JP2014102253A - 組み合わせマスク・トリガ処理方法及び試験測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】1つ以上のマスク・トリガを設定しても良い。組み合わせマスク・トリガ処理ロジックは、デジタル化信号と1つ以上のマスク・トリガとの間の関係について、種々の判断を行える。上記関係に関するこれら種々の判断は、空間及び時間の両方を考慮することを含めても良い。組み合わせトリガ基準が満たされると、トリガ信号が生成され、入って来る信号に関連するデジタル・データがメモリに記憶される。組み合わせマスク・トリガ処理ロジックは、信号について、周波数領域、時間領域、又は両方において動作できる。
【選択図】図3B
Description
トリガ・マスクを設定する処理と、
被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点から上記トリガ・マスクと所定関係を持っているかどうかリアルタイムで判断する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を持っている場合にトリガ信号を生成する処理と、
上記トリガ信号に応じてメモリに上記デジタル・データを記憶する処理と
を具えている。
上記デジタル・データの表現を周波数領域におけるスペクトラム・トレースとして表示する処理と、
上記デジタル・データと関連する1つ以上の上記コンポーネントが、周波数領域における上記トリガ・マスクに対して所定関係を有しているか判断する処理と
を更に具えている。
上記デジタル・データの表現を時間領域におけるトレースとして表示する処理と、
上記デジタル・データと関連する1つ以上の上記コンポーネントが、時間領域における上記トリガ・マスクに対して所定関係を有しているか判断する処理と
を更に具えている。
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含んでいる。
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含んでいる。
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断する処理を更に具えている。
判断する処理が、上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含んでいる。
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
所定しきい値以下の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
所定しきい値以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数のトリガ・マスクの偏位運動を検出する処理を更に具え、
上記トリガ・マスクが、複数の上記トリガ・マスクに含まれることを特徴としている。
1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断する処理と、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断する処理と、
これら判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備する処理と、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具えている。
上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成する処理を更に具えている。
被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成するよう構成された入力部と、
上記入力部に結合され、上記デジタル・データをリアルタイムで処理してトリガ・イベントが発生するとトリガ信号を生成する組み合わせマスク・トリガ・ロジックと、
上記入力部に結合され、上記トリガ信号に応じて上記デジタル・データを記憶するメモリとを具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点からトリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されたマクス試験回路を有している。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、1つ以上の上記コンポーネントが上記所定関係を有していることに応じて、上記トリガ・イベントが発生すると上記トリガ信号を生成するよう構成されていることを特徴としている。
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成され、このとき、上記デジタル・データの上記表現を周波数領域で表示するよう構成される表示デバイスを更に具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが周波数領域において上記トリガ・マスクに対して上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成され、このとき、上記デジタル・データの上記表現を時間領域で表示するよう構成される表示デバイスを更に具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが時間領域において上記トリガ・マスクに対して上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以上の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されていることを特徴としている。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以下の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されていることを特徴としている。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されている。
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
所定しきい値以下の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
所定しきい値以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
上記トリガ・マスクを含む複数のトリガ・マスクが上記表示デバイス上に配置され、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数の上記トリガ・マスクの偏位運動を検出するよう構成されている。
このとき、1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断し、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断し、
上記複数の判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
このとき、1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断し、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備し、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成するよう構成されている。
115 メモリ
135 入力部
140 入力被試験電気信号
150 トリガ信号
155 プロセッサ
165 表示デバイス
170 組み合わせマスク・トリガ処理 logic
175 マスク試験回路
300 トレース
302 トリガ・マスク
301 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
400 第1トレース
401 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
402 第1トリガ・マスク
404 第2トリガ・マスク
406 期間
408 第2トレース
500 トレース
501 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
502 トリガ・マスク
600 トレース
601 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
602 トリガ・マスク
700 第1トレース
701 デジタル・データに関連する画素又はコンポーネント
702 第1トリガ・マスク
704 第2トリガ・マスク
705 第2トレース
708 第3トリガ・マスク
Claims (20)
- トリガ・マスクを設定する処理と、
被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点から上記トリガ・マスクと所定関係を持っているかどうかリアルタイムで判断する処理と、
上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を持っている場合にトリガ信号を生成する処理と、
上記トリガ信号に応じてメモリに上記デジタル・データを記憶する処理と
を具える試験測定装置における組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか検出する処理を含む請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
- 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含む請求項2記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断する処理を更に具える請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 判断する処理が、上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか検出する処理を含み、
生成する処理が、上記検出に応じて上記トリガ信号を生成する処理を含む請求項4記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、上記方法が、
所定しきい値以下又は以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具える請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数のトリガ・マスクの偏位運動を検出する処理を更に具え、
上記トリガ・マスクが、複数の上記トリガ・マスクに含まれることを特徴とする請求項1記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断する処理と、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断する処理と、
これら判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具える請求項7記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、上記方法が、
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備する処理と、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断する処理と、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成する処理と
を更に具える請求項7記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。 - 上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成する処理を更に具える請求項9記載の組み合わせマスク・トリガ処理方法。
- 被試験電気信号を受けてデジタル化し、デジタル・データを生成するよう構成された入力部と、
上記入力部に結合され、上記デジタル・データをリアルタイムで処理してトリガ・イベントが発生するとトリガ信号を生成する組み合わせマスク・トリガ・ロジックと、
上記入力部に結合され、上記トリガ信号に応じて上記デジタル・データを記憶するメモリとを具え、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、上記デジタル・データに関連する1つ以上のコンポーネントが、空間及び時間の観点からトリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されたマクス試験回路を有する試験測定装置。 - 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、上記トリガ・マスクと上記所定関係を有しているかどうか判断するよう構成されることを特徴とする請求項11の試験測定装置。
- 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントが、所定時間しきい値以上又は以下の期間において、上記トリガ・マスク内に残留しているかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項20の試験測定装置。 - 上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクトと呼ぶと共に1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックは、更に、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する第2コンポーネントが第2トリガ・マスクに対して所定関係を有しているかどうか判断するよう構成される請求項11の試験測定装置。 - 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
上記デジタル・データに関連する上記第1コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと上記所定関係を有すると判断された後の所定期間内において、上記デジタル・データと関連する上記第2コンポーネントが上記第2トリガ・マスク内に残留しているどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項14の試験測定装置。 - 上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
このとき、上記トリガ・マスクを第1トリガ・マスクと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に、
所定しきい値以下又は以上の期間内に、1つ以上の上記コンポーネントが上記第1トリガ・マスクと第2トリガ・マスクとの間を移動するかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項11の試験測定装置。 - 上記デジタル・データの表現を表示するよう構成された表示デバイスを更に具え、
上記トリガ・マスクを含む複数のトリガ・マスクが上記表示デバイス上に配置され、このとき、上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、上記デジタル・データに関連する1つ以上の上記コンポーネントによる複数の上記トリガ・マスクの偏位運動を検出するよう構成される請求項11の試験測定装置。 - 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上の内部に上記第1コンポーネントが存在するかどうか判断し、
複数の上記トリガ・マスクの1つ以上において第2コンポーネントが不存在かどうか判断し、
これら判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項17の試験測定装置。 - 1つ以上の上記コンポーネントを第1コンポーネントと呼び、
上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが更に
複数の上記トリガ・マスクの第1のものを上記第1コンポーネントが突破しているかどうか判断し、
上記判断に応じて複数の上記トリガ・マスクの第2のものと関連するトリガ基準の動作準備し、
上記トリガ基準に従って、複数の上記トリガ・マスクの上記第2のものを第2コンポーネントが突破したかどうか判断し、
上記判断に応じて上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項17の試験測定装置。 - 上記組み合わせマスク・トリガ・ロジックが、更に、
上記トリガ基準の動作準備の後の所定期間内おいて、上記第2コンポーネントの密度が所定密度しきい値以上の場合に上記トリガ信号を生成するよう構成される請求項19の試験測定装置。
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