JP2013003039A - 静電気量計測装置、静電気量計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の静電気量計測装置1は、計測対象物10に与えられた振動によって生じる仮想電磁波を受信する受信部2と、受信部2が受信した仮想電磁波の強度、周波数および位相の少なくとも一つを測定する測定部3と、測定部3の測定結果に基づいて、計測対象物10の静電気量を算出する算出部4と、を備える。
【選択図】図1
Description
ファラデーケージは、計測対象物を、電荷を測定できるケージの中に収容して、計測対象物をコンデンサと見立ててその電荷量を測定することで、計測対象物の帯電量を測定する。
表面電位計は、計測対象物の表面にプローブを近接させて計測対象物の電界量を測定して、静電気量を計測する。例えば、非特許文献1は、表面電位計による静電気量の計測の技術を開示している。
ポッケルス効果は、誘電体の等方性結晶において外部から電界をかけると、その電界に比例して光の屈折率が変わる現象である。これを利用して、計測対象物の表面に所定の媒体(ポッケルス結晶体)を設置し、この媒体に光を照射したときの反射光や透過光の屈折率を検出することで、静電気を計測する。例えば、非特許文献2は、このポッケルス効果を用いた静電気測定技術を開示している。
カー効果は、物質に外部から電界をかけると、その電界に2乗に比例して光の屈折率が変化する現象であり、この電気光学特性を計測することで、静電気を測定することができる。例えば、非特許文献3では、ガスのカー効果を用いた静電気測定技術を開示している。
走査型プローブ顕微鏡は、計測対象物に対してプローブを走査させながら静電気量を計測する。例えば、特許文献1では、静電気力顕微鏡用のカンチレバーを備えた静電気力検出技術を開示している。
非特許文献4,5のそれぞれは、固体内の帯電分布を計測する技術を開示している。しかしながら、これらの技術は計測対象物に電極を当接させる必要があるため、製造現場での適用が困難であり、同じような問題を有している。
まず、実施の形態1に対する参考例として、表面電位計による静電気量計測の問題点を説明する。表面電位計は、計測対象物にプローブを近接させ静電気量を計測し、現在の様々な場面において、静電気量の計測にもっとも多く用いられている。
図1は、本発明の参考例としての表面電位計での静電気量計測を示す説明図である。表面電位計は、プローブを計測対象物に近接させ、静電誘導により、帯電物からの静電界強度を検出電極に受けることで静電気量を計測する。このとき、計測対象物とプローブの距離によって静電気量を計測できる領域の面積(計測面積)が定まる。表面電位計は、この計測面積で得られた平均値を、静電気量として算出する。
図2は、本発明の参考例としての表面電位計での静電気量計測を示す説明図である。図2より明らかな通り、プローブと計測対象物との距離によって、算出される静電気量は変動してしまう。工場などの製造現場においては、計測対象物とプローブとの距離を一定に保つことは困難である。工場のラインや設備の形状は、様々であるからである。
図3は、本発明の参考例としての表面電位計での静電気量計測を示す説明図である。図3(A)は、計測対象物が接地面に近い状態を示しており、図3(B)は、計測対象物が接地面から遠い状態を示している。図3(A)のように、計測対象物が接地面に近い場合には、電界が接地面に引き寄せられてしまい、表面電位計で計測される静電気量が小さくなり、逆に、図3(B)のように、計測対象物が接地面より遠い場合には、下の電界のみが接地面に引き寄せられるため表面電位計で計測される静電気量は大きくなる。このように、計測対象物の設置位置によっても、計測される静電気量は異なってしまう。
次に、本発明の実施の形態1における静電気量計測装置の全体概要について説明する。図4は、本発明の実施の形態1における静電気量計測装置のブロック図である。
計測対象物10は、静電気量の計測を受けたい対象物である。工場のラインなどを流れる種々の部品や製品である。
受信部2は、仮想電磁波を受信する。仮想電磁波は、電界の波であるので、受信部2は、アンテナを備えることで、受信可能である。ここで、仮想電磁波は、計測対象物10の上下振動の振動数と同等の周波数を有する。例えば、計測対象物10の上下振動が100Hzであれば、仮想電磁波の周波数も100Hzである。受信部2は、この100Hzを受信可能なアンテナを備えることで、仮想電磁波を受信できる。また、受信した仮想電磁波に対して、必要に応じてアンプやフィルターなどを備えることで、仮想電磁波の強度を検出するのに必要なゲインを、得ることができる。
測定部3は、受信部2より出力された仮想電磁波の強度、周波数および位相の少なくとも一つを測定する。仮想電磁波は、強度、周波数および位相の要素を有している。これらの要素のそれぞれは、仮想電磁波の根源である電荷101(この電荷101は、静電気の帯電によって生じている電荷である)の電位やその符号(正か負)を示す。
測定部3は、受信した仮想電磁波をデータ処理することで、その強度を測定する。必要に応じて時間周波数変換することで、周波数や位相も測定できる。測定部3による強度、周波数および位相の測定は、公知の技術が用いられればよく、詳細の説明はここでは省略する。一般的な信号処理が用いらえればよい。
算出部4は、測定部3から出力された測定結果である、仮想電磁波の強度、周波数および位相の少なくとも一つに基づいて、計測対象物10の静電気量を算出する。このとき、算出部4は、強度、周波数および位相のいずれか一つのみに基づいて、静電気量を算出しても良いし、強度、周波数および位相の複数の要素の組み合わせに基づいて、静電気量を算出しても良い。
算出部4は、仮想電磁波の強度と静電気量との対応関係式に基づいて、計測対象物10の静電気量を算出することもできる。この強度は、計測対象物10に帯電している電荷101の電荷量(すなわち計測対象物10の有する静電気量)と、所定の対応関係を有している。図7は、本発明の実施の形態1における測定された電磁波の強度と計測対象物10の表面電位の関係を示すグラフである。ここで表面電位は静電気量とみなすことができる。図7(1)は計測対象物10が負に帯電している場合、図7(2)は計測対象物10が正に帯電している場合を示している。図7(1)と(2)はともに計測対象物10の静電気量が高ければ電磁波強度も高く、計測対象物10の静電気量が低ければ電磁波強度も低い。また、電磁波強度と静電気量は直線関係であることから、計測対象物10の振動、計測距離、周波数が一定であれば、その対応関係は次に示す比例関係式で表すことができる。
V=A×I (V:静電気量、A:定数、I:電磁波強度)
また、算出部4は、仮想電磁波の強度と静電気量との対応関係を示す関係テーブルに基づいて、静電気量を算出しても良い。対応関係式と異なり、離散値に基づく算出となるが、処理負荷が小さいメリットがある。関係テーブルは、経験的に変更やアップデートされることが可能であり、算出部4は、使用の積み重ねに応じて、より精度の高い静電気量の算出を行える。
算出部4は、仮想電磁波の位相から、計測対象物が有している静電気の正負を算出できる。仮想電磁波は、当然ながら位相を有しているが、この位相は、静電気の正負を示す。静電気の正負が判断されることで、計測対象物10の静電気を除電する手段が判明するメリットがある。例えば、計測対象物10が、正電位の静電気を帯電している場合には、負電荷を有するイオンなどをふきつけることで計測対象物10の静電気を除電できる。逆に、計測対象物10が、負電位の静電気を帯電している場合には、正電荷を有するイオンなどをふきつけることで、計測対象物10の静電気を除電できる。
上述の通り、振動付与手段5は、振動部材を用いた物理的な振動付与と、スピーカなどを用いた音波照射による振動付与とを用いることができる。図13は、本発明の実施の形態3における振動付与の状態を示す模式図である。図13(A)は、振動部材51によって、製造ライン20に振動が付与される状態を示している。もちろん、製造ライン20に振動が付与されることで、結果的に計測対象物10に振動が付与される。
計測対象物10が、製造ライン20を流れる部品要素である場合には、図12、13に示すように、振動する部品全体からの仮想電磁波を受信することで、静電気量を計測できる。また、計測対象物10が製品である場合でも、振動する製品全体からの仮想電磁波を受信することで、製品全体の静電気量を計測できる。
振動付与手段5は、計測対象物10に振動を付与する。ここで、振動を付与された計測対象物10は、この振動に応じた仮想電磁波を発信する。仮想電磁波は、受信部2によって受信された上で、静電気量計測装置1において静電気量の算出に用いられる。仮想電磁波の強度や周波数は、受信部2や測定部3での処理の容易さに関連する。
上述の通り、振動付与手段5は、スピーカ52を用いて音波を照射して、計測対象物10で振動を発生させることもできる。
次に、具体的な実施例について説明する。
次に、実施の形態4について説明する。実施の形態4では、静電気除去装置について説明する。
2 受信部
3 測定部
4 算出部
5 振動付与手段
51 振動部材
52 スピーカ
10 計測対象物
11 台
20 製造ライン
101 電荷
Claims (20)
- 計測対象物に与えられた振動によって生じる仮想電磁波を受信する受信部と、
前記受信部が受信した仮想電磁波の、強度、周波数および位相の少なくとも一つを測定する測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記計測対象物の静電気量を算出する算出部と、を備える静電気量計測装置。 - 前記計測対象物は、製造現場で使用される、電子部品、電子素子、半導体集積素子、電子基板、電子機器、機械部品、輸送用機器、化学品、食品、紙製品、フィルム製品、金属製品、薬品および繊維製品のいずれかの製品要素である、請求項1記載の静電気量計測装置。
- 前記製品要素は、製造現場における製造ラインを流れる、請求項2記載の静電気量計測装置。
- 前記算出部は、前記仮想電磁波の強度と静電気量の対応関係式および前記仮想電磁波の強度と静電気量の関係テーブルの少なくとも一方に基づいて、前記計測対象物の静電気量を算出する、請求項1から3のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記算出部は、前記計測対象物の振幅に基づいて信頼性値を算出し、前記仮想電磁波の強度に基づいて算出される静電気量に前記信頼性値を重み付けして、前記計測対象物の静電気量を算出する、請求項4記載の静電気量計測装置。
- 前記信頼性値は、前記計測対象物の振幅が小さい場合に小さく、前記計測対象物の振幅が大きい場合に大きい、請求項5記載の静電気量計測装置。
- 前記算出部は、前記仮想電磁波の位相に基づいて、前記計測対象物に帯電している静電気の正負を判別する、請求項1から6のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記計測対象物に振動を付与する振動付与手段を更に備える、請求項1から7のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記計測対象物が部品要素である場合に、前記振動付与手段は、製造ラインで送られる個々の前記計測対象物に振動を付与する個別付与および前記計測対象物が載っている前記製造ラインそのものに振動を付与する全体付与の少なくとも一方で、計測対象物に振動を付与する、請求項8記載の静電気量計測装置。
- 前記計測対象物が、複数の部品が実装された製品である場合に、前記振動付与手段は、前記製品へ振動を付与し、
前記受信部は、前記製品の各領域へ指向する、請求項8記載の静電気量計測装置。 - 前記振動付与手段は、振幅および振動数の少なくとも一方を、前記受信部および前記測定部の少なくとも一方の仕様に基づいて定める、請求項8から10のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記振動付与手段は、前記計測対象物が載せられている支持台へ振動を付与する直接付与および前記計測対象物へ音波を付与する間接付与の少なくとも一方で、前記計測対象物へ振動を付与する、請求項8から11のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記振動付与手段は、音波を発生する音波発生器を有し、前記計測対象物は、前記音波発生器の有する振動板と直接もしくは間接的に対向するまたはある角度をもつ、請求項8から12のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 前記音波発生器は、前記計測対象物の大きさに合わせて、音波を収束させる収束機能を有する、請求項13記載の静電気量計測装置。
- 前記振動付与手段は、前記計測対象物の端部に設置される振動子を有し、前記振動子の振動によって、前記計測対象物に振動を付与する、請求項8から12のいずれか記載の静電気量計測装置。
- 請求項1から15のいずれか記載の静電気量計測装置と、
前記静電気量計測装置で計測された静電気量を表示する表示手段と、
前記計測対象物に帯電している静電気を除電する除電手段と、を備える静電気除去装置。 - 計測対象物に与えられた振動によって生じる仮想電磁波を受信する受信ステップと、
前記受信ステップで受信された仮想電磁波の、強度、周波数および位相の少なくとも一つを測定する測定ステップと、
前記測定ステップでの測定結果に基づいて、前記計測対象物の静電気量を算出する算出ステップと、を備える静電気量計測方法。 - 前記算出ステップは、前記仮想電磁波の強度と静電気量の対応関係式および前記仮想電磁波の強度と静電気量の関係テーブルの少なくとも一方に基づいて、前記計測対象物の静電気量を算出する、請求項17記載の静電気量計測方法。
- 前記計測対象物に振動を付与する振動付与ステップを更に備える、請求項17又は18記載の静電気量計測方法。
- 前記算出ステップで算出された静電気量を表示する表示ステップを更に備える、請求項17から19のいずれか記載の静電気量計測方法。
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