JP2014102253A - 組み合わせマスク・トリガ処理方法及び試験測定装置 - Google Patents

組み合わせマスク・トリガ処理方法及び試験測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014102253A
JP2014102253A JP2013240212A JP2013240212A JP2014102253A JP 2014102253 A JP2014102253 A JP 2014102253A JP 2013240212 A JP2013240212 A JP 2013240212A JP 2013240212 A JP2013240212 A JP 2013240212A JP 2014102253 A JP2014102253 A JP 2014102253A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trigger
mask
digital data
component
components
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013240212A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6467608B2 (ja
Inventor
Kenneth P Dobyns
ケネス・ピー・ドビンズ
J Waldo Gary
ギャリー・ジェイ・ワルド
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JP2014102253A publication Critical patent/JP2014102253A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6467608B2 publication Critical patent/JP6467608B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/165Spectrum analysis; Fourier analysis using filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/0218Circuits therefor
    • G01R13/0254Circuits therefor for triggering, synchronisation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】空間及び時間の観点から組み合わせマスク・トリガ処理を実行する。
【解決手段】1つ以上のマスク・トリガを設定しても良い。組み合わせマスク・トリガ処理ロジックは、デジタル化信号と1つ以上のマスク・トリガとの間の関係について、種々の判断を行える。上記関係に関するこれら種々の判断は、空間及び時間の両方を考慮することを含めても良い。組み合わせトリガ基準が満たされると、トリガ信号が生成され、入って来る信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。組み合わせマスク・トリガ処理ロジックは、信号について、周波数領域、時間領域、又は両方において動作できる。
【選択図】図3B

Description

本発明の実施形態は、マクス・トリガ処理に関し、特に、試験測定装置での時間又は周波数領域における組み合わせマスク・トリガ処理に関する。
高速デジタル・オシロスコープのような最近の試験測定装置は、入ってくる被試験電気信号に関する測定データを捕捉する取込みシステムを含んでいる。試験測定装置においてデータ取込みをトリガするのには、異なる種類の基準を用いることができる。例えば、トリガ処理は、表示デバイスの描画面内に定義される「マスク領域」に基づくようにしても良い。トリガ・ロジック(論理回路)は、マスク領域内の表示上に描かれる画素で表されるトレース要素の偏位運動(excursions)を検出でき、それに応じて、マスク違反(mask failure)やトリガ・イベントを発生させることができる。
従来の周波数マスク・トリガ処理システムでは、スペクトラム取込み処理は、「フリー・ランニング」、言い換えると、システムが準備でき次第、取込みデータが取り込まれて、スペクトラムを生成するよう処理される。このスペクトラムは、続いて、画像平面へとラスタライズされる。個々のスペクトラム・トレーム又は周波数成分(周波数コンポーネント)がラスタライズされるとき、それらは周波数マスクに対して試験される。もしそのトレースがマスク基準に当てはまらない(例えば、マスク領域を通る偏位運動が生じる)と、トリガが生成され、デジタル・データが取り込まれて、メモリ中に蓄積される。
従来の時間領域トリガ処理システムでは、トリガ処理を種々の基準に基づいて起こすことができる。例えば、取り込まれたデータを1つ以上の「視覚的トリガ・ゾーン」に対して試験でき、もしゾーン基準に合致すると、その取り込まれた波形が更に処理される。もしゾーン基準に合致しないと、その波形は破棄される。
特開2010−038884
テクトロニクスによる「MSO70000DX、DPO70000DX、MSO70000C、DPO70000C、DPO7000C、MSO5000、and DPO5000 Series Digital Phosphor Oscilloscopes Quick Start User Manual」の「Pinpoint triggers」、66〜71頁、[2013年11月19日検索]、インターネット<URL:http://www2.tek.com/cmswpt/mafinder.lotr?va=1>
従来の手法に欠けていることは、空間的な考慮に比較して、時間的な要素である。より具体的には、信号や、信号の複数のコンポーネント間の関係が空間や時間の観点から表現できるのに対して、従来のトリガ処理方法は、被試験信号の時間に関する側面と組み合わせた空間的側面を中心とする関連性及びトリガ基準を構築する能力に欠けている。
更には、複数のマスク領域や視覚的なトリガ・ゾーンが既知である一方、複数の領域マスク・トリガ処理や密度トリガ処理に関して、時間及び周波数領域の両方での取込みというニーズがある。従って、複数のトリガ・マスク領域を含むと共に、それら複数マスク領域間の論理的、空間的又はタイミングの関係を含むトリガ基準を伴い、それによって、より高度なトリガ処理モードをサポートできる組み合わせマスク・トリガ処理に関するニーズが残っている。本発明の実施形態は、従来技術におけるこれらやその他の限界に取りむむものである。
本発明の概念1は、試験測定装置における組み合わせマスク・トリガ処理の方法であって、
トリガ・マスクを設定する処理と、
被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点から上記トリガ・マスクと所定関係を持っているかどうかリアルタイムで判断する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を持っている場合にトリガ信号を生成する処理と、
上記トリガ信号に応じてメモリに上記デジタル・データを記憶する処理と
を具えている。
本発明の概念2は、上記概念1の方法であって、
上記デジタル・データの表現を周波数領域におけるスペクトラム・トレースとして表示する処理と、
上記デジタル・データと関連する1つ以上の上記コンポーネントが、周波数領域における上記トリガ・マスクに対して所定関係を有しているか判断する処理と
を更に具えている。
本発明の概念3は、上記概念1の方法であって、
上記デジタル・データの表現を時間領域におけるトレースとして表示する処理と、
上記デジタル・データと関連する1つ以上の上記コンポーネントが、時間領域における上記トリガ・マスクに対して所定関係を有しているか判断する処理と
を更に具えている。
本発明の概念4は、上記概念1の方法であって、
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含んでいる。
本発明の概念5は、上記概念4の方法であって、
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
本発明の概念6は、上記概念1の方法であって、
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含んでいる。
本発明の概念7は、上記概念6の方法であって、
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
本発明の概念8は、上記概念1の方法であって、
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断する処理を更に具えている。
本発明の概念9は、上記概念8の方法であって、
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
本発明の概念10は、上記概念1の方法であって、
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
所定しきい値以下の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
本発明の概念11は、上記概念1の方法であって、
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
所定しきい値以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
本発明の概念12は、上記概念1の方法であって、
上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数のトリガ・マスクの偏位運動を検出する処理を更に具え、
上記トリガ・マスクが、複数の上記トリガ・マスクに含まれることを特徴としている。
本発明の概念13は、上記概念12の方法であって、
1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断する処理と、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断する処理と、
これら判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
本発明の概念14は、上記概念12の方法であって、
1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備する処理と、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
本発明の概念15は、上記概念14の方法であって、
上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成する処理を更に具えている。
本発明の概念16は、試験測定装置であって、
被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成するよう構成された入力部と、
上記入力部に結合され、上記デジタル・データをリアルタイムで処理してトリガ・イベントが発生するとトリガ信号を生成する組み合わせマスク・トリガ・ロジックと、
上記入力部に結合され、上記トリガ信号に応じて上記デジタル・データを記憶するメモリとを具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点からトリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されたマクス試験回路を有している。
本発明の概念17は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、1つ以上の上記コンポーネントが上記所定関係を有していることに応じて、上記トリガ・イベントが発生すると上記トリガ信号を生成するよう構成されていることを特徴としている。
本発明の概念18は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成され、このとき、上記デジタル・データの上記表現を周波数領域で表示するよう構成される表示デバイスを更に具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが周波数領域において上記トリガ・マスクに対して上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
本発明の概念19は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成され、このとき、上記デジタル・データの上記表現を時間領域で表示するよう構成される表示デバイスを更に具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが時間領域において上記トリガ・マスクに対して上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
本発明の概念20は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以上の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されていることを特徴としている。
本発明の概念21は、上記概念20の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念22は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以下の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されていることを特徴としている。
本発明の概念23は、上記概念22の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念24は、上記概念16の試験測定装置であって、このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクトと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
本発明の概念25は、上記概念24の試験測定装置であって、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念26は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
所定しきい値以下の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念27は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
所定しきい値以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念28は、上記概念16の試験測定装置であって、
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
上記トリガ・マスクを含む複数のトリガ・マスクが上記表示デバイス上に配置され、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数の上記トリガ・マスクの偏位運動を検出するよう構成されている。
本発明の概念29は、上記概念28の試験測定装置であって、
このとき、1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断し、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断し、
上記複数の判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念30は、上記概念28の試験測定装置であって、
このとき、1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断し、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備し、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
本発明の概念31は、上記概念30の試験測定装置であって、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
発明のコンセプトの上述及びその他特徴及び効果は、以下の実施形態例の詳細な説明から、添付の図面とともに進めることで、更に容易に明らかとなるであろう。
図1は、本発明の実施形態による組み合わせロジックを含む例である試験測定装置を示している。 図2は、空間及び時間の観点からの組み合わせマスク・トリガ処理に関する手法を示す本発明の実施形態によるフローチャートを示している。 図3Aは、本発明の実施形態によるトレースを示している。 図3Bは、本発明の実施形態による図3Aのトレースに関連するフローチャートを示している。 図4Aは、本発明の別の実施形態による第1トレースを示している。 図4Bは、本発明の別の実施形態による第2トレースを示している。 図4Cは、本発明の別の実施形態による図4A及び図4Bの第1及び第2トレースに関連するフロー・チャートを示している。 図5Aは、本発明の更に別の実施形態によるトレースを示している。 図5Bは、本発明の更に別の実施形態による図5Aのトレースに関連するフロー・チャートを示している。 図6Aは、本発明のもう1つ別の実施形態によるトレースを示している。 図6Bは、本発明のもう1つ別の実施形態による図6Aのトレースに関連するフロー・チャートを示している。 図7Aは、本発明の別の実施形態による第1トレースを示している。 図7Bは、本発明の別の実施形態による第2トレースを示している。 図7Cは、本発明の別の実施形態による図7A及び図7Bの周波数領域に対する第1及び第2トレースに関連するフロー・チャートを示している。 図7Dは、本発明の別の実施形態による図7A及び図7Bの時間領域に対する第1及び第2トレースに関連するフロー・チャートを示している。
ここで、本発明の実施形態を詳細に参照することにするが、その例は添付の図面に示されている。以下の詳細な説明では、本発明の概念の完全な理解を可能とすべく、多数の具体的な詳細が記述される。しかし、当然ながら、当業者であれば、こうした具体的な詳細なしに、発明の概念を実行できよう。他の場合では、周知の方法、手順、構成要素、回路及びネットワークについて、実施形態の特徴を不明確にしないようにしつつ、詳細には説明していない。
本願では、第1、第2などの用語を用いて種々の構成要素を説明することがあるが、これら要素は、これら用語によって限定されるべきではないことが理解されるであろう。これら用語は、ある要素を他のものから区別するために使っているに過ぎない。本発明の概念の範囲から逸脱することなく、例えば、第1トリガ・マスクを第2トリガ・マスクと呼ぶこともできるし、同様に、第2トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼ぶこともできる。
本願において種々の実施形態の説明で使用される用語は、特定の実施形態を説明することのみを目的としており、発明の概念を限定しようとするものではない。説明及び添付に請求項で使用されているように、単数形「a」、「an」及び「the」は、文脈で明確にそうでないと示さない限り、複数形も同様に含むことを意図する。本願で用いられる用語「及び/又は(and/or)」は、リスト・アップされた関連項目の1つ以上のあらゆる全ての可能な組み合わせに言及し、包含すると理解できるであろう。更に、用語「comprises(〜を含む、〜から構成される)」や「comprising(〜を含んでいる、〜から構成されいる)」は、本明細書で使用された場合、述べた特徴、整数、ステップ、動作、要素やコンポーネントの存在を特定するが、その他の特徴、整数、ステップ、動作、要素やコンポーネント及び/又はこれらのグループの1つ以上の存在又は追加を排除するものではない。図の構成要素及び機能は、必ずしも一定の率の縮尺で描いたものではない。
図1は、本発明の実施形態による組み合わせロジック(論理回路)を含む例である試験測定装置105を示している。試験測定装置105は、オシロスコープ、ロジック・アナライザ、スペクトラム・アナライザ、ミックスド・ドメイン・オシロスコープ、ネットワーク・アナライザなどでも良い。全般に、一貫性と説明の都合から、本願では、試験測定装置105は、オシロスコープとして言及する。
オシロスコープ105は、入力部135を含んでも良く、これは、入力被試験電気信号140を受ける。入力部135は、取込み回路、デジタイザ、増幅器、コンバータなどを含んでいても良く、ライン130を介してメモリ115に接続していても良い。メモリ115は、トリガ・イベントに応答して、入力信号140に関する1つ以上の取込みレコードを蓄積できる。メモリ115は、メモリ・コントローラ120を含んでいても良く、これは、メモリ115への書き込み及びメモリ115からの読み出しを制御する。メモリ115は、ダイナミック・メモリ、スタティック・メモリ、リード・オンリー・メモリ、ランダム・アクセス・メモリ、又は他の適切な種々の任意のメモリとしても良い。メモリ115は、デジタル・データを記憶でき、これは、表示デバイス165上に表示できる。
入力部135は、また、ライン145を介して組み合わせロジック170に結合されていても良く、そのため、組み合わせロジック170は、入力信号140を受けることができる。また、組み合わせロジック170は、ライン125を介してメモリ115からデジタル化データを受けても良い。用語「組み合わせマスク・トリガ処理ロジック」又は「組み合わせロジック」は、入力信号を処理し、予め設定された1セット(1組)の基準に基づくトリガ信号を生成するためのアナログ回路、デジタル回路、ハードウェア回路、ファームウェアやソフトウェア、又はこれらの任意の適切な組み合わせを指している。
組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、入力に受けたデジタル・データをリアルタイムで処理し、トリガ・イベントが発生すると、トリガ信号150を生成できる。組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、マクス試験回路175を含んでいても良く、マクス試験回路175で少なくとも一部分が決定される基準に基づいて、オシロスコープ105にトリガをかけても良い。マクス試験回路175は、デジタル・データに関連し、表示デバイス165上に描かれる画素が、詳しくは後述するように、空間及び時間の観点から、トリガ・マスクと所定の関係を有しているかどうか、リアルタイムに判断できる。更には、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170及びマクス試験回路175は、入力信号を処理し、周波数領域、時間領域又は両方において、こうした判断を行える。組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170の機能及び他の特徴の実施形態例は、後述する。
プロセッサ155は、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170に結合されても良く、そして、トリガ信号150を受けるようにしても良い。また、プロセッサ155は、表示装置165に結合されても良い。プロセッサ155は、入力部135、組み合わせロジック170、メモリ115及び表示装置165間のデータの処理を調整し、表示装置165上に表示されるトリガ情報、波形情報及び/又は他の測定情報を生じさせても良い。
図2は、空間及び時間の観点からの組み合わせマスク・トリガ処理に関する手法を示す本発明の実施形態によるフローチャート200を示している。この手法は、205で始まるようにでき、ここでは、1つ以上のトリガ・マスクが設定される。「トリガ・マスク」は、(図1の)表示デバイス165の描画面に対して定義されるマスク領域である。(図1の)組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、波形がトリガ・マスク又はマスク領域と交差するか、さもなくば、トリガ・マスク又はマスク領域に対して所定の(predetermined:予め定めた)関係を有しているかどうかを判断できる。トリガ・マスク(複数の場合もあり)は、本願では、主として矩形形状として表されているが、トリガ・マスク(複数の場合もあり)は、円形、三角形、線形又は他の任意の適切な形状及び大きさで良いことが理解できよう。本願で説明される実施形態例では、1つ以上のトリガ・マスクが、オシロスコープのユーザによって、例えば、キーボード、マウス、タッチ・スクリーンなどの任意の適切な入力手段を用いて、手作業又は視覚的に設定されるとして良い。これに代えて、1つ以上のトリガ・マスクは、オシロスコープによって自動的に設定されても良い。オシロスコープは、1つ以上のトリガ・マスクを予め記憶された基準に基づいて設定しても良い。更には、1つ以上のトリガ・マスクを、外部のコンピュータ・システム上のソフトウェアを用いて生成し、続いて、オシロスコープに取り込むようにしても良い。
フローは210に進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。220では、そのデジタル・データに関連する画素又はコンポーネントが、空間及び時間の観点から1つ以上のトリガ・マスクに対して所定の関係を有しているかどうかの判断が行われる。もしそうであるなら、続いてマスク違反が生じ、(図1の)組み合わせロジック170が、225において、トリガ信号を生成し、これは、オシロスコープにトリガをかけて、これによって、ステップ230において、入ってくる信号及び関連するデジタル・データが(図1の)メモリ115に記憶される。
画素又はコンポーネントが所定の関係を有するかの判断を行うことには、例えば、表示デバイスの表示上に描いた場合に、デジタル・データに関連する画素又はコンポーネントが、1つ以上のトリガ・マスクを突破する(violate:違反する)かどうかを判断することを含んでいても良い。もしマスクの突破が生じなければ、そのデジタル・データは破棄され、更に取り込まれる。
図3A〜3Bは、本発明の実施形態によるトレース300及び関連するフローチャートをそれぞれ示している。スペクトラム・トレース300(そして、本願で説明及び図示する他のスペクトラム・トレース)の水平軸は、入力信号を周波数領域から分析する場合には周波数の観点から表現又は測定でき、入力信号を時間領域から分析する場合には時間の観点から表現又は測定できる。垂直軸は、振幅又はパワー(電力)の観点から表現又は測定できる。これら軸の説明は、後述のプロット及びトレースにも適用される。
フローチャート303の305において、トリガ・マスク302を設定しても良い。310において、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
302において、デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント(例えば、301)がトリガ・マスク302に対して空間的に所定の関係を有しているかどうかの判断が行われる。その所定の関係とは、例えば、トリガ・マスク302への進入、トリガ・マスク302の通過、及び/又は、トリガ・マスク302から外へ抜け出すこととしても良い。この偏位運動(excursion)は、例えば、その信号本体、信号中のグリッチ又は何らかの他のスプリアス信号によって生じることがある。325において、予め定めた時間しきい値と同じか、より長いか及び/又はより短い期間の間に、予め定めた(predetermined:所定の)関係が存在するかどうかという、もう1つの判断が行われる。言い換えると、もしその画素又はコンポーネントが、偏位運動を起こすと検出され、そして、所定時間しきい値と同じか、所定時間しきい値より長いか、所定時間しきい値より短いか、又は、これらを任意に組み合わせた期間において、その関連するトリガ・マスク内に留まっている場合に、マスク違反(mask failure)が発生し、YESのパスに沿ってフローが進む。
320及び325で行われる判断は、空間及び時間要因に基づく単一の組み合わせ論理判断として行われても良い。もしどちらかの条件が合致しなければ、フローは、更なる処理のために、310へと戻る。さもなければ、フローは330へと進み、ここでは、満たされたトリガ基準に応答してトリガ信号が生成され、続いて335へと進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。
デジタル・データを表現したもの301は、表示デバイス165の表示上で周波数領域におけるスペクトラム・トレースとして表示されるか、又は、表示デバイス165の表示上で時間領域におけるトレースとして表示されても良い。本願で図示し、説明するデジタル・データの表現301又は他の表現は、多くの場合、単一の波形又はライン(線)を示すが、これは、よりシンプルで直接的な図解及び説明に役立てようとするものであって、あらゆる周波数コンポーネント(周波数成分)、時間コンポーネント、波形、形状、ライン、トレースなどが存在できるか、さもなければ、表示デバイス上に描画でき、そして、組み合わせマスク・トリガ処理ロジックによって処理され、それでも本願で説明する発明の手法の範囲内に入っている。
図4A〜4Cは、本発明の別の実施形態による第1トレース400、第2トレース408、そして、関連するフローチャート403をそれぞれ示している。周波数領域内で動作している場合には、スペクトラム・トレース400及び408は、時間的にシフトしている又は移動している周波数成分401を表している。時間域内で動作している場合には、トレース400及び408は、異なる時間に現れている時間領域成分を表している。この手法は、405で始まるとして良く、ここでは、第1トリガ・マスク402及び第2トリガ・マスク404が設定される。フローは、410に進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
その後、パスA又はBのどちらかが取られる。パスAは、周波数領域内で実行される動作を示す一方、パスBは、時間領域内で実行される動作を示す。もしパスAが取られると、フローは420に進み、ここでは、スペクトラム・トレース中の1つ以上の周波数成分(例えば、401)が、第1トリガ・マスク402及び第2トリガ・マスク404の間で動くかどうかの判断が行われる。反対に、もしパスBが取られると、フローは422に進み、ここでは、時間領域トレースが、第1トリガ・マスク402及び第2トリガ・マスク404へ進入、通過、及び/又は、外へ抜け出す偏位運動があるかどうかの判断が行われる。偏位運動は、同時に起こる必要はなく、むしろ、順次起こるとして良い。上述のように、偏位運動は、例えば、信号本体、信号中のグリッチ又は他のスプリアス信号によって生じることがある。
どちらの場合(パスA又はパスB)でも、フローは425に戻り、ここでは、予め定めた時間しきい値と同じか、より長いか、及び/又はより短い期間406内において、上記の移動又は偏位運動が生じたかどうかという、もう1つの判断が行われるようにしても良い。言い換えると、もし第1トリガ・マスクに対して偏位運動又は違反(failure)を起こす画素又はコンポーネントが検出され、続いて、その後、ある期間(この期間は、所定時間しきい値と同じか、時間しきい値よりも長いか、時間しきい値よりも短いか、又は、これらの任意の組み合わせである)内に、その画素又はコンポーネントが第2トリガ・マスクに対して偏位運動又は違反を起こすことが検出されると、フローはYESパスに沿って進む。
420、422及び/又は425で行われる判断は、空間及び時間要因に基づいて、単一の組み合わせ論理判断として行われても良い。もしどちらかの条件が合致しなければ、更なる処理のために、フローは410に戻る。さもなければ、フローは430へ進み、ここでは、満たされたトリガ基準に応じてトリガ信号が生成され、続いて、435へ進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。
別の実施形態では、フローがステップ425をスキップする。言い換えると、もしパスAが取られると、時間に関係なく、もし周波数成分が第1トリガ・マスク402及び第2トリガ・マスク404内に存在していれば、オシロスコープがトリガされるようにしても良い。この状況において、もしパスBが取られると、時間に関係なく、もし時間領域トレースのコンポーネントが第1トリガ・マスク402及び第2トリガ・マスク404内に存在していれば、オシロスコープがトリガされるようにしても良い。
周波数領域で動作している場合、表示デバイス165の表示上に、デジタル・データの表現401をスペクトラム・トレースとして表示しても良い。時間領域で動作している場合、表示デバイス165の表示上に、デジタル・データの表現401を時間領域トレースとして表示しても良い。
図5A〜5Bは、本発明の更なる別の実施形態によるトレース500及び関連するフロー・チャート503をそれぞれ示している。この手法は、505で始めても良く、ここでは、複数のトリガ・マスク502が設定される。フローは、510へ進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
その後、パスA又はBのどちらかが取られる。パスAは、周波数領域で実行される動作を示す一方、パスBは時間領域内で実行される動作を示す。もしパスAが取られると、フローは520へ進み、ここでは、スペクトラム・トレース中の周波数成分(例えば、501)が、1つ以上のトリガ・マスク502内に存在するかどうかの判断が行われる。反対に、もしパスBが取られると、フローは522へ進み、ここでは、時間領域トレースによる1つ以上のトリガ・マスク502への偏位運動、トリガ・マスク502を通過する偏位運動、トリガ・マスク502から外へ抜け出る偏位運動があるかどうかの判断が行われる。
こうした判断と、画素又はコンポーネント501が1つ以上のトリガ・マスク502内に存在し、そして、所定時間しきい値と同じか、より長いか、及び/又はより短い期間の間、留まっているかどうかの判断(図示せず)とを組み合わせても良い。別の例としては、画素又はコンポーネント501が、4個のトリガ・マスク502の中の2個の中に存在しているかどうか、又は、4個のトリガ・マスク502の中の3個の中に存在しているかどうか、などの判断としても良い。もし条件が合わなければ、更なる処理のために、フローは510に戻る。さもなければ、フローは530へ進み、ここでは、満たされたトリガ基準に応じてトリガ信号が生成され、続いて535へ進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。
周波数領域で動作している場合、デジタル・データの表現501は、表示デバイス165の表示上でスペクトラム・トレースとして表示されても良い。例えば、スペクトラム・トレースは、周波数ホッピング信号の表現501を示すとしても良い。時間領域で動作している場合、デジタル・データの表現501は、表示デバイス165の表示上で時間領域トレースとして表示されても良い。
図6A〜6Bは、本発明のもう1つ別の実施形態によるトレース600及び関連するフロー・チャート603をそれぞれ示している。この手法は、605で始まっても良く、ここでは、複数のトリガ・マスク602が設定される。フローは610へ進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
その後、パスA又はBのどちらかを取ることができる。パスAは、周波数領域内で実行される動作を示す一方、パスBは、時間領域内で実行される動作を示す。もしパスAが取られると、フローは620に進み、ここでは、スペクトラム・トレース中の複数の周波数成分(例えば、601)が、複数のトリガ・マスク602中の1つ以上において不存在かどうかの判断が行われる。反対に、もしパスBが取られると、フローは622に進み、ここでは、複数のトリガ・マスク502中の1つ以上において、時間領域トレースによる偏位運動が不存在かどうかの判断が行われる。
こうした判断と、画素又はコンポーネント601が、所定時間しきい値と同じか、より長いか、又はより短い期間の間、1つ以上のトリガ・マスク602で不存在かどうかの判断(図示せず)とを組み合わせても良い。別の例としては、画素又はコンポーネント601が、4個のトリガ・マスク602の中の2個で不存在かどうか、又は、4個のトリガ・マスク602の中の3個で不存在かどうか、などの判断としても良い。もし条件が合致しないと、フローは、更なる処理のために610へ戻る。さもなくば、フローは、630へ進み、ここでは満たされたトリガ基準に応じてトリガ信号が生成され、続いて、635へ進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。
この実施形態では、時間関係もトリガ基準の一部として利用できる。例えば、所定時間しきい値と同じか、より長いか、又はより短い期間の間、複数のトリガ・マスクのどれかにおいて、信号の画素又はコンポーネント(例えば、601)が存在しないことがある場合に、トリガ基準が満たされ、トリガ信号が生成されても良い。
周波数領域で動作している場合、デジタル・データの表現601は、表示デバイス165の表示上でスペクトラム・トレースとして表示されても良い。例えば、スペクトラム・トレースは、周波数ホッピング信号の表現601を示すとしても良い。時間領域で動作している場合、デジタル・データの表現601は、表示デバイス165の表示上で時間領域トレースとして表示されても良い。
図7A〜7Dは、本発明の別の実施形態による第1トレース700、第2トレース705、周波数領域に対する関連するフロー・チャート703、そして、時間領域に対する関連するフロー・チャート803をそれぞれ示している。
図7A、7B及び7Cを参照すると、トレース700及び705を、周波数領域内におけるスペクトラム・トレースと仮定する。この手法は、705で始めても良く、ここでは、第1トリガ・マスク702及び第2トリガ・マスク704が設定される。フローは、710へ進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
720において、スペクトラム・トレース中の第1周波数成分701が第1トリガ・マスク702内に存在するかどうかの判断が行われる。もしNOなら、フローは更なるデータ取込みのために、710へ戻る。そうでなくて、もしYESなら、722において、トリガの動作準備をしても良い、つまり、言い換えると、(図1の)組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170が、第2トリガ・マスク704に関連するトリガ基準の動作準備をしても良い。ひとたびトリガの動作準備がなされたら、システムは、723においてデータの取込み及びデジタル化を続け、第2トリガ・マスク違反を探す。第2トリガ・マスク違反を検出するため、スペクトラム・トレース中の第2周波数成分707の密度値が、第2トリガ・マスク704に関連する所定密度しきい値以上かどうかというもう1つの判断が725において行われる。もしYESなら、続いてフローは730へ進み、ここでは満たされたトリガ基準に応じてトリガ信号が生成され、続いて735へ進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。そうではなくて、もしNOなら、続いてフローは726へ進み、ここでは、トリガ・ロジックがリセットされたかどうかという更にもう1つの判断が行われる。もしトリガ・ロジックがリセットされると、続いてフローは、更なる処理のために、710へ戻る。そうではなくて、もしトリガ・ロジックがリセットされないと、続いてフローは、更なるデータ取込みのために、723へ戻る。このリセットは、ユーザの要求か、又は、デジタル・データ内のリセット・インジケータに基づいている。
上記「密度値」は、関連するトリガ・マスク内に描画かれた「ヒット(hits)」又は「偏位運動」又は「画素」の個数を、それを生成するのに用いられた波形の個数で割り算したものと等しいとしても良い。本願において、マスク違反は、「1度」のイベント(つまり、単一の波形がマスク領域を突破した場合に生じる)か、又は「統計的な」イベント(つまり、特定期間(典型的には1フレーム)を通して、ある回数のマスク違反がいつ生じたか)のどちらかとしても良い。別の言い方をすれば、本願における用語「マスク違反」は、1回(マスク)の違反又は統計的(密度)違反のどちらかに適用される。
いくつかの実施形態では、3つのトリガ・マスク(例えば、702、704及び708)が組み合わせマスク・トリガ処理ロジックによって用いられても良い。例えば、トリガ・マスク702に関して偏位運動又は違反が生じているかどうかの判断を行うことができ、これは、トリガ・マスク704に関するトリガ基準の動作準備を起こさせることができる。オシロスコープは、偏位運動が最初にトリガ・マスク708に関して起きない限り、トリガ・マスク704の偏位運動又は違反に応じてトリガされても良い。空間及び時間に関する複数のトリガ・マスクの任意の適切な組み合わせ及び組み合わせロジックをオシロスコープにトリガをかけるために利用できる。上述のように、偏位運動は、例えば、信号本体、信号中のグリッチ、又は他のスプリアス信号によって生じることがある。
別の実施形態では、トリガ・マスク704に関連するトリガ基準は、密度には関係がないが、先の例と同様に、周波数成分の存在又は偏位運動と関係している。言い換えると、組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、(更に別の複数のトリガ・マスクに加えて)トリガ・マスク702、704及び/又は708を用いて、複数トリガ・マスク内の画素又はコンポーネントの存在に基づく複数イベントのシーケンスを構築し、上述したものと同様のタイミング関係のオプションを加えても良く、これらによって最終的にトリガ基準に合致すれば、トリガ信号が生成される。
周波数領域で動作している場合、デジタル・データの表現(例えば、701)は、表示デバイス165の表示上でスペクトラム・トレースとして表示されても良い。
ここで図7A、7B及び7Dを参照すると、トレース700及び705を、時間領域内におけるスペクトラム・トレースであると仮定する。この手法は、805で始まっても良く、ここでは、第1トリガ・マスク702及び第2トリガ・マスク704が設定される。フローは、810へ進み、ここでは、入力信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する。
820において、時間領域トレース中の第1コンポーネント701が第1トリガ・マスク内に存在しているかどうかの判断が行われる。もしNOなら、フローは更なるデータ取込みのために810へ戻る。そうではなくて、もしYESなら、続いて822においてトリガの動作準備が行われても良い、つまり、言い換えると、(図1の)組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170が、第2トリガ・マスク704に関連するトリガ基準の動作準備をしても良い。ひとたびトリガの動作準備がなされたら、システムは、823においてデータの取込み及びデジタル化を続け、第2トリガ・マスク違反を探す。第2トリガ・データを検出するため、時間領域トレース中の第2コンポーネント707が第2トリガ・マスク704内に存在するかどうかというもう1つの判断が825において行われる。もしYESなら、続いてフローは830へ進み、ここでは満たされたトリガ基準に応じてトリガ信号が生成され、続いて835へ進み、ここでは、入ってくる信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。そうではなくて、もしNOなら、続いてフローは826へと進み、ここでは、トリガ・ロジックがリセットされたかどうかという更にもう1つの判断が行われる。もしトリガ・ロジックがリセットされると、続いてフローは、更なるデータ取込みのために、810へ戻る。そうではなくて、もしトリガ・ロジックがリセットされないと、続いてフローは、更なるデータ取込みのために、823へ戻る。このリセットは、ユーザの要求か、又は、デジタル・データ内のリセット・インジケータに基づいている。
これに代えて、3つのトリガ・マスク(例えば、702、704及び708)が、時間領域において、組み合わせマスク・トリガ処理ロジックによって用いられても良い。例えば、トリガ・マスク702に関して偏位運動が生じているかどうかの判断を行うことができ、これは、トリガ・マスク704に関するトリガ基準の動作準備を起こさせることができる。そして、オシロスコープは、偏位運動が最初にトリガ・マスク708に関して起きない限り、トリガ・マスク704の偏位運動に応じてトリガされても良い。空間及び時間に関する複数のトリガ・マスクの任意の適切な組み合わせ及び組み合わせロジックをオシロスコープにトリガをかけるために利用できる。
別の実施形態では、複数のマスク違反間のタイミング関係が、トリガ信号を発生させるかどうか判断するのに利用される。タイミング関係が使われる場合、例えば、デジタル・データと関連する第1コンポーネント(例えば、707)が第1トリガ・マスク(例えば、702)と所定の関係を有すると判断された後の所定期間内において、デジタル・データと関連する第2コンポーネント(例えば、707)が、第2トリガ・マスク(例えば、704)に対して所定の関係(例えば、内部において偏位運動及び/又は残留している)を有しているかどうかを、組み合わせマスク・トリガ処理ロジックが判断しても良い。
別の実施形態では、トリガ・マスク704に関連するトリガ基準は、コンポーネントの存在又は残留だけに基づかず、むしろ、先の例と同様に、コンポーネントの密度に基づくとしても良い。言い換えると、組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、(更に別の複数のトリガ・マスクに加えて)トリガ・マスク702、704及び/又は708を用いて、複数トリガ・マスク内の画素又はコンポーネントの存在及び/又は密度に基づく複数イベントのシーケンスを構築し、上述したものと同様のタイミング関係のオプションを加えても良く、これらによって最終的にトリガ基準に合致すれば、トリガ信号が生成される。
時間領域で動作している場合、デジタル・データの表現(例えば、701)は、表示デバイス165の表示上で時間領域トレースとして表示されても良い。
本願で説明した空間及び時間要素を組み合わせる組み合わせ及びシーケンシャル(順次連続的な)基準は、周波数領域、時間領域、又は両方において実現できる。フローチャートにおける判断及び他のステップは、上述した特定の順番で起こす必要はなく、むしろ、これら判断は、異なる時に行われても良い。当然ながら、これら手法で説明されたステップは、必ずしも図示又は説明した順番で生じる必要はない。
先の説明は、特定の実施形態に焦点を当ててきたが、他の構成も考えられる。例えば、(図1の)組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170が、少なくとも1つのトリガ・マスクが違反を経験(例えば、そのトリガ・マスク中への偏位運動、そのトリガ・マスクから外へ出る、又は、そのトリガ・マスクを通過する)しているかどうかをN秒毎に判断し、もしそうなら、オシロスコープにトリガをかけても良い。別の例としては、少なくとも1つのトリガ・マスクが、1秒ごとに少なくともX回、違反を経験(例えば、そのトリガ・マスク中への偏位運動、そのトリガ・マスクから外へ出る、又は、そのトリガ・マスクを通過する)しているかどうかを、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170が判断し、もしそうなら、オシロスコープにトリガをかけても良い。
先に説明したように、ある期間中にグリッチ又は他のコンポーネントが波形中に存在した場合又は特定期間中に存在しなかった場合に、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170が、オシロスコープにトリガをかけても良い。
時間領域において、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、トレース中のグリッチがある割合(certain rate)で生じる場合に、オシロスコープにトリガをかけても良い。組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、(ある1つのトリガ・マスク領域で定義される)あるグリッチが、もう1つのトリガ・マスク領域で定義されるグリッチの後のある期間内において生じる場合に、オシロスコープにトリガをかけても良い。
周波数領域において、スプリアス成分又は他の周波数成分が、あまりにも長い間又はあまりに短い間、トリガ・マスク領域に存在しているか又は不存在の場合に、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170がオシロスコープにトリガをかけても良い。スペクトラム・トレース中の1つ以上の周波数成分が、あるトリガ・マスク領域と、もう1つ別のものとの間で、あまりに速く又はあまりにゆっくりと移動する場合に、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170がオシロスコープにトリガをかけても良い。あるスペクトラム成分がスペクトラム・トレース中に存在するものの、他のものが存在しない場合に、組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170がオシロスコープにトリガをかけても良い。組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、周波数のあるトリガ・マスク領域への偏位運動でトリガの動作準備を行い、続いて、別の領域において密度が超えたらトリガを起こしても良い。このトリガは、動作準備イベントの後、ある時間領域内でだけ密度偏位運動が起こった場合に起こるように限定しても良い。
組み合わせマスク・トリガ処理ロジック170は、マクス試験回路175を含んで利用しても良いので、こうした回路は、純粋にソフトウェアで実現したものでは見つけられない間欠的なイベントを捕捉できる。本願の実施形態は、ハードウェアでの実施を含む必要はないが、こうした実施では、発明の機能を実行する速度を向上できる。
本願で開示された種々の実施形態は、1つ以上のトリガ・マスク領域に対する画素の「ヒット」又は「偏位運動」を認識できる。このヒット又は偏位運動は、柔軟な論理回路(ロジック)と共に、複数の領域において組み合わせることで、より複雑なマスク違反基準を形成できる。複数のマスク違反間のタイミング関係は、複数イベントのシーケンスとして確立及び/又は連結される。複雑なマスク違反の個数は、特定の期間に渡ってカウント(計数)されても良い。これらの能力は、それら違反が起きたときは(つまり、リアルタイムでは)ハードウェアで実現しても良く、あるいは、ソフトウェアで実現しても良い。トリガ・マスク違反が起きた場合にハードウェア「フラグ」を提供し、これによってソフトウェアにその違反を処理するように通知するというように、ハードウェア及びソフトウェアのハイブリッドを用いても良い。
以下の説明は、適切なマシーン(単数又は複数)の手短な概略の記述の提供を意図するものであり、この中で、発明の概念のある側面を実現できる。典型的には、マシーン(単数又は複数)は、システム・バスを含み、これに、プロセッサ、メモリ、例えば、ランダム・アクセス・メモリ(RAM)、リード・オンリー・メモリ(ROM)、又は他の状態保持メディア、記憶装置、ビデオ・インターフェース、そして、入力/出力インターフェース・ポートが取り付けられる。機械(単数又は複数)は、少なくとも一部分は、キーボード、マウスなどの従来の入力デバイスからの入力によって、制御されても良く、加えて、別のマシーンから受けた指示、バーチャル・リアリティ(VR)環境を用いるインタラクティブな処理、生体フィードバック、又は、他の入力信号によって制御されても良い。本願において、用語「マシーン(機械)」は、単一のマシーン、1つのバーチャル・マシーン、通信可能に結合された複数マシーン又は複数バーチャル・マシーンのシステム、又は、一緒に動作する複数デバイスを広く包含するよう意図している。典型的なマシーンは、パソコン、ワークステーション、サーバ、ポータブル・コンピュータ、ハンドヘルド・デバイス、電話、タブレットなどのようコンピューティング・デバイスに加えて、例えば、自動車、電話、タクシーなどの私有又は公共の輸送機関のような輸送装置を含んでいる。
マシーン(単数又は複数)は、プログラマグル又はノン・プログラマグル・ロジック・デバイス又はアレイ、特定用途向けIC(ASIC)、埋め込み型コンピョータ、スマート・カード、などのような埋め込み型コントローラを含んでいても良い。マシーン(単数又は複数)は、1つ以上の遠隔マシーンへのネットワーク・インタフェース、モデム又は他の通信結合処理のような1つ以上の接続を利用しても良い。複数のマシーンは、イントラネット、インタネート、ローカル・エリア・ネットワーク、ワイド・エリア・ネットワークなどのような物理的及び/又は論理ネットワークによって、相互に接続されていても良い。ネットワーク通信には、無線周波数(RF)、衛星、マイクロウェーブ、米電気電子技術者協会(IEEE)545.11、Bluetooth(登録商標)、光、赤外線、ケーブル、レーザなどを含む種々の有線及び/又は無線の短距離又は長距離キャリア及びプロトコルを利用できることが、当業者には理解できよう。
発明の概念の実施形態は、機械がアクセスしたときに、機械がタスクを実行するか、又は、理論的なデータ形式又は低レベルのハードウェア状況を定義するという結果が得られる関数、手続、データ構造、アプリケーション・プログラムなどを含む関連データを参照するか又は連動して記述されても良い。関連データは、例えば、例えば、RAM、ROMなどの揮発性及び/又は不揮発性メモリ、又は、他の記憶デバイス及びそれらに関連する記憶媒体で、ハード・ドライブ、フロッピー・ディスク、オプティカル・ストレージ、テープ、フラッシュ・メモリ、メモリ・スティック、デジタル・ビデオ・ディスク、生体ストレージなどを含む。関連データは、パケット、シリアル・データ、パラレル・データ、伝播信号などの形式の物理的及び/又は論理ネットワークを含む伝送環境を通して送ることができ、圧縮又は暗号フォーマットで利用されても良い。関連データは、分散型環境で利用され、ローカルに及び/又はマシーンがアクセスする遠隔に蓄積されても良い。発明の概念の実施形態が、1つ以上のプロセッサで実行可能な命令を含む非一時的マシーン読み出し可能なメディアを含んでも良く、この命令は、本願で説明した発明の概念の要素を実行する命令を含んでいる。
発明の概念が意図する主旨から逸脱することなく、他の類似又は非類似の変更を行っても良い。従って、発明の概念は、添付の請求項によって以外では限定されない。
105 試験測定装置
115 メモリ
135 入力部
140 入力被試験電気信号
150 トリガ信号
155 プロセッサ
165 表示デバイス
170 組み合わせマスク・トリガ処理 logic
175 マスク試験回路
300 トレース
302 トリガ・マスク
301 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
400 第1トレース
401 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
402 第1トリガ・マスク
404 第2トリガ・マスク
406 期間
408 第2トレース
500 トレース
501 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
502 トリガ・マスク
600 トレース
601 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
602 トリガ・マスク
700 第1トレース
701 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
702 第1トリガ・マスク
704 第2トリガ・マスク
705 第2トレース
708 第3トリガ・マスク

Claims (20)

  1. トリガ・マスクを設定する処理と、
    被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する処理と、
    上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点から上記トリガ・マスクと所定関係を持っているかどうかリアルタイムで判断する処理と、
    上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を持っている場合にトリガ信号を生成する処理と、
    上記トリガ信号に応じてメモリに上記デジタル・データを記憶する処理と
    を具える試験測定装置における組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  2. 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含む請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  3. 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
    生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含む請求項2記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  4. 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
    上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断する処理を更に具える請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  5. 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか検出する処理を含み、
    生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含む請求項4記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  6. 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
    所定しきい値以下又は以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
    を更に具える請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  7. 上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数のトリガ・マスクの偏位運動を検出する処理を更に具え、
    上記トリガ・マスクが、複数の上記トリガ・マスクに含まれることを特徴とする請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  8. 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
    複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断する処理と、
    複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断する処理と、
    これら判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
    を更に具える請求項7記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  9. 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
    複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断する処理と、
    上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備する処理と、
    上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断する処理と、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
    を更に具える請求項7記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  10. 上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成する処理を更に具える請求項9記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
  11. 被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成するよう構成された入力部と、
    上記入力部に結合され、上記デジタル・データをリアルタイムで処理してトリガ・イベントが発生するとトリガ信号を生成する組み合わせマスク・トリガ・ロジックと、
    上記入力部に結合され、上記トリガ信号に応じて上記デジタル・データを記憶するメモリとを具え、
    上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点からトリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されたマクス試験回路を有する試験測定装置。
  12. 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されることを特徴とする請求項11の試験測定装置。
  13. 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項20の試験測定装置。
  14. 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクトと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、
    上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成される請求項11の試験測定装置。
  15. 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
    上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか判断し、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項14の試験測定装置。
  16. 上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
    このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
    上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
    所定しきい値以下又は以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項11の試験測定装置。
  17. 上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
    上記トリガ・マスクを含む複数のトリガ・マスクが上記表示デバイス上に配置され、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数の上記トリガ・マスクの偏位運動を検出するよう構成される請求項11の試験測定装置。
  18. 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
    上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
    複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断し、
    複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断し、
    これら判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項17の試験測定装置。
  19. 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
    上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
    複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断し、
    上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備し、
    上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断し、
    上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項17の試験測定装置。
  20. 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
    上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項19の試験測定装置。
JP2013240212A 2012-11-20 2013-11-20 マスク・トリガ処理方法、試験測定装置及び試験測定装置のためのプログラム Active JP6467608B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/682,645 US9846184B2 (en) 2012-11-20 2012-11-20 Combinatorial mask triggering in time or frequency domain
US13/682,645 2012-11-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014102253A true JP2014102253A (ja) 2014-06-05
JP6467608B2 JP6467608B2 (ja) 2019-02-13

Family

ID=49766851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013240212A Active JP6467608B2 (ja) 2012-11-20 2013-11-20 マスク・トリガ処理方法、試験測定装置及び試験測定装置のためのプログラム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9846184B2 (ja)
EP (1) EP2733495B1 (ja)
JP (1) JP6467608B2 (ja)
KR (1) KR20140064616A (ja)
CN (1) CN103837725B (ja)
TW (1) TWI593973B (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9304148B2 (en) 2012-10-23 2016-04-05 Tektronix, Inc. Internal chirp generator with time aligned acquisition in a mixed-domain oscilloscope
US10024884B2 (en) * 2014-05-22 2018-07-17 Tektronix, Inc. Dynamic mask testing
US10698004B2 (en) 2015-04-07 2020-06-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement device and method for measuring at least one signal
DE102015216758A1 (de) * 2015-09-02 2017-03-16 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Messgerät zum Ermitteln von Signalparametern
CN105403747B (zh) * 2015-11-04 2018-01-02 中国电子科技集团公司第四十一研究所 多模板同步测试方法及示波器
DE102016212442A1 (de) 2016-07-07 2018-01-11 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Mess- und Testvorrichtung sowie Verfahren zur Analyse eines periodischen Signals mit überlagertem Phasenrauschen
US10712367B2 (en) * 2016-11-08 2020-07-14 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for analyzing a signal as well as measurement and analyzing device
US11933819B2 (en) * 2018-09-28 2024-03-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Signal processing device as well as method of applying a zone trigger

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060025947A1 (en) * 2004-07-29 2006-02-02 Earls Jeffrey D Spectrogram mask trigger
US20100204939A1 (en) * 2009-02-11 2010-08-12 Tektronix, Inc. Time qualified frequency mask trigger
EP2228661A1 (en) * 2009-03-13 2010-09-15 Tektronix, Inc. Graphic actuation of test and measurement triggers
JP2010217180A (ja) * 2009-03-13 2010-09-30 Tektronix Inc トリガをかける方法及びrf試験測定装置
EP2386867A2 (en) * 2010-05-13 2011-11-16 Tektronix, Inc. Signal recognition and triggering using computer vision techniques
JP2011237413A (ja) * 2010-05-05 2011-11-24 Tektronix Inc 試験測定機器

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5594655A (en) * 1993-08-20 1997-01-14 Nicolet Instrument Corporation Method and apparatus for frequency triggering in digital oscilloscopes and the like
CN2187796Y (zh) * 1994-02-22 1995-01-18 阮志武 数字示波频谱分析仪
US6356067B1 (en) * 1998-08-10 2002-03-12 Sony/Tektronix Corporation Wide band signal analyzer with wide band and narrow band signal processors
WO2002029426A1 (fr) * 2000-10-02 2002-04-11 Advantest Corporation Procede de mesure a balayage a conversion de frequence
US6709240B1 (en) * 2002-11-13 2004-03-23 Eaton Corporation Method and apparatus of detecting low flow/cavitation in a centrifugal pump
US7734464B2 (en) * 2005-05-20 2010-06-08 Tektronix, Inc. RF autocorrelation signal trigger generator
US8180586B2 (en) * 2009-02-11 2012-05-15 Tektronix, Inc. Amplitude discrimination using the frequency mask trigger

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060025947A1 (en) * 2004-07-29 2006-02-02 Earls Jeffrey D Spectrogram mask trigger
JP2006038866A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Tektronix Inc スペクトログラム・マスク・トリガ発生装置及び方法
US20100204939A1 (en) * 2009-02-11 2010-08-12 Tektronix, Inc. Time qualified frequency mask trigger
JP2010185874A (ja) * 2009-02-11 2010-08-26 Tektronix Inc 測定機器及びデータ取り込み方法
EP2228661A1 (en) * 2009-03-13 2010-09-15 Tektronix, Inc. Graphic actuation of test and measurement triggers
JP2010217180A (ja) * 2009-03-13 2010-09-30 Tektronix Inc トリガをかける方法及びrf試験測定装置
JP2011237413A (ja) * 2010-05-05 2011-11-24 Tektronix Inc 試験測定機器
EP2386867A2 (en) * 2010-05-13 2011-11-16 Tektronix, Inc. Signal recognition and triggering using computer vision techniques
JP2011242388A (ja) * 2010-05-13 2011-12-01 Tektronix Inc 試験測定機器

Also Published As

Publication number Publication date
EP2733495B1 (en) 2020-07-22
US20140142880A1 (en) 2014-05-22
TW201423113A (zh) 2014-06-16
US9846184B2 (en) 2017-12-19
TWI593973B (zh) 2017-08-01
CN103837725A (zh) 2014-06-04
KR20140064616A (ko) 2014-05-28
EP2733495A2 (en) 2014-05-21
CN103837725B (zh) 2018-09-07
JP6467608B2 (ja) 2019-02-13
EP2733495A3 (en) 2017-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6467608B2 (ja) マスク・トリガ処理方法、試験測定装置及び試験測定装置のためのプログラム
JP5294320B2 (ja) ノー・デッド・タイム・アクイジション・システム及びアクイジション方法
EP2690449B1 (en) Cross domain triggering in a test and measurement instrument
US11280809B2 (en) Method and apparatus for processing oscilloscope signal and oscilloscope
JP6815589B2 (ja) 試験測定装置及びトリガ方法
US9442136B2 (en) Real-time oscilloscope for generating a fast real-time eye diagram
JP2005512098A5 (ja)
US10557870B2 (en) Apparatus and method for time correlated signal acquisition and viewing
CN104239168B (zh) 卡顿检测方法和设备
US10261111B1 (en) Oscilloscope with digital search triggering
JP2009085942A (ja) 信号解析データを提供するシステム及び方法
JP6401898B2 (ja) 試験測定装置及び試験測定装置における方法
JP2014066707A (ja) トリガされた波形記録セグメントを表示する方法及びシステム
CN105092923B (zh) 动态遮罩测试
US10712367B2 (en) Method for analyzing a signal as well as measurement and analyzing device
JP2014041119A (ja) トリガ周波数表示方法及び試験測定機器
JP2019135485A (ja) 試験測定装置及びこれで使用する方法
CN102721869A (zh) 重新采样采集的数据以防止相干采样伪影
Herres et al. Sampling, Memory Depth, and Bandwidth
CN117194124A (zh) 信号测试方法、装置、计算机设备和存储介质
JP2014071118A (ja) 波形表示方法
Lecklider Trigger-happy scopes

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20161108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170920

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171003

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20171226

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180302

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180402

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180828

R155 Notification before disposition of declining of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155

A045 Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment]

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045

Effective date: 20181218

A045 Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment]

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6467608

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250