JP2013020029A - 検査用電極付きウエハ及びその電極の屈折率測定方法 - Google Patents
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Abstract
進行波型光変調器の製造工程において、電極の屈折率を簡便且つ正確に測定することが可能であり、検査に必要な検査用電極もより小さな電極パターンとすることが可能な検査用電極付きウエハ及びその電極の屈折率測定方法を提供すること。
【解決手段】
電気光学効果を有するウエハ1に、複数の光導波路2と、該光導波路に沿って信号電極及び接地電極が配置されてなる、該電極間に電気信号を進行させて該光導波路を伝搬する光を制御するための複数の進行波型制御電極と、該ウエハの一部に形成された検査用電極(3,31)とを有する検査用電極付きウエハにおいて、該検査用電極は、該信号電極と同一延伸方向に延びる共振型電極(3,31)を備えることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、図1に示すように、電気光学効果を有するウエハ1に、複数の光導波路2と、該光導波路に沿って信号電極及び接地電極が配置されてなる、該電極間に電気信号を進行させて該光導波路を伝搬する光を制御するための複数の進行波型制御電極(不図示)と、該ウエハの一部に形成された検査用電極(3,31)とを有する検査用電極付きウエハにおいて、該検査用電極は、該信号電極と同一延伸方向に延びる共振型電極を備え、より好ましくは、該信号電極と同一断面形状を備えた共振型電極(3,31)を備えることを特徴とする。
L=Λm×n/2 ・・・(式1)
L=Λm×1/2・n ・・・(式2)
vm=fm×Λm ・・・(式3)
の関係がある。
vm=c0/nm ・・・(式4)
L=c0/nm/fm×n/2 ・・・(式5)
2 光導波路
3,31 検査用共振電極
4 直線状共振電極部
5 給電部
6 接地電極
7 リング状共振電極部
10 チップ(光変調器)
20 ダミー導波路
L 共振電極長
Claims (5)
- 電気光学効果を有するウエハに、
複数の光導波路と、
該光導波路に沿って信号電極及び接地電極が配置されてなる、該電極間に電気信号を進行させて該光導波路を伝搬する光を制御するための複数の進行波型制御電極と、
該ウエハの一部に形成された検査用電極とを有する検査用電極付きウエハにおいて、
該検査用電極は、該信号電極と同一延伸方向に延びる共振型電極を備えることを特徴とする検査用電極付きウエハ。 - 請求項1に記載の検査用電極付きウエハにおいて、
該共振型電極は、該信号電極と同一断面形状を備えることを特徴とする検査用電極付きウエハ。 - 請求項2に記載の検査用電極付きウエハにおいて、
該信号電極は複数の異なる断面形状を有し、
該断面形状の種類毎に該検査用電極が設けられていることを特徴とする検査用電極付きウエハ。 - 請求項1乃至3のいずれかに記載の検査用電極付きウエハにおいて、
該信号電極と該光導波路との配置関係と同様に、該共振型電極の近傍にダミーの光導波路が形成されていることを特徴とする検査用電極付きウエハ。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載の検査用電極付きウエハの電極の屈折率測定方法において、
該共振型電極に電気信号を入力して共振周波数を測定し、該共振型電極の長さと前記共振周波数に基づいて、該共振型電極における、該電気信号に対する屈折率を求めることを特徴とする検査用電極付きウエハの電極の屈折率測定方法。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04152320A (ja) * | 1990-10-16 | 1992-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | LiNbO↓3光変調器 |
JPH04305616A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-10-28 | Mitsubishi Electric Corp | 共振電極形光変調器 |
JPH08194196A (ja) * | 1995-01-13 | 1996-07-30 | Fujitsu Ltd | 光導波路デバイスの製造方法 |
JP2001066561A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Ngk Insulators Ltd | 進行波形光変調器 |
JP2007232678A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-13 | Advantest Corp | プリント基板の誘電体の比誘電率測定装置およびその測定方法 |
JP2010256541A (ja) * | 2009-04-23 | 2010-11-11 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 検査用電極付きウエハ及び屈折率測定方法 |
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- 2011-07-11 JP JP2011152438A patent/JP5729183B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04152320A (ja) * | 1990-10-16 | 1992-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | LiNbO↓3光変調器 |
JPH04305616A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-10-28 | Mitsubishi Electric Corp | 共振電極形光変調器 |
JPH08194196A (ja) * | 1995-01-13 | 1996-07-30 | Fujitsu Ltd | 光導波路デバイスの製造方法 |
JP2001066561A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Ngk Insulators Ltd | 進行波形光変調器 |
JP2007232678A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-13 | Advantest Corp | プリント基板の誘電体の比誘電率測定装置およびその測定方法 |
JP2010256541A (ja) * | 2009-04-23 | 2010-11-11 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 検査用電極付きウエハ及び屈折率測定方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021157064A (ja) * | 2020-03-27 | 2021-10-07 | Tdk株式会社 | 光変調器の製造方法及びこれに用いるフォトマスク |
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