JP2013064655A - 波形測定装置 - Google Patents
波形測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013064655A JP2013064655A JP2011203880A JP2011203880A JP2013064655A JP 2013064655 A JP2013064655 A JP 2013064655A JP 2011203880 A JP2011203880 A JP 2011203880A JP 2011203880 A JP2011203880 A JP 2011203880A JP 2013064655 A JP2013064655 A JP 2013064655A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- data storage
- analysis
- waveform data
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析完了を確認する複数の解析確認部と、前記各データ格納領域への波形データの取り込みを制御する格納制御部と、次波形取込指示部と、アクイジションステータス監視部とを具備し、前記アクイジションステータス監視部は、前記解析確認部の解析確認出力信号に基づき前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認すると前記次波形取込指示部にその旨を通知し、前記次波形取込指示部は前記アクイジションステータス監視部からの通知を確認すると前記各データ格納領域への次の波形データの取り込みを指示する。
【選択図】図1
Description
同時に異なる「時間軸」と「サンプリング・レート」でアクイジションメモリの異なるデータ格納領域に取り込まれた波形データを同時に解析して、それらの解析結果を共通の表示画面上に同時に表示させる波形測定装置であって、
前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認する複数の解析確認部と、
前記アクイジションメモリへの波形データの取り込みを制御するメモリ制御部に設けられ前記各データ格納領域への波形データの取り込みを制御する複数の格納制御部と、次の波形データの取り込みを指示する次波形取込指示部と、前記アクイジションメモリへの波形データの取り込み状態を監視するアクイジションステータス監視部とを具備し、
前記アクイジションステータス監視部は、前記複数の解析確認部の解析確認出力信号に基づき前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認すると前記次波形取込指示部にその旨を通知し、前記次波形取込指示部は前記アクイジションステータス監視部からの通知を確認すると前記各データ格納領域への次の波形データの取り込みを指示することを特徴とする。
前記アクイジションメモリには第1の波形データ格納領域と第2の波形データ格納領域が設けられていて、第1の波形データ格納領域には第1の格納制御部で連続的に低速サンプリングデータに間引きされた波形データが取り込まれ、第2の波形データ格納領域には所定のトリガ条件が成立したときに第2の格納制御部の制御にしたがって所定期間の高速変換データが取り込まれることを特徴とする波形測定装置である。
自動車に実装されているシリアルバスを流れる電気信号を測定解析することを特徴とする。
2 アッテネータ
3 プリアンプ
4 A/D変換器
5 メモリ制御部
5a メインデータ格納制御部
5b サブデータ格納制御部
5c 次波形取込制御部
5d ACQステータス監視部
6 ACQ(アクイジション)メモリ
7 測定処理部
8 CPU
9 メインメモリ
10 表示処理部
11 操作設定部
12 サブ側解析部
13 メイン側解析部
14 解析状態監視部
15 表示部
16 トリガ検出部
17 トリガ設定部
18 サブ側解析確認部
19 メイン側解析確認部
B 内部バス
Claims (3)
- 同時に異なる「時間軸」と「サンプリング・レート」でアクイジションメモリの異なるデータ格納領域に取り込まれた波形データを同時に解析して、それらの解析結果を共通の表示画面上に同時に表示させる波形測定装置であって、
前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認する複数の解析確認部と、
前記アクイジションメモリへの波形データの取り込みを制御するメモリ制御部に設けられ前記各データ格納領域への波形データの取り込みを制御する複数の格納制御部と、次の波形データの取り込みを指示する次波形取込指示部と、前記アクイジションメモリへの波形データの取り込み状態を監視するアクイジションステータス監視部とを具備し、
前記アクイジションステータス監視部は、前記複数の解析確認部の解析確認出力信号に基づき前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認すると前記次波形取込指示部にその旨を通知し、前記次波形取込指示部は前記アクイジションステータス監視部からの通知を確認すると前記各データ格納領域への次の波形データの取り込みを指示することを特徴とする波形測定装置。 - 前記アクイジションメモリには第1の波形データ格納領域と第2の波形データ格納領域が設けられていて、第1の波形データ格納領域には第1の格納制御部で連続的に低速サンプリングデータに間引きされた波形データが取り込まれ、第2の波形データ格納領域には所定のトリガ条件が成立したときに第2の格納制御部の制御にしたがって所定期間の高速変換データが取り込まれることを特徴とする請求項1記載の波形測定装置。
- 自動車に実装されているシリアルバスを流れる電気信号を測定解析することを特徴とする請求項1または請求項2記載の波形測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011203880A JP2013064655A (ja) | 2011-09-17 | 2011-09-17 | 波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011203880A JP2013064655A (ja) | 2011-09-17 | 2011-09-17 | 波形測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013064655A true JP2013064655A (ja) | 2013-04-11 |
Family
ID=48188288
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011203880A Pending JP2013064655A (ja) | 2011-09-17 | 2011-09-17 | 波形測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013064655A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020046363A (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | グラフテック株式会社 | 波形表示装置及び波形表示プログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07104007A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Hioki Ee Corp | 波形記録装置における波形データの検索方法 |
JP2002198978A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-12 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定器 |
JP2003207524A (ja) * | 2002-01-10 | 2003-07-25 | Yokogawa Electric Corp | 波形記録装置 |
JP2010249686A (ja) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Yokogawa Electric Corp | 波形解析装置 |
-
2011
- 2011-09-17 JP JP2011203880A patent/JP2013064655A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07104007A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Hioki Ee Corp | 波形記録装置における波形データの検索方法 |
JP2002198978A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-12 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定器 |
JP2003207524A (ja) * | 2002-01-10 | 2003-07-25 | Yokogawa Electric Corp | 波形記録装置 |
JP2010249686A (ja) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Yokogawa Electric Corp | 波形解析装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020046363A (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | グラフテック株式会社 | 波形表示装置及び波形表示プログラム |
JP7266376B2 (ja) | 2018-09-20 | 2023-04-28 | グラフテック株式会社 | 波形表示装置及び波形表示プログラム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9442136B2 (en) | Real-time oscilloscope for generating a fast real-time eye diagram | |
CN1942925A (zh) | 同时物理和协议层分析 | |
CN103713170B (zh) | 测试与测量仪器中罕见异常的触发 | |
JP6815589B2 (ja) | 試験測定装置及びトリガ方法 | |
US9482710B2 (en) | Inspection system for evaluating electrical parts for unwanted partial discharge | |
CN101393234A (zh) | 波形自动量测系统及方法 | |
WO2014134984A1 (zh) | 一种测试方法及系统 | |
KR101151742B1 (ko) | 휴대형 부분 방전 진단 시스템 | |
JP2014102253A (ja) | 組み合わせマスク・トリガ処理方法及び試験測定装置 | |
KR20150001771A (ko) | 보호 계전 장치의 동작 시험 시스템 | |
JP2016024200A (ja) | 相関波形決定方法及び試験測定装置 | |
JP2013064655A (ja) | 波形測定装置 | |
JP3371865B2 (ja) | 集積回路の故障検査装置、故障検査方法、及び故障検査制御プログラムを記録した記録媒体 | |
JP2014160045A (ja) | 部分放電検査装置及び検査方法 | |
JP2012013590A (ja) | 測定装置および基板検査装置 | |
JP6864441B2 (ja) | 試験測定装置及びプリスケール方法 | |
CN103809059B (zh) | 一种信号检测方法与装置 | |
US8811463B2 (en) | Jitter measuring trigger generator, jitter measuring apparatus using the same, method of generating jitter measuring trigger, and method of measuring jitter | |
WO2021088735A1 (zh) | 链路的检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质 | |
CN109540979A (zh) | 一种显示模组和裂纹检测方法 | |
JP5525144B2 (ja) | 波形判定装置および該波形判定装置における時間軸位置調整方法 | |
CN113484374A (zh) | 用于高低压电瓷电器的电压稳定性测试系统 | |
US11640523B2 (en) | Method for training a neural network, method for automatically characterizing a measurement signal, measurement apparatus and method for analyzing | |
CN107666416B (zh) | 一种iperf测试结果判定系统 | |
JP5423044B2 (ja) | 部分放電試験装置の検証装置及び部分放電試験装置の検証方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140716 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150528 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150617 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150814 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160120 |