JP6864441B2 - 試験測定装置及びプリスケール方法 - Google Patents
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Description
最適表示トリガ・イベント・カウント値=(周波数/3)/(分周比)
入力信号(125)を受けるよう構成される入力ポートと、
それぞれ上記入力信号中のイベントを示すイベント信号を所定の整数値でスケール(scale)する複数の分周比を用いる1つ以上の分周回路(205/305)と、
上記イベント信号の推定信号周波数を反復して求め(413)、上記推定信号周波数に基いて上記イベント信号のための分周比を自動的に求める(415)よう構成されるコントロール・システム(210/310)と
を具えている。
1秒当たり所定個数の測定値がもたらされる最適な表示トリガ・イベント・カウント値を求め(413)、
選択された上記分周比及び最適な表示トリガ・イベント・カウント値を用いてイベント信号を表示する(419)。
1つの入力部を介して入力信号(125)を受ける処理と、
上記入力信号中のイベントを示すイベント信号の推定信号周波数を反復して求める処理(413)とを具え、
上記試験測定装置による信号処理のために、上記推定信号周波数に基いて、上記イベント信号のための分周比、対応する分周回路(205/305)を自動的に選択し、予め定めた整数値によって、選択された上記分周比で上記イベント信号をスケールする。
周波数レンジ・カウンタ(209/309)を用いて、上記イベント信号中のトリガ・イベントの個数をカウントする処理(409)と、
カウントされたトリガ・イベントの個数に基いて、経過時間結果を求める処理(409)と、
上記経過時間結果を用いて、上記推定信号周波数を求める処理(413)と
を更に具えている。
1秒当たり所定数の測定値をもたらす最適な表示トリガ・イベント・カウント値を求める処理(413)と、
選択された上記分周比と最適な表示トリガ・イベント・カウント値を用いて、試験測定装置のスクリーン上に上記イベント信号を表示する処理(419)と
を更に具えている。
1つの入力部(201/301)を介して入力信号(125)を受ける処理と、
上記入力信号中のイベントを示すイベント信号の推定信号周波数を反復して求める処理(413)とを具え、
上記試験測定装置による信号処理のために、上記推定信号周波数に基いて、上記イベント信号のための分周比、対応する分周回路(205/305)を自動的に選択し、予め定めた整数値によって、選択された上記分周比で上記イベント信号をスケール(scale)する方法を実行させる。
1秒当たり所定数の測定値をもたらす最適な表示トリガ・イベント・カウント値を求める処理(413)と、
選択された上記分周比と最適な表示トリガ・イベント・カウント値を用いて、試験測定装置のスクリーン上に上記イベント信号を表示する処理(419)と
を更に具えている。
101 表示装置
103 操作装置
105 複数のポート
121 被試験デバイス(DUT)
125 入力信号
200 自動周波数プリスケーラ
201 入力回路
203 比較回路
204 高度ドリガ・モード制御ブロック
205 分周回路
206 スイッチ
207 スイッチ
209 周波数レンジ・カウンタ
210 コントロール・システム
213 ソフトウェア制御部
221 トリガ・レベル制御信号
223 カップリング制御信号
225 ヒステレシス 制御信号
227 周波数
300 自動周波数プリスケーラ
301 入力回路
303 比較回路
304 高度ドリガ・モード制御ブロック
305 分周回路
306 スイッチ
307 スイッチ
308 低分解能周波数レンジ・カウンタ
309 高分解能周波数レンジ・カウンタ
310 コントロール・システム
313 ソフトウェア制御部
321 トリガ・レベル制御信号
323 カップリング制御信号
325 ヒステレシス 制御信号
327 周波数
500 オシロスコープ・グラチクル
600 オシロスコープのユーザ・インタフェース
Claims (2)
- 入力信号を受けるよう構成される入力ポートと、
上記入力信号中にイベントが生じているかを決定し、上記入力信号にイベントが生じたときにイベント信号を生成するよう構成される比較回路と、
上記入力信号中のイベントを示すイベント信号をそれぞれ所定の整数値でスケールする複数の分周比を用いる1つ以上の分周回路と、
上記イベント信号の推定信号周波数を反復して求め、上記推定信号周波数に基いて上記イベント信号のための特定分周比を上記複数の分周比の中から自動的に選択するよう構成されるコントロール・システムと、
上記特定分周比でスケールされた上記イベント信号中のイベントの個数をカウントして高分解能カウント値を求め、上記コントロール・システムへ送るよう構成される高分解能周波数カウンタと、
上記複数の分周比の中の最大分周比でスケールされた上記イベント信号中のイベントの個数をカウントして低分解能カウント値を求め、上記コントロール・システムへ送るよう構成される低分解能周波数カウンタと
を具え、
上記コントロール・システムが、上記高分解能カウント値及び上記低分解能カウント値に基づいて、上記特定分周比を選択するよう更に構成される試験測定装置。 - 試験測定装置で実現される信号をプリスケールする方法であって、
1つの入力部を介して入力信号を受ける処理と、
上記入力信号にイベントが生じたときにイベント信号を生成する処理と、
上記入力信号中のイベントを示すイベント信号の推定信号周波数を反復して求める処理と、
上記試験測定装置による信号処理のために、上記推定信号周波数に基づいて、上記イベント信号のための特定分周比を複数の分周比の中から自動的に選択し、予め定めた整数値によって、選択された上記分周比で上記イベント信号をスケールする処理と、
上記特定分周比でスケールされた上記イベント信号中のイベントの個数をカウントして高分解能カウント値を求める処理と、
上記複数の分周比の中の最大分周比でスケールされた上記イベント信号中のイベントの個数をカウントして低分解能カウント値を求める処理と
を具え、
上記特定分周比の選択が、更に、高分解能カウント値及び低分解能カウント値に基づいて行われる信号プリスケール方法。
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