TWI593973B - 用於測試及量測儀器上之遮罩觸發的方法，和測試及量測儀器 - Google Patents

Description

用於測試及量測儀器上之遮罩觸發的方法，和測試及量測儀器

本發明的實施例相關於遮罩觸發，且更明確地相關於在測試及量測儀器上的時或頻域中的組合遮罩觸發。

現代測試及量測儀器，諸如，高速數位示波器，包括捕捉屬於受測輸入電訊號之量測資料的擷取系統。可在測試及量測儀器上使用不同種類的準則以觸發資料擷取。例如，觸發可基於界定在顯示裝置之繪圖平面內的「遮罩區域」。觸發邏輯可偵測藉由畫在遮罩區域內之顯示器上的像素所代表之軌跡成份的偏移，且作為響應，導致遮罩故障及/或觸發事件發生。

在習知頻率遮罩觸發系統中，頻譜擷取處理係「自由運行的」，或換言之，只要系統備妥，即擷取及處理擷取資料以產生頻譜。然後將此頻譜柵格化為影像平面。當將個別頻譜軌跡或頻率成份柵格化時，彼等針對處理遮罩受測試。若軌跡未滿足遮罩準則(例如，通過遮罩 區域的偏移發生)，觸發產生，並擷取數位資料並儲存在記憶體中。

在習知時域觸發系統中，觸發可基於各種準則發生。例如，經擷取資料可對一或多個「視覺觸發區域」受測試，且若符合區域準則，則經擷取波形受更多處理。若不符合區域準則，將捨棄該波形。

在習知方法中缺少了關於特殊考量的時間元素。更具體地說，在訊號及訊號成份之間的關係可依空間及/或時間表示的同時，習知觸發方法缺少建立與該受測訊號之時間相關形態組合的空間形態有關之關聯及觸發準則的能力。

再者，在多個遮罩區域或視覺觸發區域為已知的同時，在時及頻域二者之擷取上仍有對多區域遮罩觸發及/或密度觸發的需求。因此，仍有對包含多觸發遮罩區域的組合遮罩觸發、及包含該等遮罩區域之間的邏輯、空間、及/或時間關係的觸發準則的需要，使得可支援更精密的觸發模式。本發明的實施例解決習知技術中的此等或其他限制。

105‧‧‧測試及量測儀器

115‧‧‧記憶體

120‧‧‧記憶體控制器

125、130、145‧‧‧線

135‧‧‧輸入部

140‧‧‧輸入訊號

150‧‧‧觸發訊號

155‧‧‧處理器

165‧‧‧顯示裝置

170‧‧‧組合邏輯

175‧‧‧遮罩測試電路

200、303、403、503、603、703、803‧‧‧流程圖

300、500、600‧‧‧軌跡

301‧‧‧表示

302、502、602、708‧‧‧觸發遮罩

400、700‧‧‧第一軌跡

401、601‧‧‧頻率成份

402、702‧‧‧第一觸發遮罩

404、704‧‧‧第二觸發遮罩

406‧‧‧時間週期

408、705‧‧‧第二軌跡

501‧‧‧像素或成份

701‧‧‧第一頻率成份

707‧‧‧第二頻率成份

圖1描繪根據本發明的實施例之包括組合遮罩觸發邏輯的範例測試及量測儀器。

圖2描繪顯示根據本發明的實施例之用於依據空間及時間的組合遮罩觸發之技術的流程圖。

圖3A-3B分別描繪根據本發明之實施例的軌跡及關聯流程圖。

圖4A-4C分別描繪根據本發明之另一實施例的第一軌跡、第二軌跡、及關聯流程圖。

圖5A-5B分別描繪根據本發明之另一實施例的軌跡及關聯流程圖。

圖6A-6B分別描繪根據本發明之另一實施例的軌跡及關聯流程圖。

圖7A-7D分別描繪根據本發明之另一實施例的第一軌跡、第二軌跡、關於頻域的關聯流程圖、及關於時域的關聯流程圖。

本發明觀念的前述及其他特性及優點將從參考該等隨附圖式繼續的範例實施例的以下詳細描述變得更顯而易見。

【發明內容】及【實施方式】

將提供對本發明之實施例的詳細參考，彼等的範例描繪在隨附圖式中。在以下的詳細描述中，陳述許多具體細節以致能對本發明觀念的徹底理解。然而，應理解熟悉本技術的人士可能實踐本發明的觀念而無需此等特定細節。在其他情況下，未詳細地描述已為人熟知的方法、程序、組件、電路、及網路，以不非必要地混淆實施例的實施樣態。

將理解雖然可能在本文中使用術語第一、第 二等以描述各種元件，此等元件不應受此等術語限制。此等術語僅用於在元件間進行區分。例如，可將第一觸發遮罩稱為第二觸發遮罩，且相似地，可將第二觸發遮罩稱為第一觸發遮罩而不脫離本發明觀念的範圍。

使用在本文之各種實施例之描述中的術語僅用於描述特定實施例的目的，且未企圖成為本發明觀念的限制。如在描述及隨附之申請專利範圍中所使用的，除非在本文中另外明確地指示，單數形「一」及「該」也企圖包括複數形。也將理解本文使用的術語「及/或」係指並包含一或多個關聯列示項目的任何及所有可能組合。更將理解當術語「包含」使用在此說明書中時，其指定所陳述特性、整體、步驟、操作、元件、及/或組件的存在，但未排除存在或額外的一或多個其他特性、整體、步驟、操作、元件、組件、及/或彼等的群組。該等圖式中的組件及特性不必然依比例繪製。

圖1描繪根據本發明的實施例之包括組合邏輯170的範例測試及量測儀器105。測試及量測儀器105可係示波器、邏輯分析儀、頻譜分析儀、混合域示波器、或網路分析儀等。通常，為了一致性及解釋，在本文中將測試及量測儀器105稱為示波器。

示波器105可包括接收受測輸入電訊號140的輸入部135。輸入部135可包括擷取電路、數化器、放大器、或轉換器等，並可經由線130連接至記憶體115。記憶體115可響應於觸發事件儲存與輸入訊號140相關的 一或多個擷取記錄。記憶體115可包括記憶體控制器120，其控制數位化資料至記憶體115的寫入及自其的讀取。記憶體115可係動態記憶體、靜態記憶體、唯讀記憶體、隨機存取記憶體、或任何其他合適種類的記憶體。記憶體115可儲存可顯示在顯示裝置165上的數位資料。

也可能經由線145將輸入部135耦接至組合邏輯170，使得組合邏輯170可接收輸入訊號140。組合邏輯170也可能經由線125從記憶體115接收數位化資料。術語「組合遮罩觸發邏輯」或「組合邏輯」係指用於處理輸入訊號並基於預界定準則組產生觸發訊號的類比電路、數位電路、硬體電路、韌體、及/或軟體，或彼等的任何合適組合。

組合遮罩觸發邏輯170可能即時處理在輸入接收的數位資料，並在觸發事件發生時產生觸發訊號150。組合遮罩觸發邏輯170可能包括遮罩測試電路175、並可能基於至少部分由遮罩測試電路175決定的準則觸發示波器105。遮罩測試電路175可即時決定與數位資料關聯並畫在顯示裝置165上的像素是否依空間及時間將預界定關係承載至觸發遮罩，如更將於下文描述的。再者，組合遮罩觸發邏輯170及遮罩測試電路175可處理輸入訊號並在頻域、時域、或二者中產生此種決定。於下文描述組合遮罩觸發邏輯170之功能的範例實施例及實施樣態。

可能將處理器155耦接至組合遮罩觸發邏輯 170並可能接收觸發訊號150。也可能將處理器155耦接至顯示器165。處理器155可能協調資料在輸入135、組合邏輯170、記憶體115、及顯示器165之間的處理，並可能導致觸發資訊、波形資訊、及/或其他量測資訊顯示在顯示器165上。

圖2描繪顯示根據本發明的實施例之用於依據空間及時間的組合遮罩觸發之技術的流程圖200。本技術可能在組態一或多個觸發遮罩的205開始。「觸發遮罩」係相關於(圖1之)顯示裝置165之繪圖平面界定的遮罩區域。(圖1之)組合遮罩觸發邏輯170可決定波形是否與觸發遮罩或遮罩區域相交，或另外決定是否將預界定關係承載至觸發遮罩或遮罩區域。雖然在本文中將觸發遮罩(等)的形狀主要表示為矩形，將理解觸發遮罩(等)可能係圓形、三角形、線形、或任何其他合適的形狀及尺寸。在本文描述的範例實施例中，該一或多個觸發遮罩可能藉由示波器的使用者手動地或視覺地組態，例如，使用任何合適的輸入機構，諸如，鍵盤、滑鼠、及觸控螢幕等。或者，該一或多個觸發遮罩可能藉由示波器自動地組態。示波器可能基於先前儲存的準則組態該一或多個觸發遮罩。此外，該一或多個觸發遮罩可使用外部電腦系統上的軟體產生，然後輸入至示波器中。

該流程前進至210，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資料。在220產生與數位資料關聯的像素或成份是否依空間及時間將預界定關係承載至一或多個觸發遮 罩的決定。若為真，則遮罩故障發生，且(圖1之)組合邏輯170在225產生觸發訊號，其觸發示波器，從而導致在步驟230將輸入訊號及關聯數位資料儲存在(圖1的)記憶體115中。

產生像素或成份是否承載預界定關係的決定可包括，例如，若將與數位資料關聯的像素或成份繪於顯示裝置的顯示器上，決定是否會違反一或多個觸發遮罩。若無遮罩違反發生，拋棄該數位資料並取得更多資料。

圖3A-3B分別描繪根據本發明之實施例的軌跡300及關聯流程圖303。當在頻域中分析輸入訊號時，頻譜軌跡300(及本文描述及說明的其他頻譜軌跡)的水平軸可依據頻率表示或量測，或當在時域中分析該輸入訊號時，可依時間表示或量測。垂直軸可依振幅或功率表示或量測。也將此等軸的此描述應用至下文討論的圖及軌跡上。

在流程圖303的305，可組態觸發遮罩302。在310，接收並數位化輸入訊號以製造數位資料。

在320產生關聯於數位資料的像素或成份(例如，301)是否在空間中將預界定關係承載至觸發遮罩302的決定。預界定關係可係，例如，進入、通過、及/或離開觸發遮罩302的偏移。該偏移可由，例如，主訊號、訊號中的干擾、或特定的其他偽造訊號所導致。在325產生預界定關係存在了與預界定時間臨界相同、更長、及/或更短之時間期間的決定。換言之，若偵測到像 素或成份導致偏移並在關聯觸發遮罩內駐留與預界定時間週期相同、比預界定臨界更長、比預界定臨界更短、或彼等的任何組合的時間期間，則遮罩故障發生且流程沿著是路徑前進。

可基於空間及時間因子將在320及325產生的決定產生為單一組合邏輯決定。若不符合任一條件，流程針對其他處理返回至310。否則，流程前進至330，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至335，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。

可將數位資料的表示301在顯示裝置165的顯示器上顯示為頻域中的頻譜軌跡或在顯示裝置165的顯示器上顯示為時域中的軌跡。將理解本文說明及描述的數位資料的表示301、及其他表示常顯示單一波形或線，此係以更簡單及直接的說明及解釋輔助，且任何數量的頻率成份、時域成份、波形、形狀、線、及軌跡等可呈現或另外繪於該顯示裝置上，並藉由組合遮罩觸發邏輯處理，且仍落在本文描述之發明技術的範圍內。

圖4A-4C分別描繪根據本發明之另一實施例的第一軌跡400、第二軌跡408、及關聯流程圖403。當在頻域內操作時，頻譜軌跡400及408代表在時間上移位或移動的頻率成份401。當在時域內操作時，軌跡400及408代表出現在不同時間的時域成份。本技術可能在組態第一觸發遮罩402、及第二觸發遮罩404的405開始。該流程前進至410，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資 料。

之後，可採取路徑A或B之任一者。路徑A指示操作係在頻域內實施，同時路徑B指示操作係在時域內實施。若採取路徑A，流程前進至產生頻譜軌跡中的一或多個頻率成份(例如，401)是否在第一觸發遮罩402及第二觸發遮罩404之間移動的決定的420。相反地，若採取路徑B，流程前進至產生有偏移藉由時域軌跡進入、通過、及/或離開第一觸發遮罩402及第二觸發遮罩404之決定的422。該等偏移不必同時發生，但更確切地說，可循序地發生。如上文提及的，偏移可由，例如，主訊號、訊號中的干擾、或其他偽造訊號所導致。

在任一情形中(路徑A或路徑B)，流程返回至可產生移動或偏移是否在等於、短於、及/或長於預界定時間臨界的時間週期406內發生的另一決定的425。換言之，若偵測到像素或成份導致相關於第一觸發遮罩的偏移或故障，則在之後的時間週期內，偵測該等像素或成份以導致相關於第二觸發遮罩的偏移或故障，其中該時間週期等於預界定時間臨界、長於該預界定臨界、短於該預界定臨界、或彼等的任何組合，則該流程沿著是路徑前進。

可基於空間及時間因子將在420、422、及/或425產生的決定產生為單一組合邏輯決定。若不符合任一條件，流程針對其他處理返回至410。否則，流程前進至430，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至 435，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。

在另一實施例中，流程跳過步驟425。換言之，若採取路徑A，若頻率成份存在於第一觸發遮罩402及第二觸發遮罩404內，可觸發示波器而與時間無關。若在此情景中採取路徑B，若時域軌跡的成份存在於第一觸發遮罩402及第二觸發遮罩404內，可觸發示波器而與時間無關。

當在頻域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表示401顯示為頻譜軌跡。當在時域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表非401顯示為時域軌跡。

圖5A-5B分別描繪根據本發明之另一實施例的軌跡500及關聯流程圖503。本技術可能在組態複數個觸發遮罩502的505開始。該流程前進至510，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資料。

之後，可採取路徑A或B之任一者。路徑A指示操作係在頻域內實施，同時路徑B指示操作係在時域內實施。若採取路徑A，流程前進至產生頻譜軌跡中的頻率成份(例如，501)是否存在於觸發遮罩502之一或多者內的決定的520。相反地，若採取路徑B，流程前進至產生有偏移藉由時域軌跡進入、通過、及/或離開觸發遮罩502之一或多者的決定的522。

此種決定可與像素或成份501是否存在於一或多個觸發遮罩502內且駐留等於、長於、及/或短於預 界定時間臨界之時間週期的決定(未圖示)組合。藉由另一範例，該決定可係像素或成份501是否存在於4個觸發遮罩502的2者內、或4個觸發遮罩502的3者內等。若條件(等)不符合，流程針對其他處理返回至510。否則，流程前進至530，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至535，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。

當在頻域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表示501顯示為頻譜軌跡。例如，頻譜軌跡可能顯示跳頻訊號的表示501。當在時域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表非501顯示為時域軌跡。

圖6A-6B分別描繪根據本發明之另一實施例的軌跡600及關聯流程圖603。本技術可能在組態複數個觸發遮罩602的605開始。該流程前進至610，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資料。

之後，可採取路徑A或B之任一者。路徑A指示操作係在頻域內實施，同時路徑B指示操作係在時域內實施。若採取路徑A，流程前進至產生頻譜軌跡中的頻率成份(例如，601)是否不存在於觸發遮罩602之一或多者內的決定的620。相反地，若採取路徑B，流程前進至產生藉由時域軌跡的偏移是否不存在於觸發遮罩502的一或多者中的決定的622。

此種決定可與像素或成份601是否在一或多 個觸發遮罩602內不存在等於、長於、及/或短於預界定時間臨界之時間週期的決定(未圖示)組合。藉由另一範例，該決定可係像素或成份601是否不存在於4個觸發遮罩602的2者內、或4個觸發遮罩602的3者內等。若條件(等)不符合，流程針對其他處理返回至610。否則，流程前進至630，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至635，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。

在此實施例中，也可將時間關係使用為觸發準則的一部分。例如，若沒有訊號的像素或成份(例如，601)在觸發遮罩的任何一或多者中存在等於、長於、或短於預界定時間臨界的時間週期，則可滿足觸發準則，且觸發訊號產生。

當在頻域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表示601顯示為頻譜軌跡。例如，頻譜軌跡可能顯示跳頻訊號的表示601。當在時域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表非601顯示為時域軌跡。

圖7A-7D分別描繪根據本發明之另一實施例的第一軌跡700、第二軌跡705、關於頻域的關聯流程圖703、及關於時域的關聯流程圖803。

參考圖7A、7B、及7C，假設軌跡700及705係在頻域內的頻譜軌跡。本技術可能在組態第一觸發遮罩702、及第二觸發遮罩704的705開始。該流程前進至 710，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資料。

在720產生頻譜軌跡中的第一頻率成份701是否存在於第一觸發遮罩702內的決定。若為否，流程針對其他資料擷取返回至710。否則，若為是，則可在722配備觸發，或換言之，(圖1之)組合遮罩觸發邏輯170可配備與第二觸發遮罩704關聯的觸發準則。一旦配備該觸發，在723，系統持續擷取並數位化資料以尋找第二觸發遮罩的故障。為偵測第二觸發遮罩故障，可在725產生頻譜軌跡中的第二頻率成份707的密度值是否符合或超過與第二觸發遮罩704關聯之預界定密度臨界的另一決定。若為是，則流程前進至730，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至735，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。否則，若為否，則流程前進至產生觸發邏輯是否已重設之另一決定的726。若觸發邏輯已重設，則流程針對其他處理返回至710。否則，若觸發邏輯尚未重設，則流程針對其他資料擷取返回至723。重設可來自使用者請求或來自數位資料內的重設指示器。

「密度值」可等於畫在藉由用於產生其的波形數分割之關聯觸發遮罩內的「命中」或「偏移」或「像素」數。如本文所使用的，遮罩故障可係「一次性」事件(亦即，當單一波形違返遮罩區域時發生)或「統計性」事件(亦即，當在特定時間週期，典型係一訊框，已有特定數量的遮罩故障時發生)。換句話說，將本文所使用的術語「遮罩故障」應用在一次性(遮罩)故障或統計性 (密度)故障上。

在部分實施例中，三個觸發遮罩(例如，702、704、及708)可由組合遮罩觸發邏輯所使用。例如，可產生偏移或故障是否相關於觸發遮罩702發生的決定，其可導致針對觸發遮罩704配置觸發準則。然後示波器可響應於觸發遮罩704的偏移或故障而受觸發，除非偏移先相關於觸發遮罩708發生。可將觸發遮罩相關於空間及時間的任何合適組合，及組合邏輯用於觸發該示波器。如上文提及的，偏移可由，例如，主訊號、訊號中的干擾、或其他偽造訊號所導致。

在另一實施例中，與觸發遮罩704關聯的觸發準則與密度無關，而是與頻率成份的存在或偏移相關，與上述範例相似。換言之，組合遮罩觸發邏輯可使用觸發遮罩702、704、及/或708(以及其他觸發遮罩)以基於像素或成份在觸發遮罩內的存在使用與上述此等時序關係相似的時序關係的額外選擇建立一系列事件，藉由其最終符合觸發準則並產生觸發訊號。

當在頻域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表示(例如，701)顯示為頻譜軌跡。

現在參考圖7A、7B、及7D，假設軌跡700及705係在時域內的頻譜軌跡。本技術可能在組態第一觸發遮罩702、及第二觸發遮罩704的805開始。該流程前進至810，接收並數位化該輸入訊號以製造數位資料。

在820產生時域軌跡中的第一成份701是否存在於第一觸發遮罩內的決定。若為否，流程針對其他資料擷取返回至810。否則，若為是，則可在822配備觸發，或換言之，(圖1之)組合遮罩觸發邏輯170可配備與第二觸發遮罩704關聯的觸發準則。一旦配備該觸發，在823，系統持續擷取並數位化資料以尋找第二觸發遮罩的故障。為偵測第二觸發資料，可在825產生時域軌跡中的第二成份707是否存在於第二觸發遮罩704內的另一決定。若為是，則流程前進至830，響應於獲滿足的觸發準則，製造觸發訊號，然後至835，將與輸入訊號關聯的數位資料儲存至記憶體。否則，若為否，則流程前進至產生觸發邏輯是否已重設之另一決定的826。若觸發邏輯已重設，則流程針對其他資料擷取返回至810。否則，若觸發邏輯尚未重設，則流程針對其他資料擷取返回至823。重設可來自使用者請求或來自數位資料內的重設指示器。

或者，三個觸發遮罩(例如，702、704、及708)可由時域中的組合遮罩觸發邏輯所使用。例如，可產生偏移是否相關於觸發遮罩702發生的決定，其可導致針對觸發遮罩704配置觸發準則。然後示波器可響應於觸發遮罩704的偏移而受觸發，除非偏移先相關於觸發遮罩708發生。可將觸發遮罩相關於空間及時間的任何合適組合，及組合邏輯用於觸發該示波器。

在另一實施例中，使用遮罩故障之間的時序關係以決定是否產生觸發訊號。當使用時序關係時’例 如，在決定與數位資料關聯的第一成份(例如，701)承載與第一觸發遮罩(例如，702)的預界定關係之後，組合遮罩觸發邏輯可決定與數位資料關聯的第二成份(例如，707)是否在預界定時間週期內將預界定關係(例如偏移及/或駐留其中)承載至第二觸發遮罩(例如，704)。

在另一實施例中，與觸發遮罩704關聯的觸發準則不僅基於成份的存在或駐留，而係其也可基於成份的密度，與上述範例相似。換言之，組合遮罩觸發邏輯可使用觸發遮罩702、704、及/或708(以及其他觸發遮罩)以基於像素或成份在觸發遮罩內的存在及/或密度使用與上述此等時序關係相似的時序關係的額外選擇建立一系列事件，藉由其最終符合觸發準則並產生觸發訊號。

當在時域中操作時，可在顯示裝置165的顯示器上將數位資料的表示(例如，701)顯示為時域軌跡。

如本文討論的，可用頻域、時域之任一者、或二者實作組合空間及時間元素的組合及循序準則。將理解流程圖中的決定及其他步驟不必以所述的特定次序發生，而係此等決定可在不同時間產生。也將理解描述在此等技術中的步驟不必然以所說明或描述的次序發生。

雖然以上討論已聚焦在特定實施例，也預期其他組態。例如，(圖1之)組合遮罩觸發邏輯170可決定每N秒是否至少一個觸發遮罩經歷故障(例如，偏移進 入、離開、或通過觸發遮罩)，且若為真，觸發示波器。例如，組合遮罩觸發邏輯170可決定每秒是否至少一個觸發遮罩經歷X次故障(例如，偏移進入、離開、或通過觸發遮罩)，且若為真，觸發示波器。

如上文解釋的，當干擾或其他成份在波形中存在特定時間週期時，或當其不存在特定時間週期時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。

在時域中，當軌跡中的干擾以特定速率發生時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。當(藉由一觸發遮罩區域界定之)一干擾在藉由另一觸發遮罩區域界定的干擾之後發生時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。

在頻域中，當偽造成份或其他頻率成份在觸發遮罩區域駐留或不存在太長或太迅速時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。當頻譜軌跡中的一或多個頻率成份在一觸發遮罩區域及另一者之間移動得太迅速或太緩慢時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。當特定頻譜成份存在於頻譜軌跡中，但其他不存在時，組合遮罩觸發邏輯170可導致示波器受觸發。組合遮罩觸發邏輯170可使觸發器配置有進入一觸發遮罩區域的頻率偏移，然後當密度在另一區域中超過時觸發。可將該觸發器限制在當密度偏移僅在該配置事件之後的特定時間區域內發生時的情形。

因為組合遮罩觸發邏輯170可能包括及使用 遮罩測試電路175，此種電路可捕捉可能從未為純軟體實作所看到的間歇事件。在本文之實施例不必包括硬體實作的同時，此種實作可增加藉由其實施本發明之功能的速度。

本文揭示的各種實施例可認知相關於該等觸發遮罩區域之一或多者的「命中」或「偏移」。可將命中或偏移連同彈性邏輯組合在多個區域中，以產生更複雜的遮罩故障準則。可建立遮罩故障之間的時序關係，及/或將彼等串接成一系列事件。可計數特定時間週期上的複雜遮罩故障數。當故障發生時，此等能力可用硬體實作(亦即，即時的)，或可用軟體實作。可使用硬體及軟體的混合，諸如，當觸發遮罩故障發生時，提供硬體「旗標」，其通知軟體處理該故障。

下以討論企圖提供可將本發明觀念的特定實施樣態實作於其中之合適機器(等)的簡短，通用描述。典型地，該機器(等)包括將處理器、記憶體，諸如，隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、或其他狀態保留媒體、儲存裝置、視訊介面、及輸入/輸出介面埠附接至其的系統匯流排。該機器(等)可藉由來自習知輸入裝置，諸如，鍵盤、滑鼠等，以及藉由接收自另一機器的指令、與虛擬實境(VR)環境互動、生物反饋、或其他輸入訊號受控制，至少部分受控制。如本文使用的，術語「機器」企圖廣泛地包含單一機器、虛擬機器、或共同操作之通訊地耦接的機器、虛擬機器、或裝置的系統。 範例機器包括計算裝置，諸如，個人電腦、工作站、伺服器、可攜式電腦、掌上型裝置、電話、平板電腦等，以及運輸裝置，諸如，私人或公眾運輸，例如，汽車、火車、計程車等。

機器(等)可包括嵌入式控制器，諸如，可程式化或不可程式化邏輯裝置或陣列、特定應用積體電路(ASIC)、嵌入式電腦、及智慧卡等。機器(等)可使用至一或多個遠端機器的一或多個連接，諸如，經由網路介面、數據機、或其他通訊耦接。機器可藉由實體及/或邏輯網路，諸如，內部網路、網際網路、區域網路、廣域網路等互連。熟悉本技術的人士將理解網路通訊可使用各種有線及/或無線短距或長距載波及協定，包括射頻(RF)、人造衛星、微波、國際電機電子工程師學會(IEEE)545.11、藍牙®、光學、紅外線、纜線、雷射等。

本發明觀念的實施例可藉由參考或結合關聯資料描述，包括函數、程序、資料結構、應用程式等，當由機器存取時，其導致該機器實施工作或界定抽象資料型別或低階硬體配置。可將關聯資料儲存在，例如，揮發性及/或非揮發性記憶體中，例如，RAM、ROM等，或在其他儲存裝置及彼等的關聯儲存媒體中，包括，硬碟、軟碟、光學儲存、磁帶、快閃記憶體、記憶體條、數位視訊光碟、生物儲存等。關聯資料可用封包、串列資料、並列資料、傳播訊號等的形式透過傳輸環境遞送，包括實體及 /或邏輯網路，並可用壓縮或加密形式使用。關聯資料可使用在分散式環境中，並針對機器存取區域地及/或遠端地儲存。本發明觀念的實施例可能包括非暫時機器可讀媒體，包含可由一或多個處理器執行的指令，該等指令包含指令以實施如本文描述之本發明觀念的元件。

可產生其他相似或不相似修改而不偏離本發明觀念的預期範圍。因此，本發明觀念並未受除了隨附之申請專利範圍以外的限制。

105‧‧‧測試及量測儀器

115‧‧‧記憶體

120‧‧‧記憶體控制器

125、130、145‧‧‧線

135‧‧‧輸入部

140‧‧‧輸入訊號

150‧‧‧觸發訊號

155‧‧‧處理器

165‧‧‧顯示裝置

170‧‧‧組合邏輯

175‧‧‧遮罩測試電路

Claims (19)

1. 一種用於測試及量測儀器上之遮罩觸發的方法，該方法包含：接收及數位化受測電訊號，使得製造數位資料；即時決定其該數位資料的第一成份係承載與第一觸發遮罩的第一預界定關係；在該等第一成份被決定為承載與該第一觸發遮罩的該預界定關係之後的預界定時間週期內，決定其該數位資料的第二成份係承載與第二觸發遮罩的第二預界定關係；響應於在該預界定時間週期內決定其該等第二成份承載與該第二觸發遮罩的該第二預界定關係，產生觸發訊號；且響應於該觸發訊號，將該數位資料儲存在記憶體中。
2. 如申請專利範圍第1項之方法，更包含：將該數位資料的表示顯示為該頻域、時域或兩者中的軌跡。
3. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係在一段長於或等於預界定時間臨界的時間週期。
4. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否在一段長於或等於預 界定時間臨界的時間週期位於該第一觸發遮罩內。
5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係在一段短於或等於預界定時間臨界的時間週期。
6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否在一段短於或等於預界定時間臨界的時間週期位於該第一觸發遮罩內。
7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：決定其該等第二成份承載與該第二觸發遮罩的該第二預界定關係是根據該等第二成份是否在該預界定時間週期內位於該第二觸發遮罩內。
8. 一種用於測試及量測儀器上之觸發的方法，該方法包含：接收及數位化受測電訊號，使得製造數位資料；決定其該數位資料之第一成份係違反複數個觸發遮罩的第一觸發遮罩；響應於該決定，裝備與該等複數個觸發遮罩之第二觸發遮罩關聯的觸發準則；依據該等觸發準則決定其該數位資料之第二成份係違反該等複數個觸發遮罩的該第二觸發遮罩；響應於決定其該等第二成份係違反該等複數個觸發遮 罩的該第二觸發遮罩以產生觸發訊號；及響應於該觸發訊號，將該數位資料儲存在記憶體中。
9. 如申請專利範圍第8項之方法，其中依據該等觸發準則決定其該等第二成份係違反該等複數個觸發遮罩的該第二觸發遮罩是根據在裝備該等觸發準則之後該等第二成份的密度在預界定時間週期內符合或超過預界定密度臨界。
10. 一種測試及量測儀器，包含：輸入，組態成接收及數位化受測電訊號以製造數位資料；記憶體，耦接至該輸入；遮罩觸發邏輯，耦接至該輸入和該記憶體，組態成：決定其該數位資料的第一成份係承載與第一觸發遮罩的第一預界定關係；在該等第一成份被決定為承載與該第一觸發遮罩的該預界定關係之後的預界定時間週期內，決定其該數位資料的第二成份係承載與第二觸發遮罩的第二預界定關係；響應於在該預界定時間週期內決定其該等第二成份承載與該第二觸發遮罩的該第二預界定關係，產生觸發訊號；且響應於該觸發訊號，將該數位資料儲存在該記憶體中。
11. 如申請專利範圍第10項的測試及量測儀器，更 包含組態成在該頻域或時域中顯示該數位資料之表示的顯示裝置。
12. 如申請專利範圍第10項的測試及量測儀器，其中決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否承載該第一預界定關係在一段長於或等於預界定時間臨界的時間週期。
13. 如申請專利範圍第12項的測試及量測儀器，其中決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是更根據該等第一成份是否在該段時間週期位於該觸發遮罩內。
14. 如申請專利範圍第10項的測試及量測儀器，其中決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否承載該第一預界定關係在一段短於或等於預界定時間臨界的時間週期。
15. 如申請專利範圍第14項的測試及量測儀器，其中決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是更根據該等第一成份是否在該段時間週期位於該觸發遮罩內。
16. 如申請專利範圍第10項的測試及量測儀器，其中 決定其該等第二成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第二成份是否在該預界定時間週期內位於該第二觸發遮罩內。
17. 如申請專利範圍第10項的測試及量測儀器，其中決定其該等第一成份承載與該第一觸發遮罩的該第一預界定關係是根據該等第一成份是否出現在該等複數個觸發遮罩內；且決定其該等第二成份承載與該第二觸發遮罩的該第二預界定關係是根據該第二成份是否不在該第二觸發遮罩。
18. 一種測試及量測儀器，包含：輸入，組態成接收及數位化受測電訊號以製造數位資料；顯示裝置，組態成顯示該數位資料之表示；複數個觸發遮罩，配置在該顯示裝置上；遮罩觸發邏輯，組態成：決定該數位資料之第一成份係違反該等複數個觸發遮罩的第一觸發遮罩；響應於該決定，裝備與該等複數個觸發遮罩之第二觸發遮罩關聯的觸發準則；依據該等觸發準則決定其該數位資料之第二成份係違反該等複數個觸發遮罩的該第二觸發遮罩；且響應於該決定產生觸發訊號；及記憶體，耦接至該輸入並組態成響應於該觸發訊號儲 存該數位資料。
19. 如申請專利範圍第18項的測試及量測儀器，其中依據該等觸發準則決定其該等第二成份違反該等複數個觸發遮罩的該第二觸發遮罩是根據在裝備該等觸發準則之後該等第二成份的密度在預界定時間週期內符合或超過預界定密度臨界。