JP2012515836A - 熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージ - Google Patents

熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージ Download PDF

Info

Publication number
JP2012515836A
JP2012515836A JP2011548117A JP2011548117A JP2012515836A JP 2012515836 A JP2012515836 A JP 2012515836A JP 2011548117 A JP2011548117 A JP 2011548117A JP 2011548117 A JP2011548117 A JP 2011548117A JP 2012515836 A JP2012515836 A JP 2012515836A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microns
thermal conductivity
weight percentage
interface material
particle size
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011548117A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5731405B2 (ja
Inventor
イルバンティ、スシュムナ
ケミンク、ランドール
クマール、ラジニーシュ
オストランダー、スティーブン
シン、プラブジット
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2012515836A publication Critical patent/JP2012515836A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5731405B2 publication Critical patent/JP5731405B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3737Organic materials with or without a thermoconductive filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • H01L23/18Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】 熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージを提供する。
【解決手段】 半導体デバイス用の改善された熱界面材料を提供する。より具体的には、熱界面材料用の低圧縮力の非シリコーン高熱伝導性配合物を提供する。熱界面材料は、約5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率、及び約100psi又はそれ以下の圧縮力を用いて約100ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す非シリコーン有機物の組成物を含む。
【選択図】 図1

Description

本発明は、一般に半導体デバイス用の改善された熱界面材料に関し、より具体的には、熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物に関する。
熱放散は、アナログ及びパワートランジスタなどの半導体デバイスの設計において、そして特に高集積密度で形成された高性能デジタル・スイッチング回路において重要な要素である。集積回路の性能及び信頼性に対して熱除去が重要であるので、ヒート・シンク又は他の熱除去構造体(例えば、液冷式冷却板)を集積回路パッケージの設計及び製造に組み込むことが通例となっている。
ヒート・シンクを集積回路パッケージに取り付けるために、比較的良好な熱伝導性を有する接着剤を使用することが通例となっている。しかし、それらの材料の熱伝導性は、金属に比べれば依然として非常に低い。例えば、現在使用されている熱伝導性接着剤の熱伝導率は約1.73W/m℃にすぎないが、銅は394W/m℃の熱伝導率を有する。
適切な体積及び接合厚を与えるように設計された厚さを有する初めはシートの形態の再加工可能な熱可塑性接着剤を用いて、ヒート・シンクを集積回路パッケージに接合することが通例となっている。ペースト又はグリースなどの分注可能な配合物は接着母材に対する代替物となる。
熱界面材料(TIM)は、高熱伝導性を有し、及び/又は狭い接合線幅で用いることができる場合に最も効果的であり、即ち低い熱抵抗を与えることができる。TIMは一般に二つの主要成分、即ち、金属及び/又は非金属粒子及び/又はファイバなどのフィラー、並びに油又は短鎖ポリマー(オリゴマー)のようなビヒクルを有する。ビヒクルは、ソース、所望の特性、用途及びペースト価格に応じて、シリコーン又は非シリコーン化合物とすることができる。分散剤、硬化剤、酸化防止剤などの付加的成分が存在してもよい。
マイクロエレクトロニクスのパッケージ化においてシリコーン油ベースの熱界面材料(TIM)の使用は、部品、例えばチップ、基板、リッド及び他のハードウェアの再使用可能性に対して、TIMからのシリコーン油による二次汚染の問題を引き起こす。
既知のように、ペースト型TIMの熱伝導性は、ペースト配合物内で、二つの主要成分のうちの高熱伝導性成分であるフィラー含量を増すことにより高めることができる。しかし、配合物中のフィラー含量が増えると、ペーストはますます堅く又は硬直化し、ペーストをより狭い接合線幅に圧縮することが困難になる。多くの場合、多くのTIMは混合物中に逃散性溶媒を混合して、より狭い接合線幅を達成しようとする際により低い圧縮力を実現する。逃散性溶媒は比較的揮発性の溶媒であり、長期間含有することが難しく、TIMの有効寿命を短くする可能性がある。
従って、当技術分野には上述の欠陥及び制約を克服する必要性が存在する。
本発明の態様において、熱界面材料は、約5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率、並びに、約100psi又はそれ以下の圧縮力を用いて約100ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す非シリコーン有機物の組成物を含む。
実施形態において組成物は、約200W/mKを上回るバルク熱伝導率、約10乃至20ミクロンの粒径、及び約30乃至42%の重量百分率を有する第1の成分と、約200W/mKを上回るバルク熱伝導率、約3乃至10ミクロンの粒径、及び約18乃至24%の重量百分率を有する第2の成分と、約5W/mKを上回るバルク熱伝導率、約1.0ミクロンを下回る粒径、及び約31乃至39%の重量百分率を有する第3の成分と、非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤並びに酸化防止剤、増粘剤及び顔料とを含む。さらに別の実施形態において、第1及び第2の成分はアルミニウムであり、第3の成分は酸化アルミニウムである。組成物は不揮発性溶媒を含む。非シリコーン有機物は約0.01W/mKを上回るバルク熱伝導率を有する。熱伝導率は約5.5W/mK又はそれ以上である。約100psi又はそれ以下の圧縮圧力により圧縮された接合線幅は約100ミクロン又はそれ以下である。
本発明のさらに別の態様によれば、熱界面材料は、約10乃至20ミクロンの粒径及び約30乃至42%の重量百分率を有する第1のアルミニウム成分、約3乃至10ミクロンの粒径及び約18乃至24%の重量百分率を有する第2のアルミニウム成分、約1.0ミクロン未満の粒径及び約31乃至39%の重量百分率を有する酸化アルミニウム成分、並びに、非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料を含む。
本発明のさらに別の態様において、ハット/リッドとヒート・シンクの間に形成される界面に構造熱界面材料が配置される。ハット/リッドは基板上に取り付けられた一つ又は複数のチップの上に配置される。熱界面材料は非シリコーン有機物及び不揮発性溶媒を含み、約5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率、並びに100psi又はそれ以下の圧縮圧力を用いて約200ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す。
実施形態において、組成物は、約200W/mK又はそれ以上のバルク熱伝導率、約10乃至20ミクロンの粒径、及び約30乃至42%の重量百分率を有する第1の成分、約200W/mK又はそれ以上のバルク熱伝導率、約3乃至10ミクロンの粒径、及び約18乃至24%の重量百分率を有する第2の成分、約5W/mKを上回るバルク熱伝導率、約1.0ミクロン未満の粒径、及び約1乃至39%の重量百分率を有する第3の成分、並びに、非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料を含む。さらに別の実施形態において、組成物は、約10乃至20ミクロンの粒径及び約30乃至42%の重量百分率を有する第1のアルミニウム成分、約3乃至10ミクロンの粒径及び約18乃至24%の重量百分率を有する第2のアルミニウム成分、約1.0ミクロン未満の粒径及び約31乃至39%の重量百分率を有する酸化アルミニウム成分、並びに、非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料を含む。
本発明のさらに別の態様において、構造体は、基板、基板上の単一又は複数のチップ、複数のチップの上に配置されたハット/リッド、ハット/リッドの上のヒート・シンクであってハット/リッドとヒート・シンクの間の界面を形成するヒート・シンク、並びにハット/リッド及びヒート・シンクの表面に接触する界面における界面材料を含む。熱界面材料は、約6.0W/mK又はそれ以上の熱伝導率、及び100psi又はそれ以下の圧縮圧力を用いて約200ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す非シリコーン有機物の組成物を含む。
本発明は、以下の詳細な説明において、本発明の例示的な実施形態の非限定的な例として言及される複数の図面を参照しながら説明する。
本発明の熱界面材料の特性をプロットしたグラフを示す。 本発明の熱界面材料を有する構造体を示す。
本発明は、一般に半導体デバイス用の改善された界面材料に関し、より具体的には低圧縮力の非シリコーン高熱伝導性配合界面材料に関する。実施において、本発明は、大きな不均一熱界面を有するデバイス及び/又は構成要素の熱特性、信頼性及び現場作業/修理の容易さを改良するための構造体を提供する。実施形態において本発明は、大きな熱界面の間に配置することができる熱界面材料を含む。この熱界面材料は、不均一な空隙を低圧縮力で均一に充填することができ、さらに再加工が容易である。より具体的な実施形態において、熱界面材料は非シリコーンで無溶媒のものであり、高熱伝導性、及び現場において通常のペースト又は材料よりも長い有効寿命を示す。
有利なことに、本発明の非シリコーン・ベースの熱界面材料を用いると、機能性に対する影響、構成要素の作り直し、及び/又は、シリコーンのマイグレーションによる二次汚染及び相互接続部(例えば、ランド・グリッド・アレイ(LGA)パッド及び他の能動デバイス)の汚染の危険性が避けられる。さらに、本発明の熱溶液は揮発性が低く、現場技術者が保管するときには乾固しない。
より具体的には本発明は、高熱伝導率(約5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率)のペースト/グリースをもたらすと同時に、10psi又はそれ以下、好ましくは20psi又はそれ以下、より好ましくは100psi又はそれ以下の圧縮圧力により、それぞれ、約100ミクロン又はそれ以下、好ましくは75ミクロン、より好ましくは18乃至55ミクロンの狭い接合線幅(BLT)に圧縮することができる、熱界面材料配合物に向けられる。例えば、10psi又はそれ以下で約100ミクロンの接合線幅(BLT)を得ることができる。さらに別の実施において、熱伝導率は、好ましい範囲の圧縮力による上記の所望の接合線幅で約5.5W/mKを越える。
実施形態において、熱界面材料の配合物は、第1の粒径範囲内のアルミニウム、第2の粒径範囲内のアルミニウム、及び酸化アルミニウムを含む。また他の非シリコーン有機物をビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤、顔料などとして用いることも本発明により企図される。より具体的に、表1は本発明の熱界面材料に配合物を示す。
Figure 2012515836
上に示した配合物は、有利なことに、10乃至100psiの圧縮圧力で約75ミクロン又はそれ以下、より好ましくは55乃至18ミクロンに圧縮された狭い接合線幅において高熱伝導率(約6W/mKの熱伝導率)をもたらす。上記の配合物は、非シリコーン材料を用い、揮発性溶媒を用いずに、硬化又は相変化のための高温を加えずに、3ミル未満(例えば約75ミクロン)の薄い接合線幅に達するための低圧縮力をもたらすことが好ましい。
より具体的に、表2は本発明の熱界面材料の配合物を示す。
Figure 2012515836
本発明により企図される異なる組合せのさらに別の例証を与えるために、以下の表3に付加的な非限定的な例を与える。しかし、当業者であれば、表3の例は例証のために与えられるものであり、特許請求される本発明の限定された特徴と考えるべきではないことを理解するであろう。熱伝導率の測定値は約±5.0%の精度を有し、重量百分率及び粒径は±1.0%の精度を有する。
Figure 2012515836
Figure 2012515836
表4の「X」の例に示したように、7.0W/mKを上回るTCは許容可能な熱伝導率であるが、136psiの圧縮圧力は許容範囲の遥か外側である。また表3の「Y」の例において、5.0W/mKのTCは許容範囲外であるが、60psiの圧縮圧力は許容範囲にある。従って、示したように、熱界面材料が本発明の限界の外で作成されると、熱界面材料は、5.5W/mK未満の熱伝導率及び/又は75ミクロンの接合線幅に達するのに100psiを上回る圧縮圧力を有する可能性がある。熱伝導率の測定値は約±5.0%の精度を有し、重量百分率及び粒径は±1.0%の精度を有する。
図1は、本発明の熱界面材料の特性をプロットしたグラフを示す。例えば、図1のグラフは、本発明の熱界面材料は18ミクロンから55ミクロンまでの最小接合線幅に達するのに、10psiから100psiまでの圧縮圧力で圧縮することができることを示す。より具体的には図1のグラフは、本発明の熱界面材料は≧6.0W/mKの熱伝導率を有し、100乃至2psiの圧力によって0.75乃至3.00ミルの間隙まで圧縮することができることを示す。
図2は、本発明の熱界面材料を用いた構造体を示す。より具体的には、図2は、大きく且つ不均一な熱界面において本発明の熱界面材料105を用いた、改善された熱特性、信頼性及び再加工可能性を有する構造体(マルチ・チップ・モジュール)100を示す。熱界面材料105は、構造体(マルチ・チップ・モジュール)100のハット/リッド110とヒート・シンク115の間に存在する。ハット110は基板125の上に取り付けられた複数のチップの上に配置される。実施形態において、ヒート・シンク115とハット/リッド110の間の接触面積は約138mm×138mmであり、熱界面材料105は、実施形態において105mm×105mmの中央領域を完全に覆うことができる。但し、他の寸法も本発明により企図される。熱界面材料105は、構造体(マルチ・チップ・モジュール)100の外周の内部に留まる、即ち押し出されないことが好ましく、ハット/リッド110とヒート・シンク115の表面に接触する界面の境界内部に留まることがより好ましい。実施形態において界面の表面は裸銅又はNiめっき銅とする。
有利なことに、熱界面材料105は移動せず、他のハードウェアを汚染しない。また熱界面材料105は、熱抵抗にわたる性能の狭い広がり/分布により、熱界面にわたって高性能をもたらす。さらに熱界面材料105は、不均一な間隙を均一に充填することができ、屋外環境の現場使用に耐えることができ、さらに有効寿命要件を満たすことができる。
上述の方法は、集積回路チップの製造に用いられる。結果として得られる集積回路チッピは、未加工ウェハの形態(即ち、複数の非パッケージ・チップを有する単一のウェハ)で、裸のダイとして、又はパッケージされた形態で、製造者が配布することができる。後者の場合、チップは単一チップ・パッケージ(例えば、マザーボード又は他のより高レベルのキャリアに接続されるリードを有するプラスチック・キャリアなど)内に、又はマルチチップ・パッケージ(例えば、表面相互接続又は埋め込み相互接続の何れか又は両方を有するセラミック・キャリアなど)内に取り付けられる。何れの場合にもチップは次に他のチップ、分離した回路要素、及び/又は他の信号処理デバイスと統合して、(a)マザーボードなどの中間製品又は(b)最終製品の部品とする。最終製品は、おもちゃ及び他の低価格用途から、ディスプレイ、キーボード又は他の入力デバイス、及び中央処理装置を有する高度なコンピュータに至る、集積回路チップを含んだ任意の製品とすることができる。
本明細書で用いた用語は、特定の実施形態を説明するためだけのものであり、本発明を限定することを意図したものではない。本明細書で用いる単数形「1つの(a)」、「1つの(an)」及び「その(the)」は、文脈が特に明示しない限り、複数形も同様に含むことを意図したものである。さらに、用語「含む(comprises)」及び/又は「含んだ(comprising)」は本明細書において用いるとき、記述された特徴、整数、ステップ、動作、要素、及び/又は構成要素の存在を指示するが、1つ又は複数の他の特徴、整数、ステップ、動作、要素、構成要素、及び/又はそれらの群の存在又は追加を排除するものではない。
以下の特許請求の範囲に存在する場合、全てのミーンズ又はステップ・プラス・ファンクション要素の対応する構造体、材料、行為、及び等価物は、具体的に特許請求された他の請求要素と共に機能を実行するための任意の構造体、材料、又は行為を含むことを意図したものである。本発明の説明は、例証及び説明のためだけに提示したものであり、網羅的であること又は本発明を開示した形態に限定することを意図したものではない。当業者には、本発明の範囲及び趣旨から逸脱しない多くの修正物及び変形物が明らかとなるであろう。実施形態は、本発明の原理及び実際的用途を最もよく説明するように、そして当業者が、企図した特定の用途に適するように種々の修正を有する種々の実施形態に関して本発明を理解することができるように、選び記述した。
本発明は半導体デバイスの製造において有用である。
100:構造体(マルチ・チップ・モジュール)
105:熱界面材料
110:ハット/リッド
115:ヒート・シンク
120:チップ
125:基板

Claims (25)

  1. 5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率、及び、100psi又はそれ以下の圧縮力を用いて100ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す(図1)、非シリコーン有機物の組成物を含む熱界面材料。
  2. 前記組成物は、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1の成分と、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2の成分と、
    5W/mKを上回るバルク熱伝導率、1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する第3の成分と、
    非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料と
    を有する、
    請求項1に記載の熱界面材料。
  3. 前記第1及び第2の成分はアルミニウムであり、前記第3の成分は酸化アルミニウムである、請求項2に記載の熱界面材料。
  4. 前記組成物は不揮発性溶媒を含む、請求項2に記載の熱界面材料。
  5. 前記非シリコーン有機物ビヒクルは、7乃至10%の重量百分率を有する、請求項2に記載の熱界面材料。
  6. 前記非シリコーン有機物は、0.01W/mKを上回るバルク熱伝導率を有する、請求項2に記載の熱界面材料。
  7. 前記熱伝導率は5.5W/mK又はそれ以上である(図1)、請求項2に記載の熱界面材料。
  8. 前記圧縮された接合線幅はほぼ75ミクロンであり、前記圧縮圧力は20psi又はそれ以下である(図1)、請求項1に記載の熱界面材料。
  9. 10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1のアルミニウム成分と、
    3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2のアルミニウム成分と、
    1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する酸化アルミニウム成分と、
    非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料と
    を含む熱界面材料。
  10. 前記比シリコーン有機物ビヒクルの重量百分率は7乃至10%である、請求項9に記載の熱界面材料。
  11. 熱伝導率は5.5W/mKを上回り、75ミクロンの厚さに達するための圧縮圧力は75psi又はそれ以下である(図1)、請求項9に記載の熱界面材料。
  12. 熱伝導率は約6.9W/mKであり、75ミクロンの厚さに達するための圧縮圧力は10psi又はそれ以下である(図1)、請求項9に記載の熱界面材料。
  13. 熱伝導率は約5.9W/mKであり、75ミクロンの厚さに達するための圧縮圧力は10psi又はそれ以下である(図1)、請求項9に記載の熱界面材料。
  14. 熱伝導率は約5.5W/mK又はそれ以上である(図1)、請求項9に記載の熱界面材料。
  15. 前記非シリコーン有機物は、ビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料である、請求項9に記載の熱界面材料。
  16. ハット/リッド(110)とヒート・シンク(115)の間に配置された熱界面材料(105)を含む構造体であって、
    前記ハット/リッド(110)は、基板(125)の上に取り付けられる単一チップ又は複数のチップの上に配置され、
    前記熱界面材料(105)は、非シリコーン有機物及び不揮発性溶媒の組成物を含み、5.5W/mK又はそれ以上の熱伝導率、及び100psi又はそれ以下の圧縮力を用いて200ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す(図1)、
    構造体。
  17. 前記組成物は、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1の成分と、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2の成分と、
    5W/mKを上回るバルク熱伝導率、1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する第3の成分と、
    非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料と
    を含む、請求項16に記載の構造体。
  18. 前記組成物は、
    10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1のアルミニウム成分と、
    3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2のアルミニウム成分と、
    1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する酸化アルミニウム成分と、
    非シリコーン有機物のビヒクル、分散剤、酸化防止剤、増粘剤及び顔料と
    を含む、請求項16に記載の構造体。
  19. 前記熱伝導率は6.0W/mK又はそれ以上である(図1)、請求項16に記載の構造体。
  20. 前記組成物は不揮発性溶媒を含む、請求項16に記載の構造体。
  21. 基板(125)と、
    前記基板(125)の上の単一又は複数のチップ(120)と、
    前記単一又は複数のチップ(120)の上に配置されたハット/リッド(110)と、
    前記ハット/リッド(110)の上のヒート・シンクであって、前記ハット/リッド(110)との間の界面を形成する、前記ヒート・シンク(115)と、
    前記ヒート・シンク(115)及び前記ハット/リッド(110)の表面に接触する、界面における界面材料(105)と
    を含み、
    前記熱界面材料(105)は、6.0W/mK又はそれ以上の熱伝導率、及び100psi又はそれ以下の圧縮力を用いて200ミクロン又はそれ以下に圧縮された接合線幅を示す、非シリコーン有機物の組成物を含む、
    構造体。
  22. 前記組成物は、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1の成分と、
    200W/mKを上回るバルク熱伝導率、3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2の成分と、
    5W/mKを上回るバルク熱伝導率、1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する第3の成分と
    を含む、請求項21に記載の構造体。
  23. 前記組成物は、
    10乃至20ミクロンの粒径、及び30乃至42%の重量百分率を有する第1のアルミニウム成分と、
    3乃至10ミクロンの粒径、及び18乃至24%の重量百分率を有する第2のアルミニウム成分と、
    1.0ミクロン未満の粒径、及び31乃至39%の重量百分率を有する酸化アルミニウム成分と
    を含む、請求項21に記載の構造体。
  24. 前記圧縮された接合線幅は55乃至18ミクロンである(図1)、請求項21に記載の構造体。
  25. 前記界面表面は裸銅又はNiめっき銅である、請求項21に記載の構造体。
JP2011548117A 2009-01-22 2010-01-22 熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージ Active JP5731405B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/357,744 2009-01-22
US12/357,744 US7816785B2 (en) 2009-01-22 2009-01-22 Low compressive force, non-silicone, high thermal conducting formulation for thermal interface material and package
PCT/US2010/021735 WO2010085604A1 (en) 2009-01-22 2010-01-22 Low compressive force, non-silicone, high thermal conducting formulation for thermal interface material and package

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012515836A true JP2012515836A (ja) 2012-07-12
JP5731405B2 JP5731405B2 (ja) 2015-06-10

Family

ID=42336263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011548117A Active JP5731405B2 (ja) 2009-01-22 2010-01-22 熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7816785B2 (ja)
JP (1) JP5731405B2 (ja)
KR (1) KR101507640B1 (ja)
TW (1) TW201037068A (ja)
WO (1) WO2010085604A1 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7449780B2 (en) * 2003-03-31 2008-11-11 Intel Corporation Apparatus to minimize thermal impedance using copper on die backside
JP5165017B2 (ja) * 2010-03-18 2013-03-21 株式会社日立製作所 電子機器の冷却構造
US20130027885A1 (en) * 2011-07-25 2013-01-31 International Business Machines Corporation Heat spreader for multi-chip modules
US20150047821A1 (en) * 2013-08-14 2015-02-19 Atomic Energy Council - Institute Of Nuclear Energy Research Heating device structure
EP3077578A4 (en) 2013-12-05 2017-07-26 Honeywell International Inc. Stannous methansulfonate solution with adjusted ph
US10155894B2 (en) 2014-07-07 2018-12-18 Honeywell International Inc. Thermal interface material with ion scavenger
US9318450B1 (en) * 2014-11-24 2016-04-19 Raytheon Company Patterned conductive epoxy heat-sink attachment in a monolithic microwave integrated circuit (MMIC)
KR20170091669A (ko) 2014-12-05 2017-08-09 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 저열 임피던스를 갖는 고성능 열 계면 재료
US9856404B2 (en) 2015-11-11 2018-01-02 International Business Machines Corporation Self-heating sealant or adhesive employing multi-compartment microcapsules
US9896389B2 (en) 2015-11-11 2018-02-20 International Business Machines Corporation Heat-generating multi-compartment microcapsules
US10309692B2 (en) 2015-11-11 2019-06-04 International Business Machines Corporation Self-heating thermal interface material
US10312177B2 (en) 2015-11-17 2019-06-04 Honeywell International Inc. Thermal interface materials including a coloring agent
US10316151B2 (en) 2015-11-30 2019-06-11 International Business Machines Corporation Thermal interface materials including polymeric phase-change materials
BR112018067991A2 (pt) 2016-03-08 2019-01-15 Honeywell Int Inc material de interface térmica, e componente eletrônico
US10501671B2 (en) 2016-07-26 2019-12-10 Honeywell International Inc. Gel-type thermal interface material
US9831151B1 (en) * 2016-08-03 2017-11-28 International Business Machines Corporation Heat sink for semiconductor modules
US10278284B2 (en) 2016-08-25 2019-04-30 International Business Machines Corporation Laminate materials with embedded heat-generating multi-compartment microcapsules
US9878039B1 (en) 2016-09-01 2018-01-30 International Business Machines Corporation Microcapsule having a microcapsule shell material that is rupturable via a retro-dimerization reaction
US10328535B2 (en) 2016-11-07 2019-06-25 International Business Machines Corporation Self-heating solder flux material
US10696899B2 (en) 2017-05-09 2020-06-30 International Business Machines Corporation Light emitting shell in multi-compartment microcapsules
US10900908B2 (en) 2017-05-24 2021-01-26 International Business Machines Corporation Chemiluminescence for tamper event detection
US10357921B2 (en) 2017-05-24 2019-07-23 International Business Machines Corporation Light generating microcapsules for photo-curing
US10392452B2 (en) 2017-06-23 2019-08-27 International Business Machines Corporation Light generating microcapsules for self-healing polymer applications
US11041103B2 (en) 2017-09-08 2021-06-22 Honeywell International Inc. Silicone-free thermal gel
US10428256B2 (en) 2017-10-23 2019-10-01 Honeywell International Inc. Releasable thermal gel
CN110055038A (zh) 2018-01-19 2019-07-26 天津莱尔德电子材料有限公司 高顺应性非硅酮油灰和包含其的热界面材料
US11072706B2 (en) 2018-02-15 2021-07-27 Honeywell International Inc. Gel-type thermal interface material
CN110634806A (zh) * 2018-06-21 2019-12-31 美光科技公司 半导体装置组合件和其制造方法
CN110003438A (zh) * 2019-03-29 2019-07-12 傲川科技(河源)有限公司 导热凝胶及其制备方法
US11373921B2 (en) 2019-04-23 2022-06-28 Honeywell International Inc. Gel-type thermal interface material with low pre-curing viscosity and elastic properties post-curing
EP3926669A3 (en) 2020-05-29 2022-05-11 Google LLC Methods and heat distribution devices for thermal management of chip assemblies

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002121393A (ja) * 2000-10-12 2002-04-23 Sekisui Chem Co Ltd 熱伝導性樹脂組成物及び熱伝導性シート
WO2008053843A1 (en) * 2006-11-01 2008-05-08 Hitachi Chemical Co., Ltd. Heat conducting sheet, process for producing the same, and radiator utilizing the sheet
JP2008258254A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Sumitomo Electric Ind Ltd 熱伝導性接着剤及びそれを用いた放熱モジュール、電力変換装置
JP2008277813A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 熱伝導性調合物

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3885984A (en) * 1973-12-18 1975-05-27 Gen Electric Methyl alkyl silicone thermoconducting compositions
US4560579A (en) * 1981-11-02 1985-12-24 W. R. Grace & Co. Process for coating of substrates with heat curable coating
US4567505A (en) * 1983-10-27 1986-01-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Heat sink and method of attaching heat sink to a semiconductor integrated circuit and the like
US4869954A (en) * 1987-09-10 1989-09-26 Chomerics, Inc. Thermally conductive materials
US5098609A (en) * 1989-11-03 1992-03-24 The Research Foundation Of State Univ. Of N.Y. Stable high solids, high thermal conductivity pastes
JP3028660B2 (ja) * 1991-10-21 2000-04-04 住友電気工業株式会社 ダイヤモンドヒートシンクの製造方法
US5146981A (en) * 1991-11-14 1992-09-15 Digital Equipment Corporation Substrate to heatsink interface apparatus and method
JP3201868B2 (ja) * 1992-03-20 2001-08-27 アジレント・テクノロジーズ・インク 導電性熱インターフェース及びその方法
US5591789A (en) * 1995-06-07 1997-01-07 International Business Machines Corporation Polyester dispersants for high thermal conductivity paste
US5644837A (en) * 1995-06-30 1997-07-08 Lambda Technologies, Inc. Process for assembling electronics using microwave irradiation
US5890915A (en) * 1996-05-17 1999-04-06 Minnesota Mining And Manufacturing Company Electrical and thermal conducting structure with resilient conducting paths
US5738936A (en) * 1996-06-27 1998-04-14 W. L. Gore & Associates, Inc. Thermally conductive polytetrafluoroethylene article
US5904796A (en) * 1996-12-05 1999-05-18 Power Devices, Inc. Adhesive thermal interface and method of making the same
US5864176A (en) * 1997-04-04 1999-01-26 Unisys Corporation Electro-mechnical subassembly having a greatly reduced thermal resistance between two mating faces by including a film of liquid, that evaporates without leaving any residue, between the faces
US5900447A (en) 1997-05-01 1999-05-04 Edison Polymer Innovation Corporation Composition for forming high thermal conductivity polybenzoxazine-based material and method
AU1283799A (en) * 1997-10-28 1999-05-17 Lear Corporation Method of making a part utilizing an electrically conductive material
US6377453B1 (en) * 1999-01-29 2002-04-23 Hewlett-Packard Company Field replaceable module with enhanced thermal interface
US6391442B1 (en) * 1999-07-08 2002-05-21 Saint-Gobain Performance Plastics Corporation Phase change thermal interface material
US6496373B1 (en) * 1999-11-04 2002-12-17 Amerasia International Technology, Inc. Compressible thermally-conductive interface
US6797382B2 (en) * 1999-12-01 2004-09-28 Honeywell International Inc. Thermal interface materials
DE19959262A1 (de) * 1999-12-09 2001-06-21 Altoflex S A Leitfähiges pastöses Material und dessen Verwendung
US6610635B2 (en) * 2000-09-14 2003-08-26 Aos Thermal Compounds Dry thermal interface material
WO2002067315A2 (en) 2001-02-14 2002-08-29 Honeywell International Inc. Processes of forming thermal transfer materials, and thermal transfer materials
US6656389B2 (en) * 2001-06-29 2003-12-02 International Business Machines Corporation Thermal paste for low temperature applications
US6653167B2 (en) * 2001-09-10 2003-11-25 Sun Microsystems, Inc. Facilitating heat transfer from an integrated circuit package
GB2388473B (en) 2002-05-08 2005-09-21 Sun Microsystems Inc Compliant heat sink interface
US6791839B2 (en) * 2002-06-25 2004-09-14 Dow Corning Corporation Thermal interface materials and methods for their preparation and use
US6783692B2 (en) * 2002-10-17 2004-08-31 Dow Corning Corporation Heat softening thermally conductive compositions and methods for their preparation
US7253523B2 (en) * 2003-07-29 2007-08-07 Intel Corporation Reworkable thermal interface material
US20050228097A1 (en) * 2004-03-30 2005-10-13 General Electric Company Thermally conductive compositions and methods of making thereof
US7312261B2 (en) * 2004-05-11 2007-12-25 International Business Machines Corporation Thermal interface adhesive and rework
US7616444B2 (en) 2004-06-04 2009-11-10 Cooligy Inc. Gimballed attachment for multiple heat exchangers
US7727815B2 (en) * 2004-09-29 2010-06-01 Intel Corporation Reactive gettering in phase change solders to inhibit oxidation at contact surfaces
US7269015B2 (en) * 2005-02-01 2007-09-11 Tyco Electronics Corporation Heat sink interface insert
US7459782B1 (en) * 2005-10-05 2008-12-02 Altera Corporation Stiffener for flip chip BGA package
CN1978580B (zh) * 2005-12-09 2010-09-29 富准精密工业(深圳)有限公司 导热膏及使用该导热膏的电子装置
US7476568B2 (en) * 2006-06-30 2009-01-13 Intel Corporation Wafer-level assembly of heat spreaders for dual IHS packages

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002121393A (ja) * 2000-10-12 2002-04-23 Sekisui Chem Co Ltd 熱伝導性樹脂組成物及び熱伝導性シート
WO2008053843A1 (en) * 2006-11-01 2008-05-08 Hitachi Chemical Co., Ltd. Heat conducting sheet, process for producing the same, and radiator utilizing the sheet
JP2008258254A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Sumitomo Electric Ind Ltd 熱伝導性接着剤及びそれを用いた放熱モジュール、電力変換装置
JP2008277813A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 熱伝導性調合物

Also Published As

Publication number Publication date
US20100181663A1 (en) 2010-07-22
KR20110107853A (ko) 2011-10-04
TW201037068A (en) 2010-10-16
WO2010085604A1 (en) 2010-07-29
JP5731405B2 (ja) 2015-06-10
US7816785B2 (en) 2010-10-19
KR101507640B1 (ko) 2015-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5731405B2 (ja) 熱界面材料用の低圧縮力非シリコーン高熱伝導性配合物及びパッケージ
US11610831B2 (en) Methods for establishing thermal joints between heat spreaders or lids and heat sources
US20160315030A1 (en) Reusable thermoplastic thermal interface materials and methods for establishing thermal joints between heat sources and heat dissipating/removal structures
KR100919798B1 (ko) 건조 열 인터페이스 재료
CN107039289B (zh) 具有限定的热、机械和电特性的热接合材料
US6432497B2 (en) Double-side thermally conductive adhesive tape for plastic-packaged electronic components
US20140368992A1 (en) Methods For Establishing Thermal Joints Between Heat Spreaders and Heat Generating Components Using Thermoplastic and/or Self-Healing Thermal Interface Materials
JP2012503890A (ja) 熱伝導性ゲルパック
US20130328200A1 (en) Direct bonded copper substrate and power semiconductor module
TW202020106A (zh) 半導體元件的製造方法、導熱薄片、及導熱薄片的製造方法
US20210066157A1 (en) Power electronics module and a method of producing a power electronics module
Gurpinar et al. Analysis and evaluation of thermally annealed pyrolytic graphite heat spreader for power modules
US10856403B2 (en) Power electronics module and a method of producing a power electronics module
Le Henaff et al. Reliability of Double Side Silver Sintered Devices with various Substrate Metallization
Kohli et al. Advanced thermal interface materials for enhanced flip chip BGA
TWI491722B (zh) 具苯基酯之熱介面材料
Goebl et al. Direct Pressed Die (DPD) Technology-a Novel Packaging Solution for Power Modules
Zhang High temperature LTCC based SiC double-sided cooling power electronic module
Jensen et al. Metallic TIM testing and selection for Harsh environment applications for GaN RF semiconductors
An et al. Full SiC power module with substrate integrated liquid cooling for battery electric vehicles
Boutry et al. Design of a test package for high voltage SiC diodes
JP3191158U (ja) 熱伝導性ゲルパック
Elshabini et al. Advanced Devices and Electronic Packaging for Harsh Environment
Pang et al. TIM selection criteria for silicon validation environment
Nguyen et al. TIM1 reliability of polymer solder

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120803

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131210

RD12 Notification of acceptance of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432

Effective date: 20140303

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140309

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20140303

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20141028

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150211

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150223

TRDD Decision of grant or rejection written
RD14 Notification of resignation of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434

Effective date: 20150317

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150317

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150409

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5731405

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150