JP2013068537A - 吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置、及び検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】生理用ナプキン等の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の穴あき異常や接合異常を検査可能な検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】積層体３の片面のうちで圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成する撮像処理部３６と、第１二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、穴あき異常の有無の判定を行う第１異常判定処理部と、第２二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、接合異常の有無の判定を行う第２異常判定処理部と、を有する。
【選択図】図３

Description

本発明は、生理用ナプキン等の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置、及び検査方法に関する。

従来、排泄液等の液体を吸収する吸収性物品の一例として生理用ナプキンが知られている。かかるナプキンは、その構成部品として液体吸収性の積層体を有している。積層体は、パルプ繊維等の液体吸収性部材を素材とする吸収体と、この吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが溝状の圧搾部によって一体に接合されてなる。

かかる圧搾部の形成は、エンボス加工装置により行われる。すなわち、エンボス加工装置は、互いの外周面を対向させながら回転するエンボスロールとアンビルロールとを有し、これらロール同士の間のロール間隙には、吸収体が肌側シートに積層された状態で通される。そして、この通過時には、エンボスロールの外周面のエンボス凸部が、肌側シートの面を所定の形成パターンで押圧して肌側シートと吸収体との両者を厚み方向に圧搾し、これにより上記形成パターンで圧搾部が形成される（特許文献１）。

特開２０００−１４７０１号

ここで、圧搾部を形成する際の圧搾荷重が必要以上に大きいと、圧搾部が部分的に厚み方向に貫通して貫通孔を生じ、当該貫通孔が大きいと、このナプキンは穴あき異常となる。一方、圧搾荷重が必要なレベルよりも小さいと、圧搾部には、部分的に肌側シートと吸収体とが未接合の部分を生じ、当該未接合の部分が大きいと、このナプキンは接合異常となる。そのため、圧搾部の形成パターンを設計変更するなどして、上述の異常の発生に対処している。

しかし、最近では着用時のフィット性を高めるべく、吸収体に中高形状（中央部が周囲よりも高くなった形状）等の三次元形状を付与した類の製品が増えており、これらに対しては、圧搾部の形成パターンの設計変更などによって上述の異常の発生を抑え込むことが難しくなっている。そのため、ある割合での異常の発生を許容せざるを得ず、これに伴い、圧搾部の穴あき異常や接合異常を検査する検査装置及び検査方法の必要性が高まっている。

本発明は、上記のような従来の問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、生理用ナプキン等の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の穴あき異常や接合異常を検査可能な検査装置及び検査方法を提供することにある。

上記目的を達成するための主たる発明は、
液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査装置であって、
前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成する撮像処理部と、
前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第１二値化処理部と、
前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第２二値化処理部と、
前記第１二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、穴あき異常の有無の判定を行う第１異常判定処理部と、
前記第２二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、接合異常の有無の判定を行う第２異常判定処理部と、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置である。

また、
液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査方法であって、
前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成することと、
前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
前記第１閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記穴あき異常の有無の判定を行うことと、
前記第２閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記接合異常の有無の判定を行うことと、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査方法である。
本発明の他の特徴については、本明細書及び添付図面の記載により明らかにする。

本発明によれば、生理用ナプキン等の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の穴あき異常や接合異常を検査可能な検査装置及び検査方法を提供することができる。

図１Ａはナプキン１の平面図であり、図１Ｂは、図１Ａ中のＢ−Ｂ断面図である。 図２Ａは、図１Ａ中のII部拡大図であり、図２Ｂは、図２Ａ中のＢ−Ｂ断面図である。 ナプキン１の製造ラインにおいて検査装置３０に隣接するセクションＳ１，Ｓ２を拡大して示す概略側面図である。 平面画像及び検査ウインドウＷ１のイメージ図である。 図５Ａは、第１二値化処理前の検査ウインドウＷ１内の平面画像であり、図５Ｂは、同平面画像に対して第１二値化処理を行って生成された二値化画像である。 平面画像及び検査ウインドウＷ２のイメージ図である。 図７Ａは、第２二値化処理前の検査ウインドウＷ２内の平面画像であり、図７Ｂは、同平面画像に対して第２二値化処理を行って生成された二値化画像である。 平面画像及び検査ウインドウＷ３のイメージ図である。 図９Ａは、二値化処理前の検査ウインドウＷ３内の平面画像であり、図９Ｂは、同平面画像に対して第３二値化処理を行って生成された二値化画像であり、図９Ｃは、同平面画像に対して第４二値化処理を行って生成された二値化画像であり、図９Ｄは、図９Ｂの二値化画像と図９Ｃの二値化画像とを用いてなされる間隔Ｄｄの値の算出の説明図である。

本明細書及び添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査装置であって、
前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成する撮像処理部と、
前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第１二値化処理部と、
前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第２二値化処理部と、
前記第１二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、穴あき異常の有無の判定を行う第１異常判定処理部と、
前記第２二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、接合異常の有無の判定を行う第２異常判定処理部と、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第１閾値に基づいて、穴あき異常の有無の判定に特化した二値化画像を生成し、また、第２閾値に基づいて、接合異常の有無の判定に特化した二値化画像を生成する。そして、対応する各二値化画像に基づいて穴あき異常及び接合異常の有無の判定を行う。よって、積層体の圧搾部の穴あき異常及び接合異常の検査を正確に行うことができる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
複数の前記吸収体は、搬送方向に間欠的に並んだ状態で搬送され、
前記搬送方向に沿って回転するエンボスロールとアンビルロールとの間のロール間隙に、前記吸収体と前記肌側シートとが積層された状態で通される際に、前記エンボスロールと前記アンビルロールとが前記吸収体と前記肌側シートとを圧搾荷重で挟圧することにより、前記圧搾部の形成は行われ、
前記圧搾荷重の大きさは制御部によって制御され、
前記穴あき部分に係る前記第１異常判定処理部の判定結果が穴あき異常有りの場合には、前記制御部は、前記圧搾荷重を減少方向に変更し、
前記接合異常部分に係る前記第２異常判定処理部の判定結果が接合異常有りの場合には、前記制御部は、前記圧搾荷重を増加方向に変更するのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第１異常判定処理部の判定結果が穴あき異常有りの場合には、圧搾荷重を減じるので、穴あきの抑制を通して、穴あき異常の積層体を減らすことができる。
他方、第２異常判定処理部の判定結果が接合異常有りの場合には、圧搾荷重を増やすので、未接合状態の部分の抑制を通して、接合異常の積層体を減らすことができる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
前記第１異常判定処理部の穴あき異常の有無の判定は、前記第１二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値で特定される画像の大きさを示す値に基づいて行われ、
前記画像の大きさを示す値が規定の第１異常判定用閾値よりも大きい場合に、前記第１異常判定処理部は前記穴あき異常有りの判定を下し、
前記第２異常判定処理部の接合異常の有無の判定は、前記第２二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値ではない方の値で特定される画像の大きさを示す値に基づいて行われ、
前記画像の大きさを示す値が規定の第２異常判定用閾値よりも小さい場合に、前記第２異常判定処理部は前記接合異常有りの判定を下すのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第１異常判定処理部では、二値化画像のうちで、穴あき部分の撮像領域が含まれる方の画像の大きさを示す値が、規定の第１異常判定用閾値よりも大きい場合に、穴あき異常有りの判定を下す。よって、穴あき異常の有無を正確に判定することができる。
他方、第２異常判定処理部では、二値化画像のうちで、接合異常部分の撮像領域が含まれていない方の画像の大きさを示す値、つまり正常接合部分の撮像領域が含まれている方の画像の大きさを示す値が、規定の第２異常判定用閾値よりも小さい場合に、接合異常有りの判定を下す。よって、接合異常の有無を正確に判定することができる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
前記平面画像データを第３閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分が含まれるように二値化処理を行う第３二値化処理部と、
前記平面画像データを第４閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記吸収体の前記搬送方向の端部の撮像部分が含まれるように二値化処理を行う第４二値化処理部と、
前記第３二値化処理部で生成された二値化画像及び前記第４二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、前記吸収体に対する前記圧搾部の前記搬送方向に係る相対位置が目標範囲内に入っているか否かの判定を行う第３異常判定処理部と、を有し、
前記第３異常判定処理部の判定結果が、前記目標範囲内に入っていないとの判定の場合には、前記相対位置が前記目標範囲内に入るように、前記制御部は、前記エンボスロールの回転動作を制御するのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第３異常判定処理部は、圧搾部に係る二値化画像と、吸収体の端部に係る二値化画像とに基づいて、吸収体に対する圧搾部の搬送方向に係る相対位置が目標範囲内に入っているか否かの判定を行う。そして、その判定結果が、当該相対位置が目標範囲内に入っていない場合には、制御部は、当該相対位置が目標範囲内に入るように、エンボスロールの回転動作を制御する。よって、吸収体に対する圧搾部の搬送方向に係る相対位置ずれを抑制し、当該相対位置ずれ起因の異常を抑制可能となる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
複数の前記積層体は、搬送方向に沿って並んだ状態で搬送され、
前記圧搾部は、前記肌側シートにおける肌側の面に、前記搬送方向と直交する幅方向及び前記搬送方向の両方向に延在する溝状の輪郭部を有し、
前記第１二値化処理部は、前記平面画像における二値化処理の対象領域を内方に区画して限定する少なくとも一つの検査ウインドウを設定し、
前記少なくとも一つの検査ウインドウは、前記圧搾部における前記搬送方向の下流端部の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウと、前記圧搾部の前記輪郭部のうちで前記幅方向に括れた部分の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウとのうちの何れかであり、
前記第２二値化処理部は、前記平面画像における二値化処理の対象領域を内方に区画して限定する少なくとも一つの検査ウインドウを設定し、
前記少なくとも一つの検査ウインドウは、前記圧搾部における前記搬送方向の上流端の部分であって前記幅方向に沿った前記部分の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウと、前記圧搾部の一部であって、前記輪郭部の内方に囲まれた領域を前記幅方向に横断する前記一部の撮像部分に設定される検査ウインドウとのうちの何れかであるのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第１二値化処理部は、検査ウインドウによって二値化処理の対象範囲を限定する。また、かかる対象領域の何れも、穴あきが最も発生し易い部分の撮像部分である。よって、第１二値化処理部及び第１異常判定処理部は、演算負荷の軽減を図りながら、穴あき異常の有無の判定を正確に行うことができる。
同じく、第２二値化処理は、検査ウインドウによって二値化処理の対象範囲を限定し、そして、かかる対象領域の何れも、接合異常が最も発生し易い部分の撮像部分である。よって、第２二値化処理部及び第２異常判定処理部は、演算負荷の軽減を図りながら、接合異常の有無の判定を正確に行うことができる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
複数の前記積層体は、搬送方向に沿って並んだ状態で搬送されており、
前記圧搾部が形成された領域が前記積層体毎に撮像されて前記平面画像データが生成されるのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、積層体毎に平面画像データを生成するので、全ての積層体が検査対象となる。つまり全数検査が行われ、その結果、品質管理の管理精度の向上を図れる。

かかる吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
前記圧搾部は、前記厚み方向に圧搾された低圧搾部と、前記低圧搾部よりも高い圧縮率で前記厚み方向に圧搾された高圧搾部とを有し、
前記穴あき部分及び前記接合異常部分は、前記高圧搾部に生じ、
前記撮像処理部は、前記積層体を前記厚み方向に透過する透過光を受光して撮像し、
前記第１閾値は、前記高圧搾部の撮像部分の明度と、前記穴あき部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定され、
前記第２閾値は、前記高圧搾部の撮像部分の明度と、前記接合異常部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定されているのが望ましい。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置によれば、第１閾値は、高圧搾部の撮像部分の明度と、穴あき部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定されている。よって、高圧搾部に生じる穴あき部分を確実に検査可能となる。また、第２閾値は、高圧搾部の撮像部分の明度と、接合異常部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定されている。よって、高圧搾部に生じる接合異常部分を確実に検査可能となる。

また、
液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査方法であって、
前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成することと、
前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
前記第１閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記穴あき異常の有無の判定を行うことと、
前記第２閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記接合異常の有無の判定を行うことと、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査方法。

このような吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査方法によれば、第１閾値に基づいて、穴あき異常の有無の判定に特化した二値化画像を生成し、また、第２閾値に基づいて、接合異常の有無の判定に特化した二値化画像を生成する。そして、対応する各二値化画像に基づいて穴あき異常及び接合異常の有無の判定を行う。よって、積層体の圧搾部の穴あき異常及び接合異常の検査を正確に行うことができる。

＝＝＝本実施形態＝＝＝
本実施形態の吸収性物品に係る積層体１ｂの圧搾部７の検査装置３０は、吸収性物品の一例としての生理用ナプキン１の製造ラインで使用される。
図１Ａはナプキン１の平面図であり、図１Ｂは、図１Ａ中のＢ−Ｂ断面図である。また、図２Ａは、図１Ａ中のII部拡大図であり、図２Ｂは、図２Ａ中のＢ−Ｂ断面図である。

図１Ａ及び図１Ｂに示すように、ナプキン１は、例えば液透過性で熱可塑性繊維を有する白色の不織布等のトップシート２（肌側シートに相当）と、フィルム等の液不透過性のバックシート４と、これらの間に介装されて体液を吸収する吸収体３と、を有する。

吸収体３は、白色のパルプ繊維等の液体吸収性繊維（液体吸収性素材に相当）を略直方体等の所定形状に成形したものを本体とする。その平面サイズは、ナプキン１の長手方向及び幅方向の両方向に関して、トップシート２及びバックシート４の両者よりも小さいサイズになっている。よって、これらシート２，４同士は、上記の両方向に関して吸収体３からはみ出す部分にて互いに貼り合わせられ、これにより、これらシート２，４同士の間に吸収体３は保持されている。なお、ここでは、吸収体３の本体の形状として略直方体を例示しているが、何等これに限るものではなく、例えば前述した中高形状の如き所定の三次元形状に成形したものを本体としても良い。また、吸収体３は、単にパルプ繊維を成形してなる成形体に限るものではなく、パルプ繊維の成形体をティッシュペーパーで被覆したものを用いても良いし、内部に高吸収性ポリマーが混入されていても良い。

トップシート２の表面（「肌側シートの面」に相当）には、圧搾部の一例としてのエンボス溝７が所定の形成パターンでナプキン１の厚み方向に圧搾されて形成されている。これにより、トップシート２と吸収体３とは接合一体化されている。図２Ａ及び図２Ｂに示すように、エンボス溝７は、その底部７ｂに、当該底部７ｂよりも高い圧縮率で厚み方向に圧搾された複数の高圧搾部７ａ，７ａ…を有している。そして、これら高圧搾部７ａ，７ａ…は、底部７ｂに離散的に所定パターンの一例として千鳥模様で形成されており、実質的には、高圧搾部７ａ，７ａ…によってトップシート２と吸収体３とが一体に溶着接合されている。なお、以下では、エンボス溝７の底部７ｂのことを低圧搾部７ｂとも言う。ちなみに、低圧搾部７ｂよりも高圧搾部７ａの方が厚みの薄い薄肉部となっている。

また、この図１Ａの例では、エンボス溝７の輪郭部は、トップシート２の表面において、ナプキン１の長手方向に長い略長円形状に形成されていて、その内方に閉領域７Ｒが区画されているが、その形状は何等略長円形状に限らず別形状でも良く、更には、複数の溝状部分が、互いに不連続に組み合わされて、全体として一つの形成パターンをなしていても良いし、溝状部分に代えて、複数の島状凹部の集合体が一つの形成パターンで押圧形成されていても良い。

かかるナプキン１の製造ラインでは、適宜な搬送機構２４により、ナプキン１の半製品１ａを所定の搬送方向に沿って所定の搬送速度で搬送する。そして、かかる搬送中に、当該半製品１ａに対して各種部品の接着や溶着、プレス・打ち抜き等の各種加工が施され、その度に順次半製品１ａが状態を変えていきながら、最終的に、図１Ａの状態のナプキン１が生成される。この例では、半製品１ａは所謂縦流れで搬送されている。つまり、ナプキン１の長手方向に相当する方向を、搬送方向に揃えながら半製品１ａは搬送されている。半製品１ａの搬送に供する搬送機構２４としては、例えば、載置面たるベルト面に吸引保持機能を有したサクションベルトコンベアや、上下に対で配された無端ベルト同士の間に半製品１ａの搬送路を形成するベルトコンベア、あるいは搬送ローラー等が使用される。

図３は、ナプキン１の製造ラインにおいて検査装置３０に隣接するセクションＳ１，Ｓ２を拡大して示す概略側面図である。なお、以下では、半製品１ａの搬送方向と直交する方向（図３中では、その紙面を貫通する方向）のことを「ＣＤ方向」とも言う。

図３に示すセクションＳ１には、半製品１ａとして、トップシート２の連続シート２ａ（以下、単にトップシート２ａとも言う）の下面に複数の吸収体３，３…が搬送方向に間欠的に配置された形態のものが、搬送方向に連続して送られる。詳しくは、複数の吸収体３，３…は、同トップシート２ａの下面におけるＣＤ方向の中央部に、搬送方向に製品ピッチで積層して配置されている。そして、先ず、エンボス加工セクションＳ１では、エンボス加工装置１０によって、トップシート２の表面（つまり肌側当接面）に相当する上面の方から同上面にエンボス溝７を形成する。

エンボス加工装置１０は、外周面を互いに対向させつつ、ＣＤ方向に沿った回転軸Ｃ１０周りに駆動回転する上下一対のロール１０ａ，１０ｂを有している。そして、この例では、トップシート２側からエンボス溝７を凹ませて形成可能なように、上ロール１０ａの方が、外周面にエンボス凸部１２を有したエンボスロールとなっており、下ロール１０ｂの方は、平滑な外周面でエンボス凸部１２を受けるアンビルロールとなっている。また、エンボス凸部１２は、上述のエンボス溝７に対応した形状でエンボスロール１０ａの外周面から突出している。詳しくは、エンボス凸部１２は、低圧搾部７ｂの形成用に突出するリブ部（不図示）と、高圧搾部７ａ，７ａ…の形成用にリブ部の頂面に離散的に設けられた島状凸部（不図示）とを有している。よって、これらロール１０ａ，１０ｂ同士の間のロール間隙を半製品１ａが通過する際に、当該半製品１ａにおけるＣＤ方向の中央部がエンボス凸部１２とアンビルロール１０ｂの外周面とで所定の圧搾荷重で挟圧されて、同中央部に、高圧搾部７ａ，７ａ…と低圧搾部７ｂとを有したエンボス溝７が圧搾形成される。

なお、かかるエンボス加工装置１０は、圧搾荷重の大きさを調整可能に構成されている。すなわち、エンボスロール１０ａ又はアンビルロール１０ｂの少なくとも一方１０ａ（１０ｂ）は、ロール１０ａ（１０ｂ）のＣＤ方向の両端部において、適宜な油圧シリンダー等のアクチュエータ（不図示）により昇降可能に支持されており、また、アクチュエータを制御する制御部１４を有している。よって、制御部１４が、アクチュエータを介してエンボスロール１０ａとアンビルロール１０ｂとの間のロール間隙を開閉することで、圧搾荷重を調整することができる。例えば、圧搾荷重を減少方向に変更する場合には、ロール間隙を開方向に操作し、圧搾荷重を増加方向に変更する場合には、ロール間隙を閉方向に操作する。

かかるエンボス加工セクションＳ１の下流には、バックシート貼り付けセクションＳ２が設けられている。このセクションＳ２では、図３に示すように、下方からバックシート４の連続シート４ａ（以下、単にバックシート４ａとも言う）が、半製品１ａと搬送方向を揃えつつ連続して供給され、当該バックシート４ａが、半製品１ａを下方から覆う。これにより、バックシート４ａは、半製品１ａの吸収体３を、同半製品１ａのトップシート２ａとの間に挟みながらトップシート２ａに接着一体化される。そして、更に下流において適宜な不図示のダイカッターロール装置により、図１Ａの平面形状に打ち抜かれる等されてナプキン１の製品となる。

ところで、上述のエンボス加工セクションＳ１においては、基本的に、規定の圧搾荷重でエンボス溝７を形成するようにしているが、半製品１ａ，１ａ…間の吸収体３の坪量のばらつきやトップシート２ａの坪量のばらつきなどに起因して、ある割合で、エンボス溝７の高圧搾部７ａにおいて圧搾過剰となって貫通状態の穴あき異常を生じたり、或いは、逆に、トップシート２ａと吸収体３との接合を司るべき高圧搾部７ａにおいて圧搾不足となって未接合状態の接合異常を生じることがある。

そのため、図３に示すように、エンボス加工セクションＳ１と、その次工程たるバックシート貼り付けセクションＳ２との間には、エンボス溝７の穴あき異常や接合異常を検査する検査装置３０が配置されている。以下、この検査装置３０について説明する。

なお、この検査装置３０に送られる時点の半製品１ａは、搬送方向に間欠的に並ぶ複数の吸収体３，３…がそれぞれ対応するエンボス溝７によって、連続シート状態のトップシート２ａの下面に一体に接合された状態にある。つまり、半製品１ａは、未だナプキン１の製品に相当する単位に未分断状態の連続体である。以下では、説明の都合上、半製品１ａにおいてナプキン１の製品に相当する単位１ｂのことを「単位半製品１ｂ」と言う。ちなみに、この単位半製品１ｂが、請求項に係る「積層体」に相当する。

図３に示すように、検査装置３０は、エンボス加工セクションＳ１の直近下流側に隣接配置されている。この検査装置３０では、半製品１ａにおける製品１に相当する単位たる単位半製品１ｂ毎に、エンボス溝７の穴あき異常と接合異常とを検査する。そして、ある単位半製品１ｂに対して穴あき異常又は接合異常であると判定した場合には、この判定結果をエンボス加工装置１０の制御部１４に送信し、そのロール間隙の開閉制御に供する。

検査装置３０は、半製品１ａの搬送路の所定位置に設けられた撮像処理部としてのカメラ３２と、同搬送路をカメラ３２とで上下から挟むような位置に配置された照明部材３４と、エンボス溝７の穴あき異常及び接合異常の有無を判定する画像処理部３６と、を有する。

カメラ３２は、例えばＣＣＤ（電荷結合素子）カメラである。そして、半製品１ａのトップシート２ａ側の面（「積層体の片面」に相当）に対向して配置されており、これにより、撮像位置ＰＳを通過する半製品１ａのトップシート２ａ側の面を撮像し、平面画像のデータを生成する。撮像動作は、同期信号に基づいてなされ、これにより、単位半製品１ｂを、その平面中心がほぼ平面画像の平面中心に揃うように撮像する。ここで、同期信号とは、単位半製品１ｂの一つ分に相当する搬送量を単位搬送量として０°〜３６０°の各回転角度値を、搬送量に比例して割り当ててなる回転角度信号である。よって、上述のように単位半製品１ｂの平面中心と平面画像の平面中心とが一致するような撮像タイミングに対応した同期信号の位相を、所定の回転角度値として見つけ出し、その位相たる所定の回転角度値で撮像動作を行うように予め設定しておけば、以降に撮像位置ＰＳを通過する全ての単位半製品１ｂに対して、上述のように、単位半製品１ｂの平面中心と平面画像の平面中心が揃うように撮像することができる。

そして、このような撮像タイミングに調整されたカメラ３２は、単位半製品１ｂ毎に撮像を繰り返し行い、撮像の都度、撮像された平面画像のデータを平面画像データとして生成する。そして、生成の都度、平面画像データを画像処理部３６へ送信する。すると、画像処理部３６では、平面画像データに基づいて、エンボス溝７に係る穴あき異常及び接合異常の有無の判定を単位半製品１ｂ毎に行う。これにより、ナプキン１は全数検査されることになる。但し、何等これに限るものではなく、例えば単位半製品１ｂの幾つかおきに撮像しても良い。

照明部材３４は、例えば白色ＬＥＤライトや蛍光灯などの適宜なライトであり、その光源の種類は、その場の撮像状況に応じて適宜選定される。また、上述したように、照明部材３４の配置位置は、半製品１ａを上下からカメラ３２とで挟む位置に設定されており、これにより、カメラ３２は、厚み方向に半製品１ａを透過した透過光を受光することで撮像する。

画像処理部３６は、適宜なコンピュータを本体とし、プロセッサとメモリとを有する。そして、メモリに予め格納された各種処理プログラムをプロセッサが読み出して実行することにより、各種の演算処理を行う。
すなわち、本実施形態にあっては、メモリ内には、平面画像データから穴あき異常検査用の二値化画像を生成するための第１二値化処理プログラム、及び、同平面画像データから接合異常検査用の二値化画像を生成するための第２二値化処理プログラムが予め格納されている。また、上記穴あき異常検査用の二値化画像に基づいてエンボス溝７の穴あき異常の有無を判定するための第１異常判定処理プログラム、及び、上記接合異常検査用の二値化画像に基づいてエンボス溝７の接合異常の有無を判定する第２異常判定処理プログラムも予め格納されている。

よって、プロセッサが、これらプログラムを適宜読み出して実行することにより、画像処理部３６は、平面画像データから穴あき異常検査用の二値化画像を生成する第１二値化処理部として機能するとともに、当該穴あき異常検査用の二値化画像に基づいてエンボス溝７の穴あき異常の有無を判定する第１異常判定処理部としても機能し、また、平面画像データから接合異常検査用の二値化画像を生成する第２二値化処理部として機能するとともに、当該接合異常検査用の二値化画像に基づいてエンボス溝７の接合異常の有無を判定する第２異常判定処理部としても機能する。以下、第１二値化処理、第１異常判定処理、第２二値化処理、及び第２異常判定処理について説明する。

＜＜＜穴あき異常検査に係る第１二値化処理及び第１異常判定処理について＞＞＞
先ず、第１二値化処理の説明の前に、図４を参照しながら平面画像及び平面画像データについて説明する。

図４は、平面画像のイメージ図である。なお、同図４中においては、平面画像の平面サイズ等を理解し易くする目的で、ナプキン１の外形線を仮想的に二点鎖線で示しているが、実際にはこの段階の半製品１ａ（単位半製品１ｂ）にこのような線は無く、これについては、後で参照する図６や図８も同様である。

平面画像は、例えばＣＤ方向をＸ方向とし、搬送方向をＹ方向として撮像されており、また、平面画像は、単位半製品１ｂの全域が一画像として撮像されている。
かかる平面画像は、Ｘ方向及びＹ方向の両方向にそれぞれ所定の解像度に基づく所定ピッチで格子状に並ぶ多数の画素の集合体である。換言すると、平面画像は、Ｘ方向に一直線に所定ピッチで並ぶ複数の画素からなる画素列が、Ｙ方向に複数列所定ピッチで並んで構成される。そして、平面画像データは、各画素に対応させてそれぞれ色情報を有している。例えば、平面画像データがグレースケールの場合には、画素毎に色情報として明度のみを有している。そして、その場合には、単位半製品１ｂにおいて透光性の高い領域に対応する各画素は明るくなるので、その画素の明度は高い値になっているが、他方、透光性の低い領域に対応する各画素は暗くなるので、その画素の明度は低い値になっている。

ここで、エンボス溝７の高圧搾部７ａが穴あきせずに正常に形成されている場合には、当該高圧搾部７ａは半透明状態となっており、その投光性は、穴あきしている場合と比べて低い状態にある。よって、明度が所定値以上の画素に注目することで、図４の平面画像上において、穴あき部分ｈが撮像されている領域Ａｈ（図５Ａ）の画素を特定することができる。ちなみに、低圧搾部７ｂは、高圧搾部７ａよりも厚みの厚い白色の部分であるので、その投光性は、高圧搾部７ａよりも低く、結果、低圧搾部７ｂに対応する画素の明度は、高圧搾部７ａに対応する画素の明度よりも低くなっている。更に言えば、トップシート２ａにおいて吸収体３が存在する部分のうちでエンボス溝７が形成されていない部分（未形成部分）は、エンボス溝７（低圧搾部７ｂ及び高圧搾部７ａ）よりも厚みの厚い部分であるので、その投光性はエンボス溝７よりも低く、結果、エンボス溝７の未形成部分に対応する画素の明度は、エンボス溝７に対応する画素の明度よりも低くなっている。なお、以下では、平面画像データがグレースケールのデータであるものとして説明する。

第１二値化処理では、画像処理部３６の演算負荷軽減のために、平面画像における二値化処理の対象範囲を限定している。すなわち、第１二値化処理では、図４に示すように検査ウインドウＷ１が設定され、これにより、平面画像のうちの検査ウインドウＷ１で囲まれた領域のみを二値化処理の対象とする。なお、検査ウインドウＷ１の詳細については後述する。

また、第１二値化処理では、予め定められた第１二値化用閾値（第１閾値に相当）を用いる。この第１二値化用閾値は、正常に形成された高圧搾部７ａに対応する画素の明度と、穴あき部分ｈに対応する画素の明度との間の値に設定され、予めメモリ内に格納されている。

そして、図５Ａの検査ウインドウＷ１内の画素のうちで、第１二値化用閾値以上の明度の画素を、図５Ｂの二値化画像における二値（例えば０と１）のうちの一方の値たる「１」によって特定される白画像に割り振り、他方、第１二値化用閾値未満の明度の画素を、もう一方の値たる「０」によって特定される画像が黒画像に割り振る。これを、図５Ａの検査ウインドウＷ１内の全ての画素について行う。これにより、図５Ａに示すように検査ウインドウＷ１内の画素のうちで穴あき部分ｈが撮像されている領域Ａｈ，Ａｈ…が、図５Ｂに示すように二値化画像における白画像に含まれ、それ以外の部分は、黒画像に含まれるように処理される。すなわち、平面画像データを、図５Ａに示す検査ウインドウＷ１を用いて二値化処理することにより、図５Ｂの二値化画像が生成される。なお、図５Ｂ中では、二値化画像においてエンボス溝７に対応する部分Ａ７を仮想的に二点鎖線で示しているが、当然ながらこのような線は二値化画像には存在しない。

そうしたら、画像処理部３６は、第１異常判定処理へ移行する。そして、この第１異常判定処理では、先ず、図５Ｂの二値化画像上での白画像の面積を求める。ここで、画素の平面サイズは、ＸＹ方向の各解像度などに基づいて予めわかっている。よって、この画素の平面サイズに、白画像に割り振られた画素の数たる画素数を乗算することにより、白画像の面積が算出される。ちなみに、この白画像の面積が、請求項３に係る「第１二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値で特定される画像の大きさを示す値」に相当する。

次に、画像処理部３６は、算出された白画像の面積を、予めメモリに格納された第１異常判定用閾値と大小比較する。そして、白画像の面積が第１異常判定用閾値以下の場合には、画像処理部３６は、「穴あき部分ｈの大きさは十分小さいので、穴あき異常は生じていない」と判定する。一方、第１異常判定用閾値よりも大きい場合には、「穴あき部分は大きく、穴あき異常が発生している」と判定する。そして、エンボス加工装置１０の制御部１４に、この「穴あき異常有り」の判定結果を送信する。すると、これを受信した制御部１４は、エンボスロール１０ａとアンビルロール１０ｂとの間のロール間隙を、現状値よりも規定値だけ大きくなるように開いて、圧搾荷重を減少方向に変更する。これにより、これ以降にエンボス加工装置１０を通過する単位半製品１ｂの穴あき部分ｈは縮小されて、穴あき異常を抑制することができる。

なお、上述の第１異常判定用閾値は、メモリ内に予め格納された固定値である。そして、この第１異常判定用閾値は、例えば次のような製造ラインでの実験的手法により求められる。先ず、エンボス溝７の高圧搾部７ａ，７ａ…が正常に形成された単位半製品１ｂのサンプルを複数枚用意する。次に、これらサンプルを検査装置３０の上記ＣＣＤカメラ３２で撮像して、サンプル毎に第１二値化処理を行い、サンプル毎に検査ウインドウＷ１内の白画像の面積を求める。そして、これら全サンプルの白画像の面積の平均値及び標準偏差σを算出し、当該平均値よりも２σだけ大きい値を、上記の第１異常判定用閾値として用いる。ちなみに、検査装置３０が「異常有り」の判定を多発する場合には、第１異常判定用閾値を、より大きな値に変更しても良い。また、場合によっては、画像処理部３６のメモリは、第１異常判定用閾値よりも更に大きい値（例えば、上述の平均値よりも３σだけ大きい値）を上限値として予め有するようにし、そして、上述の白画像の面積がこの上限値よりも大きい場合に、画像処理部３６は、この平面画像に対応する単位半製品１ｂに対して穴あき不良情報を付与するなど不良品であることを関連付けして、下工程での良品と不良品との分別処理に供するようにしても良い。

ここで、図４を参照しながら、検査ウインドウＷ１について説明する。前述したように、検査ウインドウＷ１は、二値化処理の際に平面画像において参照する領域を区画して限定するツールであり、つまり、二値化処理の際には、検査ウインドウＷ１内に属する画素のみを参照し、検査ウインドウＷ１外の画素については参照しないようにすることができる。

検査ウインドウＷ１は、平面画像におけるエンボス溝７の撮像部分Ａ７のうちで、特に穴あきが生じ易い平面位置の撮像部分に設定されている。かかる平面位置と言うのは、基本的には圧搾圧力（単位面積当たりの圧搾荷重（Ｎ／ｍ^２））が高くなり易い平面位置や、急峻に形状が変化している平面位置である。具体的に言えば、前者の一例としては、エンボス溝７における搬送方向の下流端部７ｄが挙げられ、つまり、当該下流端部７ｄには、エンボス加工装置１０のロール間隙への噛み込み時に衝撃荷重が作用して圧搾圧力が高くなり易い。また、後者の一例としては、エンボス溝７の輪郭部のうちで幅方向（ＣＤ方向）に括れた部分７ｆが挙げられる。本実施形態では、後者よりも前者の方が穴あきを生じ易いため、前者たる下流端部７ｄの撮像部分Ａ７ｄに検査ウインドウＷ１が設定されているが、逆でも良い。

なお、このような検査ウインドウＷ１内に限った画素の参照は、例えば次のようにして実現される。先ず、平面画像の各画素には、ＸＹ座標が付与されていて、これらＸＹ座標はメモリに記録されている。また、画像処理部３６は、このＸＹ座標を指定することで、検査ウインドウＷ１内に属する画素の色情報にアクセス可能に構成されている。よって、検査ウインドウＷ１内に位置すべき画素のＸＹ座標のデータを、予めメモリ内に記録しておけば、上述の検査ウインドウＷ１内に限った画素の参照を実現可能となる。

＜＜＜接合異常検査に係る第２二値化処理及び第２異常判定処理について＞＞＞
画像処理部３６は、上述の第１二値化処理及び第１異常判定処理と略同時並行で、当該接合異常検査に係る第２二値化処理及び第２異常判定処理を行う。なお、第２二値化処理に用いる平面画像データは、第１二値化処理で用いたものと同じである。

ここで、エンボス溝７の高圧搾部７ａにおいてトップシート２ａと吸収体３とが未接合状態になっている場合には、当該未接合状態の高圧搾部７ａｎは、正常な高圧搾部７ａよりも厚みの厚い白色状態となっており、その投光性は、正常な高圧搾部７ａたる半透明状態の場合と比べて低い状態にある。よって、明度が所定値以上の画素に注目することで、図４の平面画像上において、正常な高圧搾部７ａが撮像されている領域Ａ７ａの画素を特定することができる。

この第２二値化処理でも、画像処理部３６の演算負荷軽減目的で、平面画像における二値化処理の対象範囲を限定している。すなわち、第２二値化処理でも、図６に示すように検査ウインドウＷ２が設定され、これにより、平面画像のうちの検査ウインドウＷ２で囲まれた領域のみを二値化処理の対象とする。検査ウインドウＷ２は、エンボス溝７のうちで特に接合異常が生じやすい平面位置に対応させて設定される。この平面位置と言うのは、基本的には圧搾圧力（Ｎ／ｍ^２）が低くなり易い位置であり、具体例としては、エンボス溝７における搬送方向の上流端の部分７ｕであって幅方向（ＣＤ方向）に沿って延在した部分７ｕや、エンボス溝７のうちで該エンボス溝７の輪郭部の内方に囲まれた領域を幅方向（ＣＤ方向）に横断する部分７ｉが挙げられる。本実施形態では、後者より前者の方が接合異常を生じ易いため、前者たるエンボス溝７の上流端部７ｕの撮像部分Ａ７ｕに検査ウインドウＷ２が設定されているが、逆でも良い。

また、第２二値化処理でも、予め定められた第２二値化用閾値（第２閾値に相当）を用いる。この第２二値化用閾値は、正常に形成された高圧搾部７ａに対応する画素の明度と、未接合状態の高圧搾部７ａｎに対応する画素の明度との間の値に設定され、予めメモリ内に格納されている。ちなみに、この第２二値化用閾値は、上述の定義から明らかなように、前述の第１二値化用閾値よりも小さな値に設定されている。つまり、接合異常の検査に特化させるべく、穴あき異常の検査に特化した前述の第１二値化用閾値とは異なる値に設定されている。

そして、図７Ａの検査ウインドウＷ２内の画素のうちで、第２二値化用閾値以上の明度の画素を、図７Ｂの二値化画像における二値（例えば０と１）のうちの一方の値たる「１」によって特定される白画像に割り振り、他方、第２二値化用閾値未満の明度の画素を、もう一方の値たる「０」によって特定される画像が黒画像に割り振る。これを、図７Ａの検査ウインドウＷ２内の全ての画素について行う。これにより、図７Ａに示すように検査ウインドウＷ２内の画素のうちで、未接合状態ではない正常な高圧搾部７ａが撮像されている領域Ａ７ａが、二値化画像における白画像に含まれるように処理され、未接合状態の高圧搾部７ａｎ（接合異常部分に相当）が撮像されている領域Ａ７ａｎは、二値化画像における黒画像に含まれるように処理される。すなわち、平面画像データを、図７Ａに示す検査ウインドウＷ２を用いて二値化処理することにより、図７Ｂの二値化画像が生成される。なお、図７Ｂ中では、二値化画像においてエンボス溝７に対応する部分Ａ７を二点鎖線で示しているが、当然ながらこのような線は二値化画像には存在しない。

そうしたら、画像処理部３６は、第２異常判定処理へ移行する。そして、この第２異常判定処理では、先ず、図７Ｂの二値化画像上での白画像の面積を求める。ここで、画素の平面サイズは、ＸＹ方向の各解像度などに基づいて予めわかっている。よって、この画素の平面サイズに、白画像に割り振られた画素の数たる画素数を乗算することにより、白画像の面積が算出される。ちなみに、この白画像の面積が、請求項３に係る「第２二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値ではない方の値で特定される画像の大きさを示す値」に相当する。

次に、画像処理部３６は、算出された白画像の面積を、予めメモリに格納された第２異常判定用閾値と大小比較する。そして、白画像の面積が第２異常判定用閾値以上の場合には、画像処理部３６は、「正常の高圧搾部７ａは十分大きいので、接合異常は生じていない」と判定する。一方、第２異常判定用閾値よりも小さい場合には、「正常の高圧搾部７ａは小さく、接合異常が発生している」と判定する。そして、エンボス加工装置１０の制御部１４に、この「接合異常有り」の判定結果を送信する。すると、これを受信した制御部１４は、エンボスロール１０ａとアンビルロール１０ｂとの間のロール間隙を、現状値よりも規定値だけ小さくなるように閉めて、圧搾荷重を増加方向に変更する。これにより、これ以降にエンボス加工装置１０を通過する単位半製品１ｂの未接合部分７ａｎは縮小されて、接合異常を抑制することができる。

なお、上述の第２異常判定用閾値は、メモリ内に予め格納された固定値である。そして、この第２異常判定用閾値は、例えば次のような製造ラインでの実験的手法により求められる。先ず、エンボス溝７の高圧搾部７ａが正常に形成された単位半製品１ｂのサンプルを複数枚用意する。次に、これらサンプルを検査装置３０の上記ＣＣＤカメラ３２で撮像して、サンプル毎に第２二値化処理を行い、サンプル毎に検査ウインドウＷ２内の白画像の面積を求める。そして、これら全サンプルの白画像の面積の平均値及び標準偏差σを算出し、当該平均値よりも２σだけ小さい値を、上記の第２異常判定用閾値として用いる。ちなみに、検査装置３０が、「異常有り」の判定を多発する場合には、第２異常判定用閾値を、より小さな値に変更しても良い。また、場合によっては、画像処理部３６のメモリは、第２異常判定用閾値よりも更に小さい値（例えば、上述の平均値よりも３σだけ小さい値）を下限値として予め有するようにし、そして、上述の白画像の面積がこの下限値よりも小さい場合に、画像処理部３６は、この平面画像に対応する単位半製品１ｂに対して接合不良情報を付与するなど不良品であることを関連付けして、下工程での良品と不良品との分別処理に供するようにしても良い。

ところで、本実施形態では、第１異常判定処理と第２異常判定処理とが互いに独立に異常の有無の判定を行う関係上、場合によっては、同一の単位半製品１ｂに対して穴あき異常と接合異常との両方の判定結果が出力される場合がある。そして、その場合には、エンボス加工装置１０の圧搾荷重の変更方向が、減少方向と増加方向とで互いに逆方向となって食い違ってしまうが、その場合には、どちらか一方の判定結果を、エンボス加工装置１０の圧搾荷重の制御に優先させるように、予め優先順を設定しておけば良い。例えば、両者の判定結果が出力された場合には、接合異常よりも穴あき異常の判定結果の方を優先させて、圧搾荷重を減少方向に変更するように設定しておけば良い。

＜＜＜吸収体３に対するエンボス溝７の搬送方向の形成位置について＞＞＞
以上、検査装置３０が行うエンボス溝７の穴あき異常や接合異常の検査について説明してきたが、場合によっては、これらの異常の検査に加えて、更に吸収体３に対するエンボス溝７の搬送方向の形成位置の異常の有無を検査するようにしても良い。

始めに、かかる検査が必要な理由について説明する。前述したように、製造ラインの各装置は、搬送機構２４も含め、同期信号に従って互いに連動して動作している。ここで、同期信号と言うのは、前述したように、単位半製品１ｂの一つ分に相当する搬送量を単位搬送量として０°〜３６０°の各回転角度値を、搬送量に比例して割り当ててなる回転角度信号である。つまり、一つ分の単位半製品１ｂが搬送されると、０°から３６０°までの回転角度値が出力され、当該一つ分の搬送の都度、０°から３６０°までの回転角度値の出力が周期的に繰り返される。そして、この同期信号が、製造ラインの各装置の動作の駆動源となる各サーボモータのアンプに送信され、当該同期信号に基づいて各サーボモータが位置制御を行うことで、各装置は、単位半製品１ｂにおける加工すべき目標位置にそれぞれ加工を施すようになっている。

かかる同期信号は、製造ラインの基準となる装置、例えばダイカッターロール装置に設けられたロータリー式エンコーダによって生成されている。つまり、本実施形態では、ナプキン１を打ち抜き形成するダイカッターロールの回転動作に基づいて同期信号が生成されている。

ところで、このような同期信号に基づいて各装置を連動させている場合であっても、吸収体３の坪量や含水率等のロット単位での変動や、ロール状に巻き取り状態のトップシートロールから繰り出し供給されるトップシート２ａ等の各種シート類の巻き取り径の変動などが複合して、これにより、大きな周期で半製品１ａにおける吸収体３の搬送方向の形成位置が変動することがある。すなわち、単位半製品１ｂの数百〜数千ピースという非常に大きな周期で、吸収体３の実際の形成位置が、目標位置よりも搬送方向の上下流に数ミリのオーダーで揺らぎながらずれる現象が生じることがある。

そして、その現象が起きているときに、エンボス加工装置１０が同期信号に基づいてエンボス溝７を正しく形成したとしても、吸収体３自体が目標位置から搬送方向にずれてしまっているため、その分だけエンボス溝７の形成位置は、吸収体３上での形成目標範囲から搬送方向にずれてしまい、その結果、直ちに不良品にはならないまでも、エンボス溝７が吸収体３に対して位置ずれているように見えるなど見栄えが悪く、商品イメージの悪化に繋がる虞がある。

そのため、この吸収体３に対するエンボス溝７の搬送方向の形成位置の異常の有無を検査する必要があり、本実施形態の検査装置３０は、この検査機能も備えている。

この検査も、第１二値化処理で用いたのと同じ平面画像データを用いてなされる。すなわち、図８の平面画像のイメージ図に示すように、同平面画像から、エンボス溝７の下流端７ｄｅの撮像部分Ａ７ｄｅと吸収体３の下流端３ｄｅの撮像部分Ａ３ｄｅとの間の搬送方向の間隔Ｄｄの値を求め、そして、この間隔Ｄｄの値が規定の目標範囲内に入っているか否かで、形成位置の異常の有無を判定する。以下、詳しく説明する。

先ず始めに、画像処理部３６は、間隔Ｄｄの値を算出する。この間隔Ｄｄの値の算出は、平面画像データに対して、第３及び第４の二つの二値化処理を行うことでなされる。そして、これら第３、第４二値化処理でも、検査ウインドウＷ３を用いる。但し、上述の間隔Ｄｄの値を算出可能にすべく、当該検査ウインドウＷ３は、図８に示すように、その内方に、吸収体３の搬送方向の下流端部３ｄの撮像部分Ａ３ｄと、エンボス溝７の搬送方向の下流端部７ｄの撮像部分Ａ７ｄとが含まれるように設定される。

第３二値化処理では、エンボス溝７の下流端部７ｄの撮像部分Ａ７ｄの白画像を取得すべく、予めメモリ内に格納された第３二値化用閾値（第３閾値に相当）を用いて検査ウインドウＷ３内の領域を二値化処理する。第３二値化用閾値は、エンボス溝７の低圧搾部７ｂに対応する画素の明度と、吸収体３におけるエンボス溝７の未形成部分に対応する画素の明度との間の値に設定されている。そして、図９Ａの検査ウインドウＷ３内の画素のうちで、第３二値化用閾値以上の明度の画素を、図９Ｂの二値化画像における二値（例えば０と１）のうちの一方の値たる「１」によって特定される白画像に割り振り、他方、第３二値化用閾値未満の明度の画素を、もう一方の値たる「０」によって特定される画像が黒画像に割り振る。これを、検査ウインドウＷ３内の全ての画素について行う。これにより、図９Ａの検査ウインドウＷ３内の画素のうちで、エンボス溝７の下流端部７ｄの撮像部分Ａ７ｄが、図９Ｂに示すように二値化画像における白画像に含まれ、それ以外の部分は、黒画像にほぼ含まれるように処理される。

他方、第４二値化処理では、吸収体３の下流端部３ｄの撮像部分の白画像を取得すべく、予めメモリ内に格納された第４二値化用閾値（第４閾値に相当）を用いて検査ウインドウＷ３内の領域を二値化処理する。第４二値化用閾値は、吸収体３が存在しないトップシート２ａのみの部分に対応する画素の明度と、吸収体３が存在するトップシート２ａの部分に対応する画素の明度との間の値に設定されている。そして、図９Ａの検査ウインドウＷ３内の画素のうちで、第４二値化用閾値以下の明度の画素を、図９Ｃの二値化画像における二値（例えば０と１）のうちの一方の値たる「１」によって特定される白画像に割り振り、他方、第４二値化用閾値よりも大きい明度の画素を、もう一方の値たる「０」によって特定される画像が黒画像に割り振る。これを、検査ウインドウＷ３内の全ての画素について行う。これにより、図９Ａの検査ウインドウＷ３内の画素のうちで、吸収体３の下流端部３ｄの撮像部分Ａ３ｄが、図９Ｃに示すように二値化画像における白画像に含まれ、それ以外の部分（つまり吸収体３が存在しないトップシート２ａのみの部分の撮像部分など）は、黒画像に含まれるように処理される。

そうしたら、画像処理部３６は、これら第３二値化処理で生成された図９Ｂの二値化画像の白画像と、第４二値化処理で生成された図９Ｃの二値化画像の白画像とに基づいて、上述の間隔Ｄｄの値を算出する。図９Ｄは、この算出の説明図である。

ここで、この間隔Ｄｄの値については、図９Ｂ〜図９Ｄに示すように、例えば、吸収体３の下流端部３ｄの白画像を構成する複数の画素のうちで最も下流に位置する画素のＹ座標Ｙ３ｄｅ（つまり吸収体３の下流端部３ｄの白画像のＹ座標の最大値Ｙ３ｄｅ）から、エンボス溝７の下流端部７ｄの白画像を構成する複数の画素のうちで最も下流に位置する画素のＹ座標Ｙ７ｄｅ（つまりエンボス溝７の下流端部７ｄの白画像のＹ座標の最大値Ｙ７ｄｅ）を減算してなる減算値（＝Ｙ３ｄｅ−Ｙ７ｄｅ）として求めることができる。よって、画像処理部３６は、かかる減算を行い、これにより上述の間隔Ｄｄの値を取得する。

次に、画像処理部３６は、第３異常判定処理に移行する。第３異常判定処理では、この間隔Ｄｄの値を第３異常判定用閾値と比較することで、エンボス溝７の形成位置の異常の有無を判定する。ここで、第３異常判定用閾値は、数値範囲として予めメモリに格納されている。なお、この第３異常判定用閾値の数値範囲は、例えばナプキン１の設計図に記載されたエンボス溝７の下流端７ｄｅと吸収体３の下流端３ｄｅとの間の間隔の目標範囲を、平面画像のＹ座標系上の寸法に換算することで得ることができる。

そして、上記の間隔Ｄｄの値が、この数値範囲内に入っている場合には、「エンボス溝７の形成位置は、吸収体３上での形成目標範囲内に入っている」と判定する。他方、同数値範囲から外れている場合には、「エンボス溝７の形成位置は、吸収体３上での形成目標範囲内に入っていない」と判定し、その場合には、画像処理部３６は、エンボス加工装置１０の制御部１４へ向けて、この判定結果を送信する。

ここで、この判定結果には、第３異常判定用閾値の数値範囲の中央値から上記の間隔Ｄｄの値を減算してなるずれ量ΔＤｄを実寸換算した値ΔＤｄｒのデータが付帯されている。すると、これを受信した制御部１４は、この実寸換算のずれ量ΔＤｄｒを単位半製品１ｂの全長で除算後に３６０°を乗算することにより、エンボスロール１０ａの回転動作に係る位相のずれ量Δθに換算する。そして、エンボスロール１０ａの回転動作の駆動源たるサーボモータのアンプに向けて、その回転動作に係る位相の修正指示信号を送信する。この修正指示信号には、上述の位相のずれ量Δθのデータが付帯されており、このずれ量Δθは、謂わば同期信号の回転角度値の位相をどれだけ進めるべきか或いは遅らせるべきかを示している。よって、この修正指示信号を受信したアンプは、自身が受信している同期信号の回転角度値θを、修正指示信号に付帯の位相のずれ量Δθ分だけ漸次ずらして変更し、これにより、以降、エンボス加工装置１０を通過する単位半製品１ｂにおいては、エンボス溝７の形成位置が吸収体３上の形成目標範囲内に入るようになる。
なお、画像処理部３６が、請求項４に係る「第３二値化処理部、第４二値化処理部、第３異常判定処理部」に相当する。

＝＝＝その他の実施の形態＝＝＝
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。また、本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更や改良され得るとともに、本発明にはその等価物が含まれるのはいうまでもない。例えば、以下に示すような変形が可能である。

上述の実施形態では、平面画像データの一例として、各画素の色情報が明度のみを有したグレースケールのデータを示したが、何等これに限るものではない。例えば、各画素の色情報が明度、色相、及び彩度を有したカラー画像データであっても良い。そして、その場合には、前述の二値化処理として、カラー二値化処理を行うこともできる。
ちなみに、カラー二値化処理とは、平面画像のカラー画像データから、特定の色情報を有する画素を抽出する処理のことである。ここで、色情報は、前述のように明度、色相、及び彩度の三要素をそれぞれ数値で有している。よって、明度、色相、及び彩度のそれぞれについて、抽出すべき画素の色情報の数値範囲を、第１（又は第２）二値化用閾値として画像処理部３６のメモリに予め設定しておけば、画像処理部３６は、その設定された色情報の画素を平面画像から抽出することができる。

すなわち、上述の第１（又は第２）二値化用閾値の三つの数値範囲を、平面画像のうちで穴あき部分ｈが撮像されている領域Ａｈ（又は未接合状態ではない正常な高圧搾部７ａが撮像されている領域Ａ７ａ）に固有な色に基づいて予め設定しておけば、画像処理部３６は、平面画像データに記録されている平面画像の各画素の色情報を参照し、そして、上述の第１（又は第２）二値化用閾値の三つの数値範囲を全て満たす画素を例えば白の画素に割り振り、満たさない画素を例えば黒の画素に割り振る。そして、この割り振り動作を、平面画像データの全ての画素について行い、これにより、平面画像のうちで穴あき部分ｈが撮像されている領域Ａｈ（又は未接合状態ではない正常な高圧搾部７ａが撮像されている領域Ａ７ａ）が、白の画素の領域として抽出される。この方法によれば、上記穴あき部分ｈが撮像されている領域Ａｈ（又は未接合状態ではない正常な高圧搾部７ａが撮像されている領域Ａ７ａ）に固有な色に基づいて、平面画像から同領域Ａｈ（又は領域Ａ７ａ）を抽出するので、その抽出精度を高めることができる。なお、上述したこと以外の内容は、グレースケールを例に既述した内容と同じなので、その説明については省略する。

上述の実施形態では、画像処理部３６は、それぞれ二値化画像における白画像の面積に基づいて異常の有無の判定を行っていたが、何等これに限るものではない。つまり、白画像の大きさを示す値であれば、面積以外の指示値を用いても良い。例えば、白画像の画素数で異常の有無の判定をしても良い。そして、その場合には、第１及び第２異常判定用閾値として、それぞれ画素数で表現された固定値が予め各画像処理部３６のメモリに設定される。

上述の実施形態では、圧搾部の一例としてのエンボス溝７が、低圧搾部７ｂと高圧搾部７ａとを有した謂わば圧搾レベルが二段階で変化する圧搾部であったが、何等これに限るものではなく、圧搾レベルが一段階の圧搾部でも良いし、圧搾レベルが三段階以上で変化する圧搾部でも良い。

上述の実施形態では、接合異常検査に係る第２異常判定処理の際に、正常な高圧搾部７ａが含まれている白画像の面積に基づいて接合異常の有無の判定をしていたが、何等これに限るものではない。例えば、未接合状態の高圧搾部７ａｎが含まれる黒画像の面積に基づいて接合異常の有無を判定しても良い。なお、この場合には、前述したのと同様の実験的手法によって、黒画像の面積に対応した第２異常判定用閾値が予め用意されているのは言うまでもない。

上述の実施形態では、第１及び第２二値化処理のそれぞれにつき、検査ウインドウＷ１，Ｗ２を一つずつ設定していたが、何等これに限るものではなく、それぞれ、複数の検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…を設定しても良い。なお、その場合には、検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎に、第１二値化用閾値及び第２二値化用閾値のうちの対応する方の閾値が予めメモリに格納されており、検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎に、対応する閾値に基づいて白画像と黒画像とに割り振ることになる。また、同様に、検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎に、第１異常判定用閾値及び第２異常判定用閾値のうちの対応する閾値が予めメモリに格納されており、検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎に異常の有無の判定を行うことになり、そして、第１異常判定処理において検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎になされる判定結果が一つでも「異常有り」の判定の場合には、「穴あき異常が発生している」との判定となり、また、第２異常判定処理において検査ウインドウＷ１，Ｗ１…，Ｗ２，Ｗ２…毎になされる判定結果が一つでも「異常有り」の判定の場合には、「接合異常が発生している」との判定となる。

上述の実施形態では、吸収体３に対するエンボス溝７の搬送方向の形成位置の検査を、図８に示すように、エンボス溝７の下流端７ｄｅと吸収体３の下流端３ｄｅとの間の搬送方向の間隔Ｄｄの値に基づいて行っていたが、何等これに限るものではない。例えば、同図８に示すように、エンボス溝７の上流端７ｕｅと吸収体３の上流端３ｕｅとの間の搬送方向の間隔Ｄｕの値に基づいて行うようにしても良い。なお、その場合には、検査ウインドウＷ３ｕは、図８中に三点鎖線で示すように、吸収体３の上流端部３ｕの撮像部分Ａ３ｕ及びエンボス溝７の上流端部７ｕの撮像部分Ａ７ｕが含まれるように設定される。

上述の実施形態では、ＣＣＤカメラ３２を半製品１ａのトップシート２ａ側の面に対向させて配置し、その逆側に照明部材３４を配置していたが、この配置関係は逆でも良い。すなわち、同カメラ３２を半製品１ａの吸収体３側の面に対向させて配置し、その逆側たる半製品１ａのトップシート２ａ側の面に対向させて照明部材３４を配置しても良い。更に言えば、カメラ３２の撮像は、何等半製品１ａからの透過光の受光に限るものではなく、つまり半製品１ａからの反射光を受光して撮像しても良い。この場合には、照明部材３４は、半製品１ａに対してカメラ３２と同じ側に配置され、また、画像処理部３６のメモリの第１〜第４二値化用閾値、及び第１〜第２異常判定用閾値には、それぞれ、反射光に対応した値が設定されるのは言うまでもない。

１ ナプキン、１ａ 半製品、１ｂ 単位半製品（積層体）、
２ トップシート、２ａ トップシートの連続シート、
３ 吸収体、３ｄ 下流端部、３ｄｅ 下流端、３ｕ 上流端部、３ｕｅ 上流端、
４ バックシート、４ａ バックシートの連続シート、
７ エンボス溝（圧搾部）、７ａ 高圧搾部、７ａｎ 未接合部分（接合異常部分）、
７ｂ 底部（低圧搾部）、７ｄ 下流端部、７ｄｅ 下流端、
７ｆ 括れた部分、７ｉ 横断する部分、７ｕ 上流端部、７ｕｅ 上流端、
７Ｒ 閉領域、
１０ エンボス加工装置、１０ａ エンボスロール、１０ｂ アンビルロール、
１２ エンボス凸部、１４ 制御部、
２４ 搬送機構、
３０ 検査装置、３２ ＣＣＤカメラ（撮像処理部）、３４ 照明部材、
３６ 画像処理部（第１二値化処理部、第２二値化処理部、第３二値化処理部、第４二値化処理部、第１異常判定処理部、第２異常判定処理部、第３異常判定処理部）、
ｈ 穴あき部分、
Ｃ１０ 回転軸、ＰＳ 撮像位置、
Ｓ１ エンボス加工セクション、Ｓ２ バックシート張り付けセクション、
Ａ３ｄ 撮像部分、Ａ３ｄｅ 撮像部分、Ａ３ｕ 撮像部分、
Ａ７ 撮像部分、Ａ７ａ 領域、
Ａ７ａｎ 未接合状態の高圧搾部が撮像されている領域（接合異常部分が撮像されている領域）、
Ａ７ｄ 撮像部分、Ａ７ｄｅ 撮像部分、Ａ７ｕ 撮像部分、
Ａｈ 穴あき部分が撮像されている領域、
Ｗ１ 検査ウインドウ、Ｗ２ 検査ウインドウ、
Ｗ３ 検査ウインドウ、Ｗ３ｕ 検査ウインドウ、

Claims (8)

1. 液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査装置であって、
   前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
   前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成する撮像処理部と、
   前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第１二値化処理部と、
   前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行う第２二値化処理部と、
   前記第１二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、穴あき異常の有無の判定を行う第１異常判定処理部と、
   前記第２二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、接合異常の有無の判定を行う第２異常判定処理部と、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
2. 請求項１に記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   複数の前記吸収体は、搬送方向に間欠的に並んだ状態で搬送され、
   前記搬送方向に沿って回転するエンボスロールとアンビルロールとの間のロール間隙に、前記吸収体と前記肌側シートとが積層された状態で通される際に、前記エンボスロールと前記アンビルロールとが前記吸収体と前記肌側シートとを圧搾荷重で挟圧することにより、前記圧搾部の形成は行われ、
   前記圧搾荷重の大きさは制御部によって制御され、
   前記穴あき部分に係る前記第１異常判定処理部の判定結果が穴あき異常有りの場合には、前記制御部は、前記圧搾荷重を減少方向に変更し、
   前記接合異常部分に係る前記第２異常判定処理部の判定結果が接合異常有りの場合には、前記制御部は、前記圧搾荷重を増加方向に変更することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
3. 請求項２に記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   前記第１異常判定処理部の穴あき異常の有無の判定は、前記第１二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値で特定される画像の大きさを示す値に基づいて行われ、
   前記画像の大きさを示す値が規定の第１異常判定用閾値よりも大きい場合に、前記第１異常判定処理部は前記穴あき異常有りの判定を下し、
   前記第２異常判定処理部の接合異常の有無の判定は、前記第２二値化処理部で生成された二値化画像のうちで前記一方の値ではない方の値で特定される画像の大きさを示す値に基づいて行われ、
   前記画像の大きさを示す値が規定の第２異常判定用閾値よりも小さい場合に、前記第２異常判定処理部は前記接合異常有りの判定を下すことを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
4. 請求項２又は３に記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   前記平面画像データを第３閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分が含まれるように二値化処理を行う第３二値化処理部と、
   前記平面画像データを第４閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記吸収体の前記搬送方向の端部の撮像部分が含まれるように二値化処理を行う第４二値化処理部と、
   前記第３二値化処理部で生成された二値化画像及び前記第４二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、前記吸収体に対する前記圧搾部の前記搬送方向に係る相対位置が目標範囲内に入っているか否かの判定を行う第３異常判定処理部と、を有し、
   前記第３異常判定処理部の判定結果が、前記目標範囲内に入っていないとの判定の場合には、前記相対位置が前記目標範囲内に入るように、前記制御部は、前記エンボスロールの回転動作を制御することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
5. 請求項１乃至４の何れかに記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   複数の前記積層体は、搬送方向に沿って並んだ状態で搬送され、
   前記圧搾部は、前記肌側シートにおける肌側の面に、前記搬送方向と直交する幅方向及び前記搬送方向の両方向に延在する溝状の輪郭部を有し、
   前記第１二値化処理部は、前記平面画像における二値化処理の対象領域を内方に区画して限定する少なくとも一つの検査ウインドウを設定し、
   前記少なくとも一つの検査ウインドウは、前記圧搾部における前記搬送方向の下流端部の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウと、前記圧搾部の前記輪郭部のうちで前記幅方向に括れた部分の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウとのうちの何れかであり、
   前記第２二値化処理部は、前記平面画像における二値化処理の対象領域を内方に区画して限定する少なくとも一つの検査ウインドウを設定し、
   前記少なくとも一つの検査ウインドウは、前記圧搾部における前記搬送方向の上流端の部分であって前記幅方向に沿った前記部分の撮像部分に対応して設定される検査ウインドウと、前記圧搾部の一部であって、前記輪郭部の内方に囲まれた領域を前記幅方向に横断する前記一部の撮像部分に設定される検査ウインドウとのうちの何れかであることを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
6. 請求項１乃至５の何れかに記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   複数の前記積層体は、搬送方向に沿って並んだ状態で搬送されており、
   前記圧搾部が形成された領域が前記積層体毎に撮像されて前記平面画像データが生成されることを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
7. 請求項１乃至３の何れかに記載の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置であって、
   前記圧搾部は、前記厚み方向に圧搾された低圧搾部と、前記低圧搾部よりも高い圧縮率で前記厚み方向に圧搾された高圧搾部とを有し、
   前記穴あき部分及び前記接合異常部分は、前記高圧搾部に生じ、
   前記撮像処理部は、前記積層体を前記厚み方向に透過する透過光を受光して撮像し、
   前記第１閾値は、前記高圧搾部の撮像部分の明度と、前記穴あき部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定され、
   前記第２閾値は、前記高圧搾部の撮像部分の明度と、前記接合異常部分が撮像されている領域の明度との間の値に設定されていることを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置。
8. 液体吸収性素材を素材とする吸収体と、該吸収体を着用者の肌側から覆って積層された肌側シートとが圧搾部によって接合されてなる積層体の圧搾部の検査方法であって、
   前記圧搾部は、前記肌側シートの面の所定部分が前記吸収体と共に厚み方向に圧搾されて形成されており、
   前記積層体の片面のうちで前記圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成することと、
   前記平面画像データを第１閾値に基づいて二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記厚み方向に貫通状態の穴あき部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
   前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記平面画像データを二値化処理して二値化画像を生成する際に、前記二値化画像において二値のうちの一方の値によって特定される画像に、前記平面画像における前記圧搾部の撮像部分のうちで、前記肌側シートと前記吸収体とが未接合状態の接合異常部分が撮像されている領域が含まれるように二値化処理を行うことと、
   前記第１閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記穴あき異常の有無の判定を行うことと、
   前記第２閾値に基づいて二値化処理して生成された二値化画像に基づいて、前記接合異常の有無の判定を行うことと、を有することを特徴とする吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査方法。

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