JP2013063458A - 接合方法及び接合部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】重ね合わせた被接合材1,1の間にインサート材2を介在させた状態で、当該被接合材1,1を相対的に加圧しつつ加熱して、被接合材1,1とインサート材2の間で共晶反応を生じさせ、共晶反応溶融物を被接合材の酸化皮膜1aと共に接合面から排出して被接合材1,1を接合するに際して、上記酸化皮膜1aと共に共晶反応溶融物を含む排出物Dを排出するための凹部1cを接合面に設ける。
【選択図】図1
Description
また、酸素雰囲気で接合を行うことが必要となるため、特殊なチャンバーが必要となり、設備コストが増加する点にも問題があった。
そして、その目的とするところは、このような部材を含んだ接合を大気中で、しかもフラックスを用いることなく、低コストで強度に優れた接合が可能な接合方法を提供することにある。また、本発明のさらなる目的は、このような接合方法を適用した各種の接合部品を提供することにある。
次いで、このような凹部を備えた接合面の間に、被接合部材と共晶反応を生じる元素を含むインサート材を介在させる。
このとき、被接合材の接合面に凹部が形成されていることによって、接合面内に残存している酸化皮膜由来の酸化物や共晶反応溶融物を効果的に除去することができ、実際の接触面積、すなわち接合面積が増加し、より強固な接合が可能となる。また、半導体部品や、板厚が薄い部材(例えば、1mm以下)であっても、比較的低温度、低加圧で接合することができ、被接合材や周辺への影響を最小限に抑えることができる。
このとき、アルミニウム合金材1、1の一方、又は両方の表面には(図では、下側の接合面)、V字形断面をなす凹部1cが形成されている。そして、これらアルミニウム合金材1、1の表面にはAl2O3を主成分とする酸化皮膜1aが生成している。
また、上記凹部1cは、切削加工、研削加工、塑性加工、レーザ加工、放電加工、エッチング加工、リソグラフィーなどによって形成することができる。凹部1cの形成方法としては特に限定されるものではないが、非常に低コストで形成が可能である点では、塑性加工を採用することが望ましい。
この状態で、接合面の温度がインサート材2の融点に達すると、インサート材2の溶融物が亀裂Cに浸入し、合金材1、1中のAlとの間に共晶反応を起こし、共晶溶融相が発生する。そして、図1(d)に示すように、共晶溶融範囲が拡がり、破壊された酸化皮膜1aの欠片が共晶溶融相中に分散する。
これによって、両合金材1、1の新生面同士が互いに接合される。なお、接合条件によっては、インサート材に由来する混合物、この場合にはZnや、Zn−Al合金などを含む微量の混合物が接合界面に、局所的に残存することもあり得る。
また、凹部形成の手間やコストを考慮すると、接合面の一方にのみ凹部を形成するだけでもよいが、接合面の双方に形成することによって、溶融物の接合面からの排出機能をさらに向上させることができる。
さらには、図2(c)に示すように、溶融物の残留が最も多くなる接合面の中心部を通るように溝状の凹部1cが形成することによって、さらに排出性が向上する。
また、接合面内における上記凹部1cの容積としては、接合時に発生する共晶反応溶融物を接合面に残存させることなく排出させる観点から、溶融物の体積以上であることが望ましい。
なお、被接合材の双方がアルミニウムやマグネシウム系金属材料のように、強固な酸化皮膜を形成するものでない限り、異材間の接合にも適用することができる。
なお、Cuとの間に共晶反応を生じる金属としては、上記の他に、Ti(チタン)を挙げることができるが、Tiの融点はCuの融点よりも高いことから、上記同様に、Tiに予めCuを合金化したCuよりも低融点の合金をインサート材として使用することが必要となる。
なお、Si(ケイ素)もMgとの間に共晶反応を生じる元素であるが、Siの融点はMgの融点よりも高いため、上記同様に、予めMgを合金化したMgよりも低融点の合金をインサート材として使用することが必要となる。また、上記Alについても、Mgの融点に近いことから、同様にMgを合金化したインサート材を用いることが望ましい。
また、Cuの他に、Niとの間に共晶反応を生じる金属として、Ti,Nb(ニオブ),Cr(クロム)を挙げることができるが、これら金属の融点は何れもNiの融点よりも高いため、予めNiを合金化することによって、上記同様にNiよりも低融点化した合金をインサート材として使用する必要がある。
また、めっきやパウダーデポジション法によって、両材料の一方あるいは両方の接合面に予め被覆しておくことも可能であり、この場合には、被覆によって酸化皮膜の生成を防止できることから、特に異材接合に適用した場合に有効なものとなる。
また、接合温度については、高過ぎると、母材が溶け込むために液相が過剰に発生し、液相が過多になると接合界面に残存し、強度が得られなくなる傾向がある。具体的には、インサート材の融点以上、融点+100℃までの温度範囲が好ましい。
また、被接合材(上記した例ではアルミニウム合金材)の接合面の近傍に、インサート材に由来する成分(上記した例ではZn)の拡散現象が認められる。
すなわち、図5(a)に示す半導体部品は、ヒートシンク11上に固定された絶縁基板12を備え、当該基板12の表面上に配置された配線金属13にシリコンチップ14が接合された構造を備えている。
これら配線金属13とシリコンチップ14の接合に際しては、これらの間に、厚さ25μmのAl−Sn−Zn合金の急冷箔帯をインサート材として配置し、治具を用いて、常時15MPa程度の加圧力が掛かるように固定される。
この方法によれば、低温度、短時間で接合が完了することから、半導体チップへの熱影響を最小限のものとすることができ、部品の歪みや性能劣化を防止することができる。また、複数のチップを同時に接合することができる。なお、半導体チップとしては、上記したシリコンチップ以外にも、種々のもの、例えばSiCやGaNなどを用いることができる。
このとき、上記凹部13cの容積を上記排出物Dの体積に対して十分に大きなもの、具体的には排出物Dの体積以上とし、凹部13cへの排出を積極的に促進させることによって、図5(c)に示すように、接合面外部への排出物Dの量を低減することができ、半導体チップ上下面の短絡を防止することができる。
図において、燃料電池用セパレータは、アルミニウム合金板材(例えば、5000系、6000系)をプレス成形して成る2枚の波板材21、22を図示するように重ね、当接部分を本発明方法により接合することによって、燃料ガス又は酸化性ガスの通路23を形成した構造を有するものである。このとき、波板材22の接合面には、塑性加工にて、深さ220μm、幅250μm、長さ250mmのV字状断面をなす溝状凹部を1.6mm間隔に形成した。
そして、例えば、同様に450℃に昇温、保持することによって、両板材21、22が接合され、アルミニウム合金製の燃料電池用セパレータが完成することになる。
また、この方法によれば、多数のセパレータを大型炉内に収納し、多くの接合箇所を同時に接合することもでき、TIG溶接やレーザ溶接による製造に較べて高能率な製造が可能となる。
図に示すエンジンヘッドブロックは、ダイカスト用アルミニウム合金、例えばAl−Si−Cu−Mg系合金(AC4D)から4つに分割鋳造されたピース31、32、33、34から構成されている。各分割ピースの接合面には、塑性加工にて、深さ220μm、幅250μmのV字状断面をなす溝状凹部が接合面全面に亘って貫通するように、1.6mm間隔に形成されている。
そして、所定の治具によって互いに加圧状態に固定されたのち、高周波誘導加熱炉中において、AlとZnの共晶反応が生じる382〜482℃程度の温度範囲、例えば450℃に昇温、保持することによって、各分割ピースがそれぞれ接合され、エンジンヘッドブロックが完成する。
図8(a)に示すように、アルミニウム合金A6061(Al−Mg−Si系)から成る長さ15mm、径5mmの丸棒3と長さ25mm、径10mmの丸棒4を用意した。
このとき、図中下側に位置する径10mmの丸棒4の接合端面には、切削加工によって、図8(b)に示すように、接合面の全面に亘って貫通する深さ220μm、幅250μのV字状断面の溝状凹部4cを2本、1600μmの間隔を隔てて形成した。一方、比較のために、このような凹部を形成しないものも用意し、接合試験に供した。
図8(c)に示すように、丸棒3、4の接合端面間に、上記のインサート材5を配置し、大気中においてアンヴィルA、Aにより加圧した状態で、接合部の周囲に配置した高周波加熱コイルSによって400〜500℃に加熱し、目的の接合温度に到達後1分間保持して接合を行った。このときの昇温速度は10℃/秒とした。また、接合温度は、丸棒4の接合端面近傍の側面に溶接したR式熱電対Tによって測定した。なお、アンヴィルA、Aによる加圧力は25MPaとし、加圧は常温から開始し、接合終了後に除荷することとした。
また、上記したように、別途用意した凹部を形成しない丸棒についても、同様の要領によって接合し、比較例とした。
接合された試験片の断面状態の観察を行った結果、酸化皮膜を含む共晶反応溶融物を排出するために、接合面に凹部4cを形成することによって、このような凹部がない比較例に対して、接合面中央に残留する溶融物の量が大幅に少なくなることが確認された。
そして、得られた試験片の接合強度を万能試験器による引張試験によって評価した。このときの試験速度は1mm/分とした。この結果を図9に示す。
図9に示すように、凹部4cを形成することによって、凹部のない比較例に対して約2倍となる接合強度向上効果が確認できた。
1a 酸化皮膜
1c、4c、13c 凹部
2、5、35、36,37 インサート材
Claims (12)
- 間にインサート材を介在させた状態に重ね合わせた被接合材を相対的に加圧しつつ加熱して、被接合材とインサート材の間で共晶反応を生じさせ、当該共晶反応溶融物を被接合材の酸化皮膜と共に接合面から排出して上記被接合材を接合するに際して、
上記酸化皮膜を含む共晶反応溶融物を排出するための凹部を接合面に設けることを特徴とする接合方法。 - 上記インサート材が箔状の材料であることを特徴とする請求項1に記載の接合方法。
- 上記凹部が被接合材の接合面の一方に形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の接合方法。
- 上記凹部が被接合材の接合面の両方に形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の接合方法。
- 上記凹部が複数個設けてあることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 上記凹部の接合面内の容積が接合時に発生する共晶反応溶融物の体積以上であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 上記凹部が溝状をなし、接合面内から接合面の外側にまで延出していることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 上記凹部が溝状をなし、接合面の中央部を通過していることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 上記凹部が溝状をなし、接合時に発生する共晶反応溶融物の排出方向に略平行に形成されていることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 上記凹部が塑性加工によって形成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1つの項に記載の接合方法。
- 請求項1〜10のいずれか1つの項に記載の方法による接合部品であって、被接合材の新生面が接合され、接合面に形成された凹部内に酸化皮膜を含む共晶反応溶融物が流入して固化していることを特徴とする接合部品。
- 上記インサート材に由来する成分が被接合材の接合面近傍に拡散していることを特徴とする請求項11に記載の接合部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011204588A JP5892306B2 (ja) | 2011-09-20 | 2011-09-20 | 接合方法及び接合部品 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2013063458A true JP2013063458A (ja) | 2013-04-11 |
JP5892306B2 JP5892306B2 (ja) | 2016-03-23 |
Family
ID=48187470
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Country Status (1)
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JP (1) | JP5892306B2 (ja) |
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