JP2013004771A - タイバー除去方法 - Google Patents
タイバー除去方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013004771A JP2013004771A JP2011134983A JP2011134983A JP2013004771A JP 2013004771 A JP2013004771 A JP 2013004771A JP 2011134983 A JP2011134983 A JP 2011134983A JP 2011134983 A JP2011134983 A JP 2011134983A JP 2013004771 A JP2013004771 A JP 2013004771A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tie bar
- outer lead
- lead portion
- removing method
- cut
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【課題】タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じないタイバー除去方法の提供。
【解決手段】リードフレームの各アウターリード部を連結するタイバーを除去するタイバー除去方法であって、前記リードフレームのアイランド上にマウントされた半導体チップと、前記リードフレームの各インナーリード部とを封止材料でパッケージングした後、前記アウターリード部を前記タイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に前記タイバーを除去することを特徴とする。
【選択図】図3
【解決手段】リードフレームの各アウターリード部を連結するタイバーを除去するタイバー除去方法であって、前記リードフレームのアイランド上にマウントされた半導体チップと、前記リードフレームの各インナーリード部とを封止材料でパッケージングした後、前記アウターリード部を前記タイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に前記タイバーを除去することを特徴とする。
【選択図】図3
Description
本発明はタイバー除去方法に関し、より詳しくは、タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じないタイバー除去方法に関する。
半導体装置の製造方法は、一般的に、リードフレーム上に半導体チップを搭載する工程、半導体チップを樹脂封止してパッケージを作製する工程、およびアウターリード部を連結するタイバーを切断除去する工程を有する。
図6は、従来のタイバー除去方法を示す図であり、半導体装置の中間製品を示す平面図である。リードフレーム105は、アイランド、インナーリード部、アウターリード部103、タイバー100、およびサイドフレーム102を一体的に有している。なお、図6においては、説明の便宜上、アウターリード部103がグレーに塗りつぶされ、タイバー100が黒く塗りつぶされているが、これらは同一の材料(例えば銅合金)によって一体的に成形されたものである。また、半導体チップを搭載するアイランド、およびインナーリード部は、樹脂パッケージ106に封止されているので、図示していない。
図6に示されるように、従来は、リードフレーム105からタイバー100を除去する際、破線で示す平面視形状のパンチ101でタイバー100の両端部を残すようにタイバー100を切断除去していた。図7は、図6に示すタイバー除去方法によってタイバー100が除去され、さらにサイドフレーム102が除去された状態を示す図であり、半導体装置の完成品を示す図である。図7に示されるように、タイバー100の切断除去により、タイバー100の端部100aが残存する。換言すれば、タイバーカット跡(タイバー100の端部100a)がアウターリード部103の端縁からはみ出して残る。
タイバー100の端部100aが残存することにより、以下の課題が存在していた。すなわち、タイバー100の端部100aが残存すると、半導体装置104の使用中に、向かい合う端部100aの間で放電が起こりやすくなり、隣り合うアウターリード部103の間の絶縁性が低下するという課題があった。隣り合うアウターリード部103の間で放電が起きた場合、半導体装置104が誤動作する可能性がある。
なお、残存したタイバーの端部100a,100a間の距離を増大させるために、アウターリード部103全体を細くすることが考えられるが、この場合、プリント基板への実装状態においてアウターリード部103とプリント基板の接合部分が小さくなり、応力に対する強度低下を招く可能性がある。
また、タイバーを残さないようにタイバーとアウターリード部の境界線でリードフレームを切断することも考えられるが、この場合、金属バリが発生しやすく、隣り合うアウターリード部間で放電が生じやすくなってしまう可能性があった。
特許文献1においても、タイバーの両端部が残存するようにタイバーを切断する形態が開示されている。特許文献1の半導体装置においても、上記と同様の課題が存在する。
本発明は、このような実情に鑑みてなされたもので、タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じない、タイバー除去方法の提供を目的とする。
第1の発明は、
リードフレームの各アウターリード部を連結するタイバーを除去するタイバー除去方法であって、
上記リードフレームのアイランド上にマウントされた半導体チップと、上記リードフレームの各インナーリード部とを封止材料でパッケージングした後、上記アウターリード部を上記タイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に上記タイバーを除去することを特徴とする、タイバー除去方法である。
リードフレームの各アウターリード部を連結するタイバーを除去するタイバー除去方法であって、
上記リードフレームのアイランド上にマウントされた半導体チップと、上記リードフレームの各インナーリード部とを封止材料でパッケージングした後、上記アウターリード部を上記タイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に上記タイバーを除去することを特徴とする、タイバー除去方法である。
第1の発明によれば、アウターリード部をタイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に上記タイバーを除去するので、タイバー除去後にアウターリード部間にタイバーカット跡(タイバーの残存部)が残らない。よって、タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じない。
第2の発明は、第1の発明において、
上記アウターリード部を、カーブ形状に切り欠くことを特徴とする。
上記アウターリード部を、カーブ形状に切り欠くことを特徴とする。
第2の発明によれば、アウターリード部がカーブ形状に切り欠かれるので、矩形状に切り欠かれる場合に比べて応力集中が生じにくくなり、アウターリード部の耐久性が向上する。
本発明によれば、タイバーの除去後に、隣り合うアウターリード部間の絶縁性が低下しないタイバー除去方法を提供することができる。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係るタイバー除去方法を示す図であり、タイバーを除去する前の状態を示す平面図である。
図1は、第1実施形態に係るタイバー除去方法を示す図であり、タイバーを除去する前の状態を示す平面図である。
図1に示されるように、タイバー1を除去する前の半導体装置の中間製品2は、パッケージ3と、アウターリード部4と、タイバー5と、サイドフレーム6とを備えている。タイバー1を除去する前の半導体装置の中間製品2としては、従来公知のものを使用することができる。
パッケージ3は、リードフレーム7のアイランド上に搭載された半導体チップ(例えばICチップ)をインナーリード部とともに樹脂封止してなるものである。アイランド、インナーリード部、半導体チップの図示は省略する。リードフレーム7は、アイランド、インナーリード部、アウターリード部4、タイバー5、およびサイドフレーム6を一体的に有している。なお、図1においては、説明の便宜上、アウターリード部4がグレーに塗りつぶされ、タイバー5が黒く塗りつぶされているが、これらは同一の材料(例えば銅合金)によって一体的に成形されたものである。
タイバー5は、隣り合うアウターリード部4を連結するものであり、アウターリード部4と一体に構成されている。
次に、本実施形態に係るタイバー除去方法について、図1〜4を参照しつつ説明する。図2は、図1におけるタイバーを除去した後の状態を示す平面図である。図3は、図2におけるサイドフレームを除去した後にアウターリード部を整形した状態(半導体装置の完成品)を示す平面図である。図4は、図3に示される半導体装置の側面図である。
本実施形態に係るタイバー除去方法は、リードフレーム7の隣り合うアウターリード部4を連結するタイバー5を除去する方法である。
本実施形態では、まず、図1に示されるように、リードフレーム7のアイランド上にマウントされた半導体チップと、リードフレーム7の各インナーリード部とが合成樹脂等の封止材料でパッケージングされる(ステップS1)。
次いで、図1において破線で示される大きさのパンチ8により、アウターリード部4の一部とタイバー5が打ち抜かれ、リードフレーム7は図2に示される状態となる(ステップ2)。具体的には、パンチ8の打ち抜き動作により、アウターリード部4がタイバー5との境界線より内側において切り欠かれ、当該アウターリード部4の切り取られた部分と共にタイバー5が除去される(図2参照)。アウターリード部4の切り欠き形状は、特に限定されるものではないが、例えば、図1に例示されるように、矩形状とすることができる。
次いで、サイドフレーム6が公知の切断方法で除去される(ステップ3)。
次いで、図3,4に示されるように、各アウターリード部4の自由端側が従来公知の方法により折り曲げ成形される(ステップS4)。この折り曲げ成形により、アウターリード部4は、プリント基板(図示せず)への実装に適した形となる。
以上が、本実施形態に係るタイバー除去方法を含む半導体装置の製造方法である。
以上が、本実施形態に係るタイバー除去方法を含む半導体装置の製造方法である。
本実施形態によれば、アウターリード部4をタイバー5との境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部4の切り取られた部分と共にタイバー5を除去するので、タイバー除去後に隣り合うアウターリード部4,4間にタイバーカット跡(タイバー5の残存部)が残らない。よって、タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じない。また、アウターリード部4を切り欠くことで、アウターリード部4にくびれ部9が形成される。くびれ部9が形成されることで、半導体装置の使用時にアウターリード部4付近に熱ひずみが生じた場合に、アウターリード部4が適度に変形する。これにより、パッケージ3に無理な力が加わってパッケージ3が破損するのを防止することができるとともに、アウターリード部4とプリント基板の接続部の破損を防止することができる。また、本実施形態によって作製された半導体装置1は、プリント基板への実装状態においてアウターリード部4とプリント基板の接合部分が小さくならないので、応力に対する強度低下を招かず、実装信頼性を確保することができる。
なお、上記実施形態では、アウターリード部4を矩形状に切り欠いているが、切り欠く形状はこれに限定されない。他の実施形態(第2実施形態)では、例えば、図5に示されるように、アウターリード部4をカーブ形状に切り欠いてもよい。アウターリード部4をカーブ形状に切り欠いた場合は、矩形状に切り欠いた場合に比べてくびれ部90に満遍なく応力が加わって応力集中が生じにくくなり、アウターリード部4の耐久性が向上する。
本発明は、タイバーカット跡が残ることに起因した、隣り合うアウターリード部間の絶縁性低下が生じないタイバー除去方法等に利用可能である。
1 半導体装置の完成品
2 タイバーを除去する前の半導体装置の中間製品
3 パッケージ
4 アウターリード部
5 タイバー
6 サイドフレーム
7 リードフレーム
8 パンチ
9、90 くびれ部
2 タイバーを除去する前の半導体装置の中間製品
3 パッケージ
4 アウターリード部
5 タイバー
6 サイドフレーム
7 リードフレーム
8 パンチ
9、90 くびれ部
Claims (2)
- リードフレームの各アウターリード部を連結するタイバーを除去するタイバー除去方法であって、
前記リードフレームのアイランド上にマウントされた半導体チップと、前記リードフレームの各インナーリード部とを封止材料でパッケージングした後、前記アウターリード部を前記タイバーとの境界線より内側において切り欠き、当該アウターリード部の切り取られた部分と共に前記タイバーを除去することを特徴とする、タイバー除去方法。 - 前記アウターリード部を、カーブ形状に切り欠くことを特徴とする、請求項1に記載のタイバー除去方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011134983A JP2013004771A (ja) | 2011-06-17 | 2011-06-17 | タイバー除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011134983A JP2013004771A (ja) | 2011-06-17 | 2011-06-17 | タイバー除去方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013004771A true JP2013004771A (ja) | 2013-01-07 |
Family
ID=47673007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011134983A Withdrawn JP2013004771A (ja) | 2011-06-17 | 2011-06-17 | タイバー除去方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013004771A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20200303295A1 (en) * | 2019-03-22 | 2020-09-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Power semiconductor device and manufacturing method thereof |
-
2011
- 2011-06-17 JP JP2011134983A patent/JP2013004771A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20200303295A1 (en) * | 2019-03-22 | 2020-09-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Power semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2020155706A (ja) * | 2019-03-22 | 2020-09-24 | 三菱電機株式会社 | 電力半導体装置及びその製造方法 |
CN111725151A (zh) * | 2019-03-22 | 2020-09-29 | 三菱电机株式会社 | 功率半导体装置及其制造方法 |
JP7215271B2 (ja) | 2019-03-22 | 2023-01-31 | 三菱電機株式会社 | 電力半導体装置及びその製造方法 |
US11735509B2 (en) | 2019-03-22 | 2023-08-22 | Mitsubishi Electric Corporation | Power semiconductor device and manufacturing method thereof |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102330403B1 (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
JP2010192847A (ja) | リードフレーム及びこれを用いた半導体パッケージの製造方法 | |
JP5248232B2 (ja) | リードフレーム及びその製造方法 | |
US9054092B2 (en) | Method and apparatus for stopping resin bleed and mold flash on integrated circuit lead finishes | |
JP2013004771A (ja) | タイバー除去方法 | |
JP5755186B2 (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | |
JP5264677B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
US20230335480A1 (en) | Power semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP3666594B2 (ja) | パッケージ型電子部品におけるリード端子の切断方法 | |
CN102420149B (zh) | 树脂密封型半导体装置的制造方法、树脂密封型半导体装置及该半导体装置用的引线框架 | |
JP4800141B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP4454357B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
US20150144389A1 (en) | Method of minimizing mold flash during dambar cut | |
CN202423265U (zh) | 引线框架以及用于分立封装的引线框架 | |
JP5857883B2 (ja) | モールドパッケージの製造方法 | |
EP2549531A1 (en) | Lead frame for semiconductor device | |
US8736038B2 (en) | Lead frame having increased stability due to reinforced die pads and packaging method using such lead frame | |
JP4999492B2 (ja) | 半導体装置用リードフレームの製造方法およびそれを用いた半導体装置 | |
JP2008300717A (ja) | モールドパッケージ | |
JPH11317484A (ja) | リードフレーム及びそれを用いたパッケージ方法 | |
JP2013084838A (ja) | 半導体装置 | |
JP2004152957A (ja) | パッケージ型半導体装置の製造方法及びその製造に使用するリードフレーム | |
JP2014207261A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2007294637A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2011119473A (ja) | 表面実装型半導体パッケージの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20140902 |