the same or different. ]
前記トリカルボン酸化合物が下記一般式(21a)で表されるイソシアヌル酸誘導体であり、前記モノカルボン酸化合物が下記化学式(22a)で表される水素化トリメリット酸無水物である、請求項8記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384

[式(21a)中、Rは飽和炭化水素基又は不飽和炭化水素基を示す。]
The said tricarboxylic acid compound is an isocyanuric acid derivative represented by the following general formula (21a), and the said monocarboxylic acid compound is a hydrogenated trimellitic acid anhydride represented by the following chemical formula (22a). Substrate for mounting optical semiconductor elements.
Figure 2013079384

[In the formula (21a), R 3 represents a saturated hydrocarbon group or an unsaturated hydrocarbon group. ]
前記硬化剤が、下記化学式(3)で表される多価カルボン酸縮合体を更に含む、請求項5〜9のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板。
Figure 2013079384
The optical semiconductor element mounting substrate according to any one of claims 5 to 9, wherein the curing agent further contains a polyvalent carboxylic acid condensate represented by the following chemical formula (3).
Figure 2013079384
前記熱硬化性樹脂組成物が、硬化触媒を更に含有する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板。   The optical semiconductor element mounting substrate according to any one of claims 1 to 10, wherein the thermosetting resin composition further contains a curing catalyst. 前記硬化触媒の含有量が、前記エポキシ樹脂及び前記硬化剤の合計量100重量部に対して、1〜5重量部の範囲内にある、請求項11に記載の光半導体素子搭載用基板。   The substrate for mounting an optical semiconductor element according to claim 11, wherein the content of the curing catalyst is in the range of 1 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of the epoxy resin and the curing agent. 請求項1〜12のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板の製造方法であって、
前記熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形することにより前記樹脂成形品を形成する工程を備える、製造方法。
A method for manufacturing a substrate for mounting an optical semiconductor element according to any one of claims 1 to 12,
A production method comprising a step of forming the resin molded product by transfer molding the thermosetting resin composition.
請求項1〜12のいずれか一項に記載の光半導体素子搭載用基板と、
当該光半導体素子搭載用基板の光半導体素子搭載領域に搭載された光半導体素子と、
前記光半導体素子を当該光半導体素子搭載用基板の凹部内で覆う封止樹脂層と、
を備える光半導体装置。
The substrate for mounting an optical semiconductor element according to any one of claims 1 to 12,
An optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor element mounting region of the optical semiconductor element mounting substrate;
A sealing resin layer that covers the optical semiconductor element within the recess of the optical semiconductor element mounting substrate;
An optical semiconductor device comprising:
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